ES2293786A1 - Escaner de deformadas dinamicas. - Google Patents
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Abstract
Escáner de deformadas dinámicas.Procedimiento y aparato de inspección no destructiva para la medida de desplazamientos dinámicos de estructuras, con la finalidad añadida de determinar la existencia y localización de defectos que pudieran afectar a la integridad de dichas estructuras, utilizando técnicas ópticas geométricas. La combinación de un tipo de iluminación por barrido de un haz láser (3) emitido por un emisor-receptor (1), en un rango de direcciones de iluminación cercanas a la de incidencia rasante sobre la superficie de la estructura a inspeccionar (2), utilizando una distribución uniforme de retrorreflectores (5.i) sobre la línea de control (4) y una dirección de observación próxima a la dirección de retrorreflexión, permite adquirir información sobre los desplazamientos dinámicos de la estructura según la dirección normal (8). Aparato para la generación y adecuación del haz láser (3), generación del barrido y adquisición de información sobre la dirección del haz láser.
Description
Escáner de deformadas dinámicas.
La invención está relacionada con los aparatos y
procedimientos para la inspección de estructuras y más
específicamente para la medida de desplazamientos dinámicos en una
estructura usando técnicas ópticas geométricas. Mediante el escáner
de deformadas dinámicas objeto de la invención se detectan defectos
en estructuras como forjados, puentes o chasis mediante la medida
de sus deformaciones dinámicas.
Las cargas de servicio y las acciones del
ambiente degradan la resistencia de las estructuras, pudiendo
llegar a causar daños que comprometan su integridad. La evaluación
y control de durabilidad de estructuras civiles como forjados,
puentes, cubiertas, etc, así como otro tipo de elementos
estructurales de medios de transporte tales como chasis, cascos,
etc, se centra todavía fundamentalmente en el control de calidad de
los materiales en las fases de proyecto y ejecución. En las últimas
décadas, los avances en cuanto al conocimiento de los materiales
han permitido aumentar sus exigencias mientras que los
procedimientos de cálculo de estructuras, incluyendo los estados
límite de fisuración y deformación, se han perfeccionado. Sin
embargo, es notoria la necesidad de unos medios que permitan
controlar el estado estructural de las construcciones en los años
posteriores a su ejecución, de forma que el control de durabilidad
pueda seguir desarrollándose durante la vida útil de la
construcción. La inspección regular y la evaluación del estado
estructural son necesarias para la detección temprana de defectos a
fin de determinar la seguridad y fiabilidad de las estructuras. La
detección temprana de defectos permite programar adecuadamente los
trabajos de mantenimiento y reparación, lo cual minimiza los costes
de reparación y evita paradas imprevistas en el servicio para el que
está destinada la estructura.
La medida de vibraciones y desplazamientos
dinámicos en general es una técnica de gran utilidad para la
evaluación del estado estructural. Diferentes trabajos (véase, por
ejemplo: G. de Roeck, B. Peeters y J. Maeck, "Dynamic monitoring
of civil engineering structures", Computational Methods for
Shell and Spatial Structures, IASS-IACM, M.
Papadrakakis, A. Samartin and E. Onate, eds., Greece 2000 (26
pages); G. Fu, A. G. Moosa, J. Peng, "Optical nondestructive
evaluation for structures", Res. Nondestr. Eval. (2001),
37-59; J. Maeck and G. de Roeck, "Damage
assessment using vibration analysis on the
Z24-bridge", Mechanical Systems and Signal
Processing (2003) 17 (1), 133-142; A.
Samartin, P. Tabuenca and J. García-Palacios,
"Structural damage identification using dynamic numerical
models", Proceedings of IASS Int. Symposium Shell and Spatial
Structures, from Models to Realization, R.Motro, ed., pp.
6-7, full text in CD (26 pages), Montpellier, 2004)
demuestran la factibilidad de los métodos de inspección no
destructiva basados en medidas dinámicas.
Una primera aproximación al problema de la
detección de defectos en las estructuras, sencilla y de bajo coste,
es la realización de medidas de desplazamiento, velocidad o
aceleración en un punto de la estructura durante un cierto intervalo
de tiempo (existe para ello diferente instrumentación en el mercado
como acelerómetros, velocímetros láser, transductores inductivos,
etc.). La señal así adquirida permite obtener el espectro de
vibración, que contiene información integrada sobre los diferentes
modos de vibración y fuentes de excitación presentes. Puede
diseñarse la toma de datos bajo excitación controlada (tanto
impulsional como periódica), o incluso empleando como fuente de
energía las propias cargas que actúan sobre la estructura en su
operación habitual (por ejemplo, el tráfico en un puente). Aunque la
evolución histórica del espectro de vibración de la estructura
puede dar una primera idea sobre su integridad estructural, no es
una técnica lo suficientemente sensible como para detectar la
presencia (ni mucho menos la localización) de defectos incipientes
(grietas, corrosión, etc.). Además, si existen defectos importantes
de fabricación o montaje, su "firma" o efecto sobre el
espectro ya aparecerá desde la primera inspección, con lo que los
defectos pudieran pasar desapercibidos al no tener un espectro de
referencia (el de la misma estructura pero sin defectos) contra el
que efectuar una comparación.
Una segunda aproximación al problema consiste en
la medida, como en la solución anterior, del desplazamiento,
velocidad o aceleración pero realizada ahora simultáneamente en
varios puntos de la estructura. En este caso se obtiene información,
además de sobre la evolución temporal de los corrimientos, sobre su
distribución espacial, lo cual permite una sensibilidad mayor a los
defectos que las técnicas de punto y su mejor localización. Los
métodos de medida de desplazamientos (estáticos o dinámicos)
mediante transductores de contacto actualmente utilizados exigen la
instalación de anclajes o estructuras de referencia, lo cual es
costoso y poco operativo para estructuras poco accesibles o
grandes. Otros métodos de ensayo (sólo dinámicos) combinan la
salida de varios acelerómetros, permitiendo extraer información
modal además de información en los dominios temporal y espectral
del movimiento de cada uno de los puntos de la estructura en que se
haya instalado un acelerómetro. Sin embargo, no suministran
información sobre deformaciones estáticas o de frecuencia muy lenta
y exigen la fijación de una red de acelerómetros a la estructura. En
estas aplicaciones, además, el análisis modal adolece de la
precisión necesaria en el perfil de los modos para determinar la
existencia y localización de defectos incipientes.
Una tercera alternativa consiste en la medida de
las deformaciones inducidas en la estructura en un determinado
número de puntos de control. En los últimos años se han instalado
redes de sensores embebidos o fijados exteriormente a estructuras
tales como puentes, que permiten la medida en tiempo real de las
deformaciones en un gran número de puntos y el ulterior cálculo del
estado tensional y la detección de fallos y defectos en el
material. Sin embargo, este tipo de instalaciones no siempre puede
realizarse sobre estructuras ya construidas y, en cualquier caso,
supone un coste importante que solamente se justifica en
estructuras de cierta entidad y/o con un alto riesgo de aparición
de fallos.
En cualquiera de las tres metodologías
antedichas ha cobrado fuerza en las últimas décadas el empleo de
métodos ópticos automáticos para la realización de las medidas. A
continuación se ofrece una panorámica del estado del arte en este
campo, centrada en las técnicas de medición en varios puntos de la
estructura, por tratarse de técnicas con mucha mayor capacidad de
medida que las de un solo punto.
Actualmente existe una variedad de técnicas
ópticas para la medida de desplazamientos y deformaciones de
objetos (véase: Gary Cloud, "Optical Methods of Engineering
Analysis", Cambridge University Press, 1995; P. Cielo, "Optical
Techniques for Industrial Inspection", Academic Press, 1988).
Ateniéndonos al principio de medida empleado, podemos clasificarlas
como: técnicas moiré, técnicas interferométricas (principalmente,
basadas en velocímetros), técnicas basadas en el "speckle"
(principalmente, de fotografía de patrones de speckle y de
interferometria de patrones de speckle u holografía TV) y técnicas
geométricas (incluyendo telemetría por tiempo de vuelo).
Lógicamente, cada uno de los grupos de técnicas anteriores presenta
una serie de ventajas y limitaciones genéricas, que las hacen más
adecuadas a un espectro de aplicaciones dado. En el campo concreto
de la inspección y medida de desplazamientos y deformaciones de
estructuras, cabe reseñar los siguientes aspectos de interés para
cada uno de los antedichos grupos:
Las técnicas moiré (véase: O. Kafri, I. Glatt,
"The Physics of Moiré Metrology", John Wiley & Sons, 1990)
son técnicas de imagen que permiten el control simultáneo de la
zona de la estructura a inspeccionar contenida en el campo de visión
del instrumento de medida. Resultan especialmente adecuadas para
obtener campos bidimensionales de contornos (mapas topográficos),
de desplazamientos o de deformaciones, de objetos de tamaño desde
el rango de milímetros hasta de decenas de metros. Permiten una
gran densidad de muestreo y una sensibilidad media (entre 10^{-3}
y 10^{-4} del campo de visión para las técnicas más comunes) pero
a costa de una profundidad de campo reducida y la necesidad de
emplear equipamiento específico para la generación o proyección de
las redes y para el subsecuente procesamiento de imagen, lo cual
encarece sustancialmente los equipos. Recientemente se
desarrollaron, bajo la denominación de técnicas de luz
estructurada, variantes de estos métodos que emplean diferentes
morfologías de iluminación-detección.
Las técnicas interferométricas (véase: D.
Malacara, "Optical Shop Testing", John Wiley & Sons, 1992,
segunda edición) presentan, en general, una enorme capacidad
metrológica y una sensibilidad muy grande (relacionada con la
longitud de onda luminosa), lo cual las hace muy adecuadas para el
estudio de desplazamientos submicrométricos, tanto en puntos
discretos como en un campo completo de visión, pero precisamente su
elevada sensibilidad las hace muy susceptibles a diversas fuentes
de ruido ambiental (sísmico, acústico, gradientes térmicos, etc.) lo
cual repercute negativamente en su capacidad de operar en ambientes
no controlados tales como los que se encuentran en línea de
producción o en campo. Además, exigen una fuente de iluminación
coherente (habitualmente láseres) lo cual, para las técnicas de
imagen, supone un incremento sustancial del coste de la fuente de
luz a medida que se aumenta el área a inspeccionar simultáneamente
y las hace prácticamente inviables para la inspección de
estructuras en campo de un tamaño del orden de la decena de metros o
mayor. Existen, no obstante, sistemas de medida puntuales capaces
de monitorear secuencialmente, en un conjunto de puntos
preseleccionados, los desplazamientos dinámicos (vibraciones) de
estructuras grandes, pero son poco adecuados tanto para medidas
estáticas como para medidas en campo (ya sean estáticas o dinámicas)
porque su precisión se ve enormemente degradada por las variaciones
espacio-temporales del índice de refracción del
aire.
Las técnicas de fotografía de patrones de
speckle (véase: R. S. Sirohi, "Speckle Metrology", Marcel
Dekker, 1993) comparten un rango de sensibilidad y aplicaciones
similar al de las técnicas moiré, con la ventaja de que no es
necesario generar una red, ya que se emplea la propia
microtopografia superficial del objeto a inspeccionar para realizar
el seguimiento del campo de desplazamientos. Son, como las moiré,
fundamentalmente técnicas de campo de visión y exigen un registro y
procesamiento masivo de datos.
Por otra parte, las técnicas de interferometria
de patrones de speckle (véase: A.F. Doval, "A systematic approach
to TV holography", Measurement Science and Technology, 11, pp.
R1-R36, 2000) suponen una extensión de las técnicas
interferométricas a objetos de superficie ópticamente rugosa siendo,
por tanto, de naturaleza coherente por lo que presentan las mismas
limitaciones que las ya comentadas técnicas interferométricas.
De entre la variedad de técnicas geométricas
existentes (véase: D.C. Williams, "Optical Methods in Engineering
Metrology", Chapman & Hall, 1993; R.S. Sirohi, M.P.
Kothiyal, "Optical components, systems and measurement
techniques", Marcel Dekker, 1991), podemos señalar las
siguientes:
Técnicas geométricas de punto (control
secuencial en el tiempo de varios puntos de la estructura a medir
mediante barrido o "scanning" del punto de medida): sistemas
de detección de alineación por láser, sistemas por triangulación,
sistemas de telemetría por barrido de un haz láser y sistemas de
telemetría por tiempo de vuelo de un haz láser.
Técnicas geométricas de imagen (control
simultáneo de un conjunto de puntos de la estructura a medir):
telescopios de alineación, fotogrametría (tanto en soporte
fotográfico como electrónico mediante sensor de imagen), teodolitos
y estaciones totales de medida (eventualmente, dotados de
digitalización y procesamiento de imagen), y proyección de
sombras.
Es reseñable que las técnicas de imagen, aún
siendo las más poderosas en términos de cantidad de información
adquirida en paralelo, implican una adquisición y un ulterior
tratamiento masivo de datos que conllevan una ralentización
considerable de la tasa de muestreo en cada punto, perdiéndose
rapidez y precisión. Además, exigen una potencia de iluminación
proporcional al campo de visión. Por ello conviene el limitar el
número de puntos de medida a los estrictamente necesarios. En los
casos en que las variaciones del mensurando sean suficientemente
lentas, los métodos basados en el muestreo secuencial punto a punto
constituyen una alternativa muy interesante por su economía de
medios de iluminación y de adquisición.
Para medidas de estructuras de toda clase de
tamaños desde milímetros hasta cientos de metros, las técnicas
geométricas ofrecen prestaciones muy interesantes: haciendo uso de
láseres, fotodetectores y técnicas de adquisición y procesamiento
digital de las señales adquiridas, es factible el alcanzar
precisiones en medidas de punto y en condiciones favorables del
orden del microradián (\murad) para desplazamientos transversales
(lo que equivale a detectar un desplazamiento de 0,01 mm a una
distancia de 10 m) y del orden de 10^{-5} veces la distancia
entre el sensor y el punto de medida para desplazamientos
longitudinales. Dependiendo de la técnica concreta, pueden
proporcionar una profundidad de campo muy grande y permitir una gran
flexibilidad para conjugar los requerimientos de sensibilidad,
precisión, resolución espacial, número de puntos de medida y ancho
de banda temporal. Sus principios de medida están basados,
fundamentalmente, en las características direccionales de
propagación de la radiación luminosa a través del medio entre la
fuente de luz y el sistema de detección (en el caso de la
telemetría por tiempo de vuelo, también en la velocidad de
propagación). Aunque en condiciones ambientales muy controladas
puede llegar a alcanzarse una precisión limitada por fenómenos de
naturaleza fundamental (límite de difracción, ruido en la detección,
etc.), en el caso de medidas en campo o en ambientes no controlados
suele suceder que las variaciones espaciales y temporales del índice
de refracción a lo largo del camino óptico constituyen la magnitud
de influencia que limita en último término la precisión alcanzable.
Estos efectos crecen típicamente con el cuadrado de la distancia y
se estima que, en una distancia de 100 m, un gradiente térmico
vertical de 0,2ºC/m provoca un desplazamiento del haz
luminoso
de 1 mm.
de 1 mm.
La presente invención consiste en un
procedimiento y aparato de medida remota de desplazamientos
dinámicos de estructuras. Su principio de medida combina una
iluminación por barrido de un haz láser emitido por un
emisor-receptor, en un rango de direcciones de
iluminación cercanas a la de incidencia rasante sobre la superficie
de la estructura a inspeccionar, con una geometría de observación
próxima a la dirección de retrorreflexión. La finalidad de la
invención es obtener, en un conjunto de puntos de control de la
estructura aproximadamente alineados entre sí y aproximadamente
equiespaciados, una componente del desplazamiento de dichos puntos.
Para ello se fija en cada uno de los puntos de control un elemento
retrorreflector aproximadamente perpendicular a la dirección de
iluminación. Cada vez que la luz láser emitida alcanza uno de los
retrorreflectores, parte de la luz reflejada es detectada por el
emisor-receptor. Utilizando la detección en el
dominio temporal de los pulsos de luz reflejada por los
retrorreflectores, el instrumento permite determinar con precisión,
en cada barrido del láser de iluminación, tanto la posición angular
absoluta de cada retrorreflector en el plano de barridi, vista
desde el emisor-receptor, como la variación de dicha
posición angular en los sucesivos barridos del láser de iluminación.
Conocida la distancia de cada uno de los retrorreflectores al
emisor-receptor y utilizando retrorreflectores de
área rectangular con dos lados perpendiculares al plano de barrido,
se puede entonces determinar la componente del desplazamiento de
cada retrorreflector según una dirección perpendicular a la
dirección de iluminación y contenida en el plano de1iarrido del
láser.
En muchas aplicaciones de estructuras con
morfología de viga o placa, los desplazamientos tienen lugar
predominantemente según una cierta dirección definida por un vector
unitario a_{z} perpendicular al eje de la viga o, en el
caso de la placa, perpendicular al plano de la placa. Entonces es
conveniente disponer los retrorreflectores aproximadamente
alineados según una línea recta, que denominaremos recta base, de
dirección a_{x} perpendicular a la dirección a_{z}
de los desplazamientos predominantes. El plano de barrido debe
orientarse de modo que contenga a las direcciones a_{x} y
a_{z}. En esta configuración y para estos tipos de
estructuras, la presente invención permite estimar la componente
u_{z} del desplazamiento de cada retrorreflector según la
dirección a_{z} perpendicular a la recta base y contenida
en el plano de barrido del láser.
El instrumento propuesto proporciona, por tanto,
un muestreo de la deformada de la estructura con una cierta
densidad espacial, que es el número de puntos de control o
retrorreflectores por unidad de longitud, y una densidad temporal,
que es el número de barridos por unidad de tiempo.
El instrumento propuesto proporciona una
densidad de muestreo temporal optimizada y una precisión máxima en
la medida de una sola de las componentes del desplazamiento de los
puntos de control, a costa de minimizar el número de componentes
medidas y de reducir el rango de barrido a aproximadamente 20º. La
precisión alcanzable por el sistema es del orden de \pm0,1 mm en
el desplazamiento normal de cada punto de control, con un rango de
medida de unos \pm15 mm para cada punto, sobre distancias 30 m a
50 m o incluso superiores si las condiciones ambientales son
favorables. La densidad espacial de puntos de control será del orden
de un punto por metro. Cada barrido se lleva a cabo en un tiempo
mucho menor que el periodo de los modos de vibración de interés. Se
alcanza una tasa temporal del orden de 100 barridos por segundo,
con un tiempo total de adquisición continua del orden de 10 s, en
el que se pueden adquirir secuencias de unas 1000 deformadas,
cubriendo la zona del espectro de frecuencias de oscilación de la
estructura comprendida entre 0,1 Hz y varias decenas de Hz. A
partir de las deformadas instantáneas se extrae información para
realizar un ulterior análisis modal de la estructura que permite la
localización de fallos de forma más sensible que los métodos
basados exclusivamente en la captación puntual del espectro
vibracional o los métodos de análisis modal mediante
acelerómetros.
La presente invención permite realizar medidas
sin contacto y sin necesidad de acercamiento a la zona a
inspeccionar. El emisor-receptor se sitúa
habitualmente a una distancia del punto de control más próximo de
entre 2 y 10 metros y alineado con la recta base. El rango de
longitudes de la zona controlada de la estructura es amplio,
pudiendo alcanzarse longitudes de hasta 50 m y, en condiciones
ambientales favorables, longitudes superiores aunque con un valor
inferior de precisión. El transporte del equipo es simple y su
fácil instalación a pie de la estructura a medir permite una
preparación y ejecución de las mediciones en tiempos cortos.
La Figura 1 representa el principio de medida y
la instalación del aparato en la estructura donde se llevará a cabo
la inspección.
La Figura 2 presenta el modelo geométrico,
incluyendo los puntos, líneas, distancias y ángulos relevantes.
La Figura 3 muestra el desplazamiento normal
u_{zi} del retrorreflector i-ésimo y su estimación
v_{zi} dada por el instrumento.
La Figura 4 muestra un modo de realización
preferente del aparato objeto de invención.
La Figura 5 muestra un modo de realización
preferente del aparato objeto de la invención en el que los medios
de generación de luz son exteriores.
En la Figura 1 se muestra el
emisor-receptor (1) situado sobre la estructura
sometida a ensayo (2). Supondremos que la zona a inspeccionar de la
estructura tiene una geometría aproximadamente rectilínea según una
cierta dirección definida por un vector unitario a_{x}, y
que sus desplazamientos en dicha zona tienen lugar
predominantemente según una cierta dirección definida por un vector
unitario a_{z}, perpendicular a a_{x}; en las
Figuras 2 y 3 se muestran los ejes de referencia eje x y eje
z. El emisor-receptor (1) es emplazado en un
punto cercano a la zona a inspeccionar, punto cuyos desplazamientos
dinámicos lineales y angulares son presumiblemente despreciables,
como podría ser en algunos casos un punto situado encima de un
pilar. Durante la operación, el emisor-receptor (1)
se mantiene en una posición fija mediante un sistema de fijación a
la estructura como puede ser un trípode robusto.
El emisor-receptor (1) emite un
haz láser (3). El eje de dicho haz láser oscila en un plano,
denominado plano de barrido, con una amplitud angular
\alpha_{a} alrededor de una posición angular central, que
denominaremos eje de barrido. El
emisor-receptor. (1) se orienta de modo que el
plano de barrido contiene a las direcciones a_{x} y
a_{z} y las direcciones de iluminación son cercanas a la
dirección a_{x}, formando con ésta un ángulo que
típicamente es menor de 20º. Denominaremos línea de control
(4) a la descrita por el eje del haz láser emitido (3) sobre la
zona a inspeccionar de la estructura.
A lo largo de la línea de control (4) se sitúa
un cierto número N de retrorreflectores, con N
comprendido entre 10 y 50, de los cuales se representan tres (5.1),
(5.i), (5.N). Utilizaremos la notación (5.i),
donde i puede tomar cualquier valor entero entre 1 y
N, para referirnos de forma genérica a uno de los
retrorreflectores. Como la línea de control no será en general
recta debido a una posible curvatura o a irregularidades de la
superficie de la estructura sobre la que se fijan los
retrorreflectores (véase la Figura 2), se define, a efectos de
referencia, una recta base (6) paralela a la dirección
a_{x} y ubicada de modo que aproximadamente intercepte a
los retrorreflectores. Asimismo se define desplazamiento
normal de un punto de la línea de control como la componente
u_{z} del desplazamiento de dicho punto según la dirección
a_{z} perpendicular a la recta base (6) y contenida en el
plano de barrido. El desplazamiento normal del retrorreflector
(5.i) se denotará por u_{zi} (véase la Figura 3). La
presente invención permite medir directamente el desplazamiento
angular, \alpha_{i}^{j+1} - \alpha_{i}^{j} en el plano
de barrido del retrorreflector (5.i) entre dos barridos
consecutivos, que denotamos por los índices j+1 y j.
Partiendo de ese desplazamiento angular y conocida la geometría del
barrido del haz láser y la distancia del retrorreflector
(5.i) al emisor-receptor (1), se calcula el
desplazamiento normal estimado v_{zi}, que es una
aproximación del desplazamiento normal u_{zi} tanto mejor
cuanto más próxima a la dirección a_{z} sea la dirección
del desplazamiento u_{i} del retrorreflector (5.i).
Utilizando retrorreflectores de área rectangular con dos de sus
lados perpendiculares en todo momento al plano de barrido, el
instrumento es insensible a desplazamientos de los retrorreflectores
en la dirección a_{y} perpendicular al plano de
barrido.
Una línea (8), representada en la Figura 1,
muestra la dirección a_{z} del desplazamiento normal cuyo
valor se pretende medir. La longitud de la línea de control (4),
definida por la posición de los retrorreflectores extremos (5.1) y
(5.N), es variable entre 5 y 50 m y determina la longitud
monitorizada de la estructura (2). Se define el vértice de
barrido (7) como la posición aparente, vista desde el exterior
del emisor- receptor, del punto del eje de barrido en que convergen
los ejes de los haces emitidos en las restantes posiciones del
barrido. Se representa dicho vértice de barrido en la Figura 2.
Dependiendo de las características del dispositivo deflector del haz
utilizado, es posible que los antedichos haces no converjan a un
punto sino que sus puntos de intersección con el eje de barrido
estén distribuidos sobre un segmento. En ese caso se tomará como
vértice de barrido un punto representativo de dicho segmento, por
ejemplo su centro. Se define la altura del
emisor-receptor, h, como la distancia del
vértice de barrido a la recta base. En la mayoría de las
aplicaciones, h toma valores entre 0,2 y 2 m sobre la
superficie de la estructura (2). Se define distancia base,
x, de un punto dado de la línea de control como la distancia
entre las proyecciones normales sobre la recta base de dicho punto
y del vértice de barrido. La distancia base del retrorreflector
(5.i) se denotará por x_{i}.
Según la representación mostrada en la Figura 1,
durante el barrido efectuado por el haz láser emitido (3) sobre la
línea de control (4), los retrorreflectores (5.i) reflejan
dicho haz láser emitido (3) y la luz reflejada (9) es detectada en
el dominio temporal por medios internos al
emisor-receptor (1). Unos medios de tratamiento y
análisis de señal (10) reciben los datos de la medición
proporcionados por el emisor-receptor (1) para su
posterior análisis.
La separación entre retrorreflectores
consecutivos será en lo posible uniforme con objeto de obtener una
densidad espacial de muestreo constante. Los retrorreflectores
tienen forma rectangular, la dimensión normal al plano de barrido es
de, al menos, dos veces el diámetro del haz láser emitido (3). La
dimensión de los retrorreflectores en la dirección a_{z}
del desplazamiento normal que se pretende medir, dirección de la
línea (8), es aproximadamente igual al diámetro en la cintura del
haz láser emitido (3); se define el diámetro del haz láser como el
diámetro en los puntos del frente de onda cuya intensidad es
1/e^{2} veces la intensidad máxima del haz láser emitido (3),
siendo "e" la base de los logaritmos neperianos. Las
dimensiones mencionadas de los retrorreflectores repercuten en que
la señal fotoeléctrica producida por la luz reflejada (9) en el
emisor-receptor (1) presente un perfil optimizado en
cuanto a la determinación de los instantes en que el haz láser
emitido (3) se encuentra o bien centrado en la superficie del
retrorreflector, o bien en uno de los extremos de la superficie del
retrorreflector. El haz láser emitido (3) emerge del
emisor-receptor (1) focalizado por medios internos,
de forma que la cintura de dicho haz láser está ubicada a una
distancia base igual al valor medio de las distancias base del
retrorreflector (5.1) más cercano y del retrorreflector
(5.N) más alejado de dicho emisor-receptor
(1). El sistema óptico del emisor-receptor (1) está
diseñado de forma que dicha distancia es aproximadamente igual a la
distancia de Rayleigh del haz láser emitido (3). Por lo tanto, el
diámetro del haz láser y su focalización son tales que, manteniendo
un diámetro en la cintura adecuado a la aplicación, la variación
del diámetro del haz es inferior al 40% a lo largo de la línea de
control (4). Para una distancia base de 50 m, el haz láser emitido
(3) tiene un diámetro en la cintura de unos 5 mm y se utilizan
retrorreflectores de área rectangular de dimensiones 5 mm x 20 mm
orientados con sus lados largos perpendiculares al plano de
barrido.
El rango de medida varía a lo largo de la línea
de control (4), disminuyendo hacia las distancias base crecientes a
causa del solapamiento entre las señales producidas por la luz
reflejada (9) por dos retrorreflectores consecutivos. El rango de
medida mínimo depende de la longitud y forma de la línea de control
(4), del diámetro del haz láser emitido (3), del tamaño de los
retrorreflectores, de la altura h del
emisor-receptor (1) y de la distancia entre
retrorreflectores consecutivos. Se puede aumentar el rango de
medida bien aumentando la altura del emisor-receptor
(1), o bien aumentando la distancia entre retrorreflectores
consecutivos. Para una línea de control (4) recta y de longitud 50
m, un diámetro de la cintura del haz láser emitido (3) de 5 mm,
retrorreflectores de dimensiones 5 mm x 20 mm orientados con sus
lados largos perpendiculares al plano de barrido, una altura
h de 1,5 m y un espaciamiento entre retrorreflectores
consecutivos de 1,5 m, se alcanza un rango de medida mínimo de
\pm15 mm.
Los elementos que constituyen el
emisor-receptor se muestran en la Figura 4. Una
fuente de haz láser (11) es alimentada por una fuente de
alimentación (35), dicha fuente de haz láser genera el haz láser
emitido (3). La fuente de haz láser (11) puede ser de muy diversos
tipos y longitudes de onda en el rango visible o infrarrojo como,
por ejemplo, un láser de Nd:YAG, de Nd:YVO_{4}, de
He-Ne, de HeCd, de Ar^{+}, de diodo o de fibra
óptica. La interrupción del haz láser emitido (3) como medida de
seguridad cuando el sistema no está en operación es garantizada por
medio de un obturador (37) cuyo sistema de actuación es controlado
por una fuente de alimentación (39). Un expansor de haz (12) adecua
el tamaño del haz láser emitido (3) y permite focalizar o colimar
dicho haz láser emitido en función de la longitud de la línea de
control (4) y de la distancia base del retrorreflector (5.1) más
cercano al emisor-receptor (1), mostrados en la
Figura 1. El expansor de haz (12) es, por lo tanto, de factor de
expansión variable, de forma que se pueden obtener diferentes
diámetros del haz láser emitido (3) a la salida del
emisor-receptor (1) y diferentes posiciones de su
cintura. En este modo de realización preferente se utiliza una
fuente láser (11) de He-Ne de 5 mW con
haz linealmente polarizado, en conjunto con un expansor de haz (12) de factor de expansión variable entre 2,5 y 10.
haz linealmente polarizado, en conjunto con un expansor de haz (12) de factor de expansión variable entre 2,5 y 10.
Otro modo de realización en el que la fuente
láser es exterior se muestra en la Figura 5. Una fuente de
alimentación (43) controla una fuente láser (42) que genera el haz
láser. La fuente láser (42) mencionada puede ser un láser de
cualquiera de los tipo. citados para la fuente láser (11) del modo
de realización representado en la Figura 4, un ejemplo de
utilización seria un láser Nd:YAG de 1 W. El haz láser que proviene
de la fuente láser (42) se acopla a una fibra óptica (40) monomodo
mantenedora de la polarización mediante un acoplador de fibra
óptica (41). El emisor-receptor (1) dispone de un
conector de fibra óptica (19), el haz láser que proviene de la fibra
óptica (40) ya dentro del emisor-receptor (1) forma
el haz láser emitido (3), es desviado por un espejo (20) y colimado
por una lente (21). Para poder obtener diferentes diámetros del haz
láser emitido (3) a la salida del emisor-receptor
(1) y diferentes posiciones de su cintura, la lente de colimación
(21) puede ser de distancia focal variable entre 15 mm y 50 mm.
Típicamente, para una longitud de la línea de control de 50 m y una
longitud de onda de 532 nm, la lente de colimación deberá tener una
distancia focal de 35 mm y un diámetro de 30 mm.
El plano de polarización del haz láser emitido
(3) se controla mediante un rotador de polarización (38) motorizado
cuyo ángulo de rotación está controlado por una fuente de
alimentación (34), estos elementos se muestran en la Figura 4 y la
Figura 5. En ambos modos de realización preferente representados en
la Figura 4 y la Figura 5 se utiliza una placa retardadora de media
onda como elemento rotador de polarización (38). A continuación se
indican los restantes elementos que se incluyen tanto en el modo de
realización preferente mostrado en la Figura 4, como el modo de
realización preferente mostrado en la Figura 5.
Un espejo (13) refleja el haz láser emitido (3)
de manera que se hace incidir dicho haz láser emitido sobre un
sistema deflector (14) como, por ejemplo, un espejo oscilante, el
cual está formado por un sistema resonante que gira de forma
alternativa respecto a un eje normal al plano que contiene al
dibujo. La excitación del espejo oscilante es controlada por una
fuente de alimentación (36) que permite regular la amplitud angular
de las oscilaciones mecánicas del espejo, de esta forma la amplitud
angular de oscilación, \alpha_{a}, del haz láser emitido (3)
después de la reflexión producida en el espejo oscilante (14) es el
doble de la amplitud angular de las oscilaciones mecánicas. La cara
reflectante de los espejos (13) y (14) es circular de diámetro 30 mm
y tiene un recubrimiento altamente uniforme y reflectante como, por
ejemplo, un recubrimiento dieléctrico multicapa. Otras alternativas
para construir el sistema deflector (14) pueden ser un espejo
rotatorio, bien de una cara o bien poligonal, o un escáner
holográfico. Independientemente del sistema deflector (14) que se
utilice, el barrido del haz láser emitido (3) debe tener una
excursión angular óptica pico a pico, o ángulo total de barrido,
menor o igual a 20º y una frecuencia comprendida entre 50 Hz y 500
Hz. En el caso particular de que se emplee un espejo oscilante, su
amplitud angular mecánica será menor o igual a 5º.
Un divisor de haz (15) del tipo
plano-paralelo se sitúa de tal modo que la normal a
la superficie de incidencia de dicho divisor de haz forma un ángulo
de unos 35º con el eje de barrido. Mediante reflexión en el divisor
de haz se obtiene un haz láser de referencia (22) que proporciona
información sobre la dirección del haz láser emitido (3). La mayor
parte de la potencia del haz láser emitido (3) se transmite a través
del divisor de haz (15) y abandona el
emisor-receptor (1) a través de una ventana (16)
plano-paralela. Dicha ventana de salida tiene el
mismo espesor e índice de refracción que el divisor de haz (15) y
forma un ángulo con el eje de barrido opuesto al que forma el
divisor de haz (15), con el fin de compensar la desviación lateral
que experimenta el haz (3) al atravesar el divisor de haz (15). La
relación entre la potencia del haz láser de referencia (22) y la
potencia del haz láser emitido (3) al emerger del
emisor-receptor (1) depende fundamentalmente de:
los recubrimientos del divisor de haz (15) y de la ventana de salida
(16), la dirección del haz láser emitido (3) después de la reflexión
en el sistema deflector (14) y el estado de polarización de dicho
haz láser emitido (3). Mediante la modificación del estado de
polarización del haz láser emitido (3) se obtienen diferentes
relaciones entre potencia del haz láser de referencia (22) y la
potencia del haz láser emitido (3) al emerger del
emisor-receptor (1). Los dos modos de realización
preferente de la invención incorporan un divisor de haz (15) de
sílice de cara rectangular de dimensiones mínimas 30 mm x 75 mm, en
dirección normal y paralela al plano de la Figura 2,
respectivamente, y de grosor 15 mm, con únicamente un recubrimiento
antirreflectante en la cara de salida del haz láser emitido. La
ventana de salida (16) presenta las mismas dimensiones que el
divisor de haz (15), con recubrimiento antirreflectante en ambas
caras.
Los pulsos de luz producidos por las reflexiones
del haz láser emitido (3) en los retrorreflectores (5.i)
mostrados en la Figura 1 son focalizados por la lente colectora
(18) sobre un fotodetector principal (17). Este fotodetector
principal (17) genera una señal principal (30) en el tiempo
constituida por una secuencia de pulsos, en la que la posición
temporal del centro (o del extremo) de cada pulso corresponde a la
dirección del haz láser emitido (3) que intercepta el centro (o el
extremo) del retrorreflector que ha originado dicho pulso. Para
llevar al límite la precisión del instrumento, conviene considerar
el retardo o tiempo necesario para la propagación del haz láser
desde el divisor de haz (15) hasta el fotodetector principal (17)
pasando por cada retrorreflector (5.i), retardo que se puede
estimar a partir de la distancia base de dicho retrorreflector.
Dicha señal principal (30) es amplificada por un amplificador (31).
El fotodetector principal (17) se sitúa en el punto focal de la
lente colectora (18) y debe ser de alta velocidad de respuesta y
alta sensibilidad; por ejemplo, puede ser un fotodiodo de
avalancha, un tubo fotomultiplicador o un fotodiodo PIN. Con el fin
de rechazar la luz ambiente que pudiera alcanzar al fotodetector
principal (17), es conveniente dotarlo en su apertura de entrada de
un filtro de banda estrecha, típicamente un filtro
interferométrico, centrado en la longitud de onda del láser emitido
(3). Opcionalmente puede interponerse delante del fotodetector un
elemento concentrador (44) que concentra todavía más la luz sobre
el fotodetector principal (17).
El haz láser de referencia (22) permite conocer
en cada instante la posición angular del haz láser emitido (3) a la
salida del emisor-receptor (1). La oscilación del
haz láser de referencia (22) es la imagen especular de la oscilación
del haz láser principal (3) por lo que la posición angular
instantánea de ambos haces respecto a sus respectivos ejes de
barrido es idéntica. El haz láser de referencia (22) se transmite a
través de una lente de focalización (23), la cual focaliza el haz
láser de referencia (22) sobre una regla patrón (24). El haz láser
de referencia (22) focalizado incide sobre una cara plana de la
regla patrón (24) que ha sido recubierta con una capa reflectante,
en la que se ha practicado un rayado en forma de líneas o rayas
normales al plano de barrido del haz láser de referencia (22) que
permiten la transmisión de la luz. Cada raya tiene asociado un
pequeño intervalo de ángulos de oscilación del haz láser de
referencia (22) y, por lo tanto, de haz láser emitido (3), dentro
del cual se transmite luz por dicha raya y dicho intervalo de
ángulos puede ser conocido a través de la calibración del
instrumento. Para obtener la máxima precisión y estabilidad en las
medidas realizadas por el instrumento, el material sustrato de la
regla patrón (24) debe tener una alta estabilidad mecánica y
térmica. Además, para conseguir un efecto de homogeneización de la
luz transmitida por las rayas, dicho material sustrato de la regla
patrón (24) es parcialmente difusor de modo que produce el
esparcimiento del haz láser de referencia (22). Por tanto, la luz
que se transmite primero a través de cada raya practicada en el
recubrimiento y después a través del material del sustrato de la
regla patrón (24) emerge difusa, habiendo perdido en gran medida el
carácter altamente direccional que presentaba el haz incidente
sobre la regla patrón (24). Esta luz que emerge de la cara de
salida de la regla patrón (24) es focalizada por una lente colectora
(25) sobre un fotodetector de referencia (28), previa reflexión en
un espejo (26) rectangular. Este fotodetector de referencia (28)
genera una señal de referencia (29) en el tiempo constituida por
una secuencia de pulsos, en la que la posición temporal del centro
(o del extremo) de cada pulso corresponde a una dirección
determinada del haz láser emitido (3), conocida con precisión
mediante la calibración del instrumento. Dicha señal de referencia
(29) es amplificada por un amplificador (32). El carácter difuso de
la radiación óptica que emerge de la cara de salida de la regla
patrón (24) facilita la obtención de una respuesta similar para
todos los pulsos en la señal de referencia (29). El fotodetector de
referencia (28) se sitúa en el punto focal de la lente colectora
(25) y debe ser de alta velocidad de respuesta y alta sensibilidad;
por ejemplo, puede ser un fotodiodo de avalancha, un tubo
fotomultiplicador o un fotodiodo PIN. Con el fin de rechazar la luz
ambiente que pudiera alcanzar al fotodetector de referencia (28), es
conveniente dotarlo en su apertura de entrada de un filtro de banda
estrecha, típicamente un filtro interferométrico, centrado en la
longitud de onda del láser emitido (3). Opcionalmente puede
interponerse delante del fotodetector de referencia (28) un elemento
concentrador (27) que concentra todavía más la luz sobre el
fotodetector (28). En los modos de realización preferente mostrados
por las Figuras 4 y 5, la lente colectora (18) tiene una distancia
focal comprendida entre 200 mm y 500 mm y un diámetro comprendido
entre 75 mm y 160 mm. La lente de focalización (23) es un doblete
acromático de distancia focal 400 mm; la regla patrón (24) es una
barra rectangular de sección 20 mm x 20 mm y longitud 120 mm, cuya
cara de incidencia del haz de referencia (22), de tamaño 120 mm x
20 mm, presenta un recubrimiento de aluminio rayado. Las rayas, de
longitud 5 mm, siguen la dirección normal al plano de barrido del
haz láser de referencia (22) y se distribuyen a intervalos de 2 mm
en la dirección del barrido sobre la regla patrón (24), con un
grosor del orden de 50 \mum. La lente colectora (25) tiene una
distancia focal comprendida entre 250 mm y 500 mm y un diámetro
comprendido entre 100 mm y 160 mm. El espejo (26) es plano, de cara
rectangular de dimensiones mínimas 150 mm x 30 mm. Los
fotodetectores (17) y (28) son idénticos, del tipo de fotodiodo de
avalancha y con un tiempo de subida del orden de 10 ns. Los dos
elementos concentradores (27 y 44) se construyen de plástico
moldeado o de vidrio pulido.
La señal principal (30) y la señal de referencia
(29) son muestreadas a una tasa muy superior a la frecuencia de
barrido, típicamente de decenas de millones de muestras por
segundo, por un conversor analógico-digital (33)
dotado eventualmente de una memoria para el almacenamiento de los
datos digitalizados y, a continuación, se envían éstos a unos
medios de tratamiento y análisis de señal (10), que puede ser un
computador. En ese caso, el control de las fuentes de alimentación
(35), (36) y (39) puede ser efectuado por el mismo computador
(10).
El computador tiene la función de analizar los
datos digitalizados provenientes de las dos señales temporales, la
señal principal (30) y la señal de referencia (29) para, mediante
su comparación sobre la misma base de tiempos y teniendo en cuenta
que es conocida la posición angular del haz láser emitido (3)
correspondiente a cada uno de los pulsos de la señal de referencia
(29), obtener la posición angular del haz láser emitido (3)
correspondiente a cada uno de los pulsos de la señal principal (30),
lo cual a su vez permite calcular el desplazamiento normal estimado
de los puntos de control donde se han situado los retrorreflectores
(5.i) mostrados en la Figura 1. Repitiendo esta operación en
cada uno de los sucesivos barridos, se obtiene información de la
deformada de la línea de control a lo largo del tiempo, lo cual
permite analizar el comportamiento dinámico de la estructura bajo
inspección.
Claims (8)
1. Un procedimiento de inspección no destructiva
para la medida de desplazamientos normales dinámicos de
estructuras, con la finalidad añadida de determinar la existencia y
localización de defectos que pudieran afectar a la integridad de
dichas estructuras, caracterizado por las siguientes
etapas:
ubicación de un emisor-receptor
(1) alineado con una línea de control (4) situada sobre la
superficie de la estructura (2) cuyos desplazamientos normales se
pretende medir;
ubicación de un conjunto de N
retrorreflectores (5.i) sobre una línea de control (4)
situada sobre la superficie de la estructura (2) cuyos
desplazamientos normales se pretende medir, con espaciamiento
aproximadamente uniforme y de tal forma que sus superficies
reflectoras sean aproximadamente perpendiculares a la dirección de
iluminación;
emisión de un haz láser (3) oscilante de modo
que su eje se mantenga en un plano de barrido, siendo la dirección
del eje del haz láser conocida en cada instante, dicha emisión
producida por el emisor-receptor (1) describiendo un
rango de direcciones próximas a la de incidencia rasante sobre la
superficie de la estructura (2) a inspeccionar y con el plano de
barrido conteniendo la dirección de los desplazamientos normales de
la estructura, de tal forma que el haz láser (3) incide
ordenadamente en los retrorreflectores y se refleja;
detección en el dominio temporal de los pulsos
de la luz reflejada (9) por los retrorreflectores en direcciones
cercanas a las direcciones de retrorreflexión, dicha detección
llevada a cabo por el emisor-receptor (1);
transmisión de la señal con información del
desplazamiento dinámico de la línea de control desde el
emisor-receptor (1) a unos medios de tratamiento y
análisis de señal (10).
2. Un procedimiento de acuerdo con la
reivindicación 1, en el cual el ángulo total de barrido del haz
láser emitido (3) es menor o igual a 20º.
3. Un procedimiento de acuerdo con las
reivindicaciones anteriores, en el cual los retrorreflectores
utilizados presentan una superficie de reflexión rectangular,
orientada con dos de sus lados perpendiculares al plano de barrido y
de dimensiones entre 3 mm y 10 mm en la dirección del
desplazamiento normal a medir y entre 10 mm y 100 mm en la
dirección perpendicular al plano de barrido, su espaciamiento tiene
un valor entre 0,2 m y 5 m, el número de retrorreflectores
utilizado está comprendido entre 10 y 50, la longitud de la línea
de control (4) está comprendida entre 5 m y 50 m y el
emisor-receptor (1) se sitúa a una altura entre 0,2
m y 2 m sobre la superficie de la estructura a inspeccionar
(2).
4. Un procedimiento de acuerdo con las
reivindicaciones anteriores, en el cual el barrido del haz láser
(3) se efectúa a una frecuencia entre 50 Hz y 500 Hz.
5. Un aparato para la inspección no destructiva
de estructuras que opera según el procedimiento de la
reivindicación 1, comprendiendo los siguientes elementos:
un obturador (37) que permite el bloqueo y
desbloqueo de un haz láser (3);
un rotador de polarización (38) que permite
variar el plano de polarización de un haz láser (3) polarizado
linealmente;
un sistema deflector (14) que produce la
oscilación del haz láser emitido (3) con una amplitud angular de
unos 10º (lo que equivale a un ángulo total de barrido de unos 20º)
y una frecuencia del orden de 100 Hz; sin que suponga una
restricción, puede utilizarse, por ejemplo, un espejo oscilante que
oscila angularmente según una sinusoide con una amplitud angular
mecánica de 5º;
un espejo (13) situado después del rotador de
polarización que refleja el haz láser (3) para hacerlo incidir
sobre el sistema deflector;
un divisor de haz (15)
plano-paralelo situado después del sistema deflector
(14) que permite crear un haz láser de referencia (22) de potencia
dependiente del estado de polarización incidente y que contiene
información de la dirección del haz láser que se transmite (3);
una ventana de salida (16)
plano-paralela situada después del divisor de haz, a
través de la cual se transmite el haz láser (3) hacia el
exterior;
una lente de focalización (23) situada después
del divisor de haz en el camino del haz láser de referencia (22)
para focalizar dicho haz de referencia;
una regla patrón (24) cuya superficie de
incidencia presenta un recubrimiento reflectante rayado de manera
que por cada raya sólo se transmite el haz láser de referencia
dentro de un pequeño intervalo de direcciones, y cuyo sustrato es de
un material parcialmente difusor que produce un esparcimiento del
haz láser de referencia generando una pérdida del carácter
direccional en la luz que emerge de la regla patrón (24);
una lente colectora (25) para recoger la luz
difusa que proviene de la regla patrón y focalizarla;
un fotodetector (28) que capta la luz que
proviene de la regla patrón y genera una señal de referencia (29)
con información de la posición angular del haz láser que emite el
emisor-receptor (1) a través de la ventana de salida
(16);
un elemento concentrador (27) opcional, formado
por un elemento de plástico o vidrio en forma de cono y antepuesto
al fotodetector (28) para concentrar todavía más la luz sobre dicho
fotodetector;
un espejo (26) situado después de la lente
colectora (25) que refleja la luz hacia el fotodetector (28);
una lente (18) para recoger y focalizar parte de
la luz reflejada por los retrorreflectores (9);
un fotodetector (17) situado en el plano focal
de la lente (18) para detectar la luz reflejada por los
retrorreflectores (9) recogida por dicha lente y generar una señal
principal (30) con información de la posición de los
retrorreflectores.
un elemento concentrador (44) opcional, formado
por un elemento de plástico o vidrio en forma de cono y antepuesto
al fotodetector (17) para concentrar todavía más la luz sobre dicho
fotodetector;
6. Un aparato según la reivindicación 5, en el
cual la señal de referencia (29) es amplificada por un amplificador
(32), la señal principal (30) es amplificada por otro amplificador
(31) y las señales de ambos amplificadores (31 y 32), digitalizadas
mediante un conversor analógico-digital (33), son
enviadas a unos medios de tratamiento y análisis de señal (10).
7. Un aparato según las reivindicaciones 5 y 6,
en el cual los medios de generación de luz láser son interiores,
por lo que se incluyen los siguientes elementos: una fuente de luz
láser (11) para la generación de un haz láser (3) polarizado
linealmente;
un expansor de haz (12) de relación de expansión
variable para aumentar el tamaño del haz láser (3) y focalizar o
colimar dicho haz láser en función de la longitud y distancia al
emisor-receptor de la línea de control (4).
8. Un aparato según las reivindicaciones 5 y 6,
en el cual los medios de generación de luz láser son exteriores,
por lo que se incluyen los siguientes elementos:
un conector de fibra óptica (19) destinado a
conectar la fibra óptica a través de la cual se guía la luz láser
al interior del aparato;
una lente de colimación (21) destinada a colimar
el haz láser que emerge del extremo de fibra óptica conectada al
conector de fibra óptica (19);
un espejo (20) para reflejar el haz láser que
emerge del extremo de fibra óptica conectada al conector de fibra
óptica (19) y dirigirlo hacia la lente de colimación (21).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
ES200501702A ES2293786B2 (es) | 2005-07-12 | 2005-07-12 | Escaner de deformadas dinamicas. |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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ES200501702A ES2293786B2 (es) | 2005-07-12 | 2005-07-12 | Escaner de deformadas dinamicas. |
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Publication Number | Publication Date |
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ES2293786A1 true ES2293786A1 (es) | 2008-03-16 |
ES2293786B2 ES2293786B2 (es) | 2008-11-16 |
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ID=39166484
Family Applications (1)
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ES200501702A Active ES2293786B2 (es) | 2005-07-12 | 2005-07-12 | Escaner de deformadas dinamicas. |
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Country | Link |
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ES (1) | ES2293786B2 (es) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20210310793A1 (en) * | 2018-07-19 | 2021-10-07 | Universidad Ces. | Device for measuring morphological length, based on angular laser technique (alt), and associated method |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US4107522A (en) * | 1975-11-11 | 1978-08-15 | Erwin Sick Gesellschaft Mit Beschrankter Haftung Optik-Elektronik | Rotary beam light curtain |
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-
2005
- 2005-07-12 ES ES200501702A patent/ES2293786B2/es active Active
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Publication number | Publication date |
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ES2293786B2 (es) | 2008-11-16 |
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