DE8304116U1

DE8304116U1 - Prüfschrank für elektronische Bauelemente

Info

Publication number: DE8304116U1
Application number: DE8304116U
Authority: DE
Original assignee: WC Heraus GmbH and Co KG
Current assignee: WC Heraus GmbH and Co KG
Publication date: 1984-04-26

Description

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Hanau, 9. Februar 1983
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W.C. Heraeus GmbH
Gebrauchsmusteranmeldung

"Prüfschrank für elektronische Bauelemente"

Die Erfindung betrifft einen Prüfschrank für elektronische
Bauelemente gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1.

Bei derartigen Prüfschränken ist es problematisch die große Anzahl der nötigen elektrischen Kontakte zwischen der Prüflingsplatine in der Prüfkammer und der "Außenwelt", wie Ansteuerplatinen und Stromzuführungen, unterzubringen- In der Regel ist der Platz zwischen der Rückwand der Prüfkammer
und dem Schrankgehäuse sehr beschränkt. Außerdem wünschen
die Benutzer für eine Vielzahl von Testmöglichkeiten eine
entsprechende Zahl von Steuermöglichkeiten für die Prüfung.

Die Lösung dieser Aufgabe ist im Anspruch 1 aufgeführt. Eine Weiterbildung dieser Erfindung ist in Anspruch 2 enthalten.

Die beigefügte Zeichnung zeigt rein scbematisch ein Ausführungsbeispiel der Erfindung.

Der Prüfschrank, auch "Burn-In-Prüfschrank" oder "Ejnfahr-Prüfschrank" genannt, weist eine Prüfkammer auf, die den
Prüfraum oder Nutzraum umgibt. In der Zeichnung dargestellt ist ein Ausschnitt der Rückwand 1 der Prüfkammer mii ihrer
Isolation, insbesondere Wärmeisolation. Außen trägt diese
Rückwand 1 ein Gestell 2, das aus metallischen Profilen,
insbesondere U-Profilleisten, besteht, die in einem Rahmen,

z.B. aus L-Profil, angeordnet und mit diesem fest verbunden sind.

Auf der Innenseite der Rückwand 1 ist ein selbständiges Geste]! 3 angeordnet, das in den Prüfraum steht und ebenfalls aus L)- oder Winkelprofilen in einem Rahmen zusammengesetzt ist. Es trägt einerseits die Prüfplatinen 4, auf denen der Prüfsockel 5 und die zu prüfenden elektronischen Bauelemente 6 angeordnet sind und andererseits Kühlplatten 7 mit ihren Kühlmittelzu- und abführungen 8, Welche an ein Kühlmittelumlaufsystem angeschlossen sind. Macht dargestellt sind Heizeinrichtungen und gegebenenfalls weitere Einrichtungen, um zusätzliche Testbedingungen zu schaffen bzw. variieren zu können innerhalb des Prüfraums 9.

Sowohl das Gestell 3 als auch das Gestell 2 weisen Durch- |

führungen auf für die Prüfplatine, ebenso die Rückwand 1 bei J9 abgedichtet in ihrer Isolation, wie ohne weiteres aus der Zeichnung ersichtlich.

In dem Gestell 2 angeordnet sind Steckerleisten 10 zur Kontaktierung der Prüfplatinen mit Ansteuerkarten 11 auf der Außenseite der Prüfkammer.

Aus der Zeichnung ersichtlich ist im Schnitt durch eine solche Steckerleiste 10 ein etwa zylindrisches Gehäuseteil 12, das mit einem weiteren Gehäuseteil 13 vorteilhaft einstückig, jedoch zumindest fest verbunden ist, eine Aufnahmebuchse 14 in dem Gestell 2 zur Aufnahme des Steckerteils 15, während das zweite Steckerteil 16 diesem in ein und derselben Ebene gegenüber liegt, um so eine doppelseitige Steckverbindung zwischen jeweils einer Prüfplatine und einer Ansteuerkarte zu ermöglichen. Zusätzlich weist der Steckerkörper und/oder sein Gehäuse 13 noch einen Stecker 17 auf, der mit einer

Stromzuführung 18, insbesondere elektrischen Leitungen, Kabeln usw., im Schrankgehäuse untergebracht und für den Anschluß des Schrankes nach außen geführt ist.

Die Anwendung der Erfindung erfolgt bei sogenannten dynamischen Burn-In-Systemen, um die immermehr steigenden Anforderungen an die Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente überprüfen und sicherstellen zu können. Die Methode des Einfahrens oder Burn-In kann die Ausschußquote elektrischer Bauelemente drastisct senken, insbesondere da mit ihr auch extreme Temperatur- und andere Bedingungen gefahren und getestet u/erden können, so daß es sehr schnell zu Ausfällen Ungeeigneter Bauelemente kommt. Die Temperatur in dem Prüfschrank kann relativ hoch gewählt werden, so daß man auch von einer heißen Zone oder einem Ofen spricht.

Bei dynamisch messenden Burn-In-Prüfschränken ist die Anzahl der Kontakte und Leiterbahnen kritisch, weil sie die Prüflingszahlen begrenzt.

Mit der erfindungsgemäßen Lösung wird der Vorteil erreicht, daß die Ansteuerkarten oder -platinen außerhalb der heißen Zone angeordnet sind. Über die Steckerleiste ist jede Prüflingsplatine direkt mit seiner Ansteuerplatine auf einfachste und raumsparende Weise verbunden. Die Ansteuerplatine enthält die Bauteile spezifische Ansteuer- und Überwachungselektronik für die Prüflinge. Die Ansteuerelektronik kann programmierbar gestaltet werden, z.B. für Ein-/Ausschalten der Versorgungsspannung, Einstellen von Taktfrequenzen, Einstellen von Testmustern, Programmieren von Versorgungsspannungen mittels Gleichstromwandlern und Start/S top-System. Jede Ansteuerelektronik sowohl für analoge als auch digitale Prüfung von integrierten Schaltkreisen erhält Eingänge, die Einstellsignale aufnehmen können. Diese sind digital oder auf TTL-Pegel normiert Daten.

Bei dem dynamisch messenden Burn-In-System werden außerdem Überwachungsfunktionen ausgeführt, \i/ie z.B. Überwachen der Versorgungsspannnung, der Ansteuersignale und der Prüflingsausgangssignale. Der Anschluß erfolgt an ein Netzgerät und an einen Rechner, insbesondere ein Mikroprozessorsystem, das über eine Systemsammeischiene (Bus) die einzelnen Datenschnittstellenplatinen abgreift.

Ein weiterer Vorteil der erfindungsgemäßen Ausführung ist, daß auf einfache und sichere Weise hochfrequente Steuersignale den Prüflingsplatinen von außen zugeführt werden können.

Ein weiterer Vorteil ist die Möglichkeit eine hohe Wärmeabfuhr bei kleinen räumlichen Temperaturdifferenzen zu gewährleisten mit Hilfe der Kühlplatten, die zwischen den Prüflingsplatinen angeordnet sind und insbesondere mit einer speziellen Wärmeträgerflüssigkeit durchströmt werden. Der Flüssigkeitskreislauf führt die Wärmeleistung worn Prüfschrank ab. Die Prüflingsplatinen liegen zweckmäßigerweise in einem starken Umluftstrom, der die Temperatur im Prüfraum gleichmäßig verteilt. Die Umluft wird von elektrischen Heizkörpern erwärmt. Die Prüflingsplatinen sind mit Vorteil zur Vermeidung von Durchbie,-gungen bei hohen Temperaturen vertikal angeordnet. Der Temperaturbereich kann mit Vorteil bei 70 bis 200° C liegen. Weiterhin von Vorteil ist, daß die erfindungsgemäßen Prüfschränke zur Vermeidung von Bauteilkorrosion die Möglichkeit der Spülung des Prüfraumes mittels Stickstoff aufweisen.

Weitere Vorteile der Erfindung sind:

1. der Aufbau des Gestells und die Anordnung von Platinen in Gruppen (vertikal) und die Modulbauweise.

2. optimale Möglichkeiten der Zufuhr von Uersorgungsspannungen sowie des Einsatzes von Ansteuerplatinen durch die Schrankwand hindurch;

3. Entfall des Verdrahtungsaufwandes vom Schrankinnenraum zu einer externen elektronischen Steuerung infolge der Anordnung der rückseitigen Stecker leisten bei der Erfindung;

4. die Prüfung elektronischer Bauelemente unterschiedlichster A^t in gleichem Prüfschrank;

5. die raumsparende Anordnung in der Rückwand der Priifkammer und insgesamt im Prüfschrank, das heißt, maximale Einfahrkapazität auf geringstem Raum.

Abwandlungen des dargestellten und beschriebenen AusFührungsbeispiels können selbstverständlich vorgenommen u/erden, ohne hierdurch den Rahmen der Erfindung zu verlassen.

Zur Erfindung gehören auch alle Kombinationen und Unterkombinationen der beschriebenen, dargestellten und beanspruchten Merkmale sowohl untereinander als auch mit an sich bekannten Einzelmerkmalen.

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Claims

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Hanau, 9. Februar 1983 ZPL-Zw/ha

W.C. Heraeus GmbH

Gebrauchs niusteranmeldung

"Prüfschrank für elektronische Bauelemente"

Ansprüche

1\ Prüfschrank mit einer Kammer, in der Prüflingsplatinen für elektronische Bauelemente angeordnet sind, um festzustellen, ob diese unter vorgebbaren Testbedingen ausfallen, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüflingsplatinen in der Kammer abgedichtet durch die Rückwand des Schrankes hindurchgeführt sind und auf der Außenseite der Prüfkammer Ansteuerkarteri in einer Ebene mit den Prüfplatinen angeordnet und über doppelseitige Steckerleisten miteinander verbunden sind.
2. Prüfschrank nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die an der Rückwand der Prüfkammer angeordneten Steckerleister als Zweifachstecker ausgebildet sind und zusätzlich das Steckergehäuse einen dritten Stecker zur Aufnahme der Stromzuführungen umfaßt.