DE602007002523D1 - Elektronischer Schaltkreis, der einen mittels Eingabe von Lockdaten in die Testkette gesicherten Testmodus umfasst, und zugehöriges Verfahren - Google Patents

Elektronischer Schaltkreis, der einen mittels Eingabe von Lockdaten in die Testkette gesicherten Testmodus umfasst, und zugehöriges Verfahren

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David Hely
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8195949B2 (en) * 2008-02-29 2012-06-05 Red Hat, Inc. Mechanism for generating message sequence order numbers
US8812858B2 (en) * 2008-02-29 2014-08-19 Red Hat, Inc. Broadcast stenography of data communications
US8401192B2 (en) * 2008-02-29 2013-03-19 Red Hat, Inc. Mechanism for securely ordered message exchange
FR2948795A1 (fr) * 2009-07-30 2011-02-04 St Microelectronics Rousset Detecteur d'injection de fautes dans un circuit integre
WO2014164180A2 (en) * 2013-03-11 2014-10-09 Quantum Advance Technology, Inc. Decoy bits method for direct encryption and key generation

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5574733A (en) * 1995-07-25 1996-11-12 Intel Corporation Scan-based built-in self test (BIST) with automatic reseeding of pattern generator
US7185249B2 (en) * 2002-04-30 2007-02-27 Freescale Semiconductor, Inc. Method and apparatus for secure scan testing
EP1560033A1 (de) * 2004-01-29 2005-08-03 STMicroelectronics S.A. Integrierte Schaltung mit sicherem Testmodus mittels Initialisierung des Testmodus
US7334173B2 (en) * 2005-06-28 2008-02-19 Transmeta Corporation Method and system for protecting processors from unauthorized debug access

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