DE602005000089T2

DE602005000089T2 - Verfahren zur Absicherung des Testmodus einer integrierten Schaltung mittels Eindringungserkennung

Info

Publication number: DE602005000089T2
Application number: DE602005000089T
Authority: DE
Inventors: Frederic Bancel; David Hely
Original assignee: STMicroelectronics SA
Current assignee: STMicroelectronics SA
Priority date: 2004-01-29
Filing date: 2005-01-26
Publication date: 2007-04-12
Anticipated expiration: 2025-01-27
Also published as: EP1560032A1; FR2865828A1; DE602005000089D1; EP1560032B1; US20050172184A1; US7478293B2

Description

Die Erfindung betrifft allgemein integrierte synchrone elektronische Schaltungen, die mit kombinierenden Logikmitteln, Flipflops und Testmitteln versehen sind.
Genauer genommen betrifft die Erfindung eine elektronische Schaltung, die aufweist: mehrere Logikzellen, mehrere konfigurierbare Zellen, die jeweils mindestens einen Multiplexer und einen Flipflop aufweisen, und mehrere Steuerleitungen, die zumindest teilweise mit konfigurierbaren Zellen verbunden sind und auf welchen Steuersignale selektiv zirkulieren, die im Betrieb von einem Steuerschaltkreis, wie einem Zugangscontroller, empfangen und/oder versendet werden, wobei die konfigurierbaren Zellen selektiv in Abhängigkeit von Steuersignalen einen Standardbetriebsmodus annehmen, in dem sie zumindest mit bestimmten Logikzellen betriebsmäßig verbunden sind, mit welchen sie kooperieren, um einen logischen Schaltkreis zu bilden, und einen Testmodus annehmen, in dem die konfigurierbaren Zellen betriebsmäßig funktionell in Reihe geschaltet sind, um ein Schieberegister zu bilden, das mit einem Dateneingang und einem Datenausgang versehen ist.
Es ist wohl bekannt, das korrekte Funktionieren von Funktionselementen einer integrierten Schaltung zu prüfen, indem zu vordefinierten Zeitpunkten Datenwerte zugewiesen und/oder bestimmt werden, die an bestimmten internen Stellen dieser integrierten Schaltung gegenwärtig sind.
Eine solche Testtechnik interner Pfade einer integrierten Schaltung (bezeichnet durch „scanpath" oder „internal scan method" in angelsächsischer Sprache) ist zum Beispiel in der Veröffentlichung von M. Williams und J. Angel, mit dem Titel „Enhancing Testability of LSI Circuits Via Test Points and Additional Logic, IEEE Transactions on Computers", Band C-22, Nr. 1, Januar 1973, beschrieben.
Gemäß dieser Technik ist jeder Flipflop der logischen Schaltung, für die es nützlich ist, ihren Zustand zu kennen und/oder den Inhalt während des Standardbetriebs der integrierten Schaltung zuzuweisen, an seinem Eingang mit einem Multiplexer ausgestattet.
Die verschiedenen Flipflops und die Multiplexer, die zu ihnen gehören, bilden daher ebenso viele konfigurierbare Zellen, deren Zugänge von diesen Multiplexern gesteuert werden.
Die Multiplexer dieser verschiedenen konfigurierbaren Zellen werden gemeinsam von einem Zugangscontroller oder „TAP-Controller" („TAP" für „Test Access Port" in angelsächsischer Sprache) gesteuert, der in Abhängigkeit von einem ausgewählten Betriebsmodus diese Einheit konfigurierbarer Zellen entweder als funktionale Standardschaltung, integriert in die Logikschaltung, die er mit den Logikzellen bildet, oder als Testschaltkreis verwendet.
Dazu empfängt der TAP-Controller auf verschiedenen Steuerleitungen und/oder Adressen auf verschiedenen Steuerleitungen, durch welche er mit den verschiedenen konfigurierbaren Zellen verbunden ist, Steuersignale, wie zum Beispiel ein Modussteuersignal, ein Verkettungssteuersignal oder auch ein Datenausbreitungssteuersignal, die es erlauben, die Zirkulationspfade der Daten innerhalb der integrierten Schaltung zu modifizieren und/oder die sie modifizieren, und die daher das Erfassen dieser Daten durch den Controller zu ihrer späteren Analyse erlauben.
Im Standardbetriebsmodus steuert der TAP-Controller daher die Multiplexer der konfigurierbaren Zellen so, daß die Flipflops dieser Zellen mit umgebenden Logikzellen verbunden werden, um eine oder mehrere Unterbetriebseinheiten der integrieren Schaltung zu definieren.
Im Testmodus, der normalerweise beim Empfang eines Steuersignals durch den TAP-Controller zum Übergehen auf den Testmodus ausgelöst wird, erzeugt dieser Controller ein Verkettungssteuersignal, um die Flipflops der konfigurierbaren Zellen in Reihe zu schalten, um ein Schieberegister zu bilden.
Dieses Register umfaßt insbesondere einen seriellen Eingang und einen seriellen Ausgang, die jeweils mit einem Ausgang und einem Eingang des TAP-Controllers verbunden sind, sowie einen Taktgebereingang, der ein Taktgebersignal zum Takten des Datenflusses empfängt.
Zuerst lädt der TAP-Controller in Serie Daten in die Flipflops der konfigurierbaren Zellen über den Eingang des Schieberegisters, das diese Zellen bilden.
Danach wechselt der TAP-Controller die Umschaltung der Multiplexer, um eine funktionelle Schaltung zu bilden, und steuert das Ausführen einer oder mehrerer Taktgeberzyklen durch diese funktionelle Schaltung. In dieser Phase werden die Daten, die in die Flipflops der konfigurierbaren Zellen geladen sind, von der funktionelle Schaltung verarbeitet.
Der Controller wechselt daher noch einmal die Umschaltung der Multiplexer, um wieder das Schieberegister zu bilden, und gewinnt in Serie auf dem Ausgang dieses Schieberegisters die Daten zurück, die in den Flipflops der konfigurierbaren Zellen während des letzten Taktgeberzyklus gespeichert waren.
Trotz der bestätigten Nützlichkeit dieser Testtechnik kann sich ihre praktische Umsetzung unter bestimmten Bedingungen als problematisch erweisen, insbesondere an integrierten Schaltungen, die geheime Daten verarbeiten.
Insofern als es das Aktivieren des Testmodus einem Betrüger erlauben kann, den Inhalt der Flipflops der konfigurierbaren Zellen zu lesen, weist diese Testtechnik a priori den Nachteil auf, daß sie solche Schaltungen für einen betrügerischen Gebrauch sehr anfällig macht.
Indem zum Beispiel in bestimmten Augenblicken ein interner Ladeprozeß geheimer Daten in die integrierte Schaltung gestoppt wird und indem der Inhalt des Schieberegisters entladen wird, kann ein Betrüger Informationen über geheime Daten erhalten, kann sie sogar wiederherstellen.
Durch Aktivieren des Testmodus kann ein Betrüger auch zum Schreiben auf die Flipflops der konfigurierbaren Zellen zugreifen, um betrügerische Daten einzufügen oder um die integrierte Schaltung auf eine nicht genehmigte Konfiguration zu stellen. Er kann daher zum Beispiel auf ein Register zugreifen, das ein Sicherheitsorgan steuert, wie zum Beispiel einen Sensor, um diesen zu deaktivieren. Er kann auch eine fehlerhafte Information injizieren, um Informationen über eine Geheiminformation zu erhalten.
Der Betrug kann eigentlich auf zwei verschiedenen Strategien basisieren, von welchen die erste darin besteht, die Kontrolle des TAP-Controllers zu übernehmen und an den externen Kontakten den Inhalt der Zellen des Schieberegisters zu beobachten, und dessen zweite Strategie darin besteht, die Kontrolle der konfigurierbaren Zellen zu übernehmen, indem sie durch Mikroabfragen so erregt werden, daß das Steuern dieser Zellen durch die Steuersignale, welche der TAP-Controller sendet, simuliert wird.
Ein Betrugsversuch gemäß der ersten Strategie kann durch eine Technik blockiert werden, die Gegenstand einer Patentanmeldung ist, die von dem Inhaber parallel eingereicht wird.
Das Ziel der vorliegenden Erfindung hingegen ist das Vorschlagen einer elektronischen Schaltung, die so konzipiert ist, daß sie einen Betrugsversuch gemäß der zweiten oben genannten Strategie scheitern läßt.
Dazu ist die elektronische Schaltung der Erfindung, die sonst der allgemeinen Definition entspricht, die der oben stehende Oberbegriff dafür gibt, dadurch gekennzeichnet, daß sie einen Spionageschaltkreis aufweist, der mit den Steuerleitungen verbunden ist, der eine logische Kombination der Signale ausführt, die über diese Steuerleitungen laufen und ein Ausgangssignal liefert, das selektiv einen Zustand annimmt, der für ein Fehlen einer Anomalie oder eines Zustands, der einen Einbruchsversuch darstellt, repräsentativ ist, je nachdem, ob die Kombination der Signale, die über die Steuerleitungen laufen, einer Kombination von Steuersignalen entspricht oder nicht, die in einem gestatteten Betriebszustand der elektronischen Schaltung beobachtbar ist.
Es ist zum Beispiel möglich vorzusehen, daß der Spionageschaltkreis eine Kombination von Signalen ausführt, die auf einer ersten Einheit mehrerer Steuerleitungen zirkulieren, von welchen jede dem Übertragen des Verkettungssteuersignals zugewiesen ist, das die konfigurierbaren Zellen in Schieberegister konfiguriert, und daß der Spionageschaltkreis mindestens ein Ausgangssignal eines ersten Typs liefert, das einen Zustand annimmt, der für die Abwesenheit einer Anomalie repräsentativ ist, wenn und nur wenn die Signale, die auf der ersten Einheit von Steuerleitungen zirkulieren, gleichzeitig in dem selben Zustand sind.
Es ist jedoch auch möglich, anstelle oder ergänzend zu der vorhergehenden Maßnahme vorzusehen, daß die Spionageschaltung eine Kombination von Signalen ausführt, die auf einer zweiten Einheit mehrerer Steuerleitungen zirkulieren, von welchen mindestens eine dem Übertragen des Verkettungssteuersignals zugewiesen ist, von dem mindestens eine zweite dem Übertragen des Steuersignals für das Übergehen auf Testmodus zugewiesen ist, der den Steuerschaltkreis aktiviert, und von welchen mindestens eine dritte dem Übertragen des Daten-Ausbreitungssteuersignals in den konfigurierbaren Zellen zugewiesen ist, und daß der Spionageschaltkreis mindestens ein Ausgangssignal eines zweiten Typs liefert, das einen Zustand annimmt, der für einen Einbruchsversuch repräsentativ ist, wenn das eine oder das andere der Steuersignale zum Übergehen auf den Testmodus und Ausbreiten inaktiv ist, während das Verkettungssteuersignal aktiv ist.
Ungeachtet der besonderen ausgewählten Ausführungsform ist es vorteilhaft, vorzusehen, daß das Ausgangssignal des Spionageschaltkreises den konfigurierbaren Zellen zugeführt wird und die Flipflops dieser konfigurierbaren Zellen auf Null stellt, wenn es seinen Zustand annimmt, der für einen Einbruchsversuch repräsentativ ist.
Weitere Merkmale und Vorteile der Erfindung ergeben sich klar aus der folgenden Beschreibung beispielhaft und nicht einschränkend unter Bezugnahme auf die alleinige anliegende Figur, die eine Skizze ist, die eine elektronische Schaltung veranschaulicht, die zwei Ausführungsformen der Erfindung entspricht, die sowohl getrennt als auch gemeinsam verwendbar sind und gleichzeitig dargestellt wurden.
Wie oben erwähnt, betrifft die Erfindung eine elektronische Schaltung, die mit internen Testmitteln versehen ist.
Eine solche Schaltung umfaßt typisch mehrere Logikzellen, wie zum Beispiel die Zellen 10 bis 15, mehrere konfigurierbare Zellen, wie zum Beispiel die Zellen 2a, 2w und 2z, mehrere Steuerleitungen, wie zum Beispiel die Leitungen K1 bis K4 und K21 bis K23, sowie eventuell einen Steuerschaltkreis, wie zum Beispiel einen CTAP-Zugangscontroller, der jedoch auch außerhalb der betreffenden elektronischen Schaltung liegen kann.
Jede der konfigurierbaren Zellen, wie zum Beispiel 2a, 2w und 2z, umfaßt mindestens einen Multiplexer 21 und mindestens einen Flipflop 22.
Die Steuerleitungen K1 bis K4 und K21 bis K23, von welchen zumindest bestimmte mit dem konfigurierbaren Zellen 2a, 2w und 2z verbunden sind, dienen zum Übertragen von Steuersignalen, die selektiv empfangen und/oder im Betrieb von dem CTAP-Steuerschaltkreis gesendet werden, wie zum Beispiel ein Signal zum Steuern des Übergangs auf den Testmodus Test_Enable, der den CTAP-Steuerschaltkreis aktiviert, ein Verkettungssteuersignal Scan_Enable, das die konfigurierbaren Zellen in Form eines Schieberegisters verkettet, und ein Steuersignal Shift_DR, das das Ausbreiten von Daten in den konfigurierbaren Zellen erlaubt.
In Abhängigkeit von diesen Steuersignalen oder zumindest bestimmten von ihnen nehmen die konfigurierbaren Zellen 2a, 2w und 2z entweder einen Standardbetriebsmodus an, in dem sie betriebsmäßig funktionell zumindest mit bestimmten der Logikzellen 10 bis 15 verbunden sind, mit welchen sie kooperieren, um einen logischen Schaltkreis LOG zu bilden, oder einen Testmodus, in dem diese konfigurierbaren Zellen 2a, 2w und 2z betriebsmäßig miteinander in Reihe geschaltet sind, um ein Schieberegister zu bilden.
Der Übergang der konfigurierbaren Zellen von dem Standardbetriebsmodus auf den Testbetriebsmodus erfolgt durch das Steuern der Multiplexer 21 mittels zumindest bestimmter der Steuersignale, die von dem CTAP-Steuerschaltkreis geliefert werden.
Das Schieberegister 2a bis 2z weist insbesondere einen Dateneingang SRI auf, der von einem Ausgang des CTAP-Steuerschaltkreises gesteuert wird, einen Datenausgang SRO, der mit einem Eingang des CTAP-Steuerschaltkreises verbunden ist, und einen Taktgebereingang (nicht spezifisch dargestellt), um ein Taktgebersignal Clk zu empfangen, das den Datenstrom in diesem Schieberegister takten kann.
Um einen Test zu starten, muß ein Signal Test_Enable zum Steuern des Übergehens auf Testmodus zuerst zu dem CTAP-Steuerschaltkreis auf der Steuerleitung K4 gegeben werden.
Der CTAP-Steuerschaltkreis konfiguriert dann die konfigurierbaren Zellen 2a bis 2z als Schieberegister durch Senden des Verkettungssteuersignals Scan_Enable.
Dann lädt der CTAP-Steuerschaltkreis durch Senden des Ausbreitungssteuersignals Shift_DR in Serie Testdaten in die Flipflops 22 dieser konfigurierbaren Zellen über den Eingang SRI des Schieberegisters.
Durch Deaktivieren des Verkettungssteuersignals Scan_Enable konfiguriert der CTAP- Steuerschaltkreis die konfigurierbaren Zellen 2a bis 2z als funktionelles der Logikschaltung LOG und steuert das Ausführen eines oder mehrerer Taktgeberzyklen durch dieses funktionelle Element, das die Testdaten verarbeitet.
Durch Wiederaktivieren des Verkettungsteuersignals Scan_Enable konfiguriert der CTAP-Steuerschaltkreis die konfigurierbaren Zellen 2a bis 2z erneut in ein Schieberegister.
Schließlich gewinnt der CTAP-Steuerschaltkreis durch Senden des Ausbreitungssteuersignals Shift_DR zu dem Ausgang SRO dieses Registers die Daten, die in den Flipflops 22 gespeichert sind und die aus der Verarbeitung der Testdaten durch die Logikschaltung LOG hervorgehen.
Um insbesondere zu vermeiden, daß ein Betrüger eine solche Testvorhergehensweise simulieren kann, indem er direkt Steuersignale an die Leitungen K1 bis K4 und K21 bis K23 anlegt und/oder Daten an den Eingang SRI, und daher betrügerisch die in den Flipflops 22 gespeicherten und aus der Verarbeitung der Testdaten durch die Logikschaltung LOG hervorgehenden Daten zurückgewinnen kann, umfaßt die elektronische Schaltung der Erfindung einen Spionageschaltkreis SPY, der mit den Steuerleitungen, wie zum Beispiel K1 bis K4 und K21 bis K23 verbunden ist.
Der Spionageschaltkreis SPY, der eine logische Kombination der Signale ausführt, die auf den verschiedenen Steuerleitungen zirkulieren, hat die Aufgabe, ein Ausgangssignal auszugeben, wie zum Beispiel SS1 oder SS2, dessen Zustand für eine Abwesenheit einer Anomalie oder im Gegenteil für einen Einbruchsversuch repräsentativ ist.
Genauer genommen nimmt das Ausgangssignal SS1 oder SS2 des Spionageschaltkreises SPY einen Zustand an, der für eine Abwesenheit einer Anomalie oder für einen Einbruchsversuch je nachdem repräsentativ ist, ob die Kombination der Signale, die auf den beobachteten Steuerleitungen durchgehen, einer Kombination von Steuersignalen entspricht oder nicht, die in einem zugelassenen Betriebszustand der elektronischen Schaltung beobachtet werden kann.
Bei einer der veranschaulichten Ausführungsformen führt der Spionageschaltkreis SPY zum Beispiel eine Kombination von Signalen aus, die auf einer ersten Einheit von Steuerleitungen K21 bis K23 zirkulieren, von welchen jede dem Übertragen des Verkettungssteuersignals Scan_Enable zugewiesen ist, das die konfigurierbaren Zellen in Schieberegister konfiguriert.
Dieser Spionageschaltkreis SPY umfaßt logische Gatter UND 31, ODER 32, ODER EXKLUSIV 33 und einen Flipflop 34, die wie veranschaulicht zusammengeschaltet sind, und liefert daher ein Ausgangssignal SS1, das für einen Zustand repräsentativ ist, der für eine Abwesenheit von Anomalie annimmt, wenn und nur wenn die Signale, die auf den Steuerleitungen K21 bis K23 zirkulieren, gleichzeitig in dem selben Zustand sind.
Der Steuerschaltkreis SPY ist daher in der Lage, zu erkennen, ob die eine oder die andere der Steuerleitungen K21 bis K23, auf welchen normalerweise dasselbe Signal läuft, Gegenstand eines Angriffs war, der darauf abzielt, auf einen anderen Zustand zu forcieren.
Bei der zweiten veranschaulichten Ausführungsform, die mit der ersten kumulierbar ist, führt der Spionageschaltkreis SPY eine Kombination von Signalen aus, die auf einer zweiten Einheit von Steuerleitungen K23, K3 und K4 zirkulieren, von welchen die erste, K23, dem Übertragen des Verkettungssteuersignals Scan_Enable zugewiesen ist, das die konfigurierbaren Zellen in Schieberegister konfiguriert, von welchen die zweite, K4, dem Übertragen des Steuersignals für das Übergehen auf Testmodus Test_Enable zugewiesen ist, der den Steuerschaltkreis aktiviert, und von welchen die dritte, K3, dem Übertragen des Signals Shift_DR zum Steuern des Ausbreitens der Daten in den konfigurierbaren Zellen zugewiesen ist.
Dieser Steuerschaltkreis SPY umfaßt logische Gatter NEIN-ODER 41 und UND 42, die wie veranschaulicht zusammengeschaltet sind, und liefert daher ein Ausgangssignal SS2, das einen Zustand annimmt, der für einen Einbruchsversuch repräsentativ ist, wenn das eine oder das andere der Signale zum Steuern der Übergehens auf Testmodus Test_Enable und Steuern des Ausbreitens Shift_DR inaktiv ist, während das Verkettungssteuersignal Scan_Enable aktiv ist.
Der Spionageschaltkreis SPY nutzt daher die Kohärenz, die normalerweise zwischen den Zuständen existiert, die die verschiedenen internen Steuersignale der elektronischen Schaltung im Laufe der Zeit annehmen, um beim Erfassen einer Unterbrechung dieser Kohärenz zu warnen, daß eine der Steuerleitungen, auf welcher normalerweise ein Steuersignal, das dieser Kohärenz unterliegt, durchgeht, Gegenstand eines Angriffs war, der darauf abzielt, es auf einen anderen Wert als den zu forcieren, den eben diese Kohärenz vorsieht.
Auf jeden Fall wird das Ausgangssignal SS1 und/oder SS2 des Spionageschaltkreises SPY vorteilhafterweise zu den konfigurierbaren Zellen 2a, 2w und 2z befördert und stellt die Flipflops 22 dieser konfigurierbaren Zellen auf Null zurück, wenn es seinen Zustand annimmt, der für einen Einbruchsversuch repräsentativ ist.

Claims

Elektronische Schaltung umfassend: mehrere Logikzellen (10–15); mehrere konfigurierbare Zellen (2a, 2b, 2z) mit jeweils mindestens einem Multiplexer (21) und einem Flipflop (22); und mehrere Steuerleitungen (K1–K4, K21–K23), die zumindest teilweise mit den konfigurierbaren Zellen (2a, 2w, 2z) verbunden sind und an denen Steuersignale (Test_enable, Scan_enable, und Shift_DR) selektiv zirkulieren, die im Betrieb von einem Steuerschaltkreis (CTAP), wie einem Zugangscontroller, empfangen und/oder versendet werden, wobei die konfigurierbaren Zellen (2a, 2w, 2z) in Abhängigkeit der Steuersignale einen Standardbetriebsmodus selektiv annehmen, in dem sie zumindest mit bestimmten Logikzellen (10–15) betriebsmäßig verbunden sind, mit denen sie kooperieren, um einen logischen Schaltkreis (LOG) zu bilden, und einen Testmodus annehmen, in dem die konfigurierbaren Zellen (2a, 2w, 2z) betriebsmäßig funktionell in Reihe geschaltet sind, um ein Schieberegister zu bilden, das mit einem Dateneingang (SRI) und einem Datenausgang (SRO) versehen ist, dadurch gekennzeichnet, daß sie zusätzlich einen Spionageschaltkreis (SPY) umfaßt, der mit den Steuerleitungen (K1–K4, K21–K23) verbunden ist, eine logische Kombination über die Steuerleitungen übergeleiteten Signale ausführt und ein Ausgangssignal (SS1, SS2) bereitstellt, das selektiv einen Zustand repräsentativ für die Abwesenheit einer Anomalie oder einen Zustand repräsentativ für eine vorzeitige Unterbrechung annimmt, je nachdem, ob die Kombination der Signale, die über die Steuerleitungen (K1–K4, und K21 bis K23) übertragen werden, einer Kombination von Steuersignalen, die in einem von der elektronischen Schaltung autorisierten Betriebszustand beobachtet werden können, entsprechen oder nicht.
Elektronische Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Spionageschaltkreis (SPY) eine Kombination von Signalen ausführt, die über eine erste Gruppe von mehreren Steuerleitungen (K21–K23) zirkulieren, von denen jede der Übermittlung des Verkettungs-Steuersignals (Scan_enable) zugeordnet ist, das die zu einem Schieberegister konfigurierbaren Zellen konfiguriert, und daß der Spionageschaltkreis (SPY) mindestens ein Ausgangssignals eines ersten Typs (SS1) bereitstellt, das einen Zustand repräsentativ für die Abwesenheit einer Anomalie nur dann annimmt, wenn die an der ersten Gruppe der Steuerleitung zirkulierenden Signale simultan in dem selben Zustand sind.
Elektronische Schaltung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Spionageschaltkreis (SPY) eine Kombination von Signalen ausführt, die über eine zweite Gruppe von mehreren Steuerleitungen (K23, K3, K4) zirkulieren, von denen zumindest eine erste (K23) der Übermittlung des Verkettungs-Steuersignals (Scan_enable) zugeordnet ist, das die zu einem Schieberegister konfigurierbaren Zellen konfiguriert, von denen zumindest eine zweite (K4) der Übermittlung des Durchlaßsteuersignals im Testmodus (Test_enable) zugeordnet ist, der den Steuerschaltkreis aktiviert, und von denen zumindest eine dritte (K3) der Übermittlung des Steuersignals (shift_DR) für eine Datenübertragung in die konfigurierbaren Zellen zugeordnet ist, und daß der Spionageschaltkreis (SPY) zumindest ein Ausgangssignal des zweiten Typs (SS2) bereitstellt, das einen Zustand repräsentativ für eine vorzeitige Unterbrechung annimmt, wenn das Durchlaßsteuersignal (Test_enable, Shift_DR) im Testmodus oder das Übertragungssteuersignal inaktiv ist, während das Verkettungs-Steuersignal (Scan_enable) aktiv ist.
Elektronische Schaltung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Ausgangssignal (SS1, SS2) des Spionageschaltkreises (SPY) zu den konfigurierbaren Zellen (2a, 2w, 2z) weitergeleitet wird und die Flipflops (22) der konfigurierbaren Zellen auf Null stellt, wenn es seinen Zustand repräsentativ für eine vorzeitige Unterbrechung annimmt.