DE3744156A1

DE3744156A1 - Inverse microscope for transmitted illumination (transillumination)

Info

Publication number: DE3744156A1
Application number: DE19873744156
Authority: DE
Inventors: Klaus Dr Schindl; Peter Dipl Ing Puxkandl
Original assignee: C Reichert Optische Werke AG; Reichert Jung Optische Werke AG
Current assignee: C Reichert Optische Werke AG; Reichert Jung Optische Werke AG
Priority date: 1987-12-24
Filing date: 1987-12-24
Publication date: 1989-07-13

Abstract

Inverse microscope for transmitted illumination, having a C-shaped basic microscope body which contains a stand base, a stand carrier and a stand arm and whose free opening points in the direction of the viewer, and whose stand base carries a lens turret, and whose stand arm has a bearing surface for a binocular housing with an eyepiece extending obliquely upwards, as well as a downwardly pointing outlet for the illuminating beam. The imaging beam path and observing beam path run in the basic microscope body. Introduced permanently into the imaging beam path (BV') in the region of the stand carrier (4) is a reflecting surface (31) which is obliquely positioned with respect to the optical axis thereof and which generates an observing beam path (BO) which runs obliquely upwards into the stand arm and enters the binocular tube (27) without further deflection. The observing beam path (BO) is penetrated in the stand arm (5) by the beam path (DV), arriving vertically from above, for the transmitted illumination. <IMAGE>

Description

Die Erfindung betrifft ein Inversmikroskop für Durchlichtbeleuchtung mit einem C-förmigen, einen Stativfuß, einen Stativträger und einen Stativarm enthaltenden Mikroskopgrundkörper, dessen freie Öffnung in Richtung des Betrachters weist, dessen Stativfuß einen Objektivrevolver trägt und dessen Sta tivarm eine Ansatzfläche für ein Binokulargehäuse mit schräg nach oben verlaufendem Einblick aufweist sowie einen nach unten weisenden Austritt für ein Durch licht-Beleuchtungsstrahlenbündel, wobei der Abbil dungs- bzw. Beobachtungsstrahlengang im Mikroskop grundkörper verläuft.The invention relates to an inverted microscope for Transmitted light illumination with a C-shaped, one Stand base, a stand holder and a stand arm containing microscope body, its free Opening points towards the viewer whose Tripod base carries a nosepiece and its sta tivarm with an attachment surface for a binocular housing has diagonally upward view as well a downward exit for a through light-illuminating beam, the Figil end or observation beam path in the microscope basic body runs.

Ein derartiges Inversmikroskop ist aus der DE-PS 32 30 504 bekannt. Wenn bei diesem bekannten Mikro skop ein aufrechtes seitenrichtiges Bild des Objekts - von oben auf den Objekttisch gesehen - entstehen soll, wird der Strahlengang zwischen Objektiv und Okular, in dem unter anderem ein Pentaprisma einge schaltet ist, einer neunfachen Reflexion unterzogen. Da jede Reflexion unvermeidlich mit einem gewissen Helligkeitsverlust versehen ist, muß eine Einbuße an Bildhelligkeit hingenommen werden. Ein weiterer Nach teil der vorbeschriebenen Anordnung beruht darin, daß bedingt durch die horizontale Strahlenführung im Stativfuß und im Stativarm sowie durch die Anordnung des Durchlicht-Beleuchtungsstrahlenganges unter dem Abbildungsstrahlengang bei vorgegebenem Arbeitsab stand zwischen dem Okular und der Auflageebene des Stativfußes auf einem Arbeitstisch der im Objektraum zur Verfügung stehende Raum, insbesondere in seiner Höhe, begrenzt ist, was die Manipulation des Objektes erschwert und wenig Platz für die Einbringung eines Mikromanipulators, eine Kulturflasche, Klimakammern 5 o.ä. ermöglicht. Dies wird durch den Umstand noch weiter erschwert, daß der Kondensor an der Unterseite des Tragarms angebracht ist.Such an inverted microscope is known from DE-PS 32 30 504. If with this known microscope an upright correct image of the object - seen from above on the stage - is to be created, the beam path between the objective and the eyepiece, in which, among other things, a pentaprism is switched on, is subjected to a ninefold reflection. Since every reflection is inevitably associated with a certain loss of brightness, a loss of image brightness must be accepted. Another after part of the above arrangement is that due to the horizontal beam guidance in the stand base and in the stand arm and by the arrangement of the transmitted light illumination beam path under the imaging beam path at a given working distance was between the eyepiece and the support plane of the stand base on a work table in the object space The available space, especially its height, is limited, which makes manipulation of the object difficult and little space for the insertion of a micromanipulator, a culture bottle, climatic chambers 5 or the like. enables. This is made more difficult by the fact that the condenser is attached to the underside of the support arm.

Der vorliegenden Erfin dung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Invers mikroskop der eingangs beschriebenen Art dahingehend 10 zu verbessern, daß mehr Platz im Objektraum für Manipulationen zur Verfügung steht, und daß gleich zeitig die Bildhelligkeit erhöht wird, was insbeson dere bei einer Fluoreszenzmikroskopie von großer Bedeutung ist.The present inven tion is therefore the object of an inverted microscope of the type described 10 to improve that more space is available in the object space for manipulation, and that at the same time the image brightness is increased, which is particularly large in a fluorescence microscopy Meaning is.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch den Gegen stand des Hauptanspruchs gelöst. Die Anbringung der schräggestellten spiegelnden Fläche in dem Abbil dungsstrahlengang im Bereich des Stativträgers, wel che einen schräg nach oben in den Stativarm verlau fenden Beobachtungsstrahlengang erzeugt, der ohne weitere Umlenkung in den Binokulartubus eintritt, und der Verlauf des Beleuchtungsstrahlenbündels für die Durchlichtbeleuchtung bewirken zum einen, daß bei vorgegebener Einblickhöhe des Okulars der Objektraum größer ausgebildet werden kann, d.h., daß die Höhe zwischen der Unterseite des Stativarms und dem Ob jekttisch größer wird. Zum anderen ermöglicht es diese Anordnung, die Gesamtzahl der Reflexionen vom Objektiv zum Okular auf 5 zu verringern, was eine größere Helligkeit und eine verbesserte Bildqualität bewirkt. Ein weiterer Vorteil dieser Maßnahme ist darin zu sehen, daß aufgrund der geringeren Anzahl von reflektierenden Flächen eine einfachere und ge nauere Justierung des Abbildungsstrahlenganges mög lich ist, und daß eine Streulichtbeeinflussung des Beobachtungsstrahlenganges durch die Objektbehandlung minimal ist.This object is achieved by the counter the main claim was solved. The attachment of the inclined reflecting surface in the illustration beam path in the area of the stand holder, wel leave an angle upwards in the tripod arm generated observation beam path, the without further deflection enters the binocular tube, and the course of the illuminating beam for the Transmitted light illumination cause on the one hand that specified viewing height of the eyepiece of the object space can be made larger, i.e. the height between the bottom of the tripod arm and the Ob ject table gets bigger. On the other hand, it enables this arrangement, the total number of reflections from Lens to reduce the eyepiece to 5, which is a greater brightness and improved image quality causes. Another advantage of this measure is to be seen in the fact that due to the lower number of reflective surfaces a simpler and ge closer adjustment of the imaging beam path possible Lich, and that a stray light influence the Observation beam path through object treatment is minimal.

Aus der US-PS 34 37 395 ist zwar ein Inversmikroskop für Auflichtbeleuchtung bekannt, bei welchem der Abbildungsstrahlengang im Bereich des Stativträgers durch eine gegenüber dessen optischer Achse schrägge stellte spiegelnde Fläche enthält, welche einen schräg nach oben in den Stativarm verlaufenden Beob achtungsstrahlengang erzeugt, der, soweit ersicht lich, ohne weitere Umlenkung in den Binokulartubus eintritt. Bei dem beschriebenen System, das lediglich für eine Auflichtbetrachtung ausgelegt ist, sind jedoch die Strahlengänge, die vom Objektiv in den Stativfuß und in diesem zum Stativträger, sowie der Strahlengang im Stativträger und derjenige im Stativ arm insgesamt derart abgewinkelt, daß der zur Verfü gung stehende Objektraum noch kleiner ist als bei der eingangs beschriebenen bekannten Anordnung. Aufgrund des reinen Auflichtbetriebes - das Mikroskop ist zur Beobachtung von Metalloberflächen vorgesehen - ist das Objekt als solches ohnehin nicht von dessen Ober seite her manipulierbar. Ein weiterer Unterschied besteht darin, daß der den Beobachtungsstrahlengang in den Stativarm umlenkende Spiegel bei der bekannten Anordnung als Schwenkspiegel ausgebildet ist. Der artige Schwenkspiegel sind jedoch nur äußerst aufwen dig mit der erwünschten Genauigkeit herzustellen und es besteht immer eine gewisse Gefahr, daß durch Er schütterungen oder eintretenden Schmutz sich die Justierlage und damit auch die Abbildungsqualität ändert.From US-PS 34 37 395, an inverted microscope for incident light illumination is known, in which the imaging beam path in the area of the stand holder contains a reflecting surface which is inclined relative to its optical axis and which generates an observation beam path which runs obliquely upwards into the stand arm , as far as evident, enters the binocular tube without further deflection. In the system described, which is designed only for incident light viewing, however, the beam paths that are angled from the lens in the stand base and in this to the stand holder, as well as the beam path in the stand holder and the arm in the stand so that the available Object space is even smaller than in the known arrangement described above. Due to the pure incident light operation - the microscope is intended for the observation of metal surfaces - the object as such cannot be manipulated from its top side anyway. Another difference is that in the known arrangement the mirror deflecting the observation beam path into the stand arm is designed as a swivel mirror. The like swivel mirror, however, are only extremely expensive to manufacture with the desired accuracy and there is always a certain risk that the adjustment position and thus the image quality will change due to vibrations or incoming dirt.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung durchsetzt der Strahlengang für die Durchlichtbe leuchtung den Stativarm, und zwar vorzugsweise in horizontaler Richtung und wird in diesem nach unten umgelenkt.According to a preferred embodiment of the invention penetrates the beam path for the transmitted light lighting the tripod arm, preferably in horizontal direction and will go down in this redirected.

Mit Vorteil verläuft dabei der Beobachtungsstrahlen gang im Stativarm vollständig unter dem Strahlengang für die Durchlichtbeleuchtung vor dessen Umlenkung sowie der Vorrichtung, welche diesen in Richtung auf den Austritt umlenkt.The observation beams run with advantage in the tripod arm completely under the beam path for transmitted light illumination before it is redirected and the device, which this towards redirects the exit.

Als zweckmäßig hat es sich erwiesen, die Ansatzfläche für den Binokulartubus senkrecht zur optischen Achse des Abbildungsstrahlengangs im Stativ auszurichten, so daß sich besonders günstige Reflexionswinkel für die Prismen eines Spiegels ergeben, welche eine Auf spaltung des Beobachtungsstrahlengangs zu den beiden Okularen bewirkt. It has proven to be expedient for the attachment surface for the binocular tube perpendicular to the optical axis align the imaging beam path in the tripod, so that there are particularly favorable reflection angles for the prisms of a mirror result in an up splitting the observation beam path to the two Eyepieces.

Gemäß einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung dient als spiegelnde Fläche eine Strahlen teilerfläche, welche den Abbildungsstrahlengang in den zum Binokulartubus führenden Beobachtungsstrah lengang und einen zu einer Kamera führenden Aufzeich nungsstrahlengang aufspaltet. Aufgrund der geringen Anzahl von reflektierenden Flächen im gesamten Abbil dungsstrahlengang vom Objekt bis zum Okular ist der hierdurch bedingte Helligkeitsabfall vertretbar, so daß das zu fotografierende oder auf sonstige Weise aufzuzeichnende Bild des zu untersuchenden Objekts auch während des Aufnahmevorgangs visuell beobachtbar ist. Für die Justierung ist es dabei besonders gün stig, wenn gemäß einer Weiterbildung der Erfindung der Abbildungsstrahlengang und der Aufzeichnungs strahlengang den Stativträger längs einer gemeinsamen optischen Achse vertikal durchsetzen.According to a further preferred embodiment of the Invention serves as a reflecting surface of a ray partial area, which the imaging beam path in the observation beam leading to the binocular tube lengang and a recording leading to a camera beam path. Because of the low Number of reflective surfaces in the entire image is the beam path from the object to the eyepiece resulting decrease in brightness acceptable, so that the photographed or otherwise image to be recorded of the object to be examined also visually observable during the recording process is. It is particularly good for the adjustment stig if according to a development of the invention the imaging beam path and the recording the tripod support along a common path Push through the optical axis vertically.

Als besonders zweckmäßig hat es sich erwiesen, wenn die spiegelnde Fläche in einem Winkel von etwa 30° gegenüber dem auf sie auftreffenden Abbildungsstrah lengang geneigt ist. Bei dieser Ausgestaltung dient als spiegelnde Fläche bevorzugt eine teilverspiegelte Diagonalfläche eines gerad-zylindrischen Prismas des sen Basis ein gleichseitiges Sechseck bildet, wobei die genannte Diagonalfläche die Zylinderachse enthält und zwei einander gegenüberliegende Prismenkanten verbindet und wobei das Prisma mit seiner Zylinder achse senkrecht zur optischen Achse des Abbildungs strahlenbündels und der Längsrichtung des Stativarms im Stativträger derart angeordnet ist, daß das Abbil dungsstrahlenbündel senkrecht an eine Seitenfläche des Prismas auftrifft. Diese Anordnung erlaubt eine exakte und einfache Justierung, schützt die Spiegel fläche gegen eine Verschmutzung und reduziert die Lichtverluste an den Eintritts- und Austrittsflächen in das Prisma auf ein Minimum. Als besonders vorteil haft hat es sich erwiesen, eine Einspiegelung des Aufnahmeformats der zur Bildaufzeichnung jeweils verwendeten Kamera in den Beobachtungsstrahlengang durchzuführen, wobei die Aufnahme in der Regel entwe der über Kleinbild, d.h. 35 mm, oder über ein Format von 4 × 5 Zoll (10,16 × 12,70 cm) erfolgt. Die Ein spiegelung zeigt der Bedienungsperson, welcher Bild ausschnitt von der jeweils verwendeten Kamera aufge nommen wird. Zweckmäßigerweise ist die Formateinspie gelung so angeordnet, daß die optische Achse für den Strahlengang derselben mit der optischen Achse des Beobachtungsstrahlengangs fluchtet und das Prisma geradlinig durchsetzt, wobei auch hier die Eintritts und Austrittsflächen senkrecht zu diesem Strahlengang stehen.It has proven particularly useful if the reflecting surface at an angle of about 30 ° compared to the image beam striking them lengang is inclined. In this configuration serves a partially mirrored surface is preferred as the reflective surface Diagonal surface of a straight cylindrical prism forms an equilateral hexagon base, whereby said diagonal surface contains the cylinder axis and two opposite prism edges connects and being the prism with its cylinder axis perpendicular to the optical axis of the image beam and the longitudinal direction of the tripod arm is arranged in the tripod carrier such that the fig beam perpendicular to a side surface of the prism. This arrangement allows one precise and easy adjustment, protects the mirrors against dirt and reduces the Loss of light at the entrance and exit surfaces into the prism to a minimum. As a special advantage it has proven to be a reflection of the Recording format of each for image recording used camera in the observation beam path perform, the recording usually either the over 35mm, i.e. 35 mm, or over a format 4 x 5 inches (10.16 x 12.70 cm). The one Mirroring shows the operator which image Section of the camera used is taken. The format is expedient Gelung arranged so that the optical axis for the Beam path of the same with the optical axis of the The observation beam path is aligned and the prism straight through, with the entrance and exit surfaces perpendicular to this beam path stand.

Der vom Objekt kommende Abbildungsstrahlengang ist vorzugsweise im Stativfuß nach seinem Eintritt in den Stativträger jeweils um 90° umgelenkt, was die Justierung ebenfalls vereinfacht und preiswerte Bau elemente verwenden läßt.The imaging beam path coming from the object is preferably in the tripod base after entering the Tripod carrier deflected by 90 °, which the Adjustment also simplified and inexpensive construction lets use elements.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung enthält das Inversmikroskop einen starr mit dem Sta tivfuß verbundenen Objekttisch, wobei der Objektiv revolver an diesem vertikal verschiebbar gehaltert ist. Durch diese Ausgestaltung wird der Mikroskop grundkörper besonders stabil, eine Beschickung des Objekttischs mit neuen Proben, insbesondere bei Rou tinemessungen, wie beispielsweise im Halbleiterbe reich, ist besonders einfach möglich. Auch bezüglich eines Ansatzes einer Handhabung von Manipulatoren ergeben sich hierdurch Vorteile, da die Ebene, in welcher das Objekt liegt, jeweils unverändert bleibt. Die Maßnahme trägt des weiteren zu einer erhöhten Abbildungsqualität bei, da die Belastung des Objekt tisches keine Biegemomente auf den Stativträger aus übt, welche zu Verschiebungen und damit Bildver schlechterungen des Strahlengangs führen könnten.According to a further embodiment of the invention the inverted microscope contains one rigid with the sta tivfuß connected object stage, the lens revolver held vertically movable on this is. This configuration makes the microscope body particularly stable, a loading of the Object tables with new samples, especially from Rou ink measurements, such as in semiconductor applications rich, is particularly easy. Also regarding an approach to manipulator manipulation This results in advantages because the level in which the object is located remains unchanged. The measure also contributes to an increased Image quality because the load on the object no bending moments on the tripod support exercises what to shift and thus image ver could lead to deterioration of the beam path.

Die Anbringung eines in den Strahlengang und aus diesem bringbaren Kondensors unter dem Stativarm hat den Vorteil, daß bei einer groben Übersichtsjustie rung, beispielsweise mit einem Objektiv kleiner Ver größerung, der Kondensor entfernt werden kann und daß er bei einer Beleuchtung mit hoher Vergrößerung in den Beleuchtungsstrahlengang einbringbar ist. Auch zum Zwecke von Manipulationen kann der Kondensor leicht aus dem über dem Objekt liegenden Raum ent fernt werden. Gemäß einer besonders bevorzugten Aus gestaltung der Erfindung ist der Kondensorhalter an der Unterseite des Stativarms benachbart zu dessen rückwärtigem Ende schwenkbar gehaltert, wo er am wenigsten stört. In alternativer Ausgestaltung ist der Kondensorhalter unter dem Stativarm an dem Sta tivträger lösbar befestigt, z.B. durch eine Steckver bindung.Attaching one in the beam path and out this condenser that can be brought under the stand arm the advantage that with a rough overview adjustment tion, for example with a lens of small size magnification, the condenser can be removed and that he at high magnification lighting in the illumination beam path can be introduced. Also the condenser can be used for manipulation purposes easily from the room above the object be removed. According to a particularly preferred Aus design of the invention is the condenser holder the underside of the tripod arm adjacent to it rear end pivotally supported, where it at least disturbs. In an alternative embodiment the condenser holder under the tripod arm on the sta active carrier releasably attached, e.g. through a plug-in binding.

Das erfindungsgemäße Mikroskop kann selbstverständ lich auch mit Auflicht betrieben werden, wozu eine zusätzliche Auflichtbeleuchtung vorzugsweise im unte ren Bereich des Stativfußes und/oder Stativträgers in an sich bekannter Weise vorgesehen ist. Als zweck mäßig erweist es sich dabei, insbesondere wenn die Auflichtbeleuchtung die Beleuchtung für eine Fluores zenzmikroskopie sein soll, wenn die optische Achse des Auflichtbeleuchtungsstrahlenbündels im Stativfuß über dem Abbildungsstrahlenbündel verläuft, mit Vorzug parallel zu diesem, da hierdurch das Umlenk prisma für den Betrachtungsstrahlengang von dem zur Beleuchtung versehenen Licht nicht durchlaufen werden muß, während umgekehrt der Spiegel, welcher das für die Fluoreszenzbeleuchtung verwendete Licht über das Mikroskopobjektiv dem Objekt zuführt, so ausgebildet sein kann, daß er das für die visuelle Betrachtung verwendete sichtbare Licht nicht stört.The microscope according to the invention can of course Lich also be operated with incident light, which is why additional reflected light, preferably in the bottom area of the stand base and / or stand holder in is provided in a known manner. As purpose It proves to be moderate, especially if the Incident lighting is the lighting for a fluorescence zenzmikoskopie is said to be when the optical axis of the incident light illuminating beam in the stand base runs over the imaging beam, with Advantage parallel to this, as this causes the deflection prism for the viewing beam path from to Illuminated light cannot be passed through must, conversely, the mirror, which the for the fluorescent lighting used light over the Microscope objective feeds the object, so designed may be that it is for visual viewing visible light used does not interfere.

Die beiliegenden Zeichnungen zeigen zwei bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung im Vertikal längsschnitt.The accompanying drawings show two preferred ones Embodiments of the invention in the vertical longitudinal section.

Das in Fig. 1 dargestellte Inversmikroskop enthält einen C-förmigen Mikroskopgrundkörper 1, der aus einem mit Füßen 2 versehenen Stativfuß 3, einen an diesen anschließenden, im wesentlichen vertikal ver laufenden Stativträger 4 und einen von diesem über den Stativfuß 3 vorstehenden, im wesentlichen hori zontal verlaufenden Stativarm 5 besteht. An der Rück seite des Stativträgers 4 ist ein Lampengehäuse 6 angebracht, das einen Teil desselben bildet. Auf der ebenen Oberseite des Stativarms 5 ist ein Kamera ansatz 7 angebracht, an den im dargestellten Beispiel eine Kamera 8 angeschlossen ist.The inverted microscope shown in Fig. 1 contains a C-shaped microscope base body 1 , which consists of a stand base 3 provided with feet 2 , an adjoining this, essentially vertically running stand support 4 and one projecting from this above the stand base 3 , essentially hori tripod arm 5 running zontally. On the rear side of the tripod support 4 , a lamp housing 6 is attached, which forms part of the same. On the flat top of the stand arm 5 , a camera approach 7 is attached, to which a camera 8 is connected in the example shown.

Auf dem Stativfuß 3 ist mittels mehrerer nach oben stehender Arme oder Säulen 9 ein Objekttisch 10 starr gehaltert, der eine Öffnung 11 enthält, über welcher eine zu untersuchende Probe 12 anbringbar ist. An einem der Arme 9 oder an dem Stativfuß 3 ist eine Vertikalführung 13 befestigt, welche, wie durch den Pfeil h angedeutet, einen Objektivrevolver 14 höhen verstellbar haltert. Der Objektivrevolver 14 trägt eine Reihe von Objektiven 15, von denen in der Zeichnung jedoch lediglich eines dargestellt ist. Mittels eines Handrads 16, das einen Grob- und einen Feintrieb enthalten kann, der in der Zeichnung nicht näher dargestellt ist, erfolgt eine Vertikalverschie bung des Objektivrevolvers 14.An object table 10 , which contains an opening 11 , via which a sample 12 to be examined can be attached, is rigidly held on the stand base 3 by means of a plurality of arms or columns 9 standing upwards. A vertical guide 13 is attached to one of the arms 9 or to the stand base 3 and, as indicated by the arrow h , holds a nosepiece 14 so that it can be adjusted in height. The nosepiece 14 carries a number of objectives 15 , of which only one is shown in the drawing. By means of a handwheel 16 , which can contain a coarse and a fine drive, which is not shown in the drawing, there is a vertical displacement of the nosepiece 14 .

Der Stativfuß 3 enthält des weiteren eine pauschal mit dem Bezugszeichen 17 dargestellte Optik für eine Auflichtbeleuchtung des Objekts 12 mittels einer am unteren Ende des Lampengehäuses 6 angebrachten Flu oreszenzlampe 18. Der von der Fluoreszenzlampe 18 zum Objekt 12 verlaufende Strahlengang enthält einen ersten horizontal in dem Stativfuß 3 verlaufenden Bereich AH und einen zweiten vertikal verlaufenden Bereich AV, wobei ein für das von der Fluoreszenzlam pe 18 ausgesandte Licht undurchlässiger Spiegel 19 das Auflichtbeleuchtungsstrahlenbündel um einen Win kel von 90° ablenkt.The stand base 3 also contains an optics for the incident light illumination of the object 12, which is shown with the reference numeral 17 , by means of a fluorescent lamp 18 attached to the lower end of the lamp housing 6 . The beam path extending from the fluorescent lamp 18 to the object 12 contains a first region AH which extends horizontally in the stand base 3 and a second region AV which extends vertically, an impermeable mirror 19 for the light emitted by the fluorescent lamp 18 reflecting the incident-light beam of rays by one angle Deflects 90 °.

Am oberen Ende des Lampengehäuses 6 ist eine Lampe 20 für die Durchlichtbeleuchtung angebracht. Der von der Lampe 20 ausgehende Beleuchtungsstrahlengang besteht aus einem horizontalen, den Stativarm 5 durchsetzen den und mit DH bezeichneten Bereich sowie einem am äußeren Ende des Stativarms 5 mittels eines im Winkel von 45° zu diesem Strahlengang stehenden Spiegels 21 nach unten abgelenkten vertikalen Bereich DV, der an der Unterseite des Stativarms aus diesem austritt. Zur Beleuchtungsoptik gehören daneben eine Reihe von Blenden und Linsenelementen, welche durch die Be zugszeichen 22, 22′ und 22′′ dargestellt sind und eine herkömmliche Übersichtsbeleuchtung bilden. Am rückwärtigen unteren Ende des Stativarms 5 ist, um eine Achse 23 drehbar gelagert, ein Kondensorträger 24 angeordnet, der an seinem vorderen Ende einen Kondensor 25 für die Durchlichtbeleuchtung trägt. Durch ein Drehen des Kondensorträgers um die Achse 23 kann der Kondensor 25 aus dem zum Objekt 12 verlau fenden Beleuchtungsstrahlengang DV heraus und in diesen hineingeschwenkt werden. Bei einer alternati ven Ausgestaltung wird der Kondensorhalter 24, wie durch das Bezugszeichen 37 strichliert angedeutet, in eine Halterungsbohrung des Stativträgers lösbar ein gesteckt.At the upper end of the lamp housing 6 , a lamp 20 is attached for the transmitted light illumination. The illuminating beam path emanating from the lamp 20 consists of a horizontal area which passes through the stand arm 5 and is denoted by DH and a vertical area DV which is deflected downwards at the outer end of the stand arm 5 by means of a mirror 21 which is at an angle of 45 ° to this beam path. that emerges from the bottom of the tripod arm. The lighting optics also include a series of diaphragms and lens elements, which are represented by the reference numerals 22 , 22 'and 22 ''and form a conventional overview lighting. At the rear lower end of the stand arm 5 , a condenser carrier 24 is arranged, rotatably mounted about an axis 23 , and carries a condenser 25 for the transmitted light illumination at its front end. By rotating the condenser carrier around the axis 23 , the condenser 25 can be pivoted out of the illuminating beam path DV , which extends to the object 12, and can be pivoted into the latter. In an alternative embodiment, the condenser holder 24 , as indicated by the broken line 37 , is releasably inserted into a mounting hole in the stand holder.

Der Stativarm enthält schließlich eine zum Betrachter hinweisende ebene Fläche 26, welche gegenüber der vertikalen einen Winkel von 30° aufweist. Die Fläche 26 dient als Ansatzfläche eines an sich bekannten Binokulartubus 27 für eine beidäugige Betrachtung des Objektes 12. Der vom Objektiv 15 zu dem Binokularge häuse 27 führende Strahlengang verläuft im Stativ grundkörper 1 und enthält einen ersten mit der Objek tivachse 15 fluchtenden vertikalen Bereich BV, einen hieran anschließenden im Stativfuß 3 verlaufenden horizontalen Bereich sowie einen im Stativträger verlaufenden vertikalen Bereich BV′, wobei mittels Spiegel oder Prismen 28, 29 jeweils eine 90°-Ablen kung des Abbildungsstrahlenganges bewirkt wird.Finally, the stand arm contains a flat surface 26 pointing towards the viewer, which has an angle of 30 ° with respect to the vertical. The surface 26 serves as an attachment surface of a binocular tube 27 known per se for viewing the object 12 with both eyes . Of the lens 15 to the Binokularge housing 27 leading beam path extends in the stand base body 1 and includes a first with the OBJEK tivachse 15 aligned vertical portion BV, an adjoining in the stand 3 extending horizontal portion, and a passage extending in the stand support vertical portion BV 'wherein 90 ° deflection of the imaging beam path is effected by means of mirrors or prisms 28 , 29 .

Am oberen Ende des Stativträgers 4 ist ein gerad zylindrisches Prisma angebracht, dessen Basis von einem gleichseitigen Sechseck gebildet ist und wobei das Prisma mit seiner Zylinderachse senkrecht zur optischen Achse BV′ des Abbildungsstrahlenbündels und der Längsrichtung des Stativarms 5 ausgerichtet ist, so daß das Abbildungsstrahlenbündel BV′ senkrecht zu einer Seitenfläche des Prismas auf dieses auftrifft. Das Prisma enthält eine Diagonalfläche 31, welche die Zylinderachse enthält, zwei einander gegenüberliegen de Seitenkanten des Prismas 30 verbindet und mit der optischen Achse des Abbildungsstrahlenbündels BV′ einen Winkel von 30° einschließt. Die Diagonalfläche 31 ist teildurchlässig verspiegelt, so daß der Abbil dungsstrahlengang BV′ um einen Winkel von 120° nach oben in Richtung auf das freie Ende des Stativarms 5 abgelenkt wird und als Beobachtungsstrahlengang BO die Fläche 26 senkrecht durchsetzt und in den Binoku lartubus 27 eintritt, wo das Strahlenbündel in zwei Teilstrahlenbündel aufgespaltet wird, die zu den einzelnen Okularen führen, von denen das eine in der Zeichnung dargestellt ist. Der Beobachtungsstrahlen gang BO verläuft im Stativarm 5 unter dem Beleuch tungsstrahlengang DH der Durchlichtbeleuchtung ein schließlich des Spiegels 21 und des Blenden- und Linsenelements 22. Der vorstehend beschriebene Ab bildungs- und Beobachtungsstrahlengang mit den Teil bereichen BV, BH, BV′ und BO enthält ferner eine Reihe von als Transportoptik bezeichneten Linsenele menten, welche mit dem Bezugszeichen 31 versehen sind.At the upper end of the tripod support 4 , a straight cylindrical prism is attached, the base of which is formed by an equilateral hexagon and the prism is aligned with its cylinder axis perpendicular to the optical axis BV 'of the imaging beam and the longitudinal direction of the tripod arm 5 , so that the imaging beam BV ' Perpendicular to a side surface of the prism strikes this. The prism contains a diagonal surface 31 , which contains the cylinder axis, two opposite de side edges of the prism 30 connects and with the optical axis of the imaging beam BV ' includes an angle of 30 °. The diagonal surface 31 is partially transparent, so that the image beam path BV ' is deflected by an angle of 120 ° upwards in the direction of the free end of the stand arm 5 and the observation beam path BO penetrates the surface 26 vertically and enters the binocular tube 27 , where the beam is split into two partial beams leading to the individual eyepieces, one of which is shown in the drawing. The observation beam path BO runs in the stand arm 5 under the lighting beam path DH of the transmitted light illumination, finally including the mirror 21 and the diaphragm and lens element 22 . The above-described imaging and observation beam path with the sub-areas BV, BH, BV ' and BO also contains a number of lens elements called transport optics, which are provided with the reference symbol 31 .

Derjenige Teil des Abbildungsstrahlenbündels BV′, der von dem Spiegel 31 nicht abgelenkt wird, tritt als Aufzeichnungsstrahlengang R aus dem Prisma 30 unabge lenkt aus und in den Kameraansatz 7 sowie nach einer dortigen Umlenkung mittels eines Prismas 33 um 90° in die Kamera 8.That part of the imaging beam BV ' , which is not deflected by the mirror 31 , emerges as a recording beam path R from the prism 30 undeflected and into the camera projection 7 and after deflection there by means of a prism 33 through 90 ° into the camera 8 .

In dem Lampengehäuse 6 ist eine zusätzliche Beleuch tungseinrichtung 34 angebracht, welche über einen Strahlengang F, der das Prisma 30 geradlinig und fluchtend mit dem Beobachtungsstrahlengang BO durch setzt, eine dem Bildformat der Kamera 8 entsprechende Blende 35 in das Okular einspiegelt.In the lamp housing 6, an additional BL LEVEL is processing device mounted 34 which, a einspiegelt via a beam path F, the rectilinear and aligned sets the prism 30 with the observation beam path BO by the image format of the camera 8 corresponding aperture 35 in the eyepiece.

Mit dem Bezugszeichen 36 ist schließlich ein in den Strahlengang BV′ einbringbarer Spiegel bezeichnet, der zu einem nicht dargestellten TV-System führt, mit Hilfe dessen eine Autofokussierung des Objektivs 15 auf das Objekt 12 erfolgt.Finally, reference numeral 36 designates a mirror which can be introduced into the beam path BV ' and leads to a TV system (not shown), with the aid of which the objective 15 is autofocused on the object 12 .

Das in Fig. 2 gezeigte Mikroskop entspricht im we sentlichen der in Fig. 1 dargestellten Ausführungs form, mit Ausnahme der Durchlichtbeleuchtung, die in diesem Falle von einer Lampe 120 und einer Beleuch tungsoptik 122 gebildet ist, die fluchtend mit der optischen Achse O-O des in der Arbeitsstellung be findlichen Objektivs 15 über dem Stativarm 5 in einem Lampengehäuse 37 angebracht sind, so daß die bei der Ausführungsform der Fig. 1 notwendige Strahlumlenkung durch den Spiegel 21 entfällt.The microscope shown in FIG. 2 corresponds essentially to the embodiment shown in FIG. 1, with the exception of the transmitted light illumination, which in this case is formed by a lamp 120 and a lighting optics 122 , which are aligned with the optical axis OO of the in the working position be sensitive lens 15 are mounted above the stand arm 5 in a lamp housing 37 , so that the beam deflection required by the mirror 21 in the embodiment of FIG. 1 is omitted.

Claims

1. Inverted microscope for transmitted light illumination with a C-shaped, a tripod base, a tripod support and a tripod arm containing microscope base body, the free opening points towards the viewer, the tripod base carries a lens revolver and the tripod arm an attachment surface for a binocular housing with oblique has an upward view and a downward exit for a transmitted light illuminating beam, the imaging or observation beam path running in the base of the microscope, characterized in that in the imaging beam path ( BV ') in the region of the stand support ( 4 ) one is more optical than the latter Axially inclined reflecting surface ( 31 ) is firmly introduced, which generates an inclined upward into the stand arm ( 5 ) observation beam path (BO) which enters the binocular tube ( 27 ) without further deflection and that the beam path (DV) for the Transmitted light illumination the obliquely na ch vertical observation beam path (BO) in the optical axis of the lens ( 15 ) in the working position is penetrated vertically from above.

2. Inverse microscope according to claim 1, characterized in that the beam path for transmitted light illumination (DH ) preferably passes through the stand arm ( 5 ) horizontally and is deflected downwards in this.

3. inverted microscope according to claim 2, characterized in that the observation beam path (BO) in the stand arm ( 5 ) completely under the beam path ( DH) for the transmitted light illumination before its deflection and the device ( 21 ), which sen in the direction of the exit ( 22 ′) deflects, runs.

4. Inverse microscope according to one of the preceding claims, characterized in that the approach surface ( 26 ) for the binocular tube ( 27 ) is aligned perpendicular to the optical axis of the imaging beam path ( BV ') in the stand arm ( 5 ).

5. Inverse microscope according to one of the preceding claims, characterized in that a reflecting surface ( 31 ) serves a beam splitter surface, which is the imaging beam path (BV ') into the observation beam path ( BO) leading to the binocular tube and a recording beam path leading to a camera ( R ) splits.

6. Inverse microscope according to claim 5, characterized in that the imaging beam path (BV ') and the recording beam path ( R ) the tripod support ( 4 ) along a common optical axis verti cal enforce.

7. Inverse microscope according to any one of the preceding claims, characterized in that the reflecting surface ( 31 ) is inclined at an angle of approximately 30 ° with respect to the beam incident on it (BV ') .

8. Inverse microscope according to claim 7, characterized in that the reflecting surface ( 31 ) is a partially mirrored diagonal surface of a straight-cylindrical prism ( 30 ), the base of which forms an equilateral hexagon, the diagonal surface ( 31 ) containing the cylinder longitudinal axis and two opposing prism edges binds, and the prism with its cylinder axis perpendicular to the optical axis of the image beam bundle (BV ') and the longitudinal direction of the tripod arm ( 5 ) in the tripod support ( 4 ) is arranged such that the imaging beam (BV') strikes perpendicular to a side surface of the prism ( 30 ).

9. Inverse microscope according to one of the preceding claims, characterized by a reflection ( 34 , 35 ) of the recording format of the camera ( 8 ) used in each case for image recording in the observation beam path (BO) .

10. Inverse microscope according to claim 8 and 9, characterized in that the optical axis for the beam path ( F ) of the format reflection is aligned with the optical axis of the observation beam path (BO) and the prism ( 30 ) passes straight through.

11. Inverse microscope according to one of the preceding claims, characterized in that the imaging beam path from the lens ( 15 ) coming in the stand base and after its entry into the stand support ( 4 ) is deflected by 90 ° in each case.

12. Inverse microscope according to one of the preceding claims, characterized in that a rigid with the stand base ( 3 ) connected object table ( 10 ) and a vertically displaceably held objective turret ( 14 ) are provided.

13. Inverse microscope according to one of the preceding claims, characterized in that under the stand arm ( 5 ) a condenser carrier ( 24 ) is held, which can be brought into and out of the illumination beam path (DV) and holds a condenser ( 25 ).

14. Inverse microscope according to claim 13, characterized in that the condenser holder ( 24 ) on the underside of the stand arm ( 5 ) adjacent to the rear end of the sen is pivotally mounted.

15. Inverse microscope according to claim 13, characterized in that the condenser holder ( 24 ) under the tripod arm ( 5 ) on the tripod support ( 4 ) is releasably attached (37).

16. Inverse microscope according to one of the preceding claims with an additional incident light device ( 17 , 18 , 19 ), characterized in that the optical axis of the incident light illuminating beam (AH) in the stand base ( 3 ) extends above the imaging beam (BH) .