DE69721917T2 - Methode zur Reinigung der Oberfläche von Halbleiterkristallen von Elementen der II-VI-Verbindungen des Periodensystems - Google Patents

Methode zur Reinigung der Oberfläche von Halbleiterkristallen von Elementen der II-VI-Verbindungen des Periodensystems Download PDF

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Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Reinigung einer Oberfläche eines Verbindungshalbleiterkristalls der Elemente der Gruppe II–VI des Periodensystems, wie ZnSe, ZnSSe, ZnS, ZnMgSe, ZnMgSSe, ZnTe etc..
  • Bisher wurde berichtet, dass ein ZnSe-Kristall mit einer wässrigen Lösung aus NaOH oder NHaOH/H2O2 geätzt wird oder mit einer gesättigten Lösung aus Kaliumchromat in Schwefelsäure bei 90°C geätzt wird und mit Kohlenstoffdisulfid behandelt wird, wodurch die Kristalloberfläche gereinigt wird (siehe "J. Crystal Growth" 86 (1988), Seiten 324). Des weiteren wurde berichtet, dass ein ZnSe-Kristall mit einer Lösung aus Brom/Methanol geätzt und einem Ultraschallwaschen in Trichlorethylen unterworfen wird (siehe japanische offengelegte Patentveröffentlichung Nr. 18200/1984) und das ein ZnSe-Kristall mit einer Lösung aus Schwefelsäure/Wasserstoffperoxid/Wasser geätzt wird und anschließend mit Kohlenstoffdisulfid gereinigt wird, um das Se auf der Kristalloberfläche zu entfernen (siehe japanische offengelegte Patentveröffentlichung Nr. 109694/1993).
  • Gemäß der oben beschriebenen Reinigungsverfahren treten jedoch Nachteile auf, dass die Kristalloberfläche aufgeraut wird, Se wird abgeschieden und ist deutlich rot, Löcher treten aufgrund von Kristallfehlern auf, Verunreinigungen wie Na etc., aus einer Ätzlösung können zurückbleiben und eine saubere und flache Spiegeloberfläche kann nicht erzielt werden. Daher kann das Ätzen nicht in solch einer Tiefe durchgeführt werden, dass eine beschädigte Schicht entfernt wird. Daher kann eine epitaktische, dünne Schicht mit hoher Qualität nicht auf einem Kristall wachsen, der durch das oben beschriebene Oberflächenreinigungsverfahren erhalten wird.
  • US-A-5,445,706 betrifft ein feuchtes Verfahren zum Spiegelätzen eines Verbindungshalbleiters der Gruppe II–VI, welche Sn als ein Element der Gruppe II enthält. US-5,366,927 betrifft eine Halbleitereinrichtung gebildet aus Verbindungshalbleitermaterialien der Gruppe II bis VI.
  • Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung ein Verfahren zum Reinigen einer Oberfläche eines Verbindungshalbleiterkristalls der Elemente der Gruppe II bis VI des Periodensystem bereitzustellen, wodurch die oben beschriebenen Probleme gelöst werden können und die Glattheit der Oberfläche eines Verbindungshalbleiterkristalls der Elemente der Gruppe II bis VI des Periodensystems nicht nach dem Ätzen zerstört wird. Es ist eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung ein Verfahren zur Reinigung einer Oberfläche eines Verbindungshalbleiterkristalls der Elemente der Gruppe II-VI des Periodensystems bereitzustellen, um eine Spiegeloberfläche zu erhalten, welche für das epitaktische Wachstum geeignet ist.
  • Diese Gegenstände können durch ein Verfahren zum Reinigen einer Oberfläche eines Verbindungshalbleiterkristalls der Elemente der Gruppe II bis VI des Periodensystems erzielt werden, wobei das Verfahren die Verwendung einer Ätzlösung umfasst, welche aus einer wässrigen Lösung einer Mischung aus Schwefelsäure und Wasser in einem Volumenverhältnis von 1 bis 10 Teilen Schwefelsäure und einem Teil Wasser besteht, gesättigt mit Kaliumdichromat, und Ätzen des Verbindungshalbleiterkristalls mit der Ätzlösung bei einer Temperatur in einem Bereich von 10 bis 80°C wobei:
    • (a) die in dem Ätzschritt verwendete Ätzlösung durch Waschen mit Wasser bei einer Temperatur von 10°C bis zum Siedepunkt dieser oder durch Waschen mit Methanol oder Isopropylalkohol entfernt wird, um die Ausfällung des Elementes der Gruppe VI zu unterdrücken; und
    • (b) das Element der Gruppe VI, welches auf der Kristalloberfläche in einer sehr geringen Menge nach dem Waschschritt ausgefällt wird, durch eine Wärmebehandlung bei einer Temperatur von wenigstens 200°C entfernt wird.
  • Die begleitenden Zeichnungen zeigen die Prinzipien und Vorteile der vorliegenden Erfindung im Detail.
  • 1 ist eine schematische Ansicht eines Musters des Zustandes einer Kristalloberfläche nach dem Ätzen.
  • Die Erfinder haben verschiedene Bemühungen unternommen, um die Reinigungsverfahren des Standes der Technik zur Erzielung eines Verbindungshalbleiterkristalls mit gereinigter Oberfläche zu Verbessern, auf welcher epitaktische, dünne Schichten mit hoher Qualität wachsen können, und haben herausgefunden, dass eine spezifische Ätzlösung, welche aus mit Kaliumbichromat gesättigter wässriger Schwefelsäurelösung besteht, für das epitaktische Wachstum von Verbindungshalbleiterkristallen geeignet ist. Die vorliegende Erfindung basiert auf dieser Erkenntnis.
  • Das heißt, das Merkmal der vorliegenden Erfindung besteht in einem Ätzschritt mit einer spezifischen Ätzlösung und einem spezifischen Nachbehandlungsschritt, in Kombination, wie unten beschrieben:
    • (1) Ein Verfahren zur Reinigung einer Oberfläche eines Verbindungshalbleiterkristalls der Elemente der Gruppe II bis VI des Periodensystems, wobei das Verfahren die Verwendung einer Ätzlösung umfasst, welche aus einer wässrigen Lösung einer Mischung aus Schwefelsäure und Wasser in einem Volumenverhältnis von 1 bis 10 Teilen Schwefelsäure und einem Teil Wasser besteht, gesättigt mit Kaliumbichromat, und Ätzen des Verbindungshalbleiterkristalls mit der Ätzlösung bei einer Temperatur innerhalb eines Bereiches von 10 bis 80°C, wobei:
    • (a) die in dem Ätzschritt verwendet Ätzlösung durch Waschen mit Wasser bei einer Temperatur von 10°C bis zu dem Siedepunkt dieser oder durch Waschen mit Methanol oder Isopropylalkohol entfernt wird, um die Ausfällung des Elementes der Gruppe VI zu unterdrücken; und
    • (b) das auf der Kristalloberfläche in sehr geringer Menge ausgefällte Element der Gruppe VI durch eine Wärmebehandlung bei einer Temperatur von wenigstens 200°C nach dem Waschschritt entfernt wird.
    • (2) Verfahren zur Reinigung einer Oberfläche eines Verbindungshalbleiterkristalls der Elemente der Gruppe II bis VI des Periodensystems, wie oben in (1) beschrieben, wobei Oxide auf der Kristalloberfläche nach dem Waschschritt durch das Unterwerten einer Tauchbehandlung in einer Lösung entfernt werden, welche Salzsäure oder Flusssäure oder Ammoniumhydroxid oder Methanol enthält.
    • (3) Verfahren zur Reinigung einer Oberfläche eines Verbindungshalbleiterkristalls der Elemente der Gruppe II bis IV des Periodensystems, wie in dem obigen (1) beschrieben, wobei die Oxide auf der Kristalloberfläche nach dem Entfernen des Elements der Gruppe VI durch Unterwerfen einer Tauchbehandlung in einer Lösung entfernt werden, welche Salzsäure und Flusssäure oder Ammoniumhydroxid und Methanol enthält.
  • Gemäß der vorliegenden Erfindung hat man herausgefunden, dass es für die Erzeugung einer flachen und spiegelähnlichen Kristalloberfläche wirksam ist, einen Verbindungshalbleiterkristall der Elemente der Gruppe II bis VI des Periodensystems zu Ätzen indem eine Ätzlösung verwendet wird, welche aus einer wässrigen Lösung einer Mischung von 1 bis 10 Volumenteilen Schwefelsäure und einem Volumenteil Wasser besteht, gesättigt mit Kaliumdichromat, bei einer Temperatur von 10 bis 80°C.
  • Beträgt das Volumenverhältnis von Schwefelsäure zu Wasser, welches oben beschrieben ist, weniger als 1, können Löcher in der Oberflächenrauheit in der Form einer Bergkette in der Spiegeloberfläche der Kristalloberfläche auftreten, beträgt sie dagegen mehr als 10, ist die Ausfällung des Elementes der Gruppe IV zu deutlich, um eine vorbestimmte Oberflächereinigung zu bewirken.
  • Auch wenn die oben beschriebene wässrige Lösung aus Schwefelsäure und Wasser verwendet wird, führt eine Ätzlösung, welche Kaliumdichromat in einer ungesättigten Konzentration enthält, zu dem Auftreten von Un ebenheiten mit Oberflächenrauheit in Form einer Bergkette auf der Spiegeloberfläche der Kristalloberfläche und demzufolge ist es notwendig eine gesättigte Kaliumdichromat-Lösung zu verwenden.
  • Des weiteren können die oben beschriebenen Wirkungen erzielt werden, indem die obenbeschriebene Ätzbehandlung bei einer Temperatur von 10 bis 80°C durchgeführt wird. Wird die Ätzbehandlung bei einer Temperatur von weniger als 10°C durchgeführt, treten Unebenheiten mit einer Oberflächenrauheit in der Form einer Bergkette auf der Kristalloberfläche auf, ist sie dagegen höher als 80°C, ist die Ausfällung des Elementes der Gruppe VI zu deutlich, um das Element der Gruppe VI ausreichend zu entfernen.
  • Auf der anderen Seite kann, wenn ein Verbindungshalbleiterkristall der Elemente der Gruppe II bis VI des Periodensystems der vorgenannten Ätzbehandlung unterworfen wird, die Kristalloberfläche zu einem flachen und spiegelähnlichen Zustand, wie oben beschrieben, umgewandelt werden, der Endbereich der Kristalloberfläche wird jedoch manchmal etwas rot. Wird diese Rotumwandlung im Detail untersucht, wird sie während des Waschens nach der Ätzbehandlung beobachtet. Dies liegt wahrscheinlich daran, dass die Schwefelsäure in der Ätzlösung auf der Kristalloberfläche verbleibt und das Element der Gruppe II auf der Kristalloberfläche daher aufgelöst wird, das Element der Gruppe VI jedoch rot zurückbleibt.
  • In der vorliegenden Erfindung wird daher die Ausfällung des Elementes der Gruppe VI auf der Kristalloberfläche unterdrückt, in dem die zuvor genannte Ätzbehandlung durchgeführt wird und anschließend (1) mit Wasser bei einer Temperatur von 10°C bis zum Siedepunkt gewaschen wird, oder (2) mit Methanol oder Isopropylalkohol gewaschen wird.
  • Das Element der Gruppe VI, welches in einer sehr geringen Menge auf der Kristalloberfläche zurückbleibt, wird entfernt, um ein stöchiometrisches Verhältnis des Elementes der Gruppe II/Elementes der Gruppe IV zu erhalten, indem es einer Wärmebehandlung in einem Inertgas bei einer Temperatur von wenigstens 200°C unterworfen wird.
  • Des weiteren ist es bevorzugt ein Oxid eines Elementes der Gruppe II und/oder Elementes der Gruppe VI auf der Kristalloberfläche zu entfernen, durch Erwärmen in einem Inertgas bei einer Temperatur von wenigstens 200°C und durch Eintauchen in eine Lösung enthaltend Salzsäure, einer Lösung enthaltend Fluorsäure, und einer Lösung enthaltend Ammoniumhydroxid und Methanol.
  • Die folgenden Beispiele werden angeführt, um die Erfindung im Detail zu beschreiben ohne dieselbe zu beschränken.
  • Beispiel 1
  • Ein Reinigungstest auf einer Oberfläche eines ZnSe Einkristallsubstrats wurde durchgeführt.
  • Eine Ätzbehandlung wurde durch Eintauchen in eine Ätzlösung durchgeführt, bestehend aus Kaliumdichromat/Schwefelsäure/Wasser, die jeweils eine in Tabelle 1 beschriebene Zusammensetzung aufwies, bei 25°C zehn Minuten.
  • Tabelle 1
    Figure 00060001
  • Wenn die Kristalloberfläche nach der Ätzbehandlung unter Verwendung eines Nomarski-Mikroskops beobachtet wurde, fand man heraus, dass der Oberflächenzustand in die folgenden Arten von Mustern unterteilt werden konnte (siehe 1):
    • Oberfläche A: Spiegeloberfläche mit Unebenheiten mit einer Oberflächenrauheit in Form einer Bergkette trat auf.
    • Oberfläche B: Spiegeloberfläche mit feinen Unebenheiten, die auftraten, jedoch keine Rauheit an der Basis.
    • Oberfläche C: eine große Menge an ausgefälltem Se auf der Oberfläche (welches nicht durch die Behandlung von Beispiel 2 oder 3 entfernt werden konnte).
  • Aus Tabelle 1 wird deutlich, dass eine Kristalloberfläche mit einem flachen und spiegelähnlichen Zustand, entsprechend der Oberfläche B aus Tabelle 1, durch die Verwendung einer Ätzlösung erzeugt werden konnte, welche aus einer gemischten wässrigen Lösung aus Schwefelsäure und Wasser in einem Verhältnis von Schwefelsäure zu Wasser von 1 : 1 bis 10 bestand, und welche mit Kaliumdichromat gesättigt ist. Lag das Verhältnis von Schwefelsäure zu Wasser außerhalb des obenbeschriebenen Bereichs, oder war das darin enthaltene Kaliumdichromat nicht gesättigt, wurde die Kristalloberfläche A oder C erhalten und es konnte keine vorbestimmte Kristalloberfläche erhalten werden.
  • Wurde das Ätzen durchgeführt, indem die Bedingung (1) in Tabelle 1 geändert wurde, die Ätztemperatur wie in Tabelle 2 dargestellt und die Konzentration des Kaliumdichromats wie in Tabelle 2 dargestellt, wurden die in Tabelle 2 dargestellten Resultate erhalten.
  • Wurde das Ätzen unter Verwendung der mit Kaliumdichromat gesättigten Ätzlösung bei einer Temperatur von 10 bis 80°C, wie in Tabelle 2 gezeigt, durchgeführt, konnte eine Kristalloberfläche mit einem flachen oder spiegelähnlichen Zustand, entsprechend der Oberfläche B erzeugt werden. War da dagegen das Kaliumdichromat ungesättigt oder lag die Ätztemperatur außerhalb des oben beschriebenen Bereichs, wurde die Kristalloberfläche A oder C erhalten und es konnte keine vorbestimmte Kristalloberfläche erhalten werden.
  • Figure 00080001
  • Vergleichsbeispiel 1:
  • Wurde das Ätzen bei 40°C durchgeführt, indem die Ätzlösung aus Beispiel 1 zu einer Ätzlösung aus Wasserstoffperoxid/Schwefelsäure/Wasser (Verhältnis = 1 : 4 : 1) geändert, wies die Kristalloberfläche den Oberflächenzustand C auf und Se wurde in einer großen Menge ausgefällt.
  • Beispiel 2:
  • Wenn eine Kristalloberfläche, welche gemäß der Bedingung (1) in Tabelle 1 des Beispiels 1 geätzt wurde, im Detail beobachtet wurde, fand man heraus, dass ein Bereich am Ende rot wurde. Dies liegt wahrscheinlich daran, dass die Schwefelsäure in der Ätzlösung auf der Kristalloberfläche zurück blieb und nur Zn auf der ZnSe-Oberfläche auflöste, und so zu einem Zurückbleiben von Se führte und zu einer Umwandlung ins Rote.
  • Die Kristalloberfläche, die gemäß der Bedingung (1) in Tabelle 1 des Beispiels 1 geätzt wurde, wurde gemäß der Bedingungen, welche in Tabelle 3 dargestellt sind, gewaschen und Se blieb auf der Kristalloberfläche zurück, hierbei wurde das Se-Sm-Verhältnis durch XPS (Röntgenstrahlen-Photo-Elektronenspectrokospie) untersucht. Die Resultate sind in Tabelle 3 dargestellt.
  • Tabelle 3
    Figure 00090001
  • Aus den Ergebnissen der Tabelle 3 wird deutlich, dass das Waschen nach der Ätzbehandlung vorzugsweise unter Verwendung von Wasser oder Methanol bei 10°C oder mehr durchgeführt wird. Das Se/Zn Molverhältnis wird vorzugsweise auf höchstens 1,50 eingestellt. Ist dieses Verhältnis höher, z. B. 1,60 wie in dem Fall der Bedingung (21), ist eine vollständige Entfernung von Se auch durch die folgende Behandlung unmöglich, und ein epitaktisches Wachsen eines Verbindungshalbleiterkristalls der Elemente der Gruppe II bis VI des Periodensystems mit hoher Qualität kann auf einer so behandelten Kristalloberfläche nicht durchgeführt werden.
  • Das Waschen wird vorzugsweise bei einer höheren Temperatur als die Temperatur der Ätzbehandlung durchgeführt, um so das Se/Zn Molverhältnis zu reduzieren. Wird die Wirkung des Waschens unter Verwendung von Isopropylalkohol anstelle von Methanol untersucht, zeigte Isopropylalkohol eine ähnliche Wirkung wie Methanol.
  • Beispiel 3:
  • Die Kristalloberfläche, welche gemäß der Bedingung (22) in Tabelle 3 aus Beispiel 2 gewaschen wurde, wurde gemäß der in Tabelle 4 dargestellten Bedingungen behandelt und das Se/Zn-Verhältnis dieser Oberfläche wurde mittels XPS untersucht. Die Resultate, sind in Tabelle 4 dargestellt.
  • Aus Tabelle 4 wird deutlich, wenn die Behandlung gemäß der Bedingungen der Tabelle 4 durchgeführt werden, dass das auf der Kristalloberfläche zurückbleibende Se im wesentlichen entfernt wurde.
  • Tabelle 4
    Figure 00100001
  • Wurde eine ähnliche Behandlung unter Verwendung von Trichlormethan anstelle von Trichlorethylen in der vorgenannten Behandlung durchgeführt, konnten im wesentlichen gleiche Effekte, wie bei Trichlorethylen, erhalten werden. Wurde die vorgenannte Behandlung mit der Ausnahme wiederholt, dass ein Siedewaschen anstelle von Ultraschallwaschen durchgeführt wurde, konnten ähnliche Wirkungen wie im Fall des Ultraschallwaschens erhalten werden. Des weiteren wurde die Temperatur der Wärmebehandlung der Bedingung (29) in Tabelle 4 vorzugsweise auf einen Bereich von 200 bis 350°C eingestellt. Lag die Temperatur oberhalb von 350°C traten Nachteile wie ein Aufrauhen der Kristalloberfläche etc. auf.
  • Beispiel 4
  • Der gemäß der Bedingung (28) in Tabelle 4 des Beispiels 3 gewaschene Kristall wurde behandelt, um die Oxide auf der Oberfläche zu entfernen, durch (1) Eintauchen in ein zehnfach verdünnte Lösung aus Salzsäure (36 Gew.-%) bei Raumtemperatur für zwei Minuten oder durch (2) Eintauchen in eine gemischte Lösung aus Ammoniak und Methanol in einem Verhältnis von 1 : 3 bei Raumtemperatur für zwei Minuten oder durch (3) Eintauchen in eine zehnfach verdünnte Lösung aus Flusssäure (47) Gew.-% bei Raumtemperatur für zwei Minuten. Die atomare Rekonstruktionstruktur der resultierenden ZnSe Kristalloberfläche wurde untersucht.
  • Die atomare Rekonstruktionstruktur wurde bewertet, indem der behandelte Kristall in eine Molekularstrahl-Epitaxiekammer eingeführt wurde (MBE-Ammer) und ein atomares Rekonstruktionsmuster durch ein hochenergetisches Reflektions-Elektrobeugungsverfahren (RHEED)untersucht wurde. Wurden die Oxide entfernt und die Kristalloberfläche gereinigt, trat ein C (2 × 2) Rekonstruktionsmuster des Zn-Atoms oder ein (2 × 1) Rekonstruktionsmuster des Se-Atoms auf. Der Druck der MBE-Kammer wurde auf 1,33 × 10–8 Pascal (1 × 10–10Tor) eingestellt und der Kristall wurde mit einer Temperaturerhöhungsgeschwindigkeit von 10°C je Minute auf 500° erwärmt. Überschritt die Temperatur des Kristalls 200°C wurde ein molekularer Se-Strahl mit einem Druck von 6,67–4 Pascal (5 × 10–6Tor) bestrahlt.
  • Wurde der ZnSe Kristall, welcher durch die obenbeschriebenen Bedingungen (1), (2) und (3) behandelt wurde, einer Untersuchung des atomaren Rekonstruktionsmusters durch RHEED unterworfen, trat ein C (2 × 2) Re konstruktionsmuster des Zn-Atoms auf, simultan zu einem, wenn die Temperatur des Kristalls 500°C erreichte, was zeigte, dass die Oxide von der Kristalloberfläche entfernt wurden. Auch wenn die oben beschriebenen Behandlungen (1), (2) und (3) unmittelbar nach dem Ätzen und Waschen durchgeführt wurden, konnten ähnliche Ergebnisse erzielt werden.
  • Zu Vergleichszwecken, wenn der ZnSe-Kristall, welcher gemäß der Behandlung aus Beispiel 3 erhalten wurde, der Untersuchung des atomaren Rekonstruktionsmusters durch RHEED unterworfen wurde, trat ein C (2 × 2) Rekonstruktionsmuster des Zn-Atoms auf, nachdem die Temperatur des Kristalls 500°C erreichte und 30 Minuten bis 1 Stunde verstrichen waren.
  • Zu Vergleichszwecken wurde des weiteren der ZnSe-Kristall, welcher gemäß der Behandlung aus Beispiel 2 erhalten wurde, einer Untersuchung des atomaren Rekonstruktionsmusters RHEED unterworfen, trat das obenbeschriebene Rekonstruktionsmuster des Atoms nicht auf, auch wenn der Kristall einige Stunden bei 500°C behandelt wurde.
  • Vorteile der Erfindung
  • Gemäß der Verwendung der obenbeschriebenen Konstruktion der vorliegenden Erfindung kann eine Oberfläche eines Verbindungshalbleiterkristalls der Elemente der Gruppe II bis VI des Periodensystems gereinigt werden, um eine Spiegeloberfläche zu erzielen, welche für das epitaktische Wachstum geeignet ist, ohne die Glattheit der Oberfläche zu zerstören und nach dem Ätzen.

Claims (5)

  1. Verfahren zur Reinigung der Oberfläche eines Verbindungshalbleiterkristalls der Elemente der Gruppe II-VI des Periodensystems, wobei das Verfahren umfasst: a) Verwenden einer Ätzlösung, welche aus einer wässrigen Lösung einer Mischung aus Schwefelsäure und Wasser in einem Volumenverhältnis von 1 bis 10 Teilen Schwefelsäure und 1 Teil Wasser besteht, gesättigt mit Kaliumdichromat, und Ätzen des Verbundhalbleiterkristalls mit der Ätzlösung bei einer Temperatur in einem Bereich von 10 bis 80°C; b) Entfernen der Ätzlösung , welche in Schritt a) verwendet wurde, durch Waschen des Verbindungshalbleiterkristalls mit Wasser bei einer Temperatur von 10°C bis zum Siedepunkt dieser, oder durch Waschen des Verbindungshalbleiterkristalls mit Methanol oder Isopropylalkohol, um die Ausfällung der Elemente der Gruppe VI zu unterdrücken; und c) Entfernen der Elemente der Gruppe VI, welche auf der Oberfläche in einer sehr kleinen Menge nach dem Schritt b) ausgefällt wurden, durch eine Wärmebehandlung bei einer Temperatur von wenigstens 200°C.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Oxide auf der Oberfläche nach dem Schritt c) durch eine Eintauchbehandlung in einer Lösung entfernt wird, welche Salzsäure, Flusssäure oder Ammoniumhydroxid und Methanol enthält.
  3. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 2, wobei Schritt c) in einem Inertgas ausgeführt wird.
  4. Verfahren nach Anspruch 3, wobei das Schutzgas Stickstoff ist.
  5. Verfahren nach Anspruch 4, wobei die Temperatur in Schritt c) 350°C nicht überschreitet.
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