DE69313919T2

DE69313919T2 - Verfahren und Einrichtung zur Aufzeichnung von Information auf einem Aufzeignungsträger mit einer Aufzeichnungsschicht, die bei Erwärmung eine optisch detektierbare Veränderung erfährt

Info

Publication number: DE69313919T2
Application number: DE69313919T
Authority: DE
Inventors: Wilhelmus Hendrikus A Bardoel; Bernardus Antonius J Jacobs; Johannes Hendrikus M Spruit
Original assignee: Koninklijke Philips Electronics NV
Current assignee: Koninklijke Philips NV
Priority date: 1992-05-13
Filing date: 1993-05-07
Publication date: 1998-03-12
Anticipated expiration: 2013-05-08
Also published as: ES2109419T3; TW227614B; KR930023949A; US5321682A; DE69313919D1; JPH0620278A; KR100256386B1

Description

Verfahren und Einrichtung zum Aufzeichnen von Information auf einem Aufzeichnungsträger mit einer Aufzeichnungsschicht, die bei Erwärmung eine optisch detektierbare Änderung erfährt
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Aufzeichnen von Information auf einem Aufzeichnungsträger mit einer Aufzeichnungsschicht, in der durch Erwärmen der genannten Schicht eine optisch detektierbare Änderung realisiert werden kann, in welchem Verfahren die Aufzeichnungsschicht mit Hilfe eines Strahlenbündels abgetastet wird, dessen Leistung gemäß einem mit der aufzuzeichnenden Information zusammenhängenden Impulsmuster moduliert wird, wobei das genannte Impulsmuster Impulse umfaßt, die einen hohen Leistungspegel haben und mit Intervallen abwechseln, die einen niedrigen Leistungspegel haben, und in welchem Verfahren der Wert der Leistung innerhalb jedes Strahlungsimpulses abnimmt, um den Temperaturanstieg auszugleichen, der von der der Aufzeichnungsschicht während des vorhergehenden Teils des betreffenden Strahlungsimpulses zugeführten Leistung bewirkt worden ist.
Die Erfmdung betrifft auch eine Einrichtung zum Aufzeichnen von Information auf einem Aufzeichnungsträger mit einer Aufzeichnungsschicht, in der durch Erwärmen der genannten Schicht eine optisch detektierbare Änderung realisiert werden kann, welche Einrichtung eine Strahlungsquelle zum Erzeugen eines Strahlenbündels umfaßt, Abtastmittel zum Abtasten der Aufzeichnungsschicht mit Hilfe des Strahlenbündels, eine Schreibsignalgenerierschaltung zum Umsetzen eines Informationssignals in ein Schreibsignal mit einem Impulsmuster, wobei das genannte Impulsmuster Impulse umfaßt, die einen hohen Leistungspegel haben und mit Intervallen abwechseln, die einen niedrigen Leistungspegel haben, wobei der Signalpegel innerhalb der Impulse abnimmt, sowie eine Steuerschaltung zum Einstellen des Momentanwertes der Leistung des Strahlenbündels auf einen Wert, der vom momentanen Signalpegel des Schreibsignals festgelegt wird.
Ein Verfahren und eine Einrichtung der eingangs erwähnten Art sind aus 25 US-4.894.816 bekannt. In dem bekannten Verfahren und der Einrichtung wird die Aufzeichnungsschicht mit einem Strahlenbündel in Form eines Laserstrahlenbündels abgetastet, dessen Leistung pulsförmig moduliert ist. Bei jedem Strahlungsimpuls wird die Aufzeicbnungsschicht über eine Schreibtemperatur hinaus erwärmt, oberhalb deren die Aufzeichnungsschicht eine optisch detektierbare Änderung erfährt. Während der Intervalle sinkt die Temperatur in der Aufzeichnungsschicht unter die Schreibtemperatur. Somit wird ein Informationsmuster aus Gebieten mit veränderten optischen Eigenschaften erhalten. Der Anfangswert jedes Strahlungsimpulses ist exponentiell von der Länge des vorangehenden Intervalls abhängig. Innerhalb des Strahlungsimpulses selbst nimmt die Leistung exponentiell als Funktion der Zeit ab. Dadurch wird erreicht, daß bei der Bildung von Gebieten mit veränderten Eigenschaften die Temperatur in dem abgetaste ten Abschnitt der Aufzeichnungsschicht auf nahezu dem gleichen Pegel gehalten wird, was bedeutet, daß die Abmessungen der angebrachten Gebiete wohldefiniert sind. Der Jitter in dem Lesesignal beim Auslesen eines Informationsmusters, das aus solchen Gebieten mit optisch detektierbaren Änderungen besteht, ist dann klein, was eine hohe Informationsdichte auf dem Aufzeichnungsträger möglich macht. In dem bekannten Verfahren ist die Leistung des Strahlungsimpulses während der Intervalle konstant.
Beim Aufzeichnen von Information mit Hilfe eines Laserstrahlenbündels mit modulierter Strahlungsleistung strebt man nach einem Verfahren, bei dem die Spitzenleistung des Strahlenbündel nicht unnötig hoch wird. Die Lebensdauer des Lasers wird nämlich durch Einsatz bei höheren Leistungen negativ beeinflußt.
Der Erfindung liegt unter anderem die Aufgabe zugrunde, Mittel zu verschaffen, mit denen beim Aufzeichnungsvorgang niedrigere Spitzenleistungen in dem modulierten Strahlenbündel ausreichen.
In einem Verfahren der eingangs beschriebenen Art wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß die Leistung innerhalb eines Intervalls niedrigen Pegels ansteigt, um die Temperatur am Ort der Abtastung innerhalb der Intervalle auf einem gleichmäßigeren Pegel zu halten.
In einer Einrichtung der eingangs beschriebenen Art wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß die Schreibsignalgenerierschaltung eingerichtet ist zum Generieren des Schreibsignals mit einem Signalwert, der innerhalb des betreffenden Intervalls eines niedrigen Pegels ansteigt.
Dadurch wird die Temperatur am Ende des Intervalls weniger abgenommen haben als bei dem Verfahren nach dem Stand der Technik. Infolgedessen wird ein niedrigerer Wert für den Anfangswert (Spitzenwert) der Leistung des folgenden Strahlungsimpulses genügen. Wegen der höheren Temperatur am Ende des Intervalls ist nämlich die zu überbrückende Temperaturdifferenz kleiner geworden. Außerdem wird ein besserer Ausgleich des Temperatureinflusses erhalten, da der Temperatureinfluß der Stralilungsimpulse sowie der der Intervalle ausgeglichen wird.
Eine Ausführungsform des Verfahrens ist dadurch gekennzeichnet, daß ein rechteckförmiges zweiwertiges Steuersignal zum Einstellen der Strahlungsleistung generiert wird, wobei auf Basis dieses Steuersignals ein Maß für den Einfluß der Veränderung der Strahlungsleistung auf die Temperatur am Ort der Abtastung bestimmt wird, und daß der Signalwert des rechteckförmigen Steuersignals in Abhängigkeit von dem bestimmten Maß angepaßt wird, wobei die Leistung des Strahlenbündels auf einen Wert eingestellt wird, der dem Signalwert des angepaßten Steuersignals entspricht.
Diese Ausführungsform hat den Vorteil, daß der Einfluß des vollständigen vorhergehenden Impulsmusters auf die Temperatur am Ort der Abtastung ausgeglichen werden kann.
Dies macht das Verfahren auch geeignet für Aufzeichnungsvorgänge, bei denen mit Hilfe kurzer Strahlungsimpulse, die einander in kurzen Abständen folgen, zusammenhängende Gebiete mit den optisch detektierbaren Änderungen erhalten werden. Dies steht im Gegensatz zu dem aus der genannten US-Patentschrift bekannten Verfahren. Bei diesem bekannten Verfahren hängt der Anfangswert des Strahlungsimpulses nur von der Lange des direkt vorangehenden Intervalls ab. Mit anderen Worten, der Einfluß der früheren Strahlungsimpulse wird nicht ausgeglichen. Angesichts der kleinen Zeitdifferenzen zwischen den aufeinanderfolgenden Strahlungsimpulsen ist dies ein erheblicher Einfluß.
Eine Ausführungsform des Verfahrens, die in einfacher Weise realisiert werden kann, ist dadurch gekennzeichnet, daß das genannte Maß mittels einer Faltung eines mit dem rechteckförmigen Steuersignal zusammenhängenden Signals mit einer Funktion, deren Signalwert als Funktion der Zeit abnimmt, erhalten wird.
Ein optimaler Ausgleich wird bei einem Verfahren erhalten, das dadurch gekennzeichnet ist, daß die Zeitfunktion eine exponentiell abnehmende Funktion ist.
Es zeigt sich nämlich, daß der Einfluß eines Strahlungsimpulses auf die Temperatur am Ort der Abtastung nahezu exponentiell als Funktion der verstrichenen Zeit abnimmt.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt und werden im folgenden näher beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 und 3b einen Aufzeichnungsträger zur Verwendung mit dem erfindungsgemäßen Verfahren,
Fig. 2 den Temperaturverlauf in der Aufzeichnungsschicht infolge eines Strahlungsimpulses,
Fig. 3a die Temperatur am Ort der Abtastung infolge eines Strahlungsimpulses,
Fig. 4a den Verlauf der Strahlungsleistung des Strahlenbündels in einem bekannten Aufzeichnungsverfahren,
Fig. 4b den Temperaturverlauf am Ort der Abtastung, der zu dem bekannten Verfahren gehört,
Fig. 5a und 6 den Verlauf der Strahlungsleistung des Strahlenbündels in einer Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Aufzeichnungsverfahrens,
Fig. 5b den Temperaturverlauf am Ort der Abtastung, der zu dem in Fig. 5a gezeigten Strahlungsverlauf gehört,
Fig. 7 eine Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Einrichtung,
Fig. 8 und 9 Ausführungsformen von in der erfindungsgemaßen Einrichtung verwendeten Schaltungen und
Fig. 10 eine Anzahl Signale als Funktion der Zeit zur Veranschaulichung der Erfindung.
Fig. 1 zeigt einen Aufzeichnungsträger 1 mit einer Aufzeichnungsschicht 2, die auf einem Substrat 3 aus beispielsweise transparentem Material aufgebracht ist.
Die Aufzeichnungsschicht 2 ist von herkömmlicher Art, die bei Erwärmen über eine Schreibtemperatur hinaus eine optisch detektierbare Änderung erfährt. Die Aufzeichnungsschicht 2 kann ein "Phasenänderungs"-Material sein, in dem durch Zuführen von Wärme die Struktur in einem Gebiet von amorph in kristallin verändert werden kann oder umgekehrt. Die Aufzeichnungsschicht 2 kann auch ein magnetooptisches Material umfassen, in dem eine Domäne mit einer optisch detektierbaren Änderung der Magnetisierung angebracht werden kann, indem das Material allgemein dem Einfluß eines Magnetfeldes ausgesetzt und gleichzeitig das Material lokal erwärmt wird. Die Aufzeichnungsschicht kann mit Hilfe eines Strahlenbündels erwärmt werden, dessen Leistung hoch genug ist, um die Aufzeichnungsschicht 2 bis über die Schreibtemperatur zu erwärmen. Ein Muster aus Gebieten mit optisch detektierbaren Änderungen kann angebracht werden, indem die Aufzeichnungsschicht 2 mit dem Strahlenbündel 4 abgetastet wird und die Leistung in solcher Weise pulsförmig moduliert wird, daß Impulse mit einer Leistung, die hoch genug ist, um das abgetastete Gebiet bis über die Schreibtemperatur zu erwärmen, mit Intervallen abwechseln, bei denen die Leistung nicht ausreicht, um das abgetastete Gebiets bis über die Schreibtemperatur zu erwarmen. Auf diese Weise wird in der Aufzeichnungsschicht ein Informationsmuster angebracht, das aus Gebieten mit optisch detektierbaren Änderungen besteht, die mit unveränderten Gebieten abwechseln. Die Gebiete mit optisch detektierbaren Änderungen sollen im weiteren kurz als Effekte bezeichnet werden. Die Stärke der Effekte wird durch die Größe des Gebiets bestimmt, das bis über die Schreibtemperatur erwärmt wird. Die Größe dieses Gebiets ist wesenffich abhängig von der Temperatur am Ort der Abtastung, was anhand von Fig. 2 erläutert werden soll.
Fig. 2 zeigt den Temperaturverlauf in der Aufzeichnungsschicht 2 als Funktion des Abstandes r zur Mitte des Abtastpunkts für verschiedene Zeitpunkte, für den Fall, daß die Aufzeichnungsschicht mit einem kurzen Strahlungsimpuls erwärmt wird. Das Bezugszeichen 10 gibt den Temperaturverlauf zum Zeitpunkt t0 am Ende des Strahlungsimpulses an. Der Abschnitt der Aufzeichnungsschicht bei einer Temperatur über der Schreibtemperatur Ts erfährt die optisch detektierbare Änderung. Der so erhaltene Effekt wird mit dem Bezugszeichen 11 angegeben. Die der Aufzeichnungsschicht zugeführte Wärme verteilt sich über die Aufzeichnungsschicht, so daß die Temperatur am Ort des Abtastbereichs abnimmt und die Temperatur in der Nähe des Abtastbereichs zunimmt. Die Temperaturverteilung bei den äquidistanten Zeitpunkten t0 + dt, t0 + 2 dt und t0 + 3. dt wird mit den Bezugszeichen 12, 13 bzw. 14 angegeben.
Die Stärke des Effektes wird durch die Größe des über die Schreibtemperatur Ts hinaus erwärmten Gebiets bestimmt. Die Größe dieses Gebiets nimmt allgemein bei einem Anstieg der Temperatur Tp am Ort des Zentrums des abgetasteten Abschnitts der Aufzeichnungsschicht 2 zu. Dieses Zentrum soll im weiteren als Abtastzentrum bezeichnet werden. Die Temperatur Tp wird durch die Anfangstemperatur der Aufzeichnungsschicht bestimmt, die unmittelbar vor dem Strahlungsimpuls herrscht, erhöht um den Temperaturanstieg infolge des Strahlungsimpulses. Die Anfangstemperatur wird vom Verlauf der Straldungsleistung in dem direkt vorangehenden Zeitintervall beeinflußt.
Dieser Einfluß soll anhand der Fig. 3a und 3b veranschaulicht werden.
Fig. 3b zeigt das Abtaststrahlenbündel 4, das sich mit konstanter Geschwindigkeit v bezüglich der Aufzeichnungsschicht 2 in der durch einen Pfeil 30 angegebenen Richtung bewegt. Zum Zeitpunkt t0 befindet sich das Strahlenbündel 4 in der Position x. Zu diesem Zeitpunkt ist die Strahlungsleistung kurzzeitig angestiegen, so daß die Temperatur im Zentrum des abgetasteten Gebiets auf Tp ansteigt. In Fig. 2 wird diese Tempera tur durch einen Punkt 15 auf der Kurve 10 angedeutet. Die der Aufzeichnungsschicht zugeführte Wärme verteilt sich anschließend über den Aufzeichnungsträger. Zum Zeitpunkt t0 + dt, wenn das Strahlenbündel die Position x + dx abtastet, wird die Aufzeichnungsschicht dort auf einen Wert erwärmt, der durch einen Punkt 16 auf der Kurve 12 in Fig. 2 angegeben wird. Die Temperaturen zu den Zeitpunkten t0 + 2 e dt und t0 + 3 dt, wenn das Strahlenbündel 4 die Positionen x + 2 dx und x + 3 dx abtastet, werden in Fig. 2 durch Punkte 17 bzw. 18 angegeben. Fig. 3a zeigt den zugehörigen Verlauf der Temperatur T als Funktion der Zeit anhand einer Kurve 31. Die Punkte 32, 33, 34 und 35 auf der Kurve 31 entsprechen den Punkten 15, 16, 17 und 18 in Fig. 2. Die Kurve 31 in Fig. 3a kann durch eine exponentiell abfallende Funktion mit einer Zeitkonstante, die bei zunehmender Abtastrate näherungsweise als quadratische Funktion der Abtastrate v abnimmt, ausreichend angenähert werden.
Fig. 4a zeigt den pulsförmigen Verlauf der Strahlungsleistung sp bei dem Verfahren nach dem Stand der Technik, wie es in US-4.894.816 beschrieben wird. Die Bezugszeichen 40, 41 und 42 deuten die verschiedenen Strahlungsimpulse an. Während der Strahlungsimpulse nimmt die Leistung ab, um den Temperaturanstieg auszugleichen, der eine Folge des Transports von früher zugeführter Wärme zum Ort der Abtastung ist. Daher wird die Temperatur im Abtastzentrum konstant gehalten. In Fig. 4b wird die Temperatur T gezeigt, als Funktion der Zeit t am Ort des Abtastpunkts. In den mit den Bezugszeichen 43 und 44 angedeuteten Intervallen wird die Leistung des Strahlenbündels auf niedrigem Pegel konstant gehalten. Die Temperatur im Abtastzentrum nimmt als Funktion der Zeit ab. Die Temperatur direkt vor Beginn eines folgenden Impulses hängt von der Länge des Intervalls ab. Da es wünschenswert ist, daß die Temperatur beim Anbringen der Effekte für alle Effekte gleich ist, ist die zu Beginn des Strahlungsimpulses zu überbrückende Temperaturdifferenz von der unmittelbar vor dem Strahlungsimpuis herrschenden Temperatur abhängig und somit von der Unge des vorangehenden Intervalls. Bei dem Verfahren nach dem Stand der Technik wird daher die Leistung zu Beginn des Strahlungsimpulses in Abhängigkeit von der Unge des Intervalls eingestellt. Das bedeutet, daß die Leistung zu Beginn eines Strahlungsimpulses, der auf ein langes Intervall folgt, erheblich größer ist als die Leistung zu Beginn eines Strahlungsimpulses, der auf ein kurzes Intervall folgt.
Fig. 5a zeigt den pulsförmigen Verlauf der Leistung sp des Strahlenbündels in einer Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens. Die Strahlungsimpulse werden mit den Bezugszeichen 50, 51 und 52 angedeutet, während die Intervalle mit den Bezugszeichen 53 und 54 angegeben werden. Fig. Sb zeigt den zugehörigen Verlauf der Temperatur T im Abtastzentrum. Die Leistung sp in den Intervallen nimmt als Funktion der Zeit t zu. Die Leistungsveränderung in den Intervallen wird so gewählt, daß die Temperatur im Abtastzentrum nahezu konstant bleibt. Infolgedessen ist die Anfangstemperatur am Ende des Intervalls höher als bei dem Verfahren nach dem Stand der Technik, was bedeutet, daß die Leistung des Strahlungsimpulses einen niedrigeren Anfangswert hat. Bei der dargestellten Ausführungsform wird die Temperatur im Abtastzentrum konstant gehalten. Dem Fachkundigen wird deutlich sein, daß die Verringerung des Anfangswerts auch erhalten wird, wenn die Veränderung der Strahlungsleistung in den Intervallen zunimmt, was nicht zu einer konstanten Temperatur führt. Für die angestrebte positive Auswirkung auf den Anfangswert der Leistung in den Strahlungsimpulsen ist es wesenffich, daß die Abnahme der Temperatur zumindest teilweise verhindert wird. Im Prinzip ist es zulässig, daß die Temperatur am Ende des Intervalls höher ist als am Anfang, vorausgesetzt, daß sie am Ende dieses Intervalls genügend weit unterhalb der Schreibtemperatur Ts bleibt. Eine konstante Temperatur während des gesamten Intervalls ist optimal. Da die Temperatur nicht weiter abgefallen ist, genügt dann ein relativ niedriger Anfangswert, während am Ende des Intervalls die Temperatur garantiert unterhalb der Schreibtemperatur liegt. Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren kann der Anfangswert der Leistung in dem Strahlungsimpuls in Abhängigkeit von der Unge des vorhergehenden Intervalls in einer Weise eingestellt werden, die derjenigen ähnlich ist, die aus US-4.894.816 bekannt ist und bei der die Leistung in den Intervallen entsprechend einer Exponentialfunktion zunimmt. Weiterhin hat sich gezeigt, daß mit dieser Art des Aufzeichnens die Zeitkonstante der Leistungsabnahme in dem Impuls und die Zeitkonstante der Leistungszunahme in dem Intervall für die Aufzeichnung genau gleich gewählt werden können, während die Länge der Effekte sowie die Intervalle genau die richtigen Abmessungen erreichen.
Beim Aufzeichnen ist es üblich, ein rechteckförmiges zweiwertiges Steuersignal zu generieren, bei dem ein Signalwert die Zeitintervalle angibt, in denen die Temperatur in dem abgetasteten Abschnitt bis über die Schreibtemperatur erwärmt werden muß, und bei dem der andere Signalpegel die Zeitintervalle angibt, in denen die Temperatur in dem abgetasteten Abschnitt unterhalb der Schreibtemperatur bleiben sollte. In diesem Fall wird vorzugsweise auf Basis dieses rechteckförmigen zweiwertigen Steuersignals ein Maß für den Einfluß der Veränderung der Strahlungsleistung auf die Temperatur in dem Abtastzentrum bestimmt. Der Signalwert dieses Steuersignals wird dann mit Hilfe eines von dem bestimmten Maß festgelegten Anpassungswertes angepaßt Der Momentanwert der Leistung des Strahlenbündels wird auf einen Wert eingestellt, der dem Signalwert des angepaßten Steuersignals entspricht. Auf diese Weise kann ein nahezu vollständiger Ausgleich der Auswirkung der früheren Veränderung der Leistung des Abtaststrahlenbündels auf die Temperatur in dem Abtastzentrum erhalten werden.
Der Anpassungswert kann durch Ausführen einer Faltung des angepaßten Steuersignals mit der in Fig. 3a gezeigten Funktion erhalten werden. Eine solche Faltung kann mit den folgenden Gleichungen dargestellt werden:
mit: i(t) das rechteckförmige zweiwertige Steuersignal
h(t) die in Fig. 3a gezeigte Funktion
g(t) das angepaßte Steuersignal
a(t) der Anpassungswert.
Zur Veranschaulichung zeigt Fig. 10 die Signale i(t), a(t) und g(t) als Funktion der
Es ist auch möglich, den Anpassungswert mittels einer Faltung des zweiwertigen Signals i(t) und einer Funktion h'(t) zu bestimmen, die aus h(t) abgeleitet werden kann und die für kleine Anpassungswerte angenähert gleich der Funktion h(t) ist.
Die Ausführungsformen des erfindungsgemäßen Aufzeichnungsverfahrens, bei denen die Anfangsleistung auf Basis von Faltungen angepaßt wird, ist auch für Aufzeichnungsvorgänge geeignet, bei denen zum Anbringen eines einzelnen Effektes nicht ein einziger ununterbrochener Strahlungsimpuls generiert wird, sondern bei denen ein einzelner Effekt mittels einer Folge kurzer Strahlungsimpulse angebracht wird, die einander in kurzen Abständen folgen. Zur Veranschaulichung wird ein solches Strahlungsmuster in Fig. 6 gezeigt.
Fig. 7 zeigt eine Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Einrichtung. Die Einrichtung umfaßt eine Strahlungsquelle in Form beispielsweise eines Halbleiterlasers 70. Der Halbleiterlaser 70 erzeugt ein Strahlenbündel 71, das über ein Objektiv 72 auf die Aufzeichnungsschicht 2 des Aufzeichnungsträgers 1 gerichtet wird. Das Strahlenbündel 71 wird zu einem kleinen Abtastfleck 73 auf der Aufzeichnungsschicht 2 fokussiert. Um Abtasten der Aufzeichnungsschicht 2 zu verwirklichen, wird der Aufzeichnungsträger 1 mittels eines Motors 75 um eine Welle 74 gedreht.
Die Einrichtung umfaßt weiterhin eine Schreibsignalgenerierschaltung 78 herkömmlicher Art, mit der ein angebotenes Informationssignal in das Schreibsignal g(t) umgesetzt wird. Die Schaltung 78 umfaßt einen Signalumsetzer 76 zum Umsetzen des Informationssignals v(t) in das Steuersignal i(t). Die Schaltung 76 kann beispielsweise einen 2/7-Modulator umfassen, der das Informationssignal in ein 217-moduliertes Signal umsetzt. Eine solche Schaltung kann jedoch auch einen EFM-Modulator umfassen, wie er zum Aufzeichnen von CD-Signalen verwendet wird. Eine Anpassungsschaltung 77 setzt das Steuersignal i(t) in das Schreibsignal g(t) um. Eine Steuerschaltung 78 herkömmlicher Art stellt den Momentanwert der Leistung des Strahlenbündeis auf einen Wert ein, der vom momentanen Signalpegel des Schreibsignals festgelegt wird. Die Anpassungsschaltung 77 leitet das Schreibsignal g(t) durch Anpassen des Steuersignals ab. Es wird eine Abnahme des Signalwerts des Schreibsignals g(t) innerhalb der Strahlungsimpulse und eine Zunahme des Signalwerts des Schreibsignals g(t) in den Intervallen realisiert.
Fig. 8 zeigt eine Ausführungsform der Schaltung 77. Diese Ausführungsform umfaßt eine Schaltung 80 zum Bestimmen des Anpassungswerts a(t), vorzugsweise durch Ausführen einer Faltung zwischen dem Schreibsignal g(t) und der Funktion h(t). Es sind jedoch auch andere Methoden zur Bestimmung der Anpassungswerte möglich. Es ist beispielsweise möglich, die Anpassung des Schreibsignals innerhalb der Strahlungsimpulse und der Intervalle in einer Weise auszuführen, die deijenigen entspricht, mit der das Schreibsignal innerhalb der Strahlungsimpulse bestimmt wird, wie in US- 4.894.816 beschrieben. Die Schaltung 80 kann aus einer Analogschaltung mit einer Impulsantwort k h(t) bestehen. Die Funktion k h(t) kann durch einen Tiefpaß erster Ordnung ausreichend angenähert werden. Statt für die Faltung eine Analogschaltung zu verwenden, kann diese Faltung auch mit Digitalschaltungen ausgeführt werden, die als festverdrahtete Schaltungen oder programmgesteuerte Schaltungen implementiert werden können. Der Ausgang der Schaltung 80 liefert den Anpassungswert a(t). Das Schreibsignal g(t) wird aus dem Steuersignal i(t) und den Anpassungswerten a(t) mit Hilfe einer Kombinationsschaltung 81 herkömmlicher Art, beispielsweise einem Differenzverstärker, abgeleitet.
Fig. 9 zeigt eine weitere Ausführungsform der Schaltung 77, bei der die Anpassungswerte a(t) durch Ausführen einer Faltung zwischen dem Steuersignal i(t) und einer Funktion k h'(t) bestimmt werden. Die Faltung wird mit Hilfe einer Schaltung 90 ausgeführt. Die Anpassungswerte a(t) werden mit Hilfe eines Differenzverstärkers 91 vom Steuersignal i(t) subtrahiert. Das Schreibsignal g(t) kann wieder am Ausgang des Differenzverstarkers abgenommen werden.
Die vorstehend beschriebenen Ausführungsformen der erfindungsgemäßen Einrichtung sind für Aufzeichnungsvorgänge geeignet, bei denen die Abtastgeschwindigkeit konstant ist. Häufig ist jedoch die Abtastgeschwindigkeit nicht konstant, wie beispielsweise bei Aufzeichnungsvorgängen, bei denen die Aufzeichnungsschicht eines rotierenden scheibenförmigen Aufzeichnungsträgers mit einer konstanten Winkelgeschwindigkeit abgetastet wird. Es sei bemerkt, daß die Zeitkonstanten der Funktionen h(t) und h'(t) entsprechend einer näherungsweise quadratischen Funktion von der Abtastgeschwindigkeit abhängig sind.
Die Aufzeichnungsvorgänge, bei denen die Abtastgeschwindigkeit nicht konstant ist, können in einfacher Weise an die sich ändernde Abtastgeschwindigkeit angepaßt werden, indem die für die Faltung des Signals i(t) verwendete Funktion h(t) in Abhängigkeit von einem Geschwindigkeitssignal, das eine Anzeige für die Abtastgeschwindigkeit ist, angepaßt wird. Eine solche Anpassung kann durch Verwendung eines Tiefpasses mit einstellbaren Zeitkonstanten leicht realisiert werden. Das Geschwindig keitsanzeigesignal kann in einfacher Weise aus der Umdrehungsfrequenz des Aufzeichnungsträgers und der radialen Abtastposition abgeleitet werden, wobei die letztgenannte Größe beispielsweise durch die Adresse des abgetasteten Abschnitts festgelegt wird. Es ist auch möglich, diese radiale Position mit einem Positionsdetektor aus der radialen Position des Abtastkopfes abzuleiten.
Die Erfindung ist vorstehend für ein Aufzeichnungsverfahren erläutert worden, in dem die Effekte ausschließlich von den Strahlungsimpulsen erzeugt werden. Wahrend der Intervalle sinkt die Temperatur unter die Schreibtemperatur, so daß in den Intervallen keine Änderungen in der Aufzeichnungsschicht auftreten.
Die Erfindung ist jedoch ebenso gut zum Aufzeichnen in Aufzeichnungsschichten vom "direkt überschreibbaren" Typ geeignet, in denen ein Effekt einer ersten Art durch Erwärmen der Schicht bis auf einen ersten hohen Temperaturpegel angebracht wird und in denen Effekte einer zweiten Art, die von den Effekten der ersten Art unterscheidbar sein müssen, durch Erwärmen der Schicht auf einen zweiten, niedrigen Temperaturpegel angebracht werden können. Solche Aufzeichnungsschichten sind unter anderem aus "Japanese Journal of Applied Physics" Bd. 28, Nachtrag 28-3, S.367-370 und S.371-374 bekannt. Die in dieser Zeitschrift beschriebenen Aufzeichnungsschichten beziehen sich auf Aufzeichnungsträger mit einem austauschgekoppelten, magnetooptischen Mehrlagenfilm. In einer solchen direkt überschreibbaren Aufzeichnungsschicht kann ein Informationsmuster aus Effekten der ersten und der zweiten Art durch abwechselndes Erwärmen der Aufzeichnungsschicht am Ort der Abtastung auf den hohen Temperaturpegel und den niedrigen Temperaturpegel mit Hilfe eines Strahlenbündels mit einem wie in Fig. 5a oder 6 gezeigten Intensitätsverlauf erhalten werden.

Claims

1. Verfahren zum Aufzeichnen von Information auf einem Aufzeichnungsträger mit einer Aufzeichnungsschicht, in der durch Erwärmen der genannten Schicht eine optisch detektierbare Änderung realisiert werden kann, in welchem Verfahren die Aufzeichnungsschicht mit Hilfe eines Stralilenbündels abgetastet wird, dessen Leistung gemäß einem mit der aufzuzeichnenden Information zusammenhängenden Impulsmuster moduliert wird, wobei das genannte Impulsmuster Impulse umfaßt, die einen hohen Leistungspegel haben und mit Intervallen abwechseln, die einen niedrigen Leistungspegel haben, und in welchem Verfahren der Wert der Leistung innerhalb jedes Strahlungsimpulses abnimmt, um den Temperaturanstieg auszugleichen, der von der der Aufzeichnungsschicht während des vorhergehenden Teils des betreffenden Strahlungsimpulses zugeführten Leistung bewirkt worden ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Leistung innerhalb eines Intervalls ansteigt, um die Temperatur am Ort der Abtastung am Ende des Intervalls zu erhöhen.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein rechteckförmiges zweiwertiges Steuersignal zum Einstellen der Strahlungsleistung generiert wird, wobei auf Basis des genannten Steuersignals ein Maß für den Einfluß der Veränderung der Strahlungsleistung auf die Temperatur am Ort der Abtastung bestimmt wird, und daß der Signalwert des rechteckförmigen Steuersignals in Abhängigkeit von dem bestimmten Maß angepaßt wird, wobei die Leistung des Strahlenbündeis auf einen Wert eingestellt wird, der dem Signalwert des angepaßten Steuersignals entspricht.

3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das genannte Maß mittels einer Faltung eines mit dem rechteckförmigen Steuersignal zusammenhängenden Signals mit einer Zeitfunktion mit abnehmender Amplitude erhalten wird.

4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Zeitfunktion eine exponentiell abnehmende Funktion ist.

5. Einrichtung zum Aufzeichnen von Information auf einem Aufzeichnungsträger mit einer Aufzeichnungsschicht, in der durch Erwärmen der genannten Schicht eine optisch detektierbare Änderung realisiert werden kann, welche Einrichtung eine Strahlungsquelle zum Erzeugen eines Strahlenbündeis umfaßt, Abtastmittel zum Abtasten der Aufzeichnungsschicht mit Hilfe des Strahlenbündels, eine Schreibsignalgenerierschaltung zum Umsetzen eines Informationssignals in ein Schreibsignal mit einem Impulsmuster, wobei das genannte Impulsmuster Impulse umfaßt, die einen hohen Leistungspegel haben und mit Intervallen abwechseln, die einen niedrigen Leistungspegel haben, wobei der Signalpegel innerhalb der Impulse abnimmt, sowie eine Steuerschaltung zum Einstellen des Momentanwertes der Leistung des Strahlenbündels auf einen Wert, der vom momentanen Signalpegel des Schreibsignals festgelegt wird, dadurchgedaß die Schreibsignalgenerierschaltung eingerichtet ist zum Generieren des Schreibsignals mit einem Signalwert, der innerhalb des betreffenden Intervalls niedrigen Pegeis ansteigt.

6. Einrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Schreibsignalgenerierschaltung Signalumsetzungsmittel zum Umsetzen des Informationssignals in ein rechteckförmiges zweiwertiges Steuersignal umfaßt und Schätzmittel zum Bestimmen eines Maßes für den Einfluß der Veränderung der Strahlungsleistung auf die Temperatur am Ort der Abtastung auf Basis des genannten Steuersignals sowie Signalanpassungsmittel zum Anpassen des Signalwertes des rechteckförmigen Steuersignals mit dem bestimmten Maß, wobei das angepaßte Steuersignal das Schreibsignal zum Einstellen des Momentanwertes der Leistung des Strahlenbündels ist.

7. Einrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Schätzmittel Faltungsmittel umfassen zum Ausführen einer Faltung eines mit dem zweiwertigen Rechtecksignal zusammenhängenden Signals mit einer Zeitfunktion mit abnehmendem Amplitudenverlauf.

8. Einrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Zeitfunktion eine exponentiell abnehmende Funktion ist.

9. Einrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Faltungsmittel einen Tiefpaß mit einer der Zeitfunktion entsprechenden Impulsantwort umfassen.