EP2537063A1 - Afficheur a matrice active a structure integree de reparation de lignes ouvertes - Google Patents

Afficheur a matrice active a structure integree de reparation de lignes ouvertes

Info

Publication number
EP2537063A1
EP2537063A1 EP11702478A EP11702478A EP2537063A1 EP 2537063 A1 EP2537063 A1 EP 2537063A1 EP 11702478 A EP11702478 A EP 11702478A EP 11702478 A EP11702478 A EP 11702478A EP 2537063 A1 EP2537063 A1 EP 2537063A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
repair
lines
zone
line
elements
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
EP11702478A
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Thierry Kretz
Hugues Lebrun
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Thales SA
Original Assignee
Thales SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Thales SA filed Critical Thales SA
Publication of EP2537063A1 publication Critical patent/EP2537063A1/fr
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals

Definitions

  • the present invention relates to the repair of the addressing lines of an active matrix display, to repair breaks in these lines. It applies in particular to liquid crystal displays or organic electroluminescent diodes.
  • an active matrix display usually comprises a 2D matrix network of conductive lines, allowing addressing of the image points of the display.
  • the network comprises a first set of lines Ls, with lines extending in a first direction and a second set of lines LD, electrically isolated from the first set, with lines extending in a second direction orthogonal to the first .
  • the crossing zone of the lines defines a useful zone ZA of the display, containing the image points Py.
  • the terminations of the conductive lines are located outside the useful zone, and connected to corresponding DX, DY, external or integrated control circuits.
  • line breaks can occur in the useful area ZA during the display manufacturing process. Breaks can also be caused to isolate a short-circuit fault between two conductive lines. If a display addressing line is broken, a control signal applied to one end of this line will not propagate to the other end of the line: image points associated with this line will not be able to addressed, which is a major flaw.
  • a laser repair structure comprising repairing conducting rings r1, r2, r3, r4 made on the substrate S which supports the active matrix array, in a part outside the useful zone ZA. These rings cross the lines of the network.
  • the lines of the network and the rings r1, r2, r3, r4 are separated by at least one insulating layer.
  • An open line, in the example L1 is then repaired by laser making a connection to the two points of intersection p1, p2 of this line with one of the repair rings, in the example r1.
  • the signal applied by the decoder DY1 will propagate on both sides of the line L1: by the side that this circuit DY1 drives, and on the other side of the line L1 via the ring portion r1 between the two points of contact p1 and p2.
  • Such an integrated repair structure on the network substrate is usually used for small displays. Indeed, this structure can repair at most, as many defects as repair rings. The larger or the larger the display, the greater the number of rows in the active matrix network. It is difficult to multiply the number of repair rings on the substrate.
  • the laser impact must have a minimum surface to make contact between the two metals without causing conduction break of the line L1.
  • the laser repair therefore assumes a sufficient crossing surface, between the line and the ring, to pierce the insulation separating them and to make the junction between the two conducting levels.
  • This ring / line crossing surface induces a non-negligible parasitic capacitance.
  • the part of the ring that loops the two endings of the line increases the equivalent resistance of the line.
  • the RC load of a line repaired by such a ring is increased compared to the other lines of the network.
  • this increase in the RC load of repaired lines compared to other lines can be seen on the screen, creating a cosmetic defect.
  • a second manner illustrated in the same FIG. 2 uses a repair structure with external interconnection circuits for loopback. It is based on a distribution of lines in groups, associating a set of conductor repair sections to each group. These sections are made on the substrate of the network of active matrix, orthogonal to the lines of the group they must allow to repair and are also connected to contact pads on the substrate, for loopback by an external circuit that will be connected to these contact pads.
  • this repair structure is used for lines that extend from right to left in FIG. 2, such as 11.
  • the sections are distributed along each right and left side of the display zone ZA, and in pairs, so that at each conductive section, for example, on one side of the network, there corresponds a conducting section in face, on the other side of the network, the section t1 b in the example.
  • Each repair set includes several pairs of sections, with sections arranged in parallel on each side, and is assigned to the repair of the lines that intersect the sections of this game.
  • Each game can repair as many open lines as it includes pairs.
  • Connection lines are provided, which connect the different conductor sections to contact pads intended to be connected to a printed circuit such as a circuit TAB ("Tape Automatic Bonding") or PCB ("Printed Circuit Board").
  • a circuit board is provided on each side, for each group of lines, ie PCB1 and PCB1 'for the first group and PCB2 and PCB2' for the second group.
  • the circuits PCB1 and PCB2 integrate the control circuit of the corresponding lines, DX1, DX2
  • the PCB1 'and PCB2' circuits will generally include unit gain amplifiers AMP1 and AMP2 to increase the available current on the repaired lines.
  • An open line, in Example 11, is then repaired by making a connection at each of the two crossing points p3, p4, of this line with a repair element of a pair, respectively t1 a and t1 b.
  • Each pair in the example (t1 a, t1 b) or (t2a, t2b), makes it possible to repair a line of the group.
  • the lines are divided into two groups, each group controlled by a corresponding control circuit DX1, DX2, and each group comprising a set of two pairs of repair sections, making it possible to repair at most two open lines. in each group.
  • this solution is generally adopted for large displays.
  • 2304 lines can be divided into 6 groups of 384 lines, with a set of 3 pairs of repair sections per group.
  • This repair structure with specific external interconnection and distribution of the repair of the open lines on different assemblies, makes it possible to repair a large number of defects. It is therefore advantageous for large displays, or for high resolution displays. But it has the disadvantage of being expensive, because of the use of external interconnection circuits, specific, that is to say, customized. In addition, it may need to integrate in these interconnection circuits, for the lines of the network which are highly capacitive signal amplification circuits.
  • the present invention provides a solution to this problem, in an open-line repair structure of an active matrix array, using repair conductor elements each having a half-ring formed around the display area, each element / half-ring being assigned to the repair of only a group of the lines of the network which cross the two legs of the half-ring.
  • An open line is then repaired by creating a connection at each of the two points of intersection of this line with the two jambs of the half-ring of a repair element.
  • the loopback is at least ensured by the segment that connects the two legs of the half-ring.
  • the invention therefore relates to an active matrix display, the active matrix comprising a useful zone defined by the crossing zone of a first set of lines that extend in a first direction and a second set of lines that extend in a second direction orthogonal to the first, and open line fault repair elements in at least one of said plurality of lines first and second sets, made on the active matrix substrate outside said useful display area, wherein each repair element is a line formed into a half-ring with two legs arranged opposite each other, on both sides of the useful zone, characterized in that in said at least one set of lines:
  • the lines of said set are divided into groups of lines, a single repair element is assigned to each group of lines of said set, allowing the repair of a line in this group of lines, and its two legs each intersect at least the lines of the said group of lines to which it is assigned on each side of the useful zone,
  • each repair element has a conductor width which is
  • a driver-type display (s) integrated on the active matrix substrate wherein the repair elements of a set of lines among said first and second sets of lines of the active matrix array, are arranged on the active matrix substrate beyond the integrated driver that controls the lines of the other set.
  • the legs of the half-ring of each repair element terminate just behind the corresponding repair zone, that is to say between the driver and an edge of the matrix.
  • FIG. 1 already described is a block diagram of an active matrix display
  • FIG. 2 illustrates the structures of laser repair of open lines of active matrix, according to the state of the art
  • FIG. 3 illustrates a repair structure according to a first embodiment of the invention
  • FIGS. 4 to 6 illustrate other embodiments of a repair structure according to the invention
  • FIG. 7 illustrates a variant applicable to a display with integrated drivers
  • FIG 8 is a block diagram of a display comprising two sets of repair elements according to the invention, one for the repair of the selection lines of the matrix, the other for the repair of the data lines of the matrix;
  • FIGS. 9a to 9c are topological drawings of the repair elements of a repair structure according to the invention.
  • FIGS. 10 and 11 are sectional views in the crossing zone, along a line (section AA ') and along a jamb (section
  • FIGS. 12 and 13 are sectional views in the crossing zone, along a line (section AA ') and along a jamb (section
  • FIG. 3 illustrates a fully integrated repair structure on the substrate of the active matrix array, according to the invention, in the example, for the repair of the lines l j which extend from top to bottom of the FIG. that is, typically data lines of the matrix.
  • the repair structure thus comprises k repair elements E k , one per group of N / k lines.
  • the repair element comprises a half-ring whose two legs, arranged vis-à-vis on both sides of the useful area, intersect at least the
  • N 3072
  • E will for example be assigned to repair an open line among the lines 1 to 384, E 2 , to repair an open line among the lines 385 to 768, E 3 , repairing an open line among lines 769 to 1,152, and so forth up to E 8 , assigned to repair an open line among lines 2689 to 3072.
  • each repair element is a half-ring.
  • the zone on each leg, where the N / k lines of the group assigned to this repair element intersect, is the laser repair zone of these lines.
  • These ZR repair areas are indicated by a rectangular frame with a dotted pattern in the figures. This representation of the repair zones in the figures makes it possible to clearly illustrate the assignment of each repair element to only one group of lines, and the positions of the two repair zones of each repair element, one per leg, and in on both sides of the useful zone ZA.
  • An open line such as the line Lf in the figure, can thus be repaired by laser-making, in the laser repair zone of each of the legs of the repair element assigned to this line, E 7 in the example, two connections d and c2 between this line Lf and each of the jambs.
  • the repair element is a half-ring
  • the capacitive couplings induced by the crossings between the repair elements and the addressing lines are minimized by the absence of a repair conductor. on the side of the useful zone opposite to the segment which joins the two jambs of the half-rings: in fact, there is thus no crossing with lines of addressing on this side of the useful zone.
  • the repair elements are arranged outside the useful area, and so that the legs cross the lines L j .
  • FIG. 3 to 6 illustrate possible implementations, taking advantage of the different addressing possibilities of the displays.
  • the repair zones ZR of each repair element according to the invention are illustrated as indicated above, and the useful display zone ZA, in stripes.
  • FIG. 3 is particularly suitable for displays in which the lines I, of the matrix which are orthogonal to the lines L j and correspond to the lines of selection of rows of image points, are addressed one to the left, for example the even lines by a circuit DX L , and the others on the right, for example the odd lines by a circuit DX R.
  • one half of the repair elements, EE 4 is arranged with the segment connecting the two jambs of the half-ring on the left side of the useful zone ZA, and the other half E 5 -E 8 , with the segment attaching the two legs of the half-ring on the right side of the useful area.
  • the repair elements EE 4 can cross only the even lines in the example, such as l 2 and l 2 os4, and the repair elements E 5 -E 8> that the odd lines such as and
  • Figure 4 illustrates a variant of this implementation, in which the legs of the repair elements are stopped, where they end just after their repair zone. This reduces the crossover areas to the bare minimum, so that each repair element crosses at least the group of lines that must be repaired.
  • This creates a coupling variation on the lines L j , because the repair elements have lengths that are not substantially equal, unlike the implementation of Figure 3.
  • this coupling variation is in practice not a problem. Given the standard conditions for addressing the image points of the matrix, by which the charging time of a data line L j is negligible compared to the charging time of the image points.
  • FIG. 5 illustrates another variant of the implementation of the figure
  • FIG. 6 is a variant of the implementation of FIG. 5 which corresponds to the variant of FIG. 4, according to which the legs of each of the repair elements are stopped just after its repair zone.
  • FIG. 7 illustrates another mode of implementation of the invention, applicable to displays with integrated drivers.
  • the so-called integrated drivers are made on the active matrix substrate, in the peripheral zone between the useful zone and an edge of the matrix.
  • line drivers denoted Dli in the figure, which drive the so-called selection lines denoted li, based on Scom control signals that they receive from the outside.
  • these drivers are duplicated on each side of the active area, which allows to transmit the control signals, by the two ends of each line I.
  • the duplication of the line drivers makes it possible to directly compensate for the open line fault, without having to repair by laser. Thus, with such a structure, it will be provided to repair by laser only the open line defects lines L j .
  • the repair elements E k of the address lines L j which are orthogonal to those, I , which are driven by these line drivers D 1 , are arranged beyond these drivers, that is to say say between a driver and an edge of the matrix: one thus finds, starting from the active zone towards the outside, first these drivers Dli, then the elements of repair E k .
  • This arrangement is favorable because the repair elements E k then cross any of the lines I, driven by these drivers Dl ,, but only the Scom control signals, in reduced number: the parasitic coupling capacity induced by the crossing elements repair and / or addressing and / or control lines is optimized (minimized).
  • FIG. 8 thus illustrates an application of the invention to the repair of the open lines of the two sets of lines I and L j of the matrix, with a first set J of repair elements E (1) k arranged with their segments. SG ⁇ outside the useful area, along a side parallel to lines I, and a second set JL of repair elements E (L) k , with their segments SG ⁇ outside the area useful, along a side parallel to lines L j .
  • FIGS. 9a to 9c illustrate another aspect of the invention, by which the couplings are minimized by determining for each repair element, a variable conductor width, according to whether one is in a crossing zone or not, and in a crossing zone of a repair zone of the repair element considered or not. Repair areas are grayed out.
  • Figure 9a details the low leg of three repair elements E ; E 2 and E 3 , which in the example cross lines L 0 -L 5 , L 6 -L 0 , Ln-L 5, respectively .
  • these legs are stopped each after the repair zone corresponding to the crossing zone with the lines assigned to them, for the repair of one of these lines.
  • each repair element has in the repair zone a substantially constant and compatible width e1 of the conductor of a laser repair.
  • the lines L which intersect the repair element, have a substantially equivalent width e2 conductor.
  • the crossing zone of the conductors between an element of repair and a line that crosses, and that it is likely to repair is of the order of 20x20 or 30x30 micrometers square.
  • the width of the conductor of the repair element is variable, so as to optimize the access resistance and / or the coupling capacitance, with lines crossing the conductor.
  • the width of the conductor of the repair element is thinned to a width e1 ' ⁇ e1.
  • the width of the conductor of the line is also thinned in this same crossing zone so that the repair conductor crosses at this point, in the example a line L j , with a width e2 ' ⁇ e2.
  • e1 'and e2' are substantially equal. In a practical example they are of the order of 4 microns.
  • t outside the repair zones and out of the crossing zones, t will preferably have a larger conductor width of the repair elements, for example equal to that e1 of the conductors in the zones of repair. repair, or even higher, to minimize the access resistance of the repair elements.
  • FIGS. 9b and 9c schematically illustrate the general shape of a conductor of a repair element according to the invention, a half-ring in the example, in the surface plane of the active matrix substrate, combining the three characteristics described above, according to the crossing zones with addressing and / or control lines: laser repair width, in the ZR repair zones; width as wide as possible, optimized for minimum access resistance in non-crossing areas Z H CR, lowest possible width, optimized for minimum coupling capacity, in crossover areas outside repair areas, Z C R.
  • Fig. 9b corresponds to a repair element corresponding to the implementation illustrated in Fig. 7, in which the repair elements do not cross any of the lines I ,, but Scom control signals of integrated drivers, and lines L j .
  • FIG. 9b corresponds to a repair element corresponding to the implementation illustrated in Fig. 7, in which the repair elements do not cross any of the lines I ,, but Scom control signals of integrated drivers, and lines L j .
  • FIG. 9c corresponds to the implementation illustrated in FIG. 4, in which the repair elements intersect I lines and L j lines.
  • Another element to be taken into account in order to minimize the line charges brought by the repair elements is the counter-electrode conductive plane CE usually produced on another substrate, and which comes above the last level of the active matrix circuit, such as illustrated schematically in Figure 10.
  • This conductive plane is not always limited to the only useful area of display, but can also cover at least part of the periphery. It is also necessary to take into account the coupling of the repair elements with this conductive plane. In particular, the different widths of the drivers outside the repair zone result from a compromise to optimize the capacitive coupling and the access resistance.
  • FIGS. 10 and 11 show the different corresponding conducting levels in a crossing zone of a repair element with a line, when it is a cross section in a ZR repair zone, in section according to FIGS. axes AA 'and BB' of Figure 9a, and in Figures 12 and 13, outside the repair zone, in section along the axes CC and BB 'of Figure 9a.
  • the repair zones according to the invention are indicated in gray in the figures.
  • FIG 10 it is the section along the repair element E ; in the crossing zone with line L 3 .
  • the repair element is made by the conductive level M1, directly on the active matrix substrate, which is a glass or a transparent plastic.
  • This conductive level will typically be made of Mo, Ti, Al or any combination of these metals or metals with similar properties (low resistivity, and specific to welding).
  • the line E 3 is produced by the conducting level M2, above the level M1 and isolated from this level M1 by at least one insulating layer 11, for example a silicon nitride (SiN). At least one other layer of insulator and passivation 12 is produced over this level M2.
  • FIG. 11 shows a zone of intersection in a repair zone, but in section BB 'along the axis of the repair element, corresponding in this example to the crossing of the repair element E and the line L- ,.
  • FIG. 12 corresponds in the example to the crossing of the repair element E 2 and the line L 5 .
  • FIG. 13 corresponds in the example to the crossing of the repair element E 2 and the line L 2 .
  • These two figures show the thinning of the width of the conductors, to reduce the surface of the drivers opposite, and thus the coupling capacity.
  • half-ring repair elements the invention is not limited to this implementation.
  • the half-rings can be closed by any means, for example by external loops, according to the techniques of the state of the art ( Figure 1), without departing from the scope of the invention.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

Dans un afficheur, une structure intégré de réparation de lignes ouvertes d'un réseau de matrice active, utilise des éléments conducteurs de réparation Ek, à demi-anneau autour de la zone utile d'affichage ZA. Chaque élément de réparation est attribué à la réparation de seulement un groupe des lignes du réseau qui croisent les deux jambages du demi-anneau. Une ligne ouverte est alors réparée en créant une connexion en chacun des deux points de croisement de cette ligne avec les deux jambages du demi-anneau d'un élément de réparation. Le rebouclage est assuré au moins par le segment qui relie les deux jambages. La structure de réparation minimise avantageusement les couplages parasites et la charge des lignes, et est peu coûteuse, tout en permettant de réparer un grand nombre de lignes. Elle est spécialement adaptée aux grands afficheurs ou aux afficheurs haute résolution.

Description

AFFICHEUR A MATRICE ACTIVE A STRUCTURE INTÉGRÉE DE RÉPARATION
DE LIGNES OUVERTES
La présente invention concerne la réparation des lignes d'adressage d'un afficheur à matrice active, pour réparer des ruptures de ces lignes. Elle s'applique notamment aux afficheurs à cristaux liquides ou à diodes organiques électroluminescentes.
Comme illustré schématiquement sur la figure 1 , un afficheur à matrice active comporte habituellement un réseau matriciel 2D de lignes conductrices, permettant l'adressage des points image de l'afficheur. Le réseau comprend un premier ensemble de lignes Ls, avec des lignes qui s'étendent dans une première direction et un deuxième ensemble de lignes LD, électriquement isolé du premier ensemble, avec des lignes qui s'étendent dans une deuxième direction orthogonale à la première. La zone de croisement des lignes définit une zone utile ZA de l'afficheur, contenant les points images Py. Les terminaisons des lignes conductrices sont situées à l'extérieur de la zone utile, et connectées à des circuits de commande correspondant DX, DY, externes ou intégrés.
En pratique des ruptures de lignes peuvent se produire dans la zone utile ZA, lors du processus de fabrication de l'afficheur. Des ruptures peuvent aussi être provoquées, pour isoler un défaut de court-circuit entre deux lignes conductrices. Si une ligne d'adressage de l'afficheur est rompue, un signal de commande appliqué sur une terminaison de cette ligne ne va pas se propager jusqu'à l'autre terminaison de la ligne : des points image associés à cette ligne ne pourront plus être adressés, ce qui constitue un défaut majeur.
Pour améliorer le rendement de fabrication des afficheurs, on réalise habituellement une réparation par laser de ces défauts de ligne ouverte. Cette réparation laser repose sur un rebouclage, à l'extérieur de la zone utile d'affichage, des deux terminaisons d'une ligne ouverte, de manière à permettre la propagation du signal sur la ligne depuis ces deux terminaisons. En pratique on crée par laser, dans une zone de réparation, une connexion entre chacune des deux terminaisons de la ligne à réparer et un conducteur respectif, par lequel on va reboucler les deux terminaisons. Ce rebouclage est généralement réalisé de deux manières, qui sont illustrées sur la figure 2. Une première manière utilise une structure de réparation comportant des anneaux conducteurs de réparation r1 , r2, r3, r4 réalisés sur le substrat S qui supporte le réseau de matrice active, dans une partie à l'extérieur de la zone utile ZA. Ces anneaux croisent les lignes du réseau. Dans la zone de croisement, les lignes du réseau et les anneaux r1 , r2, r3, r4 sont séparés par au moins une couche d'isolant. Une ligne ouverte, dans l'exemple L1 , est alors réparée en réalisant par laser, une connexion aux deux points de croisement p1 , p2 de cette ligne avec un des anneaux de réparation, dans l'exemple r1 . Le signal appliqué par le décodeur DY1 va se propager par les deux côtés de la ligne L1 : par le côté que pilote ce circuit DY1 , et par l'autre côté de la ligne L1 via la portion d'anneau r1 entre les deux points de contact p1 et p2.
Une telle structure de réparation intégrée sur le substrat du réseau est habituellement utilisée pour des petits afficheurs. En effet, cette structure permet de réparer au plus, autant de défauts que d'anneaux de réparation. Plus l'afficheur est grand ou résolu, plus le nombre de lignes du réseau de matrice active est potentiellement important. Il est difficile de multiplier le nombre d'anneaux de réparation sur le substrat. En outre, l'impact laser doit avoir une surface minima pour réaliser le contact entre les 2 métaux sans pour autant provoquer de coupure de conduction de la ligne L1 . La réparation laser suppose donc une surface de croisement suffisante, entre la ligne et l'anneau, pour percer l'isolant les séparant et faire la jonction entre les deux niveaux conducteurs. Cette surface de croisement anneau/ligne induit une capacité parasite non négligeable. Et la partie de l'anneau qui reboucle les deux terminaisons de la ligne augmente la résistance équivalente de la ligne. Au final, la charge RC d'une ligne réparée par un tel anneau est augmentée par rapport aux autres lignes du réseau. Pour des grands afficheurs ou des afficheurs haute résolution, cette augmentation de la charge RC des lignes réparées par rapport aux autres lignes peut se voir à l'écran, créant un défaut cosmétique.
Une deuxième manière illustrée sur la même figure 2 utilise une structure de réparation avec des circuits d'interconnexion externes pour assurer le rebouclage. Elle repose sur une répartition des lignes par groupes, en associant un jeu de tronçons conducteurs de réparation à chaque groupe. Ces tronçons sont réalisés sur le substrat du réseau de matrice active, orthogonalement aux lignes du groupe qu'ils doivent permettre de réparer et sont par ailleurs reliés à des plages de contact sur le substrat, pour un rebouclage par un circuit externe qui sera connecté sur ces plages de contact.
Dans l'exemple, cette structure de réparation est utilisée pour les lignes qui s'étendent de droite à gauche sur la figure 2, telle que 11 .
Les tronçons sont répartis le long de chaque côté droit et gauche de la zone utile d'affichage ZA, et par paire, en sorte qu'à chaque tronçon conducteur, t1 a par exemple, sur un côté du réseau, correspond un tronçon conducteur en face, de l'autre côté du réseau, le tronçon t1 b dans l'exemple. Chaque jeu de réparation regroupe plusieurs paires de tronçons, avec des tronçons disposés en parallèle sur chaque côté, et est affecté à la réparation des lignes qui croisent les tronçons de ce jeu. Chaque jeu permet de réparer autant de lignes ouvertes qu'il comporte de paires.
Des lignes de connexion sont prévues, qui relient les différents tronçons conducteurs à des plages de contact prévues pour être connectées à un circuit imprimé tel qu'un circuit TAB (" Tape Automatic Bonding') ou PCB ( "Printed Circuit Board "). Dans l'exemple, on a ainsi un circuit imprimé de chaque côté, pour chaque groupe de lignes, soit PCB1 et PCB1 ' pour le premier groupe et PCB2 et PCB2' pour le deuxième groupe. Les circuits PCB1 et PCB2 intègrent le circuit de commande des lignes correspondantes, DX1 , DX2. Les circuits PCB1 ' et PCB2' comprendront généralement des amplificateurs AMP1 et AMP2 de gain unitaire destinée à augmenter le courant disponible sur les lignes réparées.
Une ligne ouverte, dans l'exemple 11 , est alors réparée en réalisant une connexion en chacun des deux points de croisement p3, p4, de cette ligne avec un élément de réparation d'une paire, respectivement t1 a et t1 b. Chaque paire, dans l'exemple (t1 a, t1 b) ou (t2a, t2b), permet de réparer une ligne du groupe. Dans l'exemple simplifié illustré, les lignes sont réparties en deux groupes, chaque groupe piloté par un circuit de commande correspondant DX1 , DX2, et chaque groupe comportant un jeu de deux paires de tronçons de réparation, permettant de réparer au plus deux lignes ouvertes dans chaque groupe. En pratique, cette solution est généralement adoptée pour les grands afficheurs. Dans un exemple pratique appliqué à un afficheur de 2304 x 3072 pixels, on peut répartir ainsi 2304 lignes en 6 groupes de 384 lignes, avec un jeu de 3 paires de tronçons de réparation par groupe.
Cette structure de réparation avec interconnexion extérieure spécifique et distribution de la réparation des lignes ouvertes sur différents ensembles, permet de réparer un grand nombre de défauts. Elle est donc avantageuse pour les grands afficheurs, ou pour les afficheurs haute résolution. Mais elle a l'inconvénient d'être coûteuse, du fait de l'utilisation de circuits d'interconnexion externes, spécifiques, c'est-à-dire customisés. En outre elle peut nécessiter d'intégrer dans ces circuits d'interconnexion, pour les lignes du réseau qui sont fortement capacitives, des circuits d'amplification des signaux.
Pour ces grands afficheurs, ou pour les afficheurs haute résolution, il y a donc un intérêt à trouver d'autres structures de réparation qui soient moins coûteuses. Il faut tout à la fois permettre la réparation de tous les défauts de ligne ouverte possibles, dont le nombre peut être estimé pour une usine et un produit donnés, sans dégrader les caractéristiques de l'affichage c'est-à-dire en réduisant l'impact de la structure de réparation en termes de résistance et de capacité parasites, et sans recours à des circuits d'interconnexion externes spécifiques.
La présente invention apporte une solution à ce problème, dans une structure de réparation de lignes ouvertes d'un réseau de matrice active, utilisant des éléments conducteurs de réparation chacun comportant un demi-anneau formé autour de la zone utile d'affichage, chaque élément/demi-anneau étant attribué à la réparation de seulement un groupe des lignes du réseau qui croisent les deux jambages du demi-anneau. Une ligne ouverte est alors réparée en créant une connexion en chacun des deux points de croisement de cette ligne avec les deux jambages du demi-anneau d'un élément de réparation. Le rebouclage est au moins assuré par le segment qui relie les deux jambages du demi-anneau.
L'invention concerne donc un afficheur à matrice active, la matrice active comprenant une zone utile définie par la zone de croisement d'un premier ensemble de lignes qui s'étendent dans une première direction et d'un deuxième ensemble de lignes qui s'étendent dans une deuxième direction orthogonale à la première, et des éléments de réparation de défaut de lignes ouvertes dans au moins un ensemble de lignes parmi lesdits premier et deuxième ensembles, réalisés sur le substrat de matrice active à l'extérieur de ladite zone utile d'affichage, où chaque élément de réparation est une ligne formée en un demi-anneau avec deux jambages disposés en vis-à-vis, de part et d'autre de la zone utile, caractérisé en ce que dans ledit au moins un ensemble de lignes :
-les lignes dudit ensemble sont réparties en groupes de lignes, -un seul élément de réparation est affecté à chaque groupe de lignes dudit ensemble, permettant la réparation d'une ligne dans ce groupe de lignes, et ses deux jambages croisent chacun au moins les lignes dudit groupe de lignes auquel il est affecté de chaque côté de la zone utile,
-chaque élément de réparation a une largeur de conducteur qui est
-sensiblement constante sur la longueur d'une zone de réparation correspondant à la zone de croisement dans laquelle il croise les lignes du groupe de lignes auquel il est affecté, ladite largeur dans la zone de réparation définie pour permettre une réparation par laser, et
-variable en dehors de cette zone de réparation, avec une largeur en dehors des zones de croisement avec une ligne conductrice de la matrice, plus grande que dans lesdites zones de croisement pour optimiser le couplage capacitif et la résistance d'accès des lignes.
Selon un aspect de l'invention, dans le cas d'un afficheur du type à driver(s) intégré(s) sur le substrat de matrice active, dans lequel les éléments de réparation d'un ensemble de lignes parmi lesdits premier et deuxième ensembles de lignes du réseau de matrice active, sont disposés sur le substrat de matrice active au-delà du driver intégré qui commande les lignes de l'autre ensemble.
De préférence, les jambages du demi-anneau de chaque élément de réparation se terminent juste derrière la zone de réparation correspondante, c'est-à-dire entre le driver et un bord de la matrice.
D'autres avantages et caractéristiques de l'invention sont donnés dans la description ci-jointe, et illustrés sur les dessins annexés dans lesquels : -la figure 1 déjà décrite est un schéma synoptique d'un afficheur à matrice active;
-la figure 2 illustre les structures de réparation laser de lignes ouvertes de matrice active, suivant l'état de l'art;
-la figure 3 illustre une structure de réparation suivant un premier mode de réalisation de l'invention;
-les figures 4 à 6, illustrent d'autres modes de réalisation d'une structure de réparation selon l'invention;
-la figure 7 illustre une variante applicable à un afficheur à drivers intégrés;
-la figure 8 est un schéma bloc d'un afficheur comprenant deux jeux d'éléments de réparation selon l'invention, l'un pour la réparation des lignes de sélection de la matrice, l'autre pour la réparation des lignes de données de la matrice;
-les figures 9a à 9c sont des dessins topologiques des éléments de réparation d'une structure de réparation selon l'invention; et
-les figures 10 et 1 1 sont des vues en coupe dans la zone de croisement, le long d'une ligne (coupe AA') et le long d'un jambage (coupe
BB') hors zone de réparation; et
-les figures 12 et 13 sont des vues en coupe dans la zone de croisement, le long d'une ligne (coupe AA') et le long d'un jambage (coupe
BB') dans une zone de réparation.
La figure 3 illustre une structure de réparation entièrement intégrée sur le substrat du réseau de matrice active, selon l'invention, dans l'exemple, pour la réparation des lignes lj qui s'étendent de haut en bas de la figure, c'est-à-dire typiquement des lignes de données de la matrice.
Selon l'invention, pour un afficheur comportant N lignes Lj, on regroupe ces lignes par groupes de N/k lignes successives, et on attribue à chaque groupe, un élément de réparation Ek. La structure de réparation comprend ainsi k éléments de réparation Ek, un par groupe de N/k lignes.
L'élément de réparation comprend un demi-anneau dont les deux jambages, disposés en vis-à-vis de part et d'autre de la zone utile, croisent au moins les
N/k lignes du groupe de lignes qui lui est affecté.
Dans un exemple où N égal 3072, on réalise ainsi 8 groupes de 384 colonnes, avec un élément de réparation par groupe, soit 8 éléments en tout, notés E-i à E8 sur la figure. Si on numérote les lignes Lj de 1 à 3072 de gauche à droite, E sera par exemple affecté à la réparation d'une ligne ouverte parmi les lignes 1 à 384, E2, à la réparation d'une ligne ouverte parmi les lignes 385 à 768, E3, à la réparation d'une ligne ouverte parmi les lignes 769 à 1 152, et ainsi de suite jusqu'à E8, affecté à la réparation d'une ligne ouverte parmi les lignes 2689 à 3072.
Dans le mode de réalisation illustré sur la figure 3, chaque élément de réparation est un demi-anneau. La zone sur chaque jambage, où croisent les N/k lignes du groupe affecté à cet élément de réparation, est la zone de réparation laser de ces lignes. Ces zones de réparation ZR sont indiquées par un cadre rectangulaire avec un motif pointillé sur les figures. Cette représentation des zones de réparation sur les figures permettant de bien illustrer l'affectation de chaque élément de réparation à seulement un groupe de lignes, et les positions des deux zones de réparation de chaque élément de réparation, une par jambage, et en vis-à-vis de part et d'autre de la zone utile ZA.
Une ligne ouverte, comme la ligne Lf sur la figure, peut ainsi être réparée en réalisant par laser, dans la zone de réparation laser de chacun des jambages de l'élément de réparation affecté à cette ligne, E7 dans l'exemple, deux connexions d et c2 entre cette ligne Lf et chacun des jambages.
Dans cet exemple d'implémentation où l'élément de réparation est un demi-anneau, on remarque que les couplages capacitifs induits par les croisements entre les éléments de réparation et les lignes d'adressage sont minimisés, par l'absence de conducteur de réparation sur le côté de la zone utile opposé au segment qui joint les deux jambages des demi-anneaux : de fait, il n'y a donc pas de croisement avec des lignes d'adressage sur ce côté de la zone utile.
Les éléments de réparation sont disposés à l'extérieur de la zone utile, et de manière à ce que les jambages croisent les lignes Lj.
Différentes implémentations sont possibles, notamment en tenant compte des spécificités d'adressage de l'afficheur, dans l'optique de minimiser toujours au mieux les couplages capacitifs dus aux croisements des éléments de réparation et des lignes. Les figures 3 à 6 illustrent des implémentations possibles, tirant parti des différentes possibilités d'adressage des afficheurs. Dans toutes ces figures, les zones de réparation ZR de chaque élément de réparation selon l'invention sont illustrées comme indiqué précédemment, et la zone utile d'affichage ZA, en rayé.
L'implémentation de la figure 3 convient particulièrement à des afficheurs dans lequel les lignes I, de la matrice qui sont orthogonales aux lignes Lj et correspondent aux lignes de sélection de rangées de points image, sont adressées les unes par la gauche, par exemple les lignes paires par un circuit DXL, et les autres par la droite, par exemple les lignes impaires par un circuit DXR.
Dans cette implémentation, une moitié des éléments de réparation, E E4, est disposée avec le segment rattachant les deux jambages du demi-anneau sur le côté gauche de la zone utile ZA, et l'autre moitié E5-E8, avec le segment rattachant les deux jambages du demi-anneau sur le côté droit de la zone utile. A gauche, les éléments de réparation E E4 peuvent ne croiser que les lignes paires dans l'exemple, telles que l2 et l2os4, et les éléments de réparation E5-E8> que les lignes impaires telles que et
La figure 4 illustre une variante de cette implémentation, dans laquelle les jambages des éléments de réparation sont arrêtés, où se terminent juste après leur zone de réparation. On réduit ainsi les zones de croisement au strict nécessaire, pour que chaque élément de réparation croise au moins le groupe des lignes qu'il doit réparer. Ceci créée une variation de couplage sur les lignes Lj, car les éléments de réparation ont des longueurs qui ne sont plus sensiblement égales, contrairement à l'implémentation de la figure 3. Cependant cette variation de couplage n'est en pratique pas gênante compte tenu des conditions standards d'adressage des points image de la matrice, par lesquelles le temps de charge d'une ligne de donnée Lj est négligeable devant le temps de charge des points image.
La figure 5 illustre une autre variante l'implémentation de la figure
3, dans laquelle les segments des éléments de réparation sont tous du même côté, dans l'exemple, le côté droit. Une telle implémentation convient particulièrement à des afficheurs dans lequel toutes les lignes de la matrice qui sont orthogonales aux lignes Lj et correspondent aux lignes de sélection de rangées de points image, sont adressées du même côté, par un circuit de commande DX (ou une pluralité de circuits de commande comme les circuits DX1 , DX2 de la figure 2). Dans cette implémentation, les lignes I, ne croisent aucun des éléments de réparation, et en particulier aucun des segments SG. Le couplage parasite éléments de réparation/lignes d'adressage est ainsi minimisé.
La figure 6 est une variante de l'implémentation de la figure 5 qui correspond à la variante de la figure 4, selon laquelle on arrête les jambages de chacun des éléments de réparation juste après sa zone de réparation.
La figure 7 illustre un autre mode de mise en œuvre de l'invention, s'appliquant à des afficheurs à drivers intégrés. Les drivers dits intégrés sont réalisés sur le substrat de matrice active, dans la zone périphérique entre la zone utile et un bord de la matrice. Dans l'exemple plus particulièrement illustré, on a ainsi des drivers lignes notés Dli sur la figure, qui pilotent les lignes dites de sélection notées li, sur la base de signaux de commande Scom qu'ils reçoivent de l'extérieur. Dans cet exemple encore, ces drivers sont dupliqués de chaque côté de la zone active, ce qui permet de transmettre les signaux de commande, par les deux extrémités de chaque ligne I,. La duplication des drivers ligne permet de palier directement le défaut de ligne ouverte, sans avoir à réparer par laser. Ainsi, avec une telle structure, on ne prévoira de réparer par laser que les défauts de ligne ouverte des lignes Lj.
De manière avantageuse, les éléments de réparation Ek des lignes d'adressage Lj qui sont orthogonales à celles, I,, qui sont pilotées par ces drivers lignes Dl,, sont disposés au-delà de ces drivers, c'est-à-dire entre un driver et un bord de la matrice : on trouve ainsi, partant de la zone active vers l'extérieur, d'abord ces drivers Dli, puis les éléments de réparation Ek. Cet agencement est favorable car les éléments de réparation Ek ne croisent alors aucune des lignes I, pilotées par ces drivers Dl,, mais seulement les signaux de pilotage Scom, en nombre réduit : la capacité de couplage parasite induite par les croisements éléments de réparation/lignes d'adressage et/ou de commande est ainsi optimisée (minimisée). Ce qui s'applique aux éléments de réparation des lignes Lj et aux drivers des lignes li, s'applique de la même façon aux éléments de réparation des lignes I, et des drivers de commande des lignes Lj. Les implémentations qui viennent d'être décrites, correspondent à la réparation des lignes ouvertes dans les lignes Lj qui correspondent aux lignes de données, par lesquelles les informations vidéo à afficher sont transmises. Les lignes de sélection, I, par lesquelles on sélectionne les rangées de points image sur lesquelles on veut appliquer de nouvelles données vidéo, qui sont habituellement réalisées sur la surface du substrat de matrice active, sont moins sujettes à ces défauts de ligne ouverte. Néanmoins, on peut souhaiter prévoir une structure de réparation de ces lignes.
La figure 8 illustre ainsi une application de l'invention à la réparation des lignes ouvertes des deux ensembles de lignes I, et Lj de la matrice, avec un premier jeu Jl d'éléments de réparation E(l)k disposés avec leurs segments SG\ à l'extérieur de la zone utile, le long d'un côté parallèle aux lignes I, et un deuxième jeu JL d'éléments de réparation E(L)k, avec leurs segments SG\ à l'extérieur de la zone utile, le long d'un côté parallèle aux lignes Lj.
Les figures 9a à 9c illustrent un autre aspect de l'invention, par lequel on minimise les couplages en déterminant pour chaque élément de réparation, une largeur de conducteur variable, selon que l'on est dans une zone de croisement ou non, et dans une zone de croisement d'une zone de réparation de l'élément de réparation considéré ou non. Les zones de réparation sont représentées en grisé.
De manière plus détaillée, la figure 9a détaille le jambage bas de trois éléments de réparation E ; E2 et E3, qui dans l'exemple croisent respectivement les lignes L0-L5, L6-L 0, Ln-L 5.
Dans l'exemple, ces jambages sont arrêtés chacun après la zone de réparation correspondant à la zone de croisement avec les lignes qui leur sont affectées, pour la réparation d'une de ces lignes.
Selon un aspect de l'invention, chaque élément de réparation a dans la zone de réparation une largeur e1 du conducteur sensiblement constante et compatible d'une réparation laser.
Dans cette zone de réparation, les lignes L, qui croisent l'élément de réparation, ont une largeur e2 de conducteur sensiblement équivalente. Typiquement la zone de croisement des conducteurs entre un élément de réparation et une ligne qu'il croise, et qu'il est susceptible de réparer, est de l'ordre de 20x20 ou 30x30 micromètres carré.
En dehors de la zone de réparation, la largeur du conducteur de l'élément de réparation est variable, de manière à optimiser la résistance d'accès et/ou la capacité de couplage, avec des lignes qui croisent le conducteur.
Notamment, pour chaque élément de réparation, on cherche à réduire le couplage capacitif entre l'élément de réparation et chaque ligne du réseau de matrice active que cet élément de réparation croise hors ladite zone de réparation : c'est-à-dire des lignes Lj; et/ou des lignes I,, pour autant que l'élément de réparation croise ces lignes, et qu'il n'a pas vocation à les réparer. Suivant un aspect de l'invention, pour chaque élément de réparation, dans chaque zone de croisement hors la zone de réparation, la largeur du conducteur de l'élément de réparation est amincie, à une largeur e1 '<e1 . De préférence, on amincit également dans cette même zone de croisement, la largeur du conducteur de la ligne que le conducteur de réparation croise à cet endroit, dans l'exemple une ligne Lj, à une largeur e2'<e2. e1 ' et e2' sont sensiblement égales. Dans un exemple pratique elles sont de l'ordre de 4 microns.
Suivant un autre aspect de l'invention, hors des zones de réparation et hors des zones de croisement, t, on aura de préférence une largeur de conducteur des éléments de réparation plus grande, par exemple égale à celle e1 des conducteurs dans les zones de réparation, voire supérieure, pour minimiser la résistance d'accès des éléments de réparation.
Les figures 9b et 9c illustrent de manière schématique, la forme générale d'un conducteur d'un élément de réparation selon l'invention, un demi-anneau dans l'exemple, dans le plan de surface du substrat de matrice active, combinant les trois caractéristiques exposées ci-dessus, selon les zones de croisement avec des lignes d'adressage et/ou de commande : largeur de réparation laser, dans les zones de réparation ZR ; largeur la plus large possible, optimisée pour résistance d'accès minimale dans les zones hors croisement ZHCR, largeur la plus réduite possible, optimisée pour capacité de couplage minimale, dans les zones de croisement hors zones de réparation, ZCR. La figure 9b correspond à un élément de réparation correspondant à l'implémentation illustrée à la figure 7, dans laquelle les éléments de réparation ne croisent aucune des lignes I,, mais des signaux de commande Scom de drivers intégrés, et des lignes Lj. La figure 9c correspond à l'implémentation illustrée à la figure 4, dans laquelle les éléments de réparation croisent des lignes I, et des lignes Lj. Un autre élément est à prendre en compte pour minimiser les charges de ligne amenées par les éléments de réparation est le plan conducteur de contre- électrode CE habituellement réalisé sur un autre substrat, et qui vient pardessus le dernier niveau du circuit de matrice active, comme illustré schématiquement sur la figure 10. Ce plan conducteur n'est pas toujours limité à la seule zone utile d'affichage, mais peut recouvrir aussi au moins en partie la périphérie. Il faut alors prendre également en compte les couplages des éléments de réparation avec ce plan conducteur. Notamment, les différentes largeurs des conducteurs hors zone de réparation résultent d'un compromis pour optimiser le couplage capacitif et la résistance d'accès. Par ailleurs, en réalisant de préférence les éléments de réparation sur le niveau conducteur le plus éloigné du plan conducteur de contre électrode, c'est-à- dire sur la surface du substrat de matrice active, on minimise les couplages avec le plan conducteur. Les différents niveaux conducteurs correspondants dans une zone de croisement d'un élément de réparation avec une ligne, sont montrés sur les figures 10 et 1 1 , quand il s'agit d'un croisement dans une zone de réparation ZR, en coupe suivant les axes AA' et BB' de la figure 9a, et sur les figures 12 et 13, hors zone de réparation, en coupe suivant les axes CC et BB' de la figure 9a. Les zones de réparation selon l'invention sont indiquées en grisé sur les figures.
Figure 10, il s'agit de la coupe suivant l'élément de réparation E ; dans la zone de croisement avec la ligne L3. L'élément de réparation est réalisé par le niveau conducteur M1 , directement sur le substrat de matrice active, qui est un verre ou un plastique transparent. Ce niveau conducteur sera typiquement réalisé en Mo, Ti, Al ou toute combinaison de ces métaux ou de métaux aux propriétés semblables (faible résistivité, et propre à la soudure). La ligne E3 est réalisée par le niveau conducteur M2, au-dessus du niveau M1 et isolé de ce niveau M1 par au moins une couche d'isolant 11 , par exemple un nitrure de silicium (SiN). Au moins une autre couche d'isolant et de passivation 12 est réalisée par-dessus ce niveau M2. En variante non représentée, un dépôt local d'un pavé de silicium amorphe, juste sous le deuxième niveau conducteur M2, entre les niveaux 11 et M2, dans la zone de croisement des deux niveaux conducteurs M1 et M2, améliore l'isolation entre les deux niveaux, sans gêner la réparation laser.
Si il y a réparation laser rpl, un trou dans l'isolant et une soudure entre les deux niveaux M1 et M2 est réalisée dans la zone de croisement, comme illustré schématiquement en pointillé sur la figure.
La figure 1 1 montre une zone de croisement en zone de réparation, mais en coupe BB' suivant l'axe de l'élément de réparation, correspondant dans l'exemple au croisement de l'élément de réparation E et de la ligne L-,.
Les figures 12 et 13 sont les vues en coupe dans une zone de croisement hors zone de réparation. La figure 12 correspond dans l'exemple au croisement de l'élément de réparation E2 et la ligne L5. La figure 13 correspond dans l'exemple au croisement de l'élément de réparation E2 et la ligne L2. Ces deux figures montrent l'amincissement de la largeur des conducteurs, pour réduire la surface des conducteurs en regard, et donc la capacité de couplage. En variante non représenté, un dépôt local d'un pavé de silicium amorphe, juste sous le deuxième niveau conducteur M2, entre les niveaux 11 et M2, dans la zone de croisement des deux niveaux conducteurs M1 et M2, améliore l'isolation entre les deux niveaux.
L'invention qui vient d'être décrite ne se limite pas aux exemples de réalisation présentés. Notamment, selon que les circuits de commande des lignes sont externes ou internes, selon qu'ils sont prévus des deux côtés des lignes qu'ils pilotent, et suivant le taux de défaut respectif des lignes de sélection et de données, le type d'adressage mis en place pour chaque afficheur, on détermine la structure de réparation la mieux adaptée.
Par ailleurs, si les figures présentées illustrent des éléments de réparation en demi-anneau, l'invention ne se limite pas à cette mise en œuvre. Notamment, les demi-anneaux peuvent être refermés par tout moyen, par exemple par des boucles externes, selon les techniques de l'état de l'art (figure 1 ), sans sortir du cadre de l'invention.

Claims

REVENDICATIONS
1 . Afficheur à matrice active, la matrice active comprenant une zone utile (ZA) définie par la zone de croisement d'un premier ensemble (LD) de lignes (Lj) qui s'étendent dans une première direction et d'un deuxième ensemble (Ls) de lignes (I,) qui s'étendent dans une deuxième direction orthogonale à la première, et des éléments de réparation de défaut de lignes ouvertes dans au moins un ensemble de lignes (LD, LS) parmi lesdits premier et deuxième ensembles, réalisés sur le substrat de matrice active à l'extérieur de ladite zone utile d'affichage (ZA), où chaque élément de réparation (Ek) est une ligne formée en un demi-anneau avec deux jambages disposés en vis-à-vis, de part et d'autre de la zone utile, caractérisé en ce que dans ledit au moins un ensemble de lignes :
-les lignes dudit ensemble sont réparties en groupes de lignes, -un seul élément de réparation est affecté à chaque groupe de lignes dudit ensemble, permettant la réparation d'une ligne dans ce groupe de lignes, et ses deux jambages croisent chacun au moins les lignes dudit groupe de lignes auquel il est affecté de chaque côté de la zone utile,
-chaque élément de réparation a une largeur de conducteur qui est
-sensiblement constante sur la longueur d'une zone de réparation (ZR) correspondant à la zone de croisement dans laquelle il croise les lignes du groupe de lignes auquel il est affecté, ladite largeur dans la zone de réparation définie pour permettre une réparation par laser, et
-variable en dehors de cette zone de réparation, avec une largeur en dehors des zones de croisement avec une ligne conductrice de la matrice, plus grande que dans lesdites zones de croisement pour optimiser le couplage capacitif et la résistance d'accès des lignes.
2. Afficheur selon la revendication 1 , dans lequel la largeur d'un élément de réparation en dehors des zones de croisement est égale ou supérieure à la largeur dans la zone de réparation.
3. Afficheur selon la revendication 1 , du type à driver(s) intégré(s) sur le substrat de matrice active disposés dans une zone périphérique de la matrice entre la zone utile et un bord de la matrice, dans lequel les éléments de réparation (Ek) d'un ensemble de lignes (Lj) parmi lesdits premier et deuxième ensembles de lignes du réseau de matrice active, sont disposés sur le substrat de matrice active au-delà d'un driver intégré (DU) qui commande les lignes de l'autre ensemble (L.), entre le driver et un bord de la matrice.
4. Afficheur selon l'une des revendications précédentes, dans lequel les jambages du demi-anneau de chaque élément de réparation, se terminent juste derrière la zone de réparation correspondante (ZR).
5. Afficheur selon l'une des revendications 1 à 4, dans lequel les demi- anneaux des éléments de réparation sont répartis par moitié avec le segment d'attache des jambages sur un côté de la zone utile, et par moitié, sur l'autre côté.
6. Afficheur selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, dans lequel les demi-anneaux des éléments de réparation ont tous leur segment d'attache du même côté de la zone utile.
7. Afficheur selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel les éléments de réparation (Ek) sont réalisés sur un premier niveau conducteur (M1 ) déposé en surface du substrat de matrice active, et les lignes de la matrice croisent ces éléments conducteurs sur un deuxième niveau conducteur (M2) au-dessus, séparé dudit premier niveau conducteur(MI ) par au moins une couche d'isolant (11 ).
EP11702478A 2010-02-19 2011-02-10 Afficheur a matrice active a structure integree de reparation de lignes ouvertes Withdrawn EP2537063A1 (fr)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR1000701A FR2956753B1 (fr) 2010-02-19 2010-02-19 Afficheur a matrice active a structure integree de reparation de lignes ouvertes.
PCT/EP2011/051986 WO2011101286A1 (fr) 2010-02-19 2011-02-10 Afficheur a matrice active a structure integree de reparation de lignes ouvertes

Publications (1)

Publication Number Publication Date
EP2537063A1 true EP2537063A1 (fr) 2012-12-26

Family

ID=42308590

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
EP11702478A Withdrawn EP2537063A1 (fr) 2010-02-19 2011-02-10 Afficheur a matrice active a structure integree de reparation de lignes ouvertes

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20120319557A1 (fr)
EP (1) EP2537063A1 (fr)
JP (1) JP2013519924A (fr)
FR (1) FR2956753B1 (fr)
WO (1) WO2011101286A1 (fr)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103353679B (zh) * 2013-06-20 2015-08-26 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板、显示装置及阵列基板的修复方法
TWI643177B (zh) 2015-04-29 2018-12-01 元太科技工業股份有限公司 電子紙顯示裝置及其製作方法
KR102319315B1 (ko) * 2015-05-14 2021-10-29 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
US20210020729A1 (en) * 2018-03-29 2021-01-21 Sharp Kabushiki Kaisha Display device and defective pixel repairing method thereof
CN208588882U (zh) * 2018-09-11 2019-03-08 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及显示装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3326674B2 (ja) * 1995-12-18 2002-09-24 株式会社アドバンスト・ディスプレイ 液晶表示装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR0169366B1 (ko) * 1995-12-05 1999-03-20 김광호 액정 표시 장치용 박막 트랜지스터 기판
KR100244181B1 (ko) * 1996-07-11 2000-02-01 구본준 액정표시장치의리페어구조및그를이용한리페어방법
JP3511861B2 (ja) * 1996-10-04 2004-03-29 セイコーエプソン株式会社 液晶表示パネル及びその検査方法、並びに液晶表示パネルの製造方法
JP2007047277A (ja) * 2005-08-08 2007-02-22 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 液晶表示装置
TWI345209B (en) * 2006-09-11 2011-07-11 Au Optronics Corp Array substrate, and method for repairing thereof, and display panel and display apparatus comprising the same
KR101347846B1 (ko) * 2006-12-27 2014-01-07 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 기판, 이를 포함하는 액정표시장치 및이의 리페어 방법
TWI363241B (en) * 2007-07-16 2012-05-01 Au Optronics Corp Lower substrate for an fpd
JP2013068645A (ja) * 2010-01-28 2013-04-18 Sharp Corp 表示装置の欠陥修正方法、表示装置およびその製造方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3326674B2 (ja) * 1995-12-18 2002-09-24 株式会社アドバンスト・ディスプレイ 液晶表示装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of WO2011101286A1 *

Also Published As

Publication number Publication date
JP2013519924A (ja) 2013-05-30
FR2956753B1 (fr) 2012-07-06
US20120319557A1 (en) 2012-12-20
WO2011101286A1 (fr) 2011-08-25
FR2956753A1 (fr) 2011-08-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2537063A1 (fr) Afficheur a matrice active a structure integree de reparation de lignes ouvertes
FR2649234A1 (fr) Dispositif de visualisation a cristal liquide avec des transistors a effet de champs redondants et des croisements redondants connectes par des liaisons fusibles par laser
FR2856484A1 (fr) Dispositif d&#39;affichage a cristaux liquides et procede de fabrication de celui-ci
EP0143039A1 (fr) Procédé de fabrication d&#39;une matrice de composants électroniques
EP0267824A1 (fr) Ecran de visualisation électrooptique à transistors de commande et procédé de réalisation
EP0228317B1 (fr) Ecran de visualisation électrooptique à transistors de commande
FR2922033A1 (fr) Dispositif d&#39;affichage a cristaux liquides
EP0800211A1 (fr) Boîtier de circuit intégré
FR2736206A1 (fr) Procede de realisation d&#39;un substrat d&#39;interconnexion permettant de connecter une puce sur un substrat de reception
EP1567911B1 (fr) Structure de matrice active pour ecran de visualisation et ecran comportant une telle matrice
CA2892450A1 (fr) Ecran d&#39;affichage a diodes electroluminescentes organiques
WO2005067054A1 (fr) Procede de fabrication de puces electroniques en silicium aminci
FR2582431A1 (fr) Dispositif d&#39;affichage
CA2201037C (fr) Boitier de circuit integre
FR2702074A1 (fr) Matrice active pour affichages à cristaux liquides.
EP2126976B1 (fr) Panneau de diodes organiques électroluminescentes doté d&#39;électrodes integrées d&#39;alimentation supérieure
EP4369884A1 (fr) Structure tridimensionnelle de mémoires de type nor
FR2855913A1 (fr) Reseau de condensateurs de stockage pour dispositif d&#39;imagerie a l&#39;etat solide
EP1911015A1 (fr) Matrice active pour un dispositif d&#39;affichage a cristal liquide
FR2690566A1 (fr) Commutateur bipolaire haute fréquence à deux directions.
WO2006092473A1 (fr) Layout de pixel oled
WO2000077730A1 (fr) Dispositif electronique comportant au moins une puce fixee sur un support et procede de fabrication d&#39;un tel dispositif
FR2888041A1 (fr) Plaque active d&#39;ecran plat
TWI240134B (en) Thin film transistor liquid crystal display and method of making the same
FR2605437A1 (fr) Procede de reparation des electrodes defectueuses d&#39;un reseau matriciel et reseau de reparation mettant en oeuvre ce procede

Legal Events

Date Code Title Description
PUAI Public reference made under article 153(3) epc to a published international application that has entered the european phase

Free format text: ORIGINAL CODE: 0009012

17P Request for examination filed

Effective date: 20120813

AK Designated contracting states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR

17Q First examination report despatched

Effective date: 20121218

DAX Request for extension of the european patent (deleted)
STAA Information on the status of an ep patent application or granted ep patent

Free format text: STATUS: THE APPLICATION IS DEEMED TO BE WITHDRAWN

18D Application deemed to be withdrawn

Effective date: 20140213