DE68906889T2 - Vorrichtung und verfahren zum aufspueren von fehlern in optischen fasern. - Google Patents

Description

Hintergrund der Erfindung Gebiet der Erfindung:
• Vorliegende Erfindung bezieht sich auf die Herstellung und den Test von optischen Fasern. Genauer gesagt bezieht sich vorliegende Erfindung auf Systeme zur Erfassung von Fehlern in organischen Puffern bzw. Pufferschichten auf optischen Fasern.
• Auch wenn vorliegende Erfindung hier unter Bezugnahme auf erläuternde Ausführungsbeispiele für spezielle Anwendungen beschrieben wird, versteht es sich, daß die Erfindung hierauf nicht beschränkt ist. Der Fachmann, der Zugang zu der hier vorgestellten Lehre besitzt, erkennt zusätzliche Modifikationen, Anwendungen und Ausführungsbeispiele innerhalb dieses Rahmens und auf zusätzlichen Gebieten, bei denen die vorliegende Erfindung von signifikanter Nützlichkeit ist.
Beschreibung des Standes der Technik:
• Wie im Stand der Technik bekannt ist, besitzen optische Fasern typischerweise einen Glasfaserkern (bestehend aus einer einen Wellenleiterkern umgebenden Beschichtung), der durch eine Schutzhülse aus organischen Material umgeben ist. Diese Hülse oder Hülle, die üblicherweise als die "Pufferschicht" bezeichnet wird, besitzt oftmals Bläschen, Brüche, Kratzer und andere Ungleichmäßigkeiten, die als Ergebnis der Herstellung und/oder Handhabung der Faser auftreten. Bei den meisten Kommunikationsanwendungen wurden bislang derartige Ungleichmäßigkeiten in der Pufferschicht als beseitigt gedacht. Jedoch stellen gewisse Anwendungen der Faseroptik signifikante Anforderungen an die Zugfestigkeit der Faseroptik. Ein derartiger beanspruchungsintensiver Einsatz besteht in der Entfaltung der Faser bzw. Fasern während des Flugs eines faseroptisch geführten Flugkörpers. In diesem Fall kann die Faser bis zu einem Ausmaß beansprucht werden, das sich ihrer inneren Festigkeit nähert. Vorab bereits vorhandene Fehler in der Beschichtung haben möglicherweise eine mechanische Berührung mit der Glasfaser ermöglicht. Dies könnte die Faser derart schwächen, daß die Faser möglicherweise bereits bei Beanspruchungen unterhalb der mechanischen Streckgrenze brechen könnte. Die mechanische Streckgrenze wird als groß genug eingestuft, um eine erfolgreiche Faser-Ausgabe bzw. -Herausführung (fibre payout) sicherzustellen.
• Folglich ist eine detaillierte Untersuchung der Faser kritisch bzw. wichtig, um die Überlebens fähigkeit der Faser sicherzustellen. Gegenwärtig wird diese Untersuchung lediglich manuell mit Hilfe eines Mikroskops an den Faserenden durchgeführt. Unglücklicherweise ist dieses Verfahren bei Flugkörper-Faserlängen, die in der Größenordnung von mehreren 10 km liegen, nicht adäquat. Weiterhin muß die Untersuchung gegebenenfalls wiederholt werden, um eine strikte Kontrolle der Faserqualität nach der Handhabung und/oder Verschiffung zu gewährleisten.
• Folglich besteht in der Technik ein Bedürfnis nach einer schnellen, billigen Technik zur Inspizierung des schützenden Puffers bzw. der schützenden Pufferschicht auf optischen Fasern langer Länge im Hinblick auf Fehler und Defekte.
• Die US-PS 4 678 327 und US-PS 4 150 492 offenbaren jeweilige Systeme zum Erfassen von Strahlung, die durch einen Fehler in einer optischen Faser gestreut ist. Insbesondere offenbart die US-PS 4 678 327 ein System, bei dem die Streuung von kohärentem, entlang der Faser wanderndem Licht erfaßt wird. Bei dem System gemäß der US-PS 4 150 492 wird ein paralleler, kohärenter Lichtstrahl, der die Faser rechtwinklig beleuchtet, in der Vorwärtsrichtung gestreut. Das gestreute Licht wird durch eine Linse gesammelt, die das Licht zu einem Muster fokussiert, das sowohl zu untersuchende Fehler als auch die Geometrie der Faser anzeigt.
• Die Erfindung bezieht sich auf ein System und ein Verfahren zur Erfassung eines Defekts in einer optischen Faser, wie es durch die jeweiligen Ansprüche 1 und 14 definiert ist.
Beschreibung der Zeichnungen
• Fig. 1 zeigt eine vereinfachte schematische perspektivische Darstellung eines Ausführungsbeispiels der Erfindung, das deren Prinzipien erläutert.
• Fig. 2 zeigt eine Darstellung eines Abschnitts einer typischen optischen Faser mit einer Fehlerstelle in der Puffer- Beschichtung.
• Fig. 3 zeigt eine Vorderansicht eines weiteren Ausführungsbeispiels der Erfindung.
• Fig. 4 zeigt ein alternatives Ausführungsbeispiel der Erfindung.
• Fig. 5 zeigt ein weiteres alternatives Ausführungsbeispiel der Erfindung.
• Fig. 6 zeigt ein erläuterndes, die Prinzipien vorliegender Erfindung verkörperndes komplettes Untersuchungssystem für optische Fasern.
Beschreibung von Ausführungsbeispielen der Erfindung
• Vorliegende Erfindung bietet einen neuartigen Ansatz für die Testung der Qualität der Puffer-Beschichtung von optischen Fasern. Die Technik bzw. Methode der vorliegenden Erfifldung ist im Hinblick auf BeschichtungsUngleichmäßigkeiten wie etwa Blasen oder Brüchen in der Beschichtung, die während der Herstellung oder der Handhabung der Faser hervorgerufen wurden, empfindlich. Die Erfindung benutzt eine einfache Laser-Beugungsoptik. Die zu untersuchende Faser wird durch den Laserstrahl beleuchtet. Defekte in der Faserbeschichtung rufen Veränderungen im Beugungsmuster hervor. Diese Veränderungen werden erfaßt und mit dem Defekt korreliert. Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel vorliegender Erfindung fällt der Laser bzw. Laserstrahl rechtwinklig zur Faserachse ein. Das Beugungsmuster in derselben Ebene wie der Laserstrahl enthält Information über den Faserdurchmesser, die Konzentrizität und die Beschichtungsdicke. Wie hier offenbart ist, beinhaltet eine Streuung außerhalb der Ebene (out-of-plane) eine Information über Unstetigkeiten im Medium (beispielsweise Brüche und Blasen in der Beschichtung). Das einfache Funktionsprinzip besteht vermutlich darin, daß die punktförmigen Defekte in dem Faser-Puffer als Quellen für eine Rückstrahlung bzw. erneute Abstrahlung des einfallenden Lichts dienen. Eine Lichtstreuung, die durch Blasen mit einem Durchmesser in der Größenordnung der Lichtwellenlänge hervorgerufen wird, wird üblicherweise als Mie-Streuung bzw. Mie-klassifizierte Streuung bezeichnet. Eine Rayleigh-Streuung tritt auf, wenn die Streustellen sehr klein im Vergleich zur Wellenlänge des einfallenden Strahls sind. Die Mie-Streuung stellt eine stark gerichtete Vorwärtsstreuung des Lichts dar. Die Rayleigh-Streuung ist isotrop. Bei einem einzelnen Bläschen mit Mie-Format bzw. Größe in einem homogenen Material sollte die Streuung in einem Konus um die Vorwärtsrichtung liegen. Folglich können Defekte in der Beschichtung durch Beobachtung der außerhalb der Ebene liegenden Streuung erfaßt werden.
• Die vereinfachte Darstellung gemäß Fig. 1 veranschaulicht die Prinzipien vorliegender Erfindung. Das System 10 enthält einen Abschnitt einer zu untersuchenden optischen Faser 11, die vertikal orientiert ist, und eine vertikale Längsachse "1" und eine horizontale Querachse "t" besitzt. Die Faser 11 yerläuft durch eine Öffnung 12 in einem Teller 14. Der Teller 14 besitzt erste und zweite Öffnungen 16 und 18, durch die hindurch erste und zweite orthogonale Strahlen 20 und 22, die von einem nicht-gezeigten Laser ausgehen, die Faser 11 an einem Punkt "A" entlang deren Querachse beleuchten. Wie aus den nachstehenden Ausführungen noch weiter verständlich wird, ist die Erfindung nicht auf die Anzahl von Laserstrahlen oder Detektoren, die in irgendeinem der erläuternden Auführungsbeispiele gezeigt sind, beschränkt. Der Fachmann, der Zugang zur vorliegenden Lehre bzw. den vorliegenden Vorschlägen besitzt, erkennt, daß das Prinzip der Erfindung auch auf eine Gestaltung ausgedehnt werden kann, die eine beliebige Anzahl von Strahlen und Detektoren besitzt, die für eine adäquate Beleuchtung einer zu untersuchenden Faser-Pufferschicht für beliebige besondere Anwendungen gefordert oder erwünscht sind.
• Die Faser 11 wird durch den Teller 14 hindurchgezogen, so daß jeder Punkt entlang ihrer Länge durch die Strahlen 20 und 22 beleuchtet wird. Wenn kein Defekt in der Beschichtung der Faser am Punkt "A" der Beleuchtung vorliegt, wird das Licht von jedem Strahl nach vorne auf ein Band 24 der Innenoberfläche des Tellers 14 gestreut, das sich umfangsmäßig um die Faser 11 in der Querebene der Strahlen 20 und 22 erstreckt. Während solche "in der Ebene liegende" vorwärtsgestreute Strahlen 26 vom zweiten Strahl 22 gezeigt sind, sind diejenigen, die vom ersten Strahl 20 herrühren, aus Gründen der Klarheit der Darstellung nicht gezeigt. Die in der Ebene nachfolgend gestreuten Strahlen 26 treffen auf das Band 24 auf und erzeugen ein in der Ebene liegendes Beugungsmuster 28, wenn keine Defekte in der Beschichtung der Faser 11 am Beleuchtungspunkt "A" vorhanden sind. Wenn ein Defekt in der Beschichtung der Faser 11 am Beleuchtungspunkt "A" vorliegt, werden zusätzliche Strahlen 30 durch den Defekt aus der radialen Querebene herausgestreut, die durch die Winkeldrehung des ersten oder zweiten Strahls 20 oder 22 um die Faser 11 am Schnittpunkt "A" zwischen dem Strahl 20 oder 22 und der Faser 11 definiert ist. Dies ist in Fig. 2 veranschaulicht, die eine Darstellung eines Abschnitts einer typischen optischen Faser 11 mit einem Defekt 32 in der Puffer-Beschichtung 34 zeigt. Bei dieser Darstellung ist die Fehlerstelle eine Scharte bzw. Kerbe, die am Punkt "A" die Beschichtung 34 der Umhüllung 36 der Faser 11 durchdrungen hat. Es versteht sich, daß auch andere Fehlstellen wie etwa Bläschen die hier diskutierte Streuung aus der Ebene heraus hervorrufen. Wenn der einfallende optische Strahl 20 den Defekt 32 am Punkt "A" entlang der Querachse "t" der Faser 11 beleuchtet, wird ein Strahl (oder eine Mehrzahl von Strahlen) 30 aus der radialen Querebene heraus gestreut.
• Wie aus Fig. 1 ersichtlich ist, treffen diese Strahlen 30 auf der inneren Oberfläche des Tellers 14 außerhalb des Bands 24 auf und erzeugen ein außerhalb der Ebene liegendes Beugungsmuster 40. In dem Ausmaß, in dem das Beugungsmuster 40 entweder die dritte oder die vierte Öffnung 42 und 44 beleuchtet, wird ein optisches Signal durch optische Detektorfasern 46 bzw. 48 aufgenommen und zu einem Detektor 50 weitergeleitet, der in Fig. 1 nicht gezeigt ist. Der Detektor 50 erzeugt ein elektrisches Signal als Reaktion auf das optische Signal, das verstärkt und als eine Anzeige einer Fehlererfassung aufgezeichnet oder angezeigt wird. Es ist festzustellen, daß bei einem gegebenen Defekt 32 eine Streuung außerhalb der Ebene durch den ersten oder den zweiten Strahl 20 oder 22 in Abhängigkeit von dessen Einfallswinkel hervorgerufen werden kann. Es ist weiterhin festzustellen, daß, auch wenn die Größe des gestreuten Signals bei der maximalen Eindringung des Defekts 32 in die Beschichtung 34 am größten sein sollte, eine gewisse, außerhalb der Ebene liegende Streuung auch durch die Abschnitte des Defekts oberhalb und unterhalb des Punkts "A" in Fig. 2 hervorgerufen werden sollte.
• Fig. 3 zeigt eine Vorderansicht bzw. Draufsicht auf das erläuternde Ausführungsbeispiel des Fehlererfassungssystems 10 gemäß vorliegender Erfindung. In dieser Ansicht ist der kreisförmige Teller 14 als durch einen Metallrahmen 52 umgeben gezeigt. Der Teller kann aus Aluminium, Kunststoff oder anderem geeigneten Material bestehen. Beim bevorzugten Ausführungsbeispiel besteht der Teller aus Aluminium mit einer Beschichtung aus weißer Farbe mit Ausnahme des Bands 24. Beim bevorzugten Ausführungsbeispiel ist eine Ausnehmung 25 in den Teller eingeschnitten und beim Band 24 schwarz angemalt, um die in der Ebene liegenden gestreuten Strahlen 26 einzufangen. Beim bevorzugten Ausführungsbeispiel weist der Teller 14 eine Irisblende 54 auf, die sich um einen Teflon-Ring 56 schließt. Der Teflon-Ring 56 besitzt eine kleine Öffnung, durch die die Faser 11 hindurchläuft. Die Ausnehmung 25, die Iris 54 und der Ring 56 dienen zur Minimierung der Aufnahme unerwünschten Lichts durch die Detektorfasern 46 und 48 und dienen hierdurch zur Verbesserung des Signal-Rausch-Verhältnisses bzw. Störabstands des Systems. Die Fasern 46 und 48 sind durch Metallrohre 58 und 60 gehäuseförmig umgeben, die durch Öffnungen 42 bzw. 44 im Teller 14 hindurchgehen. Die Rohre 58 und 60 dienen zur Festhaltung der Detektorfasern 46 und 48 in korrekter Position bezüglich der Faser 11. Idealerweise halten die Rohre 58 und 60 die Detektorfasern 46 und 48 derart, daß sie auf den Beleuchtungspunkt "A" der Faser gerichtet sind.
• Aus Fig. 3 ist ersichtlich, daß der erste und der zweite Strahl 20 und 22 die Faser 11 beleuchten und aus dem Teller 14 über Öffnungen 62 bzw. 64 heraustreten (oder zu geeigneten, nicht-gezeigten Lichtfallen geführt werden). Die Strahlen 20 und 22 werden durch einen handelsüblichen Helium-Neon-Laser 66 über einen 50-50-Strahlteiler sowie erste und zweite Spiegel 70 und 72, die durch den Rahmen 52 umschlossen sind, erzeugt. Wie vorstehend unter Bezugnahme auf Fig. 1 erläutert wurde, werden die aus der Ebene herausgestreuten Strahlen, durch die Detektorfasern 46 und 48, die gebündelt sind, aufgenommen und zu einem optischen Detektor 50 geführt.
• Folglich umfaßt ein Verfahren zum Erfassen von Defekten bei einer optischen Faser gemäß vorliegender Erfindung die Schritte: a) Beleuchten einer optischen Faser mit einem kollimierten Strahl aus elektromagnetischer Energie und (b) Erfassen irgendeiner durch eine Fehlstelle in dem Faser-Puffer bzw. der Faser-Schutzschicht hervorgerufenen Streuung des Strahls aus der Radialebene heraus, die durch die Winkeldrehung des Strahls um die Faser beim Schnittpunkt zwischen dem Strahl und der Faser definiert ist.
• Fig. 4 zeigt ein alternatives Ausführungsbeispiel des Defekt-Erfassungssystems 10' der vorliegenden Erflndung. Das alternative Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 4 ist identisch mit demjenigen gemäß Fig. 3, mit der Ausnahme, daß drei einfallende Strahlen 20', 21' und 22' sowie sechs Detektorfasern 46' vorgesehen sind. Aus ökonomischen Gründen werden die drei einfallenden Strahlen 20', 21' und 22' durch einen einzelnen Laser 66' über einen 1/3, 2/3-Strahlteiler 80' bereitgestellt. Der 1/3, 2/3-Strahlteiler 80' spaltet einen ersten Strahl 20' ab, der eine Intensität, die einem Drittel des einfallenden Strahls entspricht, besitzt, und richtet diesen auf einen ersten Spiegel 82'. Ein zweiter Strahl, dessen Intensität 2/3 des einfallenden Strahls entspricht, wird zu einem 50-50-Strahlteiler 84' durchgelassen. Der 50-50-Strahlteiler 84' reflektiert einen zweiten Strahl 21' zur Faser 11 und läßt einen dritten Strahl über Spiegel 86' und 88' zur Faser durch. Folglich werden drei Strahlen erzeugt, die die Faser 11 mit einem gegenseitigen relativen Winkelversatz von 120º beleuchten. Die mehreren Strahlen und Detektoren dienen zur Optimierung der Fehlstellen-Erfassung. Für den Fachmann sind zusätzliche Ausgestaltungen erkennbar, die innerhalb beliebiger Spezifikationen einer besonderen Anwendung optimal sein können.
• Fig. 5 zeigt ein weiteres alternatives Ausführungsbeispiel der Erfindung. In Fig. 5 ist der Teller 14 gemäß Fig. 1 in seitlicher, geschnittener Ansicht gezeigt. Bei diesem Ausführungsbeispiel ist ein Hilfsdetektor 100 vorgesehen, der ein Maß bzw. eine Messung der aus der Ebene herausgestreuten Gesamtenergie bereitstellt. Dieser Detektor 100 erleichtert die Messung von Defekten in glänzenden Fasern, die andernfalls einen niedrigen Pegel (oder einen Null-Pegel) bei der Erfassung mit Hilfe einer der Detektorfasern 46 oder 48 hervorrufen könnten. Bei diesem Ausführungsbeispiel wird der Ausgang bzw. das Ausgangssignal des Hilfsdetektors 100 separat aufgezeichnet und für einen Vergleich mit den Ausgangssignalen der Faserdetektoren überwacht.
• Fig. 6 zeigt ein komplettes Inspektionssystem 200 zur Inspektion optischer Fasern, bei dem die Prinzipien vorliegender Erfindung eingesetzt werden. Das Inspektionssystem 200 enthält das Detektionssystem 10 zur Erfassung von Defekten in optischen Fasern, das vorderseitig durch eine Schutzhaube 210 abgedeckt ist. Eine herkömmliche Durchmesser-Überwachungseinrichtung 220 ist mit der Rückseite des Fehler-Erfassungssystems 10 verbunden. Eine optische Faser wird von einer Spule 222 über erste und zweite Haspeln 224 und 226 zum Defekt-Erfassungssystem 10 zugeführt. Eine Durchmesser-Überwachungseinrichtung 220 ist für den Einsatz in Verbindung mit dem Defekt-Erfassungssystem 10 vorgesehen. Die Faser wird durch eine zweite Spule 228 über einen zweiten Satz von Haspeln 230 und 232 aufgenommen. Beschichtungs-Defekte werden in der zuvor beschriebenen Weise durch das System 10 gemäß vorliegender Erfindung erfaßt und an eine Karten- bzw. Aufschrieb-Aufzeichnungseinrichtung 240 angelegt. Ein Vielzweck- Computer 250 ist zur Steuerung der Aktivierung der Spulen 222 und 228 über nicht gezeigte Motoren vorgesehen. Ein Monitor 252 und eine Tastatur 254 dienen als Schnittstellen bzw. zur Kommunikation mit dem Computer 52. Wahlweise können weitere Ausrüstungen wie etwa ein Videorecorder (VCR) 260 vorgesehen sein, der mit einer fakulativ vorhandenen Kamera 270 zur Aufzeichnung eines Bilds der von jedem erfaßten Defekt herrührenden Streuung zusammenwirkt. Weiterhin sind bei Bedarf eine Durchmesser-Meßeinrichtung 280, ein Zeitgenerator 290 und ein Zähler 300 vorhanden. Es versteht sich, daß die peripheren Geräte, d. h. die Aufschrieb-Aufzeichnungseinrichtung 240, die Kamera 270 und der Videorecorder 260 sowie die Durchmesser-Meßeinrichtung 280 entweder unter der Steuerung durch den Computer 52 stehen oder sich mit diesem in Kommunikation befinden können. Das gesamte System 200 kann innerhalb einer Konsole 400 umschlossen sein.
• Vorliegende Erfindung wurde folglich unter Bezugnahme auf erläuternde Ausführungsbeispiele für eine spezielle Anwendung beschrieben. Für den Fachmann, der Zugang zu den vorliegenden Lösungsvorschlägen besitzt, sind zusätzliche Modifikationen, Anwendungen und Ausführungsbeispiele innerhalb von deren Umfang ersichtlich. Beispielsweise ist die Erfindung, wie zuvor angegeben, nicht auf die in jedem der erläuternden Ausführungsbeispiele gezeigte Anzahl von Laserstrahlen oder Detektoren beschränkt. Der Fachmann, der Zugang zu der vorliegenden Lehre hat, erkennt, daß das Prinzip der Erfindung auf eine Gestaltung mit einer beliebigen Anzahl von Strahlen und Detektoren, die für eine besondere Anwendung erforderlich oder erwünscht sind, ausgedehnt werden kann.
• Es ist beabsichtigt, daß durch die beigefügten Ansprüche jegliche und alle derartigen Anwendungen, Modifikationen und Ausführungsbeispiele innerhalb des Rahmens der Erfindung abgedeckt werden.

Claims (15)

1. System zur Erfassung eines Defekts (32) in einer optischen Faser (11), mit:

einer Einrichtung (14, 66, 66') zum Bereitstellen und Richten eines kollimierten Strahls (20, 20') aus elektromagnetischer Energie auf einen Pfad, der im wesentlichen rechtwinklig zur Längsachse der Faser (11) verläuft, so daß der Strahl (20, 20') bei Fehlen des Defekts (32) innerhalb eines ringförmigen Bands (24) gestreut wird, das durch eine Winkelumdrehung des Strahls um die Längsachse definiert ist, und

einer Erfassungseinrichtung (46, 46', 48, 50) zum Erfassen der gestreuten elektromagnetischen Energie,

dadurch gekennzeichnet, daß die Erfassungseinrichtung (46, 46', 48, 50) derart angeordnet ist, daß sie lediglich die elektromagnetische Energie (30) empfängt, die durch den Defekt (32) außerhalb des ringförmigen Bands (24) gestreut wird.

2. System nach Anspruch 1, bei dem die Erfassungseinrichtung eine Faseroptik (46, 46', 48) besitzt, die in optischer Verbindung mit dem Detektor (50) steht.

3. System nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Faseroptik (46, 46', 48) in einem Rohr (58, 60) aufgenommen ist.

4. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, mit einem Teller (14), der eine erste Öffnung (12) in seiner radialen Mitte für die Aufnahme der Faser (11) besitzt.

5. System nach Anspruch 4, bei dem der Teller (14) eine zweite Öffnung (16 oder 18) für die optische Faser (11) besitzt.

6. System nach Anspruch 4 oder 5, bei dem der Teller (14) eine Irisblende (54) besitzt, die in der ersten Öffnung (12) so montiert ist, daß sie sich im wesentlichen um einen Ring (56) zur Minimierung des Empfangs von unerwünschtem Licht durch die Faser (11) schließt.

7. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, mit einer Einrichtung (68, 70, 72) zum Bereitstellen mehrerer elektromagnetischer Strahlen (20, 22) für die Beleuchtung der Faser (11).

8. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, mit einer Mehrzahl von Erfassungseinrichtungen (46, 46', 48), die um die Längsachse der Faser (11) herum beabstandet angeordnet sind und zum Erfassen der außerhalb des Bands (24) gestreuten Energie dienen.

9. System nach Anspruch 2 oder 3, mit einem zusätzlichen Detektor (100) zum Erfassen von Energie, die durch den Defekt gestreut ist, und zum Bereitstellen eines Signals, das ein Maß für die durch den Defekt gestreute Gesamtenergie ist und für einen Vergleich mit einem Signal von der zuerst erwähnten Erfassungseinrichtung (46, 46', 48, 50) bereitgestellt wird.

10. System nach einem der Ansprüche 4 bis 6, mit einer Einrichtung (222, 224, 226, 228, 230, 232) zum Transportieren der optischen Faser (11) durch die Öffnung (12) in dem Teller (14).

11. System nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Transporteinrichtung eine Einrichtung (250) zum Steuern ihrer Aktivierung aufweist.

12. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, mit einer Einrichtung (260, 270) zum Aufzeichnen des Ausgangs bzw. Ausgangssignals der Erfassungseinrichtung.

13. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem der Teller (14) eine ringförmige Ausnehmung (25) entlang einer seiner Innenoberflächen an einem Schnittpunkt zwischen dieser und der radialen Ebene besitzt, die der Position des ringförmigen Bands (24) entspricht.

14. System nach Anspruch 13, bei dem die Ausnehmung (25) gefärbt ist, um die Streuung von Energie von dieser zu verhindern.

15. Verfahren zum Erfassen eines Defekts in einer optischen Faser (11), mit den Schritten:

a) Beleuchten der optischen Faser (11) mit einem kollimierten Strahl (20, 20') aus elektromagnetischer Energie, der auf einen Pfad gerichtet ist, der im wesentlichen rechtwinklig zur Längsachse der Faser (11) verläuft, wobei der Strahl (20, 26) bei Fehlen des Defekts innerhalb eines ringförmigen Bands (24) gestreut wird, das durch winkelmäßige Umdrehung des Strahls um die Längsachse definiert ist, und

b) Erfassen der gestreuten elektromagnetischen Energie,

dadurch gekennzeichnet, daß lediglich die elektromagnetische Energie (30) erfaßt wird, die durch den Defekt außerhalb des ringförmigen Bands (24) gestreut wird.