ES2935698T3 - Método y aparato de enfriamiento libre de material criogénico - Google Patents
Método y aparato de enfriamiento libre de material criogénico Download PDFInfo
- Publication number
- ES2935698T3 ES2935698T3 ES22154522T ES22154522T ES2935698T3 ES 2935698 T3 ES2935698 T3 ES 2935698T3 ES 22154522 T ES22154522 T ES 22154522T ES 22154522 T ES22154522 T ES 22154522T ES 2935698 T3 ES2935698 T3 ES 2935698T3
- Authority
- ES
- Spain
- Prior art keywords
- sample holder
- sample
- heat radiation
- shield
- cooling
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000001816 cooling Methods 0.000 title claims abstract description 49
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 133
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 60
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 239000004078 cryogenic material Substances 0.000 claims description 2
- 238000010790 dilution Methods 0.000 claims description 2
- 239000012895 dilution Substances 0.000 claims description 2
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 25
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 25
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 11
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 description 7
- 230000013011 mating Effects 0.000 description 7
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000005481 NMR spectroscopy Methods 0.000 description 2
- DMFGNRRURHSENX-UHFFFAOYSA-N beryllium copper Chemical compound [Be].[Cu] DMFGNRRURHSENX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010951 brass Substances 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F25—REFRIGERATION OR COOLING; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS; MANUFACTURE OR STORAGE OF ICE; LIQUEFACTION SOLIDIFICATION OF GASES
- F25D—REFRIGERATORS; COLD ROOMS; ICE-BOXES; COOLING OR FREEZING APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- F25D19/00—Arrangement or mounting of refrigeration units with respect to devices or objects to be refrigerated, e.g. infrared detectors
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F25—REFRIGERATION OR COOLING; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS; MANUFACTURE OR STORAGE OF ICE; LIQUEFACTION SOLIDIFICATION OF GASES
- F25B—REFRIGERATION MACHINES, PLANTS OR SYSTEMS; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS
- F25B9/00—Compression machines, plants or systems, in which the refrigerant is air or other gas of low boiling point
- F25B9/14—Compression machines, plants or systems, in which the refrigerant is air or other gas of low boiling point characterised by the cycle used, e.g. Stirling cycle
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F25—REFRIGERATION OR COOLING; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS; MANUFACTURE OR STORAGE OF ICE; LIQUEFACTION SOLIDIFICATION OF GASES
- F25B—REFRIGERATION MACHINES, PLANTS OR SYSTEMS; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS
- F25B9/00—Compression machines, plants or systems, in which the refrigerant is air or other gas of low boiling point
- F25B9/14—Compression machines, plants or systems, in which the refrigerant is air or other gas of low boiling point characterised by the cycle used, e.g. Stirling cycle
- F25B9/145—Compression machines, plants or systems, in which the refrigerant is air or other gas of low boiling point characterised by the cycle used, e.g. Stirling cycle pulse-tube cycle
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Thermal Sciences (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Separation By Low-Temperature Treatments (AREA)
Abstract
Un aparato de enfriamiento sin criógeno comprende al menos un escudo de radiación de calor (54) que rodea una región de trabajo (20) y está ubicado en una cámara de vacío (4). Un sistema de enfriamiento sin criógeno tiene una etapa de enfriamiento acoplada al escudo de radiación térmica (54). Se proporcionan aberturas alineadas (56, 58) en el escudo de radiación de calor y en las paredes de la cámara de vacío. El aparato de carga de muestras tiene un dispositivo de sujeción de muestras (2) unido a una o más sondas alargadas (3) para insertar el dispositivo de sujeción de muestras a través de las aberturas alineadas (56, 58) a la región de trabajo (20); y un conector térmico permite que el dispositivo de sujeción de muestras se acople de forma liberable para la conducción de calor a través de dicho conector a un cuerpo frío o cuerpos fríos dentro de la cámara de vacío para preenfriar una muestra sobre o en el dispositivo de sujeción de muestras. (Traducción automática con Google Translate, sin valor legal)
Description
DESCRIPCIÓN
Método y aparato de enfriamiento libre de material criogénico
La invención se refiere a un aparato de enfriamiento libre de material criogénico y a un método para usar un aparato de este tipo.
Cuando se hacen funcionar equipos criogénicos para temperaturas bajas (menos de 100 kelvin) o temperaturas ultrabajas (menos de 4 kelvin), a menudo se necesita cambiar una muestra u otros materiales en la parte fría del equipo. Con equipos convencionales que usan criógenos líquidos tales como helio o nitrógeno, esto se realiza habitualmente calentando el equipo y abriendo el equipo, o retirando una parte del equipo y calentándola. Después se cambia la muestra a temperatura ambiente. Como esto puede ser un procedimiento lento, algunos sistemas criogénicos convencionales que usan criógenos líquidos están equipados con mecanismos de cambio de muestra más rápidos que permiten que la mayor parte del sistema permanezca fría. Un desafío principal con estos sistemas es que la muestra se introduce en el equipo a temperatura ambiente, normalmente alrededor de 300 K y después se mueve a otra posición en la que se realiza el contacto térmico con un cuerpo a una temperatura mucho menor que en algunos sistemas puede ser menor de 1 K. En sistemas que usan criógenos líquidos, habitualmente la muestra y el equipo de montaje y conexión asociado se enfrían previamente o bien haciéndolo pasar a través de gas criogénico frío en su trayectoria al sistema o haciendo pasar gas o líquido criogénico frío a través del mecanismo de transferencia de muestras, esto reduce el choque térmico tanto sobre la muestra como sobre el equipo.
Más recientemente, se han desarrollado sistemas criogénicos que no requieren la adición de criógenos líquidos o que sólo requieren nitrógeno líquido durante el enfriamiento inicial. Estos se conocen en general como sistemas libres de material criogénico (o “libres de criógeno”). Estos sistemas usan un enfriador mecánico tal como un enfriador GM, enfriador Stirling o un tubo de impulsos para proporcionar la potencia de enfriamiento. Debido a que la potencia de enfriamiento de enfriadores disponibles comercialmente es algo menor que la potencia de enfriamiento disponible a partir de un depósito de criógeno líquido, estos sistemas pueden tardar normalmente más en calentarse, cambiar la muestra y enfriarse. Por tanto, existe una necesidad considerable de un método de cambiar muestras en sistemas libres de material criogénico sin la necesidad de calentar todo el sistema. Algunos ejemplos de bloqueos de carga conocidos para cargar muestras en un criostato libre de criógeno se describen en los documentos US-A-4446702, US-A-4577465, US-A-5077523, US-A-5727392, US-A-5806319, US-A-5834938, US-A-20070234751 y US-A-20080282710.
Con sistemas libres de criógeno existen varios desafíos técnicos cuando se intenta cargar una muestra caliente en un criostato frío. En primer lugar, la parte interna del sistema está contenida habitualmente dentro de un recipiente de vacío sellado para reducir la carga térmica. En segundo lugar, dentro de ese recipiente de vacío sellado, el espacio de muestra está encerrado habitualmente por uno o más blindajes contra radiación para reducir adicionalmente la carga térmica. En tercer lugar, no hay criógenos líquidos disponibles para enfriar previamente la muestra a medida que pasa de la temperatura ambiente al cuerpo de montaje frío. Además, se necesita realizar contactos eléctricos de manera remota a la muestra cuando se carga en el criostato. Esta invención busca proporcionar soluciones a estos problemas.
El documento US-A-5611207 da a conocer un aparato de enfriamiento criogénico según el preámbulo de la reivindicación 1.
Un aparato de enfriamiento libre de material criogénico y un método de cargar una muestra en la región de un aparato de enfriamiento libre de material criogénico según la presente invención se definen en la reivindicación 1 y la reivindicación 14, respectivamente.
Normalmente, el aparato de carga de muestras incluye además un recipiente de vacío en el que el dispositivo portamuestras y la sonda alargada se montan de manera móvil, pudiendo conectarse el recipiente de vacío a la abertura de la pared de cámara de vacío.
Se ha ideado un nuevo tipo de aparato en el que los problemas expuestos anteriormente se superan utilizando un cuerpo frío dentro de la cámara de vacío para enfriar previamente una muestra antes de que la muestra alcance la región de trabajo.
Aunque podrían usarse diversos cuerpos fríos dentro del criostato, tal como cualquier superficie fría acoplada a la etapa de enfriamiento del sistema de enfriamiento, lo más conveniente es utilizar el blindaje contra radiación de calor ya presente.
Dependiendo de la temperatura a la que se expone la región de trabajo, podría proporcionarse más de un blindaje contra radiación de calor dentro de la cámara de vacío. Por tanto, uno o más de estos podría usarse además para enfriar previamente la muestra.
Por ejemplo, en la realización preferida, el aparato comprende además un segundo blindaje contra radiación de calor ubicado en el interior del primer blindaje contra radiación y que rodea la región de trabajo, teniendo el sistema de enfriamiento libre de material criogénico una segunda etapa de enfriamiento, más fría que la primera etapa de enfriamiento, acoplada al segundo blindaje contra radiación de calor, teniendo el segundo blindaje contra radiación una abertura alineada con las aberturas del primer blindaje contra radiación de calor y la pared de cámara de vacío para permitir que el dispositivo portamuestras pase a su través, mediante lo cual el dispositivo portamuestras puede acoplarse de manera liberable para conducción de calor al segundo blindaje contra radiación de calor.
Cuando se proporcionan dos o más blindajes de calor, no es necesario llevar a cabo el enfriamiento previo de la muestra mediante la conexión a cada blindaje. Por ejemplo, el enfriamiento previo podría llevarse a cabo solamente en el blindaje más interior (normalmente 4 K). Si se proporcionan tres o más blindajes, puede usarse uno o más para el enfriamiento previo.
Normalmente, el primer blindaje contra radiación de calor se mantendrá a una temperatura de entre 45 K y 90 K mientras que el segundo blindaje contra radiación (si se proporciona) se mantendrá a una temperatura de menos de 6 K o incluso menos de 4,2 K.
Las aberturas de blindaje contra radiación de calor pueden dejarse abiertas pero, con el fin de reducir la transferencia de calor, preferiblemente cada abertura puede cerrarse mediante un sistema de cierre respectivo. Un ejemplo de un sistema de cierre adecuado comprende una o más pestañas flexibles, o pestañas con bisagra y con resorte.
En una realización, el aparato de carga de muestras comprende dos sondas alargadas, acopladas cada una al dispositivo portamuestras, pero en otras realizaciones puede usarse una única sonda alargada. En ambos casos, preferiblemente la o cada sonda puede hacerse rotar alrededor de su eje con respecto al dispositivo portamuestras. Naturalmente, pueden usarse más de dos sondas.
El conector se forma convenientemente proporcionando una rosca de tornillo en un extremo de la o cada barra, actuando el primer conector conjuntamente con una rosca de tornillo en el blindaje contra radiación de calor primero o segundo para conseguir la conexión térmica entre los mismos. Alternativamente, la conexión térmica puede conseguirse usando una conexión de resorte en la que el dispositivo portamuestras está equipado con uno o una pluralidad de resortes térmicamente conductores que se enganchan sobre una superficie interior de la abertura del blindaje contra radiación. Esa superficie interior puede extenderse, por ejemplo, mediante la adición de un conjunto de tubo o un conjunto de placa más gruesa para permitir el enganche. Los conectores de resorte también pueden fijarse sobre el blindaje contra calor o radiación y empujarse el dispositivo portamuestras sobre los mismos. Alternativamente, la conexión térmica puede realizarse mediante resortes en blindajes de temperatura más alta y mediante contacto de tornillo en blindajes de temperatura más baja o cualquier combinación de los mismos. En otra realización, el conector puede definirse por partes coincidentes forma de cono o de cuña para amplificar la presión de contacto a partir del mecanismo de montaje. Esto mejora significativamente el rendimiento.
En el caso mencionado anteriormente en el que el conector proporciona inicialmente una conexión térmica débil, esto puede realizarse apretando parcialmente los tornillos para el enfriamiento previo y después apretándolos completamente una vez que se han enfriado previamente (cuando se proporcionan tornillos), o alternativamente empujando inicialmente hacia contactos de resorte y después una vez enfriados previamente, apretando los tornillos de sujeción.
En una realización particularmente preferida, la o cada sonda se acopla de manera liberable al dispositivo portamuestras mediante lo cual una primera operación de la(s) sonda(s) hace que el dispositivo portamuestras se conecte a un soporte en la región de trabajo, y una segunda operación permite que la(s) sonda(s) se libere(n) del dispositivo portamuestras y se retraiga(n). Esto permite que la(s) sonda(s) se retire(n) de la cámara de vacío del criostato para reducir el flujo de calor en el criostato. Pueden proporcionarse accionadores para permitir esto en la sonda o el cuerpo frío.
El aparato de enfriamiento libre de material criogénico puede usarse con una variedad de propósitos tales como DNP, RMN, etc., y normalmente un imán estará ubicado dentro del criostato que rodea la región de trabajo. Ahora se describirán algunos ejemplos de aparato y métodos según la invención con referencia a los dibujos adjuntos, en los que:
la figura 1 muestra una vista en sección parcial que deja ver el interior de una primera realización del aparato de carga de muestras;
la figura 2 muestra una vista de una primera realización del aparato de carga de muestras con el dispositivo
portamuestras retraído a partir de los blindajes (por claridad no se muestran los blindajes y conectores eléctricos);
la figura 3 muestra una vista similar a la figura 2 de la primera realización pero con el dispositivo portamuestras conectado a una placa fría en el criostato (por claridad no se muestran los blindajes);
la figura 4 muestra una vista en sección detallada de la primera realización del aparato de carga de muestras; la figura 5 muestra una vista en sección detallada de la primera realización que muestra un posible mecanismo para cerrar el orificio en el blindaje cuando se carga la muestra (por claridad no se muestran los blindajes y conectores eléctricos);
la figura 6 muestra una vista en corte que deja ver el interior de una segunda realización del aparato de carga de muestras; y
la figura 7 muestra una vista en corte que deja ver el interior del dispositivo portamuestras y la parte coincidente de una segunda realización del aparato de carga de muestras.
Descripciones detalladas de realizaciones específicas
En las figuras 1 a 5 se muestra en más detalle una primera realización de la presente invención. En la figura 1, se monta una muestra 1 sobre un portamuestras o un dispositivo 2 de carga de muestras soportado sobre barras térmicamente conductoras de dos conjuntos 3 de barra o sonda. El portamuestras 2 tiene un espacio para varios conectores eléctricos y ópticos (no mostrados) para permitir la conexión a conectores sobre el cuerpo frío primario en el criostato. Esto permite que se usen múltiples conectores de ajuste a presión lo que proporciona alta flexibilidad y que el cableado pase a través del criostato en vez de hacia abajo por el tubo de sonda, lo que tiene beneficios térmicos significativos. Los extremos de los dos conjuntos 3 de barra son libres de rotar dentro del portador. Un conjunto de tubo y brida forma un recipiente 6 de vacío que rodea los conjuntos 3 de barra y que está abierto en un extremo, estando este extremo sellado contra la parte inferior de una válvula 5 de compuerta cuando se ensambla a un criostato 50. En el extremo opuesto del recipiente 6 de vacío, los conjuntos de barra pasan a través de un par de sellos 7 de junta tórica. Hay un espacio 8 de vacío independiente y un orificio 8A entre estos sellos para permitir que cualquier fuga de aire a través del primer sello, cuando se mueven los conjuntos de barra, se bombee hacia fuera a través de una válvula 8.
El criostato 50 comprende un recipiente 4 de vacío exterior que está cerrado excepto por un orificio 52 cubierto por una válvula 5 de compuerta de gran diámetro. Dentro de la cámara 4 de vacío está ubicado un primer blindaje 54 contra radiación que tiene una abertura 56 alineada con la abertura 52 de la cámara de vacío, y dentro del primer blindaje 54 contra radiación está ubicado un segundo blindaje 10 contra radiación que tiene una abertura 58 alineada con las aberturas 52, 56. Los blindajes 10, 54 contra radiación rodean una región 20 de trabajo en la que está ubicado un cuerpo 15 de montaje frío.
Los blindajes 10, 54 se enfrían mediante un enfriador mecánico convencional tal como un enfriador GM, enfriador Stirling o un dispositivo de tubo de impulsos. Esto no se muestra en los dibujos por motivos de claridad. Una primera etapa del enfriador mecánico se acopla térmicamente al blindaje 54 y una segunda etapa más fría al blindaje 10. Normalmente, el primer blindaje 54 se enfría a una temperatura de aproximadamente 77 K y el segundo blindaje 10 a una temperatura de 6 K o menos, por ejemplo, aproximadamente de 4,2 K. En algunos casos, el segundo blindaje se mantiene a una temperatura mayor de 6 K. Por tanto, cada uno de los blindajes así como el cuerpo 15 de montaje frío mantenido a la temperatura más baja pueden considerarse como “cuerpos fríos”.
Tal como puede observarse en la figura 2, la abertura 56 del blindaje 54 está definida por una placa 12 con un recorte 17. De manera similar, la abertura 58 del blindaje 10 está definida por otra placa 12 y el recorte 17.
Opcionalmente, las aberturas 56, 58 pueden cerrarse mediante un mecanismo de cierre adecuado. La figura 5 muestra una vista en sección transversal de cerca de una posible realización de un mecanismo de este tipo. Una o una pluralidad de pestañas 25 están conectadas al blindaje 10 contra radiación a través de una disposición 26 de bisagra con resorte. Cuando el conjunto 3 de barra pasa a través del conjunto de pestaña, la pestaña o la pluralidad de las mismas 25 se abren. La pestaña o pluralidad de las mismas 25 pueden estar opcionalmente conformadas o equipadas con mecanismos de guiado para impedir que el portamuestras, deflectores o conjuntos de barra se enganchen en las pestañas a medida que se retrae el conjunto de barra y/o el portador.
En funcionamiento, se carga una muestra 1 sobre el portamuestras 2 y se realizan conexiones eléctricas. Después se monta el portamuestras 2 en el extremo de los conjuntos 3 de barra. Después se retraen los conjuntos 3 de barra a través de los sellos 7 de junta tórica de deslizamiento hasta que el portamuestras está completamente dentro del recipiente 6 de vacío. Después se une el recipiente 6 de vacío a la válvula 5 de compuerta y se bombea aire fuera del recipiente 6 de vacío a través de los orificios 8A, 8B y las válvulas 8.
Cuando se establece un vacío en ambos lados de la válvula 5 de compuerta, se abre la válvula de compuerta. Después se empujan los conjuntos 3 de barra para mover el portamuestras a través de la válvula de compuerta y a la primera posición de enfriamiento previo.
La figura 2 muestra el portamuestras 2 que se acerca a la placa 12 del blindaje 54 para conectar térmicamente el portamuestras a una posición de enfriamiento previo de blindaje contra radiación que define un primer cuerpo frío. Los conjuntos 3 de barra tienen una llave 22 (figura 4) en el extremo que, cuando se engancha, gira una rosca 18 de tornillo. Las roscas 18 de tornillo se alinean con roscas 19 de tornillo coincidentes sobre la placa 12 lo que permite enroscar el portamuestras 2 a la placa 12 sobre el blindaje 54 contra radiación, realizando de ese modo el contacto térmico. Se proporciona un termómetro opcional (no mostrado) sobre el portamuestras o conjunto de barra para permitir monitorizar la temperatura del portamuestras durante el enfriamiento. Cuando el portamuestras 2 está suficientemente frío, los conjuntos 3 de barra se hacen rotar de nuevo para separar las dos roscas de tornillo. Todo el conjunto de barra y portador se hace rotar entonces por medio de un sello de rotación sobre el recipiente 6 de vacío o la válvula 5 de compuerta, para permitir que el portador 2 pase a través del recorte 17. Entonces, se conecta opcionalmente el portador de manera similar a un o una pluralidad de blindajes contra radiación adicionales opcionales, tales como el blindaje 10 (formando cuerpos fríos adicionales).
Una vez que el portamuestras está enfriado previamente de manera adecuada, los conjuntos 3 de barra se empujan a su posición final para permitir la conexión del portamuestras 2 al cuerpo 15 frío que puede conectarse a modo de ejemplo a la cámara de mezclado de un refrigerador de dilución o una placa de muestras de un criostato. La figura 3 muestra el portamuestras 2 que está en contacto con la placa 15 fría. Las roscas 18 de tornillo se enganchan en roscas de tornillo coincidentes (no mostradas) en la placa 15 fría. Durante la conexión térmica entre el portamuestras 2 y el cuerpo 5 frío, se realizan varias conexiones eléctricas de ajuste a presión y ópticas opcionales entre el portamuestras 2 y el cuerpo 15 frío. Estos conectores no se muestran en este diagrama. En esta vista, también son visibles dos conjuntos 14 de deflector. Estos conjuntos de deflector son libres de deslizarse sobre los conjuntos 3 de barra y se empujan o se tira de los mismos hacia el portamuestras mediante conjuntos 21 de resorte. Por claridad, los conjuntos 14 de deflector se muestran en este caso en una posición retraída, en realidad se forzarán mediante los conjuntos de resorte para entrar en contacto con las placas sobre el blindaje contra radiación, cerrando de ese modo los recortes 17 y provocando el contacto térmico. Los conjuntos de deflector también se conectan opcionalmente a los conjuntos de barra usando conexiones térmicas de deslizamiento tales como conjuntos de resorte térmicamente conductores permitiendo, por tanto, que se intercepte el calor que pasa por las barras a partir de la temperatura ambiente.
La figura 4 muestra una vista en sección transversal de cerca del portamuestras y conjuntos de barra. En el extremo de cada conjunto 3 de barra hay una llave 22 que se inserta en una conexión coincidente en la rosca 18 de tornillo. En la llave y el conjunto de barra, hay una rosca 23 de tornillo y en el portamuestras hay una rosca 24 de tornillo coincidente. Esta disposición significa que si los conjuntos de barra se retraen, las roscas 23, 24 de tornillo chocarán y, por tanto, también se retraerá el portamuestras. Una vez conectado el portamuestras al cuerpo 15 frío por medio de las roscas 18 de tornillo, los conjuntos de barra pueden retraerse entonces parcialmente para retirar la llave de la parte trasera de la rosca 18 de tornillo y reducir el flujo de calor a la muestra. Sin embargo, esto no es esencial y la muestra puede permanecer conectada a la sonda. Cuando las roscas 23, 24 chocan, el conjunto de barra puede hacerse rotar entonces para permitir que las roscas de tornillo pasen una a través de otra y después o bien se retraigan parcialmente desde el criostato, dejando los deflectores en contacto con los blindajes contra radiación, o bien se retraigan completamente desde el criostato con el fin de reducir adicionalmente la carga térmica.
Si los conjuntos de barra se retraen completamente desde el criostato, el mecanismo 11 opcional puede ajustarse para cerrar los recortes en los blindajes contra radiación.
En la figura 6 se muestra una segunda realización de la presente invención. En esta realización, se usa un único conjunto 3 de barra con una única rosca 18 de tornillo de gran diámetro. En el extremo del conjunto 3 de barra hay un adaptador 27 que conecta el conjunto de barra al conjunto 2 de portamuestras. En el adaptador hay un o una pluralidad de salientes 28 que se enganchan en ranuras o rebajes 29 formados en los medios 12 para permitir que el portador se conecte térmicamente a los blindajes contra radiación. La muestra se carga en el portador y se introduce a través de la válvula 5 de compuerta como en la primera realización. El conjunto de barra se hace rotar para enganchar los salientes 28 en las ranuras o los rebajes 28 y el conjunto de barra se empuja entonces hacia el criostato hasta que los salientes 28 coinciden con una obstrucción 30. Después se realiza opcionalmente la conexión térmica a través de los salientes o a través de contactos 31 de resorte opcionales. La ranura y la obstrucción son opcionales y sirven para impedir que el portamuestras se empuje accidentalmente más allá del blindaje contra radiación antes del enfriamiento previo.
Cuando la muestra se enfría adecuadamente, la barra de muestra se retrae ligeramente de manera opcional y se hace rotar para permitir que los salientes 28 se muevan más allá de la obstrucción 30. El conjunto de barra puede insertarse entonces adicionalmente para permitir que se conecte térmicamente al siguiente blindaje contra radiación si así se requiere. Cuando la barra de muestra se inserta a través del blindaje, los deflectores 13 opcionales equipados con contactos 4 térmicos de resorte opcionales se enganchan en el conjunto 12 tanto para
cerrar el orificio en el blindaje contra radiación como para realizar opcionalmente el contacto térmico entre el blindaje contra radiación y el conjunto de barra para interceptar calor. Un procedimiento opcional similar para enfriamiento previo en blindaje(s) contra radiación posterior(es) puede incluirse entonces antes de mover la muestra al cuerpo frío.
La figura 7 muestra una vista en sección transversal del conjunto de portamuestras de la segunda realización enganchado en el cuerpo frío. El portamuestras 2 está encerrado en un tubo 32 con una rosca 18 de tornillo en un extremo. En el extremo opuesto del tubo, se proporcionan unos medios 33 de conexión del tubo al adaptador en el extremo del conjunto de barra. Esto permite que el tubo se inserte y retraiga y se haga rotar mediante el conjunto de barra. El portamuestras es libre de rotar dentro del tubo y se conecta térmicamente al adaptador en el extremo del conjunto de barra usando un contacto 34 térmico de resorte. A medida que el tubo y el conjunto de portador se empujan en la parte coincidente unida al cuerpo frío, un chavetero alinea rotacionalmente el portamuestras con la parte coincidente, lo que garantiza que los conectores 35 opcionales se alineen. Después se hace rotar el conjunto de barra para tirar del portamuestras en la parte coincidente, realizando el contacto térmico, conexiones eléctricas y conexiones ópticas opcionales. El conjunto de barra puede retraerse entonces desde el criostato, desconectando en los medios de conexión el tubo al adaptador en el extremo del conjunto de barra. Pueden ajustarse deflectores opcionales para cerrar los orificios en los blindajes contra radiación si el conjunto de barra va a retirarse completamente. La retirada de la muestra es esencialmente el inverso del procedimiento de inserción, con la excepción de que habitualmente no es necesario dejar que el portamuestras en los blindajes contra radiación se caliente cuando se retrae la muestra.
Realizaciones alternativas:
En la primera realización alternativa, es posible cambiar el mecanismo para la conexión a los blindajes contra radiación de ser una conexión de tornillo a ser una conexión de resorte en la que el portamuestras está equipado con uno o una pluralidad de resortes térmicamente conductores que se enganchan en una superficie interior del recorte en el blindaje contra radiación. Esa superficie interior puede extenderse, por ejemplo, mediante la adición de un conjunto de tubo o un conjunto de placa más gruesa para permitir el enganche. Alternativamente, la conexión térmica puede ser a través de resortes en los blindajes de temperatura más alta y a través de contacto de tornillo en los blindajes de temperatura más baja o cualquier combinación de los mismos. Pueden usarse partes coincidentes en forma de cono o cuña en cada lado del acoplamiento liberable para amplificar la presión de contacto a partir del mecanismo de montaje. También pueden usarse un contacto liberable neumático o piezoeléctrico u de otras formas.
En todas las realizaciones, la conexión al o a cada cuerpo frío puede ser opcionalmente a través de contactos de resorte térmicamente conductores en vez de una conexión de tornillo.
En todas las realizaciones, la conexión a los blindajes contra radiación puede ser opcionalmente a través de contactos de resorte térmicamente conductores o contactos de tornillo.
En todas las realizaciones, en las que se especifica que una conexión térmica se realiza o puede realizarse con un blindaje contra radiación o blindaje, esta conexión térmica puede realizarse alternativamente con cualquier otra superficie fría adecuada.
Siempre que se usan contactos de resorte térmicamente conductores, estos pueden realizarse a partir de un único material, tal como cobre al berilio, o pueden realizarse a partir de un material laminado o material compuesto de diferentes materiales para proporcionar tanto una buena fuerza de resorte como una alta conductividad térmica. Esto puede incluir, por ejemplo, cobre al berilio o acero para proporcionar la fuerza de resorte con cobre, plata y/u oro para mejorar la conductividad térmica. Se prefieren materiales diferentes para reducir las corrientes parásitas y extinguir fuerzas cuando se usan con un imán. Ejemplos de materiales diferentes pueden ser cobre para alta conductividad térmica y acero inoxidable para alta resistencia mecánica y menor conductividad eléctrica para reducir corrientes parásitas inducidas. Otras posibilidades pueden incluir titanio y cobre o latón y cobre o aleación de aluminio y cobre. En general, es un material de alta conductividad térmica y uno de alta resistencia mecánica y mayor resistencia. El segundo material también puede ser un material de plástico o un material compuesto.
En todas las realizaciones, puede añadirse un orificio adicional o una pluralidad de los mismos al segundo recipiente de vacío para permitir que la muestra y opcionalmente el portamuestras se retiren sin la retirada del segundo recipiente de vacío a partir del recipiente de vacío principal.
En la segunda realización, es posible cambiar la conexión de los blindajes contra radiación a una rosca de tornillo en el exterior del conjunto de tubo rotatorio. También es posible cambiar la conexión de rosca de tornillo del cuerpo frío para que sea una rosca externa, lo que significa que puede usarse la misma rosca para conectarse a los blindajes contra radiación para el enfriamiento previo y después al cuerpo frío. El conjunto de tubo con la rosca puede tener opcionalmente una división en el mismo para permitir que el diámetro cambie para compensarse la expansión y contracción térmicas.
Aunque no se muestra, un imán superconductor puede estar ubicado en el criostato 50 tal como se conoce convencionalmente para polarización nuclear dinámica y resonancia magnética nuclear y otras aplicaciones de campo magnético criogénicas.
En los ejemplos descritos anteriormente, las barras forman accionadores para conectarse a y desconectarse de los cuerpos fríos y pueden desmontarse del criostato. En ejemplos alternativos, las barras (u otros accionadores) pueden formar parte del criostato y el portamuestras puede portarse sobre una sonda independiente de las barras (u otros accionadores), manipulándose las barras (u otros accionadores) para enganchar las roscas de tornillo (u otro mecanismo de conexión) tal como anteriormente.
Claims (15)
1. Aparato de enfriamiento libre de material criogénico que comprende:
una cámara (4) de vacío;
un blindaje (54, 10) contra radiación de calor que rodea una región (20) de trabajo y ubicado en la cámara de vacío;
un sistema de enfriamiento libre de criógeno que tiene una etapa de enfriamiento acoplada al blindaje contra radiación de calor;
un cuerpo (12) frío dentro de la cámara de vacío, en el que el cuerpo frío está formado por una superficie unida a una placa fría acoplada a la etapa de enfriamiento del sistema de enfriamiento;
aberturas (52, 56, 58) alineadas en el blindaje contra radiación de calor y la pared de cámara de vacío; aparato de carga de muestras que tiene una o más sondas (3) alargadas y un dispositivo (2) portamuestras unido a la una o más sondas alargadas para insertar el dispositivo portamuestras a través de las aberturas (52, 56, 58) alineadas en la región de trabajo;
uno o más conectores térmicos, mediante lo cual el dispositivo portamuestras se conecta de manera liberable para conducción de calor mediante dicho(s) conector(es) térmico(s) al cuerpo frío para enfriar previamente una muestra (1) sobre o en el dispositivo (2) portamuestras antes de que el dispositivo portamuestras se inserte en la región (20) de trabajo; y
un soporte (15) ubicado en la región de trabajo; caracterizado porque el dispositivo (2) portamuestras incluye uno o más conectores eléctricos para permitir que se realicen conexiones eléctricas o térmicas al soporte (15) en la región (20) de trabajo.
2. Aparato según la reivindicación 1, en el que el cuerpo frío está formado por el blindaje (54, 10) contra radiación de calor.
3. Aparato según las reivindicaciones 1 ó 2, en el que la etapa de enfriamiento acoplada a la placa fría es una primera etapa de enfriamiento del sistema de enfriamiento y en el que el blindaje contra radiación de calor acoplado a la primera etapa de enfriamiento es un primer blindaje (54) contra radiación de calor, comprendiendo además el aparato un segundo blindaje (10) contra radiación de calor ubicado en el interior del primer blindaje (54) contra radiación y que rodea la región (20) de trabajo, teniendo el sistema de enfriamiento libre de criógeno una segunda etapa de enfriamiento, configurada para ser más fría que la primera etapa de enfriamiento, acoplada al segundo blindaje contra radiación de calor, teniendo el segundo blindaje contra radiación una abertura (58) alineada con las aberturas (52, 56) del primer blindaje contra radiación de calor y la pared de cámara de vacío para permitir que el dispositivo (2) portamuestras pase a su través, mediante lo cual el dispositivo portamuestras se conecta opcionalmente de manera liberable para conducción de calor al segundo blindaje contra radiación de calor.
4. Aparato según las reivindicaciones 1 ó 2, en el que la etapa de enfriamiento acoplada a la placa fría es una segunda etapa de enfriamiento del sistema de enfriamiento libre de criógeno y en el que el blindaje contra radiación de calor acoplado a la segunda etapa de enfriamiento es un segundo blindaje (10) contra radiación de calor, comprendiendo además el aparato un primer blindaje (54) contra radiación de calor que rodea la región (20) de trabajo y ubicado en la cámara de vacío, en el que el segundo blindaje contra radiación de calor está ubicado en el interior del primer blindaje contra radiación de calor, teniendo el sistema de enfriamiento libre de criógeno una primera etapa de enfriamiento acoplada al primer blindaje contra radiación de calor, en el que la segunda etapa de enfriamiento está configurada para ser más fría que la primera etapa de enfriamiento, teniendo el primer blindaje contra radiación una abertura (56) alineada con las aberturas (52, 58) del segundo blindaje contra radiación de calor y la pared de cámara de vacío para permitir que el dispositivo (2) portamuestras pase a su través.
5. Aparato según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 4, en el que el soporte (15) está conectado a la cámara de mezclado de un refrigerador de dilución.
6. Aparato según cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en el que la abertura (52) alineada en la pared de cámara de vacío incluye un sistema (5) de cierre, tal como una válvula de vacío.
7. Aparato según cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en el que uno o más del/de los conector(es) térmico(s) comprenden uno o más resortes (31) térmicamente conductores ajustados para realizar contacto térmico entre el cuerpo frío y el dispositivo portamuestras.
8. Aparato según las reivindicaciones 2 y 7, en el que el dispositivo portamuestras se ajusta con el/los resorte(s) térmicamente conductor(es) para engancharse sobre una superficie interior de la abertura del blindaje contra radiación.
9. Aparato según las reivindicaciones 2 y 7, en el que dicho(s) resorte(s) térmicamente conductor(es) se fija(n) sobre el blindaje contra radiación de calor.
10. Aparato según las reivindicaciones 3 ó 4, en el que el aparato de carga de muestras puede rotar con respecto a la cámara (4) de vacío y los blindajes (10, 54) de calor primero y segundo para alinearse de manera selectiva con el o cada conector térmico o con la abertura respectiva para permitir que el dispositivo portamuestras pase a su través.
11. Aparato según cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en el que la sonda o cada una de las sondas (3) alargadas se acopla de manera liberable al dispositivo portamuestras para liberar y retraer la(s) sonda(s) del dispositivo portamuestras cuando el dispositivo portamuestras se conecta al soporte.
12. Aparato según cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en el que el aparato de carga de muestras incluye además un recipiente (6) de vacío en el que el dispositivo (2) portamuestras y la sonda o sondas (3) alargadas se montan de manera móvil, pudiendo conectarse el recipiente de vacío a la abertura (52) de la pared de cámara de vacío.
13. Aparato según cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en el que el sistema de enfriamiento libre de criógeno comprende un enfriador mecánico tal como un enfriador GM, enfriador Stirling o un dispositivo de tubo de impulsos.
14. Método de cargar una muestra en la región de trabajo de un aparato de enfriamiento libre de material criogénico según las reivindicaciones 6 y 12, comprendiendo el método
colocar una muestra (1) en o sobre el dispositivo (2) portamuestras;
fijar el recipiente (6) de vacío del aparato de carga de muestras a la cámara (4) de vacío y alinearlo con la abertura (52) de la cámara de vacío;
evacuar el recipiente de vacío;
abrir la abertura de la cámara de vacío y hacer funcionar la o cada sonda (3) alargada para insertar el dispositivo portamuestras a través de la abertura abierta de modo que el dispositivo portamuestras se acopla térmicamente al cuerpo frío;
permitir que la muestra en o sobre el dispositivo portamuestras se enfríe como resultado de conducción de calor al cuerpo frío;
desconectar el dispositivo portamuestras del cuerpo frío; y
hacer funcionar la o cada sonda alargada para insertar el dispositivo portamuestras en la región de trabajo.
15. Método según la reivindicación 14, que comprende además hacer funcionar la o cada sonda (3) alargada para conectar el dispositivo (2) portamuestras al soporte (15) en la región de trabajo, y liberar y retraer posteriormente la(s) sonda(s) del dispositivo portamuestras.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GBGB0904500.6A GB0904500D0 (en) | 2009-03-16 | 2009-03-16 | Cryofree cooling apparatus and method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| ES2935698T3 true ES2935698T3 (es) | 2023-03-09 |
Family
ID=40637422
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| ES22154522T Active ES2935698T3 (es) | 2009-03-16 | 2010-03-15 | Método y aparato de enfriamiento libre de material criogénico |
| ES19187223T Active ES2909009T3 (es) | 2009-03-16 | 2010-03-15 | Método y aparato de enfriamiento libre de material criogénico |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| ES19187223T Active ES2909009T3 (es) | 2009-03-16 | 2010-03-15 | Método y aparato de enfriamiento libre de material criogénico |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20120102975A1 (es) |
| EP (4) | EP4148353B1 (es) |
| JP (1) | JP2012520987A (es) |
| ES (2) | ES2935698T3 (es) |
| FI (3) | FI4027081T3 (es) |
| GB (1) | GB0904500D0 (es) |
| WO (1) | WO2010106309A2 (es) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2493553B (en) * | 2011-08-11 | 2017-09-13 | Oxford Instr Nanotechnology Tools Ltd | Cryogenic cooling apparatus and method |
| CN102967834B (zh) * | 2012-11-23 | 2014-10-15 | 中国科学院武汉物理与数学研究所 | 一种磁共振引擎装置及方法 |
| CN104884969A (zh) * | 2012-12-27 | 2015-09-02 | 皇家飞利浦有限公司 | 用于对无低温超导磁体的失超保护的系统和方法 |
| DE102015215919B4 (de) | 2015-08-20 | 2017-06-22 | Bruker Biospin Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Vorkühlung eines Kryostaten |
| EP3163222B1 (en) | 2015-10-28 | 2018-07-18 | Technische Universität München | Cryogen-free cooling apparatus |
| CN109488720B (zh) * | 2018-12-27 | 2024-04-26 | 仪晟科学仪器(嘉兴)有限公司 | 闭循环液氦制冷机的机械隔离式震动屏蔽系统 |
| DE102019203341A1 (de) * | 2019-03-12 | 2020-09-17 | Pressure Wave Systems Gmbh | Kryostat |
| EP3734303B1 (en) * | 2019-05-03 | 2024-04-03 | Afore Oy | Cryogenic probe station with loading assembly |
| GB2592415A (en) * | 2020-02-27 | 2021-09-01 | Oxford Instruments Nanotechnology Tools Ltd | Insert for a cryogenic cooling system |
| FI129268B (fi) | 2020-05-13 | 2021-10-29 | Bluefors Oy | Laite ja menetelmä lämpöä johtavan kytkennän tekemiseksi |
| US11360140B1 (en) | 2020-12-18 | 2022-06-14 | Microsoft Technology Licensing, Llc | RF functional probe |
Family Cites Families (31)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9027A (en) * | 1852-06-15 | Improvement in preparations of archil | ||
| US4251123A (en) | 1979-05-04 | 1981-02-17 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Glove box shield |
| US4446702A (en) | 1983-02-14 | 1984-05-08 | Helix Technology Corporation | Multiport cryopump |
| US4577465A (en) | 1984-05-11 | 1986-03-25 | Helix Technology Corporation | Oil free vacuum system |
| JPS60260833A (ja) * | 1984-06-07 | 1985-12-24 | Hoxan Corp | クライオスタツト |
| JPS6270461U (es) * | 1985-10-21 | 1987-05-02 | ||
| US4872321A (en) | 1988-04-27 | 1989-10-10 | Biomagnetic Technologies, Inc. | Nonimmersive cryogenic cooler |
| US5077523A (en) | 1989-11-03 | 1991-12-31 | John H. Blanz Company, Inc. | Cryogenic probe station having movable chuck accomodating variable thickness probe cards |
| JP2821241B2 (ja) * | 1990-06-08 | 1998-11-05 | 株式会社日立製作所 | 液化冷凍機付きクライオスタツト |
| US5237825A (en) * | 1991-11-08 | 1993-08-24 | Gte Laboratories Incorporated | Method and apparatus for cryogenically cooling samples |
| US5611207A (en) * | 1995-06-29 | 1997-03-18 | Hess; John | Cryogenic interface for perpendicular loading of independent measurement inserts |
| JP2946195B2 (ja) | 1995-08-18 | 1999-09-06 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 非破壊検査装置 |
| US5727392A (en) | 1996-12-19 | 1998-03-17 | Helix Technology Corporation | Convection-shielded cryopump |
| US5806319A (en) | 1997-03-13 | 1998-09-15 | Wary; John | Method and apparatus for cryogenically cooling a deposition chamber |
| JPH11162269A (ja) * | 1997-11-27 | 1999-06-18 | Toshiba Corp | 超電導機器 |
| JP2001255252A (ja) | 2000-03-10 | 2001-09-21 | Jeol Ltd | 試料搬送装置 |
| JP3580531B2 (ja) | 2000-04-20 | 2004-10-27 | 大陽東洋酸素株式会社 | 希釈冷凍機 |
| JP4163447B2 (ja) | 2002-05-22 | 2008-10-08 | 日本電子株式会社 | スキャナ保持装置および走査型プローブ顕微鏡 |
| JP2006509999A (ja) | 2002-08-02 | 2006-03-23 | イー エイ フィシオネ インストルメンツ インコーポレーテッド | 顕微鏡の試料調製方法及び装置 |
| GB0408425D0 (en) | 2004-04-15 | 2004-05-19 | Oxford Instr Superconductivity | Cooling apparatus |
| JP4319650B2 (ja) * | 2005-07-29 | 2009-08-26 | 株式会社日立製作所 | Ｎｍｒ用低温プローブおよびｎｍｒ装置 |
| GB0604577D0 (en) † | 2006-03-07 | 2006-04-19 | Dryogenic Ltd | Low temperature heatsinking system |
| US8307665B2 (en) | 2006-04-06 | 2012-11-13 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Sample cooling apparatus |
| JP4431793B2 (ja) * | 2006-07-07 | 2010-03-17 | 国立大学法人九州大学 | クライオスタット |
| US8069675B2 (en) | 2006-10-10 | 2011-12-06 | Massachusetts Institute Of Technology | Cryogenic vacuum break thermal coupler |
| JP2008098415A (ja) * | 2006-10-12 | 2008-04-24 | Toshiba Corp | 超電導機器 |
| US8082741B2 (en) | 2007-05-15 | 2011-12-27 | Brooks Automation, Inc. | Integral facet cryopump, water vapor pump, or high vacuum pump |
| DE102007028865B3 (de) * | 2007-06-22 | 2009-01-29 | Vericold Technologies Gmbh | Tieftemperaturvorrichtung |
| JP2009074774A (ja) | 2007-09-25 | 2009-04-09 | Kyushu Univ | 無冷媒冷凍機及び機能性熱結合体 |
| US8291717B2 (en) * | 2008-05-02 | 2012-10-23 | Massachusetts Institute Of Technology | Cryogenic vacuum break thermal coupler with cross-axial actuation |
| NL2001755C2 (nl) | 2008-07-03 | 2010-01-05 | Giorgio Frossati | Houder voor een tot een lage temperatuur in een vacuümruimte af te koelen preparaat en 3he-4he mengkoelmachine ingericht voor het opnemen van een dergelijke houder. |
-
2009
- 2009-03-16 GB GBGB0904500.6A patent/GB0904500D0/en not_active Ceased
-
2010
- 2010-03-15 EP EP22205298.7A patent/EP4148353B1/en active Active
- 2010-03-15 ES ES22154522T patent/ES2935698T3/es active Active
- 2010-03-15 EP EP19187223.3A patent/EP3620732B2/en active Active
- 2010-03-15 FI FIEP22154522.1T patent/FI4027081T3/fi active
- 2010-03-15 US US13/257,032 patent/US20120102975A1/en not_active Abandoned
- 2010-03-15 JP JP2012500303A patent/JP2012520987A/ja active Pending
- 2010-03-15 FI FIEP22205298.7T patent/FI4148353T1/fi unknown
- 2010-03-15 WO PCT/GB2010/000454 patent/WO2010106309A2/en active Application Filing
- 2010-03-15 FI FIEP10710389.7T patent/FI2409096T4/fi active
- 2010-03-15 EP EP10710389.7A patent/EP2409096B2/en active Active
- 2010-03-15 ES ES19187223T patent/ES2909009T3/es active Active
- 2010-03-15 EP EP22154522.1A patent/EP4027081B1/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| ES2909009T3 (es) | 2022-05-04 |
| GB0904500D0 (en) | 2009-04-29 |
| EP4027081A2 (en) | 2022-07-13 |
| EP2409096B1 (en) | 2019-08-21 |
| EP2409096B2 (en) | 2024-06-19 |
| EP4027081B1 (en) | 2022-12-21 |
| EP4148353B1 (en) | 2024-05-22 |
| EP2409096A2 (en) | 2012-01-25 |
| EP3620732B1 (en) | 2022-02-16 |
| WO2010106309A8 (en) | 2011-10-13 |
| FI2409096T4 (fi) | 2024-06-20 |
| WO2010106309A2 (en) | 2010-09-23 |
| WO2010106309A3 (en) | 2011-05-19 |
| EP3620732A1 (en) | 2020-03-11 |
| FI4027081T3 (fi) | 2023-01-13 |
| US20120102975A1 (en) | 2012-05-03 |
| FI4148353T1 (fi) | 2023-03-29 |
| EP4148353A1 (en) | 2023-03-15 |
| EP3620732B2 (en) | 2024-10-09 |
| EP4027081A3 (en) | 2022-08-31 |
| JP2012520987A (ja) | 2012-09-10 |
| EP4148353C0 (en) | 2024-05-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ES2935698T3 (es) | Método y aparato de enfriamiento libre de material criogénico | |
| US9816750B2 (en) | Cryogenic cooling apparatus and method | |
| US8525023B2 (en) | Cooled current leads for cooled equipment | |
| JP4854396B2 (ja) | 低温冷凍機を備えたクライオスタット構造 | |
| EP3282269B1 (de) | Nmr-apparatur mit durch eine vakuumschleuse in den kryostaten einer supraleitenden magnetanordnung einführbaren gekühlten probenkopfkomponenten sowie verfahren zu deren ein- und ausbau | |
| JP4417247B2 (ja) | 超伝導磁石と冷凍ユニットとを備えたｍｒｉ装置 | |
| CN107003373A (zh) | 用于冷却磁共振成像装置的系统和方法 | |
| US7503181B2 (en) | Quench seal | |
| US11953570B2 (en) | NMR measuring assembly with cold bore of the cryostat | |
| EP2166295A2 (en) | Cryogenic cooling apparatus and method using a sleeve with heat transfer member | |
| US20110006771A1 (en) | Magnetic resonance apparatus and method | |
| Pagliarone et al. | The cuore fast cooling system | |
| ES2886329T3 (es) | Disposiciones de criostato y disposiciones de montaje para criostatos | |
| WO2002073100A1 (en) | Dilution refrigerator assembly | |
| Steinmeyer et al. | Towards the invisible cryogenic system for magnetic resonance imaging | |
| KR20220039210A (ko) | 자기공명영상장치용 초전도 마그넷 냉각 시스템 |