DE60025221T2 - Optisches inspektionssystem für teile im subpixel bereich - Google Patents

Optisches inspektionssystem für teile im subpixel bereich Download PDF

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Description

  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Inspizieren bzw. Untersuchen von Bauteilen, und insbesondere eine Vorrichtung, die ein Array bzw. eine Gruppierung von Lichtquellen und Videoeinrichtungen als Mittel zum Evaluieren eines Bauteils auf Konformität in Bezug auf Raumformkriterien verwendet.
  • Es besteht ein stets wachsender Bedarf an der Erzielung hochqualitativer Erzeugnisse, der zu einer signifikanten Zunahme der Nutzung kontaktfreier Inspektionssysteme geführt hat. Damit eine komplexe Maschine so arbeiten kann, wie sie konstruiert wurde, ist es erforderlich, dass sämtliche ihrer Bestandteile mit Qualitätskriterien übereinstimmen. In einigen Herstellungsanordnungen fordern Kunden eine 100 %-ige Inspektion der Bestandteile. Beispielsweise müssen in der Kraftfahrzeugindustrie verwendete Befestigungsmittel einzeln inspiziert werden, um zu ermitteln, ob sie Raumformkriterien entsprechen.
  • Zahlreiche Arten von Inspektionssystemen werden derzeit genutzt. Eine Systemart verwendet Kontaktsonden, die ein Bauteil an verschiedenen Punkten berühren, um zu ermitteln, ob ihre Abmessungen oder ihr Profil bestimmte Kriterien erfüllen. Kontaktvorrichtungen sind jedoch an sich deshalb beschränkt, weil sie einem Verschleiß unterworfen sind und üblicherweise erfordern, dass das Bauteil und die Kontaktsonde während des Evaluierungsprozesses exakt positioniert werden. Derartige Vorrichtungen zeigen üblicherweise eine langsame Arbeitsweise und sie sind beschränkt im Hinblick auf die Anzahl von Kriterien und die Komplexität der Profile, die sie evaluieren können. Eine Vielzahl kontaktfreier Systeme ist ebenfalls bekannt, die eine Vielzahl von Techniken nutzen. Beispielsweise prüfen Ultraschallinspektionssysteme reflektierte Schallwellen als Mittel zum Charakterisieren eines Bauteils. Verschiedene Systeme beruhen auf der Fotoermittlung unter Nutzung von Einkanal-Fotodetektoren. Zusätzlich werden Lasermesssysteme verwendet, um spezielle Messungen bis zur Gitterabmessung zu erzielen.
  • Obwohl bekannte kontaktfreie Inspektionssysteme üblicherweise sehr nützlich sind, sind sie in bestimmtem Sinne beschränkt. Zahlreiche der aktuell verfügbaren kontaktfreien Messsysteme erfordern eine komplexe Datenverarbeitung, die eine Geschwindigkeitsbegrenzung bei Teilevaluierungen mit sich bringt.
  • Beispielsweise Systeme unter Verwendung von zweidimensionalen fotoempfindlichen Arrays bzw. Gruppierungen stellen extreme Datenverarbeitungsanforderungen, was mit sich bringt, dass der Teiledurchsatz reduziert ist. Bevorzugt kann die Evaluierung eines Werkstücks in ausreichend rascher Weise durchgeführt werden, indem die Teile direkt in qualifizierte oder disqualifizierte Teileströme sortiert werden. Den Systemen, die eine derartige Hochgeschwindigkeitsinspektion zulassen, mangelt es jedoch an wertvollen Signalverarbeitungsfähigkeiten, wie etwa Randermittlung und Echtzeitabbildung. Die Randermittlung erhöht die Genauigkeit der Inspektion und erlaubt es, dass das Teileinspektionssystem die diskreten Fotodetektoren innewohnenden Beschränkungen überwindet. Frühe Fotoermittlungssysteme und Ultraschallsysteme stellten eine Teileforminformation auf Grundlage der Signalstärke eines Wandlers bereit. Diese Information stellte lediglich eine Annäherung an die Teileform dar und erbrachte nicht das wahre Bild des Teils. Beispielsweise konnten Einkanal-Fotosignale ein einziges Ausgangssignal in Bezug auf die Menge des ausgeschlossenen Lichts erzeugen. Über eine gewählte Zeitperiode ergibt dieser Einkanal-Fotodetektor eine Annäherung an die Teileform, stellt jedoch nicht das tatsächliche Bild des Teils bereit.
  • Die US-A-5568263 erläutert ein kontaktfreies Inspektionssystem zum Evaluieren von Raumformparametern eines Werkstücks, wobei Teile nacheinander auf eine schräg verlaufende Schiene geladen werden, wo sie durch einen Testabschnitt laufen. Der Testabschnitt enthält ein Längenermittlungsarray, das eine Quelle enthält, die einen Lichtstreifen erzeugt, der in Längsrichtung des Werkstücks ausgerichtet ist. Das Profil der Teile wird durch eine oder mehrere Lichtquellen evaluiert, die ein Lichtband erzeugen, das quer zur Längsachse der Teile ausgerichtet ist. Erste und zweite Paare von Einkanal-Fotodetektoren sind für jede der Lichtquellen vorgesehen und stellen ein Paar von analogen Ausgangssignalen bereit, die zu Längen- und Profildaten führen, die sich auf die Werkstückgeometrie beziehen, und zwar nach einer geeigneten Signalverarbeitung.
  • Die US-A-5559727 beschreibt eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Ermitteln der Position einer Komponente, die auf einem Ende eines Abtastwerkzeugs gehalten ist, das ein Abtastwerkzeug und ein Positionserfassungssystem enthält. Das Positionserfassungssystem enthält eine einstellbare Lichtquelle zum Erzeugen eines intensiven Lichtfächers auf eine Kollimationslinse. Die Kollimationslinse erzeugt ein Objektfeld, umfassend ein dünnes, breites Band von kollimiertem Licht, das auf ein durch das Abtastwerkzeug gehaltenes Bauteil projiziert wird. Das dünne, breite Lichtband wird auf ein Bauteil projiziert, dessen Position ermittelt werden soll, und nicht blockierte Lichtstrahlen werden auf eine Objektivfokussierlinse projiziert, die das nicht blockierte Licht durch eine sehr kleine Apertur auf eine Relaislinse fokussiert, die die erneut fokussierten, nicht blockierten Lichtstrahlen empfängt und ein erneut fokussierte kollimierte Lichtstrahlen erzeugt, die als Bild auf einen linearen Arraysensor gerichtet werden, der mehrere hochdichte Pixelsensoren aufweist, deren Position relativ zum Abtastwerkzeug bekannt ist. Ein Drehen des Bauteils trägt dazu bei, die Positionsdaten des Bauteils auf das Abtastwerkzeug zu übertragen.
  • Die US-A-4417147 beschreibt ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Ermitteln der Rundheit eines zylindrischen Gegenstands. Der Gegenstand wird gedreht und ein kollimierter Lichtstrahl wird quer auf den sich drehenden Gegenstand gerichtet, um einen Schatten auf einen Fotosensor zu werfen, der ein elektrisches Signal erzeugt, das einen Strompegel aufweist, der für den beleuchteten Bereich repräsentativ ist. Die Rundheit in dem zylindrischen Gegenstand manifestiert sich als hin- und herlaufende Veränderung im Bereich des Schattens, der auf den Fotosensor geworfen wird, was zu einer periodischen Änderung des Ausgangssignals des Fotosensors führt. Die Amplitude dieser Änderung wird ermittelt, um ein Maß für die gesamte angezeigte Rundheit des Gegenstands bereitzustellen.
  • Es besteht ein Bedarf auf diesem Gebiet der Technik an einem Hochgeschwindigkeitsinspektionssystem mit leistungsfähigen Signalverarbeitungsmöglichkeiten, die die Randermittlung und die Echtzeitabbildung enthalten.
  • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • In Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung wird ein verbessertes kontaktfreies Inspektionssystem bereitgestellt, das es erlaubt, eine rasche Inspektion durchzuführen, und das es erlaubt, dass Teile sofort im Hinblick auf ihre Konformität oder fehlende Konformität in Bezug auf Raumformkriterien sortiert werden können. Darüber hinaus kann eine Hardcopy der Teilegeometrie aus einem Schattenbild oder aus einem Ausschlusslichtprofil von dem Teil erzeugt werden, wodurch spezielle Formabweichungen erarbeitet werden. Beispielsweise können für ein Gewindebefestigungselement Durchmesser, Länge, Profil und Gewinde evaluiert werden. Wenn Befestigungselemente hergestellt werden, beginnt der Prozess häufig ausgehend von einem Drahtvorrat, der in eine Kaltkopfbildungs- oder Schraubenbildungsmaschine zugeführt wird. Das Teil wird in der Maschine in eine Form geschnitten bzw. gestanzt oder geformt und kann mehrere Durchmesser aufweisen und möglicherweise über eine bestimmte Länge ein Gewinde oder eine Rändelung. Das geformte Teil kann sekundäre Arbeitsvorgänge erfordern, wie etwa Gewinderollen, Wärmebehandeln, Einebnen und dergleichen. Für einen oder mehrere der Prozesse ist es nicht unüblich, dass die gewünschte Geometrie des Teils nicht bereitgestellt wird. Das Auftreten derartiger Defekte wird häufig nicht in angemessener Weise durch eine zufällige Teileauswahl überwacht oder durch andere Qualitätssicherungsprozesse, die keine 100 %-ige Inspektion gewährleisten.
  • In der vorliegenden Erfindung bewegen sich die Teile durch Schwerkraft oder andere Mittel entlang einer Bahn durch einen Testabschnitt. Die Teileform wird ermittelt unter Verwendung eines CCD-Zeilenarray bzw. einer -Kamera, obwohl eine andere Art von Fotodetektor verwendet werden kann. Eine kollimierte, gleichförmige Lichtquelle in Form eines Bands wird nahe an dem zu inspizierenden Teil erzeugt. Dieses gleichförmige bzw. gleichmäßige Lichtband erlaubt eine hochgradig detaillierte Teileprüfung. Das Ausmaß und die Zeit, mit denen das Lichtband durch das Teil verdeckt wird, stehen in Beziehung zu dessen Form. Das Teil bewegt sich durch den Testabschnitt, der ein CCD-Zeilenarray enthält, welches das abgehaltene Licht misst und ein Ausgangssignal für einen Signalprozessor erzeugt. Der Signalprozessor misst die Zeit, während der das Teil über das CCD-Zeilenarray hinweg läuft und kombiniert diese Zeitinformation mit dem Ausgangssignal betreffend das abgehaltene Licht zur Erzeugung eines Bilds von dem Teil. Von Interesse sind Teilemessungen bezüglich Länge und verschiedener radialer Profile.
  • Ein Teileermittlungsarray nutzt mehrere Lichtquellen und CCD-Zeilenarrays in einer radialen Anordnung um das zu untersuchende Teil herum. Das Teileermittlungsarray misst das abgehaltene Licht von einer angepassten oder gepaarten Lichtquelle, die in der Nähe des Teils angeordnet ist. In bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung ist die Lichtquelle mit einem Beugungsstrahlformgeber verbunden, der ein gleichmäßiges Lichtband bereitstellt. Das gleichmäßige Lichtband wird verwendet, um ein nivelliertes Intensitätsmuster über einen bestimmten Bereich zu erzielen. Dem durch die Teile erzeugten Schatten mangelt es auf Grund der Verwendung des gleichförmigen Lichtbands an Unterscheidbarkeit und an scharfen Übergängen zu den beleuchteten Bereichen. Um diese verwischten Schattenränder zu interpretieren, ist eine spezielle Software erstellt worden, die nachfolgend im näher erläutert ist, um den Ort des tatsächlichen Rands zu definieren. Jede Lichtquelle, die in dem Array zum Einsatz kommt, emittiert lediglich eine bestimmte Lichtfrequenz, und jedes CCD-Zeilenarray enthält einen Filter, um ausschließlich die Ermittlung der passenden Frequenz zu ermöglichen. Auf diese Weise existiert kein Übersprechen, das zwischen der jeweiligen Lichtquelle und ihrer angepassten CCD-Zeilengruppierung erzeugt wird.
  • Die Aufgaben, Merkmale und Vorteile der Erfindung erschließen sich aus der nachfolgenden Beschreibung und den anliegenden Ansprüchen in Verbindung mit den anliegenden Zeichnungen. Die Aufgaben der Erfindung können durch eine Vorrichtung in Übereinstimmung mit dem unabhängigen Vorrichtungsanspruch 1 gelöst werden. Bevorzugte Ausführungsformen bilden Gegenstand der Unteransprüche.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Die verschiedenen Vorteile der vorliegenden Erfindung erschließen sich dem Fachmann auf diesem Gebiet der Technik nach einem Studium der nachfolgenden Beschreibung unter Bezug auf die Zeichnungen. In diesen zeigen:
  • 1 eine perspektivische Ansicht eines erfindungsgemäßen kontaktfreien Inspektionssystems;
  • 2 eine Ansicht entlang der Linie 2-2 von 1, insbesondere unter Darstellung des Testabschnitts;
  • 3 schematisch das erfindungsgemäße Signalverarbeitungssystem;
  • 4 eine Aufrissansicht eines repräsentativen Werkstücks;
  • 5 eine schematische Ansicht der Lichtquelle, die in der vorliegenden Erfindung zum Einsatz kommt; und
  • 6 eine vergrößerte Ansicht einer Ausführungsform eines Gitters, das in der vorliegenden Erfindung zum Einsatz kommt und eine geätzte Oberfläche aufweist.
  • DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORM
  • 1 zeigt ein erfindungsgemäßes kontaktfreies Inspektionssystem, das allgemein mit der Bezugsziffer 10 bezeichnet ist. Das Inspektionssystem 10 umfasst allgemein einen Rahmen 12, einen Teilesortiererkasten 14, eine Gleitbahn 16 mit einem Testabschnitt 18 und ein Gehäuse 20 zum Aufnehmen von Elektronikbestandteilen des Instruments.
  • Während das Inspektionssystem 10 für zahlreiche Arten von Werkstücken verwendet werden kann, ist ein Beispiel eines derartigen Bauteils in 4 in Form eines Gewindebolzens 22 gezeigt, der verwendet wird, um Räder an ein Kraftfahrzeug zu montieren. Eine große Anzahl von Bolzen 22 (als "Teile" oder "Werkstücke" bezeichnet) werden in den Teilesortierer 14 abgezweigt. Der Teilesortierer 14 veranlasst die zufällig ausgerichteten Teile 22 dazu, in einer gewünschten Ausrichtung ausgerichtet zu werden, d. h., mit dem Kopf oder Gewindeende voran, und er veranlasst sie, periodisch die Bahn 16 unter Schwerkraft hinunter zu gleiten. Wenn die Teile 22 den Testabschnitt 18 durchlaufen, werden sie evaluiert, wie nachfolgend näher erläutert. Das Teil 22 wird bezüglich Konformität bzw. Formübereinstimmung mit vorbestimmten Raumformkriterien inspiziert. Wenn ein bestimmtes Teil die Kriterien erfüllt, gelangt es in den Teilekasten 24, der für qualifizierte bzw. "gute" Teile bereitgestellt ist. Wenn das Teil jedoch als nicht konform ermittelt wird, wird eine Klappe 26 betätigt und das Teil wird in den Teilekasten 28 ausgeleitet, der für disqualifizierte oder "schlechte" Teile bereitgestellt ist.
  • Gute Teile liegen voraussichtlich in größerer Anzahl vor als schlechte Teile, und die Teilekästen sind entsprechend bemessen.
  • Innerhalb des Gehäuses 20 ist ein Computer 32 vorgesehen, um die Ausgangssignale des Systems zu evaluieren, das System zu steuern und ein Mittel zum Speichern von Daten bereitzustellen in Bezug auf Teilekriterien und Inspektionshistorie. Ein Paar von Anzeigeeinrichtungen 34 und 36 ist vorgesehen, wobei eine der Anzeigen Konfigurationsdaten in grafischer Form darstellt für ein spezielles Teil, während die andere verwendet werden kann, um statistische oder andere numerische Daten in Bezug auf die Inspektion darzustellen. In einer Ausführungsform dieser Erfindung handelt es sich bei den Anzeigeeinrichtungen 34 und 36 um solche vom Elektrolumineszenztyp mit Berührungsbildschirmen für eine Interaktion mit einem Nutzer. Das Gehäuse 20 besitzt Zugangsklappen 38, die geschlossen werden können, wenn das System nicht genutzt wird.
  • Einzelheiten der Elemente und der Betriebsabläufe des Testabschnitts 18 werden unter Bezug auf 1 und 2 erläutert. Innerhalb des Testabschnitts 18 erfolgen Evaluierungen von Profilen des Teils 22. Die Länge des Teils 22 (d. h., seine Abmessungen entlang seiner Bewegungsrichtung) und verschiedene radiale Profile (d. h., seine Form senkrecht zu seiner Bewegungsrichtung) werden durch mehrere Profilermittlungsarrays evaluiert.
  • Die Profilermittlungsarrays umfassen Lichtquellen 40 und CCD-Zeilenarrays bzw. Zeilenabtastkameras 42, wie in 2 gezeigt, obwohl eine beliebige andere Art eines Fotodetektors hierzu eingesetzt werden kann. Die Lichtquellen 40 stellen ein gleichmäßiges Lichtband 44 bereit, welches das Teil 22 abdeckt, wenn es durch den Testabschnitt 18 läuft. Das Ausmaß und die Zeit, mit denen das gleichmäßige Band 44 durch das Teil 22 abgedeckt wird, steht in Beziehung zu seiner Form. Wenn sich das Teil 22 durch den Testabschnitt bewegt, messen die CCD-Zeilenarrays 42 das ausgeschlossene bzw. abgedeckte Licht und erzeugen ein Ausgangssignal und leiten dieses Ausgangssignal zu einem Signalprozessor.
  • In 5 ist die bevorzugte Ausführungsform der Lichtquelle 40 im Einzelnen dargestellt. Eine Rahmenstruktur 46 trägt einen Steuer- und Stromversorgungsschaltkreis und schließt diesen ein, einschließlich einer Lasersteuerkarte 48 und einer Glasplatte 50 für die Lichtquelle 40. Eine Laserdiode 52 besitzt eine Leuchtintensität, die durch die Lasersteuerkarte 48 gesteuert wird, die außerdem mit einem externen Steuersystem über eine Datenkommunikationsverbindung verbunden sein kann, so dass sie in eine Produktionsstraße integriert sein kann. Obwohl eine Laserdiode 52 gezeigt ist, kann eine beliebige andere Art eines Licht- oder Laserlichterzeugers verwendet werden. Andere Halbleiterlaser, Gaslaser, Feststofflaser und Flüssigfarbstofflaser können für die Zwecke der vorliegenden Erfindung verwendet werden.
  • Die Laserdiode 52 erzeugt Laserlicht 54, das auf einen Beugungsstrahlformgeber 56 auftrifft, der eine Eingangsintensitätsverteilung in einer Ausgangsintensitätsverteilung abbildet. Der Beugungsstrahlformgeber 56 kann Gitter, Prismen, Gitterprismen (Grisms), Linsen und Interferometer enthalten, um die gewünschten Umrandungsmuster (Fringe Patterns) und Intensitätsverteilungen zu erzeugen. Die Umrandungsmuster variieren bezüglich Breite und Ausrichtung abhängig von den Kennlinien bzw. Eigenschaften des Beugungsstrahlformgebers 56. Durch Auslegen des Beugungsstrahlformgebers 56 für ein geeig netes Umrandungsmuster kann Licht in unterschiedliche Richtungen auf Grund der Gleichungen reflektiert werden, die die unterschiedlichen Eigenschaften bzw. Kennlinien des Beugungsstrahlformgebers 56 beschreiben.
  • 6 zeigt eine Ausführungsform des Beugungsstrahlformgebers 56 gemäß der vorliegenden Erfindung in Gestalt eines geätzten Glasgitters 70. Die Oberfläche des Glasgitters 70 ist vergrößert dargestellt, um die geätzten 72 und nicht geätzten 74 Bereiche darzustellen. Die geätzten Bereiche 72 sind als dunklere Bereiche dargestellt und die nicht geätzten Bereiche 74 sind als hellere Bereiche dargestellt. Das Gitter 70 arbeitet wie folgt: Lichtstrahlen werden dort unter größeren Winkeln abgelenkt, wo die nicht geätzten Bereiche 74 schmaler sind und näher aneinander liegen, und dort unter kleineren Winkeln abgelenkt, wo die nicht geätzten Bereiche 74 breiter und weiter voneinander weg liegend angeordnet sind. Auf diese Weise kann das einfallende Licht gleichmäßig verteilt werden, wenn es das Gitter 70 verlässt bzw. aus diesem austritt. Die geätzten 72 und nicht geätzten 74 Bereiche besitzen Abmessungen in Größen entsprechend den gewählten Lichtwellenlängen, die auf das Gitter 70 einfallen. Beispielsweise kann die Breite von einem der nicht geätzten Bereiche 74 eine Wellenlänge betragen.
  • Eine Anwendung des Beugungsstrahlformgebers 56 gemäß der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine Gauss'sche Eingabe zu erhalten (d. h., eine Gauss-Intensitätsverteilung auf der Apertur des Strahlformers) und diese Eingabe in eine "Hut"-Verteilung abzubilden (eine ideale Hutintensitätsverteilung besitzt lediglich einen Intensitätswert innerhalb eines bestimmten Radius und den Intensitätswert null außerhalb dieses Radius). Die Funktion kann als allgemeine Strahlenablenkfunk tion angesehen werden. Das intensivste Licht im Zentrum der Gauss'schen Eingabe wird radial auswärts abgelenkt, während das Licht in den Flanken der Gauss'schen Eingabe geringfügig einwärts abgelenkt wird. Auf diese Weise kann die Intensität des Ausgangsstrahls bemessen werden.
  • Nach Verlassen des Beugungsstrahlformgebers 56 wird das Laserlicht 54 zusätzlich konditioniert durch eine kugelförmige oder zylindrische Beugungslinse 58. Die Linse 58 reduziert die Divergenz des Laserlichts 54 und reduziert dadurch die Notwendigkeit zur Herstellung präziserer Beugungseinrichtungen in dem Beugungsstrahlformgeber 56. Außerdem kann ein herkömmliches Beugungselement zum Einsatz kommen, um den Ausgangsstrahl grob zu kollimieren. Das Laserlicht 54 wird schließlich durch eine konvexe Linse 60 konditioniert, um das Laserlicht 54 zu fokussieren. Der Ausgang bzw. das Ausgangssignal der Lichtquelle 40 umfasst dadurch ein gleichmäßiges Lichtband 44. Durch Kombinieren von Beugungsstrahlformgebern mit herkömmlichen Beugungseinrichtungen kann eine Familie von Intensitätsverteilungen erzeugt werden, wie etwa eine Linie, die entsprechend einer Gauss'schen Verteilung über ihre Breite variiert, jedoch entlang ihrer Länge gleichmäßige Intensität besitzt.
  • Wie vorstehend zur Arbeitsweise des Inspektionssystems 10 ausgeführt, deckt das Teil 22 einen Teil der Lichtstrahlen ab und erzeugt einen Schatten in Bezug auf die CCD-Zeilenarrays 42. Die durch die Teile erzeugten Schatten sind nicht deutlich und es fehlt ihnen an Formübergängen zu den beleuchteten Bereichen. Um diese undeutlichen Schattenränder zu interpretieren, ist eine spezielle Software entwickelt worden, um zu definieren, wo sich der tatsächliche Teilerand auf dem CCD-Zeilenarrays 42 befindet. Jede Lichtquelle 40, die in dem Ar ray verwendet wird, emittiert lediglich eine bestimmte Lichtfrequenz und jedes CCD-Zeilenarray 42 enthält einen Filter, um ausschließlich seine angepasste Frequenz ermitteln zu können. Auf diese Weise existiert kein Übersprechen zwischen der jeweiligen Lichtquelle und ihrer angepassten CCD-Zeilengruppierung 42.
  • Bei dem CCD-Zeilenarray bzw. der CCD-Zeilengruppierung handelt es sich um eine elektronische Abbildungseinrichtung, die eine lineare Reihe diskreter Fotoerfassungselemente oder Pixel enthält, die einfallendes Licht in ein elektrisches Signal wandeln. Die Stärke des Signals steht in direkter Beziehung zur Intensität des Lichts, das auf den Pixeln auftrifft. Das CCD-Zeilenarray erzeugt ein Ausgangssignal, das aus mehreren digitalen und analogen Signalen besteht. Jedes Pixel kann, wenn es durch intensives Licht gesättigt ist, eine "Ein"-Schaltbedingung bereitstellen, oder wenn es vollständig abgedeckt ist, kann es eine "Aus"-Schaltbedingung darstellen. Es existieren Umstände, unter denen bestimmte Pixel ausschließlich teilweise blockiert sein können. Während dieser Perioden können die Pixel analoge Signale proportional zu der Lichtmenge erzeugen, die sie empfangen. Das CCD-Zeilenarray wandelt das einfallende Licht auf jedes Pixel in diskrete Ladungspakete. Die Ladungsmenge, die auf jedem Pixel erzeugt bzw. integriert wird, ist eine Funktion der Integrationszeit sowie der Intensität und der Wellenlänge des Lichts, das auf die Fotozelle fokussiert wird. Nach einer geeigneten Integrationsperiode werden die Ladungspakete gleichzeitig in Hochgeschwindigkeits-CCD-Schieberegister 62 überführt zum Transport zu einem Signalprozessor 64, wie in 3 gezeigt.
  • Die CCD-Zeilenarrays können mit Daten arbeiten, die im Bereich von Megahertz oder darüber liegen und 70.000 oder mehr Abtastungen pro Sekunde erzeugen. Die Daten stehen außerdem sofort zur Verfügung, während eine spezielle Zeile von einem Flächensensor lediglich zur Verfügung steht, nachdem die vorausgehenden Zeilen ausgelesen worden sind. Die Zeilen folgen außerdem aufeinander und stehen eine nach der anderen verfügbar. Dies macht CCD-Zeilenarrays in idealer Weise geeignet für Anwendungen, bei denen Bewegung vorkommt. Typischerweise ist in der vorliegenden Erfindung ein CCD-Zeilenarray derart positioniert, dass es mit der Reihe von Pixeln senkrecht zur Bewegungsrichtung fluchtet. Dies führt dazu, dass die Auflösung in Bewegungsrichtung von der Integrationszeit, der Pixelgröße und der Bewegungsgeschwindigkeit abhängt. Bei der vorliegenden Erfindung kann das CCD-Zeilenarray so eingestellt sein, dass es für die Anwendung geeignet ist.
  • Das CCD-Zeilenarray besitzt hervorragende Gleichmäßigkeit bzw. Gleichförmigkeit. Da eine Zeilenabtastkamera eine einzige Reihe von Pixeln enthält, kann die Gleichförmigkeit enger toleriert gehalten werden in einem Flächenarray mit mehreren Hunderttausend Pixeln. In der vorliegenden Erfindung lassen sich hochpräzise Abbildungsanwendungen, eine Kontrastkorrekturhardware und Softwarealgorithmen einfacher implementieren über eine einzige Zeile von Pixeln. Eine weitere wertvolle Eigenschaft des CCD-Zeilenarrays besteht darin, dass ein unendlich langes oder kontinuierliches Bild erzeugt werden kann. Tatsächlich ist es genau dieses, was ein kontinuierliches Förderband oder ein anderes kontinuierliches Fördersystem der Kamera präsentiert. Das CCD-Zeilenarray zerstückelt Bilder nicht, wenn eine Bereichs- bzw. Flächenkamera benötigt wird, um Daten zu untersuchen. Das CCD-Zeilenarray stellt eine praktische Lösung für eine Hochgeschwindigkeitsabbildung kontinuierlicher Zufuhrsysteme dar.
  • Sobald das CCD-Zeilenarray das Bild abgetastet hat, muss es seine Ausgangssignale zu einem Bildprozessor überführen. Wie aus 3 hervorgeht, ist in einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ein Mikrocomputer, wie etwa ein PC mit einer Signalprozessor-I/O-Karte 64 und einer Schnittstelle zu den CCD-Zeilenarrays 42 versehen. Die vorliegende Erfindung ist bevorzugt mit einem Intel basierten PC integriert, obwohl andere Computer, einschließlich Sun Workstations, Hewlett Packard Workstations, Silicon Graphics Workstations, Macintosh Computer, IBM Workstations, Motorola Mikroprozessor basierte PCs und digitale Controller verwendet werden können. Das Ausgangssignal von den CCD-Zeilenarrays 42 besteht aus sequenziellen, sich aneinander anschließenden Zeilen. Diese Zeilen werden in der Abfolge verarbeitet, in der sie empfangen werden. Die Schieberegister 62 übertragen diskrete und analoge Information zu der Signalprozessor-I/O-Karte 64, die in einem Computer 32 vorgesehen ist. Der Signalprozessor 64 interpretiert analoge und digitale Information, die durch die Schieberegister 62 übertragen wird, wobei der Signalprozessor 64 die Zeilen in die korrekte Sequenz neu anordnet. Die verarbeiteten Daten werden daraufhin im Speicher 66 gespeichert, um durch den Mikroprozessor 68 weiter manipuliert zu werden.
  • In der bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist propietäre Software erstellt worden, um die Ermittlung von Werkstückrändern zu unterstützen, die durch das Inspektionssystem geprüft werden. Diese Software ist dazu ausgelegt, die undeutlichen Schatten zu interpretieren, die durch das Teil auf die CCD-Zeilenarrays 42 geworfen werden, wenn das Teil das Licht von der diffusen Lichtquelle abdeckt. Die Pixel der CCD-Zeilenarrays 42 besitzen, wie vorstehend angesprochen, die Fähigkeit, analoge Signale proportional zu der Lichtmenge zu erzeugen, die sie empfangen. Die Pixelsignale, die durch die Pixel erzeugt werden, die die verschmierten Schattenränder empfangen, erzeugen Signale, die einen Lichtstärkengradienten von solchen Pixeln darstellen, die vollständig abgedeckt sind zu solchen Pixeln, die vollständig nicht abgedeckt sind bzw. freiliegen. Die Software interpretiert diesen Gradienten und sagt vorher, wo der Rand des Teils liegen sollte.
  • Es wird bemerkt, dass die Erfindung nicht auf die dargestellte und vorstehend erläuterte exakte Konstruktion beschränkt, sondern zahlreichen Abwandlungen und Modifikationen zugänglich ist, ohne vom Umfang der Erfindung abzuweichen, die in den nachfolgenden Ansprüchen festgelegt ist.

Claims (13)

  1. Inspektionssystem (10) zum Evaluieren von Werkstücken (22) auf Konformität mit Konfigurationskriterien, aufweisend: Eine Schieneneinrichtung (16), um die Werkstücke (22) zu veranlassen, durch den Testabschnitt (18) zu laufen, wobei der Testabschnitt (18) eine Lichtquelle (40) zur Erzeugung eines gleichmäßigen Lichtbands (44) enthält, wobei die Lichtquelle (40) relativ zu der Schieneneinrichtung (16) derart ausgerichtet ist, dass die Werkstücke (22) das gleichmäßige Lichtband (44) daran hindern, durch den Testabschnitt (18) hindurch zu treten, wobei der Testabschnitt (18) außerdem ein Videosystem mit Mehrkanalintensitätsausgängen und mehreren fotoempfindlichen Bereichen (42) zum Empfangen des ausgeschlossenen gleichmäßigen Lichtbands (44) unter Bereitstellung eines Ausgangssignals aufweist, das sich auf die Intensität des ausgeschlossenen gleichmäßigen Lichtbands (44) bezieht; das auf das Videosystem einfällt, und eine Signalverarbeitungseinrichtung (32) zum Empfangen des Ausgangssignals, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquelle aufweist: Eine kohärente Lichtquelle (40) und eine Beugungsstrahlformgebungseinrichtung (56), die mit der Lichtquelle (40) optisch verbunden ist, wobei die Beugungsstrahlformgebungseinrichtung (56) ein geätztes Glasgitter enthält, wodurch Licht von der kohärenten Lichtquelle (40) emittiert und durch die Beugungsstrahlformgebungseinrichtung (56) geleitet wird, um das gleichmäßige Lichtband (44) zu erzeugen.
  2. Inspektionssystem nach Anspruch 1, wobei die kohärente Lichtquelle (40) ein Laser ist.
  3. Inspektionssystem nach Anspruch 1 und/oder 2, wobei die kohärente Lichtquelle (40) eine Laserdiode ist.
  4. Inspektionssystem nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 3, wobei die kohärente Lichtquelle (40) eine Diodengruppierung ist.
  5. Inspektionssystem nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 4, wobei das Videosystem aufweist: Ein CCD-Linienarray (42); eine mit. dem CCD-Linienarray (42) optisch verbundene Linse; und einen mit der Linse optisch verbundenen Filter.
  6. Inspektionssystem nach Anspruch 5, wobei der Filter so konfiguriert ist, dass er mit einer Lichtfrequenz übereinstimmt, die durch die Lichtquelle (40) emittiert wird, wobei Streulichtquellen, von dem Videosystem aus gesehen, ignoriert werden können.
  7. Inspektionssystem nach Anspruch 5, wobei das CCD-Linienarray (42) das ausgeschlossenen schwarze Licht digital abtastet.
  8. Inspektionssystem nach Anspruch 5, wobei das CCD-Linienarray (42) einzelne Pixel enthält, die einzelne Signale proportional zur Intensität des Lichts aufweisen, das die einzelnen Pixel trifft.
  9. Inspektionssystem nach Anspruch 8, wobei die einzelnen Pixelsignale durch einen Signalprozessor (64) zur Erzeugung eines Bilds untersucht werden.
  10. Inspektionssystem nach Anspruch 9, wobei der Signalprozessor (64) die einzelnen Pixelsignale zur Ermittlung von Rändern des Werkstücks (22) untersucht.
  11. Inspektionssystem nach Anspruch 9 und/oder 10, wobei der Signalprozessor (64) in einem Computer (32) integriert ist.
  12. Inspektionssystem nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 11, außerdem aufweisend mehrere Lichtquellen (40A, 40B, 40C, 40D) und mehrere Videosysteme (42A, 42B, 42C, 42D), wobei jedes Videosystem (42A, 42B, 42C, 42D) angepasst und positioniert ist, um Licht von einer der Lichtquellen (40A, 40B; 40C, 40D) zu empfangen, wobei die angepassten Videosysteme (42A, 42B, 42C, 42D) und Lichtquellen (40A, 40B, 40C, 40D) in winkelmäßig versetzte Positionen ausgerichtet sind, die die Schieneneinrichtung umgeben, um Licht abzutasten, das durch die Werkstücke (22) mit gewählten radialen Perspektiven ausgeschlossen wird.
  13. Inspektionssystem nach Anspruch 12, wobei die mehreren Lichtquellen (40A, 40B, 40C, 40D) und die mehreren Videosysteme (42A, 42B, 42C, 42D) konkurrierend betrieben sein können.
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