DE3249807C2

DE3249807C2 - Transmitted-light and/or reflected-light inverse microscope

Info

Publication number: DE3249807C2
Application number: DE19823249807
Authority: DE
Inventors: Guenter 6301 Biebertal De Reinheimer; Norbert 6226 Solms De Gaul
Original assignee: Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Current assignee: Leica Microsystems Holdings GmbH
Priority date: 1981-08-26
Filing date: 1982-08-17
Publication date: 1987-07-09

Abstract

A transmitted-light and/or reflected-light inverse microscope is described which consists of a "C"-shaped basic microscope body (G) whose free opening (Öf) is directed towards the viewer (B). One design feature is the preferably vertical arrangement of the following microscope parts along the optical microscope axis (4) - from bottom to top -: objective (1) - subject (3) - condenser (2) - centre (19a) of the binocular housing (5) (Fig. 1a). The condenser (2) is omitted in the pure reflected-light inverse variant (Fig. 1c). The multiply-folded image's beam path extends in the interior of the basic body (G). In an alternative solution, the binocular housing (5) is mounted on the end face of the arm (A) of the stand pointing towards the viewer (B) (Fig. 1b). In all embodiments, the viewer (B) in an ergonomically optimum microscoping position has a direct view into the binoculars (5) and - in the normal position - onto the subject (3) and to the adaptable top-mounted or add-on modules. In addition, without changing his position the observer (B) can, directly and unhindered, undertake manipulations on the subject (3) working from the free opening (Öf), and execute all the required operating functions of the novel device in an optimum way. Without exception, auxiliary devices can be adapted on ergonomic grounds on subregions, remote from the viewer, of the base (F) of the stand and/or of the stand support (T) and/or of the stand arm (A). For bulky subjects, the stand arm ... Original abstract incomplete. <IMAGE>

Description

Die Erfindung betrifft ein Durchlicht- und/oder Auf licht-Inversmikroskop gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1 bzw. Anspruchs 2.The invention relates to a transmitted light and / or on light inverted microscope according to the preamble of claim 1 or claim 2.

Mikroskope nach der Bauart von Le Chatelier, sog. "umgekehrte" oder "Invers"-Mikroskope, sind bereits bekannt. So wird in der Leitz-Firmendruckschrift: "Umgekehrtes Auflicht-Mikroskop LEITZ EPIVERT" (Listen-Nr. 111 520 036 b, Juni 1978) bzw. in der DE-OS 26 26 540 ein Invers-Mikroskop für Auflichtuntersuchungen be schrieben und dargestellt, dessen Grundkörper aus einem Stativfuß mit aufgesetztem Objektivrevolver, einem vertikalen, auf dem Sta tivfuß montierten Stativträger, dem ein höhenverstellbarer Objekt tisch zugeordnet ist, einem auf dem Stativträger aufgesetzten Binokulargehäuse sowie einem an die Stirnseite des Stativfußes an setzbaren Lampengehäuse besteht.Le Chatelier-type microscopes, so-called "reversed" or "inverse" microscopes, are already known. So in the Leitz company brochure: "Reverse reflected light microscope LEITZ EPIVERT "(List No. 111 520 036 b, June 1978) or in DE-OS 26 26 540 an inverse microscope for incident light examinations wrote and illustrated, the base body of a tripod base with a nosepiece, a vertical one, on the sta tripod mount, which is a height-adjustable object table is assigned, one placed on the tripod support Binocular housing and one on the front of the tripod base settable lamp housing.

Aus dem DE-GM 76 28 471 ist auch bereits ein Lichtmikroskop inverser Bauart bekannt, das aus einem "U"-förmigen Grundkörper besteht, wobei auf dem einen "U"-Schenkel ein Binoku largehäuse, dessen Ansatzfläche in Höhe des Objekt tisches vorgesehen ist, und an dem anderen "U"-Schen kel eine höhenverstellbare Durchlichtbeleuchtungsein richtung kippbar angebracht ist. Ein Objektivrevolver befindet sich zwischen den "U"-Schenkeln und ist be züglich des ortsfest gehalterten Objekttisches ver stellbar positioniert.DE-GM 76 28 471 is already a light microscope inverse Known design, which consists of a "U" -shaped body consists of a binoku on one "U" leg largehäuse, its attachment area at the level of the object table is provided, and on the other "U" a height-adjustable transmitted light illumination direction is tiltable attached. A nosepiece is located between the "U" legs and is be regarding the stationary object table ver adjustable position.

Aus der Zeiss(Jena)-Firmendruckschrift "TELEVAL" (IV 14-48 Ag 29/166/69 9830) ist weiterhin ein Durch licht-Inversmikroskop bekannt, dessen "L"-förmiger Grundkörper aus einem Stativfuß mit an dessen einer Seite aufgesetztem Objektivrevolver und an dessen an derer Seite aufgesetztem vertikalen Stativträger be steht, wobei auf der Stativträger-Oberseite ein Binoku largehäuse und eine Halterung für eine Beleuchtungsein richtung vorgesehen sind. Der Objekttisch ist höhenver stellbar an dem Stativträger angeordnet.From the Zeiss (Jena) company publication "TELEVAL" (IV 14-48 Ag 29/166/69 9830) is still a through light-inverted microscope known, its "L" shaped Base body from a tripod base with one on it On the side of the nosepiece and on the other on the side of the vertical stand support stands, with a binoku on the top of the tripod lar housing and a holder for a lighting unit direction are provided. The stage is adjustable in height adjustable on the tripod support.

Auch ist aus der Reichert-Firmendruckschrift "BIOVERT" (23, 11 1. BIOVERT K I-II D 4/71) ein Durchlicht-Invers mikroskop bekannt, welches aus einem kompakten, quader förmigen, auf einer Fußplatte ruhenden Grundkörper be steht, auf dessen oberer Abschlußfläche ein Foto-Bino tubus angeordnet ist, dessen Ansatz-Fläche etwa in der Objekttisch-Ebene liegt. Also from the Reichert company publication "BIOVERT" (23, 11 1. BIOVERT K I-II D 4/71) a transmitted light inverse known microscope, which consists of a compact, cuboid shaped, resting on a base plate be stands, on the upper end surface a photo-Bino tube is arranged, the approach surface approximately in the Object level lies.

Schließlich ist aus der Olympus-Firmendruckschrift "OLYMPUS Inverted Tissue Culture Microscope IMT" (M 35 E - 676B) eine Einrichtung bekannt, die hinsicht lich ihrer prinzipiellen Baukonzeption mit den weiter oben bereits erwähnten bekannten Mikroskoptypen im we sentlichen übereinstimmt.Finally, it is from the Olympus company brochure "OLYMPUS Inverted Tissue Culture Microscope IMT" (M 35 E - 676B) a device known that regards in terms of their basic construction concept with the others Known microscope types mentioned above in the we largely agrees.

Den bekannten Inversmikroskopen haften - in Kombina tion oder einzeln - die folgenden Nachteile an:The well-known inverted microscopes adhere - in Kombina tion or individually - the following disadvantages:

1. The observer is in the working position, the free, unobstructed view of the specimen to be examined or to the object plane through the known construction principle from device-geometric arrangements, for example

a) the binocular housing (Olympus, Leitz),

b) the micro-photographic additional devices (Reichert) adapted to the photo socket of the binocular housing or

c) the brackets for transmitted light illumination devices which are mounted on the tripod support (Zeiss-Jena), or

d) the tripod holder itself (Leitz, Zeiss-Jena), denied or at least made difficult.
2. There is no direct handling and manipulation Possibility of examining with or on the object from the observer's direction.
3. Flangeable or tiltable transmitted light lighting equipment or attachable on light lighting devices are such positioned that she either at a relatively short distance from Beo bachter and / or to the microscopic object are ordered, which in particular is a routine moderate long-term microscopy difficult and also to undesirable influences of special biological preparations (cultures etc.) can result from heat development, or to the foot section facing the observer of the entire device are flanged on the side, resulting in a significant free restriction and ergonomic microscopy positions of the observer, especially during the drives as well as to a disability with the Manipu curling on and with the object or during routine moderate execution of the usual microscope operator functions.

Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein uni versell einsetzbares und auf einer neuartigen Geräte konzeption beruhendes Inversmikroskop mit Durchlicht- oder Auflicht- oder kombinierter Durchlicht- und Auf lichtbeleuchtung zu schaffen, welches die Nachteile der bekannten "L"-förmigen Inversmikroskopkörper nicht aufweist und eine besonders bedienungsfreundliche Hand habung ermöglicht und einen Wechsel zwischen direktem Beobachten eines zu untersuchenden Objektes und dem Be trachten durch das Okular wesentlich vereinfacht, wobei das Objekt beliebig dimensioniert sein kann.It is the object of the present invention, a uni universally applicable and on a new device conception based inverted microscope with transmitted light or reflected light or combined transmitted light and open to create lighting which has the disadvantages not the known "L" -shaped inverted microscope body has and a particularly user-friendly hand have enabled and a change between direct Observing an object to be examined and the Be seek through the eyepiece much simplified, the object can be dimensioned as desired.

Diese Aufgabe wird bei kombinierten Durchlicht- und/oder Auf licht-Inversmikroskopen der in den Oberbegriffen der Patentansprü che 1 bzw. 2 genannten Art in Kombination durch die kennzeichnen den Merkmale des Patentanspruchs 1 bzw. - alternativ - durch die kennzeichnenden Merkmale des Patentanspruchs 2 gelöst. Weitere Ausgestaltungen ergeben sich aus den Unteransprüchen 3 bis 8.This task is with combined transmitted light and / or open Inverted light microscopes in the preambles of the claims che 1 or 2 mentioned type in combination by the mark the features of claim 1 or - alternatively - by the characterizing features of claim 2 solved. Further Refinements result from subclaims 3 to 8.

In den Zeichnungen werden Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung schematisch dargestellt. Es zeigtIn the drawings, embodiments of the present Invention shown schematically. It shows

Fig. 1a eine stark schematisierte Seitenansicht des "C"-förmigen Grundkörpers mit verschwenkbarem Stativarm eines kombi nierten Durchlicht- und/oder Auflicht-Inversmikroskops mit aufgesetztem, in der vertikalen optischen Achse positionierten Binokulargehäuse; Figure 1a is a highly schematic side view of the "C" -shaped base body with a pivotable stand arm of a combined transmitted light and / or incident light inverted microscope with an attached, positioned in the vertical optical axis binocular housing;

Fig. 1b eine stark schematisierte Seitenansicht des "C"-förmigen Grundkörpers eines kombinierten Durchlicht- und/oder Auflicht-Inversmikroskops mit angesetztem, außerhalb der vertikalen optischen Achse positionierten Binokularge häuse, wobei der untere Teil des Grundkörpers ortsfest verbleibt; Fig. 1b is a highly schematic side view of the "C" -shaped base body of a combined transmitted light and / or incident light inverted microscope with attached, positioned outside the vertical optical axis binocular housing, the lower part of the base body remains stationary;

Fig. 1c eine stark schematisierte Seitenansicht des "C"-förmigen Grundkörpers eines Auflicht- Inversmikroskops mit angesetztem, in der vertikalen optischen Achse positionierten Binokulargehäuse und ortsfestem Stativfuß; Figure 1c is a highly schematic side view of the "C" shaped base body of a reflected light inverted microscope with attached, positioned in the vertical optical axis binocular housing and a stationary stand base.

Fig. 2 den prinzipiellen konstruktiven und opti schen Aufbau des erfindungsgemäßen kombi nierten Durchlicht- und Auflicht-Inversmikro skops; Fig. 2 shows the basic constructive and optical rule's structure of the combinated transmitted light and incident light inverted microscope according to the invention;

Fig. 3 ein Durchlicht- und/oder Auflicht-Inversmi kroskop mit verschwenkbarem Stativarm in seiner normalen Arbeitsposition; Figure 3 is a transmitted light and / or incident light Inversmi microscope with pivotable tripod arm in its normal working position.

Fig. 4 ein Durchlicht- und/oder Auflicht-Inversmi kroskop mit um 180° verschwenktem Stativarm und angesetzter Durchlichtbeleuchtungsein richtung. Fig. 4 is a transmitted light and / or reflected light Inversmi microscope with pivoted by 180 ° stand arm and attached transmitted light illuminating direction.

In Fig. 1a ist ein aus einem Stativfuß F, einem Stativ träger T und einem Stativarm A bestehender Mikroskop- Grundkörper dargestellt, der in der Seitenansicht die Form eines abgewinkelten "C" aufweist. Die freie Öffnung Öf des Grundkörpers G ist dem Betrachter B zugewandt. Ein Objekttisch 26 ist in an sich bekannter Weise ent weder am Stativträger T oder auf dem Stativfuß F (siehe Fig. 1c) höhenverschieblich gehaltert. Unter Einbezie hung des Objekttisches 26 stellt das stark schematisier te Mikroskopgehäuse in Seitenansicht gewissermaßen ein "E" dar. In Fig. 1a is a tripod base F , a tripod support T and a tripod arm A existing microscope body is shown, which has the shape of an angled "C" in the side view. The free opening Öf of the base body G faces the viewer B. An object table 26 is mounted in a manner known per se ent on the tripod support T or on the tripod base F (see FIG. 1c) so as to be displaceable in height. With the inclusion of the stage 26 , the highly schematic microscope housing represents a "E" in a side view.

Obwohl in den Fig. 1a-1c der Mikroskop-Grundkörper G rechte Winkel zwischen dem Stativträger T und dem Sta tivfuß F bzw. dem Stativarm A aufweist, können auch abgerundete oder schwach bogenförmige oder von 90° ab weichende Winkelbeträge zwischen den einzelnen Elemen ten T, F, A des Grundkörpers G vorgesehen sein. Auch ist es nicht unbedingt erforderlich, daß der Stativ träger T und der Stativfuß F in zueinander parallelen Ebenen liegen. Aus ergonomischen und vor allem aus konstruktiven (Stabilitäts-)Gründen wird jedoch der Grundkörper G vorzugsweise aus einem horizontalen Sta tivfuß F, einem vertikalen Stativträger T und einem horizontal auskragenden Stativarm A bestehen. Dabei setzt sich der Grundkörper G aus zwei bzw. drei Modu len zusammen. So sind beispielsweise die Gruppierungen A und T + F (Fig. 1a) , A + T und F (Fig. 1c) sowie A + T ₁ und T ₂ + F (Fig. 1b) dargestellt, wo bei T ₁ den oberen und T ₂ den unteren Teil des Stativ trägers T bezeichnen.Although in FIGS. 1a-1c of the microscope base body G right angle between the stand support T and the Sta tivfuß F and the stand arm A which also have rounded or slightly arcuate or from softening angular amounts ten of 90 ° between the individual elemene can T , F, A of the base body G may be provided. It is also not absolutely necessary that the tripod carrier T and the tripod base F lie in mutually parallel planes. For ergonomic and especially for structural (stability) reasons, however, the base body G will preferably consist of a horizontal stand base F , a vertical stand support T and a horizontally projecting stand arm A. The base body G is composed of two or three modules. For example, the groupings A and T + F ( Fig. 1a), A + T and F ( Fig. 1c) and A + T ₁ and T ₂ + F ( Fig. 1b) are shown, where at T ₁ the upper and T ₂ denote the lower part of the tripod support T.

Es ist auch möglich, den Stativträger T entweder auf der Oberseite des Stativfußes F (Fig. 1c) oder partiell in und partiell auf dem Stativfuß F (Fig. 2) anzuord nen. Analoges gilt für den Ansatzbereich zwischen dem Stativträger T und dem Stativarm A.It is also possible to arrange the tripod support T either on the top of the tripod base F ( FIG. 1c) or partially in and partially on the tripod base F ( FIG. 2). The same applies to the attachment area between the stand support T and the stand arm A.

Die aus den Fig. 1a und 1c ersichtliche, grundsätzlich neue Idee bezüglich der Bauteil-Anordnung liegt jedoch darin, daß in der vorzugsweise vertikal verlaufenden optischen Achse 4 des Mikroskops, die durch das Objek tiv 1 und das zentrisch positionierte mikroskopische Objekt 3 definiert wird, auch der Kondensor 2 (Fig. 1a: Durchlicht-Inversvariante bzw. kombinierte Durchlicht/ Auflicht-Inversvariante) liegen. Unter "optisch wirksa mem Zentrum" 19 a wird hierbei der Punkt verstanden, an welchem das in das Binokulargehäuse 5 gelangende Ab bildungsstrahlenbündel erstmalig reflektiert wird, um nach - eventuelle erforderlich werdender - nochmaliger Totalreflexion in das (die) eigentliche(n) Okularrohr (Binokularrohre) zu gelangen. Bei einer bevorzugten Ausführungsform der Durchlicht- bzw. der kombinierten Durchlicht-Auflichtvariante (Fig. 1a) ist zusätzlich zu der Reihenfolge (von unten nach oben): Objektiv 1 - Objekt 3 - Kondensor 2 noch das Binokulargehäuse 5, und zwar mit seinem optisch wirksamen Zentrum 19 a bzw. dem Zentrum seiner Aufsatzfläche 6, oberhalb des Kondensors 2 entlang der optischen Achse 4 des Mikroskops angeord net.The apparent from FIGS. 1a and 1c, fundamentally new idea with respect to the component arrangement, however, is that in the preferably vertically extending optical axis 4 is defined by the OBJEK tiv 1 and the centrally positioned microscopic object 3 of the microscope, also the condenser 2 ( Fig. 1a: transmitted light inverse variant or combined transmitted light / incident light inverse variant). "Optically effective center" 19 a is understood here to mean the point at which the image beam entering the binocular housing 5 is reflected for the first time in order, after any additional reflection that may become necessary, into the actual eyepiece tube (binocular tubes) ) to get. In a preferred embodiment of the transmitted light or the combined transmitted light / reflected light variant ( FIG. 1a), in addition to the sequence (from bottom to top): lens 1 - object 3 - condenser 2 , the binocular housing 5 , with its optically effective one Center 19 a or the center of its attachment surface 6 , angeord net above the condenser 2 along the optical axis 4 of the microscope.

Fig. 1b zeigt eine prinzipiell mögliche Variante, wobei die Ansatzfläche 7 vom hier nicht dargestellten Abbil dungsstrahlenbündel zentrisch durchsetzt wird. Alle drei Varianten (Fig. 1a-1c) sind so konzipiert, daß das Binokulargehäuse 5 oberhalb der Ebene des Objekt tisches 26 angeordnet ist und daß der Beobachter B in ergonomisch optimaler Sitzposition vor dem in Normal stellung sich befindlichen Mikroskop wechselweise das mikroskopische Bild im Binokular 5 oder aber das Ob jekt 3 auf dem Objekttisch 26 beobachten kann, ohne seine einmal eingenommene Mikroskopierhaltung in für ihn nachteiliger Weise zu verändern. Von besonderer Wichtigkeit ist darüber hinaus, daß auch apparative und manuelle Präparat manipulationen, wie Umrühren, Hinzugabe (Entnahme) von Substanzen zum (vom) Präparat, Selektieren von Substanzgemischen, Kennzeichnen von Objektdetails, Direktbeobachten von Küvettendurchflüssen, Schnellwechseln von Präparaten bei Routineuntersuchungen, Direkt beobachten von Steigerungsvorgängen und Auskristallisationen in wäßrigen Lösungen, Schnell-Positionieren von großvolumigen Prä paratbehältnissen auf dem Objekttisch 3 usw. von der freien Öffnungsseite Öf aus vom Beobachter B selbst ohne Aufgabe bzw. Veränderung seiner ergonomischen Sitzposition vorgenommen werden können. Für den Fall, daß die zu mikroskopierenden Objekte - hier wird es sich meistens um die Behältnisse für Präparate handeln - derart dimensioniert sind, daß sie aus konstruktiv-apparativen Gründen selbst auf dem Objekttisch der vorgeschlagenen Mikroskop- Neukonzeptionen in Normalstellung (Fig. 1a-1c, 2, 3) keinen aus reichenden Platz vorfinden, kann beispielsweise durch Verschwenken des über den Objekttisch herauskragenden Stativarms A um eine Schwenkachse 29 (vgl. Fig. 1a bzw. Fig. 4) gleichsam das gerätebe dingte "Hindernis" reproduzierbar beseitigt werden, ohne dadurch den Großteil aller anderen erfindungsgemäßen Vorteile aufzugeben. Fig. 1b shows a possible variant in principle, the attachment surface 7 is penetrated centrally by the image beam bundle, not shown here. All three variants ( Fig. 1a-1c) are designed so that the binocular housing 5 is arranged above the plane of the object table 26 and that the observer B alternately the microscopic image in the binocular in an ergonomically optimal sitting position in front of the microscope in normal position 5 or the object 3 on the object table 26 can observe without changing his microscope posture once taken in a disadvantageous manner for him. It is also of particular importance that equipment and manual preparations also manipulate, such as stirring, adding (removing) substances to (from) the preparation, selecting mixtures of substances, labeling object details, direct observation of cuvette flows, rapid change of preparations during routine examinations, direct observation of increases and crystallizations in aqueous solutions, rapid positioning of large-volume specimen containers on the object table 3 , etc. can be carried out by the observer B himself from the free opening side Öf without a task or change in his ergonomic sitting position. In the event that the objects to be microscoped - this will mostly be the container for specimens - are dimensioned in such a way that they are even in the normal position on the object table of the proposed microscope concepts ( Fig. 1a-1c , 2, 3) does not find from reaching place, for example, by pivoting the herauskragenden on the object table stand arm a about a pivot axis 29 (see. Fig. 1a and Fig. 4), as it can be reproducibly eliminates the gerätebe-related "obstacle", without thereby giving up the majority of all other advantages according to the invention.

Während in Fig. 1a die Schnittstelle 30 , also die Fläche, in der die an sich bekannten Mittel zum führungsgenauen Verschwenken des Stativarms A vorgesehen sind, gewissermaßen die Trennungs- bzw. die Schwenk-Ebene zwischen dem Stativarm A und dem Stativträger T mar kiert, liegt die Schnittstelle 30 in Fig. 1b etwa in der Mitte des Stativträgers T. Der Stativarm A bildet mit dem oberen Teil des Stativträgers T im dargestell ten Falle eine abgewinkelte Einheit (Grundkörper-Ober teil); ebenso bildet der Stativfuß F mit dem unteren Teil des Stativträgers T eine abgewinkelte Einheit (Grundkörper-Unterteil). In Fig. 1c ist die Schnitt stelle 30 gewissermaßen als Trennungs- bzw. Schwenk- Ebene zwischen dem Stativträger T und dem Stativfuß F ausgebildet. In den Figuren ist die Schwenkachse 29 eingezeichnet. Sie fällt, wie aus Fig. 2 ersichtlich, mit der Achse des den Stativträger T durchsetzenden Teils des Abbildungsstrahlenbündels zusammen.While in FIG. 1a the interface 30 , that is to say the surface in which the known means for pivoting the stand arm A in a guiding manner are provided, to a certain extent the separation or pivoting plane between the stand arm A and the stand carrier T mar, is the interface 30 in Fig. 1b approximately in the center of the stand support T. The stand arm A forms an angled unit with the upper part of the stand support T in the case shown (base body upper part); tripod base F also forms an angled unit with the lower part of tripod support T (base body lower part). In Fig. 1c, the interface 30 is designed to a certain extent as a separation or swivel plane between the stand support T and the stand base F. The pivot axis 29 is shown in the figures. As can be seen from FIG. 2, it coincides with the axis of the part of the imaging beam that passes through the stand carrier T.

In Fig. 2 sind die Beleuchtungsstrahlengänge für die Durchlicht- und die Auflichtvariante sowie der Abbil dungsstrahlengang schematisch dargestellt. Dabei wur den lediglich die wichtigsten strahlenquerschnittsver ändernden und strahlenumlenkenden Bauteile eingezeich net. Es ist natürlich auch möglich, anstelle der ge zeigten Bauteile gleichwirkende Elemente vorzusehen. In Fig. 2 ist am vom Betrachter B wegweisenden oberen Teil des Stativträgers T bzw. am rückwärtigen Teil des Stativarms A eine Durchlichtbeleuchtungseinheit 27 über eine beobachterferne Anflanschstelle 31 mechanisch und/oder elektrisch mit dem Grundkörper G verbunden. Das von einer nicht mit dargestellten Lichtquelle aus gehende Beleuchtungsstrahlenbündel 8 trifft auf ein als Vollspiegel ausgebildetes erstes Umlenkelement 9, das sich in 45°-Stellung in der vertikalen optischen Achse 4 des Mikroskops befindet, und von dort nach Durchtritt durch einen an der Unterseite des Stativarms A angebrachten Kondensor 2 auf das auf dem Objekttisch 26 liegende Objekt 3. Das vom Objekt 3 ausgehende Ab bildungsstrahlenbündel passiert nach Verlassen des Ob jektivs 1 einen ersten Teilerspiegel 11, der für die Umlenkung des Auflichtbeleuchtungsstrahlenganges 10 vor gesehen ist, und wird danach durch ein zweites Umlenk element 12, das als Glasprisma oder als Vollspiegel ausgebildet sein kann, in Richtung des mit der Bezugs ziffer 38 ausgewiesenen Teilabschnitts im Stativfuß F geführt, wo es nach erneuter Richtungsänderung durch ein drittes Umlenkelement 14, das anstelle des gezeig ten Glasprismas auch ein Vollspiegel oder ein Penta prisma sein kann, den Stativträger T durcheilt. Von dort erfolgt mittels eines vierten Umlenkelementes 16, das auch ein Teilerspiegel oder ein Vollspiegel sein kann, eine erneute Knickung des Abbildungsstrahlen ganges in Richtung eines in der optischen Achse 4 ange ordneten fünften Umlenkelements 18. Es ist hervorzuheben, daß es erforderlich ist, an einer und nur an einer der Abbildungsstrahlengang-Knickstellen, an denen die Bau elemente 12, 14, 16 bzw. 18 angeordnet sind, ein Penta prisma oder eine gleichwirkende Spiegelkombination vor zusehen. In Fig. 2, the illuminating beam paths for the transmitted light and the reflected light variant as well as the Abbil extension beam path are shown schematically. Only the most important components that change and deflect the radiation cross section have been drawn in. It is of course also possible to provide equivalent elements instead of the components shown. In FIG. 2, a transmitted light illumination unit 27 is mechanically and / or electrically connected to the base body G at the upper part of the stand support T pointing away from the viewer B or at the rear part of the stand arm A via an attachment point 31 remote from the observer. The illuminating beam 8 , which does not emanate from a light source, strikes a first deflecting element 9 , which is designed as a full mirror and is located in the 45 ° position in the vertical optical axis 4 of the microscope, and from there after passing through one on the underside of the stand arm A attached condenser 2 to the object 3 lying on the object table 26 . From the object 3 starting from beam of education passes after leaving the lens 1 a first divider mirror 11 , which is seen for the deflection of the incident light beam path 10 , and is then element 12 by a second deflection, which can be designed as a glass prism or as a full mirror, in the direction of the section designated with the reference number 38 in the tripod base F , where after a renewed change of direction by a third deflecting element 14 , which can be a full mirror or a penta prism instead of the shown glass prism, the tripod support T. From there, by means of a fourth deflection element 16 , which can also be a splitter mirror or a full mirror, the imaging beams are again bent in the direction of a fifth deflection element 18 arranged in the optical axis 4 . It should be emphasized that it is necessary to see a Penta prism or an equivalent mirror combination at one and only at one of the imaging beam path kinks, where the construction elements 12, 14, 16 and 18 are arranged.

Nach 90°-Umlenkung des Abbildungsstrahlenbündels in Richtung der - im dargestellten Fall vertikalen - opti schen Achse 4 tritt es zentrisch durch die Aufsatzflä che 6 des Binokulargehäuses 5 und gelangt nach Totalre flexion an der größeren Kathetenfläche ("Zentrum" 19 a) und erneuter Reflexion an der Hypothenusenfläche des Umlenkprismas 19 in den eigentlichen Binokulartubus. Anstelle der Totalreflexion an der größeren Katheten fläche des Umlenkprismas 19 tritt eine Strahlaufspal tung, sofern der Binokulartubus 5 mit einem Fotostutzen versehen ist und eine mikrofotografische oder fotome trische Auswertung des mikroskopischen Bildes beabsich tigt ist.After 90 ° deflection of the imaging beam in the direction of - in the case shown vertical - optical axis 4's , it passes centrally through the surface 6 of the binocular housing 5 and reaches total reflection on the larger catheter surface ("center" 19 a) and renewed reflection on the hypotenuse surface of the deflecting prism 19 into the actual binocular tube. Instead of the total reflection on the larger catheter surface of the deflecting prism 19 occurs a beam splitting device, provided the binocular tube 5 is provided with a photo nozzle and a microphotographic or photometric analysis of the microscopic image is intended.

Bei den in den Fig. 1b und 1c dargestellten Invers- Varianten tritt das das Umlenkelement 16 verlassende Abbildungsstrahlenbündel an der beobachterseitigen Stirnseite des Stativarms A zentrisch durch die Ansatz fläche 7 des Binokulargehäuses 5 und wird von dort über nicht mit dargestellte Umlenkelemente in die Binokular rohre weitergeleitet.In the inverse variants shown in FIGS . 1b and 1c, the imaging beam leaving the deflecting element 16 enters the observer-side end face of the stand arm A centrally through the attachment surface 7 of the binocular housing 5 and is passed on from there via deflecting elements (not shown) into the binocular tubes .

Das Auflichtbeleuchtungsstrahlenbündel geht von einer nicht dargestellten Lichtquelle aus, die sich in der Beleuchtungseinheit 28 befindet, welche über eine beo bachterferne Anflanschstelle 32 mechanisch und elek trisch mit dem Mikroskop-Grundkörper G verbunden ist. Beide Beleuchtungseinheiten 27 und 28 können austausch bar adaptiert sein und intern bzw. extern mit Energie versorgt werden, wie es beispielsweise in der DE-OS 29 02 961 beschrieben ist. Das Auflichtbeleuchtungs- Teilstrahlenbündel 10 wird über ein in der optischen Achse 4 angeordneten ersten Teilerspiegel 11 in das Objektiv 1 und von dort aus auf das Objekt 3 weiterge leitet.The incident light illuminating beam starts from a light source, not shown, which is located in the lighting unit 28 , which is mechanically and electrically connected to the microscope base body G via a flare point 32 remote from the observer. Both lighting units 27 and 28 can be adapted interchangeably and supplied with energy internally or externally, as described, for example, in DE-OS 29 02 961. The incident light partial beam 10 is via a arranged in the optical axis 4 first divider mirror 11 in the lens 1 and from there on to the object 3 passes.

Im Auflichtbeleuchtungs-Teilstrahlenbündel 10 sind in an sich bekannter Weise Blenden (z. B. eine Leuchtfeld blende 58), Optikern (z. B. eine Optik 59) und Filter einsätze (nicht dargestellt) vorgesehen. Auch kann zwi schen dem ersten Teilerspiegel 11 und dem zweiten Um lenkelement 12 beispielsweise eine Einschubmöglichkeit für einen Analysator oder ein Bauelement zur Realisie rung des Interferenzkontrastes vorgesehen sein. Ebenso ist es möglich bzw. erforderlich, im Durchlichtbeleuch tungs-Teilstrahlenbündel 8 entsprechende Filterein schübe 8 a (siehe Fig. 2) sowie Blenden und Optiken (nicht dargestellt) und im gesamten geknickten Abbil dungsstrahlengang zwischen den Bauelementen 12 und 18 Optiken 13, 15 und 17 in geeigneter Weise vorzusehen.In the incident-light partial beam 10 , apertures (e.g. a light field aperture 58 ), opticians (e.g. optics 59 ) and filter inserts (not shown) are provided in a manner known per se. Also, between the first divider mirror 11 and the second order to deflecting element 12, for example, an insertion option for an analyzer or a component for realizing the interference contrast can be provided. Likewise, it is possible or necessary in the transmitted light partial beam 8 corresponding filter inserts 8 a (see FIG. 2) as well as diaphragms and optics (not shown) and in the entire bent image beam path between the components 12 and 18 optics 13, 15 and 17 to provide in a suitable manner.

Wie aus Fig. 3 ersichtlich, kann mit der erfindungsge mäßen Neukonzeption der Inversmikroskope ein hoher Ob jekt-Raum für großvolumige Präparatbehältnisse genutzt werden, ohne daß die weiter oben bereits genannten fundamentalen Vorteile aufgegeben werden müßten.As can be seen from FIG. 3, with the inventive conception of the inverted microscope, a high object space can be used for large-volume specimen containers without the fundamental advantages already mentioned above having to be given up.

Um jedoch auch extrem dimensionierte Präparatbehälter, wie Penizillin-Flaschen 3 a, Erlenmeyerkolben 3 b u. a., auf dem Objekttisch 26 aufstellen bzw. auflegen zu können, ist - wie aus den Fig. 3 und 4 ersichtlich - die erfindungsgemäße Einrichtung so getroffen, daß zu mindest eine Schwenkung des Stativarms A um eine Achse 29, die mit der Achse des den Stativträger T durch setzenden Teils des Abbildungsstrahlenbündels zusammen fällt, vorgesehen ist. Die Schwenkebene befindet sich im dargestellten Fall an der Schnittstelle 30 zwischen Stativarm A und dem Stativträger T. Es ist indes auch möglich, daß die Schnittstelle zwischen dem ortsfest verbleibenden Unterteil des Mikroskop-Grundkörpers G und dessen schwenkbarem Oberteil innerhalb desjenigen Be reichs des Stativträgers T liegt, dessen untere Grenze durch den in Minimaldistanz zum Objektiv 1 eingestell ten Objekttisch 26 und dessen obere Grenze durch die Anflanschstelle 31 für die Durchlichtbeleuchtungs-Ein heit 27 gegeben ist.However, in order to be able to set up or place extremely large specimen containers such as penicillin bottles 3 a , Erlenmeyer flasks 3 b and others on the object table 26 , the device according to the invention is - as can be seen from FIGS. 3 and 4 - such that at least one pivoting of the stand arm A about an axis 29 which coincides with the axis of the part of the imaging beam bundle which sets the stand holder T is provided. In the case shown, the swivel plane is located at the interface 30 between stand arm A and stand holder T. It is also possible, however, that the interface between the stationary lower part of the microscope base G and its pivotable upper part is within that loading area of the tripod support T , the lower limit of which is set at a minimum distance to the objective 1 and the upper limit of the object table 26 by the flange 31 for the transmitted light unit 27 is given.

Während in Fig. 3 die Grundstellung gezeigt wird, die sich prinzipiell nicht von der in Fig. 2 gezeigten An ordnung unterscheidet, wird in Fig. 4 eine 180°-Ver schwenkung des Stativarms A dargestellt. An die An flanschstelle 31 ist ein Distanzarm 33 angesetzt, der einen der Durchlichtbeleuchtungs-Einheit 27 analogen mechanischen und elektrischen Ankoppelmechanismus auf weist. An den Distanzarm 33 kann nach Art einer opti schen Bank eine höhenverstellbare spezielle Durchlicht beleuchtungseinrichtung 35 angesetzt werden, die eine Lichtquelle 37, ein Umlenkelement und eine Arretier schraube 36 umfaßt, und der ein zweiter Kondensor 34 nachgeordnet ist. Auch im in Fig. 4 dargestellten Fall (Durchlicht-Beleuchtungsvariante) ist die Reihenfolge (von unten nach oben): Objektiv 1 - Objekt 3 b - Konden sor 34 beibehalten worden. Wenn man lediglich die Auf licht-Inversvariante apparativ realisieren will, so ge nügt bereits ein geringes Verschwenken des drehbaren Oberteils, da dann der Kondensor 34 entfällt und ge wissermaßen durch das als Kondensor wirkende Objektiv 1 ersetzt wird. Bei nur geringem Verschwenken des Ober teils kann dann vorteilhafterweise die Direktbeobach tung des Objektes 3 a bzw. 3 b vollständig beibehalten sowie alle gängigen Präparathantierungen und Objekt manipulationen vom Beobachter direkt vorgenommen wer den.While the basic position is shown in FIG. 3, which in principle does not differ from the arrangement shown in FIG. 2, a 180 ° pivoting of the stand arm A is shown in FIG . At the flange point 31 a spacer arm 33 is attached, which has one of the transmitted light illumination unit 27 analog mechanical and electrical coupling mechanism. At the spacer arm 33 , a height-adjustable special transmitted light illumination device 35 can be attached in the manner of an optical bench, which comprises a light source 37 , a deflecting element and a locking screw 36 , and which is followed by a second condenser 34 . Also in the case shown in FIG. 4 (transmitted light illumination variant) the order (from bottom to top): lens 1 - object 3 b - condenser 34 has been retained. If you only want to implement the light-inverse variant in terms of equipment, then a slight swiveling of the rotatable upper part is sufficient, since then the condenser 34 is omitted and is to a certain extent replaced by the lens 1 acting as a condenser. With only a slight swiveling of the upper part, the direct observation of the object 3 a or 3 b can then advantageously be completely retained and all common specimen manipulations and object manipulations can be carried out directly by the observer.

Claims

1. transmitted light and / or incident light inverted microscope, comprising

a) a tripod base with an attached or inserted lens revolver,
b) a tripod support with means for attaching optical units,
c) an object table slidably arranged on the stand base or the stand holder,

characterized in that

d) an additional tripod arm (A) with an attachment surface ( 6 ) arranged on its upper side for a binocular housing ( 5 ) and an attached condenser system on the underside is provided,
e) the stand support (T) together with the stand base (F) and the stand arm (A) forms a "C" -shaped microscope base body (G) ,
f) the free opening (Öf) of the microscope base body (G ) is directed towards the viewer (B) ,
g) through the capacitor ( 2, 2 a) and the lens ( 1 ) fixed optical axis ( 4 ) of the microscope passes through the center surface ( 6 ) and
h) the stand arm (A) is mounted so as to be pivotable about an axis ( 29 ) which coincides with the axis of the part of the imaging beam which sets the stand holder (T) .

2. transmitted light and / or incident light inverted microscope, comprising

a) a tripod base with an attached or inserted lens turret,
b) a tripod support with means for attaching optical units,
c) an object table slidably arranged on the stand base or the stand holder,

characterized in that

d) a tripod arm (A) is additionally provided for a binocular housing ( 5 ) with an attachment surface ( 7 ) arranged on its end face facing the viewer,
e) the stand support (T) together with the stand base (F) and the stand arm (A) forms a "C" -shaped microscope base body (G) ,
f) the free opening (Öf) of the microscope base body (G ) is directed towards the viewer (B) ,
g) the attachment surface ( 7 ) from which the stand arm (A) is penetrated centrally by running partial image beams and
h) the stand arm (A) is mounted so as to be pivotable about an axis ( 29 ) which coincides with the axis of the part of the imaging beam which sets the stand holder (T) .

3. Inverse microscope according to claim 2, characterized in that it has only one incident light arrangement and the throat of the stand arm (A) is less than that of the stand base (F) such that an optical element ( 19 ) for deflecting the in the stand arm (A ) extending imaging beam at the intersection of the beam with the through the lens ( 1 ) optical axis ( 4 ) is arranged.

4. Invesmikoskop according to at least one of claims 1 to 3, characterized in that the sta tivträger (T) with the tripod arm (A) is integrally formed and that the interface ( 30 ) is on the top of the stand base (F) .

5. Inverted microscope according to at least one of the preceding claims, characterized in that the object table ( 26 ) is supported so that it can be adjusted directly on the stand base (F) .

6. Invesmikoskop according to claim 1 or 2, characterized in that the interface ( 30 ) between the stationary lower part of the microscope base body (G) and its pivotable upper part is within that area of the stand holder (T) , the lower limit by the un a minimum object stage ( 26 ) and its upper limit by the flange point ( 31 ) for the transmitted light illumination unit ( 27 ) is given at a minimum distance from the lens ( 1 ).

7. Inverse microscope according to at least one of the preceding claims, characterized in that at a flange ( 31 ) on the stand arm (A) for a first transmitted light illumination unit ( 27 ), a spacer arm ( 33 ) parallel to the axis of rotation ( 29 ) can be attached to which a two te, having a condenser transmitted light illuminating device ( 35 ) can be attached.

8. inverse microscope according to claim 7, characterized in that the transmitted light illumination device ( 35 ) for changing the distance between the condenser ( 34 ) and object table ( 26 ) is arranged on the spacer arm ( 33 ).