DE69534447T2 - Probenhalter fuer ein elektronenmikroskop und vorrichtung und verfahren zum montieren einer probe in einem elektronenmikroskop - Google Patents

Probenhalter fuer ein elektronenmikroskop und vorrichtung und verfahren zum montieren einer probe in einem elektronenmikroskop Download PDF

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Description

  • Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum Anbringen einer Probe in einem Elektronenmikroskop gemäß dem Oberbegriff von Anspruch 1. Eine derartige Vorrichtung ist aus der EP 0,504,972 bekannt.
  • Diese bekannte Vorrichtung weist eine Probenhalterung auf, welche mit einem Träger versehen ist, der mit den Probenaufnahmeeinrichtungen der Halterung verbunden ist. Der Träger ist in einer Spitze vorgesehen, welche von der Probenhalterung gelöst werden kann. Der Träger ist mit einer Stange verbunden. Der Träger kann durch eine Schubstange und ein Kippelement um die Stange geneigt werden. Bei dieser bekannten Vorrichtung muss die Spitze von der Probenhalterung getrennt werden, um in dem Träger eine Probe anzuordnen oder um die Probe von diesem zu entfernen. Die Spitze weist zwischen der Stange und der Befestigungseinrichtung zum Befestigen der Spitze an dem weiteren stangenförmigen Bauteil der Probenhalterung einen relativ großen Abstand auf.
  • In einigen Fällen ist es zum Schutz erforderlich, dass die Probe in die Probenhalterung und in das Elektronenmikroskop luft- und feuchtigkeitsdicht eingeführt und in diesen gehalten wird. Wenn eine Probe durch eine andere ersetzt wird, muss die Probenhalterung anschließend zurückgezogen werden, wobei die Probe abgeschirmt werden muss.
  • In einer Sondervorrichtung muss anschließend die Probe aus der Probenhalterung heraus genommen werden, und eine andere Probe muss angeordnet werden, woraufhin die Probe wieder abgeschirmt wird, und die Probenhalterung in das Elektronenmikroskop zurück verlagert wird. Insbeson dere wenn Proben häufig ersetzt werden, beinhaltet dies ein großes Beschädigungsrisiko der Proben. Ein anderer Nachteil ist der, dass solche Proben im Hochvakuum nicht leicht gehandhabt werden können.
  • Aufgabe der Erfindung ist es, eine derartige Vorrichtung bereitzustellen, die in der obigen Einleitung beschrieben worden ist, durch welche die oben erwähnten Nachteile beseitigt werden. Schließlich ist eine erfindungsgemäße Vorrichtung durch die Merkmale von Anspruch 1 gekennzeichnet.
  • Eine Probe kann in der Probenhalterung festgeklemmt werden, woraufhin der Probenträger mit der Probe in die Probenaufnahmeeinrichtungen in der Probenhalterung und aus diesen heraus befördert werden kann. Die Probe selbst muss nicht länger in Eingriff stehen, wenn sie einmal in der Probenhalterung angeordnet worden ist. Dies schafft den wichtigen Vorteil, dass die empfindliche Probe sogar dann nicht beschädigt wird, wenn sie wiederholt in der Probenhalterung angebracht und aus dieser entfernt wird, und sie ist darüber hinaus leicht zu handhaben. Weil der Probenträger mit einfachen Einrichtungen zu handhaben ist, ohne dass für die Probe ein großes Risiko besteht, beschädigt zu werden, kann leicht unter Hochvakuum gearbeitet werden, wobei beispielsweise ein Roboterarm oder eine andere Art von Handhabungseinrichtung verwendet wird. Der Probenträger schafft angemessen für die Probe eine Halterung und einen Schutz. Ein weiterer Vorteil ist der, dass die Proben schneller angeordnet und entfernt werden können, und dass sie einfacher angeordnet werden können. Außerdem können Probenhalterungen mit verschiedenen Präparaten stets auf die gleiche Art und Weise angebracht werden. Darüber hinaus wird das Lagern der Proben dadurch, dass sie in einem Probenträger untergebracht sind, sicher erleichtert, wenn die Proben in dem Proben träger fest angebracht verbleiben. Ferner kann eine Probe in dem Probenträger angeordnet werden, wenn die Probe noch hart ist, wobei sie anschließend in dem Probenträger dünner gemacht werden kann. In dieser dünner gemachten Phase ist die Probe sehr zerbrechlich, aber sie muss nicht mehr in Eingriff gebracht werden, weil sie in dem Probenträger untergebracht ist. Weil die Probenaufnahmeeinrichtungen direkt in der Bohrung in dem Probenträger entfernbar angebracht sind, wird ein Verschieben davon verhindert, wobei ohne weitere Maßnahmen während der Benutzung für eine stabile Betrachtung gesorgt wird. Wenn sie von der Bohrung entfernt werden, ist der Träger schnell zugänglich, um die Probe einzuführen oder zu entfernen.
  • Der Probenträger ist vorzugsweise aus einem Molybdänfilm oder einem ähnlichen Blatt- oder Filmmaterial hergestellt.
  • Bei einer weiteren Ausarbeitung ist die erfindungsgemäße Vorrichtung durch die Merkmale nach Anspruch 5 bis 7 gekennzeichnet.
  • Der Probenträger kann auf einfache Art und Weise gegen den Absatz in der Bohrung durch den Gewindering geklemmt werden, so dass die Position des Probenträgers gleichmäßig festgelegt ist. Ferner besteht kein Risiko, dass die Probe beschädigt wird, während sie festgeklemmt wird, um so weniger wenn ein derartiges Klemmen durch den Betätigungsarm durchgeführt wird. Weil zum Befestigen oder Lösen des Probenträgers der Gewindering nur über einen Winkel von weniger als 360°, beispielsweise um 90° oder weniger, gedreht werden muss, können die Probenträger schnell und sicher ausgetauscht werden. Weil der Probenträger zwischen dem Absatz und dem Gewindering von einer Seite verschoben werden kann, muss der Gewindering nicht vollständig entfernt werden, um den Probenträger auszuwechseln, so dass der Probenträger sogar schneller ausgewechselt werden kann, und darüber hinaus besteht kein Risiko, dass der Gewindering von der Probenhalterung fällt und möglicherweise verloren geht. Dies ist insbesondere dann wichtig, wenn die Probenträger in dem Elektronenmikroskop oder in einem anderen geschlossenen und optional ausgestatteten Raum ausgewechselt oder anderweitig gehandhabt werden müssen.
  • Dadurch, dass in einem konditionierten Raum eines Elektronenmikroskops eine Reihe von Probenträgern angeordnet ist, von welchen jeder eine Probe enthält, können die Proben ausgewechselt werden, ohne dass die Probenhalterung von dem Elektronenmikroskop entfernt werden muss. Dadurch ist es nicht notwendig, dass der Raum jedes Mal, wenn die Proben ausgewechselt werden, rekonditioniert werden muss oder dass bestimmte Maßnahmen ergriffen werden müssen, um zu verhindern, dass der konditionierte Raum während der Auswechslungen beeinträchtigt wird. Die Proben, welche während einer oder mehrerer Sitzungen analysiert werden sollen, können in dem Raum gleichzeitig angeordnet sein, wobei sie anschließend gemeinsam durch die Handhabungseinrichtung ausgewechselt werden können. Dadurch wird zusätzlich ein beträchtlicher Zeitgewinn erzielt, und die Probenhalterung muss von dem Elektronenmikroskop nicht entfernt werden. Durch dies wird die Notwendigkeit beseitigt, dass die Probenhalterung mit dem Probenträger, welcher außerhalb des Elektronenmikroskops ausgewechselt wird, thermisch ins Gleichgewicht gebracht werden muss.
  • Die Erfindung nach Anspruch 10 bezieht sich außerdem auf einen Probenträger, welcher in einer erfindungsgemäßen Vorrichtung verwendet werden kann.
  • Ferner ist zwar eine Probenhalterung für ein Elektronenmikroskop offenbart, aber nicht beansprucht. Aus der Praxis ist eine Probenhalterung bekannt und beispielsweise durch Gatan Incorporated, Pleasanton, USA auf den Markt gebracht.
  • Bei der bekannten Probenhalterung ist in einer dünnen Röhre ein stabförmiger Körper verschiebbar angebracht. In der ersten Position wird der stabförmige Körper in der Röhre vollständig herausgezogen, während er nahe seinem freien Ende durch einen elastischen O-Ring gehalten wird, welcher mit einer geeigneten Anbringung zwischen dem stabförmigen Körper und der Innenseite der Röhre enthalten ist. Entfernt davon ist der stabförmige Körper mit der Röhre durch Faltenbälge verbunden. In dieser Position ist die Probe zwischen dem O-Ring, den Faltenbälgen und der Röhre eingeschlossen und von der Umgebung abgeschirmt.
  • In der zweiten Position wird der stabförmige Körper teilweise aus der Röhre derart geschoben, dass sich wenigstens die Probe außerhalb der Röhre befindet. In dieser Position wird der stabförmige Körper durch den O-Ring und die Faltenbälge gehalten. In vielen Fällen wird während der Benutzung die Probe in dem Elektronenmikroskop dadurch bis zu dem Maß unzureichend stabil, dass ein Präparat oder eine Probe, das bzw. die geprüft werden soll, nachdem es bzw. sie angebracht worden ist, während der Prüfung wegen der Verformungseigenschaften des elastischen Ringes unerwünscht verschoben, beispielsweise in Schwingung versetzt wird. Darüber hinaus hängt bei dieser bekannten Probenhalterung der Grad der Stabilität der Probe beträchtlich von dem Maß ab, bis zu dem der stabförmige Körper aus der dünnen Röhre verschoben wird.
  • Eine erfindungsgemäße Vorrichtung nach Anspruch 1 ist mit einer derartigen Probenhalterung versehen, die in der Einleitung beschrieben worden ist, wodurch die erwähnten Nachteile vermieden werden.
  • Dadurch, dass wenigstens in der zweiten Position, das heißt in der Position, in welcher die Probe unter dem Elektronenmikroskop betrachtet werden kann, der stabförmige Körper und daher die Probe direkt von der Halteeinrichtung gehalten wird, wird verhindert, dass sich die Probe während der Prüfung, das heißt nachdem die Probenhalterung angebracht worden ist, verschiebt. In der erfindungsgemäßen Vorrichtung hat die elastische Dichtung keine Lagerfunktion, sondern nur eine abdichtende Funktion. Dadurch kann das Abdichten der Probe in der ersten Position besser sichergestellt werden, und darüber hinaus wird ein direkter Kontakt zwischen dem stabförmigen Körper und der Halteeinrichtung in der zweiten Position sichergestellt. Der Grad, bis zu dem die Abschirmeinrichtung und der stabförmige Körper in Bezug zueinander zwischen den ersten und zweiten Positionen verschoben werden, hat zumindest nach dem Anbringen auf den Grad der Verschiebung der Probe keinen Einfluss, weil die Probe in Bezug auf die Halteeinrichtung, welche in dem Elektronenmikroskop beispielsweise in einem Goniometer gehalten werden kann, direkt und stets an der gleichen Position gehalten wird.
  • Bei einer vorteilhaften Ausführungsform ist die beanspruchte Vorrichtung dadurch gekennzeichnet, dass die Probe in der ersten Position von der Umgebung durch ein mantelförmiges Bauteil und zwei elastische Dichtungen, wie zum Beispiel O-Ringen, abgeschirmt wird, während auch in der zweiten Position die zwei elastischen Dichtungen von der Umgebung durch das mantelförmige Bauteil im Wesentlichen vollständig abgeschirmt werden. Dies verhin dert eine Kontamination und jegliche Beschädigung und Verschiebung der Dichtungen, so dass jederzeit ein geeigneter Betrieb der Vorrichtung sichergestellt wird.
  • Der stabförmige Körper ist mit der Halteeinrichtung vorzugsweise fest verbunden. Somit ist die Position einer Probe, welche in der Probenaufnahmeeinrichtung angeordnet ist, gleichmäßig und unveränderbar fest. Auch ist eine Verschiebung des stabförmigen Körpers in Bezug auf die Halteeinrichtung unmöglich. Die Abschirmeinrichtungen weisen eine Hülse auf, welche entlang dem stabförmigen Körper zwischen der ersten und der zweiten Position verschiebbar ist. Diese Verschiebungen haben auf die Position der Probe keinen Einfluss.
  • Als Alternative wird der stabförmige Körper wenigstens in der zweiten Position zumindest an zwei Seiten der Probenaufnahmeeinrichtungen gehalten. Dadurch, dass in der zweiten Position das freie Ende des stabförmigen Körpers wenigstens teilweise mit einem geeigneten Sitz in einem Hohlraum in dem röhrenförmigen Körper aufgenommen wird, wird zwischen ihnen eine direkte Verbindung erzielt. Darüber hinaus wird in der zweiten Position die Position der Probenaufnahmeeinrichtung durch die Öffnung fixiert. In der ersten Position wird die Probe durch den röhrenförmigen Körper und die elastische Dichtung auf geeignete Weise abgeschirmt.
  • Während der Benutzung der Vorrichtung kann in der Betriebsposition der Probenhalterung, das heißt die Probenaufnahmeeinrichtungen befinden sich in der zweiten Position, der stabförmige Körper mit dem röhrenförmigen Körper durch die Verbindungseinrichtungen fest verbunden werden. Die Verbindungseinrichtungen können mit einem derartigen Sitz verbunden sein, dass eine Verschiebung der zwei Körper in Bezug zueinander nicht länger möglich ist, mit Ausnahme einer Rückwärtsverschiebung zu der ersten, abgeschirmten Position. Die Verbindungseinrichtungen verhindern somit eine Verschiebung der Probe in der zweiten Position, während die Probenhalterung in einem Elektronenmikroskop verwendet wird.
  • Die Verbindungseinrichtungen können beispielsweise durch zusammenwirkende Stifte und Löcher, einem konischen Ring an den stabförmigen Körper, welcher mit einem geeigneten Sitz in einer Öffnung des röhrenförmigen Körpers aufnehmbar ist, oder durch ähnliche Verbindungselemente, welche ineinander oder übereinander greifen, ausgeformt sein.
  • Ferner ist ein Schwenkaufnahmekörper vorgesehen, welcher die Probe tragen kann und den Vorteil bietet, dass die Position der Probe in der Probenhalterung derart verändert werden kann, dass sie in verschiedenen Positionen betrachtet werden kann. Dadurch, dass bei der Verschiebung der Abschirmeinrichtungen in Bezug auf die Probenaufnahmeeinrichtungen die Kippeinrichtungen den Schwenkkörper verschieben, kann die Position der Probe durch die Abschirmeinrichtungen auf einfache Art und Weise eingestellt werden. Diese Ausführungsform schafft den Vorteil, dass die Probenhalterung einfach und relativ robust ausgestaltet sein kann, während die Probe von praktisch allen Seiten noch betrachtet werden kann, weil keine zusätzlichen Betätigungseinrichtungen vorgesehen sein müssen, die sich in oder entlang der Probenhalterung zur Steuerung der Kippbewegung des Schwenkkörpers erstrecken. Die Bewegungen des Schwenkkörpers sind durch die Polschuhe des Elektronenmikroskops eingeschränkt.
  • Es ist ferner ein Verfahren offenbart, aber nicht beansprucht, um eine Probe in einem Elektronenmikroskop an einer für eine Prüfung geeigneten Position anzubringen, worin die Probe in einer Probenhalterung in einer Probenaufnahmeeinrichtung aufgenommen wird, welche sich in der Nähe von einem Ende eines stabförmigen Körpers befindet, wobei die Probe von der Umgebung in einer ersten Position der Probenhalterung durch Abschirmeinrichtungen abgeschirmt wird, welche wenigstens eine elastische Dichtung aufweisen, die zwischen dem stabförmigen Körper und einer Abschirmhülle angeordnet ist, während wenigstens das Ende des stabförmigen Körpers mit der Probe innerhalb des Elektronenmikroskops verschoben wird, und worin die Abschirmeinrichtungen und der stabförmige Körper in Bezug zueinander in eine zweite Position verschoben werden, worin die Probe für die Prüfung in dem Elektronenmikroskop frei gemacht wird, wobei die Probenhalterung in dem Elektronenmikroskop durch Halteeinrichtungen angeordnet wird. Bei diesem Verfahren wird der stabförmige Körper in der zweiten Position direkt an den Halteeinrichtungen ohne eine dazwischen liegende elastische Dichtung derart gehalten, dass die Bewegungen des stabförmigen Körpers und damit der Probe in Bezug auf die Halteeinrichtungen und das Elektronenmikroskop verhindert werden.
  • Dadurch, dass ein derartiges Verfahren verwendet wird, kann eine Probe in einem Elektronenmikroskop auf eine besonders einfache und gleichförmige Art und Weise optimalerweise stabil, passend und reproduzierbar angeordnet werden.
  • Für die Analyse einer Probe in einem Elektronenmikroskop wird gewöhnlich eine Probe, welche durch eine schmale und dünne Scheibe eines Materials ausgeformt ist, in einer Probenhalterung angebracht und anschließend in ein Elektronenmikroskop eingeführt. Schließlich ist die Probenhalterung mit einer Bohrung versehen in welcher die Probe an einem Absatz angeordnet und beispielsweise mit einem Klemmring festgeklemmt werden kann.
  • Der Probenträger kann gegen den Absatz in der Bohrung durch den Gewindering auf einfache Art und Weise geklemmt werden, so dass die Position des Probenträgers gleichförmig festgelegt wird. Darüber hinaus besteht für die Probe kein Risiko, beschädigt zu werden, während sie festgeklemmt wird, um so weniger wenn ein derartiges Festklemmen durch den Betätigungsarm bewirkt wird. Weil zum Befestigen oder Lösen des Probenträgers der Gewindering nur über einen Winkel von weniger als 360°, beispielsweise um 90° oder weniger, gedreht werden muss, können die Probenträger schnell und sicher ausgewechselt werden. Weil der Probenträger zwischen dem Absatz und dem Gewindering von einer Seite verschoben werden kann, muss der Gewindering nicht vollständig entfernt werden, um den Probenträger auszuwechseln, so dass der Probenträger sogar noch schneller ausgewechselt werden kann, und darüber hinaus besteht für den Gewindering kein Risiko, dass er von der Probenhalterung fällt und möglicherweise verloren geht. Dies ist insbesondere dann wichtig, wenn Probenträger in dem Elektronenmikroskop oder in einem anderen verschlossenen und optional konditionierten Raum ausgewechselt oder auf andere Art und Weise gehandhabt werden müssen.
  • Um die Erfindung, so wie sie beansprucht ist, zu verdeutlichen, wird unter Bezugnahme auf die Zeichnung eine Anzahl von veranschaulichenden Beispielen einer Probenhalterung beschrieben. Es zeigen:
  • 1 einen Teilquerschnitt und eine Draufsicht eines ersten Beispiels, das keine Ausführungsform ist, einer Probenhalterung;
  • 2a einen Teilquerschnitt und eine Draufsicht eines zweiten Beispiels, das keine Ausführungsform ist, einer Probenhalterung;
  • 2b einen Teilquerschnitt und eine Seitenansicht eines zweiten Beispiels, das keine Ausführungsform ist, einer Probenhalterung;
  • 3 einen Querschnitt einer Probenhalterung in einem dritten Beispiel, das keine Ausführungsform ist;
  • 4a und 4b teilweise geschnittene Seitenansichten einer Probenhalterung in einem vierten Beispiel, das keine Ausführungsform ist, in der ersten bzw. zweiten Position;
  • 4c einen Querschnitt der Probenhalterung gemäß den 4a und 4b;
  • 5 einen Querschnitt einer Probenhalterung in einem fünften Beispiel, das keine Ausführungsform ist;
  • 6 einen Querschnitt von einem Teil einer Probenhalterung gemäß den 1, 2 oder 3 in einem größeren Maßstab mit einer ersten Ausführungsform der Probenaufnahmeeinrichtungen;
  • 7 einen Probenträger in einem geöffneten Zustand zusammen mit einer darin aufgenommenen Probe;
  • 8 den Probenträger gemäß 7 in einem geschlossenen Zustand mit der darin aufgenommenen Probe;
  • 9 einen Teil einer Probenhalterung mit einem Probenträger, welcher in Handhabungseinrichtungen aufgenommen ist; und
  • 10 eine schematische Draufsicht eines Raums von oder an einem Elektronenmikroskop, welches darin eine Reihe von Probenträgern, eine Probenhalterung und Einrichtungen zum Handhaben von wenigstens der Probenträger aufweist. Die 1 bis 6 zeigen Beispiele, welche keine Ausführungsformen der Probenhalterungen sind, welche in einer erfindungsgemäßen Vorrichtung oder einem erfindungsgemäßen Probenträger, wie er beispielsweise in 7 und 8 dargestellt ist, verwendet werden.
  • 1 zeigt eine geschnittene Draufsicht einer Probenhalterung 1, die einen stabförmigen Körper 2 aufweist, welcher nahe einem Ende mit einem Fuß 3 versehen ist, um eine herkömmliche, feste Anordnung der Probenhalterung 1 nahe und teilweise in einem Elektronenmikroskop bereitzustellen, von dem nur ein Abschnitt 4 gezeigt ist. Dazu kann das Elektronenmikroskop mit einem Goniometer und/oder anderen Haltepunkten versehen sein. Der stabförmige Körper 2 weist ein Stabbauteil 5 auf, das mit dem Fuß 3 fest verbunden ist. Das Stabbauteil 5 ist dünner als der Fuß 3, und das freie Ende 6 des Stabbauteils 5 wird durch einen verringerten Abschnitt 7 ausgeformt, der in dem Elektronenmikroskop wenigstens aufnehmbar ist.
  • Der verringerte Abschnitt 7 ist in einem bestimmten Abstand von seinem freien Ende 6 mit einer ersten Bohrung 8 versehen, welche eine Durchgangsbohrung ist und sich im Wesentlichen quer zur Längsrichtung des Stabbauteils 5 erstreckt. In der ersten Bohrung 8 sind Einrichtungen 9 zum Lagern und Befestigen einer Probe 10 enthalten, welche durch das Elektronenmikroskop betrachtet werden soll. Diese Einrichtungen 9 können zwar beispielsweise eine Einspannstelle 11 und einen Klemmring 12 aufweisen, aber sie können in einer anderen, bekannten und geeigneten Art und Weise ausgestaltet sein.
  • Auf der Seite der ersten Bohrung 8 nahe dem freien Ende 6 des verringerten Abschnitts 7 ist der verringerte Abschnitt 7 in der Nähe der Bohrung 8 mit einer ersten kreisförmigen Ausnehmung 13 versehen. Auf der anderen Seite der ersten Bohrung 8 ist der verringerte Abschnitt 7 mit einer zweiten kreisförmigen Ausnehmung 14 versehen. In diesen Ausnehmungen 13, 14 sind eine erste elastische Dichtung 15 bzw. eine zweite elastische Dichtung 16 beispielsweise in der Form eines O-Rings aus Gummi oder Kunststoff enthalten. Jede Dichtung 15, 16 erstreckt sich von dem verringerten Abschnitt 7 geringfügig nach außen. Um den verringerten Abschnitt 7 ist ein mantelförmiges Bauteil in der Form einer mantelförmigen Abdeckung 17 geschoben, welche eine Länge hat, die im Wesentlichen dem Abstand zwischen den Seiten der zwei O-Ringe 15, 16, die voneinander abgewandt sind, entspricht. Der Innendurchmesser der Abdeckung 17 ist geringfügig kleiner als der Außendurchmesser der O-Ringe 15, 16. Die Abdeckung 17 kann über die O-Ringe 15, 16 geschoben werden, wodurch die O-Ringe soweit derart zusammengedrückt werden, dass ihre Außenseite gegen die Innenseite der Abdeckung 17 unter Vorspannung stößt. In dieser ersten Position, welche in 1 dargestellt ist, bilden die Dichtungen 15, 16 und die Abdeckung 17 eine Luft- und feuchtigkeitsdichte Abschirmung von der Umgebung für die Bohrung 8 und jede darin enthaltene Probe 10.
  • Durch den Fuß 3 und durch das Stabbauteil 5 erstreckt sich in der Längsrichtung des stabförmigen Körpers 2 bis zu einem Punkt in der Nähe der Seite des zweiten O-Rings 16 nahe dem Gehäuseabschnitt 4 eine zweite Bohrung 18. In dem verringerten Abschnitt 7 ist eine geschlitzte Öffnung 19 vorgesehen, welche sich in die zweite Bohrung 18 fortsetzt. Durch die zweite Bohrung 18 erstreckt sich eine Stange 20, welche in der zweiten Bohrung 18 verschiebbar ist. Das erste Ende 21 der Stange 20 ist unter der Öffnung 19 angeordnet, das zweite Ende 22 erstreckt sich über die entfernt von dem Stabbauteil 5 Seite liegende des Fußes 3 hinaus.
  • Das erste Ende 21 der Stange 20 ist mit der Abdeckung 17 über einen Verbindungsstift 23, der sich durch die Öffnung 19 erstreckt, derart verbunden, dass sich die Stange 20 und die Abdeckung 17 in Bezug auf das Stabbauteil 5 nicht drehen können. Das zweite Ende 22 der Stange 20 ist mit einem Außengewinde 24 versehen, an welchem ein Einstellknopf 25 angebracht ist, welcher mit einem Innengewinde versehen ist. Eine Seite des Einstellknopfes 25 stößt gegen den Fuß 3 und kann sich in Bezug auf den Fuß 3 nicht verschieben. Weil sich die Stange 20 in Bezug auf die Abdeckung 17 oder das Stabbauteil 5 nicht drehen kann, bewirkt eine Drehung des Einstellknopfes 25, dass sich die Abdeckung 17 in der Längsrichtung in Bezug auf den verringerten Abschnitt 7 und daher in Bezug auf die Dichtungen 15, 16 und die Probenaufnahmeeinrichtungen 9 verschiebt.
  • Die Probenhalterung 1 kann wie folgt verwendet werden.
  • In der Bohrung 8 ist eine Probe 10 durch die Probenaufnahmeeinrichtungen 9; 11, 12 in einem dafür geeigneten Raum fest angebracht, welcher vorzugsweise geschlossen und konditioniert ist. Anschließend wird der Einstellknopf 25 derart gedreht, dass die Abdeckung 17 über die zwei Dichtungen 15, 16 verschoben wird, so dass die Probe von ihrer Umgebung durch diese Dichtungen 15, 16 und die Abdeckung 17 luft- und feuchtigkeitsdicht abgeschirmt wird. Anschließend kann die Probenhalterung 1 genommen und weiter gehandhabt werden, ohne das Risiko, dass eine Kontamination der Probe erfolgt.
  • Durch den Fuß 3 wird die Probenhalterung an ein Elektronenmikroskop angrenzend derart angeordnet, dass sich wenigstens der verringerte Abschnitt 7 in den dafür geeigneten Teil des Mikroskops erstreckt. Weil die Bohrung 8 an einem festen Abstand von dem Fuß 3 angeordnet ist, kann die Probenhalterung an der geeigneten Position einfach angeordnet werden. Schließlich können an geeigneten Punkten außerhalb des Mikroskops beispielsweise Positionierpunkte oder ähnliche Einrichtungen angeordnet sein. Nach dem Anordnen wird der Einstellknopf 25 soweit zurückgedreht, dass die Abdeckung 17 durch die Stange 20 entlang des verringerten Abschnitts in der Richtung des Fußes 3 wenigstens so weit zurück verschoben wird, dass die Probe zur Überprüfung freigegeben wird. Die zweite Dichtung 16 verbleibt abgedeckt durch die Abdeckung. Als ein Ergebnis hieraus bleibt das Verschieben der Abdeckung einfach, und darüber hinaus wird eine Kontamination von wenigstens der zweiten Dichtung 16 und insbesondere der Probe verhindert.
  • Gemäß einem zweiten bestimmten Beispiel, welches keine Ausführungsform ist (siehe 2a, 2b) ist angrenzend an eines der Enden der Abdeckung 17 oberhalb und unterhalb des stabförmigen Bauteils eine Öffnung vorgesehen, durch welche die Probe in der zweiten Position betrachtet werden kann. Die Abdeckung 17 ist wenigstens genauso lang wie der Abstand zwischen der ersten Dichtung 15 und der zweiten Dichtung 16 plus der Breite d der Öffnung 32. Der Vorteil dieses Beispieles, das keine Ausführungsform ist, ist der, dass die zwei Dichtungen wenigstens in der ersten und in der zweiten Position stets von der Abdeckung 17 bedeckt sind. Ferner weist dieses Beispiel, welches keine Ausführungsform ist, einen Kippmechanismus für die Probe auf, welcher durch die Abdeckung 17 betätigbar ist und unter Bezugnahme auf 6 unterhalb genauer beschrieben wird.
  • In der Betriebsposition, in welcher sich die Probenhalterung teilweise in das Elektronenmikroskop erstreckt, und die Abdeckung 17 um die Probe 10 herum zu der zweiten Position verschoben worden ist, werden das stabförmige Bauteil 5 und der Fuß 3 direkt durch das Mikroskop 4 getragen. Keines dieser Teile ist so biegsam, dass während der Studie der Probe 10 das Risiko beinhaltet ist, dass sie eine inakzeptable Schwingung der Probenaufnahmeeinrichtungen 9; 11, 12 verursachen. Somit wird die Probe äußerst stabil getragen, so dass mit dem Elektronenmikroskop 4 ein gutes, stabiles Bild erzielt werden kann.
  • 3 zeigt ein drittes Beispiel, das keine Ausführungsform ist und das einen Fuß 103 und ein stabförmiges Stabbauteil 105 aufweist, welches sich von dem Fuß 103 erstreckt. Angrenzend an das freie Ende 106 des Stabbauteils 105 sind Probenaufnahmeeinrichtungen 109 enthalten. Auf der von dem freien Ende 106 entfernt liegenden Seite der Probenaufnahmeeinrichtungen ist in dem Stabbauteil eine kreisförmige Aussparung 113 vorgesehen, welche eine elastisch verformbare Dichtung 115, vorzugsweise in der Form eines Ringes aus Gummi oder Kunststoff, aufweist. Der Ring erstreckt sich geringfügig außerhalb der Oberfläche des Stabbauteils. In einer ersten Position, wie in 3 gezeichnet ist, wird über das freie Ende 106 und über die Dichtung 115 eine kappenförmige Abdeckung 117 derart geschoben, dass die Dichtung geringfügig zusammen gepresst wird und an die Innenseite der Abdeckung 117 unter Spannung und mit einem geeigneten Sitz entlang der gesamten Außenumfangsfläche anstößt.
  • Die Abdeckung 117 weist eine geschlossene Endwandung 130 und eine im Wesentlichen geschlossene Umfangswandung 131 auf. In der ersten Position wird eine Probe, wenn eine vorhanden ist und in den Probenaufnahmeeinrichtungen 109 angeordnet ist, von ihrer Umgebung durch die Abdeckung 117 und die Dichtung 115 vollständig Luft- und feuchtigkeitsdicht abgeschirmt. Die kappenförmige Abdeckung 117 weist eine kreisförmige Öffnung 119 auf, welche an der zu der Endwandung 130 entgegengesetzten Seite angeordnet ist. Angrenzend an die Endwandung 130 ist die kappenförmige Abdeckung 117 derart abgeflacht, dass sie zwar über dem verringerten Abschnitt 107, aber auch zwischen den Polschuhen des Elektronenmikroskops angeordnet ist. Wenn die Abdeckung weggezogen wird, sollte sie zwischen die Polschuhe gezogen werden. Schließlich ist die Abdeckung elastisch verformbar derart ausgestaltet, dass die kreisförmige Öffnung bis zu einer Höhe zusammengedrückt werden kann, welche kleiner ist als der Abstand zwischen den Polschuhen, und nach Entfernen der Verformungskraft kann sie derart zurückspringen, dass sie ihre Ursprungsform im Wesentlichen wieder einnimmt.
  • Das Teil 118 des verringerten Abschnitts 107, das sich zwischen der Dichtung 115 und den Probenaufnahmeeinrichtungen 109 erstreckt, verjüngt sich in Richtung des freien Endes 106. Dadurch wird die Öffnung 119, welche beim Entfernen in eine etwa ovale Form verformt wird, in ihre kreisförmige Form zurück gedrückt, wenn die Abdeckung 117 wieder angeordnet wird, so dass durch die Abdeckung 117 und die Dichtung 115 wieder eine gute Abschirmung der Probe erzielt werden kann.
  • Die Probenhalterung 101 kann wie folgt verwendet werden.
  • Die Abdeckung 117 wird von dem Stabbauteil 105 in Richtung des freien Endes 106 vollständig weggezogen, wobei anschließend in den Probenaufnahmeeinrichtungen 109, vorzugsweise unter konditionierten Umständen, eine Probe 110 angeordnet werden kann. Daraufhin wird die Abdeckung zu der ersten Position über das Stabbauteil 105 verschoben, und somit ist die Probe geeignet geschützt. Nachdem die Probenhalterung 101 an der gewünschten Position anliegend an (und in) dem Elektronenmikroskop angeordnet worden ist, wird die Abdeckung 117 wieder weggezogen, so dass die Probe 110 mit dem Elektronenmikroskop betrachtet werden kann.
  • Bei diesem Beispiel, das keine Ausführungsform ist, können auch in der Probenhalterung Einrichtungen enthalten sein, um die Abdeckung von der ersten zu der zweiten Position zu verschieben und umgekehrt, aber die kappenförmige Abdeckung 117 kann auch mit einer externen Handhabungseinrichtung betätigt werden, und dies kann auch bei den anderen, dargestellten Beispielen, welche keine Ausführungsformen sind, verwendet werden. Bei diesem Beispiel, das keine Ausführungsform ist, ist angrenzend an das freie Ende 106 ein verringerter Abschnitt 107 enthalten, entlang dem die Abdeckung verschiebbar ist, wobei der Außenumfang der Abdeckung 117 ungefähr gleich dem Außenumfang des nicht verringerten Abschnittes des Stabbauteils 105 ist. Als Folge hieraus kann der verringerte Abschnitt 107 zusammen mit der Abdeckung 117 beispielsweise durch ein Goniometer in ein Elektronenmikroskop eingeführt werden, das mit einem geeigneten Sitz mit dem Außenumfang des Stabbauteil 105 verbunden sein kann. Außerdem stellt der nicht verringerte Abschnitt 105 eine größere Festigkeit und Steifigkeit bereit, während der relativ kurze, verringerte Abschnitt 107 dünn ausgestaltet sein kann, um in einem relevanten Teil des Mikroskops aufgenommen zu werden.
  • Die 4a, 4b und 4c zeigen ein viertes Beispiel, das keine Ausführungsform ist, der Probenhalterung 201, worin die Probenaufnahmeeinrichtungen 209 in einem schubfachförmigen Bauteil 220 angeordnet sind. Dieses Bei spiel, das keine Ausführungsform ist, weist wieder einen (nicht dargestellten) Fuß 203 und ein sich davon erstreckendes röhrenförmiges Stabbauteil 205 auf, in welchem ein stangenförmiges Bauteil 216 verschiebbar angebracht ist. An dem freien Ende des stangenförmigen Bauteils 216 ist ein Knopf 251 mit einem runden Kopf vorgesehen. Mit diesem freien Ende des stangenförmigen Bauteils 216 ist ein Schubfach 220 verbunden, welches mit einer Aussparung 252 versehen ist, in welcher der Knopf 251 untergebracht ist, welcher von einem Raum umgeben ist. Das Schubfach 220 ist somit mit dem stangenförmigen Bauteil 216 gekoppelt, so dass es durch dieses verschoben werden kann, während der Knopf 251 in einer mittigen Position von der Aussparung 252 an allen Seiten freigegeben wird, und anschließend zwischen dem Schubfach 220 und dem stangenförmigen Bauteil 216 und umgekehrt keine Kräfte übertragen werden können. Das röhrenförmige Stabbauteil 205 weist angrenzend an das freie Ende 206 eine kontinuierliche, beispielsweise geschlitzte Öffnung 232 auf, und es hat ein geschlossenes Ende 233. Das erste Ende 221 des Schubfachs 220 weist einen Abschnitt 207, der an der Oberseite abgeflacht ist, und die Unterseite 236 auf, in welcher eine Bohrung 208 vorgesehen ist, die sich im Wesentlichen quer zur Längsrichtung des Stabbauteils 205 erstreckt. Die Probenaufnahmeeinrichtungen sind in oder angrenzend an die Bohrung 208 angeordnet. Das zweite Ende des stabförmigen Bauteils 216 erstreckt sich auf der von dem Stabbauteil 205 entfernt liegenden Seite außerhalb des Gehäuseabschnittes und weist da einen solchen, oben beschriebenen Einstellknopf 225 auf.
  • An gegenüberliegenden Seiten ist das Schubfach 220 mit einem Gleitsitz in Längsführungen 234 in dem röhrenförmigen Stabbauteil angebracht, und das erste Ende 221 des Schubfachs 220 ist mit einem Gleitsitz in einem Hohlraum 235 in dem Abschnitt des Stabbauteiles 205 ange bracht, der anliegend an das freie Ende 206 angeordnet ist. In einer der Längsführungen 234 ist ein elastisches Bauteil angeordnet, welches das Schubfach 220 gegen die entgegengesetzte Längsführung drückt, um eine unerwünschte Verschiebung zu verhindern. Das Schubfach 220 kann nur in der Längsrichtung verschoben werden, es kann sich nicht drehen, und es kann sich nicht nach oben und unten oder seitlich, quer zur Längsrichtung verschieben. Der Hohlraum 235 ist so tief, dass das erste Ende 221 des Schubfachs 220 mit der Bohrung 208 darin aufgenommen werden kann.
  • Der Absatz 200, welcher durch den Übergang zu dem abgeflachten Abschnitt 207 des Schubfachs ausgeformt wird, ist von dem freien Ende des Schubfachs um einen Abstand beabstandet, welcher ungefähr der Tiefe des Hohlraumes 235 entspricht. Gegen den Absatz 200 und um den abgeflachten Abschnitt 207 ist eine Dichtung 215 vorzugsweise in der Form eines Rings aus Gummi oder Kunststoff, welcher unter Vorspannung gegen das Schubfach stößt, angeordnet. Wenn das Schubfach 220 in den Hohlraum 235 bis zu einem maximalen Grad geschoben wird, dichtet die Dichtung 215 die Öffnung 232 des Hohlraums 235 vollständig ab.
  • Dieses Beispiel, das keine Ausführungsform einer Probenhalterung ist, kann wie folgt verwendet werden. (4a zeigt die erste Position; 4b und 4c zeigen die zweite Position).
  • In den Probenaufnahmeeinrichtungen 209 wird vorzugsweise in einer konditionierten Umgebung eine Probe 210 angeordnet, wobei anschließend das Schubfach 220 durch den Einstellknopf 225 in den Hohlraum 235 verschoben wird. In dieser zweiten Position wird die Probe zwischen der Dichtung 215 und dem Hohlraum 235 des Stabbauteils 205 arretiert. Dadurch wird die Probe gegenüber ihrer Um welt wenigstens Luft- und feuchtigkeitsdicht verschlossen. Nachdem die Probenhalterung 201 in einem Mikroskop auf die oben beschriebene Art und Weise angebracht worden ist, wird das Schubfach 220 durch den Einstellknopf 225 in die erste Position zurückgezogen, wobei sich die Bohrung 208 und daher die Probe 210 an der Stelle der Öffnung 232 erstrecken. Während der Verschiebung wird der abgeflachte Abschnitt 207 durch die Längsführungen 234 geführt. Dadurch wird die Probe 210 zur Überprüfung freigegeben, während der Sitz des abgeflachten Abschnitts 207 in den Längsführungen 234 zusammen mit dem Teil des Schubfachs 220, welcher in dem Stabbauteil 205 verschiebbar eingefügt ist, eine bewegungsfreie, insbesondere schwingungsfreie Anordnung der Probe 210 schafft. Dadurch, dass der Einstellknopf geringfügig zurückgedreht wird, wird der Knopf 251 in der Ausnehmung 252 in die mittige Position gebracht, so dass das stangenförmige Bauteil 216 von dem Schubfach 220 entkoppelt wird. Somit können zwischen den zwei Bauteilen keine Kräfte übertragen werden. Weil die Dichtung 215 sowohl in der ersten als auch in der zweiten Position bedeckt ist, wird auf einfache Art und Weise verhindert, dass die Dichtung verschmutzt wird.
  • Der abgeflachte Abschnitt 207 weist an der Oberseite eine Abdeckung 250 auf, welche seitlich, das heißt quer zur Längsrichtung, verschoben werden kann, wobei diese Abdeckung 250 wenigstens einen Teil des Schubfachs 220 bedeckt. Die Abdeckung 250 ist mit der Öffnung 232 verbunden, und formt die Längskante der Öffnung 232 an der nahe dem Gehäuseabschnitt 204 liegenden Seite. Dadurch, dass diese Abdeckung 250 entfernt wird, kann das Schubfach 220 beispielsweise zur Reparatur leicht entfernt werden.
  • 5 zeigt ein fünftes Beispiel, das keine Ausführungsform einer Probenhalterung ist. Bei diesem Beispiel, das keine Ausführungsform ist, weist die Probenhalterung 301 eine röhrenförmiges Stabbauteil 305 auf, welches mit einem Fuß 303 fest verbunden ist. In dem Stabbauteil 305 ist ein Schubfachbauteil 320 verschiebbar angeordnet, welches in der Nähe seines ersten Endes 321 eine Bohrung 308 aufweist, die sich mit Probenaufnahmeeinrichtungen 309 quer zur Längsrichtung erstreckt. In dem röhrenförmigen Stabbauteil 305 sind in einer ersten, kreisförmigen Ausnehmung 313 eine erste Dichtung 315 und davon beabstandet in einer zweiten, kreisförmigen Ausnehmung 314 eine zweite Dichtung 316 angeordnet. Der Abstand zwischen den zwei Ausnehmungen ist so, dass die Probenaufnahmeeinrichtungen 309 zwischen den zwei Dichtungen derart untergebracht werden können, dass eine darin aufgenommene Probe 310 von der Umgebung in dieser ersten Position luft- und feuchtigkeitsdicht abgeschlossen ist.
  • Das Stabbauteil 305 weist angrenzend an sein freies Ende 306 eine Verschlussplatte 338 mit einer mittigen Öffnung 339, welche für das Schubfach 320 einen Gleitsitz ausformt, auf. Dadurch kann das Schubfach 320 nur in der Längsrichtung verschoben werden, und es kann sich möglicherweise um die Längsachse, aber nicht quer zu ihr drehen, und es wird durch direkten Kontakt mit der Verschlussplatte 338 und der Innenseite des Stabbauteils 305 gehalten, ohne dass dazwischen die Dichtungen 315, 316 angeordnet sind.
  • 6 zeigt einen Querschnitt von einem Teil einer Probenhalterung 1 mit einem alternativen Beispiel, das keine Ausführungsform der Probenaufnahmeeinrichtungen ist, in einem größeren Maßstab. Der Einfachheit halber wird dieses Beispiel, das keine Ausführungsform ist, nur unter Bezugnahme auf die Probenhalterung gemäß 2 diskutiert, aber sie kann natürlich genauso bei anderen Probenhalterungen verwendet werden.
  • Bei dem Stabbauteil 5 beinhaltet die Bohrung 8 ein ringförmiges Aufnahmebauteil 11, das sich um einen Drehpunkt 60 drehen kann, der sich quer zur Längsrichtung des Stabbauteils 5 und quer zur Richtung der Bohrung 8 erstreckt. Der Drehpunkt 60 ist an beiden Enden in dem Stabbauteil 5 durch Lager angebracht. Auf der ersten Seite der Bohrung 8 nahe dem freien Ende 6 des Stabbauteiles ist eine Blattfeder 61 eingeschlossen, welche ihr am freien Ende befindliches Lager an einer Unterseite des Aufnahmebauteiles 11 derart aufweist, dass dieses Aufnahmebauteil in einer gedrehten Position vorgespannt ist. Ferner ist an einer ersten Seite in dem Stabbauteil 5 ein gabelförmiger Schwenkarm 62 gelagert derart angebracht, dass er sich um ein Gelenk 64 dreht, wobei ein erster Finger 63 des Schwenkarms 62 gegen die Seite des Aufnahmebauteils 11 stößt. Von der relevanten Seite des Aufnahmebauteils 11 erstreckt sich ein Sperrhaken 68 ungefähr parallel zu der Drehachse 60. Der Sperrhaken ist in einem entsprechenden Schlitz 68, der in dem ersten Finger 63 vorgesehen ist, verschiebbar angebracht. Der zweite Finger 65 erstreckt sich schräg nach unten zu einem Punkt in der Nähe oder oberhalb der Kante der Bohrung 8. Der Schwenkarm 62 kann zwischen einer ersten Position, in welcher das Aufnahmebauteil 11 sich ungefähr horizontal erstreckt, und einer zweiten Position, in welcher das Aufnahmebauteil aus der horizontalen Ebene heraus geschwenkt wird, schwenken. 6 zeigt die zweite Position.
  • Wenn sich der Schwenkarm 62 in der ersten Position befindet, befindet sich das obere Ende 66 des zweiten Fingers 65 etwa auf dem gleichen Niveau wie die Außenfläche des Stabbauteils 5, und wenn sich das Aufnahmebauteil 11 in der zweiten Position befindet, erstreckt sich das obere Ende 66 außerhalb des Umfangs von dem Stabbauteil 5. Das obere Ende 66 des zweiten Fingers ist vorzugsweise abgerundet oder abgeschrägt.
  • Die Abdeckung 17 ist an der Oberseite und an der Unterseite mit einer Öffnung versehen. Wenigstens die obere Öffnung 32 hat eine abgeschrägte Längskante 67 auf der nahe der Bohrung gelegenen Seite, wobei die Längskante 67 mit dem oberen Ende 66 des zweiten Fingers 65 in Kontakt gelangen kann.
  • Die Probenaufnahmeeinrichtungen 9 und die Probenhalterung 1 gemäß 6 können wie folgt verwendet werden.
  • Die Probe 10 wird in dem Aufnahmebauteil 11 durch einen schraubbaren Klemmring 12 auf die im Allgemeinen oben beschriebene Art und Weise befestigt. Die Abdeckung 17 wird anschließend in die erste Position gebracht, wodurch der zweite Finger 65 nach unten gedrückt wird und wodurch das Aufnahmebauteil 11 mit der Probe 10 durch Verschiebung des Sperrhakens 68 in dem Schlitz 69 in die erste Position geschwenkt wird. Nachdem die Probenhalterung 1 angrenzend an das Mikroskop angebracht worden ist, kann die Abdeckung zur zweiten Position verschoben werden, so dass die Probe 10 betrachtet werden kann. Dadurch kann die Neigung des Aufnahmebauteils 10 durch das Maß der Verschiebung der Abdeckung 17 definiert werden, weil während der Verschiebung der Abdeckung 17 das obere Ende 66 des zweiten Fingers 65 mit der abgeschrägten Längskante 67 der Öffnung 32 in Kontakt steht. Bei der Verschiebung der Abdeckung wird sich das obere Ende entlang der Abschrägung 67 langsam nach oben bewegen, so dass sich auch der Schwenkarm 62 weiter in Richtung der zweiten Position bewegt.
  • Somit kann die Position der Probe während ihrer Anwendung genau eingestellt und ausgerichtet werden. Es sind viele Varianten möglich. Beispielsweise können verschiedene Teile der dargestellten Beispiele, welche keine Ausführungsformen sind, ausgetauscht werden. Die Probenaufnahmeeinrichtungen können dafür ausgelegt sein, verschiedene Proben gleichzeitig anzuordnen, und es können Einrichtungen untergebracht sein, beispielsweise zum Drehen der Probe um eine Längsachse und/oder Querachse. Ferner können verschiedene Beispiele, welche keine Ausführungsformen sind, von Kippmechanismen enthalten sein, welche von außen betätigt werden können oder nicht. Um die Abdeckung oder das Schubfach zu verschieben, können andere Einrichtungen, beispielsweise motorangetriebene Einrichtungen, angeordnet sein. Ferner können Einrichtungen enthalten sein, um die Probe zu konditionieren, beispielsweise Heiz- und Kühleinrichtungen, sowie beispielsweise Einrichtungen zum Erzeugen eines Vakuums um die Probe herum.
  • Im Folgenden werden Gesichtspunkte der beanspruchten Erfindung unter Bezugnahme auf die 7 bis 10 erklärt.
  • 7 zeigt einen Probenträger 401 in einer ungefalteten Position. Der Probenträger 401 ist aus einem Blattmaterial hergestellt, wie zum Beispiel einem Molybdänfilm, aber er kann auch aus einem anderen Material hergestellt sein. Der Probenträger 401 besteht aus zwei Verriegelungsteilen 402, 403, welche eine im Wesentlichen identische Form aufweisen und sich an entgegengesetzten Seiten einer Faltlinie 404 erstrecken. In dem in 7 dargestellten Zustand ist die Rückseite des ersten Verriegelungsteils 402 flach auf einer Oberfläche angeordnet, und das zweite Verriegelungsteil 403 ist nach oben geschwenkt.
  • Das erste Verriegelungsteil 402 ist mit einer ersten, ungefähr kreisförmigen Öffnung 405, die sich nahe der Faltlinie 404 befindet, und mit einer zweiten, ungefähr kreisförmigen Öffnung 406, die sich nahe der von der Faltlinie 404 entfernt liegenden Seite befindet, versehen, wobei die zweite Öffnung 406 beträchtlich kleiner ist als die erste Öffnung 405. In der Nähe der Faltlinie 404 ist das zweite Verriegelungsteil 403 mit einer dritten Öffnung 407, welche im Wesentlichen der ersten Öffnung 405 entspricht, versehen, und in der Nähe der von der Faltlinie entfernt liegenden Seite ist das zweite Verriegelungsteil 403 mit einem Vorsprung 408 versehen, welcher in der zweiten Öffnung 406 mit einer Klemmbefestigung aufnehmbar ist. Die erste Öffnung 405 weist zwei Aussparungen 409 auf, welche in Bezug auf die Mitte asymmetrisch vorgesehen sind. Dadurch sind Lappen ausgeformt, welche ein geeignetes Positionieren der Probe 403 erleichtern, wenn sie geringfügig gebogen sind.
  • Das erste Verriegelungsteil 402 ist im Wesentlichen rechtwinklig und hat drei gleiche, abgeschrägte Ecken 410. Die vierte Ecke 411, welche nicht auf der Seite der Faltlinie 404 angeordnet ist, ist etwas weniger abgeschrägt. Das zweite Verriegelungsteil 403 hat vier abgeschrägte Ecken 412. In der geschlossenen Position des Probenträgers 401, wie es in 8 dargestellt ist, erstreckt sich die vierte Ecke 411 des ersten Verriegelungsteils 402 demgemäß außerhalb der Kontur des zweiten Verriegelungsteils 403. Diese Ecke erleichtert ein Öffnen des Probenträgers. Die Faltlinie 404 ist kürzer als die Breite der Verriegelungsteile 402, 403, was es relativ einfach macht, den Probenträger nach oben zu klappen. Der Probenträger ist beispielsweise 3,5 mm breit und 5 mm lang; das Blattmaterial ist beispielsweise 0,05 mm dick.
  • Diese Abmessungen sind hier als Angabe von Abmessungen der gezeigten Ausführungsform angegeben.
  • Die Probe 413 ist scheibenförmig und sehr dünn. Sie weist eine Oberfläche auf, welche geringfügig größer ist als die der ersten Öffnung 405 und der dritten Öffnung 407. Dadurch kann die Probe durch eine ihrer Umfangskanten an dem ersten Verriegelungsteil 402 um die erste Öffnung 405 angeordnet werden. Anschließend kann das zweite Verriegelungsteil 403 über die Probe 413 derart gefaltet werden, dass der Vorsprung 408 in der zweiten Öffnung 406 mit einem Klemmsitz aufgenommen wird. Die Probe 413 wird dadurch zwischen das erste Verriegelungsbauteil 402 und das zweite Verriegelungsbauteil 403 geklemmt. Die Probe 413 kann von beiden Seiten des Probenträgers 401 durch die erste Öffnung 405 bzw. durch die dritte Öffnung 407 betrachtet werden. Um die Probe 413 zu schützen, kann der Probenträger 401 zusammen mit der Probe 413 in einem konditionierten Raum, beispielsweise in einem Luft- und feuchtigkeitsdichtem Gehäuse, angeordnet sein, oder der Probenträger kann beispielsweise in einer Luft- und feuchtigkeitsdichten Außenummantelung untergebracht sein.
  • Der Probenträger 401 kann von einer Handhabungseinrichtung 414 aufgenommen werden, ohne dass die Probe 413 selbst bei dem Vorgang berührt wird. Die Handhabungseinrichtung kann beispielsweise ein in 10 dargestellter beweglicher Arm 420 sein, aber sie kann beispielsweise auch Zangen oder Pinzetten sein. Der Probenträger 401 kann in einer Probenhalterung 422 in die Probenaufnahmeeinrichtungen 421 eingefügt werden. 9 zeigt das freie Ende einer geeigneten Probenhalterung.
  • Die Probenaufnahmeeinrichtungen 421 weisen ein Plattenbauteil 424 auf, welches um eine Drehachse 423 drehbar ist und eine Durchgangsbohrung 425 aufweist, die sich quer zur Drehachse 423 erstreckt. Die Bohrung 425 ist mit einem wenigstens teilweise kreisförmigen Absatz 426 versehen, wobei der Teil der Bohrung 425, welcher oberhalb des Absatzes 426 angeordnet ist, mit einem Innengewinde versehen ist. Oberhalt des Absatzes 426 ist ein Gewindering 427 in die Bohrung geschraubt. An der Vorderseite eines Plattenbauteils 424 ist ein abgesenkter Abschnitt 428 vorgesehen. In dem Plattenbauteil 424 ist ein Schlitz vorgesehen, der sich von dem abgesenkten Abschnitt erstreckt, wobei der Absatz 426 und der abgesenkte Abschnitt 428 einen Teil der Bodenfläche des Schlitzes bilden. Die Abmessungen des Schlitzes sind derart, dass der Probenträger 401 darin eingefügt wird, während die Probe 413 durch die Bohrung 425 und den Gewindering 427 sichtbar ist. Oberhalb dieses Schlitzes ist an der Vorderseite eine Öffnung 429 vorgesehen, deren Wandungen sich ungefähr radial von der Bohrung 425 zu der Vorderseite des Plattenbauteils 424 erstrecken. Zwischen den Wandungen 430 erstreckt sich ein Betätigungsarm 431, welcher an einer Seite beispielsweise steif oder über eine Schraubverbindung mit einem Gewindering 427 verbunden ist, und welcher sich an der anderen Seite über den abgesenkten Abschnitt 428 außerhalb der Wandungen 430 erstreckt.
  • Durch den Betätigungsarm 431 ist der Gewindering 427 zwischen einer freien Position und einer Klemmposition verschiebbar. In der freien Position ist der Abstand zwischen der Unterseite des Gewinderings 427 und der Oberseite des Absatzes 426 größer als die Dicke der Probenhalterung 401 mit der darin enthaltenen Probe 413; in der geklemmten Position ist er kleiner. In der freien Position stößt der Betätigungsarm 431 gegen eine der Wandungen 430; in der geklemmten Position stößt er im Wesentlichen gegen die andere Wandung 430. Dadurch kann der Gewindering 427 nur eine begrenzte Drehung, beispielsweise 90° oder weniger, durchlaufen, und er kann von dem Platten bauteil nicht frei kommen, ohne dass vorher der Betätigungsarm entfernt wird. Dadurch kann der Gewindering nicht verloren werden, und er kann zwischen der freien Position und der Klemmposition schnell und gleichmäßig bewegt werden.
  • Auf seiner von dem abgesenkten Abschnitt 428 entfernt liegenden Seite wird das Plattenbauteil 424 durch eine Feder gegen einen Kippmechanismus 432 gedrückt. Durch den Kippmechanismus 432, welcher beispielsweise einen Schwenkarm 434 aufweist, der um eine zweite Drehachse 433 gekippt werden kann, kann das Plattenbauteil 424 um die erste Drehachse 423 zwischen zwei extremen Positionen geschwenkt werden. Der Kippmechanismus kann fern von dem Plattenbauteil 424 und vorzugsweise außerhalb des Elektronenmikroskops betätigt werden.
  • Die Probenhalterung 422 und der Probenträger 401 können wie folgt verwendet werden.
  • Der Gewindering 427 wird beispielsweise dadurch, dass er durch die Handhabungseinrichtung 414, 420 gegen den Betätigungsarm 431 gedrückt wird, in die freie Position gebracht. Durch die Handhabungseinrichtung 414, 420 wird der Probenträger 401 anschließend in der Nähe einer von der Öffnung 405, 407 entfernt liegenden Seite gegriffen und in Richtung der Probenaufnahmeeinrichtungen 421 verschoben. Es ist hier von Vorteil wenn dann, wenn ein Positionierungsblock 440 verwendet wird, eine Reihe von Probenträgern 401 an festen Positionen in einem konditionierten Raum 441 angeordnet sind (siehe 10), der mit einem konditionierten Raum 442 des Elektronenmikroskops in Verbindung steht. Jeder Probenträger 401 kann anschließend, sogar (halb-)automatisch, leicht in Eingriff gebracht werden.
  • Das von der Handhabungseinrichtung 414, 420 entfernt liegende Ende des Probenträgers 401 wird mit dem abgesenkten Abschnitt 428 in Kontakt gebracht und in Richtung der Bohrung 425 verschoben. Die abgeschrägten Ecken 410, 411, 412 führen den Probenträger in den Schlitz.
  • In der Bohrung 425 ist der Probenträger 401 mit einem bestimmten Zwischenraum zwischen dem Absatz 426 und dem Gewindering 427 derart angebracht, dass wenigstens der Abschnitt der Probe, welcher durch die erste Öffnung 405 und durch die dritte Öffnung 407 sichtbar ist, in der Bohrung 425 durch den Gewindering 427 sichtbar ist. Anschließend wird der Probenträger 401 gelöst, und durch die Handhabungseinrichtung 414, 420 werden der Betätigungsarm betätigt und der Gewindering in Richtung der Klemmposition bis zu einem Maximalmaß zusammengedrückt. Dementsprechend wird der Probenträger 401 mit der Probe 413 in der Probenaufnahmeeinrichtung 421 derart fest angebracht, dass die Probe 413 von zwei Seiten der Probenhalterung 422 sichtbar ist. Wenn notwendig kann die Probenhalterung 422 anschließend in die Position verschoben werden, wo die Probe 413 durch das Mikroskop betrachtet werden kann.
  • Nach einer Analyse der Probe 413 wird der Gewindering 427 durch die Handhabungseinrichtung in die freie Position zurückgedreht, wodurch anschließend der Probenträger 401 von der Probenhalterung durch die Handhabungseinrichtung 414, 420 entfernt wird und in den Positionierungsblock 440 zurück versetzt wird. Anschließend kann ein zweiter oder weiterer Probenträger von dem Positionierungsblock 440 entnommen werden und in der Probenaufnahmeeinrichtung auf die oben beschriebene Art und Weise angeordnet werden.
  • Während der Analyse der Probe kann die Position der Probe in Bezug auf das Elektronenmikroskop in der in den 7 und 8 dargestellten Ausführungsform dadurch eingestellt werden, dass die Probenhalterung 422 und der Kippmechanismus 432 verschoben werden. Es sind jedoch auch Ausgestaltungen möglich, welche keinen Kippmechanismus enthalten, und Ausgestaltungen, in welchen die Verschiebungen auf andere bekannte Arten und Weisen erzielt werden. Es kann beispielsweise jede der oben beschriebenen Probenhalterungen 1, 101, 201, 301, verwendet werden. Die Erfindung gemäß den Ansprüchen ist keineswegs auf die in der Beschreibung und der Zeichnung dargestellten und beschriebenen Vorrichtungen eingeschränkt. Es sind viele Abwandlungen möglich. Beispielsweise kann der beanspruchte Probenträger unterschiedlich ausgestaltet sein. Ferner kann der beanspruchte Probenträger in Abhängigkeit von beispielsweise der zu verwendenden Probenhalterung natürlich eine andere Gestalt als eine rechtwinklige Gestalt aufweisen. Die Probenaufnahmeeinrichtungen können zum Beispiel auch als Schubfach ausgestaltet sein, oder sie können mit einer Klemmplatte versehen sein, welche an einer Grundplatte aufgehängt ist, zwischen welcher der Probenträger eingeklemmt werden kann. Ferner können in einer Probenhalterung eine Anzahl von Probenträgern angeordnet sein, wodurch irgendeine der Proben nach Wunsch betrachtet werden kann. Der Schutzumfang der Erfindung ist durch die beigefügten Ansprüche definiert.

Claims (10)

  1. Vorrichtung zum Anbringen einer Probe in einem Elektronenmikroskop, das mit einer Probenhalterung versehen ist, welche Probenaufnahmeeinrichtungen aufweist und derart angeordnet ist, dass sie wenigstens teilweise in einem Elektronenmikroskop aufgenommen wird, worin wenigstens ein Probenträger vorgesehen ist, der eine Probe in einer Position enthalten kann, in der sie wenigstens teilweise von der Außenseite des Probenträgers von wenigstens zwei entgegengesetzten Seiten des Trägers sichtbar ist, wobei der oder jeder Probenträger in den Probenaufnahmeeinrichtungen aufnehmbar ist, worin der Probenträger aus einem Blattmaterial hergestellt ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Probenhalterung aus einem Blattteil gefaltet und mit einer Faltlinie versehen ist, wobei die Probe zwischen zwei Verschlussteilen des Blattteils klemmbar ist, die sich an entgegengesetzten Seiten der Faltlinie erstrecken.
  2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass jedes Verschlussteil mit einer Öffnung versehen ist, durch welche die Probe während der Benutzung betrachtet werden kann.
  3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Blattmaterial aus einem filmförmigen Material hergestellt ist.
  4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass das filmförmige Material ein Molybdänfilm ist.
  5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Probenaufnahmeeinrichtungen in der Probenhalterung eine Bohrung aufweisen, die an zwei Seiten offen und mit einem Absatz und wenigstens teilweise mit einem Innengewinde versehen ist, wobei ein Gewindering mit Außengewinde versehen ist, der in die Bohrung schraubbar ist und durch den der Probenträger gegen den Absatz in der Bohrung klemmbar ist.
  6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Gewindering mit einem Betätigungsarm versehen ist, der sich während der Benutzung teilweise außerhalb der Halterung erstreckt, während der Gewindering bis weniger als 360° gedreht werden muss, um den Probenträger zu befestigen und zu lösen.
  7. Vorrichtung nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Probenträger von einer Seite zwischen einem Gewindering, der wenigstens teilweise in die Bohrung geschraubt ist, und dem Absatz verschiebbar ist.
  8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass das Elektronenmikroskop mit einem Raum versehen ist, der von der Umgebung wenigstens luft- und feuchtigkeitsdicht verschlossen ist und in den sich die Probenaufnahmeeinrichtungen erstrecken, wobei eine Reihe von Probenträgern, in denen eine Reihe von Proben untergebracht ist, mit Einrichtungen angeordnet ist, die vorgesehen sind, um zumindest die Probenträger und die Probenaufnahmeeinrichtungen in dem Raum zu bedienen, wobei die Anordnung derart ist, dass die Probenträger und daher die Proben für eine Analyse in dem Elektronenmikroskop ausgetauscht werden können, ohne dass die Probenhalterung dafür von dem Elektronenmikroskop entfernt werden muss.
  9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Probenträger in einem Speicherraum angeordnet sind, der außerhalb des Elektronenmikroskops angeordnet ist und mit dem geschlossenen Raum des Elektronenmikroskops in Verbindung steht.
  10. Probenträger zur Verwendung in einer Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Probenträger aus einem Blattteil gefaltet ist, das mit einer Faltlinie versehen ist, wobei eine Probe zwischen zwei Verschlussteilen des Blattteils klemmbar ist, die sich an entgegengesetzten Seiten der Faltlinie erstrecken.
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