FI109837B - Förfarande och system för förskjutning av ett mätorgan över ett testobjekt - Google Patents

Förfarande och system för förskjutning av ett mätorgan över ett testobjekt Download PDF

Info

Publication number
FI109837B
FI109837B FI970358A FI970358A FI109837B FI 109837 B FI109837 B FI 109837B FI 970358 A FI970358 A FI 970358A FI 970358 A FI970358 A FI 970358A FI 109837 B FI109837 B FI 109837B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
computer
measuring
test object
measurement
measuring sensor
Prior art date
Application number
FI970358A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI970358A (sv
FI970358A0 (sv
Inventor
Anders Eriksson
Jan Eriksson
Per Oehman
Original Assignee
Anders Eriksson
Jan Eriksson
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anders Eriksson, Jan Eriksson filed Critical Anders Eriksson
Publication of FI970358A publication Critical patent/FI970358A/sv
Publication of FI970358A0 publication Critical patent/FI970358A0/sv
Application granted granted Critical
Publication of FI109837B publication Critical patent/FI109837B/sv

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06705—Apparatus for holding or moving single probes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/001—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing
    • G01R31/002—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing where the device under test is an electronic circuit

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
  • Vehicle Body Suspensions (AREA)
  • Automobile Manufacture Line, Endless Track Vehicle, Trailer (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Claims (14)

1. System, med vilket upprepbart medelst en posi- tioneringsanordning (8) mätorgan (4, 30 och 34) flyttas 5 till ett flertal mätpositioner, innefattande styrmedel med minnesorgan (18) kopplade till positioneringsorganet (8) för att styra detta frän en position till en annan, och i vilket mätorganen (3, 30 och 34) är kopplade till styrmed-len med minnesorganen (18) för att i minnesorganen (18) 10 lagra de frän mätorganen (4, 30 och 34) erhällna mätvärde-na tillsammans med mätorganen (4, 30 och 34) koordinater, kännetecknatav att mätorganen (4, 30 och 34) är utformade för att mätä EMC och/eller temperatur vid de pä förhand valda positionerna ovanför ett provobjekt (12) 15 och att positioneringsorganet (8) är anordnat för att för-flytta mätorganen (4, 30 och 34) i x-, y- och z-riktning.
2. System enligt patentkrav 1, k ä n n e -tecknatav att styrmedlen med minnesorganen är en dator (18).
3. System enligt patentkrav 2, k ä n n e - tecknatav att mätorganen innefattar en mätsond (4) för att mätä provobjektets (12) emission, varvid mätsonden (4) är ansluten, via en valbar förstärkare (6) till en V: spektrumanalysator (2) och spektrumanalysatorn (2) är an- * * • 25 sluten till datorn (18) . * · * I
4. System enligt patentkrav 2, k ä n n e - ,···, tecknatav att mätorganen innefattar en gnistanord-* · i .!’* ning (30) för att mätä provobjektets (12) immunitet, var- * * » vid gnistanordningen (30) är ansluten till datorn (18) , » * · • ’ 30 och datorn (18) är ansluten till provobjektet (12) för att erhälla mätvärden som gensvar pä en frän gnistanordningen * * • * · (30) alstrad störsignal. ) I I
5. System enligt patentkrav 2, k ä n n e - . t e c k n a t av att mätorganen innefattar en mätsond (34) I I » ,··*, 3 5 för att mätä provobjektets (12) temperatur, varvid mätson- I I ’* den (34) är ansluten till datorn (18) . I » » * * » • · ♦ t » * * · · » • · 20 109837
6. System enligt patentkrav 2 eller 3, kanne-tecknatav att posit ioneringsanordningen (8) görs spänningslös innan EMC mats med mätorganen (4 och 30).
7. System enligt nägot av föregäende patentkrav, 5 kännetecknatav att provobjektet (12) är ett elektriskt eller elektroniskt bestyckat kretskort.
8. System enligt nägot av patentkraven 1, 2 och 5, kännetecknatav att provobjektet (12) är en mänsklig kropp. 10
9. Förfarande för att mätä EMC och/eller tempera- tur vid ett provobjekt (12), kännetecknatav att mätorgan (4, 30 och 34) flyttas medelst en positione-ringsanordning (8) over provobjektet (12) i x-, y- och z-riktningar frän en position tili en annan, varvid antalet 15 positioner och deras koordinater har valts pä förhand och lagrats i en dator (18) för en senare upprepning av samma mätning och av att varje position tillordnas ett mätvärde, vilket lagras i datorns (18) minne tillsammans med mätor-ganens (4, 30 och 34) koordinater. 20
10. Förfarande enligt patentkrav 9 för att mätä emission vid provobjektet (12), kännetecknat av följande steg: V. 1· att datorn (18) ger positioneringsanordningen (8) order att förflytta mätsonden (4) tili den pä förhand • « t • · · *“.* 25 valda startpositionen, « · 2. att positioneringsanordningens (8) styrelekt- • · '···* ronik görs spänningslös, • · : *· 3. att datorn (18) ger order att utföra mätningen ' ·.· ; enligt de pä förhand valda villkoren, 4. att spektrumanalysatorn (2) inhämtar mätvärden frän mätsonden (4) som är anordnad i positioneringsanord- • · ·’··. ningen (8) och som befinner sig ovanför provobjektet (12) , *. 5. att mätvärdena överförs tili datorn (18), ’··’ 6. att mätvärdena samt mätsondens (4) koordinater * · » *···' 35 lagras i datorns (18) minne • · • · 109837 21 7. att positioneringsanordningens (8) styrelek-tronik aktiveras pä nytt, 8. att datorn (18) ger positioneringsanordningen (8) order att förflytta mätsonden (4) till nasta pa för- 5 hand valda position, varvid stegen 2 till 7 upprepas ända tills mätsonden (4) har nätt sin pä förhand fastställda slutposition och stegen 2 till 7 har utförts en sista gäng.
11. Förfarande enligt patentkrav 9 för att mätä 10 immunitet vid provobjektet (12), kännetecknat av följande steg: 1. att datorn (18) ger positioneringsanordningen (8) order att förflytta gnistanordningen (30) till den pä förhand valda startpositionen, 2. att positioneringsanordningens (8) styrelekt- ronik görs spänningslös, 3. att datorn (18) skickar en styrsignal till gnistanordningen (30), som alstrar en störsignal, 4. att en triggsignal frän provobjektet (12) in-20 hämtas av datorn (18), 5. att triggsignalen frän provobjektet (12) samt gnistanordningens (30) koordinater lagras i datorns (18) ·.·. minne, • · 6. att positioneringsanordningens (8) styrelekt-25 ronik aktiveras pä nytt, • · 7. att datorn (18) ger positioneringsanordningen *···’ (8) order att förflytta gnistanordningen (30) till nästa • ** pä förhand valda position, varvid stegen 2 till 6 upprepas • · · *.1 · ända tills gnistanordningen (30) har nätt sin pä förhand 30 valda slutposition och stegen 2 till 6 har utförts en sis- • · ta gäng.
12. Förfarande enligt patentkrav 9 för att mätä temperatur vid provobjektet (12) kännetecknat • · · ;;; av följande steg: • I · · 22 109837 1. att datorn (18) ger positioneringsanordningen (8) order att förflytta mätsonden (34) till den pa förhand valda startpositionen, 2. att datorn (18) ger order att utföra mätningen 5 enligt de pä förhand valda villkoren, 3. att mätvärdena f ran mätsonden (34) överförs tili datorn (18) , 4. att mätvärdena samt mätsondens (34) koordina-ter lagras i datorns (18) minne, 5. att datorn (18) ger positioneringsanordningen (8) order att förflytta mätsonden (34) tili nasta pä förhand valda position, varvid stegen 2 tili 4 upprepas ända tills mätsonden (34) har nätt sin pä förhand valda slutpo-sition och stegen 2 tili 4 har utförts en sista gang. 15
13. Förfarande enligt nägot av föregäende patent- krav, kännetecknatav att provobjektet (12) är ett elektriskt eller elektroniskt bestyckat kretskort.
14. Förfarande enligt nägot av patentkraven 9 eller 12, kännetecknatav att provobjektet (12) 20 är en mänsklig kropp. • » · 1 ·
FI970358A 1994-07-29 1997-01-28 Förfarande och system för förskjutning av ett mätorgan över ett testobjekt FI109837B (sv)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE9402604A SE502575C2 (sv) 1994-07-29 1994-07-29 Förfarande och system vid kretskort
SE9402604 1994-07-29
SE9500901 1995-03-14
PCT/SE1995/000901 WO1996004562A1 (en) 1994-07-29 1995-07-31 A method and a system for moving a measuring means above a test object

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI970358A FI970358A (sv) 1997-01-28
FI970358A0 FI970358A0 (sv) 1997-01-28
FI109837B true FI109837B (sv) 2002-10-15

Family

ID=20394826

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI970358A FI109837B (sv) 1994-07-29 1997-01-28 Förfarande och system för förskjutning av ett mätorgan över ett testobjekt

Country Status (9)

Country Link
US (1) US5844414A (sv)
EP (1) EP0772784B1 (sv)
AT (1) ATE271228T1 (sv)
AU (1) AU3091095A (sv)
DE (1) DE69533258T2 (sv)
FI (1) FI109837B (sv)
NO (1) NO319991B1 (sv)
SE (1) SE502575C2 (sv)
WO (1) WO1996004562A1 (sv)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020033706A1 (en) * 2000-08-03 2002-03-21 Mehyar Khazei System method, and apparatus for field scanning
FR2871580B1 (fr) * 2004-06-09 2006-10-27 Inrets Localisation d'une source de rayonnement electromagnetique sur un equipement electrique
US7876276B1 (en) 2006-08-02 2011-01-25 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Antenna near-field probe station scanner
US8810460B2 (en) * 2009-11-05 2014-08-19 Atc Logistics & Electronics, Inc. Multidimensional RF test fixture and method for securing a wireless device for RF testing
CN104251966A (zh) * 2013-06-25 2014-12-31 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 自动化测量系统及方法
CN111665403B (zh) * 2020-04-29 2022-12-23 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） 层叠型电子元件的失效点定位方法、装置和系统

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE451913B (sv) * 1982-09-21 1987-11-02 Michael Grimsland Forfarande och anordning for metning av frekvensgang
JPH0775155B2 (ja) * 1985-08-20 1995-08-09 富士通株式会社 ストロボ電子ビーム装置
US4840496A (en) * 1988-02-23 1989-06-20 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Noncontact temperature pattern measuring device
US5066921A (en) * 1990-08-01 1991-11-19 General Dynamics, Electronics Division Radome diagnostic system
US5119017A (en) * 1990-10-12 1992-06-02 Westinghouse Electric Corp. Bandwidth analysis system and method
RU2014624C1 (ru) * 1991-04-30 1994-06-15 Геруни Сурен Парисович Стенд для измерения электромагнитного поля вокруг объекта
US5432523A (en) * 1993-08-20 1995-07-11 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Elliptical near field test facility
US5483068A (en) * 1994-01-07 1996-01-09 Moulton; Russell D. Use of IR (thermal) imaging for determining cell diagnostics

Also Published As

Publication number Publication date
FI970358A (sv) 1997-01-28
FI970358A0 (sv) 1997-01-28
DE69533258D1 (de) 2004-08-19
NO319991B1 (no) 2005-10-10
EP0772784B1 (en) 2004-07-14
EP0772784A1 (en) 1997-05-14
AU3091095A (en) 1996-03-04
SE9402604L (sv) 1995-11-13
SE502575C2 (sv) 1995-11-13
US5844414A (en) 1998-12-01
DE69533258T2 (de) 2005-07-28
WO1996004562A1 (en) 1996-02-15
NO970363D0 (no) 1997-01-28
ATE271228T1 (de) 2004-07-15
NO970363L (no) 1997-03-21
SE9402604D0 (sv) 1994-07-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6525657B1 (en) Apparatus and method for production testing of the RF performance of wireless communications devices
CN101750546B (zh) 一种用于近场测试的电磁兼容自适应扫描装置
US5028866A (en) Method and apparatus for mapping printed circuit fields
US3889053A (en) Contactless test system
CN102565546A (zh) 一种电磁辐射扫描定位方法
CN106404048A (zh) 基于物联网的多功能带电检测系统及检测方法
FI109837B (sv) Förfarande och system för förskjutning av ett mätorgan över ett testobjekt
CN201681125U (zh) 一种用于近场测试的电磁兼容自适应扫描装置
CA2162347C (en) Method and apparatus for high-speed scanning of electromagnetic field levels
CN112204407A (zh) 用于故障检测的方法和系统
CN108008279B (zh) 一种电路射频噪声测试系统、方法及装置
US10999723B2 (en) Measurement apparatus, measurement system and method for transferring data between a measurement apparatus and a portable device
CN111413571A (zh) 一种可视化电磁场自动化测试系统及方法
JP2016217815A (ja) 均一電界範囲決定法
CN102221472A (zh) 一种机器性能测试方法及装置
JP3787840B2 (ja) 波形解析装置
JP2001324524A (ja) 不要輻射の自動測定方法および装置
JP2769472B2 (ja) ノイズファインダー装置
KR100198806B1 (ko) 인쇄회로 기판의 전자파 장해 모니터링 시스템
KR101741738B1 (ko) 전자파 측정 시스템을 위한 체배 주파수 표시장치, 방법 및 컴퓨터 프로그램
JPH0954067A (ja) 探傷装置
CN212229068U (zh) 一种可视化电磁场自动化测试系统
JP2009250717A (ja) 信号分析装置
JP2001124808A (ja) ノイズの可視化システム及び方法
JP2022129478A (ja) ノイズ可視化システム及びノイズ可視化方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed