EP4345779A1

EP4345779A1 - Anordnung und verfahren zur prüfung von substratbogen mit mehreren rohlingen von ausweis-, wert- oder sicherheitsdokumenten

Info

Publication number: EP4345779A1
Application number: EP23194230.1A
Authority: EP
Inventors: Thomas Valta; Martin Naßl
Original assignee: Bundesdruckerei GmbH
Current assignee: Bundesdruckerei GmbH
Priority date: 2022-09-02
Filing date: 2023-08-30
Publication date: 2024-04-03
Also published as: DE102022122300B3

Abstract

Die Erfindung betrifft Anordnung (100) zur Prüfung von Substratbogen (200), die eine Mehrzahl an Rohlingen (202) für Ausweis-, Wert- oder Sicherheitsdokumente umfassen, wobei zumindest einige der Rohlinge (202) mit einem RFID-Modul versehen sind, umfassend:- eine Transportplatte (102), auf der die Substratbogen (200) transportiert werden,- ein Lineartransportsystem (104) mit einer Mehrzahl von Greifern (106), die entlang einer geschlossenen Bahn (108) umlaufen, wobei die Bahn (108) abschnittsweise neben der Transportplatte (102) verläuft, und wobei mindestens zwei der Greifer (106) eingerichtet sind, einen der Substratbogen (200) entlang der Transportplatte (102) in einer Transportrichtung (110) zu transportieren, und- mindestens eine Prüfvorrichtung (120) zur Prüfung auf Ausschuss unter den Rohlingen (202) und/oder zur Funktionsprüfung der Rohlinge (202), wobei die Prüfvorrichtung (120) der Transportplatte (102) zugeordnet ist und senkrecht zur Transportrichtung (110) versetzt angeordnet ist.Die Erfindung betrifft außerdem ein Verfahren zur Prüfung von Substratbogen (200).

Description

Die Erfindung betrifft eine Anordnung und ein Verfahren zur Prüfung von Substratbogen, die eine Mehrzahl an Rohlingen für Ausweis-, Wert- oder Sicherheitsdokumente umfassen, wobei zumindest einige der Rohlinge mit einem RFID-Modul (RFID für "Radio Frequency Identification") versehen sind.
Einzelsubstrate, wie Karten für Ausweis-, Wert- oder Sicherheitsdokumenten oder auch ganze Substratbogen werden üblicherweise horizontal mit einem Transportmechanismus durch verschiedene Prozess- oder Kontrollstationen geführt, wobei sie dort optisch, elektronisch oder auch andersartig geprüft werden. Aufgrund der Vielzahl an unterschiedlichen Prüfvorrichtungen und Prüfmethoden kann es dabei erforderlich sein, dass für zwei unterschiedliche Prozess- oder Prüfschritte auch zwei unterschiedliche Geschwindigkeiten beim Durchlauf eines Substratbogens erforderlich ist. Deshalb sind bei einer Vielzahl von Prozess- oder Kontrollstation auch unterschiedliche Transportschritte bevorzugt, wie eine kontinuierliche Bewegung, eine kurze getaktete Schritte, lange getaktete Schritte oder auch eine rückwärtsgerichtete Bewegung.
Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Anordnung zur Prüfung von Substratbogen und ein entsprechendes Verfahren anzugeben, die den vorstehenden Anforderungen gerecht werden.
Diese Aufgabe wird mit einer Anordnung mit den Merkmalen des Anspruchs 1 und durch ein Verfahren mit den Merkmalen des Anspruchs 11 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen mit zweckmäßigen Weiterbildungen der Erfindung sind in den abhängigen Ansprüchen angegeben.
Die erfindungsgemäße Anordnung umfasst insbesondere:

eine Transportplatte, auf der die Substratbogen transportiert werden,
ein Lineartransportsystem mit einer Mehrzahl von Greifern, die entlang einer geschlossenen Bahn umlaufen, wobei die Bahn abschnittsweise neben der Transportplatte verläuft, und wobei mindestens zwei der Greifer eingerichtet sind, einen der Substratbogen entlang der Transportplatte in einer Transportrichtung zu transportieren, und
mindestens eine Prüfvorrichtung zur Prüfung auf Ausschuss unter den Rohlingen und/oder zur Funktionsprüfung der Rohlinge, wobei die Prüfvorrichtung der Transportplatte zugeordnet ist und senkrecht zur Transportrichtung versetzt angeordnet ist.

Durch die Nutzung eines Lineartransportsystems hat es sich als vorteilhaft erwiesen, dass ein individueller, prüfvorrichtungsabhängiger Vorschub oder auch eine entsprechende Taktung für den Transport der Substratbogen gewährleistet ist. Die Greifer an dem linearen Transportsystem können dabei individuell angesteuert werden, sodass beispielsweise eine Mehrzahl an Greifern, die einen ersten Substratbogen halten und transportieren, einen anderen Vorschub erfahren, als eine Mehrzahl an weiteren Greifern, die einen zweiten Substratbogen halten und transportieren. Aufgrund dieses individuellen Vorschubes lässt sich das System oder die Anordnung auch individuell an die Substratgröße anpassen. Außerdem ist es nicht mehr erforderlich, bei einer Mehrzahl von Prüfvorrichtungen die Reihenfolge explizit in Transportrichtung festzulegen, da das Lineartransportsystem auch dazu ausgelegt ist, entgegen der Transportrichtung auch zu zurückliegenden Stationen wieder zurück zu fahren, um dort eine ggfs. weitere Prüfung oder eine Bearbeitung vorzunehmen.
Als Ausweis-, Wert- oder Sicherheitsdokumente kommen beispielsweise ein Reisepass, ein Personalausweis, ein Führerschein oder eine andere ID-Karte oder ein Zugangskontrollausweis, eine Scheck-, eine Bank-, oder eine Kredit- oder Barzahlungskarte, eine Kundenkarte, eine Gesundheitskarte, eine Chipkarte, ein Firmenausweis, ein Berechtigungsnachweis, ein Mitgliedsausweis oder ein anderes ID-Dokument infrage, wobei gewährleistet sein sollte, dass dieses über wenigstens ein Braille-Schriftzeichen verfügt.
Vorzugsweise liegen also die Rohlinge des späteren Ausweis-, Wert- oder Sicherheitsdokuments in ID 1-, ID 2-, ID 3- oder in irgendeinem anderen Format vor, um es später beispielsweise in Heftform zu binden, wie bei einem passähnlichen Gegenstand. Der Rohling und das spätere Ausweis-, Wert- oder Sicherheitsdokument sind im Allgemeinen ein Laminat aus mehreren Dokumentenlagen, die passgenau unter Wärmeeinwirkung und unter erhöhtem Druck flächig miteinander verbunden sind. Diese Produkte sollen den normierten Anforderungen genügen, beispielsweise ISO 10373, ISO/IEC 7810, ISO 14443.
Vorzugsweise bestehen die Produktlagen aus einem Trägermaterial, das sich für eine Lamination eignet. Das Ausweis-, Wert- oder Sicherheitsdokument kann aber vorzugsweise aus einem Polymer gebildet sein, das ausgewählt ist aus einer Gruppe, umfassend Polycarbonat (PC), insbesondere Bisphenol A-Polycarbonat oder ein Polycarbonat, gebildet mit einem geminal disubstituierten Bis-(hydroxyphenyl)-cycloalkan, Polyethylenterephthalat (PET), deren Derivate, wie Glykol-modifiziertes PET (PETG), Polyethylennaphthalat (PEN), Polyvinylchlorid (PVC), Polyvinylbutyral (PVB), Polymethylmethacrylat (PMMA), Polyimid (PI), Polyvinylalkohol (PVA), Polystyrol (PS), Polyvinylphenol (PVP), Polypropylen (PP), Polyethylen (PE), thermoplastische Elastomere (TPE), insbesondere thermoplastisches Polyurethan (TPU), Acrylnitril-Butadien-Styrol-Copolymer (ABS) sowie deren Derivate, und/oder Papier und/oder Pappe und/oder Glas und/oder Metall und/oder Keramik. Außerdem kann das Produkt auch aus mehreren dieser Materialien hergestellt sein. Bevorzugt besteht es aus PC, PVC und PET. Die Polymere können entweder gefüllt oder ungefüllt vorliegen. Im letzteren Falle sind sie vorzugsweise transparent oder transluzent. Falls die Polymere gefüllt sind, sind sie opak. Die vorstehenden Angaben beziehen sich sowohl auf miteinander zu verbindende Folien als auch auf Flüssigformulierungen, die auf ein Vorprodukt aufgebracht werden, wie einen Schutz- oder Decklack. Bevorzugt wird das Produkt aus drei bis zwölf, vorzugsweise vier bis zehn Folien, hergestellt. Die Folien können ferner Druckschichten tragen. Ein solcherart gebildetes Laminat kann abschließend ein- oder beidseitig mit dem Schutz- oder Decklack oder mit einer Folie überzogen werden. Die Folie kann insbesondere ein Volumenhologramm, eine Folie mit einem Oberflächenhologramm (beispielsweise einem kinegraphischen Element) oder eine Kratzschutzfolie sein. Derart gebildete Overlaylagen schützen ein darunter angeordnetes Sicherheitsmerkmal und/oder verleihen dem Dokument die erforderliche Abriebfestigkeit.
Um den Durchsatz zu erhöhen und um die Taktzeiten insgesamt zu reduzieren, hat es sich als vorteilhaft erwiesen, wenn dem Lineartransportsystem ein Magazin oder ein Puffer vorgeschaltet ist, und wenn eine Umsetzvorrichtung vorhanden ist, um einen der Substratbogen vereinzelt aus dem Magazin oder dem Puffer zu entnehmen und auf der Transportplatte abzulegen. Hierbei wird also jeder Substratbogen einzeln auf eine Ausrichtposition auf der Transportplatte abgelegt, ausgerichtet und anschließend von den Greifern des linearen Transportsystems übernommen.
Da zumindest einige - vorzugsweise alle - der Rohlinge mit einem RFID-Modul versehen sind, hat es sich als vorteilhaft erwiesen, wenn mindestens eine Prüfvorrichtung eine RFID-Prüfvorrichtung ist, die eingerichtet ist, eines oder mehrere der an einem aufgelegten Substratbogen vorhandenen RFID-Module über eine Funkverbindung anzusprechen und damit auf Funktion zu prüfen.
Doch nicht nur eine elektromagnetische Prüfung, sondern auch eine Sichtprüfung ist in vielen Fällen vorteilhaft, sodass es sich als sinnvoll erwiesen hat, wenn die mindestens eine Prüfvorrichtung eine erste optische Erfassungsvorrichtung ist, die eingerichtet ist, den Substratbogen auf einer ersten Seite auf Verunreinigungen zu prüfen und/oder Seriennummern der Rohlinge auf einer ersten Seite des Substratbogens durch Abfrage eines QR-Codes (Englisch für "Quick Response Code"; zweidimensionaler Data-Matrixcode) zu überprüfen.
Um auch die der ersten Seite des Substratbogens abgewandte zweite Seite des Substratbogens optisch untersuchen zu können, hat es sich als vorteilhaft erwiesen, wenn eine Prüfvorrichtung in Form einer zweiten optischen Erfassungsvorrichtung vorhanden ist, die eingerichtet ist, den Substratbogen auf einer der ersten Seite gegenüberliegenden zweiten Seite auf Verunreinigungen zu prüfen und/oder Seriennummern der Rohlinge auf einer der ersten Seite gegenüberliegenden zweiten Seite des Substratbogens durch Abfrage eines QR-Codes zu überprüfen.
Da einige der Rohlinge mit einem RFID-Modul ausgestattet sind, weisen sie in aller Regel auch eine sehr feine, zumeist gedruckte, Antennenspule auf, die ebenfalls zu überprüfen ist. In diesem Zusammenhang hat es sich daher als vorteilhaft erwiesen, wenn die mindestens eine Prüfvorrichtung eine optische Mikroerfassungsvorrichtung ist, die eingerichtet ist, RFID-Antennen und/oder RFID-Chips der RFID-Module mikroskopisch optisch zu erfassen.
Sollte die Prüfung ergeben, dass einer oder dass mehrere der Rohlinge fehlerhaft sind, so hat es sich bewährt, wenn diese Rohlinge aus dem Bogen entfernt werden. In diesem Zuge ist es sinnvoll, wenn mindestens eine Stanzvorrichtung vorhanden ist, die eingerichtet ist, funktionsunfähige RFID-Module oder Teile davon durch Stanzen aus dem Substratbogen zu entfernen.
In diesem Zuge ist es besonders zweckmäßig, wenn die Stanzvorrichtung eingerichtet ist, einen RFID-Chip eines der RFID-Module durch Stanzen aus dem Substratbogen zu entfernen.
Es ist ferner sinnvoll, wenn eine Vermessungsvorrichtung zur Randvermessung eines Deckblatts der Rohlinge vorhanden ist, die zudem eingerichtet ist, die Positionierung eines Deckblatts auf wenigstens einem der Rohlinge zu untersuchen. Auch hier kann bei einer fehlerhaften Positionierung oder fehlerhaften gegenseitigen Ausrichtung des Deckblatts dieses als Ausschuss markiert oder mit einer Stanzvorrichtung herausgestanzt werden.
Es hat sich als vorteilhaft erwiesen, wenn die Anordnung alle der vorstehend genannten Prüfvorrichtungen umfasst, da auf diese Weise gewährleistet ist, dass die geringstmögliche Fehlerquote entsteht, also vermieden ist, dass fehlerhafte Rohlinge einer weiteren nachfolgenden Verarbeitung zugeführt werden.
Die in Verbindung mit der erfindungsgemäßen Anordnung genannten Ausgestaltungen, Vorteile und Wirkungen gelten in gleicher Weise für das erfindungsgemäße Verfahren. Dieses umfasst insbesondere die folgenden Schritte:

Bereitstellen mindestens eines Substratbogens,
Positionieren des Substratbogens auf einer Transportplatte,
Ergreifen des Substratbogens mit mindestens zwei Greifern eines Lineartransportsystems, wobei die Greifer entlang einer geschlossenen Bahn verfahrbar sind, und wobei die Bahn abschnittsweise neben der Transportplatte verläuft,
Verstellen der Greifer entlang der Bahn und Transportieren des Substratbogens entlang der Transportplatte in einer Transportrichtung zu mindestens einer Prüfvorrichtung oder zu mehreren Prüfvorrichtungen, und
Prüfung von mindestens einem Rohling des Substratbogens auf Ausschuss und/oder auf Funktion mit der mindestens einen Prüfvorrichtung, die der Transportplatte zugeordnet ist und senkrecht zur Transportrichtung versetzt angeordnet ist.

Mit diesem Verfahren ist der Vorteil verbunden, dass in Abhängigkeit der gewählten Prüfvorrichtung die Greifer mit einer entsprechenden Geschwindigkeit verstellt werden können, um den Substratbogen zu transportieren.
In diesem Zuge ist es von Vorteil, wenn der Substratbogen rechteckig mit zwei langen Kanten und zwei gegenüber den langen Kanten kürzeren Kanten gebildet ist, und wenn der Greifer den Substratbogen an einer seiner langen Kanten voneinander beabstandet ergreifen, um ihn in Transportrichtung entlang der Transportplatte zu transportieren. Hierbei ist auch die Möglichkeit gegeben, dass auch mehr als zwei der Greifer den Transportbogen ergreifen und synchron entlang der Transportplatte transportieren. Beispielsweise können drei Greifer oder auch mehr als drei Greifer für den Transport eines Substratbogens genutzt werden.
Da einige - vorzugsweise alle - der Rohlinge mit einem RFID-Modul versehen sind, hat es sich als vorteilhaft erwiesen, wenn die Prüfvorrichtung als eine RFID-Prüfvorrichtung gebildet ist, und wenn die RFID-Prüfvorrichtung eines oder mehrere der an einem aufgelegten Substratbogen vorhandenen RFID-Module über eine Funkverbindung anspricht und damit auf Funktion prüft.
Um das RFID-Modul näher untersuchen zu können - auch im Hinblick auf den Antennendruck, mithin die fein gedruckte Antennenspule - ist es von Vorteil, wenn die Prüfvorrichtung oder eine weitere Prüfvorrichtung als eine optische Mikroerfassungsvorrichtung gebildet ist, und wenn die Mikroerfassungsvorrichtung RFID-Antennen und/oder RFID-Chips der RFID-Module mikroskopisch optisch untersucht. Eine mikroskopische optische Untersuchung zeichnet sich durch eine Vergrößerung aus, bei der die feine Antennenspule oder die feine Linienführung des Chips hinreichend erkennbar sind.
Sollte sich jedoch bei der Prüfung herausstellen, dass RFID-Module oder Teile davon fehlerhaft sind, so hat es sich als vorteilhaft erwiesen, wenn nach der Prüfung funktionsunfähige RFID-Module oder Teile davon mit einer Stanzvorrichtung aus dem Substratbogen ausgestanzt werden.
Die vorliegende Erfindung wird nachfolgend anhand einer Figur näher erläutert, wobei das dargestellte Beispiel lediglich exemplarischen Charakter hat und keine Einschränkung hinsichtlich der Tragweite der beschriebenen Erfindung darstellt. Es zeigt im Einzelnen:

Fig. 1: eine schematische, perspektivische Darstellung einer Anordnung zur Prüfung eines Substratbogens mit einer Mehrzahl an Rohlingen, die mit einem RFID-Modul ausgestattet sind.

In der Figur 1 ist eine Anordnung 100 zur Prüfung von Substratbogen 200 gezeigt, wobei die Substratbogen 200 eine Mehrzahl an Rohlingen 202 für Ausweis-, Wert- oder Sicherheitsdokumente umfassen, und wobei zumindest einige - vorliegend alle - der Rohlinge 202 mit einem RFID-Modul (nicht gezeigt) ausgestattet sind.
Die Substratbogen 200 mit ihren Rohlingen 202 werden dabei in einem Magazin 112 bereitgestellt, wobei eine Umsetzvorrichtung 114 vorhanden ist, um einen der Substratbogen 200 vereinzelt aus dem Magazin 112 zu entnehmen und auf einer Transportplatte 102 abzulegen. Der Substratbogen 200 wird dabei auf einer Ausrichtposition der Transportplatte 102 abgelegt und ausgerichtet. Um den Substratbogen 200 zu transportieren liegt außerdem ein Lineartransportsystem 104 vor, was mit einer Mehrzahl von Greifern 106 ausgestattet ist, die entlang einer geschlossenen Bahn 108 umlaufen und insbesondere einzeln ansteuerbar sind. Die gruppenweise Ansteuerung ist bevorzugt, da die Substratbogen 200 typischerweise von einer Mehrzahl an Greifern 106 gegriffen und entlang der Transportbahn 108 auf der Transportplatte 102 transportiert werden. Aus diesem Grunde verläuft die geschlossene Bahn 108 auch abschnittsweise neben der Transportplatte 102, wobei also mindestens zwei der Greifer 106 eingerichtet sind, einen der Substratbogen 200 entlang der Transportplatte 102 in einer Transportrichtung 110 zu transportieren. Es sei darauf hingewiesen, dass die Greifer 106 den Substratbogen 200 auch entgegen der Transportrichtung 110 verstellen können, wie sie in der Figur 1 eingezeichnet ist.
Der Umsetzvorrichtung 114 ist dabei eine Prüfvorrichtung 120 in Form einer RFID-Prüfvorrichtung 122 nachgelagert, wobei letztere eingerichtet ist, eines oder mehrere der an einem aufgelegten Substratbogen 200 vorhandenen RFID-Module über eine Funkverbindung anzusprechen und damit auf Funktion zu prüfen.
Der Umsetzvorrichtung 114 ist außerdem eine Prüfvorrichtung 120 in Form einer ersten optischen Erfassungsvorrichtung 124 in Transportrichtung 110 nachgelagert, wobei letztere eingerichtet ist, den Substratbogen 200 auf einer ersten Seite auf Verunreinigungen zu prüfen und/oder Seriennummern der Rohlinge 202 auf einer ersten Seite des Substratbogens 200 durch Abfrage eines QR-Codes zu überprüfen. Vorliegend ist die erste optische Erfassungsvorrichtung 124 der Umsetzvorrichtung 114 unmittelbar nachgelagert und der RFID-Prüfvorrichtung 122 unmittelbar vorgelagert.
Der Umsetzvorrichtung 114 ist ferner in Transportrichtung 110 eine Prüfvorrichtung 120 in Form einer zweiten optischen Erfassungsvorrichtung 126 nachgelagert, die eingerichtet ist, den Substratbogen 200 auf einer der ersten Seite gegenüberliegenden zweiten Seite des Substratbogens 200 auf Verunreinigungen zu prüfen und/oder Seriennummern der Rohlinge 202 auf einer der ersten Seite gegenüberliegenden Seite des Substratbogens 200 durch Abfrage eines QR-Codes zu überprüfen. Die zweite optische Erfassungsvorrichtung 126 ist vorliegend sowohl der ersten optischen Erfassungsvorrichtung 124 als auch der RFID-Prüfvorrichtung 122 in Transportrichtung 110 nachgelagert.
Die zweite optische Erfassungsvorrichtung 126 ist ferner in Transportrichtung 110 einer Stanzvorrichtung 116 unmittelbar nachgelagert, wobei die Stanzvorrichtung 116 eingerichtet ist, funktionsunfähige RFID-Module oder Teile davon durch Stanzen aus dem Substratbogen 200 zu entfernen.
Ein funktionsunfähiges RFID-Modul kann auch in einer fehlerhaften RFID-Antenne, insbesondere einer unterbrochenen feinen Antennenspule liegen, sodass der Umsetzvorrichtung 114 in Transportrichtung 110 eine Prüfvorrichtung 120 in Form einer optischen Mikroerfassungsvorrichtung 128 nachgelagert ist. Die optische Mikroerfassungsvorrichtung 128 ist eingerichtet, RFID-Antennen und/oder RFID-Chips der RFID-Module mikroskopisch optisch zu untersuchen. Die optische Mikroerfassungsvorrichtung 128 ist vorliegend der Stanzvorrichtung 116 in Transportrichtung 110 unmittelbar vorgelagert und der RFID-Prüfvorrichtung 122 unmittelbar nachgelagert.
Letztlich ist der Umsetzvorrichtung 114 in Transportrichtung 110 auch eine Vermessungsvorrichtung 118 zur Vermessung eines Deckblatts der Rohlinge 202 nachgelagert, wobei die Vermessungsvorrichtung 118 eingerichtet ist, die Positionierung eines Deckblatts auf wenigstens einem der Rohlinge 202 zu untersuchen.
Es ist zu erkennen, dass die exemplarisch dargestellten Substratbogen 200 rechteckig mit zwei langen Kanten und zwei gegenüber den langen Kanten kürzeren Kanten gebildet sind, wobei die Greifer 106 den Substratbogen 200 an einer seiner langen Kanten voneinander beabstandet ergreifen, um ihn in der Transportrichtung 110 oder auch entgegen der Transportrichtung 110 entlang der Transportplatte 102 zu den einzelnen Prüfvorrichtungen 120, zu der Stanzvorrichtung 116 oder zu der Vermessungsvorrichtung 118 zu transportieren.
Aufgrund des Einsatzes des Lineartransportsystems (XTS = Englisch für "Extended Transport System") können die Greifer 106 individuell oder gruppiert angesteuert werden, wobei ihr Vorschub in Abhängigkeit der gewählten Prüfung variabel eingestellt werden kann. Die erfindungsgemäße Anordnung 100 zeichnet sich also durch eine verbesserte Flexibilität bei der Prüfung von Substratbogen 200 oder deren Rohlinge 202 für Ausweis-, Wert- oder Sicherheitsdokumenten aus.

BEZUGSZEICHENLISTE

100: Anordnung
102: Transportplatte
104: Lineartransportsystem (XTS)
106: Greifer
108: Bahn
110: Transportrichtung
112: Magazin
114: Umsetzvorrichtung
116: Stanzvorrichtung
118: Vermessungsvorrichtung
120: Prüfvorrichtung
122: RFID-Prüfvorrichtung
124: erste optische Erfassungsvorrichtung
126: zweite optische Erfassungsvorrichtung
128: optische Mikroerfassungsvorrichtung
200: Substratbogen
202: Rohling

Claims

Anordnung (100) zur Prüfung von Substratbogen (200), die eine Mehrzahl an Rohlingen (202) für Ausweis-, Wert- oder Sicherheitsdokumente umfassen, wobei zumindest einige der Rohlinge (202) mit einem RFID-Modul versehen sind, umfassend:
- eine Transportplatte (102), auf der die Substratbogen (200) transportiert werden,

- ein Lineartransportsystem (104) mit einer Mehrzahl von Greifern (106), die entlang einer geschlossenen Bahn (108) umlaufen, wobei die Bahn (108) abschnittsweise neben der Transportplatte (102) verläuft, und wobei mindestens zwei der Greifer (106) eingerichtet sind, einen der Substratbogen (200) entlang der Transportplatte (102) in einer Transportrichtung (110) zu transportieren, und

- mindestens eine Prüfvorrichtung (120) zur Prüfung auf Ausschuss unter den Rohlingen (202) und/oder zur Funktionsprüfung der Rohlinge (202), wobei die Prüfvorrichtung (120) der Transportplatte (102) zugeordnet ist und senkrecht zur Transportrichtung (110) versetzt angeordnet ist.
Anordnung (100) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass dem Lineartransportsystem (104) ein Magazin (112) oder ein Puffer vorgeschaltet ist, und dass eine Umsetzvorrichtung (144) vorhanden ist, um einen der Substratbogen (200) vereinzelt aus dem Magazin (112) oder dem Puffer zu entnehmen und auf der Transportplatte (102) abzulegen.
Anordnung (100) nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die mindestens eine Prüfvorrichtung (120) eine RFID-Prüfvorrichtung (122) ist, die eingerichtet ist, eines oder mehrere der an einem aufgelegten Substratbogen (200) vorhandenen RFID-Module über eine Funkverbindung anzusprechen und damit auf Funktion zu prüfen.
Anordnung (100) nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die mindestens eine Prüfvorrichtung (120) eine erste optische Erfassungsvorrichtung (124) ist, die eingerichtet ist, den Substratbogen (200) auf einer ersten Seite auf Verunreinigungen zu prüfen und/oder Seriennummern der Rohlinge (202) auf einer ersten Seite des Substratbogens (200) durch Abfrage eines QR-Codes zu überprüfen.
Anordnung (100) nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass eine Prüfvorrichtung (120) in Form einer zweiten optischen Erfassungsvorrichtung (124) vorhanden ist, die eingerichtet ist, den Substratbogen (200) auf einer der ersten Seite gegenüberliegenden zweiten Seite des Substratbogens (200) auf Verunreinigungen zu prüfen und/oder Seriennummern der Rohlinge (202) auf einer der ersten Seite gegenüberliegenden zweiten Seite des Substratbogens (200) durch Abfrage eines QR-Codes zu überprüfen.
Anordnung (100) nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die mindestens eine Prüfvorrichtung (120) eine optische Mikroerfassungsvorrichtung (126) ist, die eingerichtet ist, RFID-Antennen und/oder RFID-Chips der RFID-Module mikroskopisch optisch zu untersuchen.
Anordnung (100) nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eine Stanzvorrichtung (116) vorhanden ist, die eingerichtet ist, funktionsunfähige RFID-Module oder Teile davon durch Stanzen aus dem Substratbogen zu entfernen.
Anordnung (100) nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Stanzvorrichtung (116) eingerichtet ist, einen RFID-Chip eines der RFID-Module durch Stanzen aus dem Substratbogen (200) zu entfernen.
Anordnung (100) nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass eine Vermessungsvorrichtung (118) zur Randvermessung eines Deckblatts der Rohlinge (202) vorhanden ist, die eingerichtet ist, die Positionierung eines Deckblatts auf wenigstens einem der Rohlinge (202) zu untersuchen.
Anordnung (100) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
dass dem Lineartransportsystem (104) ein Magazin (112) oder ein Puffer vorgeschaltet ist, und dass eine Umsetzvorrichtung (114) vorhanden ist, um einen der Substratbogen (200) vereinzelt aus dem Magazin (112) oder dem Puffer zu entnehmen und auf der Transportplatte (102) abzulegen,

dass der Umsetzvorrichtung (114) in Transportrichtung (110) eine Prüfvorrichtung (120) in Form einer RFID-Prüfvorrichtung (122) nachgelagert ist, die eingerichtet ist, eines oder mehrere der an einem aufgelegten Substratbogen (200) vorhandenen RFID-Module über eine Funkverbindung anzusprechen und damit auf Funktion zu prüfen,

dass der Umsetzvorrichtung (114) eine Prüfvorrichtung (120) in Form einer ersten optischen Erfassungsvorrichtung (124) in Transportrichtung (110) nachgelagert ist, die eingerichtet ist, den Substratbogen (200) auf einer ersten Seite auf Verunreinigungen zu prüfen und/oder Seriennummern der Rohlinge (202) auf einer ersten Seite des Substratbogens (200) durch Abfrage eines QR-Codes zu überprüfen,

dass der Umsetzvorrichtung (114) in Transportrichtung (110) eine Prüfvorrichtung (120) in Form einer zweiten optischen Erfassungsvorrichtung (126) nachgelagert ist, die eingerichtet ist, den Substratbogen (200) auf einer der ersten Seite gegenüberliegenden zweiten Seite des Substratbogens (200) auf Verunreinigungen zu prüfen und/oder Seriennummern der Rohlinge (202) auf einer der ersten Seite gegenüberliegenden zweiten Seite des Substratbogens (200) durch Abfrage eines QR-Codes zu überprüfen, dass der Umsetzvorrichtung (114) in Transportrichtung (110) eine Prüfvorrichtung (120) in Form einer optischen Mikroerfassungsvorrichtung (128) nachgelagert ist, die eingerichtet ist, RFID-Antennen und/oder RFID-Chips der RFID-Module mikroskopisch optisch zu untersuchen,

dass der Umsetzvorrichtung (114) in Transportrichtung (110) eine Stanzvorrichtung (116) nachgelagert ist, die eingerichtet ist, funktionsunfähige RFID-Module oder Teile davon durch Stanzen aus dem Substratbogen (200) zu entfernen,

und dass der Umsetzvorrichtung (114) in Transportrichtung (110) eine Vermessungsvorrichtung (118) zur Randvermessung eines Deckblatts der Rohlinge (202) nachgelagert ist, die eingerichtet ist, die Positionierung eines Deckblatts auf wenigstens einem der Rohlinge (202) zu untersuchen.
Verfahren zur Prüfung von Substratbogen (200), die eine Mehrzahl an Rohlingen (202) für Ausweis-, Wert- oder Sicherheitsdokumente umfassen, wobei zumindest einige der Rohlinge (202) mit einem RFID-Modul versehen sind, umfassend die Schritte:
- Bereitstellen mindestens eines Substratbogens (200),

- Positionieren des Substratbogens (200) auf einer Transportplatte (102),

- Ergreifen des Substratbogens (200) mit mindestens zwei Greifern (106) eines Lineartransportsystem (104), wobei die Greifer (106) entlang einer geschlossenen Bahn (108) verfahrbar sind, und wobei die Bahn (108) abschnittsweise neben der Transportplatte (102) verläuft,

- Verstellen der Greifer (106) entlang der Bahn (108) und Transportieren des Substratbogens (200) entlang der Transportplatte (102) in einer Transportrichtung (110) zu mindestens einer Prüfvorrichtung (120) oder zu mehreren Prüfvorrichtungen (120), und

- Prüfung von mindestens einem Rohling (202) des Substratbogens (200) auf Ausschuss und/oder auf Funktion mit der mindestens einen Prüfvorrichtung (120), die der Transportplatte (102) zugeordnet ist und senkrecht zur Transportrichtung (110) versetzt angeordnet ist.
Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass der Substratbogen (200) rechteckig mit zwei langen Kanten und zwei gegenüber den langen Kanten kürzeren Kanten gebildet ist, und dass die Greifer (106) den Substratbogen (200) an einer seiner langen Kanten voneinander beabstandet ergreifen, um ihn in Transportrichtung (110) entlang der Transportplatte (102) zu transportieren.
Verfahren nach Anspruch 11 oder 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Prüfvorrichtung (120) als eine RFID-Prüfvorrichtung (122) gebildet ist, und dass die RFID-Prüfvorrichtung (122) eines oder mehrere der an einem aufgelegten Substratbogen (200) vorhandenen RFID-Module über eine Funkverbindung anspricht und damit auf Funktion prüft.
Verfahren nach einem der Ansprüche 11 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Prüfvorrichtung (120) oder eine weitere Prüfvorrichtung (120) als eine optische Mikroerfassungsvorrichtung (128) gebildet ist, und dass die Mikroerfassungsvorrichtung (128) RFID-Antennen und/oder RFID-Chips der RFID-Module mikroskopisch optisch untersucht.
Verfahren nach einem der Ansprüche 11 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass nach der Prüfung funktionsunfähige RFID-Module oder Teile davon mit einer Stanzvorrichtung (116) aus dem Substratbogen (200) ausgestanzt werden.