DE60130977T2 - Induktiv gekoppeltes plasma-ätzgerät - Google Patents

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Description

  • Hintergrund der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft im Allgemeinen die Halbleiterherstellung und insbesondere ein induktiv gekoppeltes Plasma-Ätzgerät und ein Verfahren zum Kontrollieren der Oberfläche einer Kammerinnenwand eines induktiv gekoppelten Plasma-Ätzgeräts.
  • Bei den Halbleiterherstellungsprozessen werden Ätzverfahren, eine Herstellung von Isolierfilmen und Diffusionsvorgänge wiederholt ausgeführt. Wie einem Fachmann auf diesem Gebiet bekannt ist, gibt es zwei Arten von Ätzverfahren: Nassätzen und Trockenätzen. Ein Trockenätzverfahren wird typischerweise unter Verwendung eines induktiv gekoppelten Plasma-Ätzgeräts, wie es beispielsweise in der 1 gezeigt ist, durchgeführt.
  • Bei dem in der 1 gezeigten induktiv gekoppelten Plasma-Ätzgerät wird zunächst ein Reaktionsgas durch eine Gaseinlassöffnung (nicht dargestellt) in die Kammer 400 eingelassen. Dann wird ein Hochfrequenzstrom von einer Stromversorgung (nicht dargestellt) an eine Spule 407 angelegt. Ein Halbleiterwafer 411 wird auf einer in der Kammer 400 vorgesehenen Spannvorrichtung 409 montiert. Die Spule 407 wird im oberen Bereich der Kammer durch Abstandsstücke 403, die aus isolierendem Material bestehen, gehalten. Beim Betrieb induziert ein durch die Spule 407 fließender Hochfrequenzstrom (RF) einen elektromagnetischen Strom in der Kammer 400 und der elektromagnetische Strom wirkt auf das Reaktionsgas, um ein Plasma zu erzeugen.
  • Das Plasma enthält verschiedene Arten von Radikalen und die chemische Reaktion der positiven/negativen Ionen wird verwendet, um den Halbleiterwafer 411 selbst oder einen auf dem Wafer erzeugten Isolierfilm zu ätzen. Während des Ätzvorgangs führt die Spule 407 eine Funktion aus, die der der Primärspule eines Transformators entspricht, während das Plasma in der Kammer 400 eine Funktion ausführt, die der der Sekundärspule des Transformators entspricht. Das durch den Ätzvorgang erzeugte Reaktionsprodukt wird durch die Ausströmöffnung 405 abgeführt.
  • Beim Ätzen von einem der kürzlich entwickelten Materialien für die Elemente (z. B. Platin, Ruthenium und dergleichen) kann das erzeugte Reaktionsprodukt eine nichtflüchtige Substanz (z. B. RuO2) sein. In einigen Fällen kann das Reaktionsprodukt an einer Wand 401 der Kammer 400 anhaften. Falls das Reaktionsprodukt leitend ist, kann der sich auf der Wand 401 befindende Film des Reaktionsprodukts den elektromagnetischen Strom in der Kammer abschirmen. Als Folge wird das Plasma nicht ge zündet, nachdem mehrere Wafer geätzt wurden und der Ätzprozess muss unterbrochen werden.
  • Bei einem Versuch, dieses Problem zu beheben, wurde ein Verfahren zum Sputtern des an der Wand 401 anhaftenden Reaktionsprodukts unter Verwendung des Plasmas entwickelt. Bei dem in der 1 gezeigten induktiv gekoppelten Plasma-Ätzgerät erzeugt der von dem RF-Strom induzierte elektromagnetische Strom jedoch eine Versorgungsspannung mit einer stehenden Welle in der Nähe der Wand 401. Dies ist problematisch, da das Abscheiden und Sputtern des Reaktionsprodukts dadurch ungleichmäßig wird. Genauer gesagt, wird eine relativ große Energiemenge dem Plasma in dem Bereich zugeführt, in dem die Amplitude der stehenden Welle groß ist. Als Ergebnis wird das Reaktionsprodukt in diesem Bereich übermäßig gesputtert. Andererseits wird nur eine relativ kleine Energiemenge dem Plasma in dem Bereich zugeführt, in dem die Amplitude der stehenden Welle klein ist, d. h. im Bereich des Knotenpunkts der stehenden Welle. Als Ergebnis wird das Reaktionsprodukt in diesem Bereich abgeschieden. Wie oben erläutert wurde, ist das Vorhandensein eines elektrisch leitenden Films auf der Wand 401 unerwünscht, da er den elektromagnetischen Strom in der Kammer abschirmt und dadurch den Ätzvorgang stoppt.
  • Angesichts der vorstehenden Ausführungen gibt es einen Bedarf an einem induktiv gekoppelten Plasma-Ätzgerät, das das Abscheiden von elektrisch leitenden Reaktionsprodukten auf der Oberfläche einer Kammerinnenwand im Wesentlichen verhindert.
  • Ein Beispiel für eine Anordnung des Stands der Technik wird in der US 5 650 032 A (John Howard Keller und andere) offenbart.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Allgemein gesprochen, stellt die vorliegende Erfindung ein induktiv gekoppeltes Plasma-Ätzgerät zur Verfügung, das dem Plasma in der Nähe einer Wand der Kammer, in der das Plasma erzeugt wird, gleichmäßig Energie zuführt.
  • Gemäß einem Aspekt der Erfindung wird ein induktiv gekoppeltes Plasma-Ätzgerät, wie in den beigefügten Ansprüchen dargelegt ist, zur Verfügung gestellt.
  • Die vorliegende Erfindung verhindert in vorteilhafter Weise das Abscheiden von elektrisch leitenden Reaktionsprodukten, z. B. RuO2, auf der Innenfläche der Wand einer Kammer eines induktiv gekoppelten Plasma-Ätzgeräts. Hierdurch wird ermöglicht, kürzlich entwickelte Materialien für Bauelemente, z. B. Ru, einem Plasma-Ätzvorgang zu unterziehen, ohne dass der Plasma-Ätzvorgang unterbrochen werden muss, um die Wände der Kammer zu reinigen, nachdem nur einige wenige Wafer bearbeitet wurden.
  • Es ist selbstverständlich, dass die vorstehende allgemeine Beschreibung und die folgende genaue Beschreibung lediglich beispielhaft und erläuternd sind und die beanspruchte Erfindung nicht einschränken sollen.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Die beigefügten Zeichnungen, die in diese Beschreibung eingegliedert sind und einen Bestandteil der Beschreibung bilden, zeigen beispielhafte Ausführungsformen der Erfindung und dienen zusammen mit der Beschreibung zum Erklären der Prinzipien der Erfindung.
  • 1 ist eine vereinfachte schematische Schnittansicht, die ein induktiv gekoppeltes Plasma-Ätzgerät nach dem Stand der Technik zeigt.
  • 2 ist eine vereinfachte schematische Schnittansicht, die ein induktiv gekoppeltes Plasma-Ätzgerät gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt.
  • 3 ist eine perspektivische Explosionsansicht einer Metallplatte, die als Faradaysche Abschirmung wirkt, und der Komponenten zum Halten der Metallplatte an ihrem Platz gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
  • 4 ist eine perspektivische Explosionsansicht einer Spule und der Komponenten zum Halten der Spule an ihrem Platz gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
  • Genaue Beschreibung der Erfindung
  • Einige beispielhafte Ausführungsformen der Erfindung werden jetzt in näheren Einzelheiten unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben. Die 1 wurde oben in dem Abschnitt "Hintergrund der Erfindung" erläutert.
  • Die 2 ist eine vereinfachte schematische Schnittansicht, die ein induktiv gekoppeltes Plasma-Ätzgerät gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt. Wie in der 2 gezeigt ist, ist ein Halbleiterwafer 111 auf einer Spannvorrichtung 115 montiert, die in einer Kammer 100, die von den Wänden eines Gehäuses begrenzt ist, in der Nähe der unteren Wand des Gehäuses angeordnet. Eine Spule 313 wird durch Abstandsstücke 203, die aus isolierendem Material bestehen können, auf der oberen Wand 101 der Kammer 100 gehalten. Im Betrieb wird ein Reaktionsgas durch eine Gaseinlassöffnung (nicht dargestellt) in die Kammer 100 eingelassen. Eine Hochfrequenzleistung von einer Stromversorgung (nicht dargestellt) wird an die Spule 313 angelegt. Der durch die Spule 313 fließende Hochfrequenzstrom (RF) induziert einen elektromagnetischen Strom in der Kammer 100 und der elektromagnetische Strom wirkt auf das Reaktionsgas, um ein Plasma zu erzeugen.
  • Das Plasma enthält verschiedene Arten von Radikalen und die chemische Reaktion der positiven/negativen Ionen wird verwendet, um den Halbleiterwafer 111 selbst oder einen auf dem Wafer erzeugten Isolierfilm zu ätzen. Während des Ätzvorgangs führt die Spule 313 eine Funktion aus, die der der Primärspule eines Transformators entspricht, während das Plasma in der Kammer 100 eine Funktion ausführt, die der der Sekundärspule des Transformators entspricht. Wenn das durch den Ätzvorgang erzeugte Reaktionsprodukt flüchtig ist, wird dieses Reaktionsprodukt durch eine Ausströmöffnung 113 abgeführt.
  • Eine Metallplatte 217, die die Funktion einer Faradayschen Abschirmung hat, ist zwischen der Spule 313 und der Kammer 100 angeordnet. Bei einer Ausführungsform ist die Metallplatte 217 mit Abstand zwischen der Spule 313 und der oberen Wand 101 des Gehäuses angeordnet und erstreckt sich im Wesentlichen parallel zu der Wand 101. Die Dicke der Metallplatte 217 beträgt vorzugsweise ungefähr 20 μm bis ungefähr 10 mm und bevorzugt ungefähr 50 μm bis ungefähr 5 mm. Bei einer Ausführungsform hat die Metallplatte 217 eine Dicke von ungefähr 1,5 mm. Ein Verbinder 207 verbindet die Metallplatte 217 elektrisch mit der Spule 313 an einer vorbestimmten Stelle der Spule und hat die Funktion, sicherzustellen, dass die der Metallplatte 217 in der gleichen Ebene zugeführte RF-Spannung gleichmäßig ist. Da die der Metallplatte 217 in der gleichen Ebene zugeführte RF-Spannung gleichmäßig ist, wird dem Plasma in der Nähe oberen Wand 101 Energie in gleichmäßiger Weise zugeführt. Als Ergebnis dieser gleichmäßigen Energieverteilung erfolgt das Abscheiden und Sputtern des Reaktionsprodukts gleichmäßig, so dass keine unerwünschten Ansammlungen des Reaktionsprodukts auf der oberen Wand 101 auftreten.
  • Bei einer Ausführungsform verbindet der Verbinder 207 die Metallplatte 217 an einer Stelle elektrisch so mit der Spule 313, dass eine angemessene Vpp (Spitzenspannung) an die Metallplatte angelegt wird. Durch ein gleichmäßiges Anlegen der Vpp an die Metallplatte 217 werden die Ionen im Plasma beschleunigt und bombardieren die vakuumseitige Oberfläche einer Wand der Kammer des induktiv gekoppelten Plasma-Ätzgeräts gleichmäßig, um zu verhindern, dass das Reaktionsprodukt sich darauf ablagern kann. Bei einer Ausführungsform ist das induktiv gekoppelte Plasma-Ätzgerät ein TOP 9400 PTX Plasma-Ätzgerät, das von der Lam Research Corporation aus Fremont, Kalifornien, kommerziell vertrieben wird und die beschleunigten Ionen bombardieren die vakuumseitige Oberfläche des TOP-Fensters gleichmäßig, um zu verhindern, dass das Reaktionsprodukt sich darauf ablagern kann. Bei einer alternativen Ausführungsform verbindet der Verbinder 207 die Metallplatte mit einem Leiter, der sich von einem Impedanzanpassungskasten zu der Spule erstreckt.
  • Die 3 ist eine perspektivische Explosionsansicht der Metallplatte, die als Faradaysche Abschirmung wirkt, und der Komponenten zum Halten der Metallplatte an ihrem Platz gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Wie in der 3 gezeigt ist, ist die Metallplatte 217 durch Schrauben 205 an der Unterseite eines Befestigungsrahmens 201 befestigt, der an seiner Oberseite mit Befestigungsabstandsstücke 203 versehen ist. Der Befestigungsrahmen 201, die Befestigungsabstandsstücke 203 und die Schrauben 205 können aus jedem geeigneten Isoliermaterial gefertigt sein.
  • Ein äußerer Ring 211, ein innerer Ring 213 und eine Mittelscheibe 215 sind durch Schrauben 219, die aus jedem geeigneten Isoliermaterial hergestellt sein können, an dem Befestigungsrahmen 201 befestigt. Der äußere Ring 211, der innere Ring 213 und die Mittelscheibe 215 sorgen für die Formbeständigkeit der Metallplatte 217 während des Betriebs des induktiv gekoppelten Plasma-Ätzgeräts. Eine Vielzahl von radialen Schlitzen 221 ist in der Metallplatte 217 ausgebildet. Die radialen Schlitze 221 erstrecken sich quer zu den Abschnitten der Spule 313 (siehe 4), um einen intern induzierten Strom, der von dem auf der Metallplatte 217, die ein Leiter ist, fließenden elektrischen Strom erzeugt wird, zu unterbrechen. Dies ist erforderlich, da der auf der Metallplatte 217 fließende Strom dazu führt, dass die Spule 313 (siehe 2 und 4) und die Kammer 100 (siehe 2) elektrisch abgeschirmt werden.
  • Es wird weiter auf 3 Bezug genommen. Der Verbinder 207 verbindet die Metallplatte 217 und die Spule 313 elektrisch (siehe 2 und 4). Zwei Metallschrauben 209 werden verwendet, um diese Verbindung herzustellen, wobei eine Metallschraube die Metallplatte 217 mit dem Verbinder 207 und die andere Metallschraube die Spule 313 (siehe 2 und 4) mit dem Verbinder 207 verbindet.
  • Die 4 ist eine perspektivische Explosionsansicht der Spule und der Komponenten zum Halten der Spule an ihrem Platz gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Wie in der 4 gezeigt ist, sind zwischen der Metallplatte 217 und der Spule 313 ein Befestigungsrahmen 201 und Befestigungsabstandsstücke 203 vor gesehen. Die vier Enden der kreuzförmigen Spulenmontageplatte 305 werden durch Haltefedergehäuse 301 und Metallschrauben 303 befestigt, um die Form der Spule 313 stabil zu halten. Wie in der 4 gezeigt ist, weist die Spule 313 drei Wicklungen auf. Die Spule 313 muss mindestens eine Wicklung haben, kann jedoch andererseits jede geeignete Anzahl von Wicklungen aufweisen.
  • Wie oben im Zusammenhang mit der Beschreibung der 3 erläutert wurde, verbindet der Verbinder 207 die Metallplatte 217 elektrisch mit der Spule 313. Wie in der 4 gezeigt ist, positioniert ein U-förmiges Abstandsstück 309 die Spulenmontageplatte 305, die Spule 313 und die Metallplatte 217. Das U-förmige Abstandsstück 309 ist durch eine Metallschraube 307 mit der Spule 313 verbunden. Eine Metallschraube 209 verbindet den Verbinder 207 durch das U-förmige Abstandsstück 309 elektrisch mit der Spule 313 und eine andere Metallschraube 209 verbindet den Verbinder 207 elektrisch mit der Metallplatte 217 (siehe 3).
  • Das induktiv gekoppelte Plasma-Ätzgerät gemäß der vorliegenden Erfindung ist sehr gut geeignet, um kürzlich entwickelte Materialien für Bauelemente (z. B. Platin, Ruthenium und dergleichen), die nichtflüchtige, elektrisch leitende Reaktionsprodukte (z. B. RuO2) erzeugen, einem Plasma-Ätzvorgang zu unterziehen. Für einen Fachmann ist es naheliegend, dass das induktiv gekoppelte Plasma-Ätzgerät gemäß der vorliegenden Erfindung auch zum Plasmaätzen von Standardmaterialien, wie beispielsweise Metall und Polysilizium, verwendet werden kann. Beim Plasmaätzen von Metall und Polysilizium wird Vpp angepasst, um eine gleichmäßige und minimale Abscheidung zu erzielen. Auf diese Weise können die Häufigkeit, mit der die Kammer gereinigt werden muss (Mean Wafer Between Clean = MWBC) und die Lebenszeit des TCP-Fensters verbessert werden.
  • Zusammenfassend kann festgestellt werden, dass die vorliegende Erfindung ein induktiv gekoppeltes Plasma-Ätzgerät zum Kontrollieren der Innenfläche einer Wand, die eine Kammer eingrenzt, in der ein Plasma erzeugt wird, zur Verfügung stellt. Die Erfindung wurde hier anhand von einigen bevorzugten Ausführungsbeispielen beschrieben. Andere Ausführungsformen werden für einen Fachmann beim Studium der Beschreibung und bei der praktischen Anwendung der Erfindung ersichtlich. Beispielsweise können die Form der als Faradaysche Abschirmung wirkenden Metallplatte und das Anordnungsverhältnis zwischen der Metallplatte und der Kammer entsprechend dem induktiv gekoppelten Plasma-Ätzgerät zur Adaptierung der vorliegenden Erfindung verändert werden. Die oben beschriebenen Ausführungsformen und bevorzugten Merkmale sollen lediglich als beispielhaft angesehen werden, wobei der Umfang der Erfindung durch die beigefügten Ansprüche und deren Entsprechungen definiert wird.

Claims (11)

  1. Induktiv gekoppeltes Plasma-Ätzgerät, umfassend: eine Kammer (100), um ein Plasma darin zu erzeugen, wobei die Kammer von Wänden eines Gehäuses umschlossen ist; eine Spule (313) zum Empfangen von Hochfrequenzleistung (RF), die angrenzend zu und außerhalb einer der Wände des Gehäuses angeordnet ist; eine Metallplatte (217), die angrenzend zu und außerhalb derjenigen Wand des Gehäuses, an die die Spule angrenzt, angeordnet ist, wobei die Metallplatte mit einer beanstandeten Anordnungsbeziehung zwischen der Spule und der Wand des Gehäuses platziert ist und in ihr ausgebildete radiale Schlitze aufweist, die sich quer zu der Spule erstrecken, und einen Verbinder (207), der die Metallplatte (217) elektrisch mit der Spule (313) verbindet, dadurch gekennzeichnet, dass die Metallplatte (217) an der Unterseite eines Befestigungsrahmens (201) montiert ist.
  2. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine Spannvorrichtung (115) zum Halten eines Halbleiterwafers (111) benachbart zu einer unteren Wand des Gehäuses angeordnet ist, und dass die Metallplatte entlang einer Fläche einer oberen Wand des Gehäuses angeordnet ist.
  3. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass sich die Metallplatte (217) im Wesentlichen parallel zu der oberen Wand des Gehäuses erstreckt.
  4. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Dicke der Metallplatte (217) im Bereich von ungefähr 20 μm bis ungefähr 10 mm liegt.
  5. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Dicke der Metallplatte (217) im Bereich von ungefähr 50 μm bis ungefähr 5 mm liegt.
  6. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Dicke der Metallplatte (217) ungefähr 1,5 mm beträgt.
  7. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Verbinder (207) die Metallplatte (217) mit einer der vorbestimmten Positionen an der Spule (313) oder mit einem sich von einer Impedanzanpassungsbox zu der Spule erstreckenden Leiter elektrisch verbindet.
  8. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Metallplatte (217) durch einen äußeren Ring (211), einen inneren Ring (213) und eine Mittelscheibe (215) an der Unterseite des Befestigungsrahmens (201) befestigt ist.
  9. Gerät nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass der Befestigungsrahmen (201) Befestigungsabstandsstücke (203) auf seiner Oberseite aufweist und dass der Befestigungsrahmen und die Befestigungsabstandsstücke aus einem isolierenden Material bestehen.
  10. Gerät nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Spule (313) zwischen der Oberseite des Befestigungsrahmens (201) und einer Spulenmontageplatte (305) angeordnet ist und die Spulenmontageplatte (305) an den Befestigungsabstandsstücken befestigt ist.
  11. Gerät nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass ein U-förmiges Abstandsstück (309) die Spulenmontageplatte (305), die Spule (313) und die Metallplatte (217) positioniert und dass der Verbinder (207) die Metallplatte (217) mit der Spule (313) durch das U-förmige Abstandsstück (309) elektrisch verbindet.
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9384948B2 (en) * 2013-06-13 2016-07-05 Lam Research Corporation Hammerhead TCP coil support for high RF power conductor etch systems

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69128345T2 (de) * 1990-01-04 1998-03-26 Mattson Tech Inc Induktiver plasmareaktor im unteren hochfrequenzbereich
US5540800A (en) * 1994-06-23 1996-07-30 Applied Materials, Inc. Inductively coupled high density plasma reactor for plasma assisted materials processing
US5650032A (en) * 1995-06-06 1997-07-22 International Business Machines Corporation Apparatus for producing an inductive plasma for plasma processes
US5824604A (en) * 1996-01-23 1998-10-20 Mattson Technology, Inc. Hydrocarbon-enhanced dry stripping of photoresist
TW403959B (en) * 1996-11-27 2000-09-01 Hitachi Ltd Plasma treatment device
US6149760A (en) * 1997-10-20 2000-11-21 Tokyo Electron Yamanashi Limited Plasma processing apparatus
JP4119547B2 (ja) * 1997-10-20 2008-07-16 東京エレクトロンAt株式会社 プラズマ処理装置
US6097157A (en) * 1998-04-09 2000-08-01 Board Of Regents, The University Of Texas System System for ion energy control during plasma processing
US6447637B1 (en) * 1999-07-12 2002-09-10 Applied Materials Inc. Process chamber having a voltage distribution electrode

Also Published As

Publication number Publication date
CN1320594C (zh) 2007-06-06
EP1269513A2 (de) 2003-01-02
EP1269513B1 (de) 2007-10-17
CN1484849A (zh) 2004-03-24
AU2001247910A1 (en) 2001-10-15
DE60130977D1 (de) 2007-11-29
WO2001075931A2 (en) 2001-10-11
WO2001075931A3 (en) 2002-03-21
US20030111442A1 (en) 2003-06-19

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