DE69928465D1 - Vorrichtung und Verfahren zur simultanen Messung von unterschiedlichen Strahlungsarten - Google Patents

Vorrichtung und Verfahren zur simultanen Messung von unterschiedlichen Strahlungsarten

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Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69929027T2 (de) * 1998-12-28 2006-08-24 Kabushiki Kaisha Toshiba, Kawasaki Strahlungsdetektoreinrichtung
US6630675B2 (en) * 2000-07-26 2003-10-07 Siemens Medical Solutions Usa, Inc. X-ray scintillator compositions for X-ray imaging applications
US6566657B2 (en) * 2001-03-14 2003-05-20 Richard C. Odom Geometrically optimized fast neutron detector
US6868236B2 (en) * 2002-07-18 2005-03-15 Terabeam Corporation Apparatus and method for combining multiple optical beams in a free-space optical communications system
EP1546691A1 (de) * 2002-09-30 2005-06-29 Applied Materials Israel Ltd. Inspektionssystem mit geneigtem betrachtungswinkel
PT1558947E (pt) * 2002-11-06 2012-03-05 American Science & Eng Inc Furgão de inspecção móvel com retro-difusão de raios-x
US6989541B2 (en) * 2003-05-30 2006-01-24 General Dynamics Advanced Information Systems, Inc. Coincident neutron detector for providing energy and directional information
JP4208687B2 (ja) * 2003-09-29 2009-01-14 株式会社東芝 イメージセンサ
JP4415095B2 (ja) * 2004-04-15 2010-02-17 独立行政法人 日本原子力研究開発機構 ZnS蛍光体を用いた粒子線検出器及び中性子検出器
DE102006033661A1 (de) * 2006-07-20 2008-01-24 Forschungszentrum Dresden - Rossendorf E.V. Detektoranordnung zur winkelauflösenden Detektion von Strahlung und Verfahren zum Betrieb desselben
DE102006033662A1 (de) * 2006-07-20 2008-01-24 Forschungszentrum Dresden - Rossendorf E.V. Verfahren zum Bestimmen einer Materialzusammensetzung einer Materialprobe
WO2008132849A1 (ja) * 2007-04-24 2008-11-06 Kabushiki Kaisha Toshiba ラジオグラフィ測定装置及びラジオグラフィ測定方法
CA2742127C (en) * 2007-11-01 2017-01-24 Rapiscan Security Products, Inc. Multiple screen detection systems
US8748830B2 (en) 2010-06-01 2014-06-10 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. Radiation sensor to detect different targeted radiation and radiation detection system including the radiation sensor
EP2597490A4 (de) * 2010-07-21 2014-01-08 Univ Hiroshima Phoswich-wärmeneutronendetektor
WO2012159201A1 (en) * 2011-05-24 2012-11-29 UNIVERSITé LAVAL Methods and apparatus for optically encoded position multiple-point scintillation detector using a single collecting light guide
US9285488B2 (en) * 2012-02-14 2016-03-15 American Science And Engineering, Inc. X-ray inspection using wavelength-shifting fiber-coupled scintillation detectors
EP2816376A1 (de) * 2013-06-19 2014-12-24 cynora GmbH Verfahren zum Nachweis von Strahlung
JP6739423B2 (ja) * 2014-09-25 2020-08-12 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. 光を発生させるセラミック材料
FR3027119B1 (fr) * 2014-10-09 2016-12-23 Commissariat Energie Atomique Dispositif d'imagerie duale
CA2998364A1 (en) 2015-09-10 2017-03-16 American Science And Engineering, Inc. Backscatter characterization using interlinearly adaptive electromagnetic x-ray scanning
GB2560552B (en) * 2017-03-15 2020-09-09 Smiths Heimann Sas Method and apparatus
CN110650777B (zh) * 2017-05-16 2021-07-20 住友重机械工业株式会社 中子捕捉疗法系统
CN107748170B (zh) * 2017-11-01 2023-10-13 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 中子和x射线双谱段成像相机
JP6932619B2 (ja) * 2017-11-10 2021-09-08 株式会社日立製作所 放射線モニタ、及び放射線の測定方法
US10942283B2 (en) * 2019-03-19 2021-03-09 Secretary, Department Of Atomic Energy Two single crystals based phoswich detector for discriminating various kinds of radiations
US11402516B2 (en) * 2019-10-08 2022-08-02 Lawrence Livermore National Security, Llc System and method for neutron and gamma radiation detection using non-homogeneous material scintillator
CN110954937A (zh) * 2019-12-04 2020-04-03 上海科润光电技术有限公司 一种快速检测χ射线的变色成像薄膜
US11193898B1 (en) 2020-06-01 2021-12-07 American Science And Engineering, Inc. Systems and methods for controlling image contrast in an X-ray system
WO2023017845A1 (ja) * 2021-08-12 2023-02-16 国立大学法人横浜国立大学 蛍光体とその製造方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4029963A (en) * 1976-07-30 1977-06-14 The Board Of Trustees Of Leland Stanford Junior University X-ray spectral decomposition imaging system
JPS58113842A (ja) * 1981-12-28 1983-07-06 Japan Atom Energy Res Inst ラジオグラフィー装置
JPS60188869A (ja) * 1984-03-09 1985-09-26 Toshiba Corp シンチレ−シヨン検出器
JPS61184444A (ja) * 1985-02-12 1986-08-18 Nippon Atom Ind Group Co Ltd 同時ラジオグラフイ−
JPH065291B2 (ja) * 1986-07-02 1994-01-19 株式会社日立製作所 放射線検出器
JPH05341047A (ja) * 1991-05-22 1993-12-24 Japan Atom Energy Res Inst 効果的なα及びβ(γ)線同時測定法及びその検出器
GB9115259D0 (en) * 1991-07-15 1991-08-28 Philips Electronic Associated An image detector
US5317158A (en) 1991-10-22 1994-05-31 Martin Marietta Energy Systems, Inc. Unitary scintillation detector and system
DE4224931C2 (de) * 1992-07-28 1995-11-23 Siemens Ag Verfahren zur Herstellung einer Szintillatorkeramik und deren Verwendung
US5313065A (en) 1992-09-01 1994-05-17 The Babcock & Wilcox Company Fiber optic radiation monitor
FR2700210B1 (fr) 1993-01-06 1995-02-10 Commissariat Energie Atomique Dispositif de détection simultanée et sélective de neutrons et de photons X ou gamma et système de détection utilisant ce dispositif.
JP2818730B2 (ja) 1994-07-19 1998-10-30 日本原子力研究所 中性子画像形成方法
US5548123A (en) * 1994-12-06 1996-08-20 Regents Of The University Of California High resolution, multiple-energy linear sweep detector for x-ray imaging
JP3064218B2 (ja) * 1995-07-10 2000-07-12 アロカ株式会社 放射線測定装置
JP3524300B2 (ja) * 1995-11-21 2004-05-10 株式会社東芝 セラミックスシンチレータ、それを用いた放射線検出器および放射線検査装置
US5647368A (en) * 1996-02-28 1997-07-15 Xillix Technologies Corp. Imaging system for detecting diseased tissue using native fluorsecence in the gastrointestinal and respiratory tract
JPH09236669A (ja) * 1996-03-01 1997-09-09 Tohoku Electric Power Co Inc ファイバ型放射線検出器

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Publication number Publication date
EP0947855A3 (de) 1999-10-13
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JPH11271453A (ja) 1999-10-08
EP0947855B1 (de) 2005-11-23

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