ES3048776T3 - Foreign substance detection device and detection method - Google Patents

Foreign substance detection device and detection method

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ES3048776T3
ES3048776T3 ES21848808T ES21848808T ES3048776T3 ES 3048776 T3 ES3048776 T3 ES 3048776T3 ES 21848808 T ES21848808 T ES 21848808T ES 21848808 T ES21848808 T ES 21848808T ES 3048776 T3 ES3048776 T3 ES 3048776T3
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Eun Ho Oh
Tae Su Kim
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Abstract

La presente invención se refiere a un dispositivo de detección de sustancias extrañas y a un método de detección de sustancias extrañas, emitiendo el dispositivo ondas electromagnéticas de una longitud de onda de banda de radiación infrarroja lejana hacia un objeto a inspeccionar durante un proceso de fabricación de baterías, y luego analizando, a través de una unidad de registro de imágenes térmicas, las características reflejadas desde la superficie del objeto a inspeccionar, detectando así fácilmente una sustancia extraña metálica presente en la superficie del objeto a inspeccionar. (Traducción automática con Google Translate, sin valor legal)

Description

[0001] DESCRIPCIÓN
[0002] Dispositivo de detección y método de detección de sustancias extrañas
[0003] Campo técnico
[0004] La presente divulgación se refiere a un aparato de detección de residuos y a un método de detección de residuos, capaz de detectar fácilmente un residuo metálico existente sobre la superficie de un objetivo de inspección durante un procedimiento de fabricación de baterías.
[0005] Antecedentes de la técnica
[0006] En general, durante un procedimiento de fabricación de baterías, pueden producirse residuos metálicos en el procesamiento en molde exterior (estampación, rebordeado y similares). Los residuos metálicos pueden provocar un cortocircuito eléctrico, dando como resultado un fallo de la batería. Es necesario retirar de antemano tales residuos metálicos a través de un procedimiento tal como la inspección visual.
[0007] Sin embargo, cuando el diámetro de los residuos metálicos es de 100 pm o menos, es difícil especificar los residuos metálicos a menos que se use un microscopio que tenga un gran aumento. Además, puede ser difícil distinguir los residuos metálicos de polvo no metálico simple.
[0008] Se describe un aparato para detectar un residuo durante un procedimiento de fabricación de baterías tal como se ha descrito anteriormente en la publicación de solicitud de patente coreana n.° 10-2011-0029011 (publicada el 22 de marzo de 2011) y similares.
[0009] El aparato de detección de residuos en la técnica relacionada determina si existe un residuo en una batería (a continuación en el presente documento, denominado “objetivo de inspección”) mediante la aplicación de un método de dispersión de luz a la superficie de una carcasa de batería.
[0010] Específicamente, el aparato de detección de residuos en la técnica relacionada detecta un residuo irradiando el objetivo de inspección con luz directa en un ángulo de incidencia preestablecido y, cuando el ángulo de reflexión de la luz reflejada es diferente del ángulo de incidencia, se considera como una reflexión difusa debido a los residuos. Un método de este tipo tiene la ventaja de que se instala un sensor en un ángulo predeterminado, lo que simplifica la estructura del aparato de detección de residuos.
[0011] Sin embargo, según el aparato de detección de residuos en la técnica relacionada, cuando la superficie del objetivo de inspección es rugosa o curva, la luz puede reflejarse de manera difusa formando un ángulo diferente del ángulo de incidencia, lo que puede provocar un error al identificar un residuo.
[0012] El documento JP 2000 065759 A se refiere a un dispositivo de inspección que incluye las características del preámbulo de la reivindicación 1.
[0013] El documento US 2013/320216 A1 se refiere a un dispositivo para detectar materia extraña y a un método para detectar materia extraña.
[0014] Divulgación
[0015] Problema técnico
[0016] Las realizaciones de la presente invención pretenden proporcionar un aparato de detección de residuos y un método de detección de residuos, capaces de detectar fácilmente un residuo metálico que existe sobre la superficie de un objetivo de inspección emitiendo ondas electromagnéticas que tienen una longitud de onda en una banda de infrarrojo lejano hacia el objetivo de inspección durante un procedimiento de fabricación de baterías, y luego analizando las características de las ondas reflejadas procedentes de la superficie del objetivo de inspección a través de un elemento de registro de imágenes térmicas.
[0017] Solución técnica
[0018] Para implementar el objeto descrito anteriormente, un aparato de detección de residuos según la presente invención, tal como se define en la reivindicación 1, incluye: una unidad de emisión de infrarrojos configurada para emitir rayos infrarrojos hacia un objetivo de inspección; una unidad óptica configurada para amplificar una señal infrarroja reflejada procedente de un residuo metálico que existe sobre una superficie del objetivo de inspección, o para filtrar la señal infrarroja para obtener una señal deseada; y un elemento de registro de imágenes térmicas configurado para detectar si existe el residuo metálico sobre la superficie del objetivo de inspección y el tamaño y la posición del residuo metálico, a través de la señal infrarroja amplificada.
[0019] La unidad de emisión de infrarrojos emite ondas electromagnéticas que tienen baja energía en una banda de infrarrojo lejano de 7 |im a 14 |im y maximiza una señal de reflexión procedente del residuo metálico sin aumentar significativamente la temperatura del objetivo de inspección.
[0020] Además, la unidad de emisión de infrarrojos puede disponerse por encima del objetivo de inspección en una línea axial central mientras que está separada del objetivo de inspección, y la unidad óptica y el elemento de registro de imágenes térmicas pueden disponerse secuencialmente por encima de la unidad de emisión de infrarrojos en la línea axial central mientras que están separados de la unidad de emisión de infrarrojos.
[0021] Además, la unidad de emisión de infrarrojos puede incluir además un orificio pasante formado a lo largo de la línea axial central, y una señal infrarroja reflejada procedente de la superficie del objetivo de inspección puede alcanzar la unidad óptica y el elemento de registro de imágenes térmicas a través del orificio pasante.
[0022] Además, el orificio pasante puede formarse para que sea igual o mayor que el diámetro del objetivo de inspección. Además, la unidad óptica puede incluir selectivamente uno cualquiera de una placa de polarización, una placa de retardo, y un filtro de paso de banda.
[0023] Además, el elemento de registro de imágenes térmicas puede incluir una lente y una matriz de plano focal (FPA) que incluye una matriz de sensores para detectar la señal infrarroja, y registrar la posición espacial de la señal infrarroja. Además, un método de detección de residuos utilizando el aparato de detección de residuos anterior se define en la reivindicación 7 e incluye etapas de:
[0024] emitir rayos de infrarrojo lejano en una banda de 7 |im a 14 |im hacia un objetivo de inspección;
[0025] amplificar, mediante una unidad óptica, una señal infrarroja reflejada procedente de un residuo metálico que existe sobre una superficie del objetivo de inspección o filtrar la señal infrarroja para obtener una señal deseada; y registrar la posición espacial a través de la señal infrarroja que pasa a través de la unidad óptica, y detectar si el residuo metálico existe sobre la superficie del objetivo de inspección y el tamaño y la posición del residuo metálico.
[0026] Efectos ventajosos
[0027] Un aparato de detección de residuos según la presente divulgación que tiene la configuración anterior puede especificar un residuo metálico que existe sobre la superficie de un objetivo de inspección, y el tamaño y la posición del residuo metálico, emitiendo ondas electromagnéticas en una banda de infrarrojo lejano hacia el objetivo de inspección, y luego analizando las características de las ondas reflejadas procedentes de la superficie del objetivo de inspección a través de un elemento de registro de imágenes térmicas.
[0028] En tal caso, una unidad de emisión de infrarrojos usa luz reflejada cuando se detecta un residuo metálico, y por tanto usa baja potencia que apenas eleva la temperatura del objetivo de inspección cuando se selecciona una fuente de luz para emitir rayos de infrarrojo lejano.
[0029] Además, como se usa una fuente de luz con baja potencia, puede generarse una señal debida al residuo metálico, pero la temperatura alrededor del objetivo de inspección no se eleva, lo que puede aumentar la resolución de la detección de residuos metálicos.
[0030] La tecnología correspondiente es, a diferencia de una en la que se reconocen las partículas metálicas a través de formación de imágenes reflectantes provocadas por la dispersión de partículas finas en la región de luz visible, usada por el sistema óptico de visión existente, un método para aumentar la resolución mediante el uso de las características de que el metal tiene alta reflectividad en una región de longitud de onda larga, en comparación con una región de longitud de onda corta, en forma de detección y formación de imágenes de luz reflejada por partículas metálicas mediante la aplicación de una fuente de luz (fuente de calor) diminuta en la región infrarroja de longitudes de onda largas. Es posible separar otras sustancias extrañas tales como polvo o motas de componentes orgánicos/inorgánicos con propiedades aislantes que tienen un diámetro de partícula fina similar al de las partículas metálicas extrañas, que son difíciles de distinguir con el método de visión existente, y es posible garantizar una resolución capaz de discriminar y detectar partículas metálicas presentes en la porción superior del sustrato que tiene una rugosidad que provoca reflexión o dispersión difusa en la región de luz visible, a través de la formación de imágenes de la región infrarroja descrita en la presente invención.
[0031] La tecnología correspondiente es, a diferencia del método existente para distinguir objetos con diferentes valores de emisividad a través de una elevación de temperatura mediante calentamiento aplicando una determinada cantidad de energía a un objetivo, un método para detectar selectivamente la luz reflejada usando propiedades de alta reflexión del metal al permitir que incida una fuente de luz en una región infrarroja diminuta.
[0032] Breve descripción de los dibujos
[0033] La figura 1 es una vista lateral esquemática que ilustra un aparato de detección de residuos según la presente divulgación.
[0034] La figura 2 es un diagrama de flujo que ilustra un procedimiento de detección de residuos que usa el aparato de detección de residuos según la presente divulgación.
[0035] La figura 3 y la figura 4 son datos de resultados experimentales obtenidos comparando el rendimiento del aparato de detección de residuos según la presente divulgación. La figura 5 es un gráfico que ilustra una diferencia en la sensibilidad de la señal de imagen térmica según el tamaño de un residuo metálico detectado por el aparato de detección de residuos según la presente divulgación.
[0036] Descripción de los números de referencia
[0037] 10: un objetivo de inspección 11: una carcasa de batería
[0038] 13: una celda 15: un aislante
[0039] P: residuo metálico 100: un aparato de detección de residuos
[0040] 110: una unidad de emisión de infrarrojos 111: un orificio pasante
[0041] 120: una unidad óptica 130: un elemento de registro de imágenes térmicas
[0042] Mejor modo
[0043] A continuación en el presente documento, se describirán en detalle la configuración y el funcionamiento de una realización específica de la presente divulgación con referencia a los dibujos adjuntos.
[0044] Se observa que al asignar números de referencia a los componentes en los dibujos, los mismos números de referencia indican los mismos componentes en todos los dibujos, incluso en casos donde los componentes se muestran en diferentes dibujos.
[0045] La figura 1 es una vista lateral esquemática que ilustra un aparato 100 de detección de residuos según la presente divulgación.
[0046] En referencia a la figura 1, el aparato 100 de detección de residuos de la presente divulgación incluye una unidad 110 de emisión de infrarrojos, una unidad 120 óptica, y un elemento 130 de registro de imágenes térmicas.
[0047] La configuración de la presente divulgación se describirá en detalle de la siguiente manera:
[0048] En primer lugar, un objetivo 10 de inspección puede incluir una carcasa 11 de batería cilíndrica que constituye el exterior de una batería, una celda 13 que se aloja dentro de la carcasa 11 de batería y se enrolla en forma de rollo de gelatina, y un aislante 15 de material textil no tejido que se lamina sobre la superficie superior de la celda 13 para impedir un cortocircuito provocado por un residuo metálico P. A continuación en el presente documento, en la presente divulgación, se describirá un ejemplo de un caso de inspección de si existe el residuo metálico P sobre la superficie superior del aislante 15 del objetivo 10 de inspección mediante el uso del aparato 100 de detección de residuos. Naturalmente, la presente divulgación no se limita a ello.
[0049] La unidad 110 de emisión de infrarrojos emite rayos infrarrojos hacia el objetivo 10 de inspección. La unidad 110 de emisión de infrarrojos puede configurarse como un emisor que tiene la energía apropiada suficiente para calentar apenas la superficie del objetivo 10 de inspección.
[0050] Específicamente, la unidad 110 de emisión de infrarrojos emite ondas electromagnéticas que tienen baja energía en una banda de infrarrojo lejano de 7 pm a 14 pm, suficiente para provocar la reflexión infrarroja procedente del residuo metálico P que existe sobre la superficie del objetivo 10 de inspección.
[0051] Los rayos de infrarrojo lejano emitidos desde la unidad 110 de emisión de infrarrojos son ondas electromagnéticas emitidas por un objeto general a temperatura ambiente, y pueden implementar fácilmente la unidad 110 de emisión de infrarrojos sin una fuente de luz especial.
[0052] Es decir, el residuo metálico P tiene características de reflexión en el infrarrojo lejano. Por consiguiente, una señal infrarroja reflejada por el residuo metálico P puede mostrarse de manera prominente a través del elemento 130 de registro de imágenes térmicas, que se describirá a continuación, solo mediante una fuente de calentamiento (unidad de emisión de infrarrojos) que tiene una temperatura baja (aproximadamente 36,5 °C) generada en una mano humana.
[0053] Dicho de otro modo, los rayos de infrarrojo lejano (de 7 |im a 14 |im) emitidos desde la unidad 110 de emisión de infrarrojos pueden maximizar una señal de reflexión infrarroja procedente del residuo metálico P sin aumentar significativamente la temperatura del objetivo 10 de inspección. Por consiguiente, el elemento 130 de registro de imágenes térmicas puede tener una resolución suficiente como para especificar con precisión incluso un residuo metálico P que tenga un tamaño de varias decenas de |im.
[0054] Cuando la temperatura de la superficie del objetivo 10 de inspección aumenta excesivamente por los rayos infrarrojos emitidos desde la unidad 110 de emisión de infrarrojos, aumenta la temperatura de la superficie del objetivo 10 de inspección, y por tanto rayos infrarrojos se emiten desde el propio objetivo 10 de inspección. En tal caso, los rayos infrarrojos emitidos desde el propio objetivo 10 de inspección pueden ser difíciles de distinguir de una señal infrarroja reflejada procedente del residuo metálico P, porque se mezclan entre sí. Por consiguiente, es preferible usar, como la unidad 110 de emisión de infrarrojos, un emisor de infrarrojos con energía apropiada (por ejemplo, una mano humana, un material orgánico con una temperatura apropiada y una emisividad de infrarrojos, un polímero, y similares).
[0055] La unidad 110 de emisión de infrarrojos descrita anteriormente puede disponerse encima del objetivo 10 de inspección en la línea axial central, mientras que está separada del objetivo 10 de inspección. Además, la unidad 120 óptica y el elemento 130 de registro de imágenes térmicas pueden disponerse secuencialmente por encima de la unidad 110 de emisión de infrarrojos en la misma línea axial central, mientras que están separados de la unidad 110 de emisión de infrarrojos.
[0056] En tal caso, la unidad 110 de emisión de infrarrojos puede tener un orificio 111 pasante formado a lo largo de la línea axial central vertical. El orificio 111 pasante puede permitir que una señal infrarroja reflejada procedente de la superficie del objetivo 10 de inspección alcance fácilmente la unidad 120 óptica y el elemento 130 de registro de imágenes térmicas que se describirán a continuación, a través del orificio pasante de la unidad 110 de emisión de infrarrojos. Preferiblemente, el orificio 111 pasante puede formarse para que sea igual o mayor que el diámetro del objetivo 10 de inspección.
[0057] La unidad 120 óptica puede amplificar la señal infrarroja reflejada procedente del residuo metálico P que existe sobre la superficie del objetivo 10 de inspección a través de un efecto óptico, o filtrar la señal infrarroja para obtener una señal deseada. Como tal, puede aplicarse selectivamente una unidad 120 óptica, una placa de polarización, una placa de retardo, un filtro de paso de banda, y similares.
[0058] El elemento 130 de registro de imágenes térmicas puede detectar si existe el residuo metálico P sobre la superficie del objetivo 10 de inspección, a través de la señal infrarroja amplificada a través de la unidad 120 óptica.
[0059] En tal caso, el elemento 130 de registro de imágenes térmicas puede incluir una cámara de obtención de imágenes térmicas, un ordenador, y similares. Además, el elemento 130 de registro de imágenes térmicas puede incluir una lente de ampliación para aumentar el poder de detección mediante la ampliación de una imagen en el elemento 130 de registro de imágenes térmicas.
[0060] Un elemento 130 de registro de imágenes térmicas de este tipo puede no solo determinar si existe el residuo metálico P sobre el objetivo 10 de inspección, sino que también detecta el tamaño y la posición del residuo metálico P, a través de una matriz de sensores (no ilustrada) de la cámara de obtención de imágenes térmicas.
[0061] Es decir, el elemento 130 de registro de imágenes térmicas puede incluir una lente y una matriz de plano focal (FPA) que incluye una matriz de sensores para detectar una señal infrarroja, registrando de ese modo de manera precisa la posición espacial de la señal infrarroja.
[0062] En particular, la matriz de sensores del elemento 130 de registro de imágenes térmicas se dispone en la misma línea axial central que la unidad 110 de emisión de infrarrojos en el mismo ángulo. Es decir, dado que la presente divulgación no usa un método para comparar un ángulo incidente y un ángulo de reflexión, puede no verse afectada por la curvatura o la rugosidad de superficie de la superficie del objetivo 10 de inspección.
[0063] Modo de la invención
[0064] A continuación se describirá, un método de detección de residuos utilizando el aparato 100 de detección de residuos según la presente divulgación que tiene la configuración anterior.
[0065] En referencia a la figura 2, la unidad 110 de emisión de infrarrojos emite rayos de infrarrojo lejano en una banda de 7 |im a 14 |im hacia el objetivo 10 de inspección (S1). En tal caso, la unidad 110 de emisión de infrarrojos puede maximizar una señal de reflexión procedente del residuo metálico P que existe sobre la superficie del objetivo 10 de inspección sin aumentar significativamente la temperatura del objetivo 10 de inspección.
[0066] Una señal infrarroja reflejada procedente del residuo metálico P puede amplificarse o puede filtrarse para obtener una señal deseada a través de la unidad 120 óptica (S2).
[0067] A continuación, el elemento 130 de registro de imágenes térmicas puede registrar la posición espacial a través de la señal infrarroja que pasa a través de la unidad 120 óptica, y detectar si existe el residuo metálico P sobre la superficie del objetivo 10 de inspección, y el tamaño, la posición, y similares del residuo metálico P (S3).
[0068] En referencia a la figura 3, después de simular el residuo metálico P sobre la superficie superior del aislante 15 en el objetivo 10 de inspección mediante el uso de polvo de aluminio (<100 pm), se implementaron el caso (a) en el que se aplica la unidad 110 de emisión de infrarrojos de la presente divulgación y el caso (b) en el que se aplica una lámpara halógena (derecha) como fuente de calentamiento que van a compararse, y se compararon y se observaron a través del elemento 130 de registro de imágenes térmicas.
[0069] Como consecuencia, tal como se ilustra en la figura 3, pudo observarse que el caso (a) en el que se aplica la unidad 110 de emisión de infrarrojos de la presente divulgación pudo aumentar la resolución de la detección del residuo metálico P detectando solo una señal de reflexión procedente del residuo metálico P sin calentar la porción periférica del objetivo 10 de inspección.
[0070] Además, tal como se ilustra en la figura 4, se compararon entre sí el resultado de medición (porción de imagen amarilla) del elemento 130 de registro de imágenes térmicas y el resultado de medición (porción de imagen blanca y negra) de un microscopio óptico (x100). En tal caso, se usó una mano humana como fuente de calentamiento, y se compararon la contaminación en forma de partículas (partículas individuales con un diámetro de 20 pm o más) y la contaminación en forma de fibras (partículas menores de 10 pm que se reúnen en una fibra).
[0071] En tal caso, se observó realmente la posición de un residuo metálico P en la fibra mediante el microscopio óptico, y el resultado de medición del elemento 130 de registro de imágenes térmicas indica el estado en el que se capturó realmente una señal de imagen térmica en la posición del residuo metálico P confirmado por el microscopio óptico. Como consecuencia, pudo observarse que el caso del elemento 130 de registro de imágenes térmicas según la presente divulgación pudo aumentar la resolución de detección de contaminación.
[0072] Además, tal como se ilustra en la figura 5, se inspeccionó la diferencia en la sensibilidad de la señal de imagen térmica según el tamaño de un residuo metálico P. En tal caso, se usó una mano humana como fuente de calentamiento.
[0073] Como consecuencia, pudo observarse que un residuo metálico P que tenía un tamaño de 24,64 pm tiene un tamaño próximo al límite de resolución de la cámara de obtención de imágenes térmicas del elemento 130 de registro de imágenes térmicas y no se distingue claramente del ruido.
[0074] Es decir, cuando el tamaño de un residuo metálico P es de al menos 30 pm o más, puede distinguirse del ruido. Además, dado que la propia señal infrarroja es pequeña, se considera que hay una diferencia en la resolución solo cuando se usa una lente de ampliación.
[0075] En tal caso, cuando una cámara de obtención de imágenes térmicas que constituye el elemento 130 de registro de imágenes térmicas tiene una alta resolución, el tamaño medible de un residuo metálico P puede ser menor de 30 pm.
[0076] Aunque la presente invención se ha ilustrado y descrito con referencia a realizaciones específicas, la presente invención no se limita a las realizaciones anteriores y pueden realizarse diversas modificaciones y correcciones dentro del alcance de las reivindicaciones adjuntas.

Claims (7)

1. REIVINDICACIONES
1. Aparato (100) de detección de residuos que comprende:
una unidad (110) de emisión de infrarrojos configurada para emitir rayos infrarrojos hacia un objetivo (10) de inspección;
una unidad (120) óptica configurada para amplificar una señal infrarroja reflejada procedente de un residuo metálico (P) que existe sobre una superficie del objetivo (10) de inspección, o para filtrar la señal infrarroja para obtener una señal deseada; y
un elemento (130) de registro de imágenes térmicas configurado para detectar si existe el residuo metálico (P) sobre la superficie del objetivo (10) de inspección y el tamaño y la posición del residuo metálico (P), a través de la señal infrarroja amplificada,
caracterizado porque
la unidad (110) de emisión de infrarrojos emite ondas electromagnéticas que tienen baja energía en una banda de infrarrojo lejano de 7 pm a 14 pm y maximiza una señal de reflexión procedente del residuo metálico (P) sin aumentar significativamente la temperatura del objetivo (10) de inspección.
2. Aparato (100) de detección de residuos según la reivindicación 1, en el que la unidad (110) de emisión de infrarrojos está dispuesta por encima del objetivo (10) de inspección en una línea axial central mientras que está separada del objetivo (10) de inspección, y
la unidad (120) óptica y el elemento (130) de registro de imágenes térmicas están dispuestos secuencialmente por encima de la unidad (110) de emisión de infrarrojos en la línea axial central mientras que están separados de la unidad (110) de emisión de infrarrojos.
3. Aparato (100) de detección de residuos según la reivindicación 2, en el que la unidad (110) de emisión de infrarrojos incluye además un orificio (111) pasante formado a lo largo de la línea axial central, y una señal infrarroja reflejada procedente de la superficie del objetivo (10) de inspección alcanza la unidad (120) óptica y el elemento (130) de registro de imágenes térmicas a través del orificio (111) pasante.
4. Aparato (100) de detección de residuos según la reivindicación 3, en el que el orificio (111) pasante está formado para que sea igual o mayor que el diámetro del objetivo (10) de inspección.
5. Aparato (100) de detección de residuos según la reivindicación 1, en el que la unidad (120) óptica incluye selectivamente uno cualquiera de una placa de polarización, una placa de retardo, y un filtro de paso de banda.
6. Aparato (100) de detección de residuos según la reivindicación 1, en el que el elemento (130) de registro de imágenes térmicas incluye una lente y una matriz de plano focal (FPA) que incluye una matriz de sensores para detectar la señal infrarroja, y registra la posición espacial de la señal infrarroja.
7. Método de detección de residuos utilizando el aparato (100) de detección de residuos según una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 6, comprendiendo el método de detección de residuos las etapas de: emitir rayos de infrarrojo lejano en una banda de 7 pm a 14 pm hacia un objetivo (10) de inspección (S1); amplificar, mediante una unidad (120) óptica, una señal infrarroja reflejada procedente de un residuo metálico (P) que existe sobre una superficie del objetivo (10) de inspección o filtrar la señal infrarroja para obtener una señal deseada (S2); y
registrar la posición espacial a través de la señal infrarroja que pasa a través de la unidad (120) óptica, y detectar si existe el residuo metálico (P) sobre la superficie del objetivo (10) de inspección y el tamaño y la posición del residuo metálico (P) (S3).
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