DE69801800T2 - Verfahren zum Prüfen einer induktiven Resonanzschaltung - Google Patents

Verfahren zum Prüfen einer induktiven Resonanzschaltung

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2581984A3 (de) * 2011-09-08 2017-08-16 Giesecke+Devrient Mobile Security GmbH Verfahren zum Prüfen einer Antennenspule
EP2765432A3 (de) * 2013-02-07 2018-01-17 Giesecke+Devrient Mobile Security GmbH Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen eines Schaltkreises eines Endgeräts

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2811109B1 (fr) * 2000-06-29 2002-12-27 A S K Objet portable sans contact comportant un ou plusieurs dispositifs peripheriques sans contact
FR2864670B1 (fr) * 2003-12-29 2007-04-27 A S K Procede de distribution et de personnalisation de tickets a puce sans contact et dispositif associe
DE102004032031A1 (de) * 2004-07-02 2006-01-19 Hella Kgaa Hueck & Co. Vorrichtung zum Erfassen der Resonanzfrequenz und Güte eines Schwingkreises in einem Sensor
DE102004032032A1 (de) * 2004-07-02 2006-01-19 Hella Kgaa Hueck & Co. Schaltungsanordnung mit einem Schwingkreis zur Erfassung der Helligkeit
US7456744B2 (en) 2006-05-16 2008-11-25 3M Innovative Properties Company Systems and methods for remote sensing using inductively coupled transducers
US20080018424A1 (en) * 2006-07-10 2008-01-24 3M Innovative Properties Company Inductive sensor
US7948380B2 (en) * 2006-09-06 2011-05-24 3M Innovative Properties Company Spatially distributed remote sensor
CN101949979A (zh) * 2010-08-06 2011-01-19 国电龙源电气有限公司 一种变压器接地线电阻的测量方法
US8847617B2 (en) 2011-04-22 2014-09-30 Apple Inc. Non-contact test system for determining whether electronic device structures contain manufacturing faults
US8742997B2 (en) 2011-05-19 2014-06-03 Apple Inc. Testing system with electrically coupled and wirelessly coupled probes
DE102011112873A1 (de) * 2011-09-08 2013-03-14 Giesecke & Devrient Gmbh Verfahren zum Prüfen einer Antennenspule
DE102012020551A1 (de) * 2012-10-19 2014-04-24 Giesecke & Devrient Gmbh Prüfen eines Schaltkreises
US9851399B2 (en) 2013-02-07 2017-12-26 Giesecke+Devrient Mobile Security Gmbh Method and apparatus for checking a circuit
DE102013004227A1 (de) * 2013-03-11 2014-09-11 Giesecke & Devrient Gmbh Spuleninduktivität
DE102013004194A1 (de) * 2013-03-12 2014-09-18 Giesecke & Devrient Gmbh Messverfahren und Messvorrichtung
EP3884286B1 (de) * 2018-11-21 2023-12-27 Prodrive Technologies Innovation Services B.V. Kurzschlusserkennung einer elektromagnetischen induktionsspule
EP3726230A1 (de) * 2019-04-15 2020-10-21 Prodrive Technologies B.V. Kurzschlusserkennung einer elektromagnetischen induktionsspule
DE102021003014B4 (de) 2021-06-11 2023-11-02 Giesecke+Devrient ePayments GmbH Verfahren zum Bestimmen der Qualität einer elektrischen Verbindung

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3840805A (en) * 1973-06-01 1974-10-08 V Shlyandin Device for measuring parameters of resonant lc-circuit
US4392106A (en) * 1980-12-24 1983-07-05 Yakovlev Nikolai I Non-contact device for monitoring electrical pulse signals
DE3812633A1 (de) * 1988-04-15 1989-10-26 Daimler Benz Ag Verfahren zur kontaktlosen widerstandsmessung
JPH0647513A (ja) * 1992-08-04 1994-02-22 Sumitomo Light Metal Ind Ltd 電磁鋳造装置の破損防止方法
US5631572A (en) * 1993-09-17 1997-05-20 Teradyne, Inc. Printed circuit board tester using magnetic induction
NL1001524C2 (nl) * 1995-10-30 1997-05-02 Doornes Transmissie Bv Meetsysteem.

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2581984A3 (de) * 2011-09-08 2017-08-16 Giesecke+Devrient Mobile Security GmbH Verfahren zum Prüfen einer Antennenspule
EP2765432A3 (de) * 2013-02-07 2018-01-17 Giesecke+Devrient Mobile Security GmbH Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen eines Schaltkreises eines Endgeräts

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Publication number Publication date
EP0916958B1 (de) 2001-09-26
US6236220B1 (en) 2001-05-22
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DE69801800D1 (de) 2001-10-31
EP0916958A1 (de) 1999-05-19
FR2771183A1 (fr) 1999-05-21

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