ES2275457T3 - Protector de microchips de neumaticos. - Google Patents
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Abstract
Un protector de microchips de neumáticos (25, 30, 50, 70, 90) para proteger un microchip de neumático (18, 19) durante un procedimiento NDT de alta tensión, comprendiendo el microchip de neumático (18, 19): una estructura configurada para ajustarse sobre el microchip de neumático; definiendo la estructura una cubeta que tiene una pared; y estando dicha pared fabricada parcialmente con un material dieléctrico.
Description
Protector de microchips de neumáticos.
Esta invención se refiere normalmente a
pantallas protectoras en materia electrónica y, más especialmente,
a una pantalla protectora que se usa para proteger un dispositivo de
control electrónico o microchip de neumático montado en el interior
de un neumático durante un procedimiento de prueba de alta tensión
no destructiva. De forma específica, la presente invención se
refiere a un dispositivo de protección configurado para colocarse
de forma extraíble sobre un dispositivo de control electrónico en un
neumático para proteger el dispositivo de daños durante una prueba
de alta tensión no destructiva.
Las superficies de rodamiento de un neumático se
desgastan periódicamente, por lo que es necesario recauchutar o
cambiar el neumático. El recauchutado de neumáticos para camiones y
vehículos grandes resulta normalmente más económico que cambiar un
neumático y por ello es la técnica preferida cuando el armazón del
neumático es lo suficientemente fuerte como para recauchutarlo. El
proceso de recauchutado incluye la extracción del paquete de la
superficie de rodamiento gastada del armazón del neumático y la
posterior colocación de un nuevo paquete de la superficie de
rodamiento en el armazón mediante un procedimiento de vulcanización.
El proceso de recauchutado produce un neumático válido siempre que
el armazón y el nuevo paquete de la superficie de rodamiento no
tengan ningún defecto.
Debe comprobarse que los armazones de neumáticos
no presenten defectos antes del recauchutado con el fin de evitar
recauchutar un armazón de neumático que tenga algún defecto, lo que
destruiría inmediatamente el neumático o haría que el neumático
fallara poco después del recauchutado. Un procedimiento para
comprobar un armazón de neumático consiste en someter el armazón a
un procedimiento de prueba de alta tensión no destructiva
(denominado en lo sucesivo NDT). El procedimiento NDT incluye los
pasos de montaje del armazón de un neumático en un cubo giratorio
de modo que el armazón quede dispuesto por encima de una placa de
sensor. Una jaula de hilo metálico fijo que sustancialmente se
corresponde con la forma interior del armazón se coloca dentro del
armazón por encima de la placa del sensor. La jaula de hilo
metálico se energiza con aproximadamente 35.000 voltios y el
armazón gira al menos una rotación completa. El armazón de caucho
funciona para aislar la jaula de hilo metálico de alta tensión de
la placa del sensor durante la rotación. Cualquier defecto tal como
una perforación en el armazón permite que la electricidad forme un
arco desde la jaula de hilo metálico hasta la placa del sensor.
Cualquiera de esos arcos es detectado por la placa del sensor y se
inspecciona el defecto que permite el arco para determinar si puede
repararse o si el armazón del neumático debe desecharse. El
procedimiento también puede realizarse en el armazón después de
recauchutarlo para comprobar que no haya ningún defecto.
Un problema con este procedimiento surge cuando
el armazón del neumático que se está comprobando tiene un
dispositivo de control electrónico (conocido en la técnica como
microchip de neumático) montado en el revestimiento interior del
armazón. En las patentes estadounidenses nº 3.787.806 y 5.500.065 se
muestran dos ejemplos de tales microchips de neumáticos. Un primer
problema es que el hilo metálico para la prueba de alta tensión
puede enredarse en el microchip de neumático y tirar del
revestimiento interior. Otro problema es que los componentes
electrónicos del microchip de neumático son relativamente sensibles
y pueden destruirse por el entorno eléctrico de alta tensión del
procedimiento NDT. Los componentes se dañan cuando la electricidad
forma un arco entre un componente de prueba y el dispositivo de
control. El campo eléctrico creado por los componentes de prueba
puede dañar también el dispositivo de control. Otro problema es que
los componentes del equipo de prueba pueden dañarse si se enredan
con el microchip de neumático. De ese modo, lo que se desea en la
técnica es proporcionar un dispositivo de protección o pantalla que
pueda colocarse temporalmente sobre el microchip de neumático
durante el procedimiento NDT que proteja los componentes
electrónicos del microchip de neumático de los daños y evite que el
equipo de pruebas se enrede en el microchip de neumático.
En vista de lo anterior, es un objeto de la
presente invención proporcionar un protector de microchips de
neumáticos que proteja un microchip de neumático durante un
procedimiento NDT de alta tensión.
Otro objeto de la presente invención es
proporcionar un protector de microchips de neumáticos que pueda
acoplarse temporalmente al revestimiento interior sobre el
microchip de neumático y retirarse una vez finalizado el
procedimiento.
Un objeto adicional de la presente invención es
proporcionar un protector de microchips de neumáticos que pueda
usarse con diferentes microchips de neumáticos.
Un objeto adicional de la presente invención es
proporcionar un protector de microchips de neumáticos que reduzca
la posibilidad de que la jaula de hilo metálico se enrede en el
protector, se rompa y se suelte del neumático.
Otro objeto de la presente invención es
proporcionar un protector de microchips de neumáticos que proteja
el microchip de neumático incluso cuando el protector esté en
contacto directo con el hilo metálico de la prueba de alta
tensión.
Otro objeto de la presente invención es
proporcionar un procedimiento de prueba de un neumático para
localizar defectos mediante un procedimiento de prueba de alta
tensión no destructiva cuando el microchip de neumático colocado en
un neumático esté protegido del equipo de pruebas y del entorno de
la prueba de alta tensión.
Otro objeto de la presente invención es
proporcionar un protector de microchips de neumáticos que tenga una
construcción sencilla, que logre los objetos indicados de una forma
sencilla, efectiva y económica y que solucione los problemas y
satisfaga las necesidades existentes en la materia.
Estos y otros objetos y ventajas se obtienen con
un protector de microchips de neumáticos para proteger un microchip
de neumático durante un procedimiento NDT de alta tensión según la
reivindicación 1.
Otros objetos y ventajas de la presente
invención se obtienen por la combinación de un neumático, un
microchip de neumático y un protector de microchips de neumático
según la reivindicación 14.
Otros objetos y ventajas adicionales de la
presente invención se logran mediante un procedimiento para
comprobar que los neumáticos no presentan defectos a través de un
procedimiento de prueba de alta tensión no destructiva según la
reivindicación 21.
Las formas de realización preferidas de la
invención, que ilustran los mejores modos en los que los
solicitantes han contemplado la aplicación de los principios, se
establecen en la descripción siguiente y se muestran en los dibujos
y se exponen y establecen de forma más detallada y distintiva en las
reivindicaciones anexas.
la fig. 1 es una vista en sección de
un neumático de una técnica anterior típica que muestra dos de los
sensores de microchips de neumático montados en ellos que se mueven
más allá de un dispositivo para aplicar una tensión al realizar una
inspección NDT;
la fig. 2 es una vista fragmentaria
ampliada que muestra una ampliación de un microchip de neumático de
la técnica anterior montado en el revestimiento interior del
neumático de la fig. 1;
la fig. 2A es una vista fragmentaria
ampliada que muestra una ampliación de otro microchip de neumático
de la técnica anterior montado en el revestimiento interior del
neumático de la fig. 1
la fig. 3 es una vista en sección
ampliada que muestra el microchip de neumático de la fig. 2 montado
dentro de una primera forma de realización del protector de
microchips de neumáticos de la presente invención;
la fig. 3A es una vista en planta desde
arriba de la primera forma de realización del protector de
microchips de neumáticos;
la fig. 4 es una vista en sección
ampliada que muestra el microchip de neumático de la fig. 2 montado
dentro de una segunda forma de realización del protector de
microchip de neumáticos de la presente invención;
la fig. 5 es una vista similar a las
figs. 3 y 4 que muestra una tercera forma de realización del
protector de microchips de neumáticos que rodea el microchip de
neumático de la fig. 2;
la fig. 6 es una vista similar a las
figs. 3-5 de una cuarta forma de realización del
protector de microchips de neumáticos de la presente invención;
la fig. 6A es una vista similar a la
fig. 6 que muestra una alternativa de la cuarta forma de
realización;
la fig. 7 es una vista en
perspectiva ampliada de una quinta forma de realización del
protector de microchips de neumáticos de la presente invención;
y
la fig. 8 es una vista en sección
similar a las figs. 3-5 de la quinta forma de
realización del protector de microchips de neumáticos de la
presente invención usada con el microchip de neumático de la fig.
2A;
Los números similares se refieren a piezas
similares en todos los dibujos.
Un ejemplo del equipo usado para realizar un
procedimiento NDT de alta tensión se ilustra en la fig. 1. El
procedimiento NDT se usa para comprobar si hay defectos en un
neumático 10 colocando al menos un electrodo 12 en el interior del
neumático 10. En algunas situaciones, pueden proporcionarse
múltiples electrodos 12A, 12B y 12C que se adaptan sustancialmente
a la forma interior del neumático 10. En la forma de realización
del equipo de pruebas ilustrado en la fig. 1, los electrodos 12A y
12C son circuitos del hilo metálico mientras que el electrodo 12B
es una pluralidad de hilos colgantes. El electrodo 12B se energiza
con 35.000 voltios de electricidad y el neumático 10 gira tal y
como indica la flecha 14 al menos una rotación completa de modo que
toda la circunferencia de la superficie de rodamiento del neumático
10 se someta a los 35.000 voltios. Si hubiera algún defecto, tal
como orificios de clavos o roturas, en el neumático 10, la
electricidad del electrodo 12 formará un arco a través del
neumático 10 desde el electrodo 12 a la placa del sensor 16 donde
el arco se detecta con un equipo de detección NDT normal (no se
muestra). Este procedimiento de prueba se conoce en la materia y la
realización de esta prueba de alta tensión en los neumáticos 10 que
tienen dispositivos electrónicos o microchips de neumáticos 18
montados en el revestimiento interior 20 de un neumático 10 crea
problemas.
El primer problema es que el electrodo 12 se
enreda en los microchips de neumáticos 18 y/o 19 y tira de ellos
hacia fuera del revestimiento interior 20 de los neumáticos. Tales
enredos pueden dañar el electrodo 12 deformándolo o tirando de él
hacia fuera de la unidad de pruebas. La tendencia a enredarse
aumenta ya que los microchips de neumáticos 18 y 19 tienen con
frecuencia antenas 22 y 24 que sobresalen. Otro problema con el
procedimiento de prueba NDT es que los microchips de neumáticos 18
y 19 contienen un equipo electrónico sensible que se daña
fácilmente por el entorno de la prueba de alta tensión. Este daño
puede estar causado por la formación de un arco entre el electrodo
12 y el microchip de neumático 18. Los daños también pueden
producirse porque el microchip de neumático 18 está expuesto al
campo eléctrico creado por el electrodo 12. Los microchips de
neumáticos 18 y 19 dañados deben sustituirse, lo que hace que
aumente el coste del recauchutado, así como la cantidad de tiempo
necesaria para realizarlo.
Es un objeto de la presente invención
proporcionar un protector de microchips de neumáticos que pueda
colocarse temporalmente sobre los microchips de neumáticos 18 y 19
para evitar que el microchip de neumático se dañe durante el
procedimiento NDT de alta tensión. Una primera forma de realización
del protector de microchips de neumáticos se indica como 25 en las
figs. 3 y 3A e incluye una estructura con forma de cubeta que está
configurada para ajustarse por encima del microchip de neumático 18.
La estructura del protector 25 incluye una pared fabricada con un
material dieléctrico como el caucho, el elastómero termoplástico o
los uretanos termoplásticos. La pared dieléctrica evita la
formación del arco entre el electrodo 12 y el microchip de neumático
18 durante el procedimiento NDT. La pared del protector 25 tiene
una forma para que coincida sustancialmente con la forma del
microchip de neumático 18 y, de ese modo, tiene cuatros paredes
laterales en pendiente 36 que están unidas por una parte superior
sustancialmente plana 38. Las paredes laterales 36 y la parte
superior 38 están configuradas para proporcionar un espacio 40 por
encima del microchip de neumático 20 para alojar la antena 22.
El protector de microchips de neumáticos 25 se
instala temporalmente sobre el microchip de neumático 18 antes de
realizar el procedimiento NDT de alta tensión. Una manera de
instalar el protector 25 es mediante la aplicación de un adhesivo
42 al borde inferior 44 del protector 25 y colocar un protector 25
sobre un microchip de neumático 18. Puede usarse cualquiera de los
diferentes adhesivos para sujetar temporalmente el protector 25 en
un neumático 10. Un ejemplo es un adhesivo a base de fusiones en
caliente. El protector 25 se presiona contra el revestimiento
interior 20 y el adhesivo 44 es apto para fijar un protector seguro
extraíble 25 para el neumático 10. El procedimiento NDT se realiza
entonces con la pared dieléctrica lo que evita que los componentes
electrónicos sensibles del microchip de neumático 18 resulten
dañados por la electricidad del electrodo 12. La forma de las
paredes 36 y 38 evita que el electrodo 12 se enrede en el protector
25 y tire de él hacia fuera del neumático 10. El material
dieléctrico evita que se forme un arco entre el electrodo 12 y el
microchip de neumático 18.
La segunda forma de realización del protector de
microchips de neumáticos se indica como 30 en la fig. 4 e incluye
una estructura en forma de cubeta que está configurada para
ajustarse sobre un microchip de neumático 18. La estructura del
protector 30 incluye una pared que tiene una capa interior 32 y una
capa exterior 34. La capa interior 32 está fabricada con un
material conductor como, por ejemplo, cobre, acero, aluminio o
similar. La capa exterior 34 está fabricada con un material
dieléctrico como, por ejemplo, caucho, elastómero termoplástico o
uretanos termoplásticos. Las capas 32 y 34 están conectadas la una a
la otra con sustancialmente nada de espacio entre ellas.
La segunda forma de realización de un protector
de microchips de neumáticos 30 tiene una forma para que coincida
sustancialmente con la forma del microchip de neumático 18 y, de ese
modo, tiene cuatro paredes laterales en pendiente 36 que están
unidas por la parte superior sustancialmente plana 38. Las paredes
laterales 36 y la parte superior 38 están configuradas para
proporcionar un espacio 40 por encima del microchip de neumático 18
para alojar la antena 22.
El protector de microchips de neumáticos 30 se
instala temporalmente sobre el microchip de neumático 18 antes de
realizar el procedimiento NDT de alta tensión. Una manera de
instalar el protector 30 es mediante la aplicación de un adhesivo
42 al borde inferior 44 del protector 30 y la colocación de un
protector 30 sobre un microchip de neumático 18. Un ejemplo de
adhesivo puede ser uno a base de fusiones en caliente. El protector
30 se presiona contra el revestimiento interior 20 y el adhesivo 42
es apto para fijar un protector seguro extraíble 30 para el
neumático 10. El procedimiento NDT se realiza entonces con las capas
32 y 34 del protector 30 lo que evita que los componentes
electrónicos sensibles del microchip de neumático 18 resulten
dañados por la electricidad del electrodo 12. La forma de las
paredes 36 y 38 evita que el electrodo 12 se enrede en el protector
30 y salga hacia fuera del microchip de neumático 18. La capa
dieléctrica 34 evita la formación de un arco tal y como se ha
descrito previamente con respecto a la primera forma de realización.
La capa conductora 32 forma una jaula de Faraday parcial alrededor
del microchip de neumático 18 que protege el microchip del campo
eléctrico formado por el electrodo 12.
En la fig. 5 se ilustra una tercera forma de
realización del protector de microchips de neumáticos y normalmente
se indica con el número 50. El protector de microchips de neumáticos
50 es sustancialmente el mismo que el protector de microchips de
neumáticos 30, salvo porque tanto la capa interior 52 como la capa
exterior 54 están fabricadas de material dieléctrico. La pared
incluye también una capa intermedia 53 que está dispuesta entre las
capas 52 y 54. La capa 53 está fabricada con un material conductor,
tal y como se ha descrito previamente. El protector de microchips
de neumáticos 50 incluye sustancialmente las mismas paredes
laterales 56 y la pared superior 58 que el protector de microchips
de neumáticos 30. El protector de microchips de neumáticos 50
también se acopla al revestimiento interior 20 mediante la
aplicación de un adhesivo 42 a la superficie inferior 60 del
protector de microchips de neumáticos 50. La capa interior 52
protege la antena 22 de daños si la antena entra en contacto con el
protector 50 durante el procedimiento de prueba.
En la fig. 6 se ilustra una cuarta forma de
realización del protector de microchips de neumáticos de la presente
invención y normalmente se indica con el número 70. El protector 70
incluye también una capa interior 72 y una capa exterior 74, tal y
como se han descrito previamente con respecto a los protectores 30 y
50. En el protector 70 ilustrado en la fig. 6, una capa interior 72
está formada por un material conductor con una capa exterior 74
fabricada con un material dieléctrico. El protector 70 incluye
paredes laterales 76 y una pared superior 78 con una forma similar
a la de las paredes laterales explicadas previamente con respecto a
los protectores 30 y 50. Las paredes laterales 76 del protector 70
incluyen dientes 80 que pueden estar íntegramente formados en una
capa interior 72. Los dientes 80 se extienden hacia dentro y se
adaptan para engancharse al propio microchip de neumático 18 (fig.
6) o a un parche 81 (fig. 6A) que conecta el microchip 18 con el
revestimiento interior 20. Los dientes 80 sostienen el protector 70
en un microchip de neumático 18 durante el procedimiento NDT. Los
dientes 80 pueden incluir púas afiladas 82 que presionan hacia la
superficie exterior del microchip de neumático 18 o el parche
81.
En las figs. 7 y 8 se muestra una quinta forma
de realización del protector de microchips de neumáticos de la
presente invención, normalmente indicado con el número 90. La pared
del protector 90 incluye una capa interior 92 y una capa exterior
94. La capa interior 92 está fabricada con un material conductor y
la capa exterior 94 está fabricada con un material dieléctrico,
como el caucho.
El protector de microchips de neumáticos 90
tiene una forma diferente de los protectores 30, 50 y 70 y tiene
forma de cúpula redondeada y puede ser parcialmente esférica. El
protector 90 incluye una superficie inferior 96 que se ha fijado al
revestimiento interior 20 con adhesivo 42 para sujetar de forma
extraíble el protector 90 sobre el microchip de neumático 19
durante el procedimiento NDT. El protector de microchips de
neumáticos 90 tiene un amplio espacio dentro de las capas 92 y 94,
indicado por el número 98, de modo que puede ajustarse sobre una
gran variedad de microchips de neumático 18 ó 19.
En consecuencia, el protector de microchips de
neumáticos mejorado se simplifica, proporciona un dispositivo
efectivo, seguro, económico y eficaz que logra todos los objetos
enumerados, elimina las dificultadas encontradas en dispositivos
anteriores y soluciona problemas y obtiene nuevos resultados en la
técnica.
En la descripción previa, se han usado
determinados términos por cuestiones de brevedad, claridad y una
mejor comprensión; sin embargo, ello no debe implicar limitaciones
innecesarias más allá de los requisitos de la técnica anterior,
dado que tales términos se usan con fines descriptivos y deben
interpretarse de una forma amplia.
Además, la descripción e ilustración de la
invención se hace a modo de ejemplo, y el alcance de la invención
no se limita a los detalles exactos mostrados o descritos.
Una vez descritas las características,
descubrimientos y principios de la invención, la manera en que se
construye y usa el protector de microchips de neumáticos mejorado,
las características de la construcción y los nuevos resultados
ventajosos y útiles obtenidos, las nuevas y útiles estructuras,
dispositivos, elementos, disposiciones, piezas y combinaciones se
exponen en las reivindicaciones
anexas.
anexas.
Claims (21)
1. Un protector de microchips de
neumáticos (25, 30, 50, 70, 90) para proteger un microchip de
neumático (18, 19) durante un procedimiento NDT de alta tensión,
comprendiendo el microchip de neumático (18, 19):
- una estructura configurada para ajustarse sobre el microchip de neumático; definiendo la estructura una cubeta que tiene una pared; y estando dicha pared fabricada parcialmente con un material dieléctrico.
2. El protector de microchips
de neumáticos (25, 30, 50, 70, 90) de la reivindicación 1, en el
que la estructura con forma de cubeta tiene un borde inferior
(44).
3. El protector de microchips
de neumáticos (25) de la reivindicación 2, en el que la estructura
con forma de cubeta es una cúpula redondeada.
4. El protector de microchips
de neumáticos (25) de la reivindicación 2, en el que la estructura
con forma de cubeta incluye cuatro paredes laterales en pendiente
(36) y una parte superior plana (38).
5. El protector de microchips
de neumáticos (25) de la reivindicación 1, en el que la pared
incluye una capa interior (32) y una capa exterior (34), estando la
capa interior fabricada con un material conductor y estando la capa
exterior fabricada con un material dieléctrico.
6. El protector de microchips
de neumáticos (25) de la reivindicación 5, en el que el material
conductor es cobre.
7. El protector de microchips
de neumáticos (25) de la reivindicación 5, en el que el material
conductor es acero.
8. El protector de microchips
de neumáticos (25) de la reivindicación 5, en el que el material
conductor es aluminio.
9. El protector de microchips
de neumáticos (25) de la reivindicación 5, en el que la capa
exterior (34) está fabricada con caucho.
10. El protector de microchips de
neumáticos (25) de la reivindicación 1, en el que la pared incluye
una capa intermedia (53) dispuesta entre una capa interior (32) y
una capa exterior (34), estando la capa intermedia (53) fabricada
con un material conductor.
11. El protector de microchips de
neumáticos de la reivindicación 10, en el que las capas interior
(32) y exterior (34) están fabricadas con un material
dieléctrico.
12. El protector de microchips de
neumáticos de la reivindicación 1, que comprende además al menos un
diente (80) conectado a la estructura, extendiéndose el diente (80)
hacia dentro y estando adaptado para engancharse en el microchip de
neumático (18, 19).
13. El protector de microchips de
neumáticos de la reivindicación 12, en el que el diente (80)
incluye al menos una púa afilada (82).
14. Un procedimiento para probar
que un neumático (10) no presenta defectos mediante un procedimiento
de prueba de alta tensión no destructiva cuando el neumático tiene
un microchip de neumático (18, 19), comprendiendo el procedimiento
los pasos de:
cubrir el microchip de neumático con un
protector de microchips de neumático (25) que tiene una pared
formada al menos parcialmente por material dieléctrico; probar el
neumático insertando un electrodo (12) en el interior del
neumático, energizando el electrodo y girando el neumático y
extrayendo el protector de microchips de neumáticos del
neumático.
15. El procedimiento de la
reivindicación 14 en el que el paso de cubrir el microchip de
neumático (18, 19) con el protector de microchips de neumático (25)
incluye los pasos de aplicar un adhesivo a un protector de
microchips de neumático y al neumático y unir con adhesivo el
protector de microchips de neumático con el neumático (10) sobre el
microchip de neumático (18, 19).
16. El procedimiento de la
reivindicación 14 en el que el paso de cubrir el microchip de
neumático (18, 19) con el protector de microchips de neumático (25)
incluye el paso de enganchar físicamente el microchip de neumático
al protector de microchips de neumático
17. El procedimiento de la
reivindicación 14 en el que el paso de cubrir el microchip de
neumático (18, 19) con el protector de microchips de neumático (25)
incluye el paso de proporcionar un protector de microchips de
neumático que tenga una capa (32) de material conductor y una capa
(34) de material dieléctrico.
18. Un neumático (10), un microchip
de neumático (18, 19) montado en el neumático, un protector de
microchips de neumático (25), un electrodo (12) dispuesto en el
neumático y una placa de sensor dispuesta fuera del neumático,
estando la placa del sensor alineada con el electrodo y estando el
protector de microchips de neumático (25) montado de forma
extraíble en el neumático sobre el microchip de neumático,
incluyendo el protector de microchips de neumático (25) una pared
formada por un material dieléctrico y cubriendo la pared el
microchip de neumático (18, 19).
19. El neumático de la
reivindicación 18 que comprende además un adhesivo para montar de
forma extraíble el protector de microchips de neumático (25) en el
neumático.
20. El neumático de la
reivindicación 19 que comprende además al menos una púa (80)
conectada al protector de microchips de neumático (25),
enganchándose la púa al microchip de neumático para montar de forma
extraíble el protector de microchips de neumático sobre el microchip
de neumático (18, 19).
21. El neumático de la
reivindicación 18 en el que la pared del protector de microchips de
neumático (25) incluye una capa interior (32) y una capa exterior
(34), estando formada la capa exterior por un material dieléctrico
y estando formada la capa interior por un material conductor.
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