DE69737649T2 - Eichverfahren - Google Patents

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Description

  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Wellenlängen-Kalibration eines optischen Systems und zur Selbstdiagnose eines derartigen Systems, umfassend eine derartige Kalibrierung.
  • Hintergrund der Erfindung
  • Spektrometersysteme des Stands der Technik machen häufig Gebrauch von einer Deuteriumlampe als eine Lichtquelle. Der Vorteil einer derartigen Lampe ist es, dass sie nett in einer kontinuierlichen Weise brennt, und dass sie ein paar gut definierte Wellenlängenpeaks aufweist. Jedoch ist die Intensität einer Deuteriumlampe relativ gering. In einem Flüssigkeits-Chromatographiesystem erfordern die kleinen Fließzellen hohe Lichtintensität, um angemessene Detektion möglich zu machen. Auch erfordert das optische System, das z.B. Faseroptiken umfasst, mehr Licht, als es durch eine Deuteriumlampe geliefert wird. Wellenlängen-Kalibration in derartigen Systemen wird ausgeführt durch Lokalisieren eines einzelnen Peaks. Dies ergibt unvermeidbar Probleme der Genauigkeit bei den kurzen Wellen- bzw. langen Wellenenden der Wellenlängenskala. Es ist auch sehr wichtig, dass eine ausgewählte Wellenlänge reproduzierbar ist. Die Reproduzierbarkeit, die in einer Kalibration erreichbar ist, sollte mindestens ±2 nm betragen.
  • US-5,212,537 ist gerichtet auf ein Verfahren zur Kalibration für Monochromatoren und Sprektrophotometer unter Verwenden einer kontinuierlichen Lichtquelle, einer Wolframfilament-Quecksilberdampflampe, mit zwei scharfen Intensitätspeaks. Die Position der Peaks wird identifiziert durch Messen der Breite der Peaks bei halber Höhe, und der Mittelpunkt dieser Breite wird als die Position des Peaks genommen. Es würde nicht möglich sein, diese Technik in Zusammenhang mit einer Blitzlampe zu verwenden, z.B. einer Xenonlampe, da die Intensität der Peaks fluktuiert.
  • US-5,268,737 ist gerichtet auf eine Kalibration eines Spektrophotometers. Als die Quelle des kontinuierlichen Lichtes wird eine Deuteriumlampe und eine Wolframlampe verwendet. Ein Referenzpunkt wird bestimmt durch Verwenden von Licht nullter Ordnung. Dies würde nicht möglich sein in Zusammenhang mit der Verwendung von optischen Fasern für die Transmission.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Die Aufgabe der Erfindung ist es, ein verbessertes Kalibrationsverfahren für ein Spektrophotometersystem bereit zu stellen, wobei die Nachteile der Systeme des Stands der Technik behoben werden.
  • Diese Aufgabe wird gelöst mit dem Verfahren nach Anspruch 1.
  • Der Vorteil des Verfahrens, wie es beansprucht ist, ist, dass mittels der hohen Helligkeit der Blitzlampe, die in dem Verfahren verwendet wird, die Menge des Lichtes, das in das System eingeführt wird, vergrößert wird, und dass die Genauigkeit in der Kalibrierung sichergestellt wird über den gesamten Wellenlängenbereich von Interesse.
  • Bevorzugte Ausführungsformen sind in den abhängigen Ansprüchen definiert.
  • Kurze Beschreibung der Ansprüche
  • In den Figuren
  • ist 1 ein Überblick über ein optisches System, in dem die Erfindung implementiert werden kann;
  • ist 2 ein Spektrum für eine Xenon-Blitzlampe; und
  • zeigt 3 schematisch den Mechanismus zum Rotieren des Gitters.
  • Detaillierte Beschreibung einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung
  • In 1 ist ein Überblick über ein Detektionssystem im UV-VIS gezeigt, allgemein bezeichnet mit 2, wobei das Kalibrationsverfahren der Erfindung implementiert ist.
  • Das System umfasst eine Lichtquelle z.B. eine Xenon-Blitzlampe 4, mit einem typischen Emissionsspektrum, wie in 2 gezeigt ist. In einer bevorzugten Ausführungsform beträgt der Abstand zwischen Elektroden in der Lampe annähernd 1,5 mm. Dies ergibt einen Blitz mit sehr hoher Helligkeit. Das System umfasst weiter Linsen 6, die das Licht auf einen Eingangsschlitz 8 fokussieren, ein zentrales im Bezug auf eine konkave Aberration korrigiertes holographisches Gitter 10, das eine Beugung des Lichtes verursacht. Das Gitter besitzt bevorzugt 1200 Linien/mm für die fraglichen Anwendungen, kann aber durch den Fachmann ausgewählt sein, um auf eine besondere Anwendung zu passen. Eine optische Faser 12 ist angeordnet in dem Bereich, in dem das von dem Gitter gebeugte Licht auftrifft, derart, dass es möglich ist, eine Wellenlänge einer bestimmten engen Bandbreite auszuwählen, für die Zwecke der Erfindung im Prinzip monochromatisches Licht, und Licht der Wellenlänge zum Detektionssystem zu übertragen. Durch Rotieren des Gitters 10 um einen Drehpunkt P ist es möglich, eine beliebige Wellenlänge von ungefähr 190 nm bis zu 700 nm auszuwählen. Rotation des Gitters 10 wird erreicht mit einem Schrittmotor 20 (siehe 3), der eine Mikrometerschraube betreibt, schematisch gezeigt bei 22. Ein Mutter-Mittel 23, das auf der Schraube 22 in Längsrichtung verläuft, ist vorgesehen mit einem hervorstehenden Element 25, das einen Stab oder Arm 24 versetzt, der mit einem Ball 27 versehen ist und an das Gitter 10 gesichert. Die Mechanik ist derart entworfen, dass eine lineare Versetzung der Mikrometerschraube 22 eine lineare Versetzung der Wellenlänge des Lichtstrahls, der auf die optische Faser 12 auftrifft, ergibt. Es ist wichtig, dass die longitudinale Achse der Schraube 22 senkrecht zum Bisektor B des Winkels verläuft, der zwischen dem Punkt der Stelle des Eingangsschlitzes 8, dem Drehpunkt P und dem Punkt der Stelle des Endes der optischen Faser 13 gebildet wird. Es ist eine technische Standardlösung, die dem Fachmann gut bekannt ist, und bildet nicht Teil der Erfindung, und wird daher hier nicht weiter diskutiert werden.
  • Weil die Lichtquelle eine Blitzlampe ist, muss das Licht, das in die Faser übertragen wird, in einen Referenzstrahl R, der auf einen Referenzdetektor 14 auftrifft, und einen Detektions- oder Probenstrahl S, der auf einen Probendetektor 16 auftritt, aufgespalten werden. Die Intensität des Lichtes vom Referenzstrahl R, der auf den Referenzdetektor auftritt, wird als I0 bezeichnet. Die Intensität des Lichtes, das auf den Probendetektor auftrifft, wird als I bezeichnet. Der Probenstrahl tritt in eine Zelle ein, z.B. eine Fließzelle 18, durch die Proben von einer chromatographischen Säule (nicht gezeigt) laufen, wobei sie in einem Sammelsystem (nicht gezeigt) zum Sammeln von Fraktionen des eluierten Materials enden, und trifft auf dem Probendetektor 16 auf, der das Vorhandensein der Probe in der Fließzelle 18 als eine Änderung in der übertragenen Intensität I und daher eine Änderung in der Absorbanz A detektiert. Die Absorbanz ist definiert gemäß der gut bekannten Gleichung
    Figure 00040001
  • Die Absorbanz A ist proportional zur Konzentration C und zur Weglänge 1 in der Zelle gemäß der folgenden Gleichung A = εlCwobei ε der molare Absorptionskoeffizient ist.
  • Nun zu 2 kommend ist das Spektrum der Xenonlampe gezeigt. Es ist ein kontinuierliches Spektrum bei den hohen Strömen, die während der Entladung eingesetzt werden, und neben einem sehr breiten Peak bei annähernd 200 nm gibt es ein paar charakteristischer Peaks, die für Kalibrationszwecke eingesetzt werden.
  • Daher wird der Peak bei 229,6 nm als eine Kalibrationswellenlänge verwendet, und der Peak bei 541,9 nm als die andere. Diese Peaks befinden sich im Spektrum erster Ordnung des Gitters. Für Kontrollzwecke wird ein dritter Peak verwendet, nämlich der Spektrumspeak zweiter Ordnung, der 229,6 nm entpricht, d.h. 459,2 nm in der ersten Ordnung.
  • Nun wird die Kalibrationsprozedur beschrieben.
  • Der erster Schritt ist es, die Spannbreite der Mikrometerschraube 22 zwischen ihren Endpositionen zu durchlaufen. Die Endpositionen werden erkannt durch eine optische Erkennungsvorrichtung, die das Vorhandensein oder die Abwesenheit von mechanischen „Marken" 26, die auf der Mikrometerschraube vorgesehen sind, detektiert. Dieser anfängliche Lauf wird ausgeführt, um das Mikrometer zu konditionieren und es durch Verteilung des Öls zu schmieren. Auch wird dadurch ein Steckenbleiben jeglicher Art detektiert und falls es auftritt, wird zu diesem Zwecke eine Botschaft dem Betreiber angezeigt, d.h. eine Kalibration ist nicht möglich.
  • Zweitens wird das Wellenlängenfeld zwischen annähernd 100 und 352 nm gescannt werden, und ein Wert für jedes nm, entsprechend drei Schritten des Schrittmotors, wird detektiert und in einem Datenfeld gespeichert. Der höchste Wert davon wird identifiziert und als max.peak bezeichnet. Die Messung wird ausgeführt wie folgt: nachdem schrittweisen Annähern bis zu einer Position, die 100 nm entspricht (d.h. einer Anzahl von Schritten von der Endposition, die von der zuvor erwähnten Marke bestimmt wird. Diese Anzahl von Schritten ist annähernd bekannt aus der Erfahrung und wird voreingestellt), ruht der Schrittmotor für eine Zeitdauer, die lang genug ist, dass das Detektionsgerät 5 Blitze von der Xenonlampe detektiert. Die Lampe blitzt kontinuierlich bei einer Rate von 100 Hz, so würden 5 Blitze erfordern, dass der Schrittmotor 50 ms ruht, bevor er weiter läuft. Die Intensitäten der 5 Blitze werden addiert und gespeichert als ein Eintrag in dem Datenfeld. Natürlich muss die Anzahl von detektierten Blitzen nicht fünf sein, aber um ein vernünftiges Mitteln von Variationen zu erhalten, wurde fünf ausgewählt als ein guter Kompromiss.
  • Nach der Detektion der fünf Intensitätswerte schreitet der Schrittmotor drei Schritte weiter, entsprechend 1 nm in ein paar Mikrosekunden, und ruht dann wieder, damit das System fünf neue Intensitätswerte detektiert, dieselben addiert und sie in dem Datenfeld speichert. Dies wird wiederholt über dem Bereich 100 bis 352 nm. Weil die Systemoptik Licht in UV-Bereich absorbiert, wird das System nicht „offen" sein bis um 190 nm, und so werden die Detektoren kein Licht bis dorthin sehen.
  • Nachdem der Scan abgeschlossen ist, wird der erste detektierte Intensitätswert über Null, der in dem Datenfeld gespeichert ist (d.h. ein Wert bei annähernd 190 nm oder so), mit dem höchsten detektierten Wert verglichen. Falls der erste Wert geringer als 2% des höchsten Wertes (max. Peak) ist, fährt das System fort. Falls er es nicht ist, wird eine Anzeige zu diesem Zweck angezeigt, was eine Art von Fehlfunktion signalisiert, normalerweise eine defekte Optik. Z.B. könnte Streulicht ein Hintergrundniveau über Null verursachen. Der Wert 2% ist willkürlich ausgewählt als ein vernünftiges Maß, bei dem die Optik genau funktioniert. Falls der Wert höher ist, kann es Artefakte geben, wie Reflektionen von Fremdteilchen etc. Der 2%-Wert ist nicht kritisch und könnte im Prinzip so hoch wie 20% sein. Der Wert bei dem „2%-Punkt" wird als Ausgangspunkt für den nächsten Schritt des Verfahrens genommen.
  • Im nächsten Schritt überprüft das System die Intensitätswerte in dem Datenfeld, um den Peak bei 229,6 nm zu finden. Jedoch kann der breite Peak bei annähernd 200 nm, der oben erwähnt wurde, in einigen Fällen, z.B. extrem hohen Entladungsströmen, eine höhere Peakintensität als der Peak bei 229,6 nm besitzen, und deshalb ist das System programmiert, um in das Datenfeld zu Werten voranzuschreiten, die einem Wert entsprechen, der bei 36 nm (108 Schritten) vom „2%-Punkt" positioniert ist, um diesen breiten Peak zu durchlaufen.
  • Durch Vergleichen der Daten, die durch Autokorrelation gesetzt sind, mit einem idealen Peak, der einer y = –x2 – Kurve entspricht, wird der Peak bei 229,6 nm positioniert. Eine Autokorrelation ist eine Standardtechnik, die umfangreich in der Literatur beschrieben ist, und Bezug wird z.B. genommen auf ein Kompendium „Tidsserieanalys” von Lennart Olbjer, Universität von Lund, für mehr Details und alternative Verfahren.
  • Danach wird der Bereich zwischen 225–235 nm wieder gescannt, wobei nun ein Satz von Messungen für jeden Schritt des Schrittmotors aufgenommen wird, wobei jeder Schritt annähernd 0,33 nm entspricht, um den Peak bei 229,6 nm zu finden. Wieder wird Autokorrelation unter Verwendung der Daten in dem Datenfeld beginnend bei 225 nm verwendet, um die genaue Position des Peaks bei 229,6 nm zu finden. Der Bereich 535–565 nm wird auf dieselbe Weise gescannt, um den Peak bei 541,9 nm zu finden, unter Verwendung desselben Autokorrelationsverfahrens. Natürlich ist es denkbar, das gesamte Spektrum zu scannen, aber um Zeit zu sparen, wird das Scannen begrenzt auf zwei Regionen des Spektrums.
  • Wenn die Peaks etabliert worden sind, wird die Intensität bei 229,6 nm überprüft, um zu sehen, ob sie einen ausgewählten minimalen Wert überschreitet oder nicht.
  • Falls nicht, wird eine Fehlermeldung „geringe Lichtintensität" anzeigen. Dies ist eine Anzeige, dass die Lampe ersetzt werden sollte. Das System speichert auch die Zeit, die die Lampe in Gebrauch war, und nach einer Anzahl von Stunden wird eine Botschaft angezeigt, die ausdrückt, dass die Lampe ersetzt werden sollte.
  • Die Kalibrationskonstante wird berechnet. Sie ist definiert als der Abstand (gezählt in Schritten des Schittmotors) von der „Marke" der Mikrometerschraube zum „Knie" beim „2%-Punkt" auf der Intensitätskurve. Die Kalibrationskonstante wird als ein Anzeichen genommen, dass das System genau funktioniert, falls sie sich innerhalb bestimmter Grenzen befindet. Die Dispersion wird auch berechnet. Die Dispersion ist definiert als eine Anzahl von Schritten/nm, und wird berechnet als
    Figure 00070001
  • Die Dispersion variiert von Durchlauf zu Durchlauf der Gitter und hängt von den Toleranzen des mechanischen Systems ab. Nutzbare Dispersionen sind 2,9–3,1 Schritte/nm.
  • In einem anderen Aspekt der Erfindung wird eine Überprüfung der Kalibration bereitgestellt, d.h. eine Validierprüfung, um zu sehen, ob die Kalibration noch gültig ist. Eine derartige Überprüfung kann nötig sein, falls die Ergebnisse eines chromatographischen Durchlaufs aus einigen Gründen Artefakte aufzuweisen scheinen. Normalerweise „springt" das System zwischen drei Wellenlängen während eines Durchlaufs, und es kann gelegentlich passieren, dass der Schrittmotor hinter einen Schritt springt wegen des Feststeckens auf der Mikrometerschraube etc. Dies kann zu einer Versetzung der Kalibrationseinstellung führen.
  • Die Kalibrationsüberprüfung wird ausgeführt durch erneutes Durchlaufen der Kalibrationsprozedur, aber diesmal nur unter Berechnen der Abweichung in der Kalibrationskonstante und der Dispersion, die bei der Kalibration etabliert wurde. Falls es eine Abweichung gibt, wird das System dem Betreiber eine Botschaft anzeigen, der dann entscheiden kann, zu rekalibrieren.
  • In diesem Prozess gibt es eine extra Prüfung gegen den Spektrumpeak zweiter Ordnung des Peaks bei 229,6 nm, der bei 459,2 nm gefunden wird. Dieser Peak wird während eines chromatographischen Durchlaufs blockiert durch Einführen eines UV-Blockfilters bei 360 nm und höher.
  • Während des Hochlaufens werden andere Überprüfungen ausgeführt, wie eine Lampenintensitätsüberprüfung. Falls die Überprüfung eine niedrige Intensität anzeigt, wird eine Warnbotschaft angezeigt, die eine Notwendigkeit zum Wechseln der Lampe anzeigt. Die Betriebszeit für die Mechanik wird auch von dem System gespeichert und so wird sie automatisch angezeigt, wenn es wahrscheinlich ist, dass das mechanische System einen Service benötigt.

Claims (6)

  1. Verfahren zum Kalibrieren eines optischen Systems, wobei das System umfasst eine Blitzlampe als Lichtquelle (4), ein Linsensystem (6), einen Monochromator, um so das Scannen von im wesentlichen monochromatischem Licht über einem Detektionssystem (14, 16) zu ermöglichen, wobei die Lichtquelle mindestens zwei Hochintensitäts-Peaks bei unterschiedlichen Wellenlängen liefert, wobei das Verfahren die folgenden Schritte umfasst: (i) Scannen eines ersten Wellenlängenbereichs, umfassend den ersten Hochintensitäts-Peak, und Scannen eines zweiten Wellenlängenbereichs, umfassend den zweiten Hochintensitäts-Peak, Messen der Intensitäten an einer ausgewählten Anzahl von Punkten während des Scans, wobei eine Mehrzahl von Messungen ausgeführt wird für jeden der Punkte, wobei die Summe der Mehrzahl von Werten für jeden Punkt als ein Intensitätswert für jenen Punkt in einem Datenfeld gespeichert wird; (ii) grobes Lokalisieren der mindestens zwei Peaks; (iii) Scannen eines Wellenlängenbereichs um jeden der mindestens zwei Peaks, Messen der Intensitäten an engeren Intervallen als in Schritt (i); (iv) Lokalisieren der mindestens zwei Peaks durch Autokorrelation; und (v) Bestimmen des Punktes der Lokalisierung der Peaks als eine Entfernung von einem Referenzpunkt.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei der Monochromator umfasst ein Gitter (10) oder ein Prisma und einen Motor (20), der eine Verlagerung des Gitters verursacht, und wobei die Entfernung der Verlagerung des Gitters entspricht.
  3. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die Autokorrelation zum Lokalisieren der entsprechenden Peaks ausgeführt wird mit den Daten in dem Datenfeld.
  4. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei ein Feldpunkt, der einem ersten detektierten Intensitätswert entspricht und um einen vorgewählten Prozentsatz eines höchsten detektierten Intensitätswerts geringer ist, als ein Ausgangspunkt herangezogen wird, und wobei der erste Peak lokalisiert wird durch schrittweises Annähern an einen Datenpunkt in dem Feld entsprechend einem Wellenlängenwert 36 nm höher als der Punkt entsprechend dem ersten Intensitätswert über Null.
  5. Optisches System, wobei das System umfasst eine Blitzlichtquelle, ein Linsensystem, einen Eingangsschlitz, einen Monochromator in der Form eines konkaven Reflexionsgitters, der mit einem Gitter versehen ist, einen Motor zum Verlagern des Gitters auf eine drehende Weise, um so das Scannen von im wesentlichen monochromatischem Licht über einem Ende einer optischen Faser zu ermöglichen, wobei die optische Faser mit einem Detektionssystem verbunden ist, wobei die Lichtquelle mindestens zwei Hochintensitäts-Peaks bei unterschiedlichen Wellenlängen liefert, und eine Elektronik zum Ausführen eines Kalibrationsverfahrens gemäß einem der vorstehenden Ansprüche.
  6. Optisches System nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass es ein Spektrophotometer ist.
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