DE68910461T2 - GERäT ZUR RECHNERGESTÜTZEN ERZEUGUNG VON PRÜFPROGRAMMEN FÜR DIGITALE SCHALTUNGEN. - Google Patents

GERäT ZUR RECHNERGESTÜTZEN ERZEUGUNG VON PRÜFPROGRAMMEN FÜR DIGITALE SCHALTUNGEN.

Info

Publication number
DE68910461T2
DE68910461T2 DE89904134T DE68910461T DE68910461T2 DE 68910461 T2 DE68910461 T2 DE 68910461T2 DE 89904134 T DE89904134 T DE 89904134T DE 68910461 T DE68910461 T DE 68910461T DE 68910461 T2 DE68910461 T2 DE 68910461T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
computer
digital circuits
test programs
based generation
generation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE89904134T
Other languages
English (en)
Other versions
DE68910461D1 (de
Inventor
Robert Welham
Ajay Gupta
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Agilent Technologies Inc
Original Assignee
Hewlett Packard Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hewlett Packard Co filed Critical Hewlett Packard Co
Publication of DE68910461D1 publication Critical patent/DE68910461D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE68910461T2 publication Critical patent/DE68910461T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318307Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences computer-aided, e.g. automatic test program generator [ATPG], program translations, test program debugging

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
DE89904134T 1988-03-03 1989-03-03 GERäT ZUR RECHNERGESTÜTZEN ERZEUGUNG VON PRÜFPROGRAMMEN FÜR DIGITALE SCHALTUNGEN. Expired - Fee Related DE68910461T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB888805120A GB8805120D0 (en) 1988-03-03 1988-03-03 Testing digital circuits

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE68910461D1 DE68910461D1 (de) 1993-12-09
DE68910461T2 true DE68910461T2 (de) 1994-03-03

Family

ID=10632809

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE89904134T Expired - Fee Related DE68910461T2 (de) 1988-03-03 1989-03-03 GERäT ZUR RECHNERGESTÜTZEN ERZEUGUNG VON PRÜFPROGRAMMEN FÜR DIGITALE SCHALTUNGEN.

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5084876A (de)
EP (1) EP0363465B1 (de)
JP (1) JP2960740B2 (de)
DE (1) DE68910461T2 (de)
GB (1) GB8805120D0 (de)
WO (1) WO1989008297A1 (de)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03158779A (ja) * 1989-11-15 1991-07-08 Nec Corp Lsiのテストパタン作成方式
US5321701A (en) * 1990-12-06 1994-06-14 Teradyne, Inc. Method and apparatus for a minimal memory in-circuit digital tester
US5323108A (en) * 1992-01-23 1994-06-21 Hewlett-Packard Company Method for generating functional tests for printed circuit boards based on pattern matching of models
US20020091850A1 (en) * 1992-10-23 2002-07-11 Cybex Corporation System and method for remote monitoring and operation of personal computers
US5450349A (en) * 1992-10-27 1995-09-12 Digital Equipment Corporation Computer system performance evaluation system and method
US5410548A (en) * 1992-10-28 1995-04-25 Motorola, Inc. Test pattern fault equivalence
US5475695A (en) * 1993-03-19 1995-12-12 Semiconductor Diagnosis & Test Corporation Automatic failure analysis system
US5513118A (en) * 1993-08-25 1996-04-30 Nec Usa, Inc. High level synthesis for partial scan testing
US5815713A (en) * 1995-04-13 1998-09-29 Sterling Software, Inc. Method and system for automated transformation of declarative language process specifications

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4228537A (en) * 1978-08-29 1980-10-14 Genrad, Inc. Method of and apparatus for automatic fault diagnosis of electrical circuits employing on-line simulation of faults in such circuits during diagnosis
EP0248269B1 (de) * 1986-06-06 1993-03-31 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur Simulation eines Unterbrechungsfehlers in einer Logikschaltung mit Feldeffekttransistoren und Anordnungen zur Durchführung des Verfahrens
US4961156A (en) * 1987-10-27 1990-10-02 Nec Corporation Simulation capable of simultaneously simulating a logic circuit model in response to a plurality of input logic signals

Also Published As

Publication number Publication date
WO1989008297A1 (en) 1989-09-08
US5084876A (en) 1992-01-28
DE68910461D1 (de) 1993-12-09
EP0363465A1 (de) 1990-04-18
GB8805120D0 (en) 1988-03-30
JP2960740B2 (ja) 1999-10-12
JPH02503487A (ja) 1990-10-18
EP0363465B1 (de) 1993-11-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3788602T2 (de) Vorrichtung zur Aufzeichnung von Programmen für elektronische Apparate.
DE3484588D1 (de) Schaltung zur erfassung von pruefeingaben.
DE3486280T2 (de) Vorrichtung zur Erzeugung von Musiktönen vom Wellenformauslesespeichertyp.
DE3481222D1 (de) Elektroanalytisches verfahren und fuehler zur wasserstoffmessung.
DE3486027D1 (de) Testvorrichtung und verfahren.
DE68912455T2 (de) Verfahren und Gerät zur Taktsignalsynchronisierung.
DE69025309T2 (de) Einrichtung zur Erzeugung von Taktsignalen für Datenwiedergabe
DE3677553D1 (de) Akustooptisches system zur pruefung von schaltungen sehr hoher schaltgeschwindigkeit.
DE3787900D1 (de) Verfahren und Gerät zur Erzeugung von Prüfungs-Byten zur Fehlerdetektion für einen Datenblock.
DE3855860D1 (de) Schaltungsveränderungssystem und -verfahren, Verfahren zur Erzeugung von invertierter Logik und Logikentwurfssystem
DE3864232D1 (de) Anordnung zur strukturellen pruefung einer integrierten schaltung.
DE3481398D1 (de) Verfahren und schaltungsanordnung zur kompensation von uebersprech- u./o. echosignalen.
DE69117857D1 (de) Gerät und Verfahren zur Parallelgeneration von zyklischen redundanten Prüfungskoden
DE3481237D1 (de) Vorrichtung und verfahren zum messen von betriebszeiten.
DE68914738D1 (de) Gerät zur automatischen schaltungsinternen Prüfung von Teilnehmerschaltungen und Verfahren.
DE3483455D1 (de) Verfahren zur selbstheilung von hochintegrierten schaltungen und selbstheilende hochintegrierte schaltung.
DE68910461T2 (de) GERäT ZUR RECHNERGESTÜTZEN ERZEUGUNG VON PRÜFPROGRAMMEN FÜR DIGITALE SCHALTUNGEN.
DE68914679D1 (de) Verfahren und messinstrument für drei komponenten.
DE68924304T2 (de) Schaltung zur Prüfung von durch Mikrobefehle gesteuerten Schaltungsblöcken.
DE68925378D1 (de) Verfahren und Schaltung zur Daten-Fehler-Erkennung
DE3581503D1 (de) Geraet und verfahren zur ortung von signalausfaellen.
DE3480893D1 (de) Geraet und verfahren zur verschleierung von sprachsignalen.
DE3484690D1 (de) Wellenformtabellen-modifikationsinstrument und verfahren zur musiktonerzeugung.
DE3578601D1 (de) Verfahren und schaltungsanordnung zur erzeugung von farbhintergrundsignalen.
DE69110213D1 (de) Verfahren zur erzeugung von punktsignalen für zeichenmuster und einrichtung hierzu.

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: AGILENT TECHNOLOGIES, INC. (N.D.GES.D.STAATES DELA

8339 Ceased/non-payment of the annual fee