DE69020443D1 - Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung von Lötstellen mittels eines röntgenfluoroskopischen Bildes. - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung von Lötstellen mittels eines röntgenfluoroskopischen Bildes.

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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5836504A (en) * 1994-08-08 1998-11-17 Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho Method and apparatus for soldering inspection of a surface mounted circuit board
US6895073B2 (en) * 2002-11-22 2005-05-17 Agilent Technologies, Inc. High-speed x-ray inspection apparatus and method
CN112881407A (zh) * 2021-01-14 2021-06-01 广州大学 一种led芯片的焊接质量检测方法、系统、装置及介质

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6075033A (ja) * 1983-09-30 1985-04-27 株式会社東芝 Ｘ線診断装置
CA1219082A (en) * 1985-06-17 1987-03-10 Jacques Van Den Brekel Surface mounting of devices on both sides of a circuit board
JPS61290311A (ja) * 1985-06-19 1986-12-20 Hitachi Ltd はんだ付部の検査装置及びその方法
US4837686A (en) * 1985-11-15 1989-06-06 Picker International Substance quantification in animal bodies
US4809308A (en) * 1986-02-20 1989-02-28 Irt Corporation Method and apparatus for performing automated circuit board solder quality inspections
US4761881A (en) * 1986-09-15 1988-08-09 International Business Machines Corporation Single step solder process
US4926452A (en) * 1987-10-30 1990-05-15 Four Pi Systems Corporation Automated laminography system for inspection of electronics

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