DE60211126T2 - Teststruktur zur gleichzeitigen Charakterisierung von zwei Ports einer optischen Komponente mittels interferometerbasierender optischer Netzwerkanalyse - Google Patents

Teststruktur zur gleichzeitigen Charakterisierung von zwei Ports einer optischen Komponente mittels interferometerbasierender optischer Netzwerkanalyse Download PDF

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