PT766814E - Processo para a determinacao do perfil de densidadesde um material com a forma de placa - Google Patents

Processo para a determinacao do perfil de densidadesde um material com a forma de placa Download PDF

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Description

DESCRIÇÃO "PROCESSO PARA A DETERMINAÇÃO DO PERFIL DE DENSIDADES DE DM MATERIAL COM A FORMA DE PLACA"
Campo da Invenção A invenção refere-se a um processo para a determinação do perfil de densidades de um material com a forma de placa de uma densidade que varia de maneira discreta ou continua ao longo da espessura da placa, enquanto a densidade a uma profundidade especifica da placa é considerada como sendo preferivelmente constante, como por exemplo placas baseadas em madeira, por meio de raios X ou raios gama provenientes de uma fonte colimada colocada num lado da placa.
Antecedentes da Técnica
Essa detecção pode por exemplo, mas não exclusivamente, ser utilizada para a produção de placas baseadas em madeira e fabricadas por uma colagem conjunta das partículas de madeira de tamanho variável, isto é, contraplacado feito de camadas individuais, OS B ("Oriented Strand Boards" - Pranchas de Fibras Orientadas) feitas de grandes faixas de madeira, aglomerados de madeira (feitos a partir de uma esteira de camadas de aparas grandes e pequenas usualmente separadas em camadas) e placas de fibras feitos de fibras de madeira.
Para a fabricação destas placas, aplica-se um adesivo termoendurecível sobre as partículas, sendo o referido adesivo aplicado ou espalhado sobre placas ou tiras com a forma de uma esteira laminada ou homogénea e subsequentemente sujeita a um processo contínuo ou não contínuo numa prensa aquecida de modo a ser prensada ou endurecida. 1 Λ. \
Lz
U
Os parâmetros do processo e especialmente as caracteristicas da prensa têm um efeito sobre as propriedades típicas da placa fabricada. Isso é particularmente óbvio em conexão com o perfil das densidades da placa, isto é, a variação da densidade ao longo da espessura que, por consequência, é um indicador não só das condições de operação da instalação de fabricação mas também das propriedades de utilização da placa.
De acordo com a técnica anterior é possível determinar destrutivamente o perfil de densidades em ensaios de laboratório, seja gravimetricamente por meio de uma separação e pesagem em camadas ou por meio de um varrimento de transmissão de isótopos numa amostra de ensaio no plano da placa. Com base nestes resultados, o processo pode ser ajustado mas não sem envolver um atraso do tempo de fabricação de pelo menos 1 a 2 horas.
Existe portanto uma necessidade de uma possibilidade de realizar uma determinação "on-line" não destrutiva do perfil de densidades na placa, de maneira que seja possível ajustar o processo muito rapidamente, tipicamente dentro de alguns minutos, sem interromper o mencionado processo e sem envolver uma amostragem e ensaios laboratoriais. A memória descritiva da Patente Alemã N.° 4 243 454 divulga uma maneira de medir o perfil de densidades ao longo da margem de uma placa por meio de um feixe de raios e uma pluralidade de detectores colocados por baixo da placa. O feixe de raios é emitido obliquamente para dentro a partir da face ao longo da margem da placa. Uma vantagem resultante é que nada a não ser a atenuação na camada inferior é medido por meio de uma primeira parte do citado feixe de raios, depois do que a atenuação na camada inferior ou inferiormente ou com a excepção de uma camada inferior é medida por meio de outra parte do referido feixe de raios, etc. Subsequentemente, é possível calcular a atenuação em cada .camada. Este processo, 2 I f í
no entanto, é dificultado pelo inconveniente de ser demasiadamenLe falível. Além disso, só envolve uma medição ao longo da margem que não é sempre suficientemente representativa. A memória descritiva de US n.° 5 195 116 divulga um aparelho para detectar as camadas de separação numa placa laminada por meio de raios X. Um fino feixe de raios X é difundido como consequência do efeito Compton. Um detector dirigido em direcção a um volume de medição detecta a radiação difundida a partir dele, representando a mencionada radiação a densidade electrónica e por consequência a densidade do volume de medição. Um deslocamento da fonte e do detector, respectivamente, no sentido para cima e para baixo em relação à placa torna possível obter informações sobre a estrutura das camadas e sob possíveis defeitos no material. Este sistema de medição é no entanto dificultado pelo facto de a intensidade da radiação difundida a partir de um volume de medição para além da densidade depender também da espessura e da densidade de todas as camadas sobrepostas. Estes valores podem ser determinados em princípio. Esse facto, no entanto requer extensivas medições de calibração em artigos conhecidos. Além disso, acumulam-se possíveis erros de medição provenientes de todas as camadas individuais do volume de medição respectivo. A memória descritiva de US n.° 4 228 351 divulga um método para determinar a densidade a granel de um material homogéneo. No entanto, este método é só apropriado para material de pequeno peso volúmico visto que necessita que o coeficiente de atenuação linear para a radiação difundida se possa considerar como igual ao coeficiente de atenuação linear para a radiação não difundida. Além disso, o método conhecido não é capaz de medir o perfil de densidades do material. A partir de memória descritiva de US n.° 5 195 117 é conhecido um processo para obter um perfil em profundidade de 3 uma amostra no qual se move um detector de maneira que se ensaiam profundidades.
Descrição Resumida da Invenção 0 objectivo da presente invenção é proporcionar um processo para a determinação do perfil de densidades de um material com a forma de placa, que envolva o mínimo de calibração que também possa ser utilizado para materiais de elevada densidade.
Este objectivo é atingido pelo processo de acordo com a reivindicação 1.
Desta maneira, uma escolha apropriada da direcção de emissão e da direcção de detecção torna possível proporcionar uma medição da densidade num volume de medição específico simplesmente dividindo o número de contagens do segundo detector pelo número de contagens do primeiro detector. Como resultado, a atenuação no material é omitida. 0 segundo detector que é móvel pode, de acordo com a invenção, opcionalmente ser substituído por um conjunto mecanicamente imóvel de detectores, em que os detectores individuais no conjunto detectam valores de medição simultaneamente ou sucessivamente durante o movimento da placa. 0 segundo detector móvel pode ser expandido de modo a compreender um grande número de detectores, que são movidos todos de acordo com um modelo pré-determinado e com uma pré--determinada alteração angular.
Breve Descrição dos Desenhos A invenção é explicada com maior detalhe em seguida com referência aos desenhos ancxoo, cm que a Fig. 1 ilustra como a fonte e os detectores são colocados relativamente à placa pelo proces30 dc acordo com a invenção, a Fig. 2 ilustra como a medição do perfil de densidades é optimizada por uma escolha apropriada da direcção de emissão e das direcções de detecção em relação à placa, a Fig. 3 ilustra várias escolhas óptimas da direcção de emissão e das direcções de detecção de alguns materiais com a forma de placa, e a Fig. 4 ilustra o exemplo de um perfil de densidades obtido por meio do processo de acordo com a invenção.
Melhor Maneira de Realização da Invenção A Fig. 1 ilustra como o processo de acordo com a invenção torna possível não só medir a radiação transmitida como também medir a radiação difundida para diante (difundida por efeito Compton). A radiação de raios X e gama é preferivelmente difundida como consequência do efeito de Compton a partir dos electrões dos átomos em todas as direcções além de isotropicamente. Em resposta ao ângulo de difusão Θ, utilizam-se frequentemente os seguintes termos, a saber "Contradifusão" para (Θ > 90°) e "Difusão para diante" para (Θ < 90°). Na técnica de medição utiliza-se o termo "Contradifusão" ou radiação difundida para trás para medir situações em que a fonte e o detector estão colocados do mesmo lado do alvo de medição independentemente do ângulo de difusão que pode ser menor que 90°. Correspondentemente, o termo "Difusão para diante" ou radiação para a frente é usado para medir situações em que a fonte e o detector estão colocados no seu respectivo lado do alvo de medição. A presente invenção pode apenas ser realizada desde que a fonte e os detectores estejam colocados no respectivo lado de um alvo de medição com forma de placa típica. Pelo que diz respeito ao campo de aplicação, a invenção é portanto limitada em comparação com as bem 5 conhecidas técnicas de "Contradifusão" mas dentro do campo limiLado de aplicação, ou seja no3 materiaio com a forma de placa, o processo de acordo com a invenção torna possível obter um sinal de medição que é proporcional à densidade num volume parcial independentemente das densidades e espessuras das camadas que o rodeiam.
Na Fig. 1, K é uma fonte radioactiva ou um tubo de raios X que emite radiação em direcção a um detector T que mede a transmissão da radiação através de uma placa M. Um detector F é colimado de tal maneira que apenas recebe radiação difundida de um pequeno volume parcial em volta de um sítio de difusão P. O detector F pode deslocar-se de tal maneira que o ponto de difusão P se desloca ao longo da linha P-Q.
Pelo que diz respeito aos materiais com a forma de placa, cuja densidade varia apenas substancialmente de maneira perpendicular ao plano da placa Μ, o feixe de raios com a forma de agulha pode em princípio ser substituído por um feixe de raios com a forma de leque. Por consequência, os pontos P e Q podem ser considerados volumes de medição alongados perpendiculares ao plano do desenho. Desta maneira, obtém-se um sinal de medição muito forte para uma intensidade específica da fonte. Então o colimador em frente do detector F precisa apenas de ser estruturado de tal forma que compreenda um campo visual que ultrapassa a largura máxima do feixe de raios com a forma de leque na placa M. 0 detector F pode compreender vários detectores móveis a fim de se obter uma sensibilidade de medição mais intensa ou mais detectores móveis podem varrer áreas parciais de tal maneira que se obtenha muito rapidamente um perfil completo de densidades ou de tal maneira que seja examinadas apenas as áreas que são mais interessantes do ponto de vista da produção. 0 exame de áreas parciais que interessam é uma propriedades exacta que apenas se obtém pelo processo de acordo com a invenção. Oo conhecidos princípios de 6 "Contradifusão" necessitam que se faça uma medição de todas as áreas parciais entre a superfície e a área de medição pretendida a fim de permitir realizar um cálculo da distribuição da densidade a uma profundidade específica da placa. A Fig. 2 ilustra como o perfil de densidades é matematicamente derivado dos valores medidos. K, T e F têm o mesmo significado que na Fig. 1 e neste caso eles são apenas ilustrados sob a forma de direcções de emissão. M é a placa que tipicamente se move por baixo da medição isenta de contacto. A densidade varia continuamente ou discretamente na perpendicular ao plano da placa M, neste caso indicado como eixo X. A radiação da fonte K encontra a placa M na posição A abaixo de um ângulo de incidência igual a V. Na posição de observação C, a radiação é difundida e o detector F detecta apenas a parte da radiação difundida que é difundida a um ângulo Θ. 0 ângulo de reflexão é designado w. 0 feixe emitido sai da placa M em B, e o feixe difundido observado sai da placa M em D.
Quando se supõe que a distribuição é uma distribuição de densidade discreta, a intensidade do feixe de radiação IFS de um elemento de volume Vi em Xi pode ser expresso como IFS (Xi) de acordo com a expressão (D Ifs(Xí) I o e -μ·ΔΧ·α] · Σ Pp p=l -μ S. 1 e N ·ΔΧ·α2· Σ Pp p=i+l na qual
Si =. σ (θ, E) Pí Vi'ε0 1 _ 1 1 sinV ' 2 “ sin(18O-0-V) ~ sin(0 + V) 7 ί
V •t A equação inclui a intensidade da radiação I0 da fonte K/ a atenuação ao longo de A-C, a atenuação ao longo de C-D, em que o coeficiente de absorção μ' > μ, visto que a energia E' da radiação difundida por efeito de Compton é menor do que a energia E da radiação primária proveniente da fonte K. Si inclui a probabilidade de difusão σ que depende da energia E e do ânqulo de difusão Θ assim como da densidade pi no volume elementar Vi, do seu tamanho assim como do ângulo sólido e do factor de eficiência ε0 para o detector f combinado. A inserção da identidade μ'οΐ2 = μ'α2 + μ αχ - μ αχ implica que
•S. 1 Ν (-μαι-μ’α2)ΔΧ Σ ρρ (2) Ifs(Xí) Ν -μ-ΔΧ αι · Σ Ρρ ρ=1 ou IFS (Xi) = Τ Si · Κ. 0 factor Τ é na realidade reconhecido como sendo a intensidade da radiação emitida encontrada em IT = Io ‘ ep<p>L em que • < p> = é a densidade média da placa, e L = t/sinV = t · αχ = Ν ' Δχ · αχ é o comprimento de deslocação do feixe na placa M. A expressão K é 1 para μ αχ = μ'α2, que é obtido para sin(V + θ) μ', 1 sinV μ A equação é como se mencionou devido à relação de Compton 8
T E'= 1 + M0C2 (1 — cos Θ)
Por outras palavras, E' < E e por consequência μ' > μ para uma muito grande área de energias de radiação e de materiais. A densidade nos volumes elementares Vi para K = 1 é, por outras palavras, determinada pela proporção Ifs(Xí)/It independente do perfil de densidades. Os parâmetros que fazem parte de S; sâo constantes do aparelho, sendo σ(θ, E) determinada à energia de radiação E e o ângulo de difusão Θ é determinado pela secção transversal do feixe e o colimador e sD são determinados na abertura do colimador, a eficiência do detector, e a distância entre o detector e o sitio da difusão. A relação angular pode em alternativa ser expressa pelo facto de que a distância CD deve ser mais curta do que a distância CB (que tem de ser a mesma atenuação da radiação ao longo destes percursos. No entanto o coeficiente de absorção é maior ao longo de CD). 0 ângulo de incidência V deve portanto ser sempre menor do que 90°. E' < E implica que μ' > μ. Quando α < 1, em muitos casos, pode ser possível escolher μ' . α = μ, por meio do que a densidade do volume observado Vi pode ser expressa pelas intensidades da radiação medidas IT e IFS. Aplicam-se duas soluções quando μ = AS/AX é simétrica em relação a V = 45°. Na prática, Θ = 90° é escolhido como o ângulo que fornece a melhor solução. A energia do feixe primário, no entanto, deve ser sempre escolhida em relação à espessura de tal modo que a densidade média e a composição do alvo de medição sejam tais que a atenuação seja aproximadamente 10 a 70% o que corresponde a 0,1 < μρ^ . t < 1. Por exemplo, para um material 9
com pM quase igual a 1 g/cm3 e t = 2 cm, tem-se a equação 0,05 cm2/g < μ < 0,5 cm2/g. Uma fonte de radiação gama K com uma energia de 60 keV ou uma fonte de raios X com um ânodo a que é aplicada uma tensão de 100 keV que corresponde a uma energia do fotão de aproximadamente 70 keV é considerada como sendo apropriada para materiais com base em madeira ou plásticos (μ = 0,165 cmVg para carbono a 70 keV) . Em conexão com um ângulo de difusão apropriado Θ = 90°, encontra-se a seguinte igualdade para E = 70 kEV
70 1+™., 511
62 keV A variação de μ pode ser encontrada consultando tabelas como sendo aproximadamente igual a 0,01 cm2/g, em que μ 0,174 0,165 = 1,05 A condição acima referida é satisfeita pela relação angular proporcionada pelo ângulo de incidência V = 43,5°. Quando o ângulo de incidência V é escolhido de maneira a ser igual a 45°, o correspondente ângulo de difusão é Θ = 87°.
Uma relação angular completa significa por outras palavras IFs(Xi) = IT ' Si · 1 com Si = σ * pi ' eD ou pi = constante ·
It
Quando se realizam ensaios com V = 45°, o ângulo de difusão utilizado Θ deve ser 87°, como se mencionou acima, em vez de 90°. A diferença é, todavia, quase irrelevante e além disso um efeito justifica um ângulo de difusão de 90°. 10
Quando se utiliza um tubo de raios X em vez de uma fonte gama, verifica-se um endurecimento do feixe para diante através do material que corresponde à energia média no ponto B-, cf. Fig. 2, que é ligeiramente maior do que a energia média da radiação no sitio A. A probabilidade de difusão σ no ponto B é portanto ligeiramente menor no sitio A. Inversamente, o factor de correcção K = exp
= 1 na posição B (Σ = peso da placa restante para a radiação de difusão = 0) é uma ligeira percentagem menor no sitio A. Na prática, estes efeitos neutralizam-se uns aos outros mais ou menos, e geralmente escolhe-se Θ = 90° em vez de Θ = 87°. Em todas as circunstâncias, os efeitos são insignificantes e a imagem não é alterada embora se utilizem diversos colimadores de fenda, o que significa que é coberto um maior intervalo angular.
No que diz respeito a materiais leves, são vantajosamente utilizadas energias de 50 a 100 keV, como se mencionou, em que a alteração provocada por efeito de Compton é pequena e o coeficiente de absorção para IFS é portanto apenas ligeiramente percentualmente maior do que para IT. Portanto, a relação angular estipula que o ângulo de reflexão W deve ser quase igual ao ângulo de incidência V. Exemplos deste último caso aparecem na Fig. 3. A invenção baseia-se numa combinação de radiação difundida e transmitida através dum material com a forma de placa com uma densidade variável ao longo da espessura, por meio do que é possível obter uma medição isenta de calibração do perfil de densidades mediante a escolha apropriada de ângulos e de energia de radiação. 11 0 alvo em questão não é necessariamente da forma de placa. Ele pode também ser de qualquer outra forma, tais como a forma de cunha ou a forma com uma superfície curva.
Lisboa, 12 de Setembro de 2001 0 agente oficial da propriedade industrial
12

Claims (8)

  1. u,
    REIVINDICAÇÕES Processo para a determinação do perfil das densidades de um material com a forma de placa (M) de uma densidade que varia diocrcta ou continuamente através da espessura da placa, enquanto a densidade a uma profundidade especifica da placa se admite ser preferivelmente constante, como por exemplo placas à base de madeira, por meio de raios X ou de raios gama provenientes de uma fonte colimada (K) , colocada num lado da placa (M), em que pelo menos um primeiro detector (T) e um segundo detector (F) são colocados no outro lado da placa preferivelmente sem fim (M), por meio do que a radiação não difundida transmitida através da placa (M) é medida usando o primeiro detector (T) colocado na direcção de emissão da fonte (K) e a radiação que sofre dispersão segundo um ângulo de difusão (Θ) a partir de volumes parciais ao longo da direcção de emissão da fonte (K) numa direcção de detecção é medida usando pelo menos um segundo detector (F) , colocado fora da direcção de emissão da fonte (K), por meio do que a placa (M) é avançada entre a fonte (K) e os detectores (T) , (F) paralelamente ao plano da placa (M) e por meio do que o segundo detector (F) é deslocado relativamente ao primeiro detector (T) e paralelamente à direcção de emissão da fonte (K) enquanto a direcção de detecção é mantida.
  2. 2. Processo de acordo com a reivindicação 1, caracterizado por o segundo detector móvel ser substituído por um conjunto de detectores mecanicamente imóvel, em que os detectores individuais do conjunto cobrem a mesma extensão que é varrida pelo segundo detector durante o seu movimento e detectam valores de medição ao mesmo tempo ou sucessivamente uns a seguir aos outros durante o avanço da placa (M) .
  3. 3. Processo de acordo com a reivindicação 1 ou com a reivindicação 2, caracterizado por o ângulo de incidência (V) 1 ser substancialmente idêntico ao ângulo (W) entre o plano da placa e a direcção da radiação difundida detectada segundo o qual a radiação difundida sai da placa (M) .
  4. 4. Processo de acordo com a reivindicação 3, caracterizado por o ângulo de incidência (V) ser aproximadamente 60° enquanto o ângulo (W) entre o plano da placa e a direcção da radiação difundida detectada é aproximadamente 65°.
  5. 5. Processo de acordo com a reivindicação 3, caracterizado por o ângulo de incidência (V) ser aproximadamente 45°, enquanto o ângulo (W) entre o plano da placa e a direcção da radiação difundida detectada é aproximadamente 48°.
  6. 6. Processo de acordo com a reivindicação 3, caracterizado por o ângulo de incidência (V) ser aproximadamente 30°, enquanto o ângulo (W) entre o plano da placa e a direcção da radiação difundida detectada é aproximadamente 31°.
  7. 7. Processo de acordo com a reivindicação 3, caracterizado por a direcção de detecção do segundo detector (F) ser aproximadamente igual a 87° relativamente à direcção de emissão da fonte (K) quando a referida direcção de emissão forma um ângulo de aproximadamente 4 5° com a superfície da placa.
  8. 8. Processo de acordo com uma qualquer das reivindicações anteriores em que a fonte de radiação (K) utilizada é um tubo de raios X, caracterizado por se realizar uma compensação para o endurecimento do feixe usando um ângulo de difusão (Θ) que é ligeiramente diferente do ângulo de difusão (Θ) utilizado no caso de não endurecimento do feixe. Lisboa, 12 de Setembro de 2001 O AGENTE OFICIAL DA PROPRIEDADE INDUSTRIAL
    \ 2
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DK171779B1 (da) * 1996-02-14 1997-05-20 Wesser & Dueholm Fremgangsmåde til bestemmelse af densitetsprofil
FI990153A0 (fi) 1999-01-28 1999-01-28 Valtion Teknillinen Tiheysjakaumaltaan homogeenisen materiaalin/puuhakkeen kosteuden on-line mittausmenetelmä perustuen gammasäteilyn transmissioon ja materiaaliin paksuuden mittaukseen
CA2348150C (en) 2000-05-25 2007-03-13 Esam M.A. Hussein Non-rotating x-ray system for three-dimensional, three-parameter imaging
NZ505539A (en) * 2000-07-03 2002-03-28 Fletcher Challenge Forests Ltd A method for wood drying using x-rays to determine moisture content to enable sorting
CA2355560C (en) 2000-08-28 2003-11-18 Balza Achmad X-ray compton scatter density measurement at a point within an object
EP1258723A1 (en) * 2001-05-18 2002-11-20 Imal S.R.L. Non destructive process for continuously measuring the density profile of panels
DE10149317B4 (de) * 2001-10-05 2015-02-19 Albert-Ludwigs-Universität Freiburg Vorrichtung zur Messung der dielektrischen Eigenschaften eines Substrats
US6895072B2 (en) 2003-03-26 2005-05-17 Heimann Systems Corp. Apparatus and method for non-destructive inspection of material in containers
GB0411401D0 (en) * 2004-05-21 2004-06-23 Tissuomics Ltd Penetrating radiation measurements
US7203276B2 (en) * 2004-08-27 2007-04-10 University Of New Brunswick X-ray scatter image reconstruction by balancing of discrepancies between detector responses, and apparatus therefor
DE102004057743B4 (de) * 2004-09-08 2007-08-09 Mahlo Gmbh & Co Kg Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen des Flächengewichtes einer geförderten Materialprobe
NZ538649A (en) 2005-03-07 2006-10-27 Inst Geolog Nuclear Sciences Estimating strengths of wooden supports using gamma rays
RU2300756C1 (ru) * 2005-09-19 2007-06-10 Институт Информатики и Проблем Регионального Управления КБНЦ РАН Способ реализации микрорентгенофлуоресцентного анализа материалов с трехмерным разрешением
NL1038030C2 (nl) * 2010-06-11 2011-12-13 Multigarant B V Werkwijze voor het onderzoeken van een verzameling houten delen.
US8767912B1 (en) 2013-04-09 2014-07-01 King Abdulaziz University System for inspection and imaging of insulated pipes and vessels using backscattered radiation and X-ray fluorescence
US9151722B2 (en) 2014-01-15 2015-10-06 King Abdulaziz University Systems for determining and imaging wax deposition and simultaneous corrosion and wax deposit determination in pipelines
US8976936B1 (en) 2014-05-22 2015-03-10 King Abdulaziz University Collimator for backscattered radiation imaging and method of using the same
DE102014212514A1 (de) 2014-06-27 2015-12-31 Volkswagen Aktiengesellschaft Schwenklager
US20160274039A1 (en) 2014-09-25 2016-09-22 King Abdulaziz University System for determining and imaging wax deposition and corrosion in pipelines
US9020099B1 (en) 2014-12-03 2015-04-28 King Abdulaziz University Miniaturized pipe inspection system for measuring corrosion and scale in small pipes
US9784699B2 (en) * 2015-03-03 2017-10-10 Panalytical B.V. Quantitative X-ray analysis—matrix thickness correction
US10215796B2 (en) 2015-05-11 2019-02-26 Northwestern University System and method for deducing charge density gradients in doped semiconductors
CN110614558A (zh) * 2019-09-23 2019-12-27 临沂兴滕人造板机械有限公司 一种人工智能检板系统
US10890544B1 (en) 2019-12-18 2021-01-12 Field Service Solutions LLC Nuclear densitometer assemblies for hydraulic fracturing

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2544354A1 (de) * 1975-10-03 1977-04-14 Siemens Ag Verfahren zur bestimmung der dichte von koerpern mittels durchdingender strahlen und geraet zu seiner durchfuehrung
US4047029A (en) * 1976-07-02 1977-09-06 Allport John J Self-compensating X-ray or γ-ray thickness gauge
US4228351A (en) * 1979-02-26 1980-10-14 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Method for measuring the density of lightweight materials
CA1202431A (en) * 1984-05-18 1986-03-25 Josef W. Repsch Method and apparatus to measure the weight per unit area, density and thickness of a moving sheet
EP0311177B1 (de) * 1987-10-05 1993-12-15 Philips Patentverwaltung GmbH Anordnung zur Untersuchung eines Körpers mit einer Strahlenquelle
FR2629914B1 (fr) * 1988-04-06 1991-09-06 Aerospatiale Procede et dispositif pour determiner la masse volumique d'un volume elementaire de matiere
US5247561A (en) * 1991-01-02 1993-09-21 Kotowski Andreas F Luggage inspection device
FR2672120B1 (fr) * 1991-01-30 1993-05-14 Aerospatiale Procede et systeme a effet compton pour la localisation d'un plan separant deux milieux de densites differentes.
US5195117A (en) * 1992-04-24 1993-03-16 University Of Houston Method for using secondary radiation scattering to evaluate the thickness of materials
DE4243454C1 (de) * 1992-12-22 1994-03-10 Grecon Greten Gmbh & Co Kg Vorrichtung und Verfahren zur Erstellung eines Rohdichteprofils über die Dicke einer Platte

Also Published As

Publication number Publication date
CA2192340C (en) 2001-02-13
DK72394A (da) 1995-12-21
ATE202846T1 (de) 2001-07-15
WO1995035491A1 (en) 1995-12-28
DE69521613D1 (de) 2001-08-09
DK171492B1 (da) 1996-11-25
EP0766814B1 (en) 2001-07-04
AU2732995A (en) 1996-01-15
US5970116A (en) 1999-10-19
DE69521613T2 (de) 2001-10-31
ES2159642T3 (es) 2001-10-16
EP0766814A1 (en) 1997-04-09
CA2192340A1 (en) 1995-12-28
DE69521613T4 (de) 2002-12-19

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