DE69115176T2 - Verfahren und Vorrichtung zur Messung und zur Anzeige von magnetischen Feldern. - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur Messung und zur Anzeige von magnetischen Feldern.

Info

Publication number
DE69115176T2
DE69115176T2 DE69115176T DE69115176T DE69115176T2 DE 69115176 T2 DE69115176 T2 DE 69115176T2 DE 69115176 T DE69115176 T DE 69115176T DE 69115176 T DE69115176 T DE 69115176T DE 69115176 T2 DE69115176 T2 DE 69115176T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
measuring
magnetic fields
displaying magnetic
displaying
fields
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69115176T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69115176D1 (de
Inventor
Tomoaki Ueda
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Daikin Industries Ltd
Original Assignee
Daikin Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Daikin Industries Ltd filed Critical Daikin Industries Ltd
Publication of DE69115176D1 publication Critical patent/DE69115176D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE69115176T2 publication Critical patent/DE69115176T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/10—Plotting field distribution ; Measuring field distribution
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/035—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using superconductive devices
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S505/00—Superconductor technology: apparatus, material, process
    • Y10S505/825—Apparatus per se, device per se, or process of making or operating same
    • Y10S505/842—Measuring and testing
    • Y10S505/843—Electrical
    • Y10S505/845—Magnetometer
    • Y10S505/846—Magnetometer using superconductive quantum interference device, i.e. squid
DE69115176T 1990-09-07 1991-09-05 Verfahren und Vorrichtung zur Messung und zur Anzeige von magnetischen Feldern. Expired - Lifetime DE69115176T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2237962A JPH07104403B2 (ja) 1990-09-07 1990-09-07 磁場測定方法、およびその装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69115176D1 DE69115176D1 (de) 1996-01-18
DE69115176T2 true DE69115176T2 (de) 1996-05-15

Family

ID=17023047

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69115176T Expired - Lifetime DE69115176T2 (de) 1990-09-07 1991-09-05 Verfahren und Vorrichtung zur Messung und zur Anzeige von magnetischen Feldern.

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5204624A (de)
EP (1) EP0474229B1 (de)
JP (1) JPH07104403B2 (de)
DE (1) DE69115176T2 (de)
FI (1) FI914182A (de)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3204542B2 (ja) * 1992-07-24 2001-09-04 株式会社東芝 磁場源測定装置
FR2699287B1 (fr) * 1992-12-14 1995-01-06 Commissariat Energie Atomique Procédé et dispositif de cartographie magnétique.
JPH0824234A (ja) * 1994-07-14 1996-01-30 Nec Corp 脳内活動源推定装置
DE19808985B4 (de) * 1997-03-07 2012-06-14 Hitachi, Ltd. Verfahren und Vorrichtung zur Biomagnetfeld-Messung
US6798458B1 (en) 1998-10-01 2004-09-28 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Image signal conversion equipment
JP3518502B2 (ja) * 2000-10-19 2004-04-12 株式会社日立製作所 生体磁場計測装置
JP2002355229A (ja) * 2001-05-31 2002-12-10 Japan Science & Technology Corp 磁界解析方法および電流分布可視化装置
FR2902197B1 (fr) * 2006-06-07 2008-07-25 Univ Bretagne Occidentale Etab Procede de localisation d'un objet magnetique, produit programme d'ordinateur, moyen de stockage et dispositif de localisation correspondants
JP5461224B2 (ja) * 2010-02-23 2014-04-02 日本電信電話株式会社 補間装置、補間方法およびプログラム
US10677612B2 (en) * 2017-08-07 2020-06-09 The Boeing Company Large surface magnetic field sensor array
JP6687228B1 (ja) * 2019-03-29 2020-04-22 三菱電機株式会社 交流回転電機の制御装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5324242A (en) * 1976-08-18 1978-03-06 Armco Steel Corp Method and device for interpolating discontinuous data value
US4263593A (en) * 1979-08-20 1981-04-21 Tektronix, Inc. Display interpolator employing a transversal filter for a digital oscilloscope
US4417591A (en) * 1980-12-31 1983-11-29 Braintech, Inc. Apparatus and method for topographic display of multichannel EEG data
JPS59105573A (ja) * 1982-12-10 1984-06-18 Fujitsu Ltd 磁束計
US4611348A (en) * 1984-11-26 1986-09-09 General Electric Company Apparatus for altering the spatial characteristics of a digital image by polynomial interpretation using sets of arithmetic processors
DE3515199A1 (de) * 1985-04-26 1986-11-06 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Vorrichtung zur messung schwacher magnetfelder mit mehreren gradiometern
JP2647401B2 (ja) * 1987-12-26 1997-08-27 キヤノン株式会社 画像データの補間方法
FR2626092B1 (fr) * 1988-01-19 1990-06-29 Inst Nat Sante Rech Med Procede et dispositif de cartographie cerebrale par methode d'interpolation
EP0359864B1 (de) * 1988-09-23 1993-12-01 Siemens Aktiengesellschaft Einrichtung und Verfahren zur Messung von schwachen, orts- und zeitabhängigen Magnetfeldern
JPH02180243A (ja) * 1988-12-29 1990-07-13 Shimadzu Corp 医用計測装置
US4977896A (en) * 1989-05-26 1990-12-18 Biomagnetic Technologies, Inc. Analysis of biological signals using data from arrays of sensors

Also Published As

Publication number Publication date
FI914182A (fi) 1992-03-08
US5204624A (en) 1993-04-20
EP0474229B1 (de) 1995-12-06
EP0474229A3 (en) 1992-12-23
JPH04116481A (ja) 1992-04-16
DE69115176D1 (de) 1996-01-18
EP0474229A2 (de) 1992-03-11
JPH07104403B2 (ja) 1995-11-13
FI914182A0 (fi) 1991-09-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3886044D1 (de) Einrichtung und Verfahren zur Messung von schwachen, orts- und zeitabhängigen Magnetfeldern.
DE69021527D1 (de) Verfahren und Gerät zur Induktionsmessung durch eine Bekleidung hindurch.
DE3883592D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Induktionsmessung.
DE69230022D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Gewinnung von Objekttypen
DE69511276T2 (de) Vorrichtung zur messung von schwerefeldern
DE59102307D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Vermessung von Objektoberflächen.
DE59007526D1 (de) Verfahren und system zur messdatenerfassung und -auswertung.
DE59104107D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Vermessung von Objektoberflächen.
DE68916132T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur automatisierten Messung der Fluoreszenz.
DE69013790T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Positionsbestimmung.
DE69124843T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Radwinkeln
DE69420615D1 (de) Verfahren und Gerät zur Messung von bioelektrischen Quellen
DE69426761D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Ionenkonzentration
DE59302962D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Abstandsmessung
DE69112090D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Musterdimensionen.
DE69009109T2 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Lichtmessung.
DE69222382D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Lageabweichungen
DE69010627D1 (de) Verfahren und Gerät zur Messung von Bodenschwankungen.
DE69115176T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung und zur Anzeige von magnetischen Feldern.
DE69133005T2 (de) Verfahren und Gerät zur Messung des magnetischen Flussvektors
DE69422518D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Gestaltparameter von Gegenständen
DE69204301D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung von rückflussstrom.
DE59209430D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur optischen Messung von Distanzen
DE3872208D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung der radioaktivitaet.
DE69017228D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur entfernungsmessung.

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition