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HINTERGRUND
DER ERFINDUNG
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Die
vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Testen einer im
Fahrzeug befindlichen elektronischen Einheit nach Anspruch 1.
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Bislang
wurde beim Testen von elektronischen Einheiten, insbesondere, beim
Ausführen
eines Versandtests der elektronischen Einheit in bezug auf Funktionen,
mit der die elektronische Einheit tatsächlich versehen ist, auf der
Seite der Testvorrichtung eine Eingabelogik von Schaltern bereitgestellt,
um den Test auszuführen.
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Wie
in 9 gezeigt ist, wird beispielsweise eine Bestätigung einer
Türverriegelungsfunktion
in einem Kraftfahrzeug wie folgt ausgeführt. Ein Schaltersteuersignal
(SW-Steuersignal: 10(a))
wird von der Testvorrichtung 1 ausgesendet, um einen Türverriegelungsschalter 2 EIN-/AUS-zuschalten,
ein Hoch- (H)/Niedrig- (L) -Signal (10(b)),
das von diesem Türverriegelungsschalter 2 erhalten
wird, wird in eine elektronische Einheit 3 eingegeben.
Als Reaktion auf diesen Hoch-/Niedrig-Schalter erfolgt eine Bestätigung,
ob die elektronische Einheit 3 einen Türverriegelungsmotor 4 ansteuert
oder nicht. Der Test wird dahingehend ausgeführt, ob die Eingangsschaltkreise,
die CPU, die Ausgangsschaltkreise und dergleichen, die in der elektronischen Einheit 3 verwendet
werden, unter Normalbedingungen gemäß der vorstehend beschriebenen
Testverfahrensweise betrieben werden.
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Wie
in 11 gezeigt ist, werden zudem in einer elektronischen
Einheit zum Befestigen eines im Fahrzeug befindlichen LAN, nachdem
die elektronische Einheit 3 gemäß einer vorgewählten Eingabesequenz
in einen Testmodus versetzt worden ist, während eine Kommunikations-Eingabe-/Ausgabe-Schnittstelle 5 für das in
dieser elektronischen Einheit 3 vorgesehene, im Fahrzeug
befindliches LAN verwendet wird, willkürliche Schaltereingabeinformationen
als serielle Daten von der Testvorrichtung 1 an die Kommunikations-Eingabe-/Ausgabe-Schnittstelle 5 übertragen.
Seitdem ein derartiges Testverfahren ausgeführt wird, besteht die Möglichkeit,
den Test dahingehend auszuführen,
ob die CPU und die Ausgangsschaltkreise, die in der elektronischen
Einheit 3 vor gesehen sind, unter einer Normalbedingung
betätigt
werden, indem bestätigt
wird, ob die elektronische Einheit 3 den Türverriegelungsmotor 4 als
Reaktion auf die in den seriellen Daten enthaltenen Informationen
ansteuert oder nicht, selbst wenn der Schalter 2 nicht
EIN/AUS-geschaltet ist. Auch werden in diesem Fall die Eingangsschaltkreise,
die in der elektronischen Einheit 3 verwendet werden, derart
getestet, daß von
der Testvorrichtung 1 an die Kommunikations-Eingabe-/Ausgabe-Schnittstelle 5 der
elektronischen Einheit 3 willkürliche serielle Daten übertragen
werden, und ferner werden diese eingegebenen Informationen von der
elektronischen Einheit 3 als serielle Daten an die Testvorrichtung 1 zurückgesendet.
Da die mehreren Eingangsschaltkreise und die mehreren Ausgangsschaltkreise
auf einmal getestet werden können,
kann die Testzeit gemäß diesem
Testverfahren vorteilhaft verkürzt
werden.
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Es
wird darauf hingewiesen, daß das
Bezugszeichen 6, das in 9 und 11 gezeigt
ist, eine Spannungsmeßvorrichtung
zum Messen einer an die elektronische Einheit 3 angelegten
Spannung darstellt.
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12 ist
eine ausführliche
Blockschaltung zur Veranschaulichung der elektronischen Einheit 3,
die in dem in 9 gezeigten Schaltungsblock
enthalten ist. Ein Test für
die in 12 gezeigte elektronische Einheit 3 wird
durch separat erfolgendes EIN/AUS-Schalten von einer Mehrzahl von
Schaltern 2a bis 2f durch eine Versandtestvorrichtung 1 ausgeführt. Von
diesen Schaltern 2a bis 2f zeigt das Symbol 2a einen
Zündschalter; Symbol 2b zeigt
einen angetriebenen Fenster-auf-Schalter an, Symbol 2c zeigt
einen angetriebenen Fenster-ab-Schalter an; Symbol 2d bezeichnet
einen Türverriegelungsschalter;
Symbol 2e zeigt einen Türentriegelungsschalter;
und Symbol 2f stellt einen Türschalter dar. Der Zündschalter 2a ist
mit einem Zündschalter-Eingangsschaltkreis
(IG-SW-Eingangsschaltkreis) 11 verbunden, der in der elektronischen
Einheit 3 vorgesehen ist. Der angetriebene Fenster-auf-Schalter 2b ist
mit einem angetriebenen Fenster-auf-Eingangsschaltkreis (LEISTUNG-FENSTER-AUF-SW-Eingangsschaltkreis) 12 verbunden,
der in der elektronischen Einheit 3 verwendet wird. Der
angetriebene Fenster-ab-Schalter 2 ist mit einem angetriebenen
Fenster-ab-Schalter-Eingangsschaltkreis (LEISTUNG-FENSTER-AB-SW-Eingangsschaltkreis) 13 verbunden, der
in der elektronischen Einheit 3 verwendet wird. Der Türverriegelungsschalter 2d ist
mit einem Türverriegelungsschalter-Eingangsschaltkreis
(TÜR-VERRIEGELUNGS-SW-Eingangsschaltkreis) 14 verbunden,
der in der elektronischen Einheit 3 verwendet wird. Der
Türentriegelungsschalter 2e ist
mit einem Türentriegelungsschalter-Eingangsschaltkreis
(TÜR-ENTRIEGELUNGS-SW-Eingangsschaltkreis) 14 verbunden,
der in der elektronischen Einheit vorgesehen ist. Dann ist der Türschalter 2f ist
mit einem Türschalter-Eingangsschaltkreis
(TÜR-SW-Eingangsschaltkreis) 16 verbunden,
der in der elektronischen Einheit 3 verwendet wird. Die
aus diesen Eingangsschaltkreisen 11 bis 16 erhaltenen
Signale werden in eine Steuereinheit (Mikrocomputerchip) 17,
die einen ROM, einen RAM und eine CPU enthält, eingegeben. Obgleich ein
Innenraum(Decken-) Leuchtenschaltkreis 18, ein Türverriegelungs-Ausgangsschaltkreis 19,
ein Türentriegelungs-Ausgangsschaltkreis 20,
ein angetriebener Fenster-auf-Ausgangsschaltkreis 21 und
ein angetriebener Fenster-ab-Ausgangsschaltkreis 22 durch diesen
Microcomputer 17 gesteuert werden, werden die Innenraumleuchte 23,
der Türverriegelungsmotor 4a und
die angetriebenen Fenstermotore 4b jeweils angesteuert.
Es wird darauf hingewiesen, daß in 12 das Bezugszeichen 24 einen
Leistungsversorgungsschaltkreis bezeichnet, und das Bezugszeichen 25 einen Überwachungsschaltkreis
zum Testen eines Leistungsversorgungswerts und einen Ausreißer des
Microcomputers 17.
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In
dem Fall, in dem z. B. die sowohl der elektrische betriebene Fenster-auf-Schalter-Eingangsschaltkreis 12 als
auch der angetriebene Fenster-auf-Schalter-Ausgangsschaltkreis 21 getestet
werden, nachdem der Zündschalter 2a eingeschaltet
worden ist, wie in 13(a) gezeigt
ist, indem ein Signal von der Versandtestvorrichtung 1 ausgegeben
wird, wird dann ein angetriebener Fenster-auf-Schalter 26 anschließend eingeschaltet,
wie in 13(b) dargestellt ist. Der Test
kann dahingehend ausgeführt
werden, ob der angetriebene Fenster-auf-Eingangsschaltkreis 21 unter
Normalbedingung eingeschaltet ist oder nicht, wie in 13(c) gezeigt ist, indem überprüft wird, ob der Leistungsfenstermotor 4b als
Reaktion auf das Einschalten des angetriebenen Fenster-auf-Schalters 2b angesteuert
wird oder nicht.
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Zudem
bezieht sich 14 auf ein ausführliches
Blockdiagramm zum Veranschaulichen der elektronischen Einheit 3,
die in dem in 11 gezeigten Schaltungsblock
enthalten ist. Während
die in 14 gezeigte elektronische Einheit 3 getestet
wird, wird die im Fahrzeug befindliche LAN-Eingabe-/Ausgabe-Schnittstelle
(I/F) 5, die ausschließlich
zu Testzwecken verwendet wird, in die elektronische Einheit 3 installiert,
und in der seriellen Kommunikation von der Versandtestvorrichtung 1 an
diese im Fahrzeug befindliche LAN-Eingabe-/Ausgabe-Schnittstelle
(I/F) 5 werden willkürliche
Schaltereingabeinformationen übertragen.
Selbst wenn folglich keine Eingabesignale von den jeweiligen Schaltern 2a bis 2f eingegeben
werden, kann die elektronische Einheit 3 die jeweiligen
Ausgangsschaltkreise 18 bis 22 testen, indem bestätigt wird,
daß die
Ausgabe entsprechend der seriellen Kommunikationsinformationen ausgeführt wird.
Während
die jeweiligen Schalter 2a bis 2f durch die Versandtestvorrichtung
willkürlich
aus/eingeschaltet werden, erfolgen zudem die willkürlichen
Schaltereingaben in den jeweiligen Eingangsschaltkreisen 11 bis 16,
und diese Eingabeinformationen werden von der Ausgabeschnittstelle 5 der
elektronischen Einheit 3 an die Versandtestvorrichtung 1 in
Form von seriellen Daten zurückgesendet.
Somit kann das Testen der jeweiligen Eingangsschaltkreise 11 bis 16 ausgeführt werden.
Gemäß diesem
Testverfahren kann eine Mehrzahl von Eingangsschaltkreisen 11 bis 16 und
zudem eine Mehrzahl von Ausgangsschaltkreisen 18 bis 22 gleichzeitig
getestet werden.
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Angesichts
des auf vielen unterschiedlichen Gebieten der Elektrotechnik eingetretenen
Fortschritts ist in letzter Zeit auch die Anzahl der unterschiedlichen,
in Kraftfahrzeugen bereitgestellten Funktionen angestiegen. In Verbindung
mit diesem Anstieg von Funktionen steigt gleichermaßen auch
die Anzahl der in der elektronischen Einheit 3 verwendeten
Steuerschaltkreise. Folglich erhöht
sich gemäß dem herkömmlichen
Testverfahren zum Testen der jeweiligen Schaltereingaben und der
jeweiligen ausgegebenen Steuerungen die Testzeitdauer sowie auch
der Produktionsaufwand, was eine Verschlechterung der Produktivität herbeiführen würde.
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Wie
in 11 und 14 gezeigt
ist, kann, wenn eine solche elektronische Einheit 3 zum
Befestigen der im Fahrzeug befindlichen LANs zur Verfügung steht,
die Testzeit durch Ausführen
des Testverfahrens bei Verwendung der Kommunikationsschnittstelle 5 während der
Nutzung der seriellen Kommunikation verkürzt werden. Aus praktischer
Sicht findet die elektronische Einheit 3 zum Befestigen
eines im Fahrzeug befindlichen LANs nicht so Anerkennung.
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Folglich
werden bezüglich
einer solchen elektronischen Einheit 3, auf der das im
Fahrzeug befindliche LAN nicht befestigt ist, wie in 9 und 12 gezeigt
ist, die tatsächlichen
Signale der Eingabelogik in die elektronische Einheit 3 durch
Betätigen
der Schalter 2a bis 2f eingegeben, um die jeweiligen
Eingangsschaltkreise 11 bis 16 und der die jeweiligen
Ausgangsschaltkreise 18 bis 22 zu testen. Das
Testverfahren zum Ausführen
des Test zwischen der elektronischen Einheit 3 und der
Testvorrichtung 1 durch Verwendung der seriellen Kommunikation
konnte somit nicht angewendet werden.
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Alternativ
kann zusätzlich
ein für
Testzwecke spezifischer Schnittstellenschaltkreis in der elektronischen
Einheit 3, auf der kein im Fahrzeug befindliches LAN befestigt
ist, verwendet werden, wie in 9 und 12 gezeigt
ist. In diesem speziellen Fall bestehend dahingehend Probleme, daß die elektronische
Einheit 3 zu umfangreich und kostspielig werden würde.
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Das
Dokument WO92/14216 offenbart ein Diagnosesystem für ein Kraftfahrzeug,
das einen externen Computer zu Steuern eines Betriebs von einem
oder mehreren Stellgliedern unabhängig von dem fahrzeugeigenen
Computer und zum Simulieren des Betriebs spezifischer Sensoren unabhängig von
dem tatsächlichen Betrieb
dieser letzteren Sensoren umfaßt,
wobei elektronische Daten, die in den fahrzeugeigenen Computer eingegeben
werden und diesen verlassen, einschließlich der tatsächlichen
Daten, die dem Netz aus Sensoren und Stellgliedern zugeordnet sind,
durch den externen Computer kontinuierlich überwacht und analysiert werden
können.
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KURZFASSUNG DER ERFINDUNG
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Die
vorliegende Erfindung ist zur Lösung
dieser Probleme entwickelt worden, und somit ist es ihre Aufgabe,
ein Verfahren zum einfachen Testen einer im Fahrzeug be findlichen
elektronischen Einheit innerhalb kurzer Zeit zu schaffen. Das soll
heißen,
daß das
Verfahren zum Testen einer im Fahrzeug befindlichen elektronischen
Einheit verwirklicht wird, während
gleichzeitig eine zu umfangreiche elektronische Einheit und zudem
auch ein Anstieg der Fertigungskosten der elektronischen Einheit
vermieden werden.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung werden die vorstehend beschriebenen Probleme durch die
Merkmale nach Anspruch 1 gelöst.
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Verbesserte
Ausführungsformen
des erfindungsgemäßen Verfahrens
zum Testen einer im Fahrzeug befindlichen elektronischen Einheit
resultieren aus den Unteransprüchen.
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Ein
erfindungsgemäßes Testverfahren
für eine
elektronische Einheit ist dadurch gekennzeichnet, daß bei einem
Verfahren zum Testen einer im Fahrzeug befindlichen elektronischen
Einheit, die mit einer Mehrzahl von Eingangsschaltkreisen, die mit
einer Mehrzahl von externen Schaltern verbunden sind, in die Betriebssignale
der jeweiligen externen Schalter eingegeben werden, einer Mehrzahl
von Ausgangsschaltkreisen zum Ausgeben von vorbestimmten Ausgabesignalen
an eine externe Einheit und einer Steuereinheit zum Steuern der
jeweiligen Ausgabesignale, die von den mehreren Ausgangsschaltkreisen
als Reaktion auf die jeweiligen Betriebssignale, die über die
mehreren Eingangsschaltkreise eingegeben werden, erhalten werden,
ausgerüstet
ist, wobei eine vorbestimmte Testvorrichtung mit der im Fahrzeug
befindlichen elektronischen Einheit verbunden ist, um die auf einem
Kraftfahrzeug montierte elektronische Einheit zu testen, wobei die
Testvorrichtung über
eine Funktion zum Ausführen
eines Schaltbetriebs der jeweiligen Schalter verfügt, eine
Funktion zum Eingeben einer vorgewählten Befehlsanweisung in einen
Verbindungspunkt, während
die Testvorrichtung mit dem Verbindungspunkt zwischen den jeweiligen
Eingangsschaltkreisen der elektronischen Einheit und der jeweiligen
Schalter verbunden ist; eine Funktion zum Empfangen der jeweiligen
Ausgabesignale von den jeweiligen Ausgangsschaltkreisen, während die
Testvorrichtung mit den jeweiligen Ausgangsschaltkreisen der elektronischen
Einheit ver bunden ist, und eine Funktion zum Beurteilen, ob die
jeweiligen Ausgabesignale, die von dem jeweiligen Ausgangsschaltkreis
erhalten werden, entweder mit dem Schaltbetrieb der jeweiligen Schalter
oder der Befehlsanweisung, die in den Verbindungspunkt zwischen
dem jeweiligen Eingangsschaltkreis und den jeweiligen externen Schaltern
eingegeben wird, übereinstimmen
oder nicht; wobei ein Schritt des Tests bezüglich der jeweiligen Eingangsschaltkreise
folgende Schritte umfaßt:
einen ersten Eingabetestschritt zum Ausführen des Schaltbetriebs der
jeweiligen Schalter; einen zweiten Eingabetestschritt zum Eingeben
einer Befehlsanweisung in den Verbindungspunkt zwischen den jeweiligen
Eingangsschaltkreisen der elektronischen Einheit und den jeweiligen
Schaltern, wobei die Befehlsanweisung anweist, daß Informationen über eine Bedingung
des Schaltbetriebs der externen Schalter in bezug auf die jeweiligen
Eingangsschaltkreise zurückgesendet
werden; einen dritten Eingabetestschritt zum Empfangen der Bedingungsinformationen
des Schaltbetriebs der Schalter, die von dem Ausgangsschaltkreis
als Reaktion auf die Befehlsanweisung, die bei dem zweiten Eingabetestschritt
eingegeben wird, ausgegeben werden; und einen vierten Eingabetestschritt
zum Beurteilen, ob die Bedingungsinformationen des Schaltbetriebs
der Schalter, die bei dem dritten Eingabetestschritt empfangen werden,
mit den Schaltbetrieben der jeweiligen Schalter bei dem ersten Eingabetestschritt übereinstimmen
oder nicht; wobei ein Testschritt bezüglich der jeweiligen Ausgangsschaltkreise
folgende Schritte umfaßt:
einen ersten Ausgabetestschritt zum Eingeben eines dem Betriebssignal ähnlichen
Betriebssignals als die Befehlsanweisung, wenn die Schalter in bezug
auf die jeweiligen Eingangsschaltkreise auf den Verbindungspunkt
zwischen den jeweiligen Eingangsschaltkreisen der elektronischen
Einheit und den jeweiligen Schaltern geschaltet werden; einen zweiten
Ausgabetestschritt zum Empfangen des Ausgabesignals, das von dem
Ausgangsschaltkreis als Reaktion auf die Befehlsanweisung, die bei
dem ersten Ausgabetestschritt eingegeben wird, ausgegeben wird;
und einen dritten Ausgabetestschritt zum Beurteilen, ob das Ausgabesignal,
das bei dem zweiten Ausgabetestschritt empfangen wird, mit jeweils
den Betriebssignalen als die Befehlsanweisung bei dem ersten Ausgabetestschritt übereinstimmt
oder nicht.
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Das
Testverfahren für
eine im Fahrzeug befindliche elektronische Einheit ist dadurch gekennzeichnet, daß der erste
Eingabetestschritt, der in den Testschritt bezüglich der jeweiligen Eingangsschaltkreise
enthalten ist, die Schaltbetriebe von allen Schaltern zur gleichen
Zeit ausführt;
der dritte Eingabetestschritt die Informationen über die Bedingungen der Schaltbetriebe
der Schalter, die von allen Ausgangsschaltkreisen ausgegeben werden,
empfängt
und der vierte Eingabetestschritt zur gleichen Zeit beurteilt, ob
die Bedingungsinformationen der Schaltbetriebe von allen Schaltern,
die beim dritten Eingabetestschritt empfangen wurden, mit den Schaltbetrieben
von allen Schaltern bei ersten Eingabetestschritt übereinstimmen.
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Das
Testverfahren für
eine im Fahrzeug befindliche elektronische Einheit ist dadurch gekennzeichnet, daß der erste
Ausgabetestschritt, der in dem Testschritt bezüglich der jeweiligen Ausgangsschaltkreise
umfaßt ist,
als die Befehlsanweisung das ähnliche
Betriebssignal eingibt, wenn die Schalter bezüglich der jeweiligen Eingangsschaltkreise
auf alle Verbindungspunkte zwischen den jeweiligen Eingangsschaltkreisen
der elektronischen Einheit und den jeweiligen Schaltern geschaltet
werden; der zweite Ausgabetestschritt die Ausgabesignale empfängt, die
von allen Ausgangsschaltkreisen ausgegeben wurden, und der dritte
Ausgabetestschritt zur gleichen Zeit beurteilt, ob alle Ausgabesignale,
die bei dem zweiten Ausgabetestschritt empfangen werden, mit allen
Betriebssignalen übereinstimmen,
die bei den ersten Ausgabetestschritten als die Befehlsanweisung funktionieren.
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KURZBESCHREIBUNG
DER ZEICHNUNG
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1 ist
ein schematisches Blockdiagramm zum Darstellen eines Verfahrens
zum Testen einer im Fahrzeug befindlichen elektronischen Einheit
gemäß einer
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung;
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2 ist
ein schematisches Blockdiagramm zum Darstellen einer Verdrahtungsbeziehung,
wenn eine im Fahrzeug befindliche elektronische Einheit gemäß einer
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung getestet wird;
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3 ist
ein Diagramm zur Veranschaulichung einer Verbindungsbeziehung, wenn
die Ports separat auf die jeweiligen Eingangsschaltkreise und die
jeweiligen Ausgangsschaltkreise gesetzt werden;
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4 ist
ein Diagramm zur Veranschaulichung eines Beispiels eines Anweisungs-Frames,
das von einer Testvorrichtung an die elektronische Einheit übertragen
wird;
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5 ist
ein Diagramm zum Darstellen eines weiteren Beispiels des Anweisungs-Frames, das von der Testvorrichtung
an die elektronische Einheit übertragen
wird;
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6 ist
ein Diagramm zur Darstellung eines Beispiels eines Antworts-Frames,
das von der elektronischen Einheit an die Testvorrichtung übertragen
wird;
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7 ist
ein Diagramm zur Darstellung eines weiteren Beispiels des Antwort-Frames,
das von der elektronischen Einheit an die Testvorrichtung übertragen
wird,
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8 ist
ein Flußdiagramm
zur Beschreibung von Betriebsvorgängen, die ausgeführt werden,
wenn der Betriebsmodus vom Normalmodus auf den Testmodus erweitert
wird;
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9 ist
das Diagramm zur schematischen Abbildung eines Beispiels des herkömmlichen
Verfahrens zum Testen einer im Fahrzeug befindlichen elektronischen
Einheit;
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10 ist ein Zeitdiagramm zur Darstellung
einer Beziehung zwischen einem Schaltbetrieb von Schaltern und Ausgabesignalen,
die von der elektronischen Einheit erhalten werden;
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11 ist
ein schematisches Diagramm zur Darstellung eines weiteren Beispiels
des herkömmlichen Verfahrens
zum Testen der im Fahrzeug befindlichen Einheit;
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12 ist
ein ausführliches
Diagramm zur Veranschaulichung der elektronischen Einheit, die in
einem Beispiel des herkömmlichen
Verfahrens zum Testen der im Fahrzeug befindlichen Einheit verwendet
wird;
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13 ist ein Zeitdiagramm zum Darstellen
einer Beziehung zwischen den Schaltbetrieben der Schalter, der Eingabesignale
in die Eingangsschaltkreise und der Ausgabesignale von der elektronischen
Einheit; und
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14 ist
ein ausführliches
Diagramm zur Darstellung der elektronischen Einheit, die in einem
weiteren Beispiel des herkömmlichen
Verfahrens zum Testen der im Fahrzeug befindlichen elektronischen
Einheit verwendet wird.
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AUSFÜHRLICHE
BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
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1 ist
ein Diagramm zur Darstellung einer elektronischen Einheit 3 und
einer Testvorrichtung 31 gemäß einem Ausführungsmodus
der vorliegenden Erfindung. Es ist zu beachten, daß die Bezugszeichen
der herkömmlichen
Schalter und der herkömmlichen
elektronischen Einheit für
jene verwendet werden, die die gleichen oder ähnliche Funktionen der elektronischen
Einheit und des Schalters veranschaulichen, die in 1 gezeigt
sind.
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Wie
in 1 gezeigt ist, wird bezüglich einer elektronischen
Einheit, die nicht zum Befestigen eines im Fahrzeug befindlichen
LAN vorgesehen ist, dieses Verfahren zum Testen einer im Fahrzeug
befindlichen elektronischen Einheit derart ausgeführt, daß eine serielle
Kommunikation zwischen einer Testvorrichtung 31 und der
elektronischen Einheit 3 durch Verwenden von momentan verfügbaren Eingangsschaltkreisen 11 bis 16 und
momentan verfügbaren
Ausgangsschaltkreisen 18 bis 22 innerhalb dieser
elektronischen Einheit 3 vorgenommen wird.
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Genauer
gesagt ist, wie in 2 dargestellt, in dieser elektronischen
Einheit 3, ähnlich
zu dem in 12 gezeigten Schaltkreis, der
Zündschalter 2a mit
einem Zündschalter-Eingangsschaltkreis
(IG-SW-Eingangsschaltkreis) 11, der in der elektronischen
Einheit 3 vorgesehen ist, verbunden. Der angetriebene Fenster-auf-Schalter 2b ist
mit einem angetriebenen Fenster-auf-Schalter-Eingangsschaltkreis
(LEISTUNG-FENSTER-AUF-SW-Eingangsschaltkreis) 12 verbunden,
der in der elektronischen Einheit 3 verwendet wird. Der
angetriebene Fenster-ab-Schalter 2c ist mit einem angetriebenen
Fenster-ab-Schalter-Eingangsschaltkreis (LEISTLUNG-FENSTER-AB-SW-Eingangsschaltkreis) 13 verbunden,
der in der elektronischen Einheit 3 verwendet wird. Der
Türverriegelungsschalter 2d ist
mit einem Türverriegelungsschalter-Eingangsschaltkreis (TÜR-VERRIEGELUNGS-SW-Eingangsschaltkreis) 14 verbunden,
der in der elektronischen Einheit 3 verwendet wird. Der
Türentriegelungsschalter 2e ist
mit einem Türentriegelungsschalter-Eingangsschaltkreis (TÜR-ENTRIEGELUNGS-SW-Eingangsschaltkreis) 15 verbunden,
der in der elektronischen Einheit 3 vorgesehen ist. Dann
ist der Türschalter 2f mit
einem Türschalter-Eingangsschaltkreis
(TÜR-SW-Eingangsschaltkreis) 16 verbunden,
der in der elektronischen Einheit 3 verwendet wird. Auch
werden die von den jeweiligen Eingangsschaltkreis 11 bis 16 ausgegebenen
Signale in einen Microcomputer 17 eingegeben, der einen
ROM, einen RAM und eine CPU umfaßt. Da ein Innenraum- (Decken-)
Leuchtenschaltkreis 18, ein Türverriegelungs-Ausgangsschaltkreis 19,
ein Türentriegelungs-Ausgangsschaltkreis 20,
ein angetriebener Fenster-auf-Ausgangsschaltkreis 21 und
ein angetriebener Fenster-ab-Ausgangsschaltkreis 22 durch
diesen Microcomputer 17 gesteuert werden, werden die Innenraumleuchte 23,
der Türverriegelungsmotor 4a und
die angetriebenen Fenstermotore 4b jeweils angesteuert.
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In
diesem Fall stellt 2 ein Schaltkreisdiagramm in
einem solchen Fall dar, in dem alle jeweiligen Eingangsschaltkreise 11 bis 16 mit
dem selben Eingabeport „P0" des Microcomputers 17 verbunden
sind, und zudem alle Ausgangsschaltkreise 18 bis 22 mit
dem selben Ausgabeport P1 des Microcomputers 17 verbunden
sind.
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Die
Testvorrichtung 31 ist ferner mit einer seriellen Kommunikations-Eingabe/Ausgabe-Schnittstelle (serielle
Kommunikations-Eingabe/Ausgabe-Schnittstelle I/F) 32 in
bezug auf die in 12 dargestellte ausgerüstet. Wenn
die jeweiligen Schalter 2a bis f am selben Port sind, wie
in 2 gezeigt ist, wird ein Port basierend auf Portbezeichnungsdaten
(Symbole „DATA
1a" und „DATA 2a", wie in 4 und 5 gezeigt
ist), die in dem seriellen Kommunikationssignal enthalten sind,
bezeichnet, und zudem wird eine vorbestimmte Anweisung durch Anweisungsbefehle „ID1a" und „ID2a" bezeichnet. Folglich
werden die in der elektronischen Einheit 2 ausgeführten Betriebsvorgänge bezeichnet
(worauf ausführlicher
eingegangen wird).
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Dann
verfügt
die Testvorrichtung 3 über
eine Funktion zum direkten und automatischen Ausführen von Schaltbetrieben
der jeweiligen Schalter 2a bis 2f, eine Funktion
zum Eingeben einer vorgewählten
Befehlsanweisung in einen Verbindungspunkt, während die Testvorrichtung mit
dem Verbindungspunkt zwischen den jeweiligen Eingangsschaltkreisen 11 bis 16 der
elektronischen Einheit 3 und den jeweiligen Schaltern 2a bis 2f verbunden
ist; eine Funktion zum Empfangen der jeweiligen Ausgabesignale,
die von den jeweiligen Ausgangsschaltkreisen erhalten werden, während die
Testvorrichtung mit den jeweiligen Ausgangsschaltkreisen 18 bis 22 der
elektronischen Einheit 3 verbunden ist; und eine Funktion
zum Beurteilen, ob die jeweiligen Ausgabesignale, die von den jeweiligen
Ausgangsschaltkreisen 18 bis 22 erhalten werden,
entweder mit den Schaltbetrieben der jeweiligen Schalter 2a bis 2f oder
der Befehlsanweisung übereinstimmen,
die in die Verbindungspunkte zwischen den jeweiligen Eingangsschaltkreisen 11 bis 16 der
elektronischen Einheit 3 und den jeweiligen Schaltern 2a bis 2f eingegeben
wurde.
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3 ist
ein Diagramm zur Darstellung einer Verbindungsverdrahtungsleitungs-Anordnung
gemäß einer
weiteren Ausführungsform,
die die vorstehend erörterte
Verbindungsbeziehung ersetzt. Wie in 3 gezeigt
ist, wird in dem Fall, daß die
jeweiligen Schalter 2a bis 2f über unterschiedliche Verbindungsanschlüsse mit
der elektronischen Einheit 3 verbunden sind, wenn die gemeinsam
verwendeten Ports P0 und P1 nicht verwendet werden, die nachstehend
erwähnte
Schaltkreisanordnung eingerichtet. Damit ist gemeint, daß eine Mehrzahl
von Verbindungsleitungen 33a bis 33f in Signalpfaden
angeordnet sind, die von der seriellen Kommunikations-Eingabe/Ausgabe-Schnittstelle 32 der
Testvorrichtung 31 bis zu den Verbindungspunkten zwischen
den jeweiligen Schaltern 2a bis 2f und den jeweiligen
Eingangsschaltkreisen 11 bis 16, die in der elektronischen
Einheit 3 verwendet werden, definiert sind. Zudem ist eine
Mehrzahl von Verbindungsleitungen 34a bis 34e in
den Signalpfaden zwischen den jeweiligen Ausgangsschaltkreisen 18 bis 22,
die in der elektronischen Einheit 3 verwendet werden, und
den jeweiligen Lasten 4a, 4b und 23 angeordnet. Ähnlich dem
bekannten Schaltkreis werden die jeweiligen Schalter 2a bis 2f sogar
durch manuellen Betrieb (siehe 12) direkt ein/ausgeschaltet.
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Bei
Verwendung dieser Schaltkreisanordnung kann die elektronische Einheit 3 nicht
nur durch Ein/Ausschalten der jeweiligen Schalter 2a bis 2f als
Reaktion auf das vorstehend beschriebene Betriebssignal, das von
der Testvorrichtung 31 ausgegeben wird, sondern auch durch
Empfangen der seriellen Kommunikationssignale, die von der Testvorrichtung 31 an
die jeweiligen Eingangsschaltkreise 11 bis 16 direkt
geliefert werden, betrieben werden. Zudem kann die Testvorrichtung 31 ohne
weiteres dahingehend eine Bestätigung
vornehmen, ob die elektronische Einheit 3 Ausgaben entsprechend
der seriellen Dateninformationen vornimmt, die auf die Eingangsschaltkreise 11 bis 16 angewendet
werden, da die seriellen Kommunikationssignale, die von den jeweiligen
Ausgangsschaltkreisen 18 bis 22 erhalten werden,
an die serielle Kommunikations-Eingabe/Ausgabeschnittstelle 32 der
Testvorrichtung 31 geliefert werden. Zudem kann eine Mehrzahl
von Eingangsschaltkreisen 11 bis 16 und eine Mehrzahl
von Ausgangsschaltkreisen 18 bis 22 durch direktes Ein/Aus-Schalten
eines willkürlichen
Schalters der Schalter 2a bis 2f durch die Testvorrichtung 31 und
durch Zurücksenden
der Eingabeinformationen von der elektronischen Einheit 3 über die
Verbindungsleitungen 33a bis 33f an die serielle
Kommunikations-Ausgabe/Eingabe-Schnittstelle 32 der Testvorrichtung 31 getestet
werden.
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Als
das serielle Kommunikationssystem wird ein spezifisches Kommunikationsprotokoll
eines solchen seriellen Kommunikationssystems verwendet, in dem
die Testvor richtung 31 als Master-Einheit und die elektronische
Einheit 3 als eine Slave-Einheit verwendet wird. Im Grunde
wird also das nachstehend erläuterte Kommunikationssystem
verwendet. Das heißt,
daß zunächst ein
Anweisungs-Frame von der Testvorrichtung 13 an die elektronische
Einheit 3 gesendet wird, und die elektronische Einheit 3 ein
Anwort-Frame an die Testvorrichtung 31 zurücksendet.
Dabei empfängt
die elektronische Einheit 3 ein Anweisungs-Frame über die
momentan verfügbaren
Eingangsschaltkreise 11 bis 16 und überträgt ein Antwort-Frame
entsprechend diesem Anweisungs-Frame
durch Verwenden der momentan verfügbaren Ausgangsschaltkreise 18 bis 22.
Der vorstehend erwähnte
Testbetrieb wird mittels der seriellen Kommunikation gemäß einem
für den
Testzweck bestimmten Softwareprogramm ausgeführt, das in dem Microcomputer 17,
der in der elektronischen Einheit 3 verwendet wird, durch
den Betrieb der CPU 17a erstellt wird.
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Anschließend erfolgt
eine Beschreibung des seriellen Kommunikationsprotokolls. Wie in 4 dargestellt,
wird das Anweisungs-Frame, das von der Testvorrichtung 31 an
die elektronische Einheit 3 gesendet wird, zunächst durch
den Anweisungsbefehl ID1a, der eine Länge von 8 Bit aufweist und
einen Inhalt einer Anweisung anzeigt, und die Portbezeichnungsdaten
DATA1a, die eine Länge
von 8 Bit aufweisen, gebildet. Diese Portbezeichnungsdaten DATA1a
werden verwendet, um einen Ausgabeport und einen Eingabeport zu bezeichnen,
der getestet werden sollen. In diesem Fall stellt eine Tabelle 1
eine List des Anweisungsbefehls ID1a dar, und eine Tabelle 2 bezeichnet
eine Liste der Portbezeichnungsdaten DATA1a.
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In
dieser Tabelle 1 stehen die Symbole „D0" bis D7" für
die jeweiligen Bitdaten, die in dem Anweisungsbefehl ID1a enthalten
sind. In der Tabelle 2 stehen die Symbole „DAT0" bis „DAT7" für
die jeweiligen Bitdaten, die in den Portbezeichnungsdaten DATA1a
enthalten sind. Was die Anweisungsbefehle und die Portbezeichnungsdaten
angeht, bestehen mehrere Möglichkeiten,
daß eine
Gesamtanzahl von Anweisungen nach Wunsch erhöht wird und die Portanzahl
nach Wunsch erhöht
wird, was von der Einheitsskala der elektronischen Einheit 3 abhängt. Wie
in 5 dargestellt ist, können dem Frame somit nach Bedarf
ein weiterer Anweisungsbefehl ID2a und weitere Portbezeichnungsdaten
DATA2a hinzugefügt
werden.
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Ähnlich dem
vorstehend beschriebenen Anweisungs-Frame besteht das Antwort-Frame,
das von der elektronischen Einheit 3 an die Testvorrichtung 31 geliefert
wird, aus Antwortinformationen ID1b, die eine Länge von 8 Bit aufweisen und
einen Inhalt einer Antwort anzeigen; und auch aus Portbezeichnungsdaten DATA1b,
die eine Länge
von 8 Bit aufweisen und einen Ausgabeport und auch einen Eingabeport
bezeichnen, der nach Wunsch getestet wird. In diesem Fall zeigt
eine Tabelle 3 eine Liste von Antwortinformationen ID1b an, und
eine weitere Tabelle 4 stellt eine Liste der Portbezeichnungsdaten
DATA1b dar.
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Es
ist zu beachten, daß die
Symbole „D0" bis „D7", die in Tabelle
3 gezeigt sind, die jeweiligen Bitdaten, die in den Antwortinformationen
ID1b enthalten sind, anzeigen, und daß die Symbole „DAT0" bis „DAT7" die jeweiligen Bitdaten
darstellen, die in den Portbezeichnungsdaten DATA1b enthalten sind.
Was die Anweisungsbefehle und die Portbezeichnungsdaten angeht,
so bestehen mehrere Möglichkeiten,
eine Gesamtanzahl der Anweisungen nach Wunsch zu erhöhen, und
die Portanzahl soll erhöht
werden, was von der Einheitsskala der elektronischen Einheit 3 abhängt. Wie
in 7 dargestellt, können dem Frame folglich nach
Bedarf weitere Antwortinformationen ID2b und weitere Portbezeichnungsdaten
DATA2b hinzugefügt
werden.
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Es
erfolgt nun eine Beschreibung der Betriebsvorgänge des Verfahrens zum Testen
der im Fahrzeug befindlichen elektronischen Einheit unter Verwendung
der vorstehend beschriebenen Anordnung.
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In
einer ersten Stufe wird der elektronischen Einheit 3 zum
Starten eines Testmodus eine Anweisung ausgegeben. In diesem Fall
wird in die elektronische Einheit 3 eine spezifische Eingabe
gemacht, indem die vorbestimmten Schalter 2a bis 2f als
Reaktion auf entweder ein serielles Kommunikationssignal oder Betriebssignal,
das von der ein Testvorrichtung 31 geliefert wird, ein/ausgeschaltet
werden. Wenn in diesem Fall eine solche spezifische Eingabe an die
elektronische Einheit 3 geliefert wird, indem die Schalter 2a bis 2f ein/ausgeschaltet
werden, ist der nachstehende spezifische Betrieb erforderlich, um
Verwechslungen mit den Schaltbetrieben der Schalter 2a bis 2f im
Normalmodus zu vermeiden. Damit ansonsten der Betriebsmodus der
elektronischen Einheit 3 nicht in den Testmodus eingegeben
wird, während
diese elektronische Einheit 3 tatsächlich im Kraftfahrzeug betrieben
wird, erfolgt ein solcher Betrieb der elektronischen Einheit 3 niemals
bezüglich einer
logischen Operation im normalen Schaltbetrieb, beispielsweise werden
alle Schalter 2a bis 2f zur selben Zeit eingeschaltet.
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Wenn
dann der Microcomputer 17, der in der elektronischen Einheit
vorgesehen ist, beurteilt, ob die spezifische Eingabe in diese elektronische
Einheit 3b bei Schritt S1 von 8 eingegeben
worden ist, wird der im Microcomputer 17 ausgeführte Prozeßbetrieb
auf den „Testmodus" geschaltet. Bei
Schritt S2 wird danach ein serielles Kommunikationssignal, wie es
in 4 und den Tabellen 1 und 2 angezeigt
ist, von der Testvorrichtung 31 an die elektronische Einheit 3 übertragen.
Wie später
erläutert
wird, werden die jeweiligen Eingangsschaltkreise 11 bis 16 und
die jeweiligen Ausgangsschaltkreise 18 bis 22 getestet.
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In
dem Fall, daß ein
Anweisungs-Frame „Anforderung
Beenden von Testmodus",
das in der untersten Spalte der Tabelle 1 angezeigt ist, in dem
seriellen Kommunikationssignal enthalten ist, das von der Testvorrichtung 31 erhalten
wird, beurteilt der Microprozessor 17 nunmehr diese Tatsache
bei einem Schritt 53 und schaltet den Betrieb der elek tronischen
Einheit 3 von „Testmodus" auf „Normalmodus". Dann wird der Testverfahrens-Prozeßbetrieb
bei einem Schritt S4 weitergeführt.
Bei diesem Schritt S4 empfängt
die elektronische Einheit 3 die Anweisungssignale, die
die ursprünglich
implizierten Schaltbetriebe der Schalter 2a bis 3f anweisen,
so daß der
normale Prozeßbetrieb,
wie z. B. die Auf-/Ab-Betriebe des Betriebs des angetriebenen Fensters
und der Türverriegelung,
ausgeführt
wird.
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In
dem Fall, daß die
elektronische Einheit 3 ein beliebiges anderes Anweisungs-Frame
außer
dem vorstehend erläuterten,
in Tabelle 1 angezeigten Anweisungs-Frame „Anforderung Beenden von Testmodus" empfängt, das
in einem seriellen Kommunikationssignal enthalten ist, das von der
Testvorrichtung 31 geliefert wird, führt der Microcomputer 17 wiederholt
die Prozeßbetriebe
aus, die von Schritt s1 bis Schritt S3 definiert sind.
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Anschließend wird
an dieser Stelle der Prozeßbetrieb,
der im „Testmodus" ausgeführt wird,
ausführlicher
erläutert.
Wie in 2 gezeigt ist, wird in diesem Modus die nachstehende
Iniitialbedingung erstellt. Das heißt, während der Zündschalter-Eingangsschaltkreis 11 als
eine Schnittstelle zum Empfangen eines seriellen Signals verwendet
wird, das von der Testvorrichtung 31 gesendet wird, und
außerdem
der Innenraumleuchten-Schaltkreis 18 als eine Schnittstelle
zum Übertragen
eines seriellen Signals an die Testvorrichtung 31 verwendet
wird, sind die jeweiligen Eingangsschaltkreise 11 bis 16 mit
dem selben Port P0 des Microcomputers 17 verbunden, und
ferner sind alle Ausgangsschaltkreise 18 bis 22 mit
dem selben Port P1 des Microcomputers 17 verbunden. Wie
außerdem
den vorstehenden Erläuterungen
zu entnehmen ist, wird der sequentielle Betrieb dieses Testmodus
nicht grundlegend geändert,
selbst in dem Fall, daß der
Microcomputer 17 eine Mehrzahl von Eingabe-/Ausgabeports
besitzt, wohingegen sowohl die Eingangsschaltkreise 11 bis 16 als
auch die Ausgangsschaltkreise 18 bis 22 in komplexer
Weise über
eine Mehrzahl von Eingabe-/Ausgabeports verbunden sind.
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Was
das Verfahren zum Testen des Eingangsschaltkreises angeht, wird
zunächst
ein Betriebssignal von der Testvorrichtung 31 ausgegeben,
so daß der
Zündschalter 2a,
der angetriebene Fenster-auf-Schalter 2b, der angetriebene
Fenster-ab-Schalter 2c, der Türverriegelungsschalter 2d,
der Türentriegelungsschalter 2e und
der Türschalter 2f allesamt
automatisch eingeschaltet werden. Die jeweiligen Eingangsschaltkreise 11 bis 16,
die in der elektronischen Einheit 3 verwendet werden, übertragen
die momentanen Schaltbedingungen der jeweiligen Schalter 2a bis 2f an
den Microcomputer 17.
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Anschließend wird
eine Eingabezustands-Rücksendeanweisung
von der Testvorrichtung 31 an die elektronische Einheit 3 übertragen,
und diese Eingabezustands-Rücksendeanweisung
wird verwendet, um den Eingabezustand des Ports P0 des Microcomputers 17 der
elektronischen Einheit 3 an diese Testvorrichtung zurückzusenden.
Diese Eingabezustands-Rücksendeanweisung
wird als das serielle Kommunikationssignal, das in 4 gezeigt
ist, an die elektronische Einheit 3 übertragen.
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Als
Reaktion auf die Eingabezustands-Rücksendeanweisung, die von der
Testvorrichtung 31 gesendet wird, überträgt die elektronische Einheit 3 überträgt das Antwort-Frame, das in 6 gezeigt
ist, an die Testvorrichtung 31. Dieses Antwort-Frame enthält Erfassungsergebnisse,
die dadurch erstellt werden, daß die
jeweiligen Eingangsschaltkreise 11 bis 16 die
EIN-Zustände
der jeweiligen Schalter 2a bis 2f erfassen.
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Als
Reaktion auf das Antwort-Frame, das von der elektronischen Einheit 3 gesendet
wird, beurteilt die Testvorrichtung 31, ob die EIN-Zustände der
jeweiligen Schalter 2a bis 2f auf der Seite der
jeweiligen Eingangsschaltkreise 11 bis 11 erfaßt werden
können
oder nicht. Genauer gesagt, identifiziert der Microcomputer 17 die
Betriebssignale, die von der Testvorrichtung 31 ausgegeben
werden, wenn die Testvorrichtung 31 die Schalter 2a bis 2f direkt
einschaltet, wobei die Informationen in dem Antwort-Frame gespeichert
sind. Wenn die Schalter 2a bis 2f deren EIN-Zustände durch
die elektronische Einheit 3 bestätigt werden, mit den eingeschalteten
Schaltern 2a bis 2f in Übereinstimmung gebracht werden,
dann ist davon auszugehen, daß diese Eingangsschaltkreise 11 bis 16 den
Test bestehen können.
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Daran
anschließend
erfolgt an dieser Stelle eine Beschreibung des Verfahrens zum Testen
des Ausgangsschaltkreises.
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Zunächst liefert
die Testvorrichtung 31 eine Ausgabeanweisung als ein serielles
Kommunikationssignal, das in 4 gezeigt
ist, an die elektronische Einheit 3. Diese Ausgabeanweisung
wird dazu verwendet, ein Signal vom Port P1 des Microcomputers auszugeben.
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In
der elektronischen Einheit 3 wird die Ausgabeanweisung,
die von der Testvorrichtung 31 gesendet wird und in den
Zündschalter-Eingangsschaltkreis 11 eingegeben
wird, durch den Microcomputer 17 empfangen. Als Reaktion
auf die Ausgabeanweisung, die von der Testvorrichtung 31 gesendet
wird, überträgt der Microcomputer 17 das
Antwort-Frame, das in 6 gezeigt ist, über den
Port P1 und den Innenraumleuchten-Schaltkreis 18 an die Testvorrichtung 31.
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In
der Testvorrichtung 31 analysiert der Microcomputer (nicht
gezeigt) dieser Testvorrichtung 31 das Antwort-Frame, das
von dem Microcomputer 17 der elektronischen Einheit 3 über sowohl
den Port P1 als auch den Innenraumleuchten-Schaltkreis 18 geliefert
wird, und bestätigt
dann, ob das Ausgabesignal vom Port P1 entsprechend der Ausgabeanweisung
unter Normalbedingung erhalten wird. Genauer gesagt vergleicht der Microcomputer 17 der
Testvorrichtung 31 das serielle Kommunikationssignal, das
von dem Port P0 des Microcomputers 17 übertragen wird, der in der
elektronischen Einheit 3 verwendet wird, wobei das vorstehend
beschriebene Ausgabesignal über
sowohl den Port P1 als auch den Innenraumleuchten-Schaltkreis 18 erfaßt wird,
und beurteilt dann ob die korrekte Entsprechungsbeziehung basierend
auf der Signalidentifizierung eingerichtet werden kann oder nicht,
um die OK/NG-Beurteilung auszuführen.
Somit kann der Microcomputer der Testvorrichtung 31 einen
im Kommunikationsfehler aufgetretenen Ausfall (NG) diagnostizieren.
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In
Zusammenhang mit dieser Beurteilung wird der Spannungstest, der
in herkömmlicher
Weise ausgeführt
worden ist, ausgeführt.
In anderen Worten wird eine Ausgangsspan nung, die von dem Port P1 über den
Innenraumleuchten-Schaltkreis 18 erfaßt wird, durch das A/D-Voltmeter 6 gemessen
und wird dann durch dieses A/D-Voltmeter 6 in ein digitales
Signal umgewandelt. Dieses digitale Signal wird in die Testvorrichtung 31 eingegeben.
Wenn dann der Wert der erfaßten
Ausgangsspannung an die geregelte Spannung angepaßt ist,
kann dann davon ausgegangen werden, daß die Ausgangsschaltkreise 18 bis 22 den
Test bestehen können.
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Wie
zuvor bezüglich
des vorstehenden Ausführungsmodus
beschrieben wurde, kann in dem Fall, daß die Eingangsschaltkreise 11 bis 16 und
die Ausgangsschaltkreise 18 bis 22 durch Verwenden
der seriellen Kommunikation getestet werden, selbst wenn die Schalter 2a bis 2f basierend
auf der komplexen Logiktheorie nicht direkt manipuliert werden,
eine Mehrzahl von Test innerhalb einer kurzen Zeitdauer gleichzeitig
ausgeführt
werden. Somit kann die Testzeit weitgehend verkürzt werden.
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Da
die momentan verfügbaren
Eingangsschaltkreise 11 bis 16 und die momentan
verfügbaren
Ausgangsschaltkreise 18 bis 22, die in der elektronischen
Einheit 3 verwendet werden, in der seriellen Kommunikation,
die zwischen der Testvorrichtung 31 und der elektronischen
Einheit 3 ausgeführt
wird, direkt verwendet werden können,
besteht keine Notwendigkeit, den Schnittstellenschaltkreis, der
diesen Eingangs/-Ausgangsschaltkreisen
dediziert ist, neu einzustellen. Somit kann vermieden werden, daß die elektronische
Einheit 3 zu große
Abmessungen erlangt und deren Fertigungskosten ansteigen.
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Ferner
gibt es in bezug auf die elektronische Einheit 3 eine große Vielzahl
an Möglichkeiten,
so daß selbst
eine ECU, die für
einen anderen Fahrzeugtyp gefertigt worden ist, über den Zündschalter-Eingangsschaltkreis
und den Innenraumleuchten-Schaltkreis verfügt, die in der Ausführungsform
verwendet werden. Somit können
unterschiedliche Arten von ECUs derart getestet werden, daß ein einziger
Gerätesatz
einer Testvorrichtung 31 ein Testprogramm und eine externe
Last schaltet, die exklusiv gefertigt wurden. Da die Testvorrichtung 31 nicht
neu entwickelt werden muß,
kann dies dazu beitragen, die für
Betriebsanlagen anfallenden Kosten niedrig zu halten.
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In
der vorstehenden Ausführungsform
wird die Befehlsanweisung über
das Datenendgerät
in Form des seriellen Kommunikationssignals erteilt, das von der
seriellen Kommunikationsschnittstelle 32 der Versandtestvorrichtung 31 ausgegeben
wird. Alternativ kann in dem Fall, daß der Masseschalter 2a und
dergleichen mit dem Zündschalter-Eingangsschaltkreis
(IG-SW-Eingangsschaltkreis) 11 verbunden sind, ein vorgewähltes spezifisches
Signal an den Zündschalter-Eingangsschaltkreis
(IG-SW-Eingangsschaltkreis) 11 geliefert werden, indem
der Schalter 2a und dergleichen als Reaktion auf das serielle
Signal, das von der seriellen Kommunikationsschnittstelle 32 gesendet
wird, ein/ausgeschaltet wird, um den elektronischen Schaltkreis
zu testen. In dem alternativen Fall, in dem der Schalter 2a und
dergleichen durch ein Schalterelement bei Verwendung eines Halbleiters,
wie z. B. eines Transistors, oder eines elektromagnetischen Relais,
gebildet ist, kann der Schalter 2a und dergleichen ohne
weiteres als Reaktion auf das vorstehende serielle Signal geschaltet
werden. Obgleich eine Befehlsanweisung manuell eingegeben werden
kann, kann ein menschlicher Bediener den Schalter 2a alternativ
direkt ein/ausschalten. In diesem alternativen Fall kann ein fehlerhafter
Betrieb des Microcomputers 17 verhindert werden, indem
die Befehlsanweisung als ein spezifisches Signal eingegeben wird,
das eigentlich nicht auftaucht, während der normale Schaltbetrieb
ausgeführt
wird.
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Wenn
die jeweiligen Eingangsschaltkreise getestet werden, nachdem der
Schaltbetrieb der jeweiligen Schalter ausgeführt worden ist, wird die Befehlsanweisung
erfindungsgemäß in den
Verbindungspunkt zwischen den jeweiligen Eingangsschaltkreisen der
elektronischen Einheit und den jeweiligen Schaltern eingegeben.
Diese Befehlsanweisung weist an, daß Informationen über eine
Bedingung des Schaltbetriebs der Schalter in bezug auf die jeweiligen
Eingangsschaltkreise zurückgesendet
werden. Die Bedingungsinformationen über den Schaltbetrieb der Schalter,
die von dem Ausgangsschaltkreis ausgegeben werden, werden als Reaktion
auf die Befehlsanweisung ausgegeben, und der Microcomputer beurteilt,
ob die empfangenen Bedingungsinformationen des Schaltbetriebs der
Schalter mit den Schaltbetrieben der jeweiligen Schalter übereinstimmt
oder nicht. Wenn die jeweiligen Ausgangsschaltkreise getestet werden,
wird zudem als die Befehlsanweisung ein dem Betriebssignal ähnliches
Betriebssignal in den Verbindungspunkt zwischen den jeweiligen Eingangsschaltkreisen
der elektronischen Einheit und den jeweiligen Schaltern eingegeben,
wenn die Schalter in bezug auf die jeweiligen Eingangsschaltkreise
geschaltet werden. Das Ausgabesignal, das von dem Ausgangsschaltkreis
ausgegeben wird, wird als Reaktion auf die Befehlsanweisung empfangen,
und der Microcomputer beurteilt, ob das empfangene Ausgabesignal
mit jedem Betriebssignal als die Befehlsanweisung übereinstimmt
oder nicht. Während
der momentan verfügbare
Eingangsschaltkreis und auch die momentan verfügbaren Ausgangsschaltkreise
direkt verwendet werden, ohne den dedizierten Schnittstellenschaltkreis auf
seiten der elektronischen Einheit neu einzustellen, können somit
diese Eingangsschaltkreise und auch Ausgangsschaltkreise ohne weiteres
getestet werden. Somit kann vermieden werden, daß die elektronische Einheit
zu große
Abmessungen erlangt und deren Fertigungskosten ansteigen.
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Da
entweder die mehreren Eingangsschaltkreise oder die mehreren Ausgangsschaltkreise
gleichzeitig getestet werden können,
besteht dahingehend ein Vorteil, daß die Testzeit im Vergleich
zu der Testzeit, die zum separaten Testen dieser Eingangsschaltkreise
und Ausgangsschaltkreise erforderlich ist, weitgehend reduziert
werden kann.
