DE69015382D1 - Verfahren zur Bestimmung der Monitorempfindlichkeit einer Strahlung emittierenden Anordnung sowie Verfahren und System zur Kontrolle derselben und optische Aufzeichnungs- und/oder Wiedergabevorrichtung mit einem derartigen System. - Google Patents

Verfahren zur Bestimmung der Monitorempfindlichkeit einer Strahlung emittierenden Anordnung sowie Verfahren und System zur Kontrolle derselben und optische Aufzeichnungs- und/oder Wiedergabevorrichtung mit einem derartigen System.

Info

Publication number
DE69015382D1
DE69015382D1 DE69015382T DE69015382T DE69015382D1 DE 69015382 D1 DE69015382 D1 DE 69015382D1 DE 69015382 T DE69015382 T DE 69015382T DE 69015382 T DE69015382 T DE 69015382T DE 69015382 D1 DE69015382 D1 DE 69015382D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
radiation
determining
controlling
optical recording
same
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE69015382T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69015382T2 (de
Inventor
Philip Joseph L Mcgee
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Electronics NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Electronics NV filed Critical Philips Electronics NV
Publication of DE69015382D1 publication Critical patent/DE69015382D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE69015382T2 publication Critical patent/DE69015382T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
    • G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/0683—Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/0683—Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
    • H01S5/06832—Stabilising during amplitude modulation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optical Head (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
DE69015382T 1989-02-27 1990-02-21 Verfahren zur Bestimmung der Monitorempfindlichkeit einer Strahlung emittierenden Anordnung sowie Verfahren und System zur Kontrolle derselben und optische Aufzeichnungs- und/oder Wiedergabevorrichtung mit einem derartigen System. Expired - Fee Related DE69015382T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB8904406A GB2229268A (en) 1989-02-27 1989-02-27 Radiation emitting arrangement monitoring and controlling system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69015382D1 true DE69015382D1 (de) 1995-02-09
DE69015382T2 DE69015382T2 (de) 1995-07-13

Family

ID=10652367

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69015382T Expired - Fee Related DE69015382T2 (de) 1989-02-27 1990-02-21 Verfahren zur Bestimmung der Monitorempfindlichkeit einer Strahlung emittierenden Anordnung sowie Verfahren und System zur Kontrolle derselben und optische Aufzeichnungs- und/oder Wiedergabevorrichtung mit einem derartigen System.

Country Status (7)

Country Link
US (1) US5067122A (de)
EP (1) EP0385537B1 (de)
JP (1) JPH02265033A (de)
KR (1) KR900013476A (de)
CA (1) CA2010788A1 (de)
DE (1) DE69015382T2 (de)
GB (1) GB2229268A (de)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2934264B2 (ja) * 1989-11-02 1999-08-16 シャープ株式会社 光ピックアップ
DE4026087C2 (de) * 1990-08-17 1996-12-12 Hell Ag Linotype Verfahren und Schaltungsanordnung zur Ansteuerung einer Laserdiode
JPH04134737A (ja) * 1990-09-27 1992-05-08 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 光ディスク駆動装置及び光量調整装置
JPH0520725A (ja) * 1991-07-11 1993-01-29 Sony Corp 光ピツクアツプ装置
JP2846175B2 (ja) * 1992-03-17 1999-01-13 三菱電機株式会社 情報記憶装置
US5363363A (en) * 1992-10-16 1994-11-08 Eastman Kodak Company Apparatus and method for laser noise cancellation in an optical storage system using a front facet monitor signal
US5450383A (en) * 1994-05-26 1995-09-12 International Business Machines Corporation Monitoring and adjusting laser write power in an optical disk recorder using pulse-width modulated power level checking signals
DE19711634A1 (de) * 1997-03-20 1998-09-24 Thomson Brandt Gmbh Abspiel- und/oder Aufzeichnungsgerät für optische Aufzeichnungsträger
DE10064775A1 (de) * 2000-12-22 2002-06-27 Thomson Brandt Gmbh Verfahren und Anordnung zum Regeln der Lichtleistung eines Abtaststrahls in einem Gerät zum Lesen oder zum Beschreiben optischer Aufzeichnungsträger
US7177253B2 (en) * 2002-10-17 2007-02-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical disc drive for controlling laser emission
US20070030789A1 (en) * 2003-05-20 2007-02-08 Mccormack James Joseph A Method and radiation source driving device for controlling radiation power
KR100594239B1 (ko) 2004-01-28 2006-06-30 삼성전자주식회사 디지털 전위차계를 이용한 포토 다이오드의 감도 조정장치 및 방법
JP2007035222A (ja) * 2005-07-29 2007-02-08 Toshiba Corp 情報記録媒体、再生方法及び記録方法
EP1983154B1 (de) 2007-04-17 2013-12-25 Services Pétroliers Schlumberger In-situ-Korrektur von in einem Bohrloch durchgeführten Messungen eines Dreiachsen-Beschleunigungsaufnehmers und eines Dreiachsen-Magnetometers
TW201027522A (en) * 2009-01-09 2010-07-16 Sunplus Technology Co Ltd Methods for on-line calibrating output power of optical pick-up
JP2012018731A (ja) * 2010-07-08 2012-01-26 Hitachi-Lg Data Storage Inc 光ディスク装置及び光ディスク装置におけるレーザ光パワーの制御方法
KR101221809B1 (ko) * 2010-11-04 2013-01-14 도시바삼성스토리지테크놀러지코리아 주식회사 광정보저장매체 시스템 및 광파워 제어를 위한 신호 생성 방법

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4584687A (en) * 1983-12-12 1986-04-22 Optical Storage International-U.S. Calibrated feedback for laser diodes
FR2584223B1 (fr) * 1985-06-28 1994-06-17 Thomson Alcatel Gigadisc Memoire optique a suivi de piste echantillonne pour support d'information pregrave.
JP2615553B2 (ja) * 1985-11-14 1997-05-28 富士通株式会社 レーザ制御装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH02265033A (ja) 1990-10-29
US5067122A (en) 1991-11-19
GB2229268A (en) 1990-09-19
GB8904406D0 (en) 1989-04-12
DE69015382T2 (de) 1995-07-13
EP0385537A3 (de) 1991-07-17
EP0385537A2 (de) 1990-09-05
EP0385537B1 (de) 1994-12-28
CA2010788A1 (en) 1990-08-27
KR900013476A (ko) 1990-09-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69015382D1 (de) Verfahren zur Bestimmung der Monitorempfindlichkeit einer Strahlung emittierenden Anordnung sowie Verfahren und System zur Kontrolle derselben und optische Aufzeichnungs- und/oder Wiedergabevorrichtung mit einem derartigen System.
DE69222742D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Dicke dünner Schichten
DE69215925D1 (de) Verfahren zur Messung von immunoreaktiven Substanzen mit Elektro-Chemilumineszenz
DE59609283D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Lichtlaufzeit über eine zwischen einer Messvorrichtung und einem reflektierenden Objekt angeordnete Messstrecke
DE69031094D1 (de) Verfahren und Gerät zur Überwachung und Zielverfolgung
DE59206208D1 (de) Verfahren und Einrichtung zur Detektion von Kanten und Bohrungen mit einem optischen Tastkopf
DE3871134D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der spurexzentrizitaet einer scheibe.
DE68915627D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Filmdicke.
DE68928612D1 (de) Verfahren zur bestimmung der inferenzregel sowie inferenzmotor
DE68908879D1 (de) Verfahren und vorrichtung für optische messungen.
DE68908583D1 (de) Gerät mit einem von einem Substrat getragenen optischen Wellenleiter und Verfahren zur Herstellung.
DE69020624D1 (de) Signalwiedergabegerät für optische Aufzeichnungs- und Wiedergabeapparatur und Methode für dasselbe.
DE69332235T2 (de) Verfahren zur Aufzeichnung einer Platte und Vorrichtung zur Einstellung der Unterbrechungsstelle bei Audiodaten
DE68914828T3 (de) Vorrichtung und verfahren zur bestimmung der ortung einer schiene.
ATE115288T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der optischen qualität einer transparenten platte.
ATA177380A (de) Vorrichtung zur optischen aufzeichnung von information mit mehreren abtragbaren aufzeichnungsschichten
DE58901197D1 (de) Verfahren zur weg- und winkelmessung.
DE69418507D1 (de) Gerät und Verfahren zur automatischen Bestimmung der Dichte eines Gegenstandes
DE3888161D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung einer falschen Spuraufzeichnung.
DE59107923D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Harmonisierung für Offset und Responsivität bei einem elektrooptischen Zeilen- oder Mosaikdetektor
DE69416611T2 (de) Optische Platte, Vorrichtung zur Wiedergabe sowie Verfahren zur Aufzeichnung und Wiedergabe
ID914B (id) Metode dan peralatan pencatatan untuk keperluan pengukuran ketahanan tanah
DE3887880D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur gleichzeitigen Messung der Dicke und Zusammensetzung einer dünnen Schicht.
DE3880891D1 (de) Vorrichtung und verfahren mit servosteuerung zur aufhebung des ausgangssignals eines faserkreisels.
DE69122452D1 (de) Verfahren zur Wiedergabe für optische Platten und Wiedergabegerät für optische Platten

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee