EP0509887A1 - Dispositif de collection de particules sur le plan de masse d'un appareil de dispersion de particules chargées électriquement - Google Patents

Dispositif de collection de particules sur le plan de masse d'un appareil de dispersion de particules chargées électriquement Download PDF

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EP0509887A1
EP0509887A1 EP92401010A EP92401010A EP0509887A1 EP 0509887 A1 EP0509887 A1 EP 0509887A1 EP 92401010 A EP92401010 A EP 92401010A EP 92401010 A EP92401010 A EP 92401010A EP 0509887 A1 EP0509887 A1 EP 0509887A1
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EP
European Patent Office
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axis
ground plane
collector
particle beam
plane
Prior art date
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Withdrawn
Application number
EP92401010A
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
François Hillion
Daniel Colliaux
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Cameca SAS
Original Assignee
Cameca SAS
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Publication date
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Withdrawn legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/025Detectors specially adapted to particle spectrometers

Definitions

  • the present invention relates to a device for multicollecting particles on the ground plane of an apparatus for dispersing electrically charged particles.
  • the multicollection of particles deflected by the magnet of the spectrometers is carried out simply by means of a photographic plate arranged on the ground plane. Once revealed, this plate gives a photographic image of the spectrum representative of the masses of the particles making up each beam analyzed.
  • the object of the invention is to overcome the aforementioned drawbacks.
  • the subject of the invention is a device for multicollecting particles on the ground plane of an electrically charged particle dispersing device of the type comprising a magnetic prism for deflecting beams of particles, characterized in that it comprises several collectors juxtaposed along the ground plane, each elementary collector being coupled to a detection device via an electrostatic sector whose angle of curvature is approximately equal to the angle of inclination of the plane of mass relative to the axis of the particle beam emitted at the exit of the magnetic prism to straighten the axis of the particle beam perpendicular to the ground plane.
  • Multicollection mass spectrometers conventionally comprise, as shown in FIG. 1A, a magnetic prism 1 whose role is to focus on an earth plane 2 electrically charged particles of a particle beam 3 at places in the earth plane depending on their masses.
  • this arrangement allows a beam of particles emitted from a point A downstream of the prism 1 to be deflected along a circular trajectory by a magnetic field B generated perpendicular to the plane of the trajectory by the prism 1.
  • prism 1 has the advantage of having focusing properties in the radial direction 0Y of the beam located in the plane of Figure 1A.
  • a point A which is located on the axis of symmetry of the beam at a distance r m from the entry face 1a of the prism is conjugated, for a particle of mass m, at a point A ′ located at the same distance r m from the output face 1b of the magnet.
  • A is a focal point upstream of the magnetic prism 1
  • the multicollection device according to the invention which is shown in FIG. 2B with identical references for the elements common to FIG. 2A comprises several detectors 4 1 ... 4 i ... 4 n along the ground plane 2. This makes it possible, on the one hand, to associate, by calibration, a mass with each position of detector 4 i and, on the other hand, to establish a synchronous reading of several signals corresponding to different masses.
  • These detectors can be formed, for example, of a multi-channel wafer, making it possible to transform incident ions into electron packets, in series with an imaging device such as, for example, a phosphorescent screen placed opposite a camera or simply a CCD device for charge transfer cells.
  • an imaging device such as, for example, a phosphorescent screen placed opposite a camera or simply a CCD device for charge transfer cells.
  • these devices make it possible to record an entire spectrum in parallel, these do not always have the precision discrete collectors of the single-collection devices of FIG. 2A, the latter being formed for example by Faraday wells as represented in FIG. 3A where electron multipliers as represented in FIG. 3B.
  • 3A are simply electric charge sensors, they are coupled to electronic preamplifiers not shown which make it possible to measure by an electrometer 6 for example, the quantity of charges received over time of measurement. These devices are generally used to measure relatively large signals.
  • the electron multipliers bearing the reference 7 in FIG. 3B are actually used to transform each incident ion into a packet of electrons, these devices then having the advantage of allowing, after amplification by amplifiers 8 of the signal thus product, to allow counting one by one, by means of a counter 9, the incident ions.
  • a slot called the exit slot not shown in FIGS. 3A and 3B is conventionally arranged on their front face 10 so as to clearly delimit the part of the mass spectrum which is detected.
  • the multicollection device according to the invention which is represented in FIGS. 4 and 5 is formed by a determined number n of collectors 11 i represented inside closed dotted lines arranged along a ground plane 2 of a spectrometer and tilted at an angle of about 66 ° to the OX axis of the particle beam exiting the spectrometer.
  • Each collector 11 i is a sub-assembly which includes a slot 12 i also called the spectrometer exit slot, a pair of deflector plates 13 i , an electrostatic sector 14 i with cylindrical or spherical electrodes, another pair of deflector plates 15 i and a detection device 16 i .
  • the deflector plates 15 i are used to align the beam respectively in the axis of the electrostatic beam and in the sensitive area of the detector 16 i .
  • the respective distances between the slot 12 i on the one hand, and the electrostatic sector 14 i coupled to the detector 16 i on the other hand, are normally calculated so that the outlet slot 17 i and the sensitive plane of the detector are optically conjugated.
  • the angle of curvature ⁇ of the electrostatic sector 14 i is equal to 60 ° so as to straighten the axis of each beam perpendicular to the ground plane 2.
  • the gain thus obtained is of the order of 2.5. on the space allocated to each collector, which makes it possible for certain applications to replace a simple Faraday well by a switchable device comprising a Faraday well and an electron multiplier.
  • the ground plane may have any angle ⁇ relative to the normal to the axis OX of the beam, the gain which will thus be achieved will be equal to cos ⁇ 1.
  • the voltages to be applied to the electrodes are of the order of plus or minus 1/7 of the particle acceleration voltage.
  • the distances R and d produce in these conditions with an angle ⁇ of 60 ° the image of the exit slit of the spectrometer on the detection plane of the detectors in the radial plane.
  • the detectors 16 i can be made fixed or mobile. They are made mobile by placing each collector on a carriage 17 guided on rails not shown, all along the ground plane 2 as shown in FIG. 6A.
  • the trajectories pivot around the achromatic point ⁇ . Consequently, when the point of impact A ′ moves away from the axis of the central beam by several degrees, it is no longer possible to consider that all the incident trajectories remain parallel to the main axis and it is necessary in these conditions correct the alignment of the collectors 4 i with respect to the trajectories.
  • another possible embodiment of the invention may consist in correcting the trajectory of the particles by electrostatic plates of the way shown in Figure 7. This is achieved by a first pair of plates 20 which straightens the axis CC ′ of the beam parallel to the axis of the collector, a second pair of plates 21 refocusing the beam on the detector 16 i .
  • the advantage of this method is that it eliminates the mechanical arrangement described in Figures 6A and 6B. Its drawback, however, results in the fact that it does not allow the beam to be perfectly centered for the reason that it is not possible to arrange the plates at the same level as the slotted strip.
  • FIG. 8 An embodiment of a collecting device 16 i mounted on a carriage 17 is shown in FIG. 8 along a section along the plane BB ′ in FIG. 4.
  • the carriage 17 is mounted sliding on a rail 22 integral with the ramp 19.
  • a collecting device formed by a Faraday well 5 and an electron multiplier 7 is mounted on a base 23 articulated on the carriage 17 around an axis 24.
  • the base 23 also supports a roller 18, kept in contact on the ramp 19 by a spring or any equivalent device not shown, so as to control the rotation of the base 23 around the axis 24 during movement of the carriage 17 on the rail 22 and allow the collecting device 16 i to align with the point ⁇ .
  • a slide with two or more positions 25 makes it possible, by means of a rod 26, to apply each slot 12 i of entry of the collecting device 16 i opposite the beam of particles to be detected.
  • a slide 27 with two positions allows, thanks to a rod 28 fixed to the detection device 16 i, to switch either Faraday wells 5 or multipliers 7 in the axis of the beam.
  • the device which has just been described makes it possible, thanks to the use of the movable slides 25 and 27, to switch slots and detectors regardless of the position of the collectors on the ground plane 2.
  • a simpler method can consist in locating the switching device at one end of the collector stroke, it suffices in this case to bring the collector 16 i to this fixed point each time it is necessary to change the slot or change the detector.
  • Another variant embodiment of the invention may also consist of an electronic device which allows to electrically address the beam on any detector by means of polarized plates, this can be obtained in the radial or transverse plane of the beam.
  • a corresponding device shown in FIGS. 9A, 9B and 9C makes it possible to carry out electrical switching in the radial plane.
  • the two detectors 5 and 7 are no longer arranged one below the other but one next to the other. Deflection can then be carried out by plates 29 i downstream of the electrostatic sector 14 i as shown in FIG. 9A but also by the electrostatic sector 14 i itself. In the latter case, it is necessary to give the sector 14 i a flared shape, as shown in FIG. 9B so that the deflected beam does not strike the walls of the sector. Electrical switching of the detectors in the transverse plane is also possible. The advantage in this case is a smaller footprint in the radial plane, it is then no longer possible to use electrostatic sectors and the deviation must necessarily be carried out by means of plates downstream of the sector.

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Abstract

Le dispositif comporte plusieurs collecteurs (11) juxtaposés le long du plan de masse (2) de l'appareil de dispersion. Chaque collecteur est couplé à un dispositif de détection (16i) par l'intermédiaire d'un secteur électrostatique (14i) dont l'angle de courbure (φ) est approximativement égal à l'angle d'inclinaison du plan de masse par rapport à l'axe du faisceau de particules arrivant sur le plan de masse (2) pour redresser l'axe du faisceau de particules perpendiculairement au plan de masse (2).
Applications : Spectromètres de masse.

Description

  • La présente invention concerne un dispositif de multicollection de particules sur le plan de masse d'un appareil de dispersion de particules chargées électriquement.
  • Elle s'applique à la réalisation de spectromètres de masse et notamment aux spectromètres de masse stigmatiques à haute transmission des types connus sous l'abréviation anglo-saxonne SIMS de " Secondary Ion Mass Spectrometer".
  • Dans les premiers dispositifs à multicollection de particules du type spectromètre de masse par exemple dont les descriptions peuvent être trouvées notamment dans le livre intitulé "Introduction to mass spectrometry" de John ROBOZ édité par John WILEY and sons, New York 1968, la multicollection des particules déviées par l'aimant des spectromètres est réalisée simplement au moyen d'une plaque photographique disposée sur le plan de masse. Cette plaque une fois révélée donne une image photographique du spectre représentatif des masses des particules composant chaque faisceau analysé. Cependant comme les opérations de développement photographique prennent du temps, il leur est souvent préférés des dispositifs à multicollection constitués par plusieurs détecteurs ioniques disposés le long du plan de masse, comme cela est réalisé dans l'appareil de la société Finnigan dont une description peut être trouvée à la page 23 et sur la figure 6 correspondante d'un rapport intitulé "Advanced Mass Spectrometers for hydrogen isotope analyses " de MM. Philippe CHASTAGNER, E.I. du PONT de NEMOURS & Co disponible au "National Technique Information Service, US Department of Commerce 5285 Port Royal Road, Springfield, Virginia 22161."
  • Si cette dernière technique a l'avantage sur la précédente de fournir quasi instantanément une représentation de spectres de masse elle présente cependant l'inconvénient d'être moins précise car l'espacement entre détecteurs discrets est trop important pour permettre de discerner des écarts de masses faibles. Ainsi par exemple il n'est pas possible, de mesurer simultanément des écarts relatifs de masses inférieures à 1/200 avec des spectromètres munis de prismes magnétiques de 0,5m de rayon car l'espacement entre les points d'impacts des particules arrivant sur le plan de masse, qui est dans ce cas de l'ordre de 5mm, interdit le logement de certains détecteurs comme les multiplicateurs d'électrons à dynode.
  • Le but de l'invention est de pallier les inconvénients précités.
  • A cet effet, l'invention a pour objet un dispositif de multicollection de particules sur le plan de masse d'un appareil de dispersion de particule chargées électriquement du type comprenant un prisme magnétique pour la déviation de faisceaux de particules, caractérisé en ce qu'il comporte plusieurs collecteurs juxtaposés le long du plan de masse, chaque collecteur élémentaire étant couplé à un dispositif de détection par l'intermédiaire d'un secteur électrostatique dont l'angle de courbure est approximativement égal à l'angle d'inclinaison du plan de masse par rapport à l'axe du faisceau de particules émis à la sortie du prisme magnétique pour redresser l'axe du faisceau de particules perpendiculairement au plan de masse.
  • D'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront à l'aide de la description qui suit faite en regard des dessins annexés et représentent :
    • les figures 1A, 1B et 1C les trajectoires suivies par des faisceaux de particules dans un spectromètre de masse utilisé en multicollection selon l'invention,
    • les figures 2A et 2B des schémas de principe de spectromètres munis respectivement de dispositifs à monocollection et à une multicollection à des détecteurs discrets selon l'art antérieur,
    • les figures 3A et 3B des modes de réalisation de détecteurs discrets,
    • la figure 4 un mode de réalisation d'un dispositif à multicollection de particules selon l'invention,
    • la figure 5 une vue en perspective d'un dispositif à multicollection de particules selon l'invention,
    • les figures 6A et 6B un dispositif pour corriger l'orientation des collecteurs lorsque ceux- ci sont déplacés mécaniquement sur le plan de masse,
    • la figure 7 un dispositif de correction électrique de la trajectoire de particules arrivant sur le plan de masse lorsque les collecteurs se déplacent sur le plan de masse,
    • la figure 8 une vue en coupe détaillée d'un dispositif collecteur monté sur un chariot selon l'invention,
    • les figures 9A, 9B et 9C des exemples de mise en oeuvre de déflecteurs électrostatiques pour la commutation du faisceau de particules sur des détecteurs électroniques.
  • Les spectromètres de masse à multicollection comportent classiquement, comme le montre la figure 1A, un prisme magnétique 1 dont le rôle est de focaliser sur un plan de masse 2 des particules chargés électriquement d'un faisceau de particules 3 en des endroits du plan de masse dépendant de leurs masses. Ainsi comme le montre la figure 1A, cette disposition permet à un faisceau de particules émis d'un point A en aval du prisme 1 d'être dévié suivant une trajectoire circulaire par un champ magnétique B généré perpendiculairement au plan de la trajectoire par le prisme 1. Le rayon de courbure rm de la trajectoire de chaque particule de masse m dépend naturellement de sa vitesse v, de sa tension d'accélération V, de sa charge q et de la valeur B du champ magnétique, ceux-ci étant liés par la relation : r m = m.v/q.B = 1/B(2m.V/q) ½ .
    Figure imgb0001

    Comme montré par exemple dans l'article intitulé "Deflecting Magnet" HA ENGE du livre intitulé "Focusing of charged particles" vol.II édité par SEPTIER, Academic Press, New-York 1967 page 203, le prisme 1 présente l'avantage de posséder des propriétés de focalisation dans la direction radiale 0Y du faisceau située dans le plan de la figure 1A. De la sorte, un point A qui est situé sur l'axe de symétrie du faisceau à une distance rm de la face d'entrée 1a du prisme est conjugué, pour une particule de masse m, en un point A′ situé à la même distance rm de la face de sortie 1b de l'aimant. Si donc A est un point de focalisation en amont du prisme magnétique 1 il y a intérêt à placer le détecteur au point A′ conjugué du point A pour augmenter la résolution en masse Rm du spectromètre, celle-ci étant définie par la relation R m = K m /D m
    Figure imgb0002

    dans laquelle Km est un coefficient de dispersion en masse vérifiant une relation de la forme Km = m(∂y/∂m) et Dm et le diamètre de la section du faisceau. Ainsi pour diminuer le diamètre Dm afin d'augmenter la résolution en masse Rm il y a intérêt à effectuer la détection des particules au point A′ conjugué du point A par le prisme 1 car c'est au point A′ que Dm a la plus petite dimension. Cependant, si avec un prisme 1 à faces droites 1a et 1b, analogue à celui qui est représenté à la figure 1A, les propriétés de focalisation dans la direction de l'axe OY normal à l'axe du faisceau dans le plan de la trajectoire sont respectées elles ne le sont par contre plus du tout dans la direction de l'axe 0Z parallèle à la direction du champ magnétique B. Il est alors souhaitable d'incliner de la façon représentée aux figures 1B et 1C les faces 1a et 1b d'entrée/sortie de l'aimant d'un angle inférieur à 90° comme le suggère l'article intitulé "Deflecting Magnet", H.A. Enge précédemment cité. Une inclinaison proche de 27° semble devoir être acceptable car elle rend à peu près égale les convergences dans les directions OY et OZ. Dans ces conditions la distance focale Fm équivalente est alors égale à environ deux fois le rayon de courbure rm des trajectoires. Comme représenté sur les figures 1A et 1B, des faisceaux correspondant à différentes masses peuvent ainsi être focalisés suivant le principe décrit précédemment sur une certaine surface. On s'arrange pour que le plan de masse soit tangent à cette surface au point A′ conjugué de A. La section de ce plan avec le plan XOY est alors une droite d'équation y = ( Km/K′m)x avec K′ m = 2 y Δm m . y
    Figure imgb0003
  • A titre d'exemple, il arrive très fréquemment que l'ordre de grandeur de la pente Km/K′m soit comme représenté à la figure 1 de l'ordre de tangente 25° soit à peu près 0,5. Dans ces conditions les trajectoires des différentes particules à la sortie du prisme 1 semblent toutes pivoter comme le montre la figure 1C autour d'un point Ω, tel que : Ω A′ = K m /K˝ m avec K˝ m = ∂y′ ∂ m
    Figure imgb0004
  • Dans le cas de la figure 1C la distance Ω A′ vaut approximativement (8/3) rm.
  • Contrairement aux dispositifs à monocollection qui est représenté à la figure 2A, où les éléments homologues à ceux des figures 1A, 1B et 1C sont représentés avec les mêmes références, et où un détecteur d'ions unique 4 est disposé sur l'axe central OX en aval du prisme 1, le dispositif à multicollection selon l'invention qui est représenté sur la figure 2B avec des références identiques pour les éléments communs à la figure 2A comporte plusieurs détecteurs 41... 4i.. . 4n le long du plan de masse 2. Ceci permet d'une part, d'associer, par étalonnage, une masse à chaque position de détecteur 4i et d'autre part, d'établir un relevé synchrone de plusieurs signaux correspondant à des masses différentes. Ces détecteurs peuvent être formés, par exemple, d'une galette de multicanaux, permettant de transformer des ions incidents en paquets d'électrons, en série avec un dispositif d'imagerie tel que par exemple, un écran phosphorescent placé en face d'une caméra de prises de vues ou simplement un dispositif CCD de cellules à transfert de charges. Cependant si ces dispositifs permettent de relever un spectre entier en parallèle, ceux-ci n'ont pas toujours la précision des collecteurs discrets des dispositifs à monocollection de la figure 2A ces derniers étant formés par exemple par des puits de Faraday tels que représentés figure 3A où des multiplicateurs d'électrons tels que représentés à la figure 3B. Les dispositifs à puits de Faraday portant la référence 5 sur la figure 3A sont simplement des capteurs de charges électriques, ils sont couplés à des préamplificateurs électroniques non représentés qui permettent de mesurer par un électromètre 6 par exemple, la quantité de charges reçues pendant le temps de mesure. Ces dispositifs sont utilisés généralement pour mesurer des signaux relativement importants. Par contre les multiplicateurs d'électrons portant la référence 7 sur la figure 3B sont utilisés en fait pour transformer chaque ion incident en un paquet d'électrons, ces dispositifs ayant alors l'avantage de permettre, après amplification par des amplificateurs 8 du signal ainsi produit, de permettre le comptage un par un, au moyen d'un compteur 9, les ions incidents. Dans ces dispositifs, une fente dite fente de sortie non représentée sur les figures 3A et 3B est classiquement disposée sur leur face avant 10 de façon à délimiter clairement la partie du spectre de masse qui est détectée.
  • Le dispositif de multicollection selon l'invention qui est représenté aux figures 4 et 5 est formé par un nombre déterminé n de collecteurs 11i représentés à l'intérieur de lignes fermées en pointillés disposés le long d'un plan de masse 2 d'un spectromètre et incliné d'un angle d'environ 66° sur l'axe OX du faisceau de particules sortant du spectromètre. Chaque collecteur 11i est un sous-ensemble qui comporte une fente 12i encore appelée fente de sortie du spectromètre, une paire de plaques déflectrices 13i, un secteur électrostatique 14i à électrodes cylindriques ou sphériques, une autre paire de plaques déflectrices 15i et un dispositif de détection 16i. Les plaques déflectrices 15i sont utilisées pour aligner le faisceau respectivement dans l'axe du faisceau électrostatique et dans la zone sensible du détecteur 16i. Les distances respectives entre la fente 12i d'une part, et le secteur électrostatique 14i couplé au détecteur 16i d'autre part, sont normalement calculées pour que la fente de sortie 17i et le plan sensible du détecteur soient optiquement conjugués.
  • Sur la figure 4 l'angle de courbure φ du secteur électrostatique 14i est égal à 60° de façon à redresser l'axe de chaque faisceau perpendiculairement au plan de masse 2. Le gain ainsi obtenu est de l'ordre de 2, 5 sur l'espace alloué à chaque collecteur, ce qui permet pour certaines applications de remplacer un simple puits de Faraday par un dispositif commutable comprenant un puits de Faraday et un multiplicateur d'électrons. Dans un cas plus général où le plan de masse pourra présenter un angle φ quelconque par rapport à la normale à l'axe OX du faisceau, le gain qui sera ainsi être réalisé sera égal à cos φ⁻¹.
  • A titre d'exemple avec un rayon de courbure des secteurs électrostatiques 14i R = 21 millimètres, une distance entre électrodes de 3 millimètres et des distances avant et après le secteur électrostatique 14i d = 15 millimètres, les tensions à appliquer sur les électrodes sont de l'ordre de plus ou moins 1/7 de la tension d'accélération des particules. Les distances R et d réalisent dans ces conditions avec un angle φ de 60° l'image de la fente de sortie du spectromètre sur le plan de détection des détecteurs dans le plan radial.
  • Selon une autre caractéristique de l'invention les détecteurs 16i peuvent être rendus fixes ou mobiles. Ils sont rendus mobiles en disposant chaque collecteur sur un chariot 17 guidé sur des rails non représentés, tout au long du plan de masse 2 comme représenté à la figure 6A. Cependant comme déjà indiqué lors de la description de la figure 1C, lorsque le point A′ se déplace sur le plan de masse 2, il faut tenir compte du fait que les trajectoires pivotent autour du point achromatique Ω. Dès lors, lorsque le point d'impact A′ s'éloigne de l'axe du faisceau central de plusieurs degrés, il n'est plus possible de considérer que toutes les trajectoires incidentes restent parallèles à l'axe principal et il faut dans ces conditions corriger l'alignement des collecteurs 4i par rapport aux trajectoires. Dans le cas de collecteurs fixes ce problème peut être résolu simplement car il suffit de donner manuellement à chaque collecteur 4i l'orientation qui correspond à sa position. Par contre, dans le cas de collecteurs mobiles comme c'est le cas envisagé sur la figure 6A, l'orientation doit être corrigée automatiquement. Sur la figure 6A la correction de l'orientation des collecteurs lorsqu'ils se déplacent sur le plan de masse est obtenue en disposant chaque dispositif collecteur en appui sur un galet 18 roulant sur une rampe 19 légèrement inclinée par rapport au plan de masse 2. Ainsi chaque collecteur emporté sur le chariot 17 et roulant sur des rails parallèles au plan de masse 2 voit la position de son axe CC′ pivoter en permanence autour du point Ω. Cette condition n'est pas réalisable rigoureusement avec une rampe plane mais il est possible toutefois de s'en approcher très fortement grâce au dispositif représenté à la figure 6A, en inclinant la rampe par rapport au plan de masse 2 d'un angle très faible de façon que les deux plans paraissent presque parallèles. Sur la figure 6B le point 1 à l'intersection des deux plans de la rampe 19 et du plan de masse 2 avec le plan de la figure 6B peut être évalué géométriquement par la relation JO =Ω 0sin(∅-β) où 0 désigne le centre de la fenêtre de sortie du spectromètre, ∅ l'angle formé par la droite OJ normale à la droite 0Ω avec la droite OI, et β l'angle formé par la droite OG passant par le centre G du galet 18 avec la droite OJ.
  • Cependant au lieu de réaliser mécaniquement l'axe de chaque collecteur 4i lorsque le chariot 17 se déplace sur le plan de masse 2, un autre mode de réalisation possible de l'invention peut consister à corriger la trajectoire des particules par des plaques electrostatiques de la manière représentée à la figure 7. Ceci est obtenu grâce à une première paire de plaques 20 qui redresse l'axe CC′ du faisceau parallèlement à l'axe du collecteur, une seconde paire de plaques 21 recentrant le faisceau sur le détecteur 16i. L'avantage de cette methode est qu'elle permet de supprimer l'arrangement mécanique décrit aux figures 6A et 6B. Son inconvénient résulte cependant dans le fait qu'elle ne permet pas de recentrer parfaitement le faisceau pour la raison qu'il n'est pas possible de disposer les plaques au même niveau que la barrette à fente.
  • Un mode de réalisation d'un dispositif collecteur 16i monté sur un chariot 17 est représenté à la figure 8 suivant une coupe selon le plan BB′ de la figure 4.
  • Sur la figure 8, le chariot 17 est monté glissant sur un rail 22 solidaire de la rampe 19. Un dispositif collecteur formé d'un puits de Faraday 5 et d'un multiplicateur d'électrons 7 est monté sur un socle 23 articulé sur le chariot 17 autour d'un axe 24. Le socle 23 supporte également un galet 18, maintenu en contact sur la rampe 19 par un ressort ou tout dispositif équivalent non représenté, de façon à commander la mise en rotation du socle 23 autour de l'axe 24 lors du déplacement du chariot 17 sur le rail 22 et permettre au dispositif collecteur 16i de s'aligner sur le point Ω. Une glissière à deux ou plusieurs positions 25 permet grâce à une tige 26 d'appliquer chaque fente 12i d'entrée du dispositif collecteur 16i en face du faisceau de particules à détecter.
  • Une glissière 27 à deux positions permet grâce à une tige 28 fixée sur le dispositif de détection 16i de commuter soit des puits de Faraday 5, soit des multiplicateurs 7 dans l'axe du faisceau.
  • Le dispositif qui vient d'être décrit permet grâce à l'utilisation des glissières mobiles 25 et 27 d'opérer des commutations de fentes et de détecteurs quelle que soit la position des collecteurs sur le plan de masse 2. Cependant un procédé plus simple peut consister à localiser le dispositif de commutation à une extrémité de la course des collecteurs, il suffit dans ce cas, de rapporter le collecteur 16i à ce point fixe chaque fois qu'il faut changer de fente ou changer de détecteur. Une autre variante de réalisation de l'invention peut encore consister en un dispositif électronique qui permet d'adresser électriquement le faisceau sur un détecteur quelconque au moyen de plaques polarisées, ceci pouvant être obtenu dans le plan radial ou transverse du faisceau. Un dispositif correspondant représenté aux figures 9A, 9B et 9C permet de réaliser une commutation électrique dans le plan radial. Dans ce cas, contrairement aux dispositifs décrits précédemment, les deux détecteurs 5 et 7 ne sont plus disposés l'un au dessous de l'autre mais l'un à côté de l'autre. La déflection peut alors être réalisée par des plaques 29i en aval du secteur électrostatique 14i comme représentée sur la figure 9A mais également par le secteur électrostatique 14i même. Dans ce dernier cas, il est nécessaire de donner au secteur 14i une forme évasée, comme représenté à la figure 9B pour que le faisceau dévié ne percute pas les parois du secteur. Une commutation électrique des détecteurs dans le plan transverse est également possible. L'avantage dans ce cas est un encombrement moindre dans le plan radial il n'est alors plus possible d'utiliser des secteurs électrostatiques et la déviation doit obligatoirement être réalisée au moyen de plaques en aval du secteur.

Claims (17)

  1. Dispositif de multicollection de particules sur le plan de masse (2) d'un appareil de dispersion de particules chargées électriquement du type comprenant un prisme magnétique (1) pour la déviation d'un faisceau de particules, caractérisé en ce qu'il comporte plusieurs collecteurs (11i) juxtaposés le long du plan de masse (2), chaque collecteur élémentaire étant couplé à un dispositif de détection (16i) par l'intermédiaire d'un secteur électrostatique (14i) dont l'angle de courbure (φ) est approximativement égal à l'angle d'inclinaison du plan de masse par rapport à l'axe du faisceau de particules émis à la sortie du prisme magnétique (1) pour redresser l'axe du faisceau de particules perpendiculairement au plan de masse (2).
  2. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce que le secteur électrostatique (14i) est de forme cylindrique.
  3. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce que le secteur électrostatique (14i) est sphérique.
  4. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce que le secteur électrostatique (14i) a une forme évasée.
  5. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisé en ce que chaque collecteur comporte une fente (12i) disposée dans le plan de détection sur le plan de masse (2).
  6. Dispositif selon la revendication 5, caractérisé en ce qu'il comporte des plaques de déflexion (13i) disposées entre chaque fente (12i) et le secteur électrostatique (14i).
  7. Dispositif selon la revendication 6 caractérisé en ce que les faces d'entrée des détecteurs (16i) sont conjuguées respectivement par rapport aux fentes (12i).
  8. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 1 à 7, caractérisé en ce qu'il comprend plusieurs dispositifs de détections (5, 7) commutables à volonté en face de chaque secteur électrostatique (14i).
  9. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 1 à 8, caractérisé en ce que chaque collecteur (11i) est disposé sur un chariot (17) mobile sur un rail (22) parallèle au plan de masse (2).
  10. Dispositif selon la revendication 9, caractérisé en ce qu'il comporte une rampe d'appui (22) légèrement inclinée par rapport au plan de masse (2) et une came (18) en appui sur la rampe (22) et solidaire du collecteur pour permettre au collecteur (11i) de suivre l'axe du faisceau de particules incident lorsque le collecteur (11i) se déplace sur le plan de collection (2).
  11. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 6 à 9, caractérisé en ce que les plaques de déflexions (13i) sont polarisées avec une tension suffisante pour redresser l'axe du faisceau de particules lorsque le détecteur s'éloigne de l'axe principal.
  12. Dispositif selon la revendication 8, caractérisé en ce qu'il comprend un socle support de détecteurs (23) articulé autour d'un axe (24) du chariot, comportant un galet (18) en appui sur une rampe (19) solidaire du rail (22) pour permettre à l'axe des collecteurs (11i) de rester en permanence alignés sur un point Ω d'où semblent provenir trajectoires des particules du faisceau.
  13. Dispositif selon la revendication 12, caractérisé en ce qu'il comporte des glissières à plusieurs positions solidaires du socle support de détecteurs (23) pour déplacer les détecteurs (5, 7) et les fentes (11i) en face du faisceau de particules à analyser.
  14. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 6 et 8, caractéeisé en ce qu'il comporte plusieurs dispositifs de détecteurs disposés dans le plan radial au faisceau, la commutation du faisceau s'opérant au moyen de tensions électriques appliquées sur les plaques de déviations (26i) interposés entre chaque secteur électrostatique (14i) et les détecteurs correspondant (16i).
  15. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 1 à 14, caractérisé en ce qu'il permet l'analyse ionique de particules.
  16. Dispositif selon la revendication 15, caractérisé en ce que l'appareil de dispersion de particules est un spectromètre de masse.
  17. Dispositif selon la revendication 16, caractérisé en ce que le spectromètre de masse est un spectromètre type SIMS.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0611169A1 (fr) * 1993-02-12 1994-08-17 FISONS plc Dispositif à détecteurs multiples pour la détection de particules chargées
DE102012110490A1 (de) 2011-11-02 2013-05-02 Nu Instruments Ltd. Massenspektrometer, welches Detektorenanordnungen umfasst
GB2541391A (en) * 2015-08-14 2017-02-22 Thermo Fisher Scient (Bremen) Gmbh Detector and slit configuration in an isotope ratio mass spectrometer
CN113083017A (zh) * 2021-04-07 2021-07-09 中国科学院近代物理研究所 一种用于稳定同位素电磁分离器的收集盒系统

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107438891B (zh) * 2015-02-10 2019-11-08 诺威量测设备公司 用于使用二次离子质谱的半导体计量和表面分析的系统和方法
CN112525976B (zh) * 2020-10-19 2022-04-22 中国科学院广州地球化学研究所 一种基于大型离子探针对含水矿物中水含量、氧同位素和氢同位素同时进行分析的方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB979589A (en) * 1960-06-03 1965-01-06 Atlas Werke Ag Improvements in and relating to mass spectrometers
FR2102931A5 (en) * 1970-08-31 1972-04-07 Thomson Csf Mass spectrometry - instantaneous alternative of direct or high gain reception of ion beam
EP0081371A2 (fr) * 1981-12-07 1983-06-15 Vg Instruments Group Limited Spectromètre de masse à multiples collecteurs
US4473748A (en) * 1981-03-18 1984-09-25 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Neutral particle analyzer
US4785172A (en) * 1986-12-29 1988-11-15 Hughes Aircraft Company Secondary ion mass spectrometry system and method for focused ion beam with parallel ion detection

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB979589A (en) * 1960-06-03 1965-01-06 Atlas Werke Ag Improvements in and relating to mass spectrometers
FR2102931A5 (en) * 1970-08-31 1972-04-07 Thomson Csf Mass spectrometry - instantaneous alternative of direct or high gain reception of ion beam
US4473748A (en) * 1981-03-18 1984-09-25 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Neutral particle analyzer
EP0081371A2 (fr) * 1981-12-07 1983-06-15 Vg Instruments Group Limited Spectromètre de masse à multiples collecteurs
US4785172A (en) * 1986-12-29 1988-11-15 Hughes Aircraft Company Secondary ion mass spectrometry system and method for focused ion beam with parallel ion detection

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
NUCLEAR INSTRUMENTS AND METHODS. vol. 139, Décembre 1976, AMSTERDAM NL pages 73 - 78; R WAGNER: 'A VARIABLE GEOMETRY MULTIPOCKET COLLECTOR FOR ELECTROMAGNETIC SECTOR SEPARATORS' *

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0611169A1 (fr) * 1993-02-12 1994-08-17 FISONS plc Dispositif à détecteurs multiples pour la détection de particules chargées
DE102012110490A1 (de) 2011-11-02 2013-05-02 Nu Instruments Ltd. Massenspektrometer, welches Detektorenanordnungen umfasst
GB2499868A (en) * 2011-11-02 2013-09-04 Nu Instr Ltd Mass spectrometer including magnetic and electrostatic fields and a detector array
GB2541391A (en) * 2015-08-14 2017-02-22 Thermo Fisher Scient (Bremen) Gmbh Detector and slit configuration in an isotope ratio mass spectrometer
US9768003B2 (en) 2015-08-14 2017-09-19 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Detector and slit configuration in an isotope ratio mass spectrometer
GB2541391B (en) * 2015-08-14 2018-11-28 Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh Detector and slit configuration in an isotope ratio mass spectrometer
CN113083017A (zh) * 2021-04-07 2021-07-09 中国科学院近代物理研究所 一种用于稳定同位素电磁分离器的收集盒系统

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