DK171492B1 - Fremgangsmåde til bestemmelse af densitetsprofil i et pladeformet materiale - Google Patents

Fremgangsmåde til bestemmelse af densitetsprofil i et pladeformet materiale Download PDF

Info

Publication number
DK171492B1
DK171492B1 DK072394A DK72394A DK171492B1 DK 171492 B1 DK171492 B1 DK 171492B1 DK 072394 A DK072394 A DK 072394A DK 72394 A DK72394 A DK 72394A DK 171492 B1 DK171492 B1 DK 171492B1
Authority
DK
Denmark
Prior art keywords
plate
detector
angle
density
source
Prior art date
Application number
DK072394A
Other languages
English (en)
Other versions
DK72394A (da
Inventor
Sten Dueholm
Steen Teller
Original Assignee
Wesser & Dueholm
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to DK072394A priority Critical patent/DK171492B1/da
Application filed by Wesser & Dueholm filed Critical Wesser & Dueholm
Priority to CA002192340A priority patent/CA2192340C/en
Priority to US08/750,835 priority patent/US5970116A/en
Priority to EP95922432A priority patent/EP0766814B1/en
Priority to DE69521613A priority patent/DE69521613D1/de
Priority to DE69521613T priority patent/DE69521613T4/de
Priority to AT95922432T priority patent/ATE202846T1/de
Priority to PT95922432T priority patent/PT766814E/pt
Priority to AU27329/95A priority patent/AU2732995A/en
Priority to PCT/DK1995/000242 priority patent/WO1995035491A1/en
Priority to ES95922432T priority patent/ES2159642T3/es
Publication of DK72394A publication Critical patent/DK72394A/da
Application granted granted Critical
Publication of DK171492B1 publication Critical patent/DK171492B1/da

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N9/00—Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity
    • G01N9/24—Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity by observing the transmission of wave or particle radiation through the material
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/16—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the material being a moving sheet or film
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/20083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials by using a combination of at least two measurements at least one being a transmission measurement and one a scatter measurement
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/46—Wood

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Wood Science & Technology (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Description

DK 171492 B1
Opfindelsen angår en fremgangsmåde til bestemmelse af densitetsprofil i et pladeformet materiale, hvis densitet varierer diskret eller kontinuerligt over pladetykkelsen, hvorimod densiteten i en bestemt dybde af pladen fortrinsvis antages at 5 være konstant, herunder eksempelvis træbaserede plader, ved hjælp af røntgen- eller gammastråler fra en kilde, som anbringes på den ene side af pladen, hvor der på den anden side af den under målingen i længderetningen fremførte fortrinsvis endeløse plade anbringes mindst to detektorer, idet en første 10 detektor placeres i kildens udstrålingsretning og måler den gennem pladen transmitterede stråling, og mindst én detektor placeres uden for kildens udstrålingsretning og måler den spredte stråling fra delvolumener langs kildens udstrålings-retning.
15 En sådan detektion tænkes eksempelvis, men ikke udelukkende anvendt ved produktion af træbaserede plader, der fremstilles ved sammenlimning af træpartikler af varierende størrelse, dvs. krydsfiner (fremstillet af enkelte lag), OSB (Oriented Strand Boards, fremstillet af store strimler af træ), spån-20 plader (fremstillet af en lagvis opbygget måtte af store og små spåner, der sædvanligvis er separeret i lag) og fiberplader, fremstillet af træfibre. Ved fremstilling af disse plader påføres partiklerne en termohærdende lim, der udlægges eller udstrøes på plader eller bånd som en lagdelt eller homogen 25 måtte og derefter i en varmepresse presses/hærdes i en kontinuerlig eller diskontinuerlig proces. Processens parametre og især pressens karakteristik påvirker den færdige plades typiske egenskaber. Tydeligst viser dette sig ved pladens densitetsprofil, dvs. densitetens variation over tykkelsen - der 30 dermed er en indikator for både produktionsanlæggets driftstilstand og for pladens anvendelsesegenskaber.
Det er kendt, at dentitetsprofilen kan bestemmes destruktivt på laboratorieprøver, enten gravimetrisk ved lagvis affræsning og vejning, eller ved isotop-transmissionsskanning på et prø-35 veemne i pladens plan. Ud fra disse resultater kan processen justeres, men med en tidsforskydning på mindst 1-2 timer. En sådan destruktiv målemetode er man imidlertid interesseret i at undgå.
2 DK 171492 B1
Fra US patentskrift nr. 4.228.351 kendes en målemetode, hvor 5 densiteten af et materiale måles som forholdet mellem intensiteten af den spredte og den transmitterede stråling. En måling af densitetsprofilen er imidlertid ikke omtalt.
Fra tysk patentskrift nr. 4.243.454 er det kendt at måle tæt-hedsprofilen langs kanten af en plade ved hjælp af et stråle-10 bundt og et antal detektorer anbragt under pladen. Strålebundtet sendes skråt ind fra siden langs kanten af pladen. En fordel herved er, at man med en første del af strålebundtet kun måler dæmpningen i det nederste lag og med en anden del af strålebundtet kun måler dæmpningen i det nederste og det næst-15 nederste lag osv. Man vil herefter kunne beregne dæmpningen i det enkelte lag. En ulempe ved denne metode er imidlertid, at den er for usikker. Dertil kommer, at den kun måler langs kanten, hvilket ikke altid er tilstrækkeligt repræsentativt.
Fra US-patentskrift nr. 5.195.116 kendes et apparat til detek-20 tion af skillefladerne i en lagdelt plade ved hjælp af røntgenstråler. Et smalt strålebundt af en røntgenstråling spredes som følge af Compton-effekten. En detektor, der er rettet mod et målevolumen, detekterer den derfra spredte stråling (For-ward-Scatter), som er et mål for elektrontætheden og derigen-25 nem densiteten i målevolumenet. Ved at forskyde henholdsvis kilden og detektoren i op- og nedadgående retning i forhold til pladen kan der opnås kendskab til lagopbygning og eventuelle fejl i materialet. En ulempe ved dette målesystem er, at signalet, den spredte strålingsintensitet fra et givet målevo-30 lumen ud over densiteten også afhænger af alle de overliggende lags tykkelse og densitet. Disse værdier vil i princippet kunne bestemmes. Dette ville imidlertid kræve, at der blev foretaget omfattende kalibreringsmålinger på kendte emner. Dertil kommer, at eventuelle målefejl akkumuleres fra alle dellag 3 DK 171492 B1 frem til det aktuelle målevolumen.
Formålet med opfindelsen er at anvise en fremgangsmåde til bestemmelse af densitetsprofilen af et pladeformet materiale, som er uafhængig af den aktuelle densitetsfordeling og derfor 5 kun kræver et minimum af kalibrering.
En fremgangsmåde af den indledningsvis nævnte art er ifølge opfindelsen ejendommelig ved, at den anden detektor forskydes i forhold til den første detektor samtidigt med, at detekti-onsretningen bibeholdes.
10 Ved et passende valg af udstrålingsretning og detektionsretning vil man derved kunne tilvejebringe et mål for tætheden i et givet målevolumen ved blot at dividere tælletallet af den anden detektor med tælletallet af den første detektor. Dæmpningen i materialet udgår derved.
15 Den anden og bevægelige detektor kan ifølge opfindelsen eventuelt erstattes af et mekanisk stillestående array af detektorer, hvor de enkelte detektorer i arrayet optager måleværdier samtidigt eller efter tur under pladens bevægelse.
Opfindelsen skal nærmere forklares i det følgende under hen-20 visning til tegningen, hvor fig. 1 illustrerer hvorledes kilden og detektorerne er placeret i forhold til pladen ved fremgangsmåden ifølge opfindelsen, fig. 2 illustrerer, hvorledes målingen af densitetsprofilen 25 optimeres ved et passende valg af udstrålingsretning og detek-tionsretninger i forhold til pladen, fig. 3 illustrerer forskellige optimale valg af udstrålingsretning og detektionsretninger for visse pladematerialer, og 4 DK 171492 B1 fig. 4 illustrerer et eksempel på en densitetsprofil tilvejebragt ved hjælp af fremgangsmåden ifølge opfindelsen.
Fig. 1 illustrerer, hvorledes man ved hjælp af fremgangsmåden ifølge opfindelsen dels måler transmitteret og dels fremad-5 spredt (Compton-spredt) stråling. Røntgen- og gammastråling spredes fortrinsvis ved Compton-effekten fra atomernes elektroner ud i alle retninger, dog ikke isotropt. Afhængigt af spredningsvinklen Θ benyttes ofte betegnelsen "Back-Scatter" for (Θ & 90°) og "Forward-Scatter" for (Θ s 90°) . I måleteknisk 10 henseende anvendes betegnelsen "Back-Scatter" eller tilbagespredt stråling for målesituationer, hvor kilden og detektoren er placeret på samme side af måleemnet uanset spredningsvinklen, der kan være mindre end 90°. Tilsvarende anvendes betegnelsen "Forward-Scatter" eller fremadspredt stråling for måle-15 situationer, hvor kilden og detektoren er placeret på hver sin side af måleemnet. Den foreliggende opfindelse kan kun udøves, hvis kilden og detektorerne anbringes på hver sin side af et typisk pladeformet måleemne. Opfindelsen er derfor, for så vidt angår anvendelsesområdet, begrænset i forhold til de 20 velkendte "Back-Scatter" teknikker, men inden for det begrænsede anvendelsesområde pladeformede materialer opnås ved fremgangsmåden ifølge opfindelsen et målesignal, der er proportionalt med densiteten i et delvolumen uafhængigt af densiteterne og tykkelserne af de omliggende lag.
25 I fig. 1 betegner K en radioaktiv kilde eller et røntgenrør, der udsender stråling i retning af en detektor T, der måler strålingstransmissionen gennem en plade M. En detektor F er kollimeret således, at den kun modtager spredt stråling fra et lille delvolumen omkring et spredningspunkt P. Detektoren F 30 kan forskydes således, at det betragtede spredningspunkt P forskydes langs linien P-Q.
For pladeformede materialer, hvis densitet i hovedsagen kun varierer vinkelret på pladens M plan, kan det principielt nåleformede strålebundt erstattes af et vifteformet stråle- 5 DK 171492 B1 bundt. Punkterne P og Q kan dermed opfattes som langstrakte målevolumener vinkelret på tegningens plan. Derved opnås et kraftigere målesignal for en given kildestyrke. Kollimatoren foran detektoren F skal da blot udformes således, at den har 5 et synsfelt, der er større end den største bredde af det vifteformede strålebundt i pladen M.
Detektoren F kan omfatte flere bevægelige detektorer for opnåelse af højere målefølsomhed, eller flere bevægelige detektorer kan skandere delområder, således at et fuldt densitets-10 profil opnås hurtigere, eller således, at kun de områder, der fra et produktionsmæssigt synspunkt er de mest interessante, undersøges. Netop undersøgelse af interessante delområder er en egenskab, der kun kan opnås ved fremgangsmåden ifølge opfindelsen. Ved de kendte "Back-Scatter"-principper vil det 15 være nødvendigt at måle alle delområder mellem overfladen og det ønskede målområde for at kunne beregne densitetsfordelingen et stykke inden i pladen.
Fig. 2 illustrerer, hvorledes densitetsprofilen udledes matematisk af de målte størrelser. K, T og F har samme betydning 20 som i fig. 1 og er her kun illustreret som stråleretninger. M betegner pladen, der typisk bevæger sig under den berøringsfri måling. Densiteten varierer kontinuert eller diskret vinkelret på pladens M plan, her angivet som en X-akse. Strålen fra kilden K rammer pladen M ved punktet A under en indfaldsvinkel 25 på V. I betragtningspunktet C spredes strålingen, og detektoren F ser kun den del af den spredte stråling, der er spredt i en vinkel Θ. Udfaldsvinklen er betegnet W. Den transmitterede stråle trænger ud af pladen M ved B, og den betragtede spredte stråle trænger ud af pladen M ved D.
30 Hvis det antages, at der er en diskret densitetsfordeling, kan intensiteten af den spredte stråling IFS fra et volumenelement V± ved X± udtrykkes ΙΡ3(χι) = 6 DK 171492 B1
i N
-μ·Δ.Υ·α^ Σ pp -μ1·ΔΧ·α2· Σ pP
(1) IfgiXi) = Ιο β P=1 · Sd · e p=i+1 hvor ^ = aie.m-Pi · V, · e„
= 1 . „ 1 = 1 1 sirzV ' 2 sin(n-Ø-V) sin(0 + lO
I udtrykket indgår intensiteten af kildens K udstråling I0, dæmpningen langs A-C, dæmpningens langs C-D, hvor absorptionskoefficienten μ' > μ, da energien e’ af den Compton-spredte 5 stråling er mindre end energien E af den primære stråling fra kilden K. I Si indgår spredningssandsynligheden σ, der afhænger af E og Θ, samt densiteten pi i volumenelementet νΑ, dettes størrelse samt en kombineret rumvinkel og effektivitetsfaktor eD for detektoren F.
10 Indsættes identiteten μ' a2 = μ' α2 + Μ αι " Μ αι fås
N N
-μ·ΔΧ·ο1Σ fip vægt* (μα1-μ'β2) Δ* Σ ρρ (2) Ι„(ΧΛ) = Ι0 · e 1 · S± · e i+1 eller IFS (Xi) = IT · Si · K.
7 DK 171492 B1
Faktoren T indses netop at være intensiteten af den transmitterede stråling, der er givet ved IT I0 · E‘/i<p>,L, hvor < P > - ί Σ Pi
N
5 er pladens middeldensitet, og L = t/sinV = t · = N · Δχ · er strålens vejlængde i pladen M.
Udtrykket K bliver 1 for μ ax - μ' a2, hvilket opnås for sin (V + Θ) = sin V μ 10
Uligheden skyldes som nævnt Compton-relationen E' = _E_ i + —— (l-cosø) M0C2
Altså E' < E og dermed μ' > μ for et meget stort område af strålingsenergier og materialer.
Densiteten i for K * 1 bestemmes altså af forholdet 15 IFs(Xi)/IT uafhængigt af densitetsprofilet. Parametrene, som indgår i SA, er apparatkonstanter, idet σ (θ, E) er givet ved strålingsenergien E og spredningsvinklen, VA er bestemt af strålens tværsnit og kollimatoren, og eD er givet ved kol-limatoråbningen, detektorens effektivitet og afstanden mellem 20 detektor og spredningspunkt.
Vinkelrelationen kan alternativt udtrykkes ved, at afstanden CD skal være mindre end afstanden CB (der skal være den samme dæmpning af strålingen langs disse veje. Absorptionskoefficienten er imidlertid større langs CD).
8 DK 171492 B1
Indfaldsvinklen V skal derfor altid være mindre end 90°.
Da E' < E er μ' > μ. Da α < 1 er det i mange tilfælde muligt at vælge μ1 · α = μ, hvorved densiteten i det betragtede volumen kan udtrykkes ved de målte strålingsintensiteter IT og IFS.
5 Der er to løsninger, idet μ = AS/ΑΧ er symmetrisk omkring V =
45°. I praksis vælges Θ = 90°, som er den vinkel, der giver den bedste opløsning. Primærstrålens energi skal imidlertid vælges således i forhold til måleobjektets tykkelse, middeldensitet og sammensætning, at dæmpningen bliver på ca. 10-70% svarende 10 til 0,1 < μρΜ · t < 1. F.eks. har man for et materiale med middeldensitet pM næsten lig med 1 g/cm3 og t = 2 cm, 0,05 cm2/g < μ < 0,5 cm2/g. En gammakilde K med en energi på 60 keV eller en røntgenkilde med en anode, der er påtrykt en spænding på 100 keV svarende til en fotonenergi på ca. 70 keV, har vist 15 sig at være passende for træ- eller plastbaserede materialer (μ = 0,165 cm2/g for kulstof ved 70 keV) . For en velegnet spredningsvinkel Θ = 90° findes for E = 70 keV
E' = -—-= 62 keV
1 ♦ .1 511 Ændringen i μ kan ved tabelopslag findes til at være ca. 0,01 cm2/g, hvoraf = 0/174 =1,05 μ 0,165 20 Dette opfyldes af vinkelrelationen , såfremt indfaldsvinklen V = 43,5°. Hvis indfaldsvinklen V vælges som 45°, bliver den tilsvarende spredningsvinkel Θ = 87°.
9 DK 171492 B1
Med opfyldt vinkelrelation haves altså IFS(Xi) = IT · · 1 med Si = o · pi · Vi · €D eller pi = konstant · LpslUil.
IT
Ved forsøg med V = 45° burde den anvendte spredningsvinkel Θ 5 som nævnt ovenfor være 87° i stedet for 90°. Forskellen er imidlertid næsten uden betydning, og der er desuden en effekt, der retfærdiggør en vinkel på 90°.
Hvis der anvendes et røntgenrør i stedet for en gammakilde, sker der en beam-hardening frem gennem materialet svarende 10 til, at middelenergien i punktet B- se fig. 2 - er lidt større end middelenergien for den indfaldende stråling i punktet A. Spredningssandsynligheden σ i punktet B er derfor lidt lavere end i punktet A. Omvendt er korreksionsfaktoren
N
K = exp [(μαχ - μ'α2) · ΔΧ · Σ ρρ= 1 L+1 i punktet Β (Σ = restpladevægt for spredt stråling =0) og 15 nogle få procent mindre i punktet A. I praksis ophæver disse virkninger stort set hinanden, og der vælges normalt Θ = 90° i stedet for Θ = 87°. Virkningerne er under alle omstændigheder små, og billedet ændres ikke, selv om der anvendes flere spal-tekollimatorer svarende til, at man dækker et større vinkel-20 interval.
For lette materialer kan der som nævnt med fordel anvendes energier på 50 - 100 keV, hvor Compton-skiftet er lille, og absorptionskoefficienten for IFS følgelig kun er nogle få procent større end for IT. Vinkelrelationen siger derfor, at ud-25 faldsvinklen W næsten skal være lig med indfaldsvinklen V. Eksempler herpå er vist i fig. 3.
Opfindelsen er baseret på en kombination af spredt og transmitteret stråling gennem et pladeformet materiale med varierende densitet over tykkelsen, idet der med et passende valg 30 af vinkler og strålingsenergi, opnås en kalibreringsfri måling 10 DK 171492 B1 af densitetsprofilet.
Det pågældende emne er ikke nødvendigvis pladeformet. Det kan også antage andre former, eksempelvis være kileformet eller have en krum overflade.

Claims (10)

1. Fremgangsmåde til bestemmelse af densitetsprofil i pladeformet materiale, hvis densitet varierer diskret eller konti- 5 nuerligt over pladetykkelsen, hvorimod densiteten i en bestemt dybde af pladen fortrinsvis antages at være konstant, herunder eksempelvis træbaserede plader, ved hjælp af røntgen- eller gammastråler fra en kilde K, som anbringes på den ene side af pladen M, hvor der på den anden side af den under målingen i 10 længderetningen fremførte fortrinsvis endeløse plade M anbringes mindst to detektorer, idet en første detektor T placeres i kildens K udstrålingsretning og måler den gennem pladen M transmitterede stråling, og mindst én detektor F placeres udenfor kildens K udstrålingsretning og måler den spredte 15 stråling fra delvolumener langs kildens K udstrålingsretning, kendetegnet ved, at den anden detektor F forskydes i forhold til den første detektor T samtidigt med, at detekti-onsretningen bibeholdes.
2. Fremgangsmåde ifølge krav 1, kendetegnet ved, at 20 den anden og bevægelige detektor erstattes af et mekanisk stillestående array af detektorer, hvor de enkelte detektorer i arrayet optager måleværdier samtidigt eller efter tur under pladens M bevægelse.
3. Fremgangsmåde ifølge krav 1 eller 2, kendetegnet 25 ved, at den anden og bevægelige detaktor F udvides til at omfatte et stort antal detektorer, der alle bevæges efter et forud fastlagt mønster og med en forudfastlagt vinkelændring.
4. Fremgangsmåde ifølge et eller flere af de foregående krav, kendetegnet ved, at man vælger detektionsretningen 30 af den anden detektor F i forhold til kildens K udstrålingsretning (udfaldsvinklen) på en sådan måde, at densiteten udtrykkes direkte som et forhold mellem målesignalerne.
5. Fremgangsmåde ifølge krav 4, kendetegnet ved, at indfaldsvinklen V næsten er lig med udfaldsvinklen W. DK 171492 B1
6. Fremgangsmåde ifølge krav 5, kendetegnet ved, at indvaldsvinklen V er ca. 60°, medens udfaldsvinklen W er ca. 65°.
7. Fremgangsmåde ifølge krav 5, kendetegnet ved, at 5 indfaldsvinklen V er ca. 45°, medens udfaldsvinklen W er ca. 48° .
8. Fremgangsmåde ifølge krav 5, kendetegnet ved, at indfaldsvinklen V er ca. 30°, medens udfaldsvinklen W er ca. 31° .
9. Fremgangsmåde ifølge krav 5, kendetegnet ved, at detektionsretningen af den anden detektor F er ca. 87° i forhold til kildens K udstrålingsretning, når denne danner en vinkel på ca. 45° med pladens M overflade.
10. Fremgangsmåde ifølge et eller flere af de foregående krav, 15 hvor den anvendte strålingskilde K er et røntgenrør, kendetegnet ved, at der korrigeres for beamhardening.
DK072394A 1994-06-20 1994-06-20 Fremgangsmåde til bestemmelse af densitetsprofil i et pladeformet materiale DK171492B1 (da)

Priority Applications (11)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DK072394A DK171492B1 (da) 1994-06-20 1994-06-20 Fremgangsmåde til bestemmelse af densitetsprofil i et pladeformet materiale
US08/750,835 US5970116A (en) 1994-06-20 1995-06-15 Method of determining the density profile of a plate-shaped material
EP95922432A EP0766814B1 (en) 1994-06-20 1995-06-15 A method of determining the density profile of a plate-shaped material
DE69521613A DE69521613D1 (de) 1994-06-20 1995-06-15 Methode zur bestimmung des dichteprofils eines scheibenförmigen materials
CA002192340A CA2192340C (en) 1994-06-20 1995-06-15 A method of determining the density profile of a plate-shaped material
DE69521613T DE69521613T4 (de) 1994-06-20 1995-06-15 Methode zur bestimmung des dichteprofils eines scheibenförmigen materials
AT95922432T ATE202846T1 (de) 1994-06-20 1995-06-15 Methode zur bestimmung des dichteprofils eines scheibenförmigen materials
PT95922432T PT766814E (pt) 1994-06-20 1995-06-15 Processo para a determinacao do perfil de densidadesde um material com a forma de placa
AU27329/95A AU2732995A (en) 1994-06-20 1995-06-15 A method of determining the density profile of a plate-shaped material
PCT/DK1995/000242 WO1995035491A1 (en) 1994-06-20 1995-06-15 A method of determining the density profile of a plate-shaped material
ES95922432T ES2159642T3 (es) 1994-06-20 1995-06-15 Metodo para determinar el perfil de densidad de un material en forma de placa.

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DK072394A DK171492B1 (da) 1994-06-20 1994-06-20 Fremgangsmåde til bestemmelse af densitetsprofil i et pladeformet materiale
DK72394 1994-06-20

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DK72394A DK72394A (da) 1995-12-21
DK171492B1 true DK171492B1 (da) 1996-11-25

Family

ID=8096803

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DK072394A DK171492B1 (da) 1994-06-20 1994-06-20 Fremgangsmåde til bestemmelse af densitetsprofil i et pladeformet materiale

Country Status (10)

Country Link
US (1) US5970116A (da)
EP (1) EP0766814B1 (da)
AT (1) ATE202846T1 (da)
AU (1) AU2732995A (da)
CA (1) CA2192340C (da)
DE (2) DE69521613T4 (da)
DK (1) DK171492B1 (da)
ES (1) ES2159642T3 (da)
PT (1) PT766814E (da)
WO (1) WO1995035491A1 (da)

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DK171779B1 (da) * 1996-02-14 1997-05-20 Wesser & Dueholm Fremgangsmåde til bestemmelse af densitetsprofil
FI990153A0 (fi) * 1999-01-28 1999-01-28 Valtion Teknillinen Tiheysjakaumaltaan homogeenisen materiaalin/puuhakkeen kosteuden on-line mittausmenetelmä perustuen gammasäteilyn transmissioon ja materiaaliin paksuuden mittaukseen
CA2348150C (en) 2000-05-25 2007-03-13 Esam M.A. Hussein Non-rotating x-ray system for three-dimensional, three-parameter imaging
NZ505539A (en) * 2000-07-03 2002-03-28 Fletcher Challenge Forests Ltd A method for wood drying using x-rays to determine moisture content to enable sorting
CA2355560C (en) 2000-08-28 2003-11-18 Balza Achmad X-ray compton scatter density measurement at a point within an object
EP1258723A1 (en) * 2001-05-18 2002-11-20 Imal S.R.L. Non destructive process for continuously measuring the density profile of panels
DE10149317B4 (de) * 2001-10-05 2015-02-19 Albert-Ludwigs-Universität Freiburg Vorrichtung zur Messung der dielektrischen Eigenschaften eines Substrats
US6895072B2 (en) 2003-03-26 2005-05-17 Heimann Systems Corp. Apparatus and method for non-destructive inspection of material in containers
GB0411401D0 (en) * 2004-05-21 2004-06-23 Tissuomics Ltd Penetrating radiation measurements
US7203276B2 (en) * 2004-08-27 2007-04-10 University Of New Brunswick X-ray scatter image reconstruction by balancing of discrepancies between detector responses, and apparatus therefor
DE102004057743B4 (de) * 2004-09-08 2007-08-09 Mahlo Gmbh & Co Kg Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen des Flächengewichtes einer geförderten Materialprobe
NZ538649A (en) 2005-03-07 2006-10-27 Inst Geolog Nuclear Sciences Estimating strengths of wooden supports using gamma rays
RU2300756C1 (ru) * 2005-09-19 2007-06-10 Институт Информатики и Проблем Регионального Управления КБНЦ РАН Способ реализации микрорентгенофлуоресцентного анализа материалов с трехмерным разрешением
NL1038030C2 (nl) * 2010-06-11 2011-12-13 Multigarant B V Werkwijze voor het onderzoeken van een verzameling houten delen.
US8767912B1 (en) 2013-04-09 2014-07-01 King Abdulaziz University System for inspection and imaging of insulated pipes and vessels using backscattered radiation and X-ray fluorescence
US9151722B2 (en) 2014-01-15 2015-10-06 King Abdulaziz University Systems for determining and imaging wax deposition and simultaneous corrosion and wax deposit determination in pipelines
US8976936B1 (en) 2014-05-22 2015-03-10 King Abdulaziz University Collimator for backscattered radiation imaging and method of using the same
DE102014212514A1 (de) 2014-06-27 2015-12-31 Volkswagen Aktiengesellschaft Schwenklager
US20160274039A1 (en) 2014-09-25 2016-09-22 King Abdulaziz University System for determining and imaging wax deposition and corrosion in pipelines
US9020099B1 (en) 2014-12-03 2015-04-28 King Abdulaziz University Miniaturized pipe inspection system for measuring corrosion and scale in small pipes
US9784699B2 (en) * 2015-03-03 2017-10-10 Panalytical B.V. Quantitative X-ray analysis—matrix thickness correction
US10215796B2 (en) 2015-05-11 2019-02-26 Northwestern University System and method for deducing charge density gradients in doped semiconductors
CN110614558A (zh) * 2019-09-23 2019-12-27 临沂兴滕人造板机械有限公司 一种人工智能检板系统
US10890544B1 (en) 2019-12-18 2021-01-12 Field Service Solutions LLC Nuclear densitometer assemblies for hydraulic fracturing

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2544354A1 (de) * 1975-10-03 1977-04-14 Siemens Ag Verfahren zur bestimmung der dichte von koerpern mittels durchdingender strahlen und geraet zu seiner durchfuehrung
US4047029A (en) * 1976-07-02 1977-09-06 Allport John J Self-compensating X-ray or γ-ray thickness gauge
US4228351A (en) * 1979-02-26 1980-10-14 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Method for measuring the density of lightweight materials
CA1202431A (en) * 1984-05-18 1986-03-25 Josef W. Repsch Method and apparatus to measure the weight per unit area, density and thickness of a moving sheet
EP0311177B1 (de) * 1987-10-05 1993-12-15 Philips Patentverwaltung GmbH Anordnung zur Untersuchung eines Körpers mit einer Strahlenquelle
FR2629914B1 (fr) * 1988-04-06 1991-09-06 Aerospatiale Procede et dispositif pour determiner la masse volumique d'un volume elementaire de matiere
US5247561A (en) * 1991-01-02 1993-09-21 Kotowski Andreas F Luggage inspection device
FR2672120B1 (fr) * 1991-01-30 1993-05-14 Aerospatiale Procede et systeme a effet compton pour la localisation d'un plan separant deux milieux de densites differentes.
US5195117A (en) * 1992-04-24 1993-03-16 University Of Houston Method for using secondary radiation scattering to evaluate the thickness of materials
DE4243454C1 (de) * 1992-12-22 1994-03-10 Grecon Greten Gmbh & Co Kg Vorrichtung und Verfahren zur Erstellung eines Rohdichteprofils über die Dicke einer Platte

Also Published As

Publication number Publication date
PT766814E (pt) 2001-12-28
EP0766814A1 (en) 1997-04-09
CA2192340A1 (en) 1995-12-28
DE69521613T2 (de) 2001-10-31
DE69521613T4 (de) 2002-12-19
US5970116A (en) 1999-10-19
EP0766814B1 (en) 2001-07-04
AU2732995A (en) 1996-01-15
WO1995035491A1 (en) 1995-12-28
DK72394A (da) 1995-12-21
DE69521613D1 (de) 2001-08-09
CA2192340C (en) 2001-02-13
ATE202846T1 (de) 2001-07-15
ES2159642T3 (es) 2001-10-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DK171492B1 (da) Fremgangsmåde til bestemmelse af densitetsprofil i et pladeformet materiale
US5729582A (en) Method and apparatus for determining both density and atomic number of a material composition using Compton scattering
US6680996B2 (en) Dual-wavelength X-ray reflectometry
US7356114B2 (en) X-ray fluorescence spectrometer
US4228351A (en) Method for measuring the density of lightweight materials
EP0898704A1 (en) Inspection equipment using small-angle topography in determining an object&#39;s internal structure and composition
FI68321B (fi) Foerfarande foer att medelst straolning utsaend av ett roentgenroer utan att foerstoera provet maeta foerdelningen av fylloch/eller belaeggningsmedel i tjockleksriktningen av papp erartong eller liknande och halten av dessa medel anordnin rgafoer tillaempande av foerfarandet samt anvaendningar av erfoarandet och anordningarna
US3936638A (en) Radiology
US4363968A (en) Method and apparatus for determining the binder content in a fibrous mat
US4377869A (en) Procedure for measuring coating rates
GB2088050A (en) Gamma Ray Analysis of Multi- component Material
US3904876A (en) Determination of paper ash content by X-ray absorption analysis
Davis et al. Moisture content in drying wood using direct scanning gamma-ray densitometry
US4350889A (en) X-Ray fluorescent analysis with matrix compensation
JP2006313132A (ja) 試料分析方法およびｘ線分析装置
DK171779B1 (da) Fremgangsmåde til bestemmelse af densitetsprofil
JPH0329410B2 (da)
US4820919A (en) Method of determining the density of substrata
US20190285561A1 (en) X-ray utilized compound measuring apparatus
DK176823B1 (da) Fremgangsmåde til tilvejebringelse af densitetsprofilet af et pladeformet legeme
DK172585B1 (da) Fremgangsmåde til bestemmelse af densitetsprofil af et pladeformet materiale
RU2240541C1 (ru) Способ измерения декремента рентгеновского показателя преломления
RU2037773C1 (ru) Рентгеновский способ изменения толщины материала
Zambelli et al. Absolute Density Determination and Compositional Analysis of Materials by Means of CdZnTe Spectroscopic Detectors
SU1073649A1 (ru) Способ измерени концентрации наполнител в бумажном полотне

Legal Events

Date Code Title Description
B1 Patent granted (law 1993)
PUP Patent expired

Expiry date: 20140620