EP3002637B1 - Système horloger avec des propriétés tribologiques améliorées - Google Patents

Système horloger avec des propriétés tribologiques améliorées Download PDF

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EP3002637B1
EP3002637B1 EP15187489.8A EP15187489A EP3002637B1 EP 3002637 B1 EP3002637 B1 EP 3002637B1 EP 15187489 A EP15187489 A EP 15187489A EP 3002637 B1 EP3002637 B1 EP 3002637B1
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EP
European Patent Office
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functional zone
structuration
controlled
process according
submicron
Prior art date
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EP15187489.8A
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German (de)
English (en)
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EP3002637A1 (fr
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Jean-Charles Fiaccabrino
Xavier LANDREAU
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Richemont International SA
Original Assignee
Richemont International SA
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Publication date
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Application filed by Richemont International SA filed Critical Richemont International SA
Publication of EP3002637A1 publication Critical patent/EP3002637A1/fr
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Publication of EP3002637B1 publication Critical patent/EP3002637B1/fr
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    • G—PHYSICS
    • G04—HOROLOGY
    • G04B—MECHANICALLY-DRIVEN CLOCKS OR WATCHES; MECHANICAL PARTS OF CLOCKS OR WATCHES IN GENERAL; TIME PIECES USING THE POSITION OF THE SUN, MOON OR STARS
    • G04B13/00—Gearwork
    • G04B13/02—Wheels; Pinions; Spindles; Pivots
    • G04B13/021—Wheels; Pinions; Spindles; Pivots elastic fitting with a spindle, axis or shaft
    • G04B13/022—Wheels; Pinions; Spindles; Pivots elastic fitting with a spindle, axis or shaft with parts made of hard material, e.g. silicon, diamond, sapphire, quartz and the like
    • G—PHYSICS
    • G04—HOROLOGY
    • G04B—MECHANICALLY-DRIVEN CLOCKS OR WATCHES; MECHANICAL PARTS OF CLOCKS OR WATCHES IN GENERAL; TIME PIECES USING THE POSITION OF THE SUN, MOON OR STARS
    • G04B15/00—Escapements
    • G04B15/14—Component parts or constructional details, e.g. construction of the lever or the escape wheel
    • G—PHYSICS
    • G04—HOROLOGY
    • G04B—MECHANICALLY-DRIVEN CLOCKS OR WATCHES; MECHANICAL PARTS OF CLOCKS OR WATCHES IN GENERAL; TIME PIECES USING THE POSITION OF THE SUN, MOON OR STARS
    • G04B17/00—Mechanisms for stabilising frequency
    • G04B17/32—Component parts or constructional details, e.g. collet, stud, virole or piton
    • G—PHYSICS
    • G04—HOROLOGY
    • G04B—MECHANICALLY-DRIVEN CLOCKS OR WATCHES; MECHANICAL PARTS OF CLOCKS OR WATCHES IN GENERAL; TIME PIECES USING THE POSITION OF THE SUN, MOON OR STARS
    • G04B31/00—Bearings; Point suspensions or counter-point suspensions; Pivot bearings; Single parts therefor
    • G04B31/004—Bearings; Point suspensions or counter-point suspensions; Pivot bearings; Single parts therefor characterised by the material used

Definitions

  • the present invention relates to a clock system in which a contact occurs between two components involving sliding with or without impact.
  • the invention relates to an escapement comprising an escapement wheel cooperating mechanically with levees of an anchor in which a first functional zone comes into frictional contact with a second functional zone.
  • the exhaust systems are difficult to develop because they are the compromise between the lowest possible inertia and the best tribological properties possible, especially the lifts and the range of the anchor.
  • the mastery of lubrication and the stability of the oils over time are essential conditions for the sustainable operation of the system. Thus, it is difficult to avoid snags between the different elements of the exhaust due to poor lubrication conditions, either related to the amount and / or degradation of the lubricant.
  • the tribological behavior of the surfaces in frictional contact between the teeth of the escape wheel and the lifts of the anchor can be improved by the addition of an outer covering.
  • the document CH702799 discloses an exhaust system in which the escape wheel and the anchor are made of silicon partially coated with a DLC type layer.
  • EP2631721 discloses an exhaust system in which a portion of the anchor and escape wheel, made of titanium, is coated with a diamond layer to improve the tribological properties.
  • the invention relates to a method of manufacturing a watch system in which the topography of the surface of at least a first functional area of a first component and / or the topography of the surface of at least a second functional zone. of a second component is modified according to claim 1.
  • the invention also relates to the use of nanostructured surfaces on the functional areas in a watch system in which a contact occurs (at least at certain times during operation of the system) between two components involving sliding with or without impact, for to respond optimally to the different types of tribological solicitations (shocks, friction and wear) encountered during the operating phases, while avoiding the problems associated with the use of a liquid lubricant.
  • tribological solicitations shocks, friction and wear
  • the watch system is an exhaust whose functional areas are on the levies and / or the teeth of the escape wheels.
  • the invention also relates to a timepiece anchor escapement comprising an escape wheel and an anchor provided with an entry lift and an exit lift, each of the lifts being arranged in a manner to cooperate with teeth of the escape wheel; each of the lifts comprising a first functional zone and each of the teeth comprising a second functional zone coming into frictional contact with the first functional zone, when one of the lifts cooperates with one of the teeth; at least one of the first functional zone and the second functional zone comprising a controlled submicron structuring.
  • the figure 1 illustrates an exhaust 1 for a timepiece.
  • the exhaust 1 comprises in particular an escape wheel, comprising an escape wheel 3 mounted integral with a pivoting exhaust pinion, an anchor 2 pivotally mounted on an anchor rod 23, and a plate 4 driven on a rocker shaft 40.
  • the anchor 2 comprises arms 21 comprising lifts 22 and 22'cooperating with teeth 31 of the escape wheel 3.
  • the plate 4 comprises a small plate 41 provided with a notch 42 and a large plate 43 provided with an anchor (not shown in FIG. figure 1 ).
  • the rod 20 comprises a dart 24 and a fork 25.
  • the dart 24 is intended to cooperate with the small plate 41 to prevent accidental movements of the fork 25.
  • the fork 25 may be mounted above the dart 24 and comprise two horns 26 intended to come into contact with the large plate pin 43, according to the rotation of the pin, to cause the anchor 2 to pivot about its rod 23 according to a movement back and forth.
  • the figure 2 illustrates the movement back and forth of the anchor 2 of the exhaust 1 during its operation.
  • the escape wheel 3 is first blocked by the entry lift 22.
  • One of the teeth 31 of the escape wheel 3 is in contact with a rest plane 222 of the entry lift 22.
  • figure 2a In a phase of release ( figure 2a ), the rest plane 222 of the lift slides on a rest plane 312 of the wheel 3.
  • the figure 3 shows a detail of the entry lift 22 and a tooth 31 during the disengagement phase.
  • figure 3a shows the rest plane 222 of the entry lift 22 sliding along a tooth rest plane 312.
  • an impulse phase ( figure 2b ) a pulse plane 311 of the tooth 31 is in contact with the pulse plane 221 of the input lift 22.
  • the torque of the escape wheel 3 (due to the rotation of the escape wheel 3) is transmitted to the anchor 2 via the lift 22.
  • the input lift 22 "rises” under the force that results from the rotation of the anchor 2 , while the output lift 22 'goes down.
  • the figure 3b shows a detail of the input lift 22 and a tooth 31 where the pulse plane 221 of the input lift 22 slides along the pulse plane of the tooth 311. The pulse ends when the pulse plane 221 of the input lift 22 is no longer in contact with the tooth 31. The escape wheel 3 is thus released.
  • a first functional zone 200 may comprise a portion of the inlet 22 and outlet lift 22 'which is in frictional contact with one of the teeth 31 of the escape wheel 3 when the escapement 1 is in motion.
  • a second functional zone 300 may comprise a portion of the tooth 31 in contact with each other. friction with one of the lifting 22, 22 'of the anchor 2, when the escapement 1 is in motion.
  • At least one of the first functional zone 200 and the second functional zone 300 comprises a controlled submicron structuring as illustrated in FIGS. Figures 4a and 4b .
  • controlled submicron structuring is intended to mean a pattern voluntarily fabricated on the surface of the first and / or second functional zone 200, 300 by structuring means, for example by lithographic or other methods.
  • the structuring of the surface is specifically controlled unlike the structures corresponding to the intrinsic roughness of a surface in its natural state or after a manufacturing step (for example etching) for shaping the core of the material.
  • structures are formed on the surface by a shaping step of the surface that allows a control of their geometry (height, width, angle of inclination, general shape), their distribution and their density.
  • These structures may have different polarities with respect to the surface, that is, they may be pillar / hill (positive polarity) or hole / valley (negative polarity).
  • the density of the structures formed on the structured surface varies from 15% -80% of the surface, and more preferably from 20% to 60%.
  • the distribution of these structures may be regular or irregular depending on the application.
  • the structures formed generally have dimensions in the range of 1 to 1000 nm, preferably 10 to 800 nm. Also, the edges of the formed structures may have rounded or more defined shapes.
  • the surfaces are sub-micronically structured as pillars ( figure 4a ) and / or holes ( figure 4b ) which have a width of 300 to 600 nm and a height of 200 to 600 nm.
  • the first functional zone 200 comprises the lifting pulse plane 221 cooperating with the tooth pulse plane 311 of one of the teeth 31 between the phases of disengagement and fall of the escapement 1.
  • the first functional zone 200 may also comprise the lifting rest plane 222 cooperating with a rest plane 312 of one of the teeth 31 during a release and fall phase of the escapement 1.
  • the second functional zone 300 comprises the tooth impulse planes 311 of the teeth 31 cooperating with the lifting impulse plane 221, between the phases of disengagement and fall of the escapement 1.
  • the second functional zone 300 may also comprise the tooth rest plane 312 of the teeth 31 cooperating with the lifting rest plane 222, during a phase of disengagement and fall of the escapement 1.
  • the controlled submicron structuring comprises a substantially different typology in the raising pulse plane 221 than that in the raising rest plane 222.
  • first functional zone 200 and the second functional zone 300 comprise controlled submicron structuring; and the controlled submicron patterning has a substantially different typology in the tooth rest plane 312 than that in the tooth pulse plane 311.
  • Controlled submicron structuring on the functional areas of the lifts 22, 22 'and / or the teeth 31 makes it possible to respond optimally to the different types of tribological solicitations (shocks, friction and wear) encountered during the phases of the escape (release, impulse, fall).
  • the combination of several typologies on the first and / or second functional zone 200, 300 makes it possible to respond independently and optimally to each of the demands of the function of the escapement. For example, in the case of the disengagement and fall phase, the shock-related wear between the rest plane 312 of each of the teeth 31 of the escape wheel 3 and the rest plane 222 of each of the lifts 22 can be minimized by a choice of the typology of controlled submicron structuring.
  • the impact resistance can also be controlled by the choice of materials according to performance indicators such as K 1c 3 / (E 2 (1-2) v 3 ) where K 1c denotes the tenacity of the material , v its Poisson's ratio and E its Young's modulus, by the breaking strength limit R m .
  • K 1c denotes the tenacity of the material , v its Poisson's ratio and E its Young's modulus
  • R m Several ceramic materials, belonging for example to the families of carbides or nitrides such as WC, BN, SiC, or MgO, ZrO doped Y or Mg and Sialon (Si 3 Al 3 O 3 N 5 ) having Rm values greater than 200 MPa associated with performance indicators greater than 0.01 [Pa.m 3/2 ] are for example adapted to this type of contact.
  • the choice of the typology of submicron surface and volume structuring of the material can be done in such a way as to absorb the impact energy without causing
  • the typology of the controlled submicron structuring, and / or the material may be varied in order to adapt to the change in mechanical stresses.
  • the dimensional characteristics of the typology of submicron structuring controlled as described above for the clearance phase also applies for the pulse phase.
  • the choice of the typology of the controlled submicron structuring and the material is guided by obtaining, for the first and second functional zone 200, 300, a low and constant coefficient of friction, nonadhesive properties, a rate of controlled wear with the aid of an adequate third body flux controlled by the trapping of debris and their accumulation in adjacent concave zones of controlled submicron structuring, the absence of a "stick and slip” phenomenon related to a reduction the difference between the static and dynamic friction coefficients in the contact conditions.
  • All or parts of the tribological properties described above can advantageously be obtained by forming submicron structures with biomimetic patterns.
  • these are, for example, the motif of the lotus leaf (lotus effect), the pattern of the ventral scales of the Python regius ( HA Abdel-Aal and M El Mansori 2013 Surf. Topogr .: Metrol. Prop. 1 015001 ) or scales of the Scincus Scincus sands ( I. Rechenberg, El Khyeri AR, The Sandfish of the Sahara. A model for friction and wear reduction. Department of Bionics and Evolution Techniques, Technical University of Berlin. Green Tribology: Biomimetics, Energy Conversion and Sustainability, M. Nosonovsky, B.
  • At least one of the first functional zone 200 and the second functional zone 300 may comprise different material and structure choices, or even an absence of controlled submicron structuring.
  • the controlled submicron structuring may comprise one or a combination of several different typologies and different materials so as to meet independently and optimally at each of the demands of the function of the exhaust.
  • the first functional zone 200 comprises a coating 61 formed on the lift 22, 22 'of the anchor 2 (see FIG. Figures 3a and 3b ), in particular, on the lift pulse plane 221 and the lift rest plane 222.
  • the second functional zone 300 may also comprise a coating 62 formed on the tooth 31, i.e., on the tooth rest plane 312 and tooth pulse plane 311.
  • the coating 61, 62 may be fabricated in the selected material (s) and includes the controlled submicron patterning.
  • the coating 61 formed on the lift 22, 22 ' may also be different (material, structuring, etc.) than the coating 62 formed on the tooth 31.
  • the body of the anchor 2, and / or the lifts 22, 22 ', and the wheel 3, and / or the teeth 31, are made of a material which differs from that or those
  • the coating material (s) 61, 62 may therefore also be chosen to facilitate the realization of controlled submicron structuring.
  • Such a configuration allows greater flexibility for carrying out the controlled submicron structuring. It is indeed possible to combine a material having optimum mechanical properties for the manufacture of the anchor, and / or lifts 22, 22 ', with one or more coating materials, which are optimal for the tribological properties and for the machining of the structuring. submicron controlled.
  • the coating (s) 61, 62 can be obtained by various physical and / or chemical deposition processes, by chemical and / or thermal treatment, and can be chosen from families of layers comprising between other variants of oxides, nitrides, carbides or allotropic forms of carbon.
  • the controlled submicron structuring comprises the modifications of the surface topography (nanometric relief), of its chemical composition, of its structure chemical (composition and position of atoms in the mesh), independently or simultaneously.
  • it does not include the control of the surface texturing, that is to say the orientation of the crystalline planes of the material in a preferential direction determined as described in WO2013 / 011032A1 .
  • a phase transformation of alumina y (cubic symmetry) to ⁇ alumina (hexagonal symmetry) can be implemented by local heating using means known to those skilled in the art. the purpose of reducing the coefficient of friction and the rate of wear. This phase transformation can be performed without necessarily causing a modification of the topography without departing from the scope of the present invention.
  • controlled submicron structuring is controlled in a controlled manner by selectively etching the exposed surface through wet or dry chemistry through an etching or sparing mask.
  • etching or sparing mask will include, inter alia, plasma etching processes of the RIE or DRIE type using fluorinated gases (typically CF 4 or SF 6 ) for substrates made of silicon and other materials derived from silicon.
  • fluorinated gases typically CF 4 or SF 6
  • Other etching solutions known to those skilled in the art can be used depending on the nature of the materials to be etched.
  • the etching mask may, by way of example, be obtained by transferring an interference or holographic figure on a photoresist (( IB Divliansky, A. Shishido, I.
  • the colloidal lithography method makes it possible to immobilize particles of controlled size on the surfaces to be etched, by "spin-coating" technique or by Langmuir-Blodgett.
  • the control of the particle diameter as well as the concentration of these particles in the colloidal solutions makes it possible to adjust the dimensional characteristics of the typology of the controlled submicron structuring, and in particular the density and the size of the structures.
  • the colloidal lithography method is more economical than most other lithography methods.
  • the controlled submicron patterning is machined by a Direct Laser Interference Patterning (DLIP) method.
  • DLIP Direct Laser Interference Patterning
  • the principle makes use of the interference between two or more laser beams as in the case of holographic lithography, this time irradiating directly the material to be machined.
  • the nanostructuring process relies on photo thermal, photo-physical or photochemical mechanisms, depending on the type of material, and on the non-linear absorption of laser energy.
  • the DLIP method allows the production of periodic correlated and organized structures.
  • controlled submicron structuring is machined using a replication technique, such as "nano-imprinting” or “soft lithography” techniques.
  • the controlled submicron structuring is machined using an anodizing method applicable by way of example and non-exhaustively to aluminum, titanium or silicon.
  • the controlled submicron structuring is performed by deposition of tribological layers on previously machined nanostructures, for example by one of the methods above.
  • controlled submicron structuring is performed with heterogeneous surfaces obtained, for example, by immobilizing solid lubricants in previously machined structures, for example by one of the methods above.
  • solid lubricants may include PTFE, ionic liquids, etc.
  • the controlled submicron structuring is carried out with heterogeneous surfaces obtained by immobilizing wear debris in previously machined structures, for example by one of the above methods. Wear debris contributes to solid lubrication.
  • FIGs 5a and 5b show examples of typologies of controlled submicron structures.
  • figure 5a shows different examples of typologies of machined structures comprising, from top to bottom, a triangular structuring with a constant frequency; with increasing spacing between each triangular structure; featuring triangular structures and pointed structures; or having hybrid structures comprising a crenellated structure and pointed structures.
  • the figure 5b shows other examples of hybrid typologies including a combination of typologies as well as a combination of materials.
  • Controlled submicron structuring of the invention provides energetic, chronometric and economical benefits.
  • the improvement of the operating performance of the escapement 1 is obtained by choosing a typology of the controlled submicron structuring and the composition of the materials, for example for each of the phase phases of the exhaust function, namely the clearance, the impulse and the fall.
  • one advantage is the stability of the chronometric performances over time, acquired by the stability of the coefficient of friction for each phase of the escapement.
  • Table 1 reports a value and the standard deviation of the coefficient of friction measured under initial conditions and after 10,000 friction cycles for samples having an unstructured surface, with a structure having pillars of a diameter of 700 nm and a density of 21%, with a structure having holes having a diameter of 300 nm and a density of 55%, and with a structure having holes having a diameter of 700 nm and a density of 21%.
  • the table also reports the average wear rate values of the unstructured counterpart.
  • Another advantage is the increase in wear resistance providing an increase in the service life of the exhaust or other watch system, as well as adjacent functions by reducing the risk of contamination by debris. 'wear.
  • controlled submicron structuring in dry lubrication conditions can overcome the constraints of wet lubrication, in particular the need for periodic revisions of the function.
  • parallelism defects or other geometrical defects can be compensated during the pulse phase by the use of controlled submicron structuring with controlled wear or deformation leading to accommodation of the surfaces and thereby reducing the actual contact pressures.
  • the functional zone or zones may be structured and subsequently covered by a thin layer (for example a layer deposited by the ALD (atomic layer deposition) method without affecting the effect of sub-micron controlled sub-patterning.
  • a thin layer for example a layer deposited by the ALD (atomic layer deposition) method without affecting the effect of sub-micron controlled sub-patterning.
  • a controlled submicron patterning of the invention comprising one or a combination of typologies as well as a combination of materials, can be applied to other watch system components undergoing frictional contact.
  • the controlled submicron patterning of the invention can be applied to the plateau peg and the anchor fork.
  • Controlled submicron structuring can also be applied to functional areas in frictional contact with escapements other than anchor escapement, in cam and auger systems, in ratchet and gear systems, in jumper systems and discs, in lever and lever systems, in clutch or brake systems, or any other clock systems when these comprise one or more functional areas in frictional contact involving sliding with or without impact.

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Description

    Domaine technique
  • La présente invention concerne un système horloger dans lequel a lieu un contact entre deux composants impliquant un glissement avec ou sans choc. Par exemple, l'invention concerne un échappement comprenant une roue d'échappement coopérant mécaniquement avec des levées d'une ancre dans lequel une première zone fonctionnelle vient en contact de frottement avec une seconde zone fonctionnelle.
    • Etat de la technique
  • Les systèmes d'échappement sont difficiles à mettre au point car ils sont le compromis entre une inertie la plus faible possible et les meilleures propriétés tribologiques possibles, en particulier des levées et de la fourchette de l'ancre. La maitrise de la lubrification et la stabilité des huiles dans le temps sont des conditions essentielles au fonctionnement durable du système. Ainsi, il est difficile d'éviter les collements entre les différents éléments de l'échappement en raison de mauvaises conditions de lubrification, soit liées à la quantité et/ou à la dégradation du lubrifiant. Les mêmes difficultés peuvent affecter d'autres systèmes horlogers dans lequel a lieu un contact entre deux composants impliquant un glissement, comme par exemple la cheville de plateau et la fourchette de l'ancre, une came et un puiseur, un cliquet et une roue dentée, un sautoir et un disque, ou d'autres systèmes horlogers comprenant des bascules ou des leviers pivotants.
  • Le comportement tribologique des surfaces en contact de frottement entre les dents de la roue d'échappement et les levées de l'ancre peut être amélioré par l'ajout d'un revêtement extérieur. Par exemple, le document CH702799 décrit un système d'échappement dans lequel la roue d'échappement et l'ancre sont fabriqués en silicium partiellement revêtu d'une couche de type DLC.
  • Le document EP2631721 décrit un système d'échappement dans lequel une portion de l'ancre et de la roue d'échappement, fabriqués en titane, est revêtue d'une couche de diamant afin d'améliorer les propriétés tribologiques.
    • Bref résumé de l'invention
  • L'invention porte sur un procédé de fabrication d'un système horloger dans lequel la topographie de la surface d'au moins une première zone fonctionnelle d'un premier composant et/ou la topographie de la surface d'au moins une seconde zone fonctionnelle d'un deuxième composant est modifiée selon la revendication 1.
  • L'invention porte également sur l'utilisation de surfaces nanostructurées sur les zones fonctionnelles dans un système horloger dans lequel a lieu un contact (du moins à certains moments lors du fonctionnement du système) entre deux composants impliquant un glissement avec ou sans choc, pour répondre de manière optimale aux différents types de sollicitations tribologiques (chocs, frottement et usure) rencontrées pendant les phases de fonctionnement, tout en s'affranchissant des problématiques liées à l'utilisation d'un lubrifiant liquide. Pour une même surface fonctionnelle, la combinaison de plusieurs typologies de nanostructuration et de matériaux permet de répondre indépendamment et de manière optimale à chacune des sollicitations de la fonction du système.
  • Dans une forme d'exécution, le système horloger est un échappement dont les zones fonctionnelles se trouvent sur les levées et/ou les dents des roues d'échappement. Dans ce cas, l'invention concerne également un échappement à ancre pour pièce d'horlogerie comportant une roue d'échappement et une ancre munie d'une levée d'entrée et d'une levée de sortie, chacune des levées étant arrangée de manière à coopérer avec des dents de la roue d'échappement; chacune des levées comprenant une première zone fonctionnelle et chacune des dents comprenant une seconde zone fonctionnelle venant en contact de frottement avec la première zone fonctionnelle, lorsque l'une des levées coopère avec l'une des dents; au moins l'une de la première zone fonctionnelle et de la seconde zone fonctionnelle comportant une structuration submicronique contrôlée.
  • Selon d'autres formes d'exécution, le système horloger peut comprendre:
    • la cheville de plateau et la fourchette de l'ancre dans un échappement,
    • une came et un puiseur,
    • un cliquet et une roue dentée,
    • un sautoir et un disque, ou
    • un disque d'embrayage et un ressort
    • un disque de freinage et un sabot
    • un autre type de système horloger comprenant une bascule ou un levier pivotant.
  • Cette solution présente notamment l'avantage par rapport à l'art antérieur d'obtenir un système horloger dans lequel a lieu un contact entre deux composants impliquant un glissement avec ou sans choc, et où les propriétés tribologiques, et donc les performances de fonctionnement, sont améliorées.
    • Brève description des figures
  • Des exemples de mise en oeuvre de l'invention sont indiqués dans la description illustrée par les figures annexées dans lesquelles :
    • la figure 1 illustre un échappement pour une pièce d'horlogerie, comprenant une ancre et une roue d'échappement;
    • la figure 2 illustre le mouvement de l'ancre et de la roue d'échappement lors du fonctionnement de l'échappement, pendant une phase de dégagement (figure 2a), une phase d'impulsion (figure 2b), et une phase de chute (figure 2c), selon un mode de réalisation;
    • la figure 3 montre un détail d'une levée d'entrée de l'ancre et d'une dent de la roue d'échappement pendant la phase de dégagement, selon un mode de réalisation ;
    • les figures 4a et 4b montrent des surfaces nanostructurées exemplaires pour les zones fonctionnelles des composants d'un système horloger;
    • les figures 5a et 6b montrent des exemples de typologies de structurations submicronique contrôlées.
    Exemple(s) de mode de réalisation de l'invention
  • La figure 1 illustre un échappement 1 pour une pièce d'horlogerie. L'échappement 1 comprend notamment un mobile d'échappement, comprenant une roue d'échappement 3 montée solidaire d'un pignon d'échappement 30 pivotant, une ancre 2 montée pivotante sur une tige d'ancre 23, et un plateau 4 chassé sur un axe de balancier 40. L'ancre 2 comporte des bras 21 comprenant des levées 22 et 22'coopérant avec des dents 31 de la roue d'échappement 3.
  • Dans l'exemple illustré, le plateau 4 comprend un petit plateau 41 muni d'une encoche 42 et un grand plateau 43 muni d'une cheville (non représentée sur la figure 1). A l'extrémité opposée aux bras 21, la baguette 20 comporte un dard 24 et une fourchette 25. Le dard 24 est destiné à coopérer avec le petit plateau 41 afin d'empêcher les déplacements accidentels de la fourchette 25. La fourchette 25 peut être montée à l'aplomb du dard 24 et comprendre deux cornes 26 destinées à entrer en contact avec la cheville de grand plateau 43 afin, suivant la rotation de la cheville, d'entraîner l'ancre 2 en pivotement autour de sa tige 23 selon un mouvement de va-et-vient.
  • La figure 2 illustre le mouvement de va-et-vient de l'ancre 2 de l'échappement 1 lors de son fonctionnement. En particulier, le mouvement de l'échappement se décompose, lors d'une alternance, en trois phases. La roue d'échappement 3 est d'abord bloquée par la levée d'entrée 22. Une des dents 31 de la roue d'échappement 3 est en contact avec un plan de repos 222 de la levée d'entrée 22.
  • Dans une phase de dégagement (figure 2a), le plan de repos 222 de la levée glisse sur un plan de repos 312 de la roue 3. La figure 3 montre un détail de la levée d'entrée 22 et d'une dent 31 pendant la phase de dégagement. En particulier, la figure 3a montre le plan de repos 222 de la levée d'entrée 22 glissant le long d'un plan de repos de dent 312.
  • Dans une phase d'impulsion (figure 2b), un plan d'impulsion 311 de la dent 31 est en contact avec le plan d'impulsion 221 de la levée d'entrée 22. Durant cette phase, le couple de la roue d'échappement 3 (dû à la rotation de la roue d'échappement 3) est transmis à l'ancre 2 par l'intermédiaire de la levée 22. De façon analogue, la levée d'entrée 22 "monte", sous l'effort qui résulte de la rotation de l'ancre 2, pendant que la levée de sortie 22' descend. La figure 3b montre un détail de la levée d'entrée 22 et d'une dent 31 où le plan d'impulsion 221 de la levée d'entrée 22 glisse le long du plan d'impulsion de la dent 311. L'impulsion se termine lorsque le plan d'impulsion 221 de la levée d'entrée 22 n'est plus en contact avec la dent 31. La roue d'échappement 3 est ainsi libérée.
  • Dans une phase de chute (figure 2c), la dent 31 n'est plus en contact avec la levée d'entrée 22 et la roue d'échappement 3 peut alors tourner. La roue d'échappement 3 tourne jusqu'à ce qu'un plan de repos 312 d'une des dents 31 entre en contact avec le plan de repos 222 de la levée de sortie 22'.
  • Une première zone fonctionnelle 200 peut comprendre une portion de la levée d'entrée 22 et de sortie 22' qui est en contact de frottement avec l'une des dents 31 de la roue d'échappement 3, lorsque l'échappement 1 est en mouvement. De façon similaire, une seconde zone fonctionnelle 300 peut comprendre une portion de la dent 31 en contact de frottement avec l'une des levée 22, 22' de l'ancre 2, lorsque l'échappement 1 est en mouvement.
  • Dans un mode de réalisation, au moins l'une de la première zone fonctionnelle 200 et de la seconde zone fonctionnelle 300 comporte une structuration submicronique contrôlée comme illustrée dans les figures 4a et 4b. Par l'expression "structuration submicronique contrôlée" on entend une structuration fabriquée volontairement à la surface de la première et/ou seconde zone fonctionnelle 200, 300 par des moyens de structuration, par exemple par procédés lithographiques, ou autres.
  • Selon l'invention, la structuration de la surface est spécifiquement contrôlée contrairement aux structures correspondant à la rugosité intrinsèque d'une surface dans son état naturel ou après une étape de fabrication (par exemple la gravure) pour la mise en forme de l'âme du matériau. Pour cela des structures sont formées sur la surface par une étape de mise en forme de la surface qui permet un contrôle de leur géométrie (hauteur, largeur, angle d'inclinaison, forme générale), de leur distribution et de leur densité. Ces structures peuvent avoir différentes polarités vis-vis de la surface, c'est-à-dire qu'elles peuvent être en forme de pilier/colline (polarité positive) ou en forme de trou/vallée (polarité négative).
  • De préférence, la densité des structures formées sur la surface structurée varient d'entre 15%-80% de la surface, et de manière plus privilégiée entre 20% à 60%. La distribution de ces structures peut être régulière ou irrégulière selon l'application. Les structures formées ont généralement des dimensions dans la plage de 1 à 1000 nm, de préférence entre 10 à 800 nm. Aussi, les bords des structures formées peuvent avoir des formes arrondies ou plus définies.
  • Selon un exemple, les surfaces sont structurées submicroniquement sous forme de piliers (figure 4a) et/ou de trous (figure 4b) qui ont une largeur de 300 à 600 nm et une hauteur de 200 à 600 nm.
  • Dans les exemples illustrés dans les figures 2 et 3, la première zone fonctionnelle 200 comporte le plan d'impulsion de levée 221 coopérant avec le plan d'impulsion de dent 311 d'une des dents 31 entre les phases de dégagement et de chute de l'échappement 1.
  • La première zone fonctionnelle 200 peut également comporter le plan de repos de levée 222 coopérant avec un plan de repos 312 d'une des dents 31 lors d'une phase de dégagement et de chute de l'échappement 1.
  • De même, la seconde zone fonctionnelle 300 comporte les plans d'impulsion de dent 311 des dents 31 coopérant avec le plan d'impulsion de levée 221, entre les phases de dégagement et de chute de l'échappement 1.
  • La seconde zone fonctionnelle 300 peut également comporter le plan de repos de dent 312 des dents 31 coopérant avec le plan de repos de levée 222, lors d'une phase de dégagement et de chute de l'échappement 1.
  • Dans un mode de réalisation, la structuration submicronique contrôlée comporte une typologie sensiblement différente dans le plan d'impulsion de levée 221 que celle dans le plan de repos de levée 222.
  • Dans un autre mode de réalisation, la première zone fonctionnelle 200 et la seconde zone fonctionnelle 300 comportent une structuration submicronique contrôlée; et la structuration submicronique contrôlée comporte une typologie sensiblement différente dans le plan de repos de dent 312 que celle dans le plan d'impulsion de dent 311.
  • La structuration submicronique contrôlée sur les zones fonctionnelles des levées 22, 22' et/ou des dents 31 permet de répondre de manière optimale aux différents types de sollicitations tribologiques (chocs, frottement et usure) rencontrées pendant les phases de l'échappement (dégagement, impulsion, chute).
  • La combinaison de plusieurs typologies sur la première et/ou seconde zone fonctionnelle 200, 300 permet de répondre indépendamment et de manière optimale à chacune des sollicitations de la fonction de l'échappement. Par exemple, dans le cas de la phase de dégagement et de chute, l'usure liée aux chocs entre le plan de repos 312 de chacune des dents 31 de la roue d'échappement 3 et le plan de repos 222 de chacune des levées 22 peut être minimisée par un choix de la typologie de la structuration submicronique contrôlée.
  • Toujours dans la phase de dégagement, la résistance aux chocs peut également être contrôlé par le choix des matériaux selon des indicateurs de performance tel que K1c 3/ (E2 (1-2)v3) où K1c désigne la ténacité du matériau, v son coefficient de Poisson et E son module de Young, par la limite de résistance à la rupture Rm. Plusieurs matériaux céramiques, appartenant par exemple aux familles des carbures ou des nitrures tels que WC, BN, SiC, ou encore MgO, ZrO dopé Y ou Mg et Sialon (Si3Al3O3N5) présentant des valeurs de Rm supérieures à 200 MPa associés à des indicateurs de performance supérieurs à 0.01 [Pa.m3/2] sont par exemple adaptés à ce type de contact. Le choix de la typologie de la structuration submicronique de surface et en volume du matériau peut être fait de manière à absorber l'énergie du choc sans causer de dommage aux zones d'impact et zones adjacentes.
  • Dans le cas de la phase d'impulsion, les aspects définis pour la phase de dégagement restent valables pour la phase d'impulsion. A ces critères s'ajoutent de nouveaux indices de performance quantifiant le niveau de résistance à l'usure par chargement et frottements tangentiels, tel que le ratio H3/E2 où H est la dureté du matériau, le ratio Re3/E2 où Re est la limite élastique, de même que par la typologie de la structuration.
  • Selon que l'on se situe dans la zone de choc de la surface 200, 300 ou dans sa zone de glissement, la typologie de la structuration submicronique contrôlée, et/ou le matériau, pourront être variés afin de s'adapter au changement de sollicitations mécaniques. Les caractéristiques dimensionnelles de la typologie de la structuration submicronique contrôlée telles que décrites ci-dessus pour la phase de dégagement s'applique également pour la phase d'impulsion.
  • Le choix de la typologie de la structuration submicronique contrôlée et du matériau est guidé par l'obtention, pour la première et seconde zone fonctionnelle 200, 300, d'un coefficient de frottement faible et constant, des propriétés antiadhésives, d'un taux d'usure maitrisé à l'aide d'un flux de troisième corps adéquat contrôlé par le piégeages des débris et leur accumulation dans des zones concaves adjacentes de la structuration submicronique contrôlée, de l'absence de phénomène « stick and slip » lié à une réduction de la différence entre les coefficients de frottement statiques et dynamiques dans les conditions du contact.
  • Toutes ou parties des propriétés tribologiques décrites ci-dessus peuvent avantageusement être obtenues en formant des structures submicroniques avec des motifs biomimétiques. Parmi ceux-ci, on retrouve par exemple le motif de la feuille de lotus (effet lotus), le motif des écailles ventrales du Python regius (H A Abdel-Aal and M El Mansori 2013 Surf. Topogr.: Metrol. Prop. 1 015001) ou les écailles du poisson des sables Scincus Scincus (Rechenberg I., El Khyeri A. R., The Sandfish of the Sahara. A model for friction and wear réduction. Department of Bionics and Evolution Techniques, Technical University of Berlin. Green Tribology: Biomimetics, Energy Conversion and Sustainability, M. Nosonovsky, B. Bhushan, Ed. Springer, 2012). Dans le dernier cas cité, la réduction du coefficient de frottement est vraisemblablement obtenue par un effet de répulsion électrostatique entre la surface texturée et son antagoniste. L'usure quant à elle est réduite par la fonctionnalisation de surface de ce motif à l'aide de glycoprotéines et/ou de carbohydrates.
  • Au moins l'une de la première zone fonctionnelle 200 et de la seconde zone fonctionnelle 300 peut comprendre des choix de matériaux et structurations différentes, voire une absence de structuration submicronique contrôlée. D'autre part, la structuration submicronique contrôlée peut comprendre une ou une combinaison de plusieurs typologies différentes et de matériaux différents de manière à répondre indépendamment et de manière optimale à chacune des sollicitations de la fonction de l'échappement.
  • Dans un mode de réalisation, la première zone fonctionnelle 200 comprend un revêtement 61 formé sur la levée 22, 22' de l'ancre 2 (voir figures 3a et 3b), en particulier, sur le plan d'impulsion de levée 221 et le plan de repos de levée 222. La seconde zone fonctionnelle 300 peut également comprendre un revêtement 62 formé sur la dent 31, c'est-à-dire, sur le plan de repos de dent 312 et le plan d'impulsion de dent 311. Le revêtement 61, 62 peut être fabriqué dans le ou les matériaux choisis et comporte la structuration submicronique contrôlée. Le revêtement 61 formé sur la levée 22, 22' peut en outre être différent (matériau, structuration, etc.) que le revêtement 62 formé sur la dent 31.
  • Dans ce cas, on peut imaginer que le corps de l'ancre 2, et/ou des levées 22, 22', et de la roue 3, et/ou des dents 31, soient fabriqués dans un matériau qui diffère de celui ou ceux composant le revêtement 61, 62. Le ou les matériaux composant le revêtement 61, 62 peuvent donc être choisis également de manière à faciliter la réalisation de la structuration submicronique contrôlée. Une telle configuration permet une plus grande souplesse pour la réalisation de la structuration submicronique contrôlée. On peut effectivement combiner un matériau ayant des propriétés mécaniques optimales pour la fabrication de l'ancre, et/ou des levées 22, 22', avec un ou des matériaux de revêtement, optimaux pour les propriétés tribologiques et pour l'usinage de la structuration submicronique contrôlée. A titre d'exemple et de manière non exhaustive, le ou les revêtements 61, 62 peuvent être obtenus par différents procédés de déposition physique et/ou chimique, par traitement chimique et/ou thermique, et être choisis parmi les familles de couches comprenant entre autres des variantes d'oxydes, de nitrures, de carbures ou formes allotropiques du carbone.
  • Dans un mode de réalisation, la structuration submicronique contrôlée comprend les modifications de la topographie de la surface (relief nanométrique), de sa composition chimique, de sa structure chimique (composition et position des atomes dans la maille), indépendamment ou simultanément. Elle ne comprend toutefois pas le contrôle de la texturation de surface, c'est-à-dire l'orientation des plans cristallins du matériau dans une direction préférentielle déterminée comme décrit dans WO2013/011032A1 . A titre d'exemple, une transformation de phase de l'alumine y (symétrie cubique) à l'alumine α (symétrie hexagonale) peut être mise en oeuvre par échauffement local à l'aide de moyens connus par l'homme de métier dans le but de réduire le coefficient de frottement et le taux d'usure. Cette transformation de phase peut être réalisée sans nécessairement engendrer une modification de la topographie sans pour autant sortir du cadre de la présente invention.
  • Dans un mode de réalisation, la structuration submicronique contrôlée est fabriquée de manière contrôlée par une gravure sélective de la surface exposée par la voie de la chimie humide ou sèche au travers d'un masque de gravure ou épargne. A titre d'exemple et de manière non exhaustive, ceux-ci comprendront entre autres les procédés de gravure plasma de type RIE ou DRIE utilisant des gaz fluorés (typiquement CF4 ou SF6) pour les substrats en silicium et autres matériaux dérivés du silicium. D'autres solutions de gravure connues par l'homme de métier sont utilisables selon la nature des matériaux à graver. Le masque de gravure peut, à titre d'exemple, être obtenu par le transfert d'une figure interférentielle ou holographique sur une résine photosensible ((I.B. Divliansky, A. Shishido, I. Khoo, T.S. Mayer, D. Pena, S. Nishimura, C.D., Keating, T.E. Mallouk, Appl. Phys. Lett., 79 (2001), 3392), ou par lithographie par faisceau d'électron (E-beam), ou par l'auto-organisation de copolymères à bloc (block copolymer lithography).
  • De manière alternative, une méthode de lithographie colloïdale telle que décrite dans la référence: "Alternative Masks for Nanolithography", D. Ingert*, The Open Physical Chemistry Journal, 2007, 1, 10-17, peut être avantageusement utilisée par la fabrication de la structuration submicronique contrôlée. La méthode de lithographie colloïdale permet d'immobiliser des particules de taille contrôlée sur les surfaces à graver, par technique de « spin-coating » ou par technique de Langmuir-Blodgett. Le contrôle du diamètre des particules ainsi que la concentration de ces particules dans les solutions colloïdales permet d'ajuster les caractéristiques dimensionnelles de la typologie de la structuration submicronique contrôlée, et notamment la densité et la taille des structures. La méthode de lithographie colloïdale est plus économique que la plupart des autres méthodes de lithographie.
  • Dans un autre mode de réalisation, la structuration submicronique contrôlée est usinée par une méthode DLIP (Direct Laser Interference Patterning). Le principe fait usage de l'interférence entre deux ou plusieurs faisceaux laser comme dans le cas de la lithographie holographique, en irradiant cette fois ci directement le matériau à usiner. Le processus de nanostructuration repose sur des mécanismes de nature thermique photo, photo-physique ou photochimiques, selon le type de matériau, et sur l'absorption de l'énergie du laser de manière non linéaire. La méthode DLIP permet la production de structures périodiques corrélées et organisées.
  • Encore dans un autre mode de réalisation, la structuration submicronique contrôlée est usinée à l'aide d'une technique de réplication, comme par exemple les techniques de « nano-imprinting » ou « soft lithography ».
  • Encore dans un autre mode de réalisation, la structuration submicronique contrôlée est usinée à l'aide d'un procédé d'anodisation applicable à titre d'exemple et de manière non exhaustive à l'aluminium, au titane ou au silicium.
  • Encore dans un autre mode de réalisation, la structuration submicronique contrôlée est réalisée par déposition de couches tribologiques sur des nanostructures préalablement usinés, par exemple par l'une des méthodes ci-dessus.
  • Encore dans un autre mode de réalisation, la structuration submicronique contrôlée est réalisée avec des surfaces hétérogènes obtenues, par exemple, par immobilisation de lubrifiants solides dans des structures préalablement usinées, par exemple par l'une des méthodes ci-dessus. Des exemples de lubrifiants solides peuvent comprendre le PTFE, des liquides ioniques, etc.
  • Encore dans un autre mode de réalisation, la structuration submicronique contrôlée est réalisée avec des surfaces hétérogènes obtenues par immobilisation de débris d'usure dans des structures préalablement usinés, par exemple par l'une des méthodes ci-dessus. Les débris d'usure contribuent à la lubrification solide.
  • Les figures 5a et 5b montrent des exemples de typologies de structurations submicronique contrôlées. En particulier, la figure 5a montre différent exemples de typologies de structures usinées comprenant, de haut en bas, une structuration triangulaire avec une fréquence constante; avec un espacement qui augmente entre chaque structure triangulaire; comportant les structures triangulaires et des structures pointues; ou encore comportant des structures hybrides comprenant une structure crénelée et des structures pointues. La figure 5b montre d'autres exemples de typologies hybrides comprenant une combinaison de typologies ainsi qu'une combinaison de matériaux.
  • La structuration submicronique contrôlée de l'invention procure des avantages énergétiques, chronométriques et économiques. Par exemple, l'amélioration des performances de fonctionnement de l'échappement 1 est obtenue en choisissant une typologie de la structuration submicronique contrôlée et la composition des matériaux, par exemple pour chacune des phases phase de la fonction d'échappement, soit le dégagement, l'impulsion et la chute. En particulier, un avantage est la stabilité des performances chronométriques dans le temps, acquises par la stabilité du coefficient de frottement pour chaque phase de l'échappement. La table 1 rapporte une valeur et la déviation standard du coefficient de frottement mesuré dans des conditions initiales et après 10'000 cycles de frottement pour des échantillons comportant une surface non structurée, avec une structure comportant des piliers d'un diamètre de 700 nm et une densité de 21 %, avec une structure comportant des trous ayant un diamètre de 300 nm et une densité de 55%, et avec une structure comportant des trous ayant un diamètre de 700 nm et une densité de 21 %. La table rapporte également les valeurs de taux d'usure moyen de la contre-pièce non structurée. Un autre avantage est l'augmentation de la résistance à l'usure procurant une augmentation de la durée de vie de la fonction de l'échappement ou autre système horloger, ainsi que des fonctions adjacentes par la réduction du risque de contamination par les débris d'usure.
  • L'utilisation de la structuration submicronique contrôlée en conditions de lubrification sèche peut permettre de s'affranchir des contraintes liées à la lubrification humide, en particulier de la nécessité de révisions périodiques de la fonction. En outre, les défauts de parallélisme ou autres défaut géométriques peuvent être compensés pendant la phase d'impulsion par l'utilisation de la structuration submicronique contrôlée à usure ou déformation contrôlée conduisant à une accommodation des surfaces et réduisant ainsi les pressions réelles de contact. Table 1
    Coefficient de frottement Taux d'usure moyen contre-pièce non structurée [10E-16 .m2/N]
    Conditions initiales Après 10'000 cycles de frottement
    Echantillons (n:3) Valeur moyenne Déviation standard Valeur moyenne Déviation standard
    surface non structuré 0.43 0.12 0.81 0.41 4.2
    piliers Ø 700 nm, densité 21% 0.34 0.1 0.32 0.05 0.03
    trous Ø 300 nm, densité 55% 0.37 0.03 0.37 0.01 0.10
    trous Ø 700 nm, densité 21% 0.37 0.04 0.43 0.01 0.11
  • L'utilisation de la structuration submicronique contrôlée en conditions de lubrification humide peut permettre une réduction du coefficient de frottement et l'allongement de la durée de vie des contacts : cet effet est lié à une action des cavités comme autant de petits réservoirs constituant une série de micro-patins à marche responsables d'une augmentation locale de la portance et du cisaillement du lubrifiant. Ce lubrifiant est en effet confiné par la distribution de pression à l'intérieur de la microcavité. Ce confinement conduit localement à la formation d'une phase quasi-solide qui est susceptible de provoquer une déformation élastique et de générer, dans le sens du glissement, une surépaisseur localisée dans la zone de haute pression du contact. La littérature a démontré l'intérêt de ce type d'approche pour le maintien en conditions opérationnelles de contacts travaillant notamment sous fortes pressions («Control of tribological properties of diamond-like carbon films with femtosecond-laser-induced nanostructuring» N. YASUMARU, K. MIYAZAKI, J. KIUCHI,. Applied Surface Science, vol. 254, N° 18, p. 2364-2368, 2008. «Improvement of the tribological behaviour of PVD nanostratified TiN/CrN coatings-An explanation, Surface and Coatings Technology,» vol. 201,N°17, pp. 4119-4129, 2006). La combinaison de surfaces structurées aux huiles traditionnelles permet d'exalter le pouvoir lubrifiant de celles-ci. Cette approche permet d'envisager la lubrification de contacts jusqu'à présent non-lubrifié, comme dans le cas de la tige d'ancre.
  • Il va de soi que la présente invention n'est pas limitée au mode de réalisation qui vient d'être décrit et que diverses modifications et variantes simples peuvent être envisagées par l'homme de métier sans sortir du cadre de la présente invention.
  • Dans une variante, le ou les zones fonctionnelles peuvent être structurées et par la suite recouvertes par une couche mince (par exemple une couche déposée par le procédé ALD (atomic layer déposition) sans affecter l'effet de la structuration submicronique contrôlée en sous.
  • Par exemple, une structuration submicronique contrôlée de l'invention comprenant une ou une combinaison de typologies ainsi qu'une combinaison de matériaux, peut être appliquée à d'autres composants de systèmes horlogers subissant un contact de frottement. Notamment, et de façon non exhaustive, la structuration submicronique contrôlée de l'invention peut être appliquée à la cheville de plateau et la fourchette de l'ancre. La structuration submicronique contrôlée peut également être appliquée à des zones fonctionnelles en contact de frottement dans des échappements autres que l'échappement à ancre, dans des systèmes de cames et de puiseurs, dans des systèmes de cliquets et roue dentés, dans des systèmes de sautoirs et disques, dans des systèmes de bascules et de leviers, dans des systèmes d'embrayage ou de freinage, ou tout autre systèmes horlogers lorsque ceux-ci comprennent une ou des zones fonctionnelles en contact de frottement impliquant un glissement avec ou sans choc.
    • Numéros de référence employés sur les figures
    • 1
    échappement
    2
    ancre
    20
    baguette
    200
    seconde zone fonctionnelle
    21
    bras
    22
    levée d'entrée
    22'
    levée de sortie
    221
    plan d'impulsion de levée
    222
    plan de repos de levée
    23
    tige d'ancre
    24
    dard
    25
    fourchette
    26
    corne
    3
    roue d'échappement
    30
    pignon d'échappement
    300
    première zone fonctionnelle
    31
    dents de la roue d'échappement
    311
    plan d'impulsion de dent
    312
    plan de repos de dent
    4
    plateau
    40
    axe de balancier
    41
    petit plateau
    42
    encoche
    43
    grand plateau
    61
    revêtement des levées
    62
    revêtement de la roue d'échappement

Claims (15)

  1. Procédé de fabrication d'un système horloger (1) comprenant les étapes de:
    fournir un premier composant avec au moins une première zone fonctionnelle (200) et un deuxième composant avec au moins une seconde zone fonctionnelle (300), la première zone fonctionnelle (200) venant en contact de frottement avec la seconde zone fonctionnelle (300) lors du fonctionnement du système horloger, ce contact impliquant un glissement avec ou sans choc;
    modifier la topographie de la surface de la première zone fonctionnelle (200) et/ou de la seconde zone fonctionnelle (300), de sorte qu'au moins l'une de la première zone fonctionnelle (200) et de la seconde zone fonctionnelle (300) comporte une structuration submicronique contrôlée ;
    caractérisé en ce que
    ladite modification de la topographie est réalisée par au moins l'une des méthodes comprenant: une gravure sélective de la surface exposée, une lithographie colloïdale, une méthode DLIP, une technique de réplication, un procédé d'anodisation, une déposition de couches tribologiques sur des nanostructures préalablement usinés, ou une immobilisation de lubrifiants solides ou de débris dans des structures préalablement usinées.
  2. Le procédé selon la revendication 1,
    dans lequel la première zone fonctionnelle (200) et la seconde zone fonctionnelle (300) comportent chacune une structuration submicronique contrôlée.
  3. Le procédé selon la revendication 1 ou 2,
    dans lequel le système horloger comprend un échappement pour pièce d'horlogerie comportant une roue d'échappement (3), une levée d'entrée (22) et une levée de sortie (22'), chacune des levées (22, 22') étant arrangée de manière à coopérer avec des dents (31) de la roue d'échappement (3); la première zone fonctionnelle (200) se trouvant sur chacune des levées (22, 22') et la seconde zone fonctionnelle (300) se trouvant sur chacune des dents (31).
  4. Le procédé selon la revendication 3,
    dans lequel la première zone fonctionnelle (200) se trouve sur:
    un plan de repos de levée (222) coopérant avec un plan de repos de dent (311) d'une des dents (31) lors d'une phase de dégagement et d'une phase de chute de l'échappement; et
    un plan d'impulsion de levée (221) coopérant avec un plan d'impulsion de dent (311) d'une des dents (31) lors d'une phase d'impulsion de l'échappement; et
    dans lequel la structuration submicronique contrôlée comporte une typologie sensiblement différente dans le plan d'impulsion de levée (221) que celle dans le plan de repos de levée (222).
  5. Le procédé selon la revendication 3 ou 4,
    dans lequel la première zone fonctionnelle (200) et de la seconde zone fonctionnelle (300) comportent une structuration submicronique contrôlée; et
    dans lequel la structuration submicronique contrôlée comporte une typologie sensiblement différente dans le plan d'impulsion de dent (311) que celle dans le plan de repos de dent (312).
  6. Le procédé selon l'une des revendications 1 à 5,
    dans lequel la typologie de la structuration submicronique contrôlée est caractérisée par l'un ou une combinaison des paramètres suivants: une densité de structuration, une polarité, un facteur de forme, et une distribution de la structuration.
  7. Le procédé selon la revendication 6,
    dans lequel la typologie de la structuration submicronique contrôlée est caractérisée par des structures d'une polarité positive ou négative ayant une largeur de 1 à 1000 nm, de préférence de 10 à 800 nm, et encore de préférence de 300 à 600 nm.
  8. Le procédé selon la revendication 6 ou 7,
    dans lequel la typologie de la structuration submicronique contrôlée est caractérisée par des structures d'une polarité positive ou négative ayant une hauteur de 1 à 1000 nm, de préférence de 10 à 800 nm, et encore de préférence de 200 à 600 nm.
  9. Le procédé selon l'une des revendications 1 à 8,
    dans lequel la structuration submicronique contrôlée comprend une pluralité de typologies.
  10. Le procédé selon l'une des revendications 1 à 9,
    dans lequel la première zone fonctionnelle (200) et la seconde zone fonctionnelle (300) sont formées dans des matériaux sensiblement différents.
  11. Le procédé selon l'une des revendications 1 à 10,
    dans lequel la première zone fonctionnelle (200) et/ou la seconde zone fonctionnelle (300) comprennent une pluralité de matériaux sensiblement différents.
  12. Le procédé selon l'une des revendications 1 ou 11, comprenant l'étape de former un revêtement (61) sur la première zone fonctionnelle (200) et/ou la seconde zone fonctionnelle (300), le revêtement comprenant la structuration submicronique contrôlée.
  13. Le procédé selon l'une des revendications 1 ou 12,
    dans lequel la modification de la surface de la première zone fonctionnelle (200) et/ou de la seconde zone fonctionnelle (300) comprend une modification de sa composition chimique et/ou de sa structure chimique.
  14. Pièce d'horlogerie comprenant un système horloger (1) obtenu par le procédé caractérisé selon l'une des revendications 1 ou 13.
  15. Utilisation de la structuration submicronique contrôlée dans un système horloger (1) obtenu par le procédé caractérisé selon l'une des revendications 1 ou 13, en conditions de lubrification sèche ou de lubrification humide.
EP15187489.8A 2014-09-29 2015-09-29 Système horloger avec des propriétés tribologiques améliorées Active EP3002637B1 (fr)

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