EP1000362A1 - Procede pour determiner de tres faibles capacites et detecteur con u a cet effet - Google Patents
Procede pour determiner de tres faibles capacites et detecteur con u a cet effetInfo
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- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
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- G06V40/12—Fingerprints or palmprints
- G06V40/13—Sensors therefor
- G06V40/1306—Sensors therefor non-optical, e.g. ultrasonic or capacitive sensing
Definitions
- this is done by measuring the voltage across the measuring capacitor after a predetermined number of charges (charge bursts) or by counting the number of charges required to charge the measuring capacitor to a predetermined voltage.
- the voltage reached after a predetermined number of charges is proportional to the size of the capacitance to be determined.
- the number of charges is inversely proportional to the size of the capacity to be determined.
Abstract
Selon l'invention, un condensateur de faible capacité est chargé et déchargé plusieurs fois sur un condensateur de mesure de capacité nettement plus importante, dont la tension ou l'état de charge est mesuré directement. Une faible capacité ou une variation de capacité, en tant que résultat de mesure d'un détecteur, peut ainsi être déterminée avec une grande précision. Un détecteur d'empreintes digitales présentant un ensemble de surfaces métalliques (4) sous une surface d'appui pour le bout du doigt peut être réalisé sans éléments mobiles, ce détecteur comportant des transistors sous forme de commutateurs (S), des condensateurs de mesure (1) et des comparateurs (2). Un potentiel électrique prédéterminé est appliqué aux surfaces métalliques. Lorsque le bout du doigt est appliquée sur les surfaces métalliques, celles-ci se chargent différemment en fonction de la structure de la surface de la peau. Les charges sont réparties sur les condensateurs de mesure associés. Les états de charge des condensateurs de mesure sont constatés séparément, en fonction de la façon dont est lue une mémoire matricielle.
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