DE69805039T2 - Verfahren und System zum Testen eines kontaktlos arbeitenden integrierten Schaltkreises und einer Eingangskapazität eines solchen integrierten Schaltkreises - Google Patents
Verfahren und System zum Testen eines kontaktlos arbeitenden integrierten Schaltkreises und einer Eingangskapazität eines solchen integrierten SchaltkreisesInfo
- Publication number
- DE69805039T2 DE69805039T2 DE69805039T DE69805039T DE69805039T2 DE 69805039 T2 DE69805039 T2 DE 69805039T2 DE 69805039 T DE69805039 T DE 69805039T DE 69805039 T DE69805039 T DE 69805039T DE 69805039 T2 DE69805039 T2 DE 69805039T2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- integrated circuit
- testing
- input capacitance
- contactless
- contactless integrated
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/302—Contactless testing
- G01R31/315—Contactless testing by inductive methods
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
- G01R31/2822—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2836—Fault-finding or characterising
- G01R31/2839—Fault-finding or characterising using signal generators, power supplies or circuit analysers
- G01R31/2841—Signal generators
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR9714685A FR2771181B1 (fr) | 1997-11-18 | 1997-11-18 | Procede et systeme de test d'un circuit integre a fonctionnement sans contact |
FR9805986A FR2771182B1 (fr) | 1997-11-18 | 1998-05-06 | Procede et systeme de test d'un circuit integre a fonctionnement sans contact, et d'une capacite d'entree d'un tel circuit integre |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69805039D1 DE69805039D1 (de) | 2002-05-29 |
DE69805039T2 true DE69805039T2 (de) | 2002-11-21 |
Family
ID=26233945
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69805039T Expired - Lifetime DE69805039T2 (de) | 1997-11-18 | 1998-11-17 | Verfahren und System zum Testen eines kontaktlos arbeitenden integrierten Schaltkreises und einer Eingangskapazität eines solchen integrierten Schaltkreises |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6181152B1 (de) |
EP (1) | EP0916957B1 (de) |
DE (1) | DE69805039T2 (de) |
FR (1) | FR2771182B1 (de) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2489262B (en) * | 2011-03-23 | 2016-07-06 | Alstom Technology Ltd | Testing apparatus |
EP2709041B1 (de) | 2012-09-17 | 2014-11-12 | Nxp B.V. | Verfahren und System zur Überwachung des Gesundheitszustandes eines elektronischen Datenträgers |
CN110907680B (zh) * | 2018-09-14 | 2022-03-01 | 台达电子工业股份有限公司 | 电流检测装置、方法及系统 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3732490A (en) * | 1971-06-07 | 1973-05-08 | Hewlett Packard Co | Impedance probe for swept network analyzer system |
GB2111222B (en) * | 1981-10-02 | 1986-01-15 | Bonar Instr Limited | Series-resonant test-voltage source |
US4659983A (en) * | 1985-09-27 | 1987-04-21 | General Motors Corporation | Method and apparatus for detecting a shorted SCR |
DE3812633A1 (de) * | 1988-04-15 | 1989-10-26 | Daimler Benz Ag | Verfahren zur kontaktlosen widerstandsmessung |
US5124660A (en) * | 1990-12-20 | 1992-06-23 | Hewlett-Packard Company | Identification of pin-open faults by capacitive coupling through the integrated circuit package |
US5696451A (en) * | 1992-03-10 | 1997-12-09 | Hewlett-Packard Co. | Identification of pin-open faults by capacitive coupling |
DE4215957C2 (de) * | 1992-05-14 | 1994-05-19 | Siemens Ag | Einrichtung zur Informationsübertragung mit einem stationären Teil und einer tragbaren Datenträgeranordnung |
JP3819958B2 (ja) * | 1996-03-19 | 2006-09-13 | 株式会社ルネサステクノロジ | 非接触型icカード及びその内蔵icのテスト方法 |
-
1998
- 1998-05-06 FR FR9805986A patent/FR2771182B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 1998-11-17 US US09/193,768 patent/US6181152B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-11-17 EP EP98121544A patent/EP0916957B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-11-17 DE DE69805039T patent/DE69805039T2/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0916957B1 (de) | 2002-04-24 |
FR2771182B1 (fr) | 2000-01-28 |
US6181152B1 (en) | 2001-01-30 |
DE69805039D1 (de) | 2002-05-29 |
FR2771182A1 (fr) | 1999-05-21 |
EP0916957A1 (de) | 1999-05-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE59406787D1 (de) | Radargerät und verfahren zu seinem betrieb | |
DE69614728T2 (de) | Verfahren und Anordnung zur "Datenpipelinung" in einer integrierten Schaltung | |
DE69629420D1 (de) | Verfahren und Einrichtung zum Einstellen eines elektronischen Geräts | |
DE69520850T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Messen von Urinbestandteilen | |
DE69618259D1 (de) | System und Verfahren für eine elektronische Programmzeitschrift | |
DE69939495D1 (de) | Verfahren und system zum testen von computercodes | |
DE69230477D1 (de) | Prüfmustererzeugungseinrichtung für sequentielle Logikschaltung einer integrierten Schaltung und Verfahren dazu | |
DE69801800T2 (de) | Verfahren zum Prüfen einer induktiven Resonanzschaltung | |
DE59813158D1 (de) | Verfahren zum Testen einer elektronischen Schaltung | |
DE69530814D1 (de) | Verfahren und Gerät zur Detektion eines Eingangsignals | |
DE69720157T2 (de) | System und Verfahren zur Prüfung elektronischer Geräte | |
DE69830967D1 (de) | Verfahren und System zur Prüfung einer integrierten Schaltung | |
DE69215090D1 (de) | Verfahren und System zum Testen eines integrierten Schaltkreises mit Abfragedesign | |
DE69520634T2 (de) | Verfahren und Gerät zur mechanischen Prüfung einer Chipkarte | |
DE69805039D1 (de) | Verfahren und System zum Testen eines kontaktlos arbeitenden integrierten Schaltkreises und einer Eingangskapazität eines solchen integrierten Schaltkreises | |
DE59505038D1 (de) | System und verfahren zum prüfen der korrekten position einer kontaktinseln und leiterbahnen aufweisenden leiterplatte in einer prüfvorrichtung | |
DE69513250D1 (de) | Verfahren und Gerät zur Prüfung integrierter Schaltungen | |
DE59802233D1 (de) | Verfahren zum prüfen einer integrierten schaltung | |
DE59912334D1 (de) | Verfahren zum testen einer integrierten schaltungsanordnung und integrierte schaltungsanordnung hierfür | |
DE69503383T2 (de) | Vorrichtung zum prüfen von wertgegenständen und verfahren zum kalibrieren einer solchen vorrichtung | |
DE19881925D2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Überprüfung eines Fluidauftrages | |
DE69722267T2 (de) | Verfahren und gerät zum kanalführen einer elektronischen vorrichtung | |
DE59902649D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum prüfen von gedruckten leiterplatten | |
DE69600376D1 (de) | Passivierungs-Detektionsverfahren für integrierte Schaltungen | |
DE69736566D1 (de) | Gerät und verfahren zur prüfung von gekapselten schaltungen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition |