DK142625B - Fremgangsmaade og apparat til fremstilling af halvlederstave ved termisk spaltning af en halvlederforbindelse - Google Patents

Fremgangsmaade og apparat til fremstilling af halvlederstave ved termisk spaltning af en halvlederforbindelse Download PDF

Info

Publication number
DK142625B
DK142625B DK163272A DK163272A DK142625B DK 142625 B DK142625 B DK 142625B DK 163272 A DK163272 A DK 163272A DK 163272 A DK163272 A DK 163272A DK 142625 B DK142625 B DK 142625B
Authority
DK
Denmark
Prior art keywords
semiconductor
temperature
gas
current
rods
Prior art date
Application number
DK163272A
Other languages
English (en)
Other versions
DK142625C (da
Inventor
H Stut
Original Assignee
Siemens Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Ag filed Critical Siemens Ag
Publication of DK142625B publication Critical patent/DK142625B/da
Application granted granted Critical
Publication of DK142625C publication Critical patent/DK142625C/da

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/22Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
    • C23C16/24Deposition of silicon only
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B33/00Silicon; Compounds thereof
    • C01B33/02Silicon
    • C01B33/021Preparation
    • C01B33/027Preparation by decomposition or reduction of gaseous or vaporised silicon compounds other than silica or silica-containing material
    • C01B33/035Preparation by decomposition or reduction of gaseous or vaporised silicon compounds other than silica or silica-containing material by decomposition or reduction of gaseous or vaporised silicon compounds in the presence of heated filaments of silicon, carbon or a refractory metal, e.g. tantalum or tungsten, or in the presence of heated silicon rods on which the formed silicon is deposited, a silicon rod being obtained, e.g. Siemens process

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Silicon Compounds (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Description

(ii> FREMLÆGGELSESSKRIFT 1 42625 DANMARK («1» in,. Cl.’ C 30 B 26/16 (21) Ansøgning nr. 1632/^72 (22) Indleveret den 5· Spr · 1972
Iffifg/ (24) Løbedeg 5· apr. 1972 \>S (44) Ansøgningen fremlagt og fnmlæggelsesskrifrat offentliggjort den 1 · <i©C» 1 $80 DIREKTORATET FOR ^ _ .
PATENT-OG VAREMÆRKEVÆSENET (30) Prioritet begæret fra den
6. apr. 1971 e 2116746, DE
(71) SIEMENS ÅKTIENGESELLSCHAFT, Berlin und Mienchen, 8 Muenchen 2, Wittels« T5acherplatz 2, DE.
(?2) Opfinder: Hans Stut, 8031 Groebenzell, Maistrasse 18, DE.
(74) Fuldmægtig under sagens behandling:
Internationalt Patent-Bureau._ (54) Fremgangsmåde og apparat til fremstilling af halvlederstave ved termisk spaltning af en halvlederforbindels e.
Opfindelsen angår en fremgangsmåde til fremstilling af halvlederetave ved termisk spaltning af en med en bæregas blandet halvlederforbindelse på et strømopvarmet bærelegeme af det samme halvledermateriale, hvorved bærelegemets temperatur reguleres i afhængighed af erværdien af den gennem bærelegemet gående strøm.
En lignende fremgangsmåde kendes fra det østrigske patentskrift nr.
222.184. Ved den beskrevne metode aftastes et af den glødende, som bærelegeme tjenende halvlederstav ved hjælp af et optisk system tilvejebragt billede, hvis diameter ændrer sig med diameteren af den under udfældningen voksende stav, idet aftastningen sker ved hjælp af en bevægelig fotocelle, og den i billedplanen ved grænsen for de fra halvlederstaven udgående lysstrålebundter optrædende kontrast lys og mørk anvendes til styring af en indretning, som bevæger fotocellen ud af 2 142625 strålebundtet og samtidigt forøger strømmen i varmekredsen i en sådan grad, at temperaturen af halvlederstaven holdes på en ønsket, specielt konstant værdi.
Fra det tyske offentliggørelsesskrift nr. 1.444.421 kendes ligeledes en fremgangsmåde ved drift af et elektrisk udfældningsanlæg til opnåelse af det reneste halvledermateriale, som f.eks. geranium eller silicium, ud fra en forbindelse af disse stoffer ved termisk spaltning og udfældning på passende bærelegemer,ved hvilken fremgangsmåde glødetemperaturen af det til dissociationstemperaturen for halvlederforbindelsen opvarmede bære- eller udfældningslegeme måles ved hjælp af et pyrometer, idet den fra udfældningslegemet udgående, med legemets tværsnitsforøgelse voksende strålingsintensitet rettes mod den strålingsfølsomme flade af pyrometeret, så at der på denne bestråles en med tværsnittet af staven tilsvarende voksende flade, hvorved stigningen af denne bestrålede flade og den af denne flade på pyrometeret tilvejebragte elektriske størrelse med dennes varierende absolutværdier ved at nå forudbestemte grænseværdier udnyttes i udfældningsanlægget ligesom de tilsvarende værdier for afbrydelser i den jævne stigning af den nævnte flade til melding, varsling, styring eller regulering.
Opfindelsen angår en forbedring af det fra det østrigske patentskrift nr. 222.184 kendte apparat og en væsentlig forenkling af det i det tyske offentliggørelsesskrift nr. 1.444.421 beskrevne udfældningsanlæg og er ejendommelig ved, at de tilsigtede værdier af bærelegemets temperatur og mængden og molforholdet af halvlederforbindelse og bæregas bestemmes i afhængighed af den aktuelle værdi af den gennem bærelegemet gående strøm og tilføres en procesregnemaskine eller en regenerator, ved hjælp af hvilken temperaturen af halvlederlegemet og mængden og molforholdet af halvlederforbindelse og bæregas styres i afhængighed af værdien af den gennem bærelegemet gående strøm og mængden og molforholdet af halvlederforbindelse og bæregas.
Ved foranstaltningerne ifølge opfindelsen, hvorved den gennem staven gående strøm i første tilnærmelse anvendes som styrestørrelse for udfældningen af halvledermaterialet på bærelegemet, er det muligt at opnå en optimal udnyttelse af det til udvindeisen af halvledermaterialet, f.eks. silicium, i polykrystallinsk form nødvendige råstof ved hjælp af en programstyring af f.eks. gasgennemstrømningen og/eller molforholdet mellem halvlederforbindelsen og bæregassen. Herved bortfalder det store tekniske udstyr, der er nødvendigt for måling af diameteren af den tykkere.og tykkere halvlederstav.
Der kan anvendes flere stavformede bærelegemer, som er forbundet ved hjælp af en fælles holdeindretning, og som opvarmes med en fælles varmestrømkilde til udfældnings temperaturen.
Rekationsrummet kan tilsættes doteringsstof i forudbestemt forhold for tilvejebringelsen af P- eller N-ledertype af det tykkere og tykkere bærelegeme, og på denne måde kan der fremstilles halvlederstave med bestemt indstillelig 3 142625 do ter ings s to fkoncentrat ion.
Doteringsstoffet kan tilføres reaktionsrummet sammen med bæregassen og den halvledende forbindelse som en gasstrøm.
Til udøvelse af fremgangsmåden ifølge opfindelsen kan der benyttes et apparat, i hvilket der anvendes et jaed gastilgangs- og gasafgangsåbning forsynet reaktionsrum, hvori de til udfældning af det halvledende materiale bestemte bærelegemer er indspændt ved hjælp af en holdeindretning, og hvor bærelegamerne er forbundet med en styrbar varmestrømkilde, og der uden for reaktionsrvmmet er anbragt et optisk pyrometer som pemperaturmåler måling af overfladetemperaturen af bærelegememe, hvilket optiske pyrometer over en temperaturregulator er således forbundet med den styrbare varmestrømkiIde, at temperaturen kan indstilles på en konstant eller forudgiven værdi, hvilket apparat ifølge opfindelsen er ejendommeligt ved, at der til bestemmelse af den til enhver tid gående strøm er indkoblet en strømgiver i varmestrømkredsen, som til styring af den til reaktionsrummet førte, til udfældningen nødvendige gasmængde, er forbundet med en procesregnemaskine og en programgiver, der føder procesregnemaskinen, hvorhos procesregnemaskinen over reguleringsstrækninger, der består af reguleringsventiler og måleværdigivere, er koblet både til en bæregasforsyningsledning og til forsyningsledningen for den gasformige forbindelse af det halvlederetof, der skal udvindes.
Opfindelsen forklares i det følgende nærmere under henvisning til den skematiske tegning, hvor fig. 1 viser et for udøvelsen af fremgangsmåden ifølge opfindelsen egnet apparatur, fig. 2-4 kurver fremstillet på grundlag af værdier, der anses for optimale, hvilke kurvers forløb f.eks. lægges til grund for styringen af halvledermaterialets udskillelse på bærelegemet, og fig. 5 kurver over afhængigheden af varmestrømaen I, henholdsvis diameteren af bærelegemet, som funktion af tiden.
I fig. 1 er vist halvlederstave 2, der er indspændt i en holder 3 af ren grafit og tjener som udfældningsråemner. Halvlederstavene 2, der består af silicium, er anbragt i en reaktionsbeholder 1 af kvarts med en gastilgangsåbning 4 og en gasafgangsåbning 5 og er foroven forbundet med et stavstykke 18, der ligeledes består af silicium. Gennem gastilgangsåbningen 4 indføres den til udskillelsen bestemte reaktionsgasblanding, der eventuelt også kan indeholde doterende stoffer, i reaktionsrummet. Restgassén fjernes igen fra reaktionsbeholderen gennem gasafgangsåbningen 5. Siliciumstavene 2 har f.eks. en temperatur på ca. 1150°C og holdes ved hjælp af en varmestrømkilde 6 først på den forudbestemte glødetemperatur som elektriske, strømførende modstandslegemer som følge af den i disse herved udviklede Joule'ske varme. Temperaturen af de glødende 142625 4 siliciumstave 2 måles af et temperaturmåleapparat 7, der består af et pyrometer, og hermed indstilles automatisk den fra varmestrømkilden 6 af tagne strøm ved hjælp af en temperaturregulator 8 til en sådan værdi, at den i overensstemmelse med opfindelsen fordrede optimale udskilningstemperatur opnås. Til bestemmelse af den til enhver tid gående strøm er der i varmestrømkredsen indkoblet en strømgiver 9, der til styring af den til reaktionsrummet 1 førte gasmængde, som kræves til udfældningen på siliciumstavene 2, er forbundet med en procesregnemaskine 10 og en programgiver 11, der føder regnemaskinen 10. Procesregnemaskinen 10 er igen over reguleringsstrækninger, som består af en reguleringsventil 12 for mængden af bæregas, f.eks. hydrogen, og en reguleringsventil 13 for mængden af halvlederstoffet, der skal udskilles, og af en måleværdigiver 14 for bestemmelse af gassammensætningen, f.eks. af silicochloroform i hydrogen, og af en måleværdigiver 15 for bestemmelse af den til enhver tid gående bæregasmængde, f.eks. hydrogen, forbundet med en bæregasforsyningsledning 16 for hydrogen og forsyningsindretningen 17 for det halvlederstof, der skal udskilles. Herved kan forsyningsindretningen 17 for halvlederstoffet enten foreligge som koncentrat eller anvendes som bæregas med konstant blanding.
Procesregnemaskinen 10, som også kan være en regulator eller en lignende indretning, som ud fra sammenligningen mellem de ønskede værdier af gasmængden, gassammensætningen og temperaturen, der foreligger som program fra programgiveren 11, f.eks. i form af en hulstrimmel, et magnetbånd eller et hulkort, i afhængighed af den af strømgiveren 9 målte strøm, og den øjeblikkelige, aktuelle værdi danner en størrelse, foretager f.eks. ved hjælp af reguleringsventilen 12 og/ eller ventilen 13 samt temperaturregulatoren 8 en korrektion, så at hele processen kan gennemføres med de til enhver tid som optimale ansete værdier. Disse værdier kan tilpasses de givne betingelser, f.eks. indstilling til et omkostnings-minimum for anlægget eller opnåelsen af et maksimalt udbytte af halvledermateriale ud fra den anvendte forbindelse eller også maksimal udnyttelse af apparatet.
1 forbindelse med den i fig. 2 viste, i logaritmisk målestok fremstillede kurve,skal der som udførelseseksempel vises styringen af gennemstrømningen Q i 3 m /h i afhængighed af strømmen under indledende konstantholdelse af temperaturen. Af den indtegnede kurve ses, at gennemstrømningen Q af den tilsvarende, for termisk spaltning og udfældning forudsete gasmængde stiger jævnt med stigende strøm 3 I , så at der ved ca. 5000 ampere kan anses en gennemstrømning på 10 m /h som optimal. Dette vil sige, at med stigende strøm I, dvs. med tiltagende overflade af den voksende siliciumstav, stiger gennemstrømningen, så at den pr. fladeenhed værende gasmængde forbliver konstant. Dette vil sige,at der ved en forelagt omkostningsrelation fås en optimal udnyttelse af anlægget.
I fig. 3 er ligeledes i forbindelse med en i logaritmisk målestok fremstillet kurve illustreret et udførelseseksempel for opfindelsens anvendelse til sty- 5 142625 ring af molforholdet i gasstrømmen mellem den af hydrogen bestående bæregas og det silicochloroform, der indeholder det silicium, som skal udvindes, hvilken gasstrøm tilføres reaktionsbeholderen. Fra de til dissociationstemperaturen for silicochloroformen opvarmede siliciumstave 2 overtages den tilsvarende temperatur af det i temperaturmåleapparatet 7 værende, optiske pyrometer. Over temperaturregulatoren 8 indstilles så ved hjælp af den regulerbare varmestrømkilde strømmen I til en sådan værdi, at temperaturen i overensstemmelse med stigningen i diameteren af siliciumstavene i reaktionsrummet først holdes på en konstant værdi. For bedre udnyttelse af anlægget er det hensigtsmæssigt at fremskynde dyrkningen, når stavdiameteren er mindre. Dette opnås ved, at den i bæregassen værende mængde af silicochloroform forøges i overensstemmelse med kurven i fig. 3, hvorved der igen som diametermål anvendes strømmen I. Det i prograragiveren 11 værende styreprogram indeholder således den funktion mellem den gennem det af silicium bestående udfældningslegeme 2 gående strøm I og den til enhver tid tilhørende, hensigtsmæssige blanding af den af hydrogen bestående bæregasstrøffl med silico-chloroform efter det i kurven i fig. 3 til enhver tid forudbestemte molforhold, så at der i udfældningsprocessen fra silicochloroformen til siliciumstavene 2, henholdsvis også ved den pågældende gennemstrømningsmængde Q af gasstrømmen, opnås en gunstigst mulig virkningsgrad af anlægget med hensyn til det mængdemæssige nedslag på stavene 2.
Fig. 4 viser ligeledes i logaritmisk målestok, at temperaturen på overfladen aftager med stigende strøm I,dvs. med stigende stavdiameter. Dette kan vise sig nødvendigt for at staven i centrum ved større diametre ikke overopvarmes eller endog udsættes for en smeltning som følge af den radiale temperaturfordeling. Også her anvendes ifølge opfindelsen strømmen som mål for diameteren.
Af fig. 5 ses afhængigheden af strømmen I i ampere og diameteren d i millimeter som funktion af udfældningstiden t i timer. De angivne kurver for I og d viser, at der ved samme nytteeffekt, men med langt ringere opbud, kan opnås en diameterafhængig optimering af udfældningsprocessen ved anvendelsen af strømmen I som førings- eller styrestørreIse.
DK163272A 1971-04-06 1972-04-05 Fremgangsmaade og apparat til fremstilling af halvlederstave ved termisk spaltning af en halvlederforbindelse DK142625C (da)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2116746 1971-04-06
DE19712116746 DE2116746C3 (de) 1971-04-06 1971-04-06 Verfahren zum Herstellen von Halbleiterstäben durch thermische Zersetzung einer Halbleiterverbindung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DK142625B true DK142625B (da) 1980-12-01
DK142625C DK142625C (da) 1981-08-03

Family

ID=5804021

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DK163272A DK142625C (da) 1971-04-06 1972-04-05 Fremgangsmaade og apparat til fremstilling af halvlederstave ved termisk spaltning af en halvlederforbindelse

Country Status (12)

Country Link
JP (1) JPS5312358B1 (da)
AT (1) AT324429B (da)
BE (1) BE778746A (da)
CA (1) CA969839A (da)
CS (1) CS169753B2 (da)
DD (1) DD100404A5 (da)
DE (1) DE2116746C3 (da)
DK (1) DK142625C (da)
FR (1) FR2132404B1 (da)
GB (1) GB1378302A (da)
IT (1) IT950953B (da)
NL (1) NL7201633A (da)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2609564A1 (de) * 1976-03-08 1977-09-15 Siemens Ag Verfahren zum abscheiden von elementarem silicium aus der gasphase
DE102007041803A1 (de) * 2007-08-30 2009-03-05 Pv Silicon Forschungs Und Produktions Gmbh Verfahren zur Herstellung von polykristallinen Siliziumstäben und polykristalliner Siliziumstab
CN101224888B (zh) * 2007-10-23 2010-05-19 四川永祥多晶硅有限公司 多晶硅氢还原炉的硅芯棒加热启动方法
DE102009010086B4 (de) * 2009-01-29 2013-04-11 Centrotherm Sitec Gmbh Anordnung und Verfahren zur Messung der Temperatur und des Dickenwachstums von Siliziumstäben in einem Silizium-Abscheidereaktor
US20120322175A1 (en) * 2011-06-14 2012-12-20 Memc Electronic Materials Spa Methods and Systems For Controlling SiIicon Rod Temperature

Also Published As

Publication number Publication date
PL73356B1 (da) 1974-08-30
DK142625C (da) 1981-08-03
BE778746A (fr) 1972-05-16
JPS5312358B1 (da) 1978-04-28
DE2116746C3 (de) 1978-12-07
CA969839A (en) 1975-06-24
FR2132404A1 (da) 1972-11-17
DE2116746A1 (de) 1972-10-19
CS169753B2 (da) 1976-07-29
IT950953B (it) 1973-06-20
DE2116746B2 (de) 1978-04-13
AT324429B (de) 1975-08-25
FR2132404B1 (da) 1974-08-02
GB1378302A (en) 1974-12-27
NL7201633A (da) 1972-10-10
DD100404A5 (da) 1973-09-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3980042A (en) Vapor deposition apparatus with computer control
CN110004491B (zh) 硅单晶的制造方法
CN110528069B (zh) 一种直拉硅单晶的自动调温方法
DK142625B (da) Fremgangsmaade og apparat til fremstilling af halvlederstave ved termisk spaltning af en halvlederforbindelse
CN107555439B (zh) 多晶硅生长电流自动控制方法和装置
US4565600A (en) Processes for the continuous preparation of single crystals
JPH09246200A (ja) 熱処理方法および輻射加熱装置
CN110528067B (zh) 一种直拉硅单晶的温度控制方法
US3884642A (en) Radiantly heated crystal growing furnace
US3647530A (en) Production of semiconductor material
US2890939A (en) Crystal growing procedures
JP7067267B2 (ja) 原料結晶の抵抗率の測定方法及びfzシリコン単結晶の製造方法
US3939035A (en) Method of producing monocrystalline semiconductor material, particularly silicon, with adjustable dislocation density
US3340009A (en) Method of producing crystalline boron phosphide
JP2650003B2 (ja) 化学的気相成長法によるシリコン単結晶の製造方法およびその原料クロロシラン類中の超微量元素と製造されたシリコン単結晶中の超微量元素の分別定量方法
US3558376A (en) Method for controlled doping by gas of foreign substance into semiconductor materials
US3042493A (en) Process for re-using carrier body holders employed in the pyrolytic precipitation of silicon
US3342715A (en) Method of manufacturing gaseous hydrides in adjustable amounts, method of using such hydrides and device for carrying out such methods
US3134694A (en) Apparatus for accurately controlling the production of semiconductor rods
US3335697A (en) Apparatus for vapor deposition of silicon
GB1272018A (en) Apparatus for controlling stress in a heated semiconductor filament
Billig et al. The preparation of single-crystal ingots of silicon by the pulling technique
US3053639A (en) Method and apparatus for growing crystals
PL73356B2 (da)
US3226193A (en) Method for growing crystals

Legal Events

Date Code Title Description
PBP Patent lapsed