ES2324845T3 - Modulo de semiconductor de potencia con cuerpo de presion. - Google Patents

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Abstract

Un módulo de semiconductor de potencia (1) en un diseño de contacto por presión que comprende por lo menos un sustrato (5), componentes del semiconductor de potencia (60) dispuestos sobre el mismo, un alojamiento (3) y elementos de conexión de la carga dirigidos hacia fuera (40, 42, 44) y que comprenden un dispositivo de presión (70) con por lo menos un cuerpo de presión (80), en el que el sustrato (5) comprende trayectorias conductoras (54) al potencial de la carga dispuestas sobre una primera superficie principal del mismo, encaradas al interior del módulo de semiconductor de potencia, caracterizado porque un primer elemento de conexión de la carga (40) y por lo menos uno adicional (42, 44) están cada uno de ellos configurados como cuerpos conformados de metal provistos de una primera sección en forma de tira (402, 422, 442) y patas de contacto (400, 420, 440) que emanan de la misma, la respectiva sección en forma de tira (402, 422, 442) está dispuesta paralela a la superficie del sustrato y a una distancia del mismo y las patas de contacto (400, 420, 440) se extienden desde la sección en forma de tira (402, 422, 442) hasta el sustrato (5) y entran en contacto con éste de una manera apropiada para el circuito, y porque por lo menos un cuerpo de presión (80) está dispuesto entre el dispositivo de presión (70) y un elemento de conexión de la carga adicional (42, 44), en el que una pieza de este cuerpo de presión (80) se extiende a través del primer elemento de conexión de la carga (40) y produce presión sobre un punto de recepción de la presión (424, 444) del elemento de conexión de la carga adicional asignado (42, 44).

Description

Módulo de semiconductor de potencia con cuerpo de presión.
La invención describe un módulo de semiconductor de potencia en un diseño de contacto por presión para disponerlo en un disipador térmico. Los módulos de semiconductor de potencia como tales son conocidos, por ejemplo, a partir de los documentos DE 197 19 703 A1 y el documento anterior no publicado 10 2006 006 423 forman el punto de partida de la invención.
Los módulos de semiconductor de potencia de este tipo según la técnica anterior consisten en un alojamiento con por lo menos un componente eléctricamente aislante dispuesto en su interior, preferiblemente para el montaje directo en un disipador térmico. El sustrato por su parte consiste en un cuerpo de material aislante con una pluralidad de trayectorias de conexión metálicas mutuamente aisladas colocadas sobre el mismo y componentes del semiconductor de potencia colocados sobre el mismo y conectados a estas trayectorias de conexión de una manera apropiada para el circuito. Además, estos módulos de semiconductor de potencia conocidos tienen elementos de conexión para conexiones de cargas exteriores y auxiliares así como elementos de conexión colocados en su interior. Estos elementos de conexión para las conexiones apropiadas para el circuito en el interior del módulo de semiconductor de potencia generalmente están configurados como conexiones de unión por cable.
Los módulos de semiconductor de potencia conectados por presión son también conocidos tales como aquellos expuestos en el documento DE 10 2006 006 423. El módulo de semiconductor de potencia según este documento tiene un diseño de contacto por presión para la disposición en un disipador térmico. Además, por lo menos un sustrato con elementos del semiconductor de potencia está dispuesto en su interior. El módulo de semiconductor de potencia adicionalmente comprende un alojamiento y elementos de conexión de la carga y de control dirigidos hacia fuera. El sustrato, por ejemplo, un sustrato DCB comprende un cuerpo de material aislante (52) en la primera superficie principal del mismo, encaradas al interior del módulo de semiconductor de potencia, están dispuestas trayectorias conductoras al potencial de carga.
Estos elementos de conexión de carga están configurados en cada caso como cuerpos conformados de metal provistos de por lo menos un dispositivo de contacto exterior, una sección en forma de tira y patas de contacto que emanan de esta sección. La sección en forma de tira respectiva está dispuesta paralela a la superficie del sustrato y una distancia de dicha superficie. Las patas de contacto se extienden desde la sección en forma de tira hasta el sustrato y entran en contacto con la superficie de una manera apropiada. Para el aislamiento eléctrico y la liberación de la presión entre los elementos de conexión de la carga individual, éstos tienen cada uno de ellos una capa intermedia elástica en el área de las respectivas secciones en forma de tira.
Adicionalmente conocidos a partir del documento FR-A-2395603 son los componentes de semiconductor que comprenden una pluralidad de elementos de semiconductor los cuales están conectados de una manera que sean eléctricamente conductores por medio de tiras de contacto y un electrodo de alimentación asignado en cada caso, y aquellos electrodos de alimentación son presionados sobre los elementos de semiconductor por medio de resortes que forman el elemento de conexión del elemento de semiconductor hacia el exterior.
Es el objeto de la presente invención proporcionar un módulo de semiconductor de potencia en un diseño de contacto con presión, en el que la introducción de la presión a los respectivos elementos de conexión de la carga para su contacto con las trayectorias conductoras del sustrato está configurada homogéneamente.
Este objeto se consigue de acuerdo con la invención mediante las medidas de las características de la reivindicación 1. Formas de realización preferidas se describen en las reivindicaciones subordinadas.
La idea inventiva arranca a partir de una disposición de un módulo de semiconductor de potencia en un diseño de contacto con presión que comprende por lo menos un cuerpo de presión en un disipador térmico, con por lo menos un sustrato, componentes del semiconductor de potencia dispuestos sobre el mismo, por ejemplo, transistores bipolares, un alojamiento y elementos de conexión de carga y de control dirigidos hacia fuera. El propio sustrato comprende un cuerpo de material aislante y trayectorias conductoras al potencial de carga están dispuestas en la primera superficie principal del mismo encaradas hacia el interior del módulo de semiconductor de potencia. Además, el sustrato preferiblemente tiene por lo menos una trayectoria conductora al potencial de control para el accionamiento de los componentes del semiconductor de potencia.
Los elementos de conexión de la carga del módulo de semiconductor de potencia están configurados cada uno de ellos como cuerpos conformados de metal con un dispositivo de contacto, una sección en forma de tira y provista de una pluralidad de patas de contacto que emanan de la misma. Las secciones respectivas en forma de tira están dispuestas paralelas a la superficie del sustrato y a una distancia del mismo. Las patas de contacto que emanan de la sección en forma de tira se extienden tan lejos como el sustrato y forman los contactos de las conexiones de la carga apropiadas para el circuito. Con este propósito, estas patas de contacto preferiblemente están en contacto con las trayectorias conductoras al potencial de carga sobre sustrato, alternativamente directamente con los componentes del semiconductor de potencia.
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Además, por lo menos un cuerpo de presión está dispuesto entre el dispositivo de presión (70) y un elemento de conexión de la carga adicional, en el que, de acuerdo con la invención, una pieza de este cuerpo de presión (80) se extiende a través del primer elemento de conexión de la carga (40) y produce presión sobre un punto que recibe la presión (424, 444) del elemento de conexión de la carga adicional asignado (42, 44). En este caso, el elemento de conexión de la carga adicional está dispuesto a una distancia del primer elemento de conexión de la carga.
Esta configuración tiene la ventaja de que los elementos individuales de conexión de la carga no están dispuestos rígidamente sino de forma flexible unos con respecto a los otros y, como resultado, la seguridad del contacto de cada dispositivo de contacto individual está asegurada por sí misma y no depende respectivamente de los otros dispositivos de contacto. Por lo tanto, las influencias térmicas y también las tolerancias de fabricación en la longitud de las respectivas patas de contacto de los elementos individuales de conexión de la carga, unos con respecto a los otros, no son esenciales para la seguridad de los contactos eléctricos.
La solución inventiva se explica adicionalmente con referencia a las formas de realización ejemplares de las figuras 1 a 5.
La figura 1 muestra una sección a través de un módulo de semiconductor de potencia de acuerdo con la técnica anterior.
La figura 2 muestra una sección a través de una primera forma de realización de un módulo de semiconductor de potencia de acuerdo con la invención.
La figura 3 muestra una sección de acuerdo con la figura 2 a través de una segunda forma de realización de un módulo de semiconductor de potencia de acuerdo con la invención.
La figura 4 muestra una sección de acuerdo con la figura 2 a través de una tercera forma de realización de un módulo de semiconductor de potencia de acuerdo con la invención.
La figura 5 muestra un módulo de semiconductor de potencia de acuerdo con la invención en una vista tridimensional.
La figura 1 muestra una sección a través de un módulo de semiconductor de potencia (1) de acuerdo con la técnica anterior. Éste comprende un alojamiento (3) con una pieza de alojamiento en forma de bastidor la cual está firmemente unida al disipador térmico (2) de la disposición. En este caso, la pieza del alojamiento en forma de bastidor encierra el por lo menos un sustrato (5). Éste a su vez comprende un cuerpo de material aislante (52), preferiblemente una cerámica aislante tal como por ejemplo óxido de aluminio o nitrato de aluminio.
En la primera superficie principal encarada al interior del módulo de semiconductor de potencia (1), el sustrato (5) tiene una laminación de metal estructurada de forma inherente. Las secciones individuales de esta laminación de metal, la cual preferiblemente está configurada como una laminación de cobre, forma aquí las trayectorias conductoras (54) del módulo de semiconductor de potencia (1). La segunda superficie principal del sustrato (5) tiene una laminación de cobre no estructurada (58) de acuerdo con la técnica anterior.
Colocados sobre las trayectorias conductoras (54) del sustrato están los componentes del semiconductor de potencia que se pueden controlar o controlados (60), tales como, por ejemplo, transistores bipolares de puerta aislada (IGBT - Insulated Gate Bipolar Transistors) cada uno con diodos supresores o MOS-FET (Transistores de efecto de campo de material semiconductor de óxido metálico) conectados en anti-paralelo. Éstos están conectados a trayectorias conductoras adicionales (54) de una manera apropiada al circuito, por ejemplo, por medio de conexiones de unión de cable (62).
Los elementos de conexión de la carga (40, 42, 44) con los diversos potenciales necesarios se utilizan para la conexión exterior del circuito electrónico de potencia en el interior del módulo de semiconductor de potencia (1). Con este propósito, los elementos de conexión de la carga (40, 42, 44) están configurados como cuerpos conformados de metal, cada uno de ellos provisto de una sección en forma de tira (402, 422, 442) paralela a la superficie del sustrato. En este caso, las secciones en forma de tira (402, 422, 442) forman una pila, en la que las secciones en forma de tira de los elementos individuales de conexión de la carga (40, 42, 44) están cada una de ellas separadas entre sí por medio de una capa intermedia elástica (46), en este caso un colchón de silicona y están eléctricamente aisladas unas con respecto a las otras.
Es particularmente preferible que estos colchones de silicona (46) estén unidos mediante adhesivo a las secciones en forma de tira puesto que la pila (4) está configurada de ese modo como una unidad de montaje. Elementos de conexión auxiliares necesarios no están representados en esta vista en sección por razones de claridad.
El módulo de semiconductor de potencia (1) de acuerdo con la invención preferiblemente tiene una capa intermedia configurada como un cuerpo conformado de material aislado (30) entre la pila de las secciones en forma de tira (402, 422, 442) de los elementos de conexión de la carga (40, 42, 44) y el sustrato (5). El cuerpo conformado de material aislante (30) tiene ranuras (32) para la alimentación a través de las patas de contacto (400, 420, 440) de la pila.
El dispositivo de presión (70) para la conexión térmica del módulo de semiconductor de potencia (1) al disipador térmico (2) y al mismo tiempo para el contacto eléctrico de los elementos de conexión de la carga (40, 42, 44) con las trayectorias conductoras (54) del sustrato (5) está formado por un elemento de presión (72) para crear presión sobre la pila. Para esto el elemento de presión tiene dedos de presión (74) de acuerdo con la técnica anterior. También puede ser preferible que esté dispuesta una capa elástica adicional de la misma configuración que la capa intermedia (46) entre el elemento de presión (72) con un lado inferior plano y la pila (4).
El elemento de presión (72) adicionalmente puede estar diseñado de acuerdo con la técnica anterior como un moldeado de plástico con un núcleo de metal interior adecuado o estructuras de refuerzo adicionales. De forma similar es preferible que el elemento de presión (72) al mismo tiempo sirva como una cubierta para el módulo de semiconductor de potencia (1).
La figura 2 muestra una sección a través de una primera forma de realización del módulo de semiconductor de potencia (1) de acuerdo con la invención provisto de la estructura fundamental de acuerdo con la figura 1. Está representado otra vez el sustrato (5) con los componentes del semiconductor de potencia (60) y el alojamiento (3). Por razones de claridad, sin embargo, sin que sean limitativas de esta forma de realización, la capa intermedia (30) y uno de los tres elementos de conexión de la carga (44) han sido omitidos. Los elementos de conexión de la carga dirigidos hacia fuera (40, 42) están configurados otra vez como cuerpos conformados de metal con una sección en forma de tira (402, 422) y con patas de contacto (400, 420) que emanan de la misma. En este caso, la respectiva sección en forma de tira (402, 422) está dispuesta paralela a la superficie del sustrato y a una distancia de ésta. Las patas de contacto (400, 420) se extienden desde la sección en forma de tira (402, 422) hasta el sustrato (5) y entran en contacto con éste de una manera apropiada para el circuito.
De acuerdo con la técnica anterior, un dispositivo de presión está provisto para este propósito, que consiste en una pieza de presión (72) la cual crea presión y un elemento de colchón elástico permanente (76) dispuesto entre esta pieza de presión (72) y el primer elemento de conexión de la carga (40) como un almacén de presión. Por lo tanto, la presión se introduce en el primer elemento de conexión de la carga y se realiza un contacto eléctrico seguro con el sustrato. De forma similar, se consigue el contacto térmico entre el sustrato y el disipador térmico.
Para un contacto eléctrico seguro de forma similar del segundo elemento de conexión de la carga (42), el módulo de semiconductor de potencia de acuerdo con la figura 1 tiene por lo menos un cuerpo de presión (80) dispuesto entre el dispositivo de presión (70) y un segundo elemento de conexión de la carga (42). En este caso, en el desarrollo adicional de acuerdo con la invención, una pieza de este cuerpo de presión (80) se extiende a través de una ranura (406) del primer elemento de conexión de la carga (40) en el área de la sección en forma de tira (402) y de ese modo guía la presión producida por el dispositivo de presión directamente sobre un punto de recepción de la presión del segundo elemento de conexión de la carga asignado.
Es particularmente ventajoso que la pieza de presión (72) del dispositivo de presión (70) tenga ranuras (720) en el lado encarado al interior del módulo de semiconductor de potencia (1), ranuras las cuales siguen sustancialmente el contorno de la sección en forma de tira (402) y el cuerpo de presión (80). De ese modo se puede asegurar que el elemento de colchón (76) esté sujeto a una compresión homogénea sobre su área completa.
La figura 3 muestra una sección (línea de puntos) de acuerdo con la figura 2 a través de una segunda forma de realización de un módulo de semiconductor de potencia (1) de acuerdo con la invención. Aquí está representado exclusivamente el cuerpo de presión y su disposición con respecto al primer elemento de conexión de la carga y a un segundo elemento adicional.
El propio cuerpo de presión (80) está configurado en este caso en forma de T, moldeado, preferiblemente fabricado de plástico. Este comprende una placa de presión que absorbe la presión (82) y un pasador de presión (84) el cual ejerce presión sobre el elemento de conexión de la carga adicional (42). En este caso, como se representa en la figura 2, la presión preferiblemente se introduce por medio de un elemento de colchón (76) simultáneamente sobre la placa de presión (82) y también sobre el primer elemento de conexión de la carga (40). Debido a la longitud adecuada del pasador de presión (84), la presión sobre la placa de presión (82) es introducida a través del pasador de presión (84) sobre el segundo elemento de conexión de la carga (42) pero no sobre el primer elemento de conexión de la carga (40). Puesto que además, ambos elementos de conexión de la carga (40) están separados uno del otro, la introducción de la presión sobre ambos es independiente una de la otra.
Como se representa aquí, puede ser ventajoso que la placa de presión (82) del cuerpo de presión (80) esté configurada para que sea plano-convexa, en el que la superficie convexa (820) está encarada al dispositivo de presión (70) y la superficie plana (822) está encarada al primer elemento de conexión de la carga (40).
Además, puede ser ventajoso configurar el punto de recepción de la presión (424) el dispositivo de contacto adicional (42) en el área de la sección en forma de tira (422) como una ranura formada mediante la tecnología de embutición.
La figura 4 muestra una sección (en línea de puntos) de acuerdo con la figura 2 a través de una tercera forma de realización del módulo de semiconductor de potencia (1) de acuerdo con la invención. Están representados aquí tres elementos de conexión de la carga (40, 42, 44), en el que la presión se aplica al tercer elemento de conexión de la carga (40).
Con este propósito, el cuerpo de presión (80) está configurado otra vez como un moldeado de plástico en forma de T, en el que sin embargo la placa de presión (82) del cuerpo de presión (80) tiene dos superficies planas y paralelas (824, 822). Al mismo tiempo, la primera superficie (824) está encarada al dispositivo de presión (70) y la segunda superficie (822) está encarada al primer elemento de conexión de la carga (40).
También puede ser ventajoso configurar el punto de recepción de la presión (444) del dispositivo de contacto adicional (44) en el área de la sección en forma de tira (442) para que sea una lengüeta de recepción producida mediante la tecnología de plegado por estampación.
Para el aislamiento eléctrico de los elementos de conexión de la carga uno con respecto a los otros, capas intermedias aislantes en forma de películas aislantes están adecuadamente dispuestas de acuerdo con la técnica anterior. Para el aislamiento de los elementos de conexión de la carga (40, 42, 44), también puede ser preferible encerrar adecuadamente éstos con un material aislante tal como por ejemplo plástico o cerámica.
La figura 5 muestra una sección de un módulo de semiconductor de potencia (1) de acuerdo con la invención en una vista tridimensional. Aquí se representa el sustrato (5) con los componentes del semiconductor de potencia (60) dispuestos sobre el mismo de una manera apropiada para el circuito y conectados por medio de conexiones de unión de cable (62).
Como ya ha sido descrito antes en este documento, los elementos de conexión de la carga (40, 42, 44) tienen secciones en forma de tira (402, 422, 442) dispuestas paralelas al sustrato, los cuales están eléctricamente aislados unos de los otros, aquí por medio de películas aislantes (48). Las patas de contacto (400, 420, 440) asignadas al respectivo elemento de conexión de la carga (40, 42, 44) están fabricadas mediante tecnología de plegado por estampación y sirven para la conexión eléctrica al sustrato.
El dispositivo de presión requerido para esto, el cual no está representado, presiona, por una parte sobre la sección en forma de tira (402) del elemento de conexión de la carga (40) y por medio del cuerpo de presión (80) sobre los elementos de conexión de la carga dispuestos más cerca del sustrato, aquí únicamente representado sobre el tercer elemento de conexión de la carga (44). Con este propósito, la película aislante (48) preferiblemente no tiene ranura de modo que el aislamiento eléctrico completo no se deteriora de ese modo.
Puede ser particularmente preferido que una pluralidad de cuerpos de presión (80) estén conectados por medio de redes (86) en el área de la placa de presión (80) y éstas por lo tanto forman una unidad de montaje (8).

Claims (10)

1. Un módulo de semiconductor de potencia (1) en un diseño de contacto por presión que comprende por lo menos un sustrato (5), componentes del semiconductor de potencia (60) dispuestos sobre el mismo, un alojamiento (3) y elementos de conexión de la carga dirigidos hacia fuera (40, 42, 44) y que comprenden un dispositivo de presión (70) con por lo menos un cuerpo de presión (80), en el que el sustrato (5) comprende trayectorias conductoras (54) al potencial de la carga dispuestas sobre una primera superficie principal del mismo, encaradas al interior del módulo de semiconductor de potencia, caracterizado porque un primer elemento de conexión de la carga (40) y por lo menos uno adicional (42, 44) están cada uno de ellos configurados como cuerpos conformados de metal provistos de una primera sección en forma de tira (402, 422, 442) y patas de contacto (400, 420, 440) que emanan de la misma, la respectiva sección en forma de tira (402, 422, 442) está dispuesta paralela a la superficie del sustrato y a una distancia del mismo y las patas de contacto (400, 420, 440) se extienden desde la sección en forma de tira (402, 422, 442) hasta el sustrato (5) y entran en contacto con éste de una manera apropiada para el circuito, y porque por lo menos un cuerpo de presión (80) está dispuesto entre el dispositivo de presión (70) y un elemento de conexión de la carga adicional (42, 44), en el que una pieza de este cuerpo de presión (80) se extiende a través del primer elemento de conexión de la carga (40) y produce presión sobre un punto de recepción de la presión (424, 444) del elemento de conexión de la carga adicional asignado (42, 44).
2. El módulo de semiconductor de potencia (1) según la reivindicación 1 en el que el cuerpo de presión (80) se extiende a través de una ranura (406) del primer elemento de conexión de la carga (40) en el área de la sección en forma de tira (402).
3. El módulo de semiconductor de potencia (1) según la reivindicación 1 en el que el cuerpo de presión (80) está configurado como un moldeado de plástico en forma de T que comprende una placa de presión (82) la cual recibe una presión y un pasador de presión (84) el cual ejerce presión sobre el elemento de conexión de la carga adicional (42, 44).
4. El módulo de semiconductor de potencia (1) según la reivindicación 3 en el que la placa de presión (82) del cuerpo de presión (80) comprende dos superficies paralelas planas (820, 822), en el que la primera (820) está encarada al dispositivo de presión (70) y la segunda (822) está encarada al primer elemento de conexión de la carga (40).
5. El módulo de semiconductor de potencia (1) según la reivindicación 3 en el que la placa de presión (82) del cuerpo de presión (80) está configurada para que sea plano-convexa, en el que la superficie convexa (824) está encarada al dispositivo de presión (70) y la superficie plana (822) está encarada al primer elemento de conexión de la carga (40).
6. El módulo de semiconductor de potencia (1) según la reivindicación 1 en el que una pluralidad de cuerpos de presión (80) están conectados en el área de la placa de presión (82) y forman de ese modo una unidad de montaje (8).
7. El módulo de semiconductor de potencia (1) según la reivindicación 1 en el que el punto de recepción de la presión (424, 444) del dispositivo de contacto adicional (42, 44) en el área de la sección en forma de tira (422, 442) está configurado como una ranura producida por tecnología de embutición.
8. El módulo de semiconductor de potencia (1) según la reivindicación 1 en el que el punto de recepción de la presión (424, 444) del dispositivo de contacto adicional (42, 44) en el área de la sección en forma de tira (422, 442) está configurado como una lengüeta de recepción producida por tecnología de plegado por estampación.
9. El módulo de semiconductor de potencia (1) según la reivindicación 1 en el que el dispositivo de presión (70) está configurado como una pieza que desarrolla presión (72) y un elemento de colchón elástico permanente (76) dispuesto entre esta pieza de presión (72) y el primer elemento de conexión de la carga (40) y el cuerpo de presión (80) está configurado como un dispositivo de almacenaje de la presión.
10. El módulo de semiconductor de potencia (1) según la reivindicación 1 en el que los elementos de conexión de la carga (40, 42, 44) están parcialmente encerrados con material aislante tal como por ejemplo plástico o cerámica.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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DE102013104950B3 (de) * 2013-05-14 2014-04-30 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitermodul und Anordnung hiermit

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2728313A1 (de) 1977-06-23 1979-01-04 Siemens Ag Halbleiterbauelement
DE19530264A1 (de) * 1995-08-17 1997-02-20 Abb Management Ag Leistungshalbleitermodul
DE19719703C5 (de) 1997-05-09 2005-11-17 eupec Europäische Gesellschaft für Leistungshalbleiter mbH & Co. KG Leistungshalbleitermodul mit Keramiksubstrat
EP1263045A1 (en) * 2001-06-01 2002-12-04 ABB Schweiz AG High power semiconductor module
DE102006006423B4 (de) 2006-02-13 2009-06-10 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitermodul und zugehöriges Herstellungsverfahren
DE102006006424B4 (de) * 2006-02-13 2011-11-17 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Anordnung mit mindestens einem Leistungshalbleitermodul und einem Kühlbauteil und zugehöriges Herstellungsverfahren

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