DE69416367D1 - Verfahren und Apparatur zur Messung der Wärmeleitfähigkeit - Google Patents

Verfahren und Apparatur zur Messung der Wärmeleitfähigkeit

Info

Publication number
DE69416367D1
DE69416367D1 DE69416367T DE69416367T DE69416367D1 DE 69416367 D1 DE69416367 D1 DE 69416367D1 DE 69416367 T DE69416367 T DE 69416367T DE 69416367 T DE69416367 T DE 69416367T DE 69416367 D1 DE69416367 D1 DE 69416367D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
thermal conductivity
measuring thermal
measuring
conductivity
thermal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69416367T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69416367T2 (de
Inventor
John Edwin Graebner
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AT&T Corp
Original Assignee
AT&T Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by AT&T Corp filed Critical AT&T Corp
Publication of DE69416367D1 publication Critical patent/DE69416367D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE69416367T2 publication Critical patent/DE69416367T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
    • G01N25/18—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating thermal conductivity

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
DE69416367T 1993-06-23 1994-06-15 Verfahren und Apparatur zur Messung der Wärmeleitfähigkeit Expired - Lifetime DE69416367T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/081,726 US5297868A (en) 1993-06-23 1993-06-23 Measuring thermal conductivity and apparatus therefor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69416367D1 true DE69416367D1 (de) 1999-03-18
DE69416367T2 DE69416367T2 (de) 1999-08-26

Family

ID=22165998

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69416367T Expired - Lifetime DE69416367T2 (de) 1993-06-23 1994-06-15 Verfahren und Apparatur zur Messung der Wärmeleitfähigkeit

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5297868A (de)
EP (1) EP0644418B1 (de)
JP (1) JP2813137B2 (de)
KR (1) KR0145027B1 (de)
DE (1) DE69416367T2 (de)
TW (1) TW310049U (de)

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5297868A (en) * 1993-06-23 1994-03-29 At&T Bell Laboratories Measuring thermal conductivity and apparatus therefor
US5620253A (en) * 1995-07-31 1997-04-15 Lucent Technologies Inc. Method of determining the thermal resistivity of electrically insulating crystalline materials
US5664884A (en) * 1995-07-31 1997-09-09 Lucent Technologies Inc. Apparatus for determining the thermal resistivity of electrically insulating crystalline materials
US5795064A (en) * 1995-09-29 1998-08-18 Mathis Instruments Ltd. Method for determining thermal properties of a sample
EP0885387A1 (de) * 1996-03-08 1998-12-23 Holometrix, Inc. Wärmeflussmessgeräte
US6331075B1 (en) 1998-05-01 2001-12-18 Administrator, National Aeronautics And Space Administration Device and method for measuring thermal conductivity of thin films
US6142662A (en) * 1998-06-16 2000-11-07 New Jersey Institute Of Technology Apparatus and method for simultaneously determining thermal conductivity and thermal contact resistance
US6502983B2 (en) * 1999-03-30 2003-01-07 The Regents Of The University Of California Micro-machined thermo-conductivity detector
JP2002131257A (ja) * 2000-10-26 2002-05-09 Nisshinbo Ind Inc 熱伝導率測定方法、測定装置及び断熱材の製造方法
FR2832798B1 (fr) * 2001-11-27 2004-01-30 Captec Comparateur de flux thermiques
JP4155749B2 (ja) * 2002-03-20 2008-09-24 日本碍子株式会社 ハニカム構造体の熱伝導率の測定方法
US6923570B2 (en) * 2003-09-11 2005-08-02 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Thermal interface material characterizing system
EP1831675A4 (de) * 2004-12-16 2013-09-04 Atlantic Business Ct Of Excellence And Commercialization Of Innovation Ltd Verfahren und vorrichtung zur überwachung von materialien
US7690838B2 (en) * 2005-04-21 2010-04-06 Chikayoshi Sumi Thermal properties measurement apparatus
TWI277727B (en) * 2005-08-24 2007-04-01 Yeh Chiang Technology Corp Measuring system for heat conductance performance of heat conductance device
CN101017146B (zh) * 2006-02-08 2010-05-12 周玉成 板材导热效能的检测分析方法及其系统
JP5078703B2 (ja) * 2008-03-31 2012-11-21 日本モレックス株式会社 熱的接合材の熱伝導率測定装置および測定方法
CN101881741B (zh) * 2009-05-08 2013-04-24 清华大学 一维材料热导率的测量方法
JP5309370B2 (ja) * 2011-02-21 2013-10-09 シー・サーム テクノロジーズ リミテッド 材料をモニタする方法及び装置
JP5713293B2 (ja) * 2011-10-27 2015-05-07 株式会社アンド ワイヤリング装置
FR2993360B1 (fr) * 2012-07-13 2015-02-20 Commissariat Energie Atomique Procede de mesure de la conductivite thermique d’un materiau mince anisotrope
CN103822940B (zh) * 2014-03-12 2015-12-02 南京航空航天大学 Led散热器热性能测试方法及测试装置
KR101659141B1 (ko) * 2014-03-17 2016-09-22 주식회사 엘지화학 시편 열전달 성능 측정 장치
RU2560112C1 (ru) * 2014-05-14 2015-08-20 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем машиноведения Российской академии наук (ИПМаш РАН) Способ дефектоскопии металлических изделий при их поверхностной обработке
CN105259206B (zh) * 2015-10-29 2017-11-14 河海大学 测量单轴压缩过程混凝土导热系数下降率的装置及方法
CN108303443B (zh) * 2018-01-09 2020-04-03 中国计量大学 一种薄片材料面向导热性能稳态测试方法
CN108614008B (zh) * 2018-08-08 2019-08-02 北京航空航天大学 一种复合材料面内热导率的测量方法
CN109709139A (zh) * 2019-01-07 2019-05-03 福建省产品质量检验研究院 一种快速测试不规则泡沫塑料制品导热系数的方法
CN110174434B (zh) * 2019-05-25 2021-12-07 天津大学 一种测量多孔材料内异质含量及其分布的方法
US11137362B2 (en) 2019-12-10 2021-10-05 Covestro Llc Method for assessing the long-term thermal resistance of closed-cell thermal insulating foams at multiple mean temperatures
CN112710695A (zh) * 2020-12-21 2021-04-27 西安交通大学 获取不同压缩率下高压xlpe电缆用缓冲层导热系数的方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3263485A (en) * 1964-01-30 1966-08-02 Minnesota Mining & Mfg Apparatus for determining thermal conductivity
US3257840A (en) * 1964-12-17 1966-06-28 Kenneth G Skinner Apparatus for comparative determination of thermal conductivity
US3552185A (en) * 1968-10-09 1971-01-05 Dow Chemical Co Thermal conductivity apparatus
US3662587A (en) * 1970-10-02 1972-05-16 Us Army Thermal conductivity apparatus
US3733887A (en) * 1972-01-31 1973-05-22 Borg Warner Method and apparatus for measuring the thermal conductivity and thermo-electric properties of solid materials
JPS5831542B2 (ja) * 1979-02-28 1983-07-06 京都大学長 液体の熱伝導率測定装置
JPS5661639A (en) * 1979-10-24 1981-05-27 Suga Shikenki Kk Heat-accumulative element
JPS5687850A (en) * 1979-12-18 1981-07-16 Toshiba Corp Thermal conductivity meter
SU935765A1 (ru) * 1980-10-03 1982-06-15 Харьковский авиационный институт им.Н.Е.Жуковского Устройство дл определени теплофизических свойств твердых тел
PL139300B1 (en) * 1983-04-27 1987-01-31 Pan Ct Badan Molekularnych I M Method of determination of thermal conductivity and heat storage capacity of materials and apparatus therefor
SU1485102A1 (ru) * 1986-11-11 1989-06-07 Le T I Kholodilnoi Prom Устройство для градуировки преобразователей теплового потока
DE3711511C1 (de) * 1987-04-04 1988-06-30 Hartmann & Braun Ag Verfahren zur Bestimmung der Gaskonzentrationen in einem Gasgemisch und Sensor zur Messung der Waermeleitfaehigkeit
EP0325430B1 (de) * 1988-01-18 1996-05-01 Ishikawajima-Harima Heavy Industries Co., Ltd. Vorrichtung zur Messung der thermischen Konduktivität
US4978230A (en) * 1988-04-13 1990-12-18 General Electric Company Apparatus and method for determining heat transfer coefficient based on testing actual hardware rather than simplistic scale models of such hardware
SU1557502A1 (ru) * 1988-04-18 1990-04-15 Киевский Автомобильно-Дорожный Институт Им.60-Летия Великой Октябрьской Социалистической Революции Устройство дл определени теплопроводности твердых материалов
US5297868A (en) * 1993-06-23 1994-03-29 At&T Bell Laboratories Measuring thermal conductivity and apparatus therefor

Also Published As

Publication number Publication date
US5297868A (en) 1994-03-29
JPH07146266A (ja) 1995-06-06
EP0644418A1 (de) 1995-03-22
KR950001291A (ko) 1995-01-03
DE69416367T2 (de) 1999-08-26
EP0644418B1 (de) 1999-02-03
JP2813137B2 (ja) 1998-10-22
KR0145027B1 (ko) 1998-07-15
TW310049U (en) 1997-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69416367T2 (de) Verfahren und Apparatur zur Messung der Wärmeleitfähigkeit
DE69415738D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Wärmeleitfähigkeit
DE69435097D1 (de) Verfahren und Vorrichtung für Temperaturmessung mit Nutzung der Infrarottechnik
DE69530563D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Chemilumineszenz
DE69718551T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Substrattemperaturen
DE69208005T2 (de) Verfahren und Vorrichtung für Abstandsmessung
DE69430152T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Messen von Glukoseverwandten Substanzen
DE69733124D1 (de) Vorrichtung und verfahren zur messung der flächenkontur
DE69510587T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung der Fahrbahnsteigung
DE3851587D1 (de) Verfahren und Apparatur zur Widerstandsmessung.
DE69426761D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Ionenkonzentration
DE69124843T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Radwinkeln
DE69425571D1 (de) Verfahren und gerät zur messung des wärmeflusses
DE69114886T2 (de) Verfahren und Gerät zur Messung der Biostromverteilung.
DE69631710D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Oktanzahl
DE59502277D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur elektrooptischen entfernungsmessung
DE69416052T2 (de) Gerät und Verfahren zur Messung der Inhalte an Bestandteilen
ATA76093A (de) Verfahren und vorrichtung zur ermittlung der korrosivität
DE59709167D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur folienaufheizung sowie messeinrichtung zur messung der folientemperatur
DE69429997D1 (de) Anordnung und verfahren zur kontaminationsmessung
DE69426468D1 (de) Verfahren und Gerät zur Abstandsmessung
DE68908015T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Feststellung der Wärmeleitfähigkeit.
ATA201590A (de) Verfahren und vorrichtung zur laengen- und winkelmessung
DE68927938T2 (de) Verfahren zur Messung der thermischen Konduktivität
DE69403249T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Brennstabpositionen