DE69931575T2

DE69931575T2 - Testanordnung für elektronische Speicherkarten

Info

Publication number: DE69931575T2
Application number: DE69931575T
Authority: DE
Inventors: Yves Reignoux; Yann Limelette
Original assignee: Axalto SA
Current assignee: Axalto SA
Priority date: 1998-10-28
Filing date: 1999-10-28
Publication date: 2007-05-10
Anticipated expiration: 2019-10-29
Also published as: EP0997740A1; FR2785393B1; ATE328287T1; EP0997740B1; DE69931575D1; CN1144150C; FR2785393A1; CN1252583A

Description

Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist ein Testgerät für elektronische Speicherkarten des Typs, der einen Kartenkörper umfasst, in dem ein elektronisches Modul befestigt ist, das einen Halbleiterchip mit integrierten Schaltkreisen und externen elektrischen Kontaktbereichen umfasst.
Der Kartenkörper besteht aus einer Platte aus Material wie z. B. PVC oder ABS, die etwa 0,8 mm dick ist und deren Abmessungen in der Größenordnung 50 mm × 80 mm liegen.
Damit die Karteninhaber diese Karten problemlos nutzen können, ist es erforderlich, dass die Karte bei normaler Handhabung nicht verformt wird, was ihre Nutzung unmöglich machen oder das Funktionieren der Karte beeinträchtigen würde. Derartige Beeinträchtigungen können in einem anormalen Durchbiegen des Kartenkörpers bestehen, wodurch die Karte nicht mehr in ein Lesegerät eingeführt werden kann oder in Problemen mit dem elektronischen Modul und können entweder darin bestehen, dass das elektronische Modul sich vom Kartenkörper löst, oder in einer Beeinträchtigung des elektronischen Moduls, was entweder zur Unterbrechung gewisser elektrischer Verbindungen oder zu einer teilweisen Zerstörung des Halbleiterchips führt.
Um sicher zu stellen, dass die hergestellten Karten für eine normale Nutzung geeignet sind, sieht die ISO Norm eine Reihe von Tests vor, insbesondere Biegungs- und Torsionstests des Kartenkörpers. Einerseits sind diese Tests aufgrund der Verbesserungen in der Herstellungstechnik dieser Karten recht wenig effizient, andererseits sind diese Tests nicht immer repräsentativ für die tatsächlichen Nutzungsbedingungen der Karten und insbesondere für die Umstände, unter denen sie genutzt werden können.
Aus diesem Grund haben die Hersteller eigene Tests entwickelt, mit denen man so nah an die tatsächlichen Nutzungsbedingungen kommt, wie möglich, wie z. B. in EP-A-0 704 819 oder DE 196 20 550 C beschrieben.
Aufgabe dieser Erfindung ist, ein Testgerät für die Durchführung mechanischer und funktioneller Kartentests, insbesondere der Schaltkreise des elektronischen Moduls zu liefern.
Um dieses Aufgabe zu erfüllen und nach einer ersten Aufgabe der vorliegenden Erfindung das Testgerät für elektronische Speicherkarten bestehend aus einem Kartenkörper mit einer ersten und zweiten Seite und einem elektronischen Modul mit einem Halbleiterchip, in dem sich integrierte Schaltkreise und mehrere externe elektrische Kontaktbereiche befinden, die an den genannten Chip angeschlossen sind und sich in der genannten ersten Seite befinden. Darüber hinaus umfasst das Testgerät:

– Träger- und Positionierungsmittel der Karte mit zwei längsverlaufenden Trägerelementen einer Seite der Karte, die derart angebracht sind, dass das elektronische Modul zwischen den längsverlaufenden Elementen angeordnet wird,
– ein bewegliches Mittel im rechten Winkel zur Fläche des Kartenkörpers, um an der Stelle des elektronischen Moduls eine Kraft mit zunehmender Intensität auszuüben,
– Kontrollmittel, um auf das elektronische Modul elektrische Befehlssignale anzulegen und von dem Modul ausgesandte Signale in Antwort auf die Befehlssignale zu empfangen;
– Testmittel, um die empfangenen Signale mit Referenzsignalen für korrektes Funktionieren der integrierten Schaltkreise des elektronischen Moduls zu jedem Zeitpunkt, zu dem die Kraft angelegt wird, zu vergleichen und um zumindest die Intensität der von dem Mittel ausgeübten Kraft zu speichern, wenn die empfangenen Signale anfangen, sich von den Referenzsignalen zu unterscheiden.

Nach einer zweiten Aufgabe der vorliegenden Erfindung umfasst das Testverfahren für elektronische Speicherkarten bestehend aus einem Kartenkörper mit einer ersten und zweiten Seite und einem elektronischen Modul mit einem Halbleiterchip, in dem sich integrierte Schaltkreise und mehrere externe elektrische Kontaktbereiche befinden, die an den genannten Chip angeschlossen sind und sich in der ersten Seite befinden Phasen, in denen:.

– die Karte gebogen und gestaucht wird, indem die Karte so auf Träger- und Positionierungsmitteln mit zwei längsverlaufenden Trägerelementen einer Seite der Karte positioniert wird, dass das elektronische Modul zwischen den längsverlaufenden Elementen angeordnet wird und ein mobiles Mittel im rechten Winkel zur Fläche des Kartenkörpers an der Stelle des elektronischen Moduls mit einer Kraft zunehmender Intensität einwirkt,
– dank der Kontrollmittel auf das elektronische Modul elektrische Befehlssignale angelegt werden und die von dem Modul in Antwort auf die Befehlssignale ausgesandten Signale empfangen werden,
– die empfangenen Signale mit den Referenzsignalen des korrekten Betriebs der integrierten Schaltkreise des elektronischen Moduls zu jedem Zeitpunkt verglichen werden, zu dem die Kraft angelegt wird und mindestens die Intensität der von dem Mittel angelegten Kraft gespeichert wird, wenn die empfangenen Signale anfangen, sich von den Referenzsignalen zu unterscheiden.

Es ist verständlich, dass dank des von dem Testgerät angewandten Prinzips die Karte und insbesondere dessen elektronisches Modul mechanischen Einwirkungen bis zum Schwellenwert, der der Einstellung des normalen Betriebs des elektronischen Moduls entspricht, unterworfen werden. Die Speicherung mindestens der angelegten Kraft, die dieser Situation entspricht, lässt die Einschätzung der Eigenschaften der Herstellungstechnik der Karte zu oder die Kontrolle dessen, dass hergestellte Karten sich tatsächlich in einem Bereich der Merkmale bewegen, die den normalen Gebrauch zulassen und somit vielfältige Rückläufe vermeiden.
Nach einer ersten bevorzugten Ausführungsart nimmt der Teil des Mittels, der auf die Karte in Höhe des elektronischen Moduls angelegt werden soll, die Form einer halbzylindrischen Fläche mit geringem Umkreis ein. So wird an das Modul und an die Karte eine Einwirkung angelegt, die die halbzylindrische Fläche bei Anlegen an das Modul bewirkt.
Nach einer anderen Ausführungsart ist der Teil des Mittels, der auf die Karte in Höhe des elektronischen Moduls angelegt werden soll, eine ebene kreisförmige Fläche, die von einer Schicht leicht verformbaren Materials abgedeckt ist.
Vorzugsweise werden diese beiden Testmittel eingesetzt, um die Karte Umständen auszusetzen, die repräsentativ für die derzeitigen Gebrauchsumstände sind.
Andere Merkmale und Vorzüge der Erfindung ergeben sich leichter beim Lesen der folgenden Beschreibung mehrerer Ausführungsarten der Erfindung, die beispielhaft und nicht einschränkend dargestellt werden. Die Beschreibung bezieht sich auf die beigelegten Abbildungen, in denen
1 eine vereinfachte Draufsicht darstellt, in der eine im Testgerät angeordnete Karte gezeigt wird;
2 eine vereinfachte Ansicht des gesamten Testgeräts darstellt;
3a eine detailliertere Ansicht des Testgeräts bei Anwendung eines ersten Testmittels ist und
3b eine Teilansicht darstellt, die ein zweites Testmittel zeigt, das in dem Gerät angewandt werden kann.
Wie bereits erklärt wurde, besteht das Prinzip der Erfindung darin, die Karte und insbesondere ihr elektronisches Modul einer zunehmenden Einwirkung auszusetzen, wobei gleichzeitig das einwandfreie elektrische Funktionieren des elektronischen Moduls ununterbrochen überprüft wird. Vorzugsweise nimmt die angelegte Kraft in einem Intervall der Größenordnung von zwischen 0 und 300 Newton, je nach Art der getesteten Karte zu. Wenn kein einwandfreier Betrieb mehr gegeben ist, wird zumindest die Kraft gespeichert, die dazu geführt hat, dass der einwandfreie Betrieb nicht mehr gegeben ist.
1 stellt eine Draufsicht einer elektronischen Speicherkarte 10 mit Körper aus Plastikmaterial 12 und dazugehörigem elektronischem Modul 14, dar, dessen externe elektrische Kontaktbereiche 16 sichtbar sind. Zur Durchführung der Tests wird die Karte auf zwei horizontale längsverlaufende und unter einander parallele Träger 18 und 20 gelegt, deren Abstand e derart ist, dass der Körper der Karte auf den Trägern 18 und 20 beiderseits des elektronischen Moduls 14 ruht. Mit dem Testgerät wird eine Einwirkung F durch ein Hilfsmittel angelegt, das durch 22 symbolisiert wird und diese Einwirkung in Höhe des elektronischen Moduls 14 ausübt. Vorteilhafterweise weisen die längsverlaufenden Trägerelemente 18 und 20 eine zylindrische Form auf, wie in 2 dargestellt. Wenn die Kraft F auf die Karte wirkt, gibt diese nach. Dieses Nachgeben wird durch die zylindrische Form der Trägerelemente 18 und 20 erleichtert. Somit wird die Karte einer Einwirkung durch Biegen und Kompression ausgesetzt. Die Einwirkung stellt beispielsweise modellhaft eine Einwirkung dar, die durch einen Nutzer der Karte angelegt wird, wenn dieser den Kartenkörper zwischen einem Zeigefinger und einem Daumen der gleichen Hand hält und mit dem anderen Daumen auf das Modul drückt. Selbstverständlich kann der Nutzer beliebig auf die eine oder andere Seite der Karte drücken.
2 stellt schematisch das gesamte Messgerät dar. Abgebildet sind die Karte 10 mit dem elektronischen Modul 14, den externen Kontaktbereichen 16 und dem Halbleiterchip 24, in dem die integrierten Schaltkreise des elektronischen Moduls ausgebildet sind, wobei diese Schaltkreise über Verbindungen mit den externen Bereichen 16 verbunden sind. In 2 finden sich ebenfalls die beiden längsverlaufenden und horizontalen Trägerelemente 18 und 20. In dieser Abbildung ist ebenfalls das Testmittel 22 abgebildet, das auf einem Testkopf 26 angebracht ist, der mit einer Vorrichtung 28 verbunden ist, die das Mittel 22 mit nach und nach zunehmender Kraft anlegen kann. Die Vorrichtung 28 besteht beispielsweise aus einem Zylinder, wobei der Kopf 26 mit der Kolbenstange 28a dieses Zylinders fest verbunden ist. Dem Zylinder 28 ist eine Befehlsvorrichtung für diesen Zylinder 30 zugeordnet, anhand der zu jedem Zeitpunkt eine Kraft angelegt werden kann, um eine vorbestimmte Verformungsgeschwindigkeit zu erreichen, wobei dieser Steuerkreis 30 über seinen Teil 32 den Hub des Mittels 22, d.h. die mechanische Verformung der Karte messen kann.
Das Testgerät beinhaltet ebenfalls elektronische oder elektrische Schaltkreise, unter anderem einen Versorgungs- und Dialogschaltkreis 34 mit den integrierten Schaltkreisen der Karte, einen Schaltkreis 36 zur Erarbeitung repräsentativer Signale für jeden Zeitpunkt der angelegten Kraft F und des Hubs C, einen Bearbeitungsschaltkreis 38, der einerseits ein vom Schaltkreis 34 ausgesandtes Signal und andererseits Informationen über die Intensität der Kraft F und den Hub C empfängt und einen Schaltkreis 40 zum Abspeichern der Informationen. Der Versorgungsschaltkreis 34 ist mit den externen Bereichen 16 der Karte über elektrische Kontakte wie 42 verbunden, die vorzugsweise von dem Kopf 26 getragen werden. Kommt das Testmittel 22 in Kontakt mit der oberen Seite 14a des elektronischen Moduls, sorgen die Kontakte 42 für eine elektrische Verbindung zwischen den Bereichen 16 des elektronischen Moduls und dem Schaltkreis 34. Der Schaltkreis 34 ist dazu da, die integrierten Schaltkreise des Chips 24 zu versorgen und die Steuersignale auf diese integrierten Schaltkreise anzulegen. In Übereinstimmung mit der normalen Funktionsweise des elektronischen Moduls werden Antwortsignale erarbeitet und von dem Halbleiterchip an die externen Kontaktbereiche 16 angelegt, wobei diese Signale von dem Schaltkreis 34 gesammelt werden. Im Schaltkreis 34 sind Vergleichsschaltkreise zwischen den tatsächlich empfangenen Antwortsignalen und den Referenzsignalen vorgesehen, die dem Normalbetrieb des elektronischen Moduls entsprechen und im Schaltkreis 34 abgespeichert sind. Wenn diese Vergleichsschaltkreise einen Unterschied zwischen den Referenzsignalen und den tatsächlich empfangenen Signalen feststellen, geben sie ein Fehlersignal E aus, das auf den Verarbeitungsschaltkreis 38 angelegt wird. Die Feststellung dieses Signals E führt zur Unterbrechung des Anlegens der Kraft F und zum Abspeichern des Wertes der Kraft F und des Hubs C. Zum Beispiel legt man ein Befehlssignal an, auf das man eine Antwort auf eine Nullrückstellung der Karte bekommen kann, die im angelsächsischen Sprachraum geläufigerweise „answer to reset" genannt wird. Ist die Antwort falsch, wird davon abgeleitet, dass der Chip durch die angelegte Kraft F beschädigt worden ist. So wird das Funktionieren der Karte in Echtzeit überprüft. Anhand dieses Tests kann festgestellt werden, ob der Chip 24 beispielsweise durch einen Riss beschädigt ist oder nicht.
Da der Chip in das Modul eingeschlossen ist, kann ein einfacher Riss von der Größe einiger Mikronen weder mit dem Auge, noch mit einem handelsüblichen Mikroskop entdeckt werden.
Wie besser in 3a dargestellt, kann das mit 22a bezeichnete Mittel 22 aus einer halbzylindrischen Fläche bestehen, deren Länge vorzugsweise mindestens der des elektronischen Moduls entspricht und deren Krümmungsradius sich in der Größenordnung eines Millimeters bewegt.
Das in 3b dargestellte Testmittel 22b besteht aus einem Zylinder 50, dessen Durchmesser vorzugsweise 4 mm beträgt und dessen beschichtete Abschlussseite von einer Silikonschicht oder ähnlichem Material 52 von etwa 0,8 mm Dicke überzogen ist. Vorzugsweise ist daher die Auflagefläche des Mittels 22b in der Größenordnung der Fläche des Überzugstropfens, der den im elektronischen Modul enthaltenen Halbleiterchip umfasst. Die Silikonschicht ermöglicht eine vorteilhafte Dämpfung des Kontakts des Testmittels mit dem elektronischen Modul.
Diese beiden Mittel 22a und 22b werden auf den beiden Hauptseiten 12a und 12b einer Karte verwendet. Vorzugsweise wird abwechselnd ein Satz Karten mit dem ersten Mittel 22a und ein anderer Satz mit dem zweiten Mittel 22b getestet und vorzugsweise testet man in ein und dem gleichen Kartensatz wahlweise die erste oder die zweite Seite einer Karte, bis die Karte beschädigt ist, dann wird eine weitere Karte getestet, und so weiter. So werden Nutzungsbedingungen rekonstruiert, die den tatsächlichen Nutzungsbedingungen ähnlich sind und man erhält Testergebnisse, die repräsentativ für die tatsächliche Nutzung der Karten sind.
In 3a ist der mechanische Teil des Testgeräts detaillierter dargestellt. Es finden sich die längsverlaufenden Elemente 18 und 20 wieder, die zwischen zwei Teilen 52 und 54 zur Positionierung der Karte befestigt sind. Teil 54 weist eine Nut 56 auf in die eine Kante des Kartenkörpers 12 eingeführt werden kann, während Teil 52 einen Ansatz umfasst, auf dem der andere Kartenrand ruht. Die Karte wird in Position gebracht, indem sie in die Nut 56 geschoben wird. Ein nicht dargestellter Anschlag sorgt für die Längspositionierung der Karte. Zwischen den längsverlaufenden Elementen 18 und 20 sind elektrische Kontakte 60 vorgesehen, die die elektrische Verbindung zwischen den Schaltkreisen der Karte und den Schaltkreisen 34 des Testgeräts sicher stellen, wenn die Oberseite 12a auf den längsverlaufenden Trägerelementen ruht, d.h. wenn die Karte getestet wird, indem die Kraft F auf die zweite Seite der Karte angelegt wird.
Es ist zu vermerken, dass die Tatsache, dass die elektrischen Kontakte 42 fest mit den Mitteln, die die Kraft F anlegen und dem Mittel 22 verbunden sind, den vorstehend beschriebenen Test erleichtern.
Wenn die elektrischen Kontakte nicht fest mit dem Mittel 22 und dem mobilen Kopf verbunden wären, wäre die Herstellung eines dauernden elektrischen Kontakts während des Tests schwieriger, da die Karte sich unter Einwirkung der angelegten Kraft verschieben würde.
Schließlich ist zu vermerken, dass das erfindungsgemäße Testgerät auch den Test einer Karte ermöglicht, ohne dass dabei unbedingt bis zum Bruch der Karte getestet wird. Dadurch können Karten getestet werden, deren Funktion intakt ist, bei denen jedoch eines der Bestandteile defekt ist. Die Karte wird durch leichte Einwirkung verformt, ohne dass ein Bruch herbei geführt wird. Funktioniert die Karte nach wie vor, bedeutet das, dass sie nicht kaputt ist. Im gegenteiligen Fall ist sie kaputt und wird zurück gewiesen.

Claims

Testgerät für elektronische Speicherkarten bestehend aus einem Kartenkörper (12) mit einer ersten und zweiten Seite und einem elektronischen Modul (14) mit einem Halbleiterchip (24), in dem sich integrierte Schaltkreise und mehrere externe elektrische Kontaktbereiche (16) befinden, die an den Halbleiter (24) angeschlossen sind und sich in der ersten Seite befinden, wobei das Gerät umfasst: – Träger- und Positionierungsmittel (18, 20, 52, 54) der Karte mit zwei längsverlaufenden Trägerelementen (18, 20) einer Seite der Karte, die derart angebracht sind, dass das elektronische Modul (14) zwischen den längsverlaufenden Elementen angeordnet wird, – ein bewegliches Mittel (22) im rechten Winkel zur Fläche des Kartenkörpers (12), um an der Stelle des elektronischen Moduls (14) eine Kraft (F) zunehmender Intensität auszuüben, – Kontrollmittel (42), um auf das elektronische Modul (14) elektrische Befehlssignale anzulegen und von dem Modul ausgesandte Signale in Antwort auf die Befehlssignale zu empfangen, wobei das Gerät dadurch gekennzeichnet wird, dass es außerdem umfasst: – Testmittel (34, 36, 38, 40), um die empfangenen Signale mit Bezugssignalen für korrektes Funktionieren der integrierten Schaltkreise des elektronischen Moduls zu jedem Zeitpunkt, zu dem die Kraft angelegt wird, zu vergleichen und um zumindest die Intensität der von dem Mittel ausgeübten Kraft zu speichern, wenn die empfangenen Signale anfangen, sich von den Referenzsignalen zu unterscheiden.
Testgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass es außerdem umfasst: – Mittel (42) zur Versorgung des elektronischen Moduls.
Testgerät nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass es außerdem umfasst: – Verbindungsmittel (42) zur Verbindung der externen Bereiche der Karte mit den Versorgungs- und Kontrollmitteln.
Testgerät nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, das es außerdem umfasst: – Mittel (28), um die Kraft auf das Mittel anzulegen.
Testgerät nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Testmittel außerdem Mittel (40) beinhalten, um den Wert des Hubs des Mittels zu speichern, wenn die empfangenen Signale sich von den Bezugssignalen unterscheiden.
Testgerät nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Teil des Mittels, der auf die Karte in Höhe des elektronischen Moduls angelegt werden soll, die Form einer halbzylindrischen Fläche mit geringem Umkreis einnimmt.
Testgerät nach einem der Ansprüche 1 und 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Teil des Mittels, der auf die Karte in Höhe eines elektronischen Moduls angelegt werden soll, aus einer ebenen, kreisförmigen Fläche besteht, die mit einem leicht verformbaren Material abgedeckt ist.
Testgerät nach einem der Ansprüche 3 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Verbindungsmittel elektrische Kontakte aufweisen, die fest mit den Mitteln verbunden sind, die die Kraft anlegen, um die elektrische Verbindung mit den äußeren Bereichen der Karte herzustellen, wenn diese mit ihrer zweiten Seite auf den längsverlaufenden Trägerelementen ruht.
Testgerät nach einem der Ansprüche 3 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Verbindungsmittel feste elektrische Kontakte umfassen, die zwischen den beiden längsverlaufenden Trägerelementen angebracht sind, um eine elektrische Verbindung mit den externen Bereichen der Karte herzustellen, wenn die Karte mit ihrer ersten Seite auf den längsverlaufenden Trägerelementen ruht.
Testgerät nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass die längsverlaufenden Trägerelemente eine zylindrische Form aufweisen.
Testverfahren für elektronische Speicherkarten bestehend aus einem Kartenkörper (12) mit einer ersten und zweiten Seite und einem elektronischen Modul (14) mit einem Halbleiterchip (24), in dem sich integrierte Schaltkreise und mehrere externe elektrische Kontaktbereiche (16) befinden, die an den genannten Chip angeschlossen sind und sich in der ersten Seite befinden, das Phasen umfasst, bei denen: – die Karte gebogen und gestaucht wird, indem die Karte auf Trägermitteln (18, 20) und Positionierungsmitteln (52, 54) angeordnet wird, die längsverlaufende Trägerelemente einer Seite der Karte umfassen, die so angebracht sind, dass das elektronische Modul zwischen den längsverlaufenden Elementen angeordnet wird und mit einem beweglichen Mittel (22) im rechten Winkel zur Fläche des Kartenkörpers in Höhe des elektronischen Moduls eine Kraft mit zunehmender Intensität angelegt wird, – mit Hilfe von Kontrollmitteln (42) an das elektronische Modul (14) elektrische Befehlssignale angelegt werden und von dem Modul ausgesandte Signale in Antwort auf die Befehlssignale empfangen werden, dadurch gekennzeichnet, dass es außerdem die Stufe umfasst, nach der: – die empfangenen Signale mit den Referenzsignalen des korrekten Betriebs der integrierten Schaltkreise des elektronischen Moduls zu jedem Zeitpunkt verglichen werden, zu dem die Kraft angelegt wird und mindestens die Intensität der von dem Mittel angelegten Kraft (F) gespeichert wird, wenn die empfangenen Signale anfangen, sich von den Referenzsignalen zu unterscheiden.
Testverfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass es eine weitere Phase umfasst, in der das genannte elektronische Modul mit Hilfe von Versorgungsmitteln versorgt wird.
Testverfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass es eine zusätzliche Phase umfasst, in der die externen Bereiche mit den Versorgungs- und Kontrollmitteln über Verbindungsmittel verbunden werden.
Testverfahren nach einem der Ansprüche 11 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel (28) eingesetzt werden, um an das Mittel die Kraft anzulegen.
Testverfahren nach einem der Ansprüche 11 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass es eine weitere Phase umfasst, nach der der Hubwert des Mittels gespeichert wird, wenn die empfangenen Signale sich von den Referenzsignalen unterscheiden.
Testverfahren nach einem der Ansprüche 11 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass der Teil des Mittels (22), der auf die Karte in Höhe des elektronischen Moduls angelegt werden soll, die Form einer halbzylindrischen Fläche mit geringem Umkreis einnimmt.
Testverfahren nach einem der Ansprüche 11 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass der Teil des Mittels, der auf die Karte in Höhe eines elektronischen Moduls angelegt werden soll, aus einer ebenen, kreisförmigen Fläche besteht, die mit einem leicht verformbaren Material abgedeckt ist.
Testverfahren nach einem der Ansprüche 13 bis 17, dadurch gekennzeichnet, dass die Verbindungsmittel elektrische Kontakte aufweisen, die fest mit den Mitteln zum Anlegen der Kraft verbunden sind, um die elektrische Verbindung mit den externen Bereichen der Karte herzustellen, wenn diese mit ihrer zweiten Seite auf den längsverlaufenden Trägerelementen ruht.
Testverfahren nach einem der Ansprüche 13 bis 17, dadurch gekennzeichnet, dass die Verbindungsmittel feste elektrische Kontakte aufweisen, die zwischen den beiden längsverlaufenden Trägerelementen angebracht sind, um eine elektrische Verbindung mit den externen Bereichen der Karte herzustellen, wenn die Karte mit ihrer ersten Seite auf den längsverlaufenden Trägerelementen ruht.
Testverfahren nach einem der Ansprüche 11 bis 19, dadurch gekennzeichnet, dass die längsverlaufenden Trägerelemente eine zylindrische Form aufweisen.