DEP0013554DA - Einrichtung zur Kompensation der Symmetriefehler von Elektronenlinsen - Google Patents
Einrichtung zur Kompensation der Symmetriefehler von ElektronenlinsenInfo
- Publication number
- DEP0013554DA DEP0013554DA DEP0013554DA DE P0013554D A DEP0013554D A DE P0013554DA DE P0013554D A DEP0013554D A DE P0013554DA
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- compensating
- auxiliary electrodes
- optical axis
- magnetic poles
- astigmatism
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Description
Einrichtung zur Kompensation der Synmetriefehier •von Elelcbone^linsen „_
Die Güte el ekt r onenoptischer Ahhildungen wird beeinträc.h= tigt -v wenn die ahhi Idenden ITeldere von der Rot at ions symme trie
abweichen.. Die Herst el I-Lng eines genau rorations symmetrischen Vafhaus der Sielcfcroden und Polschulie ist
äußerst schwierig und kostspielig» Bei Hochfrequenzlinsen entstehende^ bweichungen von der 'Rotationssynmetrie überdies
durch die nicht genau rotationssymmetrisehe Ausbreitung der Hochfrequensfeidero Um trotzdem mit verhältnismäßig
einfachen Mitteln su guten Abbildungen zu gelangen, werden bei der Einrichtimg zur Kompensation der Syroinet rief ehl er
von Elelrfcronenlinsen gemäß der Erfindung die durch Abwei= ehungen von der Eotationssymmetrie hervorgerufenen. Defor=
mationen des Straltlenganges durch zusätzliche,,, in Besug auf die optische .Aohse niclitrotationssymmetrischo <, Felder
bewirkt, Zu diesem Zweck können susätaliche Hilfselektroden und /oder -magnetpole vorgesehen werden? die niehtrotationsswune
trisch um die optische Achse ang.eordn.et und auf ein gemeinsame ^Potential be st? „ ' Pol stärke gebracht sind-,
!JberrascIiendervveise ist es nicht nötig, die Kompensation am Ort der Unsymmetrie vorsunehraen» Es ist vielmehr durch
zusätzliche Anbringung von Hilf se lektrod en bear.1. Eilfssinap;= 'netpolon an einer einzigen* in weitem Bereich frei wahlbaren,
Stelle möglich, die über· die Länge des StraMenganges verteilten Unsyiiimetrien eotveit unschädlich au machen,, daß
■sie die Bildgüte nicht mehr störend beeinträchtigen»
Der Symmetriefehler5 der die elektronenoptische Abbildung am
meisten stört, ist der Astigmatismus erster Ordnung» Br bewirkt daß die von der Obj ektmitte ausgehende Elektronenbahn die opti=
sehe Achse teils Vor8 teils hinter der GauB ''sehen Bildebene schneidet,, je nachdemin welcher der durch die optische Achse
gelegten Ebenen sie das Objekt verlassen. Dieser Fehler kann dadurch beseitigt werden5 daß man in der Linse oder in ihrer
Nähe nicht rotationssymmetrisch angeordnete Elektroden anbringt und auf geeignete Potentiale auflädt *
Die Figur zeigt in schematischer Darstellung ein Ausflihrungs= beispiel einer Einrichtung geicr.3 der Erfindung« Es sind acht
sternförmig um die optische Achse angeordnete Elektroden vor= gesehen, die auf die Potentiale 5 Up und •"U-Jil Up aufgeladen
Sind0 Durch geeignete ,'.ahl von U^t. TJp iot es stets möglich^
den astigmatismus erster Ordnung au beseitigen» Von den durch die Feldunsymmetrie verursachten Fehlern erster Ordnung bleibt
dann nur eine Terzeichirong Iibrigf die alle Iireise zu derart
gelegenen Ellipsen verformt,, daß sie notfalls bei der- licht- oder elektronenoptischen Weitervergrößerung des EleIrcronenbil=
des korrigiert werden kann» Die gleiche Viirkung kann erzielt ^erden9 wenn anstelle der Hilfselelcfcioden Hilfsmagnetpole von
entsprechend einstellbarer Polstärke verwendet -werden =· Diese Anordnung bietet zudem den Vorteil, daß das iiorrektUrfeld durch
die Elektroden elektrischer Linsen nicht beeinflußt wird«
Die in der Abbildung mit negativen Potentialen bezeichneten Hilfselektroden können awjL ... „Igelassen werden,, denn die da=
durch auftretende schwache Bammelwirkiing der Kompensatioiisein=: richtung ist leicht durch eine entsprecbende Verrirsgerung der
Linsenbrechkraft auszug!eichen„
Das Gleiche gilt für eine Kompensationseinrichtung mit Hilfs= Magnetpolen* In beiden Fällen ist «b nicht nötig, daß die
Hiifselelctrodeii und Dezw0 die entsprechenden Hilfsinagnet= pole in der gleichen,, zur optischen Achse senkrechten^Ebene
Besonders zweckmäßig ist es, das Kompensationssystem drehbar um die optische Achse anzuordnen« weil in diesem Falle zwei
TW.
einander gegenüberstehende Hilfselektroden oder-Magnetpole ausreichen, wenn ihre Verbindungslinie in die jeweilige Haupt=
richtung des Astigmatismus gedreht wird»
Allgemein lassen sich die Syametriefehler in folgender V/eise klassifizieren: Ist das elektrische oder magnetische Potential
P in seiner Fourier-Zerlegung nach dem um die optische Achse gezählten IViniceI -O gegeben durch
P = pSjEi + po " (r^ + ) + pi co C :- $ + lh) + »· · · · ' ' ' °
+ Pß cos (Χ η + 1 ) β + j ι%) + . -... ·>
so bestimmt das FunIrcIonenpaar Pq> 6n- in seiner Abhängigkeit
von den beiden anderen Rauin&oordinal en eine Ckrappe von Pymme= triefehlern, deren niedrigster von η -ter Ordnung ist„ Für
jeden einseinen dieser Fehler -wie auch für mehrere zusammen ergehen sich ähnliche Kompensat i onsmögl IchIse it en wie für- den
darch P^ bedingten Astigmatismus erster Ordnungo .Die Beseitigung der durch P q bedingten Fehler bringt nur dann keine Fehler
von geringerer als n-ter Ordnung mit sich, wem-1 sie durch wenig= stens η 4 1 sternförmig um die optische Achse angeordnete Eilfs
elektrode!) oder-magnet ρ'> 1 e geschieht»
Claims (1)
- Patentansprüche οI= Einrichtung zur Kompensation der Symmetriefehler von Elektro= nenlinsen,, dadurch gekennzeichnet ^ daß zusätzliche Hilfselek= troden und / oder -magnetpole vorgesehen Sindi durch die vor= sugsweise einstellbare^nichtrotationssymmetrische Felder erzeugt werden können „2, Einrichtung nach Patentanspruch Ig dadurch gekennzeichnet8 daß zur Durchführung der Kompensation Hilfselektroden und/ oder -Magnetpole vorgesehen sind, die nichtrotationssymme= trisch um die optische Achse angeordnet und/oder ausgebildet und auf geeignete Potentiale bezw, Polstärken gebracht sind=3« Einrichtung nach Patentanspruch 2, dadurch gekennzeichnet,, daß die Hilfselektroden bezw„ »magnetpole sj angeordnet und die von ihnen erzeugten Felder so gewählt sind, daß sie den. Astigmatismus erster Ordnung kompensieren„4, Einrichtung zur Kompensation des Astigmatismus erster Ordnung nach Patentanspruch 2 5, dadurch gekennzeichnet. daß acht sternförmig um die optische lchse angeordnete Hilfselektro= den oder -magnetpole vorgesehen sind»5« Einrichtung zur Kompensation des Astigmatismus erster- Ordnung nach Patentanspruch 2 oder 3 ν dadurch gekennzeichnet «, daß zwei Paare voii Hilfselektroden oder -magnetpolen vorgesehen sind, die gegeneinander uns 4-5° um die optische Achse verdreht-Sinde6c Einrichtung zur KosipeJisation des 4 stigmatismus erster Ord= nung nach Patentanspruch 2 oder 3. dadurch gekennzeichnet,, daß zwei in -verschiedenen,, zur optischen Achse senkrechte™ t Ebenen angeordneteaus Hilfselektroden ο de Le - ma gnet pc-i en bestehende Teilsysteme vorgesehen sind.7 ο Einrichtung zur Kompensation des Astigmatismus erster Ord= nung nacJx Patentanspruch 2«, 3 und 6t dadurch gekennzeichnet4 daß die beiden Teilsysteme aus nur je zwei Hilfselelrtroden oder -magnetpolen beStehen0
8* Einrichtung zur Kompensation des Astigmatismus erster Ord= nung nach Patentanspruch 2 oder 3„ dadurch gekennzeichnet 5. daß die Hilfselektroden und/oder -magnetpole um die optische Achse drehbar angeordnet Sind0
9β Einrichtung zur Kompensation des Astigmatismus erster Ordnung nach Patentanspruch 24 5 und 80 dadurch gekennzeichnet«, daß nur zwei Hilfselektroden oder -magnetpole vorgesehen sind, Einrichtung zur Beseitigung von Symmetriefehlern n-ter Ordnung nach Patentanspruch 2„ dadurch gekennzeichnet, daß mindestens n+1 sternförmig um die optische Achse angeordnete Hilfselektroden oder -magnetpole vorgesehen sind,lic Verfahren zur Kompensation der Symmetriefehler von Elektro= nenlinsen mit Einrichtungen nach Patentanspruch 2 oder föl= genden, dadurch gekennzeichnet, daß-die nach der Kompensation eines Teiles der Symmetriefehler verbleibende elliptische Verzeichnung des= ^ess&sä^^esms]; der Kreise bei der liebt» oder elektronenoptischen Weitervergrößerung des elektronenopti= sehen Bildes beseitigt wird .
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0175933A1 (de) | Rasterlinsen-System ohne Ablenkfarbfehler zur Materialbearbeitung mit Korpuskularstrahlen | |
| DE3841715A1 (de) | Abbildender korrektor vom wien-typ fuer elektronenmikroskope | |
| DE1063286B (de) | Verfahren und Einrichtung zum Einstellen der Lage des durch einen Kathodenstrahl erzeugten Brennflecks auf der Antikathode einer Roentgenroehre | |
| DE102007058443B4 (de) | Korrektor für axialen und außeraxialen Strahlengang und TEM damit | |
| DE765498C (de) | Gasgefuellte oder Gasreste enthaltende Braunsche Roehre mit elektrostatischem Ablenkorgan fuer die Ablenkung des Kathodenstrahls in wenigstens einer Koordinate | |
| EP2008294A1 (de) | Elektronenoptischer korrektor für aplanatische abbildungssysteme | |
| DE1236097B (de) | Elektronenlinse zum Korrigieren einer drehsymmetrischen, magnetischen Elektronenlinse | |
| DE1937482A1 (de) | Mikrostrahlsonde | |
| DE2255302A1 (de) | Einrichtung fuer die sekundaer-ionenmassenspektroskopie | |
| DE1537981B2 (de) | Farbfernseh wiedergabevorrichtung mit einer elektronen strahlroehre ohne anisotropen astigmatismus | |
| DE69817618T2 (de) | Wien filter | |
| DE2827458A1 (de) | Konvergenzvorrichtung fuer projektions- farbfernsehsystem | |
| DE942518C (de) | Einrichtung zur Kompensation der Symmetriefehler von Elektronenlinsen | |
| DEP0013554DA (de) | Einrichtung zur Kompensation der Symmetriefehler von Elektronenlinsen | |
| DE2623207C2 (de) | Ablenkplatteneinheit für Ionenstrahleinrichtungen | |
| DE868322C (de) | Elektrostatische Ablenkvorrichtung fuer Kathodenstrahlroehren | |
| DE102005050810A1 (de) | Elektronenoptischer Korrektor für aplanatische Abbildungssysteme | |
| DE3213149C2 (de) | Optisches System zur Änderung der Bildstellung | |
| DE112014006444B4 (de) | Mit einem Strahl geladener Teilchen arbeitende Vorrichtung und Verfahren zum Korrigieren der sphärischen Aberration | |
| DE7121967U (de) | Vorrichtung zur messung der intensitaet eines ionenstrahl | |
| DE840421C (de) | Geraet mit Elektronenoptik und dazugehoeriges Korrektionsverfahren | |
| DE2142436C2 (de) | Fernsehkameraröhre und Verfahren zum Betrieb | |
| DE1414808A1 (de) | Kathodenstrahlroehre | |
| DE2021730B2 (de) | Massenspektrometer | |
| DE735873C (de) | Elektronenoptische Abbildungseinrichtung mit zwei oder mehr Einzellinsen |