DE602007011335D1 - Elektronischer Schaltkreis, der einen mittels Verwendung eines Identifikators gesicherten Testmodus umfasst, und zugehöriges Verfahren - Google Patents
Elektronischer Schaltkreis, der einen mittels Verwendung eines Identifikators gesicherten Testmodus umfasst, und zugehöriges VerfahrenInfo
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR0601304A FR2897439A1 (fr) | 2006-02-15 | 2006-02-15 | Circuit elelctronique comprenant un mode de test securise par l'utilisation d'un identifiant, et procede associe |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE602007011335D1 true DE602007011335D1 (de) | 2011-02-03 |
Family
ID=37081608
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE602007011335T Active DE602007011335D1 (de) | 2006-02-15 | 2007-02-08 | Elektronischer Schaltkreis, der einen mittels Verwendung eines Identifikators gesicherten Testmodus umfasst, und zugehöriges Verfahren |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7921342B2 (de) |
EP (1) | EP1821111B1 (de) |
DE (1) | DE602007011335D1 (de) |
FR (1) | FR2897439A1 (de) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2362233B1 (de) * | 2010-02-02 | 2014-05-14 | STMicroelectronics Srl | Integrierte Vorrichtung zur elektrischen Verbindung mit Fehlererkennungsmodul und elektronisches Gerät, das die Vorrichtung umfasst |
US9203397B1 (en) * | 2011-12-16 | 2015-12-01 | Altera Corporation | Delaying start of user design execution |
DE102015110144B8 (de) * | 2015-06-24 | 2018-06-28 | Infineon Technologies Ag | Chip und Verfahren zum Testen einer Verarbeitungskomponente eines Chips |
US11686767B2 (en) * | 2017-11-02 | 2023-06-27 | Intel Corporation | System, apparatus and method for functional testing of one or more fabrics of a processor |
US11265149B2 (en) * | 2018-11-08 | 2022-03-01 | Daniel Eugene Hale | Apparatus and method for unbreakable data encryption |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB8507613D0 (en) * | 1985-03-23 | 1985-05-01 | Int Computers Ltd | Testing digital integrated circuits |
DE69324637T2 (de) * | 1992-07-31 | 1999-12-30 | Hughes Electronics Corp., El Segundo | Sicherheitssystem für integrierte Schaltung und Verfahren mit implantierten Leitungen |
EP0743602B1 (de) * | 1995-05-18 | 2002-08-14 | Hewlett-Packard Company, A Delaware Corporation | Schaltungsanordnung zur Überwachung der Benutzung von Funktionen in einem integrierten Schaltungkreis |
US5574733A (en) * | 1995-07-25 | 1996-11-12 | Intel Corporation | Scan-based built-in self test (BIST) with automatic reseeding of pattern generator |
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SE512916C2 (sv) * | 1998-07-16 | 2000-06-05 | Ericsson Telefon Ab L M | Metod och anordning för feldetektering i digitalt system |
GB2345976B (en) * | 1999-01-22 | 2003-06-25 | Sgs Thomson Microelectronics | Test circuit for memory |
DE10044837C1 (de) * | 2000-09-11 | 2001-09-13 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung und Verfahren zum Detektieren eines unerwünschten Angriffs auf eine integrierte Schaltung |
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US7334173B2 (en) * | 2005-06-28 | 2008-02-19 | Transmeta Corporation | Method and system for protecting processors from unauthorized debug access |
-
2006
- 2006-02-15 FR FR0601304A patent/FR2897439A1/fr active Pending
-
2007
- 2007-02-08 EP EP07101953A patent/EP1821111B1/de not_active Not-in-force
- 2007-02-08 DE DE602007011335T patent/DE602007011335D1/de active Active
- 2007-02-15 US US11/675,265 patent/US7921342B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7921342B2 (en) | 2011-04-05 |
FR2897439A1 (fr) | 2007-08-17 |
US20070257701A1 (en) | 2007-11-08 |
EP1821111A1 (de) | 2007-08-22 |
EP1821111B1 (de) | 2010-12-22 |
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