FI100827B - NDIR-laitteiston kalibrointimenetelmä sekä kalibrointilaitteisto - Google Patents
NDIR-laitteiston kalibrointimenetelmä sekä kalibrointilaitteisto Download PDFInfo
- Publication number
- FI100827B FI100827B FI951339A FI951339A FI100827B FI 100827 B FI100827 B FI 100827B FI 951339 A FI951339 A FI 951339A FI 951339 A FI951339 A FI 951339A FI 100827 B FI100827 B FI 100827B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- calibrated
- measuring
- ndir
- calibrating
- calibration
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 17
- 238000001745 non-dispersive infrared spectroscopy Methods 0.000 title claims 7
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 11
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 claims description 7
- 239000003570 air Substances 0.000 claims description 5
- 239000012080 ambient air Substances 0.000 claims description 4
- 230000029058 respiratory gaseous exchange Effects 0.000 claims description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 26
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GQPLMRYTRLFLPF-UHFFFAOYSA-N Nitrous Oxide Chemical compound [O-][N+]#N GQPLMRYTRLFLPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004378 air conditioning Methods 0.000 description 2
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N Carbon monoxide Chemical compound [O+]#[C-] UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 1
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 229910002091 carbon monoxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- -1 methane or ethylene Chemical compound 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001272 nitrous oxide Substances 0.000 description 1
- 238000004064 recycling Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3504—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Pathology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
Description
100827 NDIR-laitteiston kalibrointimenetelmä sekä kalibrointi-laitteisto
Keksinnön kohteena on patenttivaatimuksen 1 johdannon mu-5 kainen kalibrointimenetelmä.
Keksinnön kohteena on myös kalibrointilaitteisto.
Edullisen hintaluokan ei-dispersiiviset infrapunamittaus-10 laitteistot (NDIR) ovat tyypillisesti rakenteeltaan sellaisia, että niiden ulostulosignaali pyrkii hitaasti ryömimään laitteen vanhetessa. NDIR-mittalaitteiden tekniikkaa on yleisesti kuvattu mm. japanilaisessa patenttijulkaisussa 59-173734. Tunnetuilla menetelmillä mittalaitteet 15 on useinmiten jouduttu viemään laboratorioon kalibroita viksi, ja tällöin kyseinen mittauskohde on jäänyt ilman mittalaitetta kalibroinnin ajaksi. Laboratoriokalibrointi on kallis ja aikaavievä toimenpide, joka kuitenkin tulee tehdä määrävälein halutun mittaustarkkuuden säilyttämisek-20 si. Erityisesti edellä mainitut ongelmat ovat haitanneet ; ilmastointisovelluksia, joissa NDIR-mittalaitteella on mi tattu hiilidioksidipitoisuutta, ja mittalaitteen ryömintä on häirinnyt ilmastointijärjestelmän toimivuutta.
25 Tämän keksinnön tarkoituksena on poistaa edellä kuvatun tekniikan puutteellisuudet ja luoda aivan uudenlainen kalibrointimenetelmä ja -laitteisto.
Keksintö perustuu siihen, että NDIR-mittalaitteet kalib-30 roidaan kytkemällä laboratoriokalibroitu NDIR-mittalaite kalibroitavan laitteen rinnalle ja kierrättämällä ympäris-.. tön kaasua siten, että kalibroitavan laitteen läpi virtaa- “ va kaasu ohjataan laboratoriokalibroidun mittalaitteen näytekammioon.
35 Täsmällisemmin sanottuna keksinnön mukaiselle menetelmälle on tunnusomaista se, mikä on esitetty patenttivaatimuksen 1 tunnusmerkkiosassa.
2 100827
Keksinnön mukaiselle laitteistolle puolestaan on tunnusomaista se, mikä on esitetty patenttivaatimuksen 5 tunnusmerkkiosassa.
5 Keksinnön avulla saavutetaan huomattavia etuja. Erillistä kalibrointikaasua tai laboratoriokalibrointia paine- ja lämpötilankompensointeineen ei kentällä tarvita. Kalib-rointikaasut ovat kalliita, hankalia käyttää ja lisäksi paine- ja lämpötilakompensoinnin poisjättäminen aiheuttai-10 si perinteiseen kalibrointiin liian suuria epävarmuusteki jöitä, mikäli kalibrointi toteutetaan kenttäkalibrointina. Keksinnön mukainen menettely mahdollistaa yksinkertaisen, nopean ja edullisen kenttäkalibroinnin, jolloin itse mittalaitetta ei tarvitse irroittaa kalibroinnin ajaksi sää-15 töjärjestelmästä.
Keksintöä ryhdytään seuraavassa lähemmin tarkastelemaan oheisten kuvioiden mukaisten suoritusesimerkkien avulla.
: 20 Kuvio 1 esittää kaaviollisesti yhtä keksinnön mukaista kalibrointijärjestelyä.
Kuvio 2 esittää kaaviollisesti toista keksinnön mukaista kalibrointijärjestelyä.
25
Kuvio 3 esittää graafisesti NDIR-laitteistojen jännite-pito isuusriippuvuuksia.
Kuvio 4 esittää kaaviollisesti tunnetun tekniikan mukaista 30 kalibrointimenettelyä.
• ·
Kuvio 5 esittää kaaviollisesti keksinnön mukaista kalibrointimenettelyä.
35 Keksinnön mukainen kalibrointijärjestely koostuu kuvion 1 mukaisesti periaatteessa neljästä lohkosta, nimittäin kalibroitavasta NDIR-mittalaitteesta 1, laboratoriokali-broidusta toisesta NDIR-mittalaitteesta 2, kalibroitavan 3 100827 laitteen elektroniikkaosasta 21 ja vertailulaitteiston elektroniikkaosasta 20. Laboratoriokalibroinnilla tarkoitetaan tämän keksinnön yhteydessä menettelyä, jossa tunnetussa lämpötilassa ja paineessa säädetään mittalaitteen 5 näyttö tai ulostulosignaali oikeaan arvoon vähintään kahdella eri kalibrointikaasulla, joiden pitoisuudet poikkeavat toisistaan ja tunnetaan tarkasti. Hiilidioksidimit-tauksissa kalibrointikaasuina käytetään tyypillisesti typpeä nollapitoisuuden aikaansaamiseksi ja toinen pi-10 toisuuspiste on tyypillisesti mittausalueen yläraja, esimerkiksi 2000 ppm hiilidioksidia.
Tyypillisesti kalibroitava NDIR-mittalaite koostuu valolähteestä 3, jolla muodostetaan infrapunasäteilyä mittaus-15 kammioon 6. Mittauskammion läpäissyt säteily suodatetaan kaistanpäästösuodattimellä 5 ja ilmaistaan detektorilla 4. Valolähteen 3, mittauskammion 6, kaistanpäästösuodattimen 5 ja detektorin 4 muodostamaa kokonaisuutta voidaan kutsua myös optiseksi penkiksi. Saatu mittaustulos käsitellään 20 elektroniikkayksikössä 21, jonka ulostulosta saadaan pi toisuutta vastaava signaaliarvo, joka voidaan tarvittaessa ohjata näyttöön 23 pitoisuuslukemana. Kaasu siirtyy tässä tapauksessa termisen virtauksen vuoksi mittauskammioon 6 ohivirtausputkesta 9, joka on kytketty optiseen penkkiin .· 25 sisääntuloputken 11 ja ulosmenoputken 8 avulla. Sivuvir- tausputkessa 9 on kaasua läpäisevä putkenosa 10, jotta mittalaitetta ympäröivä mitattava kaasu siirtyisi kiertoon ja näin mittauskammioon 6. Edullisen hintaluokan laitteessa kaasukierto saadaan aikaan valolähteen 3 lämmöllä. Myös 30 erillisiä pumppuja voidaan käyttää kaasun kierrätykseen.
Keksinnön mukaisesti kalibroitava mittari on varustettu toisella ulostuloputkella 25, joka on yhdistetty letkulla 17 vertailulaitteiston 2 optiseen mittauspenkkiin. Vertai-35 lulaitteisto 2 on laboratorio-olosuhteissa kalibroitu tar kan pitoisuussignaalin saamiseksi mittalaitteen näyttöön 22. Yksikön 1 tavoin muodostuu kalibrointilaitteistokin valolähteestä 13, mittauskammiosta 16, kaistanpäästösuo- 4 100827 dattimesta 15 sekä detektorista 14, joka on kytketty elektroniikkaosaan 20 pitoisuuslukeman aikaansaamiseksi näyttöön 22. Vertailulaitteen 2 poistoputkeen 28 tai tulo-putkeen 29 on yhdistetty imupumppu 19, jolla kalibroitavan 5 yksikön 1 sisältä imetään ympäristön kaasua ja saadaan näin lähes sama ympäristön mittauskaasu vertailuyksikön 2 mittauskammioon 16. Koska mittauksen aikavakio pitkän kaa-sunvirtauskanavan vuoksi on suuri, voidaan mittauksen aikana olettaa ympäristön kaasupitoisuus likimain vakiosuu-10 ruiseksi. Jos molempien mittauskammioiden ja elektroniikan vasteaika on sama ja virtauksen nopeus tunnettu, voidaan muuttuvaakin pitoisuutta käyttää vertailumittaukseen. Tällöin mittausarvoja verrataan esimerkiksi korjattuna tunnetulla viivellä tai mittauskäyrät sovitetaan ohjelmalli-15 sesti mahdollisimman hyvin toisiinsa.
Kalibrointilanteessa elektroniikkaosien 20 ja 21 näyttöjen lukemaa tai ulostulosignaaleja verrataan ja kalibroitavan mittalaitteen 1 näytön 23 lukema tai ulostulosignaali sää-: 20 detään säätimellä 24 samansuuruiseksi vertailuyksikön 2 näytön 22 lukeman tai ulostulosignaalin kanssa. Säädin 24 voi konkreettisesti olla esimerkiksi elektroniikkayksikös-sä 21 oleva potentiometri. Säätö voidaan myös automatisoida, jolloin kalibroitavassa yksikössä 1 sen elekt-25 roniikkaosassa 21 on valmis liitin vertailulaitteistoa 2 varten ja säätöarvo siirretään yksiköstä 20 ohjelmallisesti yksikköön 21.
Keksinnön mukainen järjestelmä on siis yhden pisteen ka-30 librointijärjestelmä. Myös kahden pisteen yksinkertainen *' kalibrointijärjestelmä on mahdollinen siten, että yksikön 1 liittimeen 26 tai letkun 17 T-liittimeen 36 syötetään vertailukaasua, jonka pitoisuus on karkealla tasolla tunnettu. Hiilidioksidin tapauksessa vertailukaasu voidaan 35 muodostaa esimerkiksi puhaltamalla ilmapalloon tai muuhun säiliöön ennalta määrätty määrä hengitysilmaa, pakokaasua tai muuten polttamalla aikaansaatua hiilidioksidia ja täyttämällä loppu pallosta ympäröivällä ilmalla. Näin täy 5 100827 tetty ilmapallo puretaan liittimen 26 kautta mittauskammi-oon 6, josta kalibrointilaitteiston pumppu imee sen ver-tailulaitteiston 2 mittauskammioon 16. Kalibrointiliitin 26 on normaalisti peitetty ilmatiiviillä suojakannella 27.
5 Vastaavasti T-liitin 36 on normaalisti peitetty vastavan-laisella suojakannella 37.
Pumppu 19 on tyypillisesti imupumppu, mutta keksinnön puitteissa voidaan ajatella käytettäväksi myöskin ylipai-10 neen muodostavaa puhaltavaa pumppua.
Kuvion 2 mukaisesti kalibroitava NDIR-mittalaite 1 voi olla varustettu pitkänomaisella, diffuusiosuodattimellä varustetulla virtausraolla 35, jolloin kuvion 1 mukaista 15 sivukiertoa 9 ei tarvita.
Kuvion 3 mukaisesti voidaan ideaalisen NDIR-mittalaitteen detektorin signaalin riippuvuus kaasun pitoisuudesta esittää graafisesti. Pystyakselilla on detektorin ulostulojän-: 20 nite ja vaaka-akselilla kaasun pitoisuus. Yhtenäiset viivat 31 kuvaavat kalibroituja, kuvion 1 yksikön 2 mittaus-käyriä kolmessa eri lämpötilassa tai barometrisessä paineessa. Katkoviivoina esitetyt käyrät 30 puolestaan kuvaavat kalibroitavan laitteiston 1 vastaavia käyriä vastavis-- 25 sa kolmessa eri olosuhteessa. Keksinnön mukaisessa kalib- rointitilanteessa voidaan olettaa kaasupitoisuuden olevan esimerkiksi viivan 32 osoittamalla tasolla ja lämpötilan T2 ja ilmanpaineen molemmissa mittauskammioissa likimain samat. Ehdottoman tarkan pitoisuuden tietäminen ei ole 30 tarpeen, riittää kun molemmissa yksiköissä 1 ja 2 olevien kaasujen pitoisuudet ovat yhtäsuuret. Kun kuvion 1 pumpulla 19 imetään ympäröivää ilmaa vertailulaitteiston 2 läpi, tulisi näytöissä 22 ja 23 olla sama lukema. Tässä tapauksessa näyttöjen lukemien eroa vastaava jännite on vii-35 tenumerolla 34 esitetyn janan suuruinen. Virhe korjataan potentiometrillä 24 tai ohjelmallisesti jos NDIR-mitta-laitteessa on tähän valmius. Kaksipistemittaus voidaan vastaavasti toteuttaa edellä kuvatulla tavalla ilmapallo- 6 100827 menettelyllä, jolloin saadaan toinen vertailupitoisuus 33, jolloin myös kalibroitavan mittalaitteen 1 mittauskäyrän kulmakerroin voidaan korjata käyrän T2 kulmakertoimen mukaiseksi. Ilmapallomenettelyn sijasta voidaan käyttää myös 5 muuta kaasuastiaa joko paineistettuna tai ilmanpaineessa ja virtauksemuodostuslaitteena koneellista tai manuaalista pumppua.
Kuvion 4 tavalla tunnetun tekniikan mukaisesti viiden 10 NDIR-mittalaitteen 44 kalibrointi on vaatinut jokaisessa mittalaitteessa kahta pitoisuudeltaan tarkasti tunnettua kalibrointikaasua 40 ja 42 sekä tunnettua lämpötilaa ja painetta. Yksiselitteisten olosuhteiden aikaansaaminen ja todentaminen on vaikeaa käyttöympäristössä, joten tunnetun 15 tekniikan mukainen kalibrointi joudutaan yleensä tekemään laboratoriossa tai huoltopisteessä.
Kuviossa 5 esitetyllä tavalla voidaan päästä lähes samaan tarkkuuteen kenttäolosuhteissa yhdellä laboratoriokali-20 broidulla mittalaitteella 44 käyttäen vertailukaasuna ym päröivää ilmaa 48 tai vaihtoehtoisesti lisäksi toista ver-tailukaasua 50. Keksinnön mukaisesti ei vertailukaasujen 48 ja 50 pitoisuuksien tarvitse olla tarkasti etukäteen tiedossa. Myöskään tietoa kalibrointitilanteen paineesta .•25 ja lämpötilasta (T&P) ei tarvita.
Hiilidioksidin lisäksi muita keksinnön mukaiseen järjestelyyn soveltuvia mittauskohteita ovat mm. absoluuttinen kosteus, hiilimonoksidi, hiilivedyt kuten esim. metaani 30 tai etyleeni sekä typpioksiuduuli.
Claims (7)
1. Menetelmä NDIR-kaasuanalysaattorin (1) kalibroimiseksi, jossa menetelmässä kalibroitava laitteisto (1) kalibroi- 5 daan vertailulaitteistolla (2) kontrolloiduissa olosuh teissa, tunnettu siitä, että vertailulaitteistona (2) käytetään laboratoriokalibroitua NDIR-mittalaitetta siten, että laitteistoja ympäröivä ilma kierrätetään sekä kalibroitavan laitteiston (1) mittauskammion (6) läpi että 10 laboratoriokalibroidun mittalaitteen (2) mittauskammion (16) läpi ja kalibroitavan mittalaitteen näytön (23) lukema tai ulostulosignaali säädetään yhtä suureksi vertailu-laitteiston (2) näytön (22) lukeman tai ulostulosignaalin kanssa. 15
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että kalibroitavan mittalaitteen (1) mittauskammiosta (6) imetään kalibrointikaasuna toimivan ympäristön kaasu vertailulaitteiston (2) mittauskammi- : 20 oon (16) alipainepumpun (19) avulla.
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että muodostetaan toinen kalib-rointipiste muodostamalla säiliöön toinen pitoisuudeltaan 25 huoneilmasta poikkeava kaasuseos ja syöttämällä seos ka- libroitavaan laitteistoon (1).
4. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä hiilidioksiidipitoisuuden mittaamiseksi, tunnettu 30 siitä, että muodostetaan toinen kalibrointipiste muodosta- .* maila säiliöön hengitysilman ja huoneilman seos ja syöttä- ♦ · mällä seos kalibroitavaan laitteistoon (1).
5. Laitteisto NDIR-kaasuanalysaattorin kalibroimiseksi, 35 joka laitteisto käsittää vertailulaitteiston (2) kalibroitavan laitteiston (1) kalibroimiseksi, tunnettu siitä, että vertailulaitteisto (2) on laboratoriokalibroi-tu NDIR-mittalaite, joka käsittää elimet (19) ympäröivän 8 100827 ilman kuljettamiseksi sekä kalibroivan laitteen (1) mit-tauskammion (6) että vertailulaitteen (2) mittauskammion (16) kautta.
6. Patenttivaatimuksen 5 mukainen laitteisto NDIR-kaasu- analysaattorin kalibroimiseksi, tunnettu siitä, että vertailulaite (2) käsittää elimet suoran erosuureen ilmaisemiseksi vertailulaitteen (2) ja kalibroitavan laitteen (l) mittaustuloksista. 10
7. Patenttivaatimuksen 5 tai 6 mukainen laitteisto NDIR-kaasuanalysaattorin kalibroimiseksi, tunnettu siitä, että vertailulaite (2) käsittää kytkentäelimet, joilla erosignaalin edellyttämä korjaus voidaan tehdä oh-15 jelmallisesti suoraan kalibroitavaan laitteistoon (1). 9 100827
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI951339A FI100827B (fi) | 1995-03-22 | 1995-03-22 | NDIR-laitteiston kalibrointimenetelmä sekä kalibrointilaitteisto |
| AU48117/96A AU705958B2 (en) | 1995-03-22 | 1996-03-14 | Calibration method for NDIR equipment and calibration apparatus |
| DE69626056T DE69626056T2 (de) | 1995-03-22 | 1996-03-20 | Kalibrierverfahren für eine NDIR-Apparatur und Kalibriervorrichtung |
| EP96660004A EP0733897B1 (en) | 1995-03-22 | 1996-03-20 | Calibration method for NDIR equipment and calibration apparatus |
| JP8065689A JPH08271415A (ja) | 1995-03-22 | 1996-03-22 | 非分散型の赤外線の計測装置の校正方法および校正装置 |
| CN96106010.7A CN1099029C (zh) | 1995-03-22 | 1996-03-22 | 用于非色散红外设备的校准方法和校准设备 |
| US08/620,610 US5850354A (en) | 1995-03-22 | 1996-03-22 | Calibration method for NDIR equipment and calibration apparatus |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI951339 | 1995-03-22 | ||
| FI951339A FI100827B (fi) | 1995-03-22 | 1995-03-22 | NDIR-laitteiston kalibrointimenetelmä sekä kalibrointilaitteisto |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI951339A0 FI951339A0 (fi) | 1995-03-22 |
| FI951339A FI951339A (fi) | 1996-09-23 |
| FI100827B true FI100827B (fi) | 1998-02-27 |
Family
ID=8543098
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI951339A FI100827B (fi) | 1995-03-22 | 1995-03-22 | NDIR-laitteiston kalibrointimenetelmä sekä kalibrointilaitteisto |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5850354A (fi) |
| EP (1) | EP0733897B1 (fi) |
| JP (1) | JPH08271415A (fi) |
| CN (1) | CN1099029C (fi) |
| AU (1) | AU705958B2 (fi) |
| DE (1) | DE69626056T2 (fi) |
| FI (1) | FI100827B (fi) |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19962589A1 (de) * | 1999-12-23 | 2001-07-19 | Abb Patent Gmbh | Verfahren und Einrichtung zur Messung eines Anteiles eines Messgases |
| US6751576B2 (en) | 2000-03-10 | 2004-06-15 | Cognis Corporation | On-site agricultural product analysis system and method of analyzing |
| US7194369B2 (en) | 2001-07-23 | 2007-03-20 | Cognis Corporation | On-site analysis system with central processor and method of analyzing |
| US7034304B2 (en) * | 2003-07-25 | 2006-04-25 | Honeywell International, Inc. | Chamber for gas detector |
| SE0402047D0 (sv) * | 2004-08-18 | 2004-08-18 | Foss Analytical Ab | Measurement system |
| GB0705356D0 (en) * | 2007-03-21 | 2007-04-25 | Alphasense Ltd | Optical absorption gas sensor |
| US7661290B2 (en) * | 2007-07-20 | 2010-02-16 | Honeywell International Inc. | Gas sensor test and calibration system |
| US8148691B1 (en) * | 2009-08-21 | 2012-04-03 | Jacob Y Wong | Calibration methodology for NDIR dew point sensors |
| GB201018418D0 (en) * | 2010-11-01 | 2010-12-15 | Gas Sensing Solutions Ltd | Temperature calibration methods and apparatus for optical absorption gas sensors, and optical absorption gas sensors thereby calibrated |
| WO2012126469A1 (en) * | 2011-03-23 | 2012-09-27 | Danfoss Ixa A/S | Gas sensor with vortex |
| JP5794803B2 (ja) * | 2011-03-28 | 2015-10-14 | 株式会社堀場エステック | 分光光学計及びその校正方法 |
| CA2837588A1 (en) * | 2011-05-31 | 2012-12-06 | Airware, Inc. | Re-calibration of ab ndir gas sensors |
| CN103175803A (zh) * | 2011-12-26 | 2013-06-26 | 上海仪华仪器有限公司 | 采用非色散红外检测二氧化碳浓度具有自校正的方法 |
| FI125907B (fi) | 2013-09-24 | 2016-03-31 | Vaisala Oyj | Menetelmä ja laitteisto nesteisiin liuenneiden kaasujen pitoisuuden mittaamiseksi |
| DE102014204625A1 (de) * | 2014-03-13 | 2015-09-17 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln eines Kohlendioxidgehaltes einer Umgebungsluft |
| CN104198425A (zh) * | 2014-09-22 | 2014-12-10 | 合肥工业大学 | 一种非色散红外气体传感器温压特性测试系统 |
| DE102016117733A1 (de) | 2015-10-09 | 2017-04-13 | Endress+Hauser Conducta Gmbh+Co. Kg | Messeinrichtung |
| CN106248584A (zh) * | 2016-06-29 | 2016-12-21 | 深圳市怀睿科技有限公司 | 一种提高气体浓度检测精度的方法和系统 |
| DE102016123583A1 (de) * | 2016-12-06 | 2018-06-07 | Endress+Hauser Conducta Gmbh+Co. Kg | Verfahren zum Justieren eines Messgeräts |
| CN107328730B (zh) * | 2017-07-05 | 2019-11-26 | 中电科技集团重庆声光电有限公司 | 全集成式红外气体传感器及其工作方法 |
| CN113702600A (zh) * | 2021-09-27 | 2021-11-26 | 北京伟瑞迪科技有限公司 | 环境分析仪校准装置和方法 |
Family Cites Families (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3369405A (en) * | 1964-11-03 | 1968-02-20 | Phillips Petroleum Co | Sampling system |
| US4322964A (en) * | 1980-01-14 | 1982-04-06 | Despatch Industries, Inc. | Gas analyzer calibration apparatus |
| JPS59173734A (ja) * | 1983-03-23 | 1984-10-01 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 赤外線ガス分析計 |
| JPS6120840A (ja) * | 1984-07-09 | 1986-01-29 | Horiba Ltd | 赤外線分析計の校正機構 |
| FI850320L (fi) * | 1985-01-24 | 1986-07-25 | Vaisala Oy | Foerfarande vid kalibrering av maetanordningar som baserar sig pao impedansgivare. |
| DD234493B1 (de) * | 1985-02-01 | 1989-01-18 | Junkalor Dessau | Anordnung zur nachkalibrierung von nichtdispersiven infrarot-gasanalysatoren |
| DE3522949A1 (de) * | 1985-06-27 | 1987-01-08 | Hartmann & Braun Ag | Verfahren zum nachjustieren von infrarot-gasanalysatoren |
| JPH0713600B2 (ja) * | 1986-12-29 | 1995-02-15 | 日本特殊陶業株式会社 | 酸素センサ評価装置 |
| ATE112852T1 (de) * | 1988-06-01 | 1994-10-15 | Hartmann & Braun Ag | Kalibriereinrichtung für ein nichtdispersives infrarot-fotometer. |
| US5184017A (en) * | 1989-09-12 | 1993-02-02 | Sensors, Inc. | Method and apparatus for detecting a component gas in a sample |
| DE3932838C2 (de) * | 1989-09-30 | 1996-03-07 | Hartmann & Braun Ag | Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator |
| US5072416A (en) * | 1990-01-16 | 1991-12-10 | Calibron Systems, Inc. | Method and apparatus for calibrating a flowmeter using a master meter and a prover |
| US5321638A (en) * | 1990-04-30 | 1994-06-14 | Witney Keith C | Calibrated sensor systems and methods of manufacturing same |
| US5559728A (en) * | 1990-10-09 | 1996-09-24 | University Of Washington | Calibration transfer for second order analytical instruments |
| US5459677A (en) * | 1990-10-09 | 1995-10-17 | Board Of Regents Of The University Of Washington | Calibration transfer for analytical instruments |
| US5206511A (en) * | 1990-10-18 | 1993-04-27 | Cascadia Technology Corporation | Calibrators for infrared-type gas analyzers |
| US5243546A (en) * | 1991-01-10 | 1993-09-07 | Ashland Oil, Inc. | Spectroscopic instrument calibration |
| FI96993C (fi) * | 1992-01-30 | 1996-09-25 | Vaisala Oy | Kalibrointimenetelmä kaasujen pitoisuuden mittausta varten |
| US5292280A (en) * | 1992-02-14 | 1994-03-08 | Johnson Service Co. | Method and apparatus for controlling ventilation rates and indoor air quality in an HVAC system |
| US5335534A (en) * | 1992-06-08 | 1994-08-09 | Gaztech International Corporation | Functional testing method for toxic gas sensors |
| US5341206A (en) * | 1992-12-03 | 1994-08-23 | Hewlett-Packard Company | Method for calibrating a spectrograph for gaseous samples |
-
1995
- 1995-03-22 FI FI951339A patent/FI100827B/fi not_active IP Right Cessation
-
1996
- 1996-03-14 AU AU48117/96A patent/AU705958B2/en not_active Ceased
- 1996-03-20 DE DE69626056T patent/DE69626056T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-03-20 EP EP96660004A patent/EP0733897B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-03-22 JP JP8065689A patent/JPH08271415A/ja not_active Abandoned
- 1996-03-22 CN CN96106010.7A patent/CN1099029C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1996-03-22 US US08/620,610 patent/US5850354A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0733897B1 (en) | 2003-02-05 |
| EP0733897A2 (en) | 1996-09-25 |
| EP0733897A3 (en) | 1997-01-08 |
| AU705958B2 (en) | 1999-06-03 |
| DE69626056T2 (de) | 2004-01-22 |
| JPH08271415A (ja) | 1996-10-18 |
| US5850354A (en) | 1998-12-15 |
| DE69626056D1 (de) | 2003-03-13 |
| CN1148172A (zh) | 1997-04-23 |
| AU4811796A (en) | 1996-10-03 |
| CN1099029C (zh) | 2003-01-15 |
| FI951339A0 (fi) | 1995-03-22 |
| FI951339A (fi) | 1996-09-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI100827B (fi) | NDIR-laitteiston kalibrointimenetelmä sekä kalibrointilaitteisto | |
| KR0163608B1 (ko) | 극고순도의 기체분석용 측정장치 | |
| US6857307B2 (en) | Method and device for the determination of the gas permeability of a container | |
| US5138163A (en) | Direct sampling of engine emissions for instantaneous analysis | |
| US8130379B1 (en) | Gas analyzer | |
| JP4009523B2 (ja) | オゾンガス濃度計測方法及びオゾンガス濃度計測装置 | |
| JPH03206943A (ja) | 非分散形赤外線ガス分析装置 | |
| US7707871B2 (en) | Leak detection system with controlled differential pressure | |
| US5604298A (en) | Gas measurement system | |
| CA2018568A1 (en) | Non-dispersive infrared gas analyzer system | |
| JP2003287477A (ja) | 排気物質分析システム及び排気物質の測定補正方法 | |
| EP3236240B1 (en) | Spectroscopic analyzer and spectroscopic analysis method | |
| CA2633235A1 (en) | Calibration method of metabolic gas analyzers | |
| US7996159B2 (en) | Gas detector system and method | |
| CN107192791A (zh) | 一种气体分析装置及方法 | |
| JP2018533741A (ja) | 酸素を用いたリーク検知 | |
| CN110057779B (zh) | 基于温度自动补偿tdlas技术测量气体浓度的方法与装置 | |
| CN112113928B (zh) | 基于分子光谱学及实验数据的中红外甲烷传感器校正方法 | |
| CA1265357A (en) | Method and a device for detecting leakage of a tube section | |
| EP0440815B1 (en) | Method of and device for measuring extremely small quantity of oxygen in gas | |
| CN209589904U (zh) | 一种高精度气体传感器阵列检测装置 | |
| US20030082417A1 (en) | Calibration process and apparatus for an electrochemical cell system | |
| RU2778833C2 (ru) | Устройство и способ различения поверочного газа, выходящего из течи, от возмущающего газа | |
| CN112255294B (zh) | 氧化锆测氧探头回氧速率修正系统 | |
| Reich et al. | Testing a Tunable Diode Laser Absorption Spectroscopy Oxygen Analyzer |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MA | Patent expired |