DE8124930U1 - Durchlicht- und/oder auflicht-inversmikroskop - Google Patents

Description

Durchlicht- und/oder Auflicht-Inversmikroskop

Die Erfindung betrifft ein Inversmikroskop für Durchlicht-, Auf licht- oder kombinierte Durchlicht- und Auflicht-Beleuchtung.

Mikroskope nach der Bauart von Le Chatelier, sogenannte "umgekehrte" oder "lnvers"-Mikroskope, sind bereits bekannt. So wird in der Leitz-Firmendruckschrift: "LEITZ EPIVERT", Listen-Nr. 111.520.036 b, Juni 1978, ein Invers-Mikroskop für Auflichtuntersuchungen beschrieben und dargestellt, dessen Grundkörper aus einem Stativfuß mit aufgesetztem Objektivrevolver, einem vertikalen, auf dem Stativfuß montierten Stativträger, dem ein höhenverstellbarer Objekttisch zugeordnet ist, einem auf dem Stativträger aufgesetzten Binokulargehäuse sowie einem an die Stirnseite des Stativfußes ansetzbaren

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Lampengehäuse besteht.

Aus der deutschen Gebrauchsmusterschrift DE-GM 7 6 28 471 ist auch bereits ein Lichtmikroskop inverser Bauart bekannt, das aus einem ^HU"-förmigeri Grundkörper besteht, wobei auf dem einen "U"-Schenkel ein Binokulargehäuse, dessen Ansatzfläche in Höhe des Objekttisches vorgesehen ist, und an dem anderen "U"-Schenkel eine höhenverstellbare Durchlichtbeleuchtungseinrichtung kippbar angebracht ist. Ein Objektivrevolver befindet sich zwischen den "ü"-SchenkeIn und ist bezüglich des ortsfest gehalterten Objekttisches verstellbar positioniert.

Aus der Zeiss(Jena)-Firmendruckschrift "TELAVAL" (IV 14 - 48 AG 29/166/69 9830) ist weiterhin ein Durchlicht-Inversmikroskop bekannt, dessen "L^ts-förmiger Grundkörper aus einem Stativfuß mit an'dessen einer Seite aufgesetztem Objektivrfevolver und an dessen anderer Seite aufgesetztem vertikalen Stativträger besteht, wobei auf der Stativträger-Oberseite ein Binokulargehäuse und eine Halterung für eine Beleuchtungseinrichtung vorgesehen sind. Der Objekttisch ist höhenverstellbar an dem Stativträger angeordnet.

Auch ist aus der Reichert-Firmendruckschrift K I-II D4/71 bereits das Durchlicht-Inversmikroskop "BIOVERT" p bekannt, das aus einem kompakten, quaderförmigen, auf

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einer Fußplatte ruhenden Grundkörper besteht, auf dessen oberer Abschlußfläche ein Foto-Binotubus angeordnet ist, dessen Ansatz-Fläche etwa in der Objekttisch-Ebene liegt.

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Schließlich ist aus der Olympus-Druckschrift M 35 E 67 68 ein "Olympus Inverted Tissue Culture Research Microscope Model IMT" bekannt, das hinsichtlich SBiner prinzipiellen Baukonzeption mit den weiter oben bereits erwähnten bekannten Mikroskoptypen im wesentlichen übereinstimmt.

Den bekannten Inversmikroskopen haften - in Kombination oder einzeln - die folgenden Nachteile an:

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(1) Dem Beobachter wird in Arbeitsposition der freie, ungehinderte Blick zum zu untersuchenden Präparat bzw. zur Objektebene durch die bei diesem bekannten Bauprinzip aus gerätegeometrischen Konstruktionsgrün= den erforderlichen Anordnungen, beispielsweise

(a) des Binokulargehäuses (Olympus, Leitz),

(b) der an dem Fotostutzen des Binokulargehäuses adaptierten mikrofotografischen Zusatzeinrichtungen (Reichert) oder

(c) der Halterungen für Durchlidtbeleuchtungseinrichtungen, die auf dem Stativträger montiert sind (Zeiss-Jena), oder

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(d) des Stativträgers selbst (Leitz, Zeiss-Jena), verwehrt bzw. zumindest erschwert.

(2) Es besteht keine direkte Hantier- und Manipuliertnöglichkeit mit bzw. an dem zu unter-. suchenden Objekt aus beobachterseitiger Richtung.

(3) Anflanschbare oder einkippbare Durchlichtbeleuchtungseinrichtungen sind derart positioniert, daß sie in relativ geringem Abstand zum Beobachter und/oder zum mikro

skopischen Objekt angeordnet sind, was insbesondere ein routinemäßiges Langzeit-Mikroskopieren erschwert und außerdem zu unerwünschten Beeinflussungen von speziellen . biologischen Präparaten (Kulturen etc.)

infolge Wärmeentwicklung führen kann.

Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein universell einsetzbares und auf einer neuartigen Gerätekonzeption beruhendes Inversmikroskop mit Durchlicht- und/oder Aufliehtbeleuchtung zu schaffen, das dem in Mikroskopierposition befindlichen Beobachter einen ungehinderten direkten Blick zum Objekt sowie ein direktes, unbehindertes, beobachterseitiges Hantieren mit dem Objekt bzw. Manipulieren an dem Objekt ermöglicht.

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Diese Aufgabe wird bei Inversmikroskopen der in den Oberbegriffen der Patentansprüche 1 bzw. 2 genannten Art dadurch gelöst, daß der vertikale Stativträger zusammen mit dem horizontalen Stativfuß und dem horizontal auskragenden Stativarm einen "C^M-förmigen, abgewinkelten Mikroskop-Grundkörper bildet, daß die freie Öffnung des Mikroskop-Grundkörpers zum Betrachter hin gerichtet ist und daß die durch den Kondensor bzw. das Objektiv sowie durch das Objekt festgelegte, vertikal verlaufende optische Achse des Mikroskops die Aufsatzanschlagfläche eines Binokulargehäuses zentrisch durchsetzt, bzw. daß der vertikale Stativträger zusammen mit dem horizontalen Stativfuß und dem horizontal auskragenden Stativarm einen ¹¹C¹¹-förmigen, abgewinkelten Mikroskop-Grundkörper bildet, die freie Öffnung des Mikroskop-Grundkörpers zum Betrachter hin gerichtet ist, die Horizontalausladung des Stativarms im wesentlichen derjenigen des Stativfußes entspricht, die Anschlagfläche für ein Binokulargehäuse als Ansatzanschlagfläche ausgebildet ist und an der zum Betrachter weisenden Stirnseite des Stativarms vorgesehen ist derart, daß sie von dem den Stativarm durchlaufenden Abbildungs-Teilstrahlenbündel zentrisch durchsetzt wird. Die Aufgabe wird bei einem Auflicht-Inversmikroskop der im Oberbegriff des Patentanspruchs 3 genannten Art alternativ dadurch gelöst, daß der vertikale Stativträger zusammen mit dem horizontalen Stativfuß und dem horizontal auskragenden Stativarm einen "C"-förmigen," abgewinkelten Mikroskop-

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Grundkörper bildet, die freie Öffnung des Mikroskop-Grundkörpers zum Betrachter hin gerichtet ist, die Horizontalausladung des Stativarms geringer ist als diejenige des Stativfußes, die Anschlagfläche für ein Binokulargehäuse als Ansatzanschlagfläche ausgebildet ist und an der zum Betrachter weisenden Stirnseite des Stativarms vorgesehen ist derart_? daß die durch das Objektiv sowie durch das Objekt festgelegte, vertikal verlaufende optische Achse des Mikroskops das Binokulargehäuse zentrisch dursetzt. Weitere Ausgestaltungen der vorliegenden Erfindung find in den Patentansprüchen 4 bis 28 beschrieben.

In den Zeichnungen werden Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung schematisch dargestellt. Es zeigen:

Fig. la: eine stark schematisierte Seitenansicht des "C"-förmigen Grundkörpers eines Durchlicht- und/oder Auflicht-Inversmikroskops mit aufgesetztem, in der vertikalen optischen Achse positionierten Binokular

gehäuse,

Fig. Ib: eine stark schematisierte Seitenansicht des ^HC"-förmigen Grundkörpers eines Durchlicht- und/oder Auflicht-Inversmikroskops mit angesetztem, außerhalb der ver

tikalen optischen Achse positionierten Binokulargehäuse;

Fig. Ic: eine stark schematisierte Seitenansicht

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Fig.

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Fig. 3:

Fig. 4: Fig.

Fig. 6a

Fig. 6b

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des "C"-förmigen Grundkörpers eines Auflicht- Inversmikr ο skops mit angesetztem,
in der vertikalen optischen Achse positionierten Binokulargehäuse;
den prinzipiellen konstruktiven und optischen Aufbau des erfindungsgemäßen
kombinierten Durchlicht- und Auflicht-Inversmikroskops;

eine Durchlicht-Variante mit Spezialkondensor und einem ersten Aufsatz-Bauteil; eine weitere Durchlicht-Variante mit einem zweiten Aufsatz-Bauteil;

5a, 5b: ein Durchlicht- und/oder Auflicht-Inversmikroskop mit verschwenkbarem Oberteil in seinen beiden Arbeitspositionen; eine schematische Detail-Seitenansicht einer im Stativfuß angeordneten Fluoreszenzilluminator-Baugruppe ; eine der Fig. 6a entsprechende Detail-Aufsicht unter Weglassung des Objektivrevolvers ;
einen modularen Justiereinsatz.

Fig. 6c:

In Fig. la ist ein aus einem Stativfuß F, einem Stativträger T und einem Stativarm A bestehender Mikroskop-Grundkörper G dargestellt, der in der Seitenansicht die Form eines abgewinkelten ¹¹C" aufweist. Die freie. Öffnung Öf des Grundkörpers G"ist dem Betrachter B

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zugewandt. Ein Objekttisch 26 ist in an sich bekannter Weise entweder am Stativträger T oder auf dem Stativfuß F (siehe Fig. 3) höhenverschieblich gehaltert. Unter Einbeziehung des Objekttisches 26 stellt das stark schematisierte Mikroskopgehäuse in Seitenansicht gewissermaßen ein ^ME" dar.

Obwohl in den Fig. la - Ic der Mikroskop-Grundkörper G rechte Winkel zwischen dem Stativträger T und dem Stativfuß F bzw. dem Stativarm A aufweist, können auch abgerundete oder schwach bogenförmige oder von 90° abweichende Winkelbeträge zwischen den einzelnen Elementen T, F, A des Grundkörpers G vorgesehen sein. Auch ist es nicht unbedingt erforderlich, daß der Stativträger T und der Stativfuß F in zueinander parallelen Ebenen liegen. Aus ergonomischen und vor allem aus konstruktiven (Stabilitäts-)Gründen wird jedoch der Grundkörper G vorzugsweise aus einem horizontalen Stativfuß F, einem vertikalen Stativträger T und einem horizontal auskragenden Stativarm A bestehen.

Dabei ist es möglich, daß der Grundkörper G einstückig (Fig. Ia₅ Ic) ausgebildet ist oder aus zwei Modulen (F, T-I-A ; vgl. Fig. 2-4) bzw. aus drei Modulen (F, T, A) besteht. Es ist auch möglich, den Stativträger T entweder auf der Oberseite des Stativfußes F (Fig. 4) oder partiell in und partiell auf dem Stativfuß F (Fig. 2, 3) anzuordnen. Analoges gilt für den - Ansatzbereich zwischen dem Stativträger T und dem Stativarm A.

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Die aus den Fig. la und Ic ersichtliche, grundsätzlich neue Idee bezüglich der Bauteil-Anordnung liegt jedoch darin, daß in der vertikal verlaufenden optischen Achse 4 des Mikroskops, die durch das Objektiv 1 und das zentrisch positionierte mikroskopische Objekt 3 definiert wird, auch der Kondensor 2 (Fig. la: Durchlicht-InversVariante bzw. kombinierte Durchlicht/Auflicht-InversVariante) bzw. das optisch wirksame Zentrum 19a des Binokulargehäuses 5 (Fig.

Ic: Auflicht-Inversvariante) liegen. Unter "optisch wirksamem Zentrum" 19a wird hierbei der Punkt verstanden, an welchem das in das Binokulargehäuse 5 gelangende Abbildungsstrahlenbündel erstmalig teilweise (Fig. 3) oder ganz (Fig. 2_} 4) reflektiert wird, um nach - eventuell erforderlich werdender - nochmaliger Totalreflexion in das (die) eigentliche(n) Okularrohr (Binokularrohre) zu gelangen. Bei einer bevorzugten Ausführungsform der Durchlicht- bzw. der kombinierten Durchlicht-Auflichtvariante (Fig= Ia) ist zusätzlich zu der Reihenfolge (von unten nach oben): Objektiv 1 Objekt 3 - Kondensor 2 noch das Binokulargehäuse 5, und zwar mit seinem optisch wirksamen Zentrum 19a bzw. dem Zentrum seiner Aufsatzanschlagfläche 6, oberhalb des Kondensors 2 auf der optischen Achse 4 des Mikroskops angeordnet.

Fig. Ib zeigt eine prinzipiell mögliche Variante, wobei die Ansatzanschlagfläche 7 vom hier nicht dargestellten Abbildungsstrahlenbündel zentrisch durch-

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- 22 - Pat Bl/Wi - 24.08.81 A 2163/B 3020

setzt wird. Alle drei Varianten (Fig. la - lc) sind so konzipiert, daß das Binokulargehäuse 5 oberhalb der Ebene des Objekttisches 26 angeordnet ist und daß der Beobachter B in ergonomisch günstiger Sitzposition wechselweise das mikroskopische Bild im Binokular 5 oder aber das zu mikroskopierende Objekt 3 auf dem Objekttisch 26 beobachten kann, ohne seine einmal eingenommene Mikroskopier-Haltung zu verändern. Von besonderer Wichtigkeit ist darüber hinaus, daß auch apparative und manuelle Präparatmanipulationen, wie Umrühren, Hinzugabe (Entnahme) von Substanzen zum (vom) Präparat, Selektieren von Substanzgemischen, Kennzeichnen von Objektdetails, Direktbeobachten von Küvettendurchflüssen, Schnellwechseln von Präparaten bei Routineuntersuchungen, Direktbeobachten von Seigerungsvorgangen und Auskristallisationen in wässrigen Lösungen, Schnell-Positionieren von großvolumigen Präparatbehältnissen auf dem Objekttisch 3 usw. von der freien Öffnungsseite Öf aus vom Beobachter B selbst ohne Aufgabe bzw. Veränderung seiner ergonomischen Sitzposition vorgenommen werden können.

In Fig. 2 sind die Beleuchtungsstrahlengänge für die Durchlicht- und die Auflichtvariante sowie der Abbildungsstrahlengang schematisch dargestellt. Dabei wurden lediglich die wichtigsten strahlenquerschnittsverändernden und strahlenumlenkenden Bauteile eingezeichnet. Es ist natürlich auch möglich, anstelle der

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gezeigten Bauteile gleichwirkende Elemente vorzusehen. Dies wird beispielsweise in den ansonsten analogen Strahlengangsverläufen in den Fig. 2-4 skizziert. In Fig. 2 ist am vom Betrachter B wegweisenden oberen Teil des Stativträgers T bzw. am rückwärtigen Teil des Stativarms A eine Durchlichtbeleuchtungseinheit 27 über eine Anflanschstelle 31 mechanisch und/oder elektrisch mit dem Grundkörper G verbunden. Das von einer nicht mit dargestellten Lichtquelle ausgehende Beleuchtungsstrahlenbündel 8 trifft auf ein als Vollspiegel ausgebildetes erstes Umlenkelement 9, das sich in 45 -Stellung in der vertikalen optischen Achse 4 des Mikroskops befindet, und von dort nach Durchtritt durch einen an der Unterseite des Stativarms A angebrachten Kondensor 2 auf das auf dem Objekttisch 26 liegende Objekt 3. Das vom Objekt 3 aus-

»' gehende Abbildungsstrahlenbündel passiert nach Ver

lassen des Objektivs 1 einen ersten Teilerspiegel 11, der für die Umlenkung des Auflichtbeleuchtungsstrahlengangs 10 vorgesehen ist, und wird danach durch ein

zweites Umlenkelement 12, das als Glasprisma oder als Vollspiegel 12a (Fig. 3) ausgebildet sein kann, in Richtung des mit der Bezugsziffer 38 ausgewiesenen !■ Teilabschnitts im Stativfuß F geführt, wo es nach er-

neuter Richtungsänderung durch ein drittes Umlenkelement 14, das anstelle des gezeigten Glasprismas auch ein Vollspiegel 14a (Fig. 3) oder ein Pentaprisma 14b (Fig. 4) sein kann, den Stativträger T durcheilt. Von dort erfolgt mittels eines vierten Umlenkelementes

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16, das auch ein Teilerspiegel 24 (Fig. 3) oder ein Vollspiegel 16a (Fig. 4) sein kann, eine erneute Knickung des Abbildungsstrahlenganges in Richtung eines in der optischen Achse 4 angeordneten fünften Umlenkelements 18. Es ist hervorzuheben, daß es erforderlich ist, an einer und nur an einer der Abbildungs· strahlengang-Knickstellen, an denen (in Fig. 2) die Bauelemente 12, 14, 16 bzw. 18 angeordnet sind, ein Pentaprisma (in Fig. 2: Position 18; in Fig. 4: Position 14b) oder eine gleichwirkende Spiegelkombination (in Fig. 3: sechstes und siebtes Umlenkelement 20 + 21) vorzusehen.

Nach 90 -Umlenkung des Abbildungsstrahlenbündels in Richtung der vertikalen optischen Achse 4 tritt es zentrisch durch die Aufsatzanschlagfläche 6 des Binokulargehäuses 5 und gelangt nach Totalreflexion an der größeren Kathetenfläche ("Zentrum" 19a) und erneuter Reflexion an der Hypothenusenflache des Umlenkprismas 19 in den eigentlichen Okular- bzw. Binokulartubus. Anstelle der Totalreflexion an der größeren Kathetenfläche des Umlenkprismas 19 tritt eine Strahlaufspaltung, sofern der Binokulartubus 5 mit einem Fotostutzen 6a versehen ist und eine mikrofotografische oder fotometrische Auswertung des mikroskopischen BiI-des beabsichtigt ist.

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- 25 - Pat Bl/Wi - 24.08.81 A 2163/B 3020

den in den Fig. Ib und Ic dargestellten Invers-Varianten tritt das das Umlenkelement 16 bzw. 16a bzw. 24 verlassende Abbildungsstrahlenbündel an der beobachterseitigen Stirnseite des Stativarms A zentrisch durch die Ansatzanschlagfläche 7 des Binokulargehäuses 5 und wird von dort über nicht mit dargestellte Umlenkelemente in die Binokularrohre weitergeleitet.

Das Auflichtbeleuchtungsstrahlenbündel geht von einer nicht dargestellten Lichtquelle aus, die sich in der Beleuchtungseinheit 28 befindet, welche über eine Anflanschstelle 32 mechanisch und elektrisch mit dem Mikroskop-Grundkörper G verbunden ist. Beide Beieuchtungseinheiten 27 und 28 können austauschbar adaptiert sein und intern bzw. extern mit Energie versorgt werden. Das Auflichtbeieuchtungs-Teilstrahlenbündel 10 wird über ein in der optischen Achse 4 angeordneten ersten Teilerspiegel 11 in das Objektiv 1 und von dort aus auf das Objekt 3 weitergeleitet.

Im Auflichtbeleuchtungs-Teilstrahlenbündel 10 sind in an sich bekannter Weise Blenden (z.B. eine Leuchtfeldblende 58), Optiken (z.B. eine Optik 59) und Filtereinsätze (nicht dargestellt) vorgesehen. Auch kann zwischen dem ersten Teilerspiegel 11 und dem zweiten Umlenkelement 12 beispielsweise eine Einschubmöglichkeit für einen Analysator oder ein Bauelement zur Realisierung des Interferenzkontrastes vorgesehen sein. Ebenso ist es möglich bzw. erforderlich, im

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Durchlichtbeleuchtungs-Teilstrahlenbundel 8 entsprechende Filtereinschübe 8a (siehe Fig. 2) sowie Blenden und Optiken (nicht dargestellt) und im gesamten geknickten Abbildungsstrahlengang zwischen den Bauelementen 12, 12a--einerseits und 18, 18a, 20 andererseits Optiken

13, 15 und 17 in geeigneter Weise vorzusehen. |

Wie aus Fig. 3 ersichtlich, kann in Verlängerung des im Stativträger T verlaufenden AbbildungsStrahlengangs ein Kameraansatz 23 optisch angekoppelt werden, wenn

en anstelle des vierten UmlenkeIeTSE^-S 16 bzw. 16a ein in den Strahlengang einbringbarer zweiter Teilerspiegel 24 vorgesehen wird. Selbstverständlich ist dies auch an anderer Stelle möglich, beispielsweise zwischen den Umlenkelementen 16a und 18a. Im in Fig. 4 dargestellten Fall wird mittels eines klappbar angeordneten Teilerspiegels 25 ein Teil des Abbildungsstrahlenbündels in einen Projektionsaufsatz 22 abgezweigt, dessen Mattscheibe 22a für den Beobachter B ebenfalls ungehindert und direkt und ohne Veränderung der ergonomisch optimalen Mikroskopierposition einsehbar ist.

Anstelle der in den Fig. 3 und 4 gezeigten optischen Abzweigstellen (bei 24 bzw. 25) sind indes auch andere oder zusätzliche Ausspiegelungs- bzw. Einspiegelungs- | Schnittstellen möglich. Wenn beispielsweise - wie in ^

Fig.4 dargestellt - der Aufbau lediglich als Durchlicht-Inversvariante konzipiert ist, kann bereits in Verlängerung des Abbildungs-Teilstrahlengangs 38 an

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der vom Beobachter B abgewandten Seite des Stativfußes F eine weitere Kamerabaugruppe (Filmkamera, Sofortbildkamera u.a.) adaptiert werden. Aber auch im Bereich des vertikalen Stativarms A ist eine optische .. AbzweigvorriGhiföingjVjatwa-für eine -TVr-Kamera, -möglich, —-—-

In Fig. 3 ist anstelle des in Fig. 2 und Fig. 4 ge= zeigten einfachen, herausnehmbar gehalterten Übersichtskondensors 2 ein hochaperturiger Spezialkondensor 2a dargestellt, der in einer am Stativträger T oder am Objekttisch 26 angebrachten Zusatzhalterung befestigt ist.

Wie Fig. 5a erkennen läßt, kann mit der erfindungsgemäßen Neukonzeption der Inversmikroskope ein hoher Objekttisch-Raum für großvolumige Präparatbehältnisse genutzt werden, ohne daß die weiter oben bereits genannten fundamentalen Vorteile aufgegeben werden müßten.

Um jedoch auch extrem dimensionierte Prä.para1ebehälter_s wie Erlenmeyerkolben 3b, Penizillin-Flaschen 3a u.a. auf dem Objekttisch aufstellen bzw. auflegen zu können, kann - wie aus Fig. 5a und 5b ersichtlich - die Einrichtung auch so getroffen sein, daß zumindest eine Schwenkung des Stativarms A um eine Achse 29, die mit der Achse des den Stativträger T durchsetzenden Teils des AbbildungsStrahlenbündeIs zusammenfällt, vorgesehen ist. Die Schwenkebene befindet sich im dargestellten Fall an der Schnittstelle 30 zwischen dem

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Stativarm A und dem Stativträger T. Es ist indes auch möglich, daß die Schnittstelle zwischen dem ortsfest verbleibenden Unterteil des Mikroskop-Grundkörpers G und de.s.&en .schwenkbarem Oberteil innerhalb desjenigen Bereichs des Stativträgers T liegt, dessen untere Grenze durch den in Minimaldistanz zum Objektiv 1 eingestellten Objekttisch 26 und dessen obere Grenze durch die Anflanschstelle 31 für die Durchlichtbeleuchtungs-Einheit 27 gegeben ist.

Während in Fig. 5a die Grundstellung gezeigt wird, die sich prinzipiell nicht von den in Fig. 2 und Fig. 4 gezeigten Anordnungen unterscheidet, wird in Fig. 5b eine 180 -Verschwenkung des Stativarms A dargestellt. An die Anflanschstelle 31 ist ein Distanzarm 33 angesetzt, der einen der Durchlichtbeleuchtungs-Einheit 27 analogen mechanischen und elektrischen Ankoppelmechanismus aufweist. An den Distanzarm 33 kann nach Art einer optischen Bank eine höhenverstellbare spezielle Durchlichtbeleuchtungseinrichtung 35 angesetzt werden, die eine Lichtquelle 37, ein Umlenkelement und eine Arretierschraube 36 umfaßt, und der ein zweiter Kondensor 34 nachgeordnet ist. Auch im in Fig. 5b dargestellten Fall (Durchlicht-Beleuchtungsvariante) ist die Vertikal-Reihe (von unten nach oben):

Objektiv 1 - Objekt 3b - Kondensor 34 beibehalten worden. Wenn man lediglich die Auflicht-InversVariante apparativ realisieren will, so genügt bereits ein geringes Verschwenken des drehbaren Oberteils, da dann

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der Kondensor 34 entfällt und gewissermaßen durch das als Kondensor wirkende Objektiv 1 ersetzt wird. Bei nur geringem Verschwenken des Oberteils kann dann vorteilhafterweise die Direktbeobachtung des Objektes a-i%zw. 3b vollständig beibehalten sowie alle gängigen ■■ Präparathantierungen und Objektmanipulationen vom Beobachter direkt vorgenommen werden.

In dem Stativfuß F kann zusätzlich eine Auflichtfluoreszenzanordnung realisiert sein. Dies wird in den Fig. 6a und 6b näher erläutert.

In Fig. 6a wird der beobachterseitige Teil des Stativfußes F mit aufgesetztem Objektivrevolver und darüber angeordnetem Objekttisch 26 in Seitenansicht dargestellt. In einer als Schublade ausgebildeten Halterung 39, die beispielsweise mittels eines Antriebsknopfes 44 oder einer nicht dargestellten Handhabe in Beobachterrichtung (in Richtung des Pfeiles 39a) aus dem Stativfuß F herausgezogen werden kann, sind Mittel zum positionsgerechten Aufnehmen und Verschieben (in Richtung des Pfeiles 41b) von als Bau- und Funktionseinheiten ausgebildeten Fluoreszenzeinheiten 42 bzw. 43 vorgesehen. Diese Mittel umfassen neben dem Antriebsknopf 44 ein mit diesem über eine Welle 44a verbundenes Antriebsrad 45, das mit einer Zahnstange 41a zusammenwirkt, die mit einer auf einer Führungsstange 46 querverschieblich angeordneten Aufnahmehaiterung 41 verbunden ist. An der Aufnahmehaiterung 41 sind darüber

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hinaus mindestens drei Schwalbenschwanz-Ausnehmungen parallel zur vertikalen optischen Achse 4 vorgesehen, in die würfelförmige Fluoreszenzeinheiten 42, 43 austauschbar eingeschoben werden können. Sie bestehen jaweils aus einem Erregerfilter 48 bzw. 49, einem in 45 -Stellung befindlichen dichromatischen Teilerspiegel 50 bzw. 51 sowie einem Sperrfilter 52 (das zur Fluoreszenzeinheit 43 gehörende Sperrfilter ist nicht dargestellt^

In Fig. 6b befindet sich die Fluoreszenzeinheit 42 zentrier- und justiergenau in der optischen Achse 4 des Mikroskops. Die exakte Positionierung der Fluoreszenzeinheiten 42, 43 wird durch nicht dargestellte Rastmittel bewirkt. Will man - wie es für Mehrfachfluorochromierungstechniken erforderlich ist - andere aufeinander abgestimmte Fluoreszenzeinheiten in den Strahlengang 10 (und teilweise: 4) einbringen, so gelingt dies durch einfaches Herausziehen der Halterung 39 in Richtung des Pfeiles 39a, die zu diesem Zweck mit Rastmitteln 40, 40a ausgestattet ist, und durch unkompliziertes und schnelles Auswechseln der (des) entsprechenden Fluoreszenz-Würfel(s). Die Halterung kann sodann bis zur Anschlagkante 47 wieder in den Stativfuß F eingeschoben werden, wodurch eine exakte Zu-Ordnung zur optischen Achse 4 des Mikroskops gewährleistet ist.

Zur Einjustierung einer speziellen Fluoreszenzbeleuchtungseinheit, die anstelle der üblichen Auflicht-Be-

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leuchtungseinheit 28 an die Anflanschstelle 32 angesetzt werden kann, ist ein Justiereinsatz 53 vorgesehen, der in einen der in der Aufnahmehalterung 41 vorgesehenen Schwalbenschwänze austauschbar eingesetzt bzw. dort ständig deponiert werden kann. Der Justiereinsatz 53 ist in Fig. 6c dargestellt. In seiner äußeren Raumform gleicht er den Fluoreszenzeinheiten 42, 43. Anstelle des Erregerfilters 48 bzw. 49 befindet sich ein Lichtdämpfungsfilter 55 und anstelle des diehromatischen Teilerspiegels 50 bzw. 51 befindet sich ein (Voll-)Spiegel 56. Den objektivseitigen Abschluß bildet eine Mattscheibe 54 mit einer Zentriermarke 57. Ein von der Fluoreszenzlichtquelle 60 ausgehendes und entlang der Achse 10 verlaufendes Beleuchtungsstrahlenbündel passiert nach Verlassen der

Leuchtfeldblende 58 eine Optik 59, die die Leuchtfeldblende 58 in das Objekt 3 abbildet. Die Lampenwendel oder der Lichtbogen der Lichtquelle 60 wird auf die Zentriermarke 57 abgebildet. Das Lichtdämpfungsfilter 55 dient dazu, eventuelle Überstrahlungen zu vermeiden. Die Justierung der Lichtquelle 60 nimmt der Beobachter B bei herausgezogener Halterung 39 vor, indem er direkt f· auf die Mattscheibe 54 schaut und eventuelle Dejustie-

rungen korrigiert. Dazu ist es natürlich zunächst er- \ 25 forderlich, den Justiereinsatz 53 in eine durch die Achse 10 definierte Position zu bringen.

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Die Vorteile dieser Fluoreszenzanordnung für Inversmikroskope bestehen vor allem darin, daß das fluoreszierende Objekt sehr tief - bezüglich der ergonomisch günstigen Mikroskopierposition des Beobachters B - angebracht ist. Bei einem bekannten Inversmikroskop (DE-GM 7 6 28 471) ist es zwar möglich, in den Objektträger Fluoreszenzeinsätze einzubringen; der Objekttisch ist jedoch, bedingt durch die gewählte B_aukonzeption, sehr hoch angebracht, was für den Benutzer als nicht-optimale ergonomische Lösung ange= sehen wird. Bei anderen Inversmikroskopen bekannter Bauart gelingt - wenn überhaupt - eine Umrüstung für Fluoreszenzuntersuchungen nur, wenn aufwendige mechanische und optische Änderungen vorgenommen werden.

So ist es beispielsweise erforderlich, einen Objektträger gegen einen komplizierten Fluoreszenzilluminator auszutauschen und den Objekttisch höher anzuordnen, wodurch man beispielsweise bereits eingestellte Objektstellen aus dem Gesichtsfeld verliert.

Alle diese Nachteile werden durch die erfindungsgemäße

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Integration des Fluores^beleuchtungstraktes und eines Teils des Abbildungsstrahlengangs in den Stativfuß F Vermieden.

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Zusammenfas sung

Es wird ein Durchlicht- und/oder Auflicht-Inversmikroskop beschrieben, das aus einem "C"-förmigen Mikroskop-Grundkörper (G) besteht, dessen freie Öffnung (Öf) zum Betrachter (B) hin gerichtet ist. Ein besonderes Konstruktionsmerkmal ist die vertikale Anordnung der folgenden Mikroskopteile entlang der optischen Mikroskopachse (4) - von unten nach oben -:

Objektiv (1) - Objekt (3) - Kondensor (2) Zentrum (19a) des Binokulargehäuses (5) (Fig. la). Bei der reinen Auflicht-InversVariante (Fig. Ic) entfällt der Kondensor (2). Der mehrfach geknickte Abbildung sstrahlengang verläuft im Innern des Grundkörpers (G). Bei einer AlternsCtiv-Lösung ist das Binokulargehäuse (5) an der Stirnseite des zum Beobachter

(B) weisenden Stativarms (a) angebracht (Fig. Ib). Bei allen Ausführungsformen besitzt der Beobachter (B) in ergonomisch optimaler Mikroskopierposition einen direkten Blick in das Binokular (5) sowie zum Objekt (3) und zu adaptierbaren Aufsatzmodulen, beispielsweise zu einem Projektionsaufsatz (22) (Fig. 4). Außer-

- 34 -

3 t 1(11

Patentabteilung

- 34 - Pat Bl/Wi - 24.08.81 A 2163/B 3020

dem kann der Beobachter (B) ohne Veränderung seiner Position direkt und ungehindert Manipulationen am Objekt (3) von der freien Öffnung (Öf) her vornehmen.

- 35 -

J i[ (&**)	II·· I I I I )li ■ · III! t t · I tilt ■ 1·· .1 ■ It II· ti Il I ■ > ti I 1 I I ,1 · illll 11 Il , i II·	Stativträger
j I Patentabteilung *	- 35 - Pat Bl/Wi - 24.08.81 A 2163/B 3020	Stativfuß
, 1 I Bezugszeichen- bzw. Bezugsziffern-Liste	Stativarm
\	Mikroskop-Grundkörper (T + F + A)
\ T	freie Öffnung von (G)
: F	Betrachter
I ' A	Objektiv
	Kondensor
1 öf	Spe ζialkondens or
ft Jß	3b Objekt
A 1	optische Achse des Mikroskops
p| ο	B inokulargehäus e
I 2a	Fotostutzen
j 3, 3a,	Aufsatzanschlagfläche
1 4	Ansatzanschlagfläche
! 5	Durchlichtbeleuchtungs-Teilstrahlenbündel
I 5a i	Filtere ins chübe
I 6	erstes Umlenkelement
j 7	Aufliehtbeleuchtungs-Teilstrahlenbündel
1 ■ 8	erster Teilerspiegel
1 8a	zweites Umlenkelement (Umlenkprisma)
i 9	zweites Umlenkelement (Spiegel)
! 10 J	erste Optik
	drittes Umlenkelement (Umlenkprisma)
1 12	drittes Umlenkelement (Spiegel)
Γ 12a	drittes Umlenkelement (Pentaprisma)
j 13	zweite Optik
t I^	viertes Umlenkelement (Umlenkprisma)
1 14a	.··. ,: .'·.: ,-«. 36j λ1, ·■·· · · ι ι ι ι • · *···»1· ν,
I 14b
I 15
1 I6
i

Patentabteilung

- 36 - Pat Bl/Wi - 24.08.81 A 2163/B 3020

16a 17 18 18a 19 19a 20 21 22 22a 23 24 25 26 27 28 29 30 31

. 32 33 34 35 36 37 38

³⁹ 39a

viertes Umlenkelement (Spiegel)

dritte Optik

fünftes Umlenkelement (Pentaprisma)

fünftes Umlenkelement (Spiegel)

Umlenkprisma in (5)

"optisch wirksames Zentrum" von (5)

sechstes Umlenkelement

siebtes Umlenkelement

Projektionsaufsatz

Mattscheibe von (22)

Kameraansatz

Strahlenteiler (zweiter Teilerspiegel)

Klapp-Teilerspiegel (dritter Teilerspiegel)

Objekttisch

Beleuchtungseinheit für Durchlicht

Beleuchtungseinheit für Auflicht

Schwenkachse des Stativarms (A)

Schnittstelle

Anflanschstelle für (27)

Anflanschstelle für (28)

Distanzarm

zweiter Kondensor

DurchiIchtbeleuchtungs-Einrichtung

Distanzveränderungsmittel (Arretierschraube)

Lichtquelle in (35)

Abbildungs-Teilstrahlengang in (F)

Halterung (Schublade)

Pfeil (Herausziehrichtung von (39))

- 37 -

Patentabteilung

- 37 - Pat Bl/Wi - 24.08.81 A 2163/B 3020

40, 40a Rastmittel

41 Aufnahmehaiterung 41a Zahnstange 41b Pfeil (Verschieberichtung von (41))

42, 43 Fluoreszenzeinheiten

44 Antriebsknopf 44a Welle

45 Antriebsrad

46 Führungsstange

47 Anschlagkante 48, 49 Erregerfilter

50, 51 dichromatisehe Teilerspiegel

52 Sperrfilter

53 Justiereinsatz

54 Mattscheibe

55 Lichtdämpfungsfilter (Graufilter)

56 Spiegel

57 Zentriermarke

58 Leuchtfeldblende

59 Optik

60 Fluoreszenzlichtquelle

Claims (25)

1. Ansprüche

   1, Durchlicht- und/oder Auflicht-Inversmikroskop, umfassend

   (a) einen Stativfuß mit auf- bzw. eingesetztem Objektivrevolver,

   (b) einen Stativträger mit Mitteln zum Ansetzen optischer Baueinheiten,

   (c) einen Stativarm mit auf- bzw. ansetzbarem Okulargehäuse und auf seiner Unterseite an- bzw. eingesetztem Kondensorsystem und

   (d) einen dem Stativfuß bzw. dem Stativträger zugeordneten Objekttisch,

   dadurch gekennzeichnet, daß

   (e) der vertikale Stativträger (T) zusammen mit dem horizontalen Stativfuß (F) und dem horizontal auskragenden Stativarm (A) einen "C"-förmigen, abgewinkelten

   ( ) 15 Mikroskop-Grundkörper (G) bildet,

   (f) daß die freie Öffnung (Öf) des Mikroskop-Grundkörpers (G) zum Betrachter (B) hin gerichtet ist und

   (g) daß die durch den Kondensor (2,2a) bzw. das Objektiv (1) sowie durch das Objekt (3,3a,3b) festgelegte, vertikal verlaufende optische Achse (4) des Mikroskops die Aufsatzanschlagfläche (6) eines Binokulargehäuses (5) zentrisch durchsetzt (Fig. la).

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   Patentabteiiung

   - 2 - Pat Bl/Wi - 15.06.83 A 2163/B 3020
2. 2. Durchlicht- und/oder Auflicht-Inversmikroskop, umfassend

   (a) einen Stativfuß mit auf- bzw. eingesetztem Objektivrevolver,

   (b) einen Stativträger mit Mitteln zum Ansetzen optischer Baueinheiten,

   (c) einen Stativarm mit ansetzbarem Okulargehäuse und auf seiner Unterseite an- bzw. eingesetztem Kondensorsystem und

   (d) einen dem Stativfuß bzw. dem Stativträger zugeordneten Objekttisch,

   dadurch gekennzeichnet, daß

   (e) der vertikale Stativträger (T) zusammen mit dem horizontalen Stativfuß (F) und dem horizontal auskragenden Stativarm (A) einen "C"-förmigen, abgewinkelten Mikroskop-Grundkörper (G) bildet,

   (f) die freie Öffnung (Öf) des Mikroskop-Grundkörpers (G) zum Betrachter (B) hin gerichtet ist,

   (g) die Horizontalausladung des Stativarms (A) im wesentliehen derjenigen des Stativfußes (F) entspricht,

   (h) die Anschlagfläche für ein Binokulargehäuse (5) als Ansatzanschlagfläche (7) ausgebildet ist und an der zum Betrachter (B) weisenden Stirnseite des Stativarms (A) vorgesehen ist derart, daß sie von dem den Stativarm (A) durchlaufenden Abbildungs-Teilstrahlenbündel zentrisch durchsetzt wird (Fig. Ib).

   - 3 - Pat Bl/Wi - 15,06.83

   ο ....·, A 2163/B 3020

   ^Patentabt*"^ung G 81 24 930.6
3. 3. Auflicht-Inversmikroskop, umfassend

   (a) einen Stativfuß mit auf- bzw. eingesetztem Objektrevolver,

   (b) einen Stativträger mit Mitteln zum Ansetzen optischer Baueinheiten,

   (c) einen Stativarm mit ansetzbarem Okulargehäuse und

   (d) einen dem Stativfuß bzw. dem Stativträger zugeordneten Objekttisch,

   dadurch gekennzeichnet, daß (e) der vertikale Stativträger (T) zusammen mit dem horizontalen Stativfuß (F) und dem horizontal auskragenden Stativarm (A) einen "C"-förmigen, abgewinkelten Mikroskop-Grundkörper (G) bildet,

   (f) die freie Öffnung (Of) des Mikroskop-Grundkörpers (G) zum Betrachter (B) hin gerichtet ist,

   (g) die Horizontalausladung des Stativarms (A) geringer ist als diejenige des Stativfußes (F),

   (h) die Anschlagfläche für ein Binokulargehäuse (5) als Ansatzanschlagfläche (7) ausgebildet ist und an der zum Betrachter (B) weisenden Stirnseite des Stativarms (A) vorgesehen ist derart, daß die durch das Objektiv (1) sowie durch das Objekt (3,3a,3b) festgelegte, vertikal verlaufende optische Achse (4) des Mikroskops das Binokulargehäuse (5) zentrisch durchsetzt (Fig. Ic).

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   - 4 - Pat Bl/Wi - 16.05.83 A 2163/B 3020

   Patentabteilung _{G gl 24} 930. 6
4. 4« Inversmikroskop nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Stativträger (T) sowie die optische Achse (4) im wesentlichen jeweils vertikal und der Stativfuß (F) sowie der auskragende Stativarm (A) im wesentlichen jeweils horizontal verläuft und daß die Seitenansicht des Mikroskop-Grundkörpers (G) vorzugsweise einem abgewinkelten "C" entspricht.
5. 5. Inversmikroskop nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß anstelle des eine Aufsatz- bzw„ Ansatzanschlagfläche (6 bzw. 7) aufweisenden Binokulargehäuses (5) ein Zwischengehäuse mit einer entsprechenden Aufsatz- oder Ansatzanschlagfläche vorgesehen ist, welches Ankopplungsmittel für das Binokulargehäuse (5) enthält.
6. 6. Inversmikroskop nach Anspruch 1 oder 2 sowie 4 und 5, dadurch gekennzeichnet, daß im Stativarm (A) und in der optischen Achse (4) des Mikroskops ein erstes Umlenkelement (9) angeordnet und vorzugsweise in 45 -Stellung zu dieser positioniert ist.
7. 7. Inversmikroskop nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet , daß im Stativfuß (F) und in der optischen I

   Achse (4) des Mikroskops ein Teilerspiegel (11) angeordnet und vorzugsweise in 45 -Stdlung zu dieser positioniert ist.

   ·· III!

   _ - 5 - Pat Bl/Wi - 16.05.83

   Patenting A 2163/B 3020
8. 8. Inversmikroskop nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß im Stativfuß (F) und in der optischen Achse (4) des Mikroskops ein zweites Umlenkelement (12 bzw. 12a) angeordnet ist, dem im Stativfuß (F) eine erste Optik (13), dann ein drittes Umlenkele- f. ( , ment (14 bzw. 14a bzw. 14b), danach im Stativträger (T) eine zweite Optik (15) sowie ein im Stativarm (A) befindliches viertes Umlenkelement (16 bzw. 16a), sodann eine dritte Optik (17) und ein fünftes Umlenkelement

   (18 bzw. 18a), das in der optischen Achse (4) zwischen der Aufsatzanschlagfläche (6) des Binokulargehäuses (5) und dem ersten Umlenkelement (9) positioniert ist, und schließlich ein im Binokulargehäuse (5) befindliches Umlenkprisma (19) nachgeordnet sind.
9. 9. Inversmikroskop nach Anspruch 8, dadurch O gekennzeichnet, daß anstelle des fünften Umlenkelements (18 bzw. 18a) ein sechstes Umlenkelement (20) außerhalb der optischen Achse (4) des Mikroskops sowie ein siebtes Umlenkelement (21) in der optischen Achse (4) zwischen dem ersten Umlenkelement (9) und der Aufsatzanschlagfläche (6) des Binokulargehäuses (5) unter einem Winkel, beispielsweise 67,5 , zur optischen Achse (4) angeordnet sind (Fig. 3).

   25
10. 10. Inversmikroskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß innerhalb des Abbildungsstrahlenganges

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    - 6 - Pat Bl/Wi - 16.05.83 A 2163/B 3020

    Patentabteilung _{G 81 2}4 930.6

    zwischen dem ersten Teilerspiegel (11) und dem Binokulargehäuse (5) mindestens ein Strahlenteiler (24 bzw. 25), der zusätzlich in den Abbildungsstrahlengang einklappbar bzw. einschiebbar ist, sowie Mittel zum Ankoppeln von separaten Bau- und Funktionseinheiten, wie Projektionsaufsatz (22), Kameraansätze (23) U= dgl, _s an bzw. auf dem Mikroskop-Grundkörper (G) angeordnet sind.
11. 11. Inversmikroskop nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel zum Ankoppeln von auf- bzw. ansetzbaren Bau- und Funktionseinheiten auf bzw. am Stativarm (A) oder am Stativträger (T) angeordnet sind und daß diese Bau- und Funktionseinheiten über einen bewegbaren Teilerspiegel

    (25) als Strahlenteiler, welcher zwischen dem vierten Umlenkelement (16 bzw. 16a) und dem (den) in der optischen Achse (4) des Mikroskops positionierten Umlenkelement (en) (18 bzw. 18a bzw. 21) in das Abbildungsstrahlenbündel einbringbar ist_? optisch mit dem mikroskopischen Strahlengang verbunden werden (Fig. 4).
12. 12. Inversmikroskop nach einem der Ansprüche 10 und 11, dadurch gekennzeichnet , daß die Abzweigung eines Teils des AbbildungsStrahlenbündels mittels eines Strahlenteilers (24) erfolgt, welcher an derjenigen Stelle im Schnittpunkt des vertikalen Stativkörpers (T) und des horizontalen Stativarms (A) austauschbar positioniert ist, an der an-

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    • » · bzw. 16a) ange- Patentabteilung ordnet ist - 7 - vierte Umlenkelement (Fig. 3) • Pat Bl/Wi - 16.05„83
    A 2163/B 3020
    G 81 24 930.6 (16
13. 13. Inversmikroskop nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Stativträger (T) mit dem Stativarm (A) einstückig ausgebildet ist„
14. 14. Inversmikroskop nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der den Stativfuß (F), den Stativträger (T) und den Stativarm (A) umfassende Mikroskop-Grundkörper (G) einstückig ausgebildet ist.
15. 15. Inversmikroskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichne tj daß Mittel zum Verändern des Relativabstandes

    C 15 zwischen dem Objekttisch (26) und dem Objektiv (1) vorhanden sind.
16. 16. Inversmikroskop nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnetj daß in dem Stativarm (A) eine einsetzbare Durchlichtbeleuchtungs-Einheit und in dem Stativfuß (F) eine einsetzbare AufIichtbeleuchtungs-Einheit vorhanden sind.
17. 17. Inversmikroskop nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet« daß am oberen sowie am unteren

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    - 8 - Pat Bl/Wi - 16.05.83

    A 2163/B 3020 Potentabteilung _{G 81 2}4 930.6

    Teil des Stativträgers (T), vorzugsweise an dem vom Betrachter (B) wegweisenden Stativträger-Rücken, elektrische und/oder mechanische Mittel (31 bzw. 32) für das Ansetzen je einer Beleuchtungs-Einheit (27 bzw. 28) vorhanden sind (Fig. 2).
18. 18. Inversmikroskop nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Stativarm (A) um eine Achse (29) schwenkbar gelagert ist, die mit der Achse des den Stativträger (T) durchsetzenden Teils des Abbildungsstrahlenbündels zusammenfällt (_ig. 5a, 5b).
19. 19. Inversmikroskop nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß die Schnittstelle (30) zwischen dem ortsfest verbleibenden Unterteil des Mikroskop-Grundkörpers (G) und dessen schwenkbarem Oberteil innerhalb desjenigen Bereiches des Stativträgers (T) liegt, dessen untere Grenze durch den in Minimaldistanz zum Objektiv (1) eingestellten Objekttisch (26) und dessen obere Grenze durch die Anflanschstelle (31) für die Durchlichtbeleuchtungs-Einheit (27) gegeben ist*
20. 20. Inversmikroskop nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Objekttisch (26) direkt auf dem Stativfuß (F) höhenverstellbar gehaltert ist (Fig. 3).

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    - 9 - Pat Bl/Wi - 16.05.83 A 2163/B 3020

    Patentabteilung G 81 24 930,6
21. 21. Inversmikroskop nach einem der Ansprüche 19 und 20 j dadurch gekennzeichnet, daß sich die Schnittstelle (30) auf der Oberseite des Stativfußes (F) befindet.
22. 22. Inversmikroskop nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekenn-' zeichnet, daß eine Durchlichtbeleuchtungs-Einrichtung (35) vorhanden ist_s die einen Distanzarm

    (33) und einen zweiten Kondensor (34) aufweist und mittels elektrischer und/oder mechanischer Mittel an die Anflanschstelle (31) für die Durchlichtbeleuchtungs-Einheit (27) ansetzbar ist (Fig. 5b).
23. 23. Inversmikroskop nach Anspruch 22_S dadurch gekennzeichnet, daß vorzugsweise an der Durchlichtbeleuchtungs-Einrichtung (35) Mittel (36) zum Verändern der Distanz zwischen dem zweiten Kondensor

    (34) und dem Objekttisch (26) vorhanden sind (Fig. 5b).
24. 24. Inversmikroskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß in dem Stativfuß (F) eine aus diesem herausziehbare Halterung (39) vorhanden ist, die mechanische Mittel (41, 41a, 44, 44a, 45, 46) zum positionsgerechten Aufnehmen und Verschieben von als Bau- und Funktionseinheiten ausgebildeten Fluoreszenzeinheiten (42 bzw. 43) aufweist (Fig. 6b).

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    - 10 - Pat Bl/Wi - 16.05.83 ^{A 2163}/B 3020

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25. 25. Inversmikroskop nach Anspruch 24, dadurch gekennzeichnet, daß die Fluoreszenzeinheiten (42 bzw. 43) zusammen mit einem ein Lichtdämpfungsfilter (55)_s einen Spiegel (56) und eine mit einer zentralen Marke (57) ausgestattete Mattscheibe (54) aufweisenden Justiereinsatz (53) in einer bezüglich der optischen Achse (4) querverschieblich (41b) gelagerten Aufnahme (41) austauschbar gehaltert werden.