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Die
vorliegende Erfindung betrifft im Allgemeinen strukturierte Oberflächen, die
mittels Mikroreplikationsmethoden hergestellt werden. Die Erfindung
ist insbesondere auf strukturierte Oberflächen anwendbar, die retroreflektive
Würfeleckenelemente aufweisen.
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Der
Leser wird auf das Glossar am Ende der Patentschrift, welches als
Leitfaden hinsichtlich der Bedeutung bestimmter in diesem Dokument
verwendeter Begriffe dient, verwiesen.
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Es
ist bekannt, mikroreplizierte strukturierte Oberflächen bei
einer Vielfalt von Endbenutzungsanwendungen, beispielsweise retroreflektierenden
Folien, mechanischen Befestigungselementen und Schleifprodukten,
zu verwenden. Wenngleich sich die folgende Beschreibung auf das
Gebiet der Retroreflexion konzentriert, wird augenscheinlich sein, dass
die offenbarten Verfahren und Gegenstände ebenso gut auf andere Gebiete
angewandt werden können,
die sich mikroreplizierter strukturierter Oberflächen bedienen.
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Retroreflektierende
Würfeleckenfolien
weisen für
gewöhnlich
eine dünne
transparente Schicht auf, die eine im Wesentlichen ebene vordere
Oberfläche
und eine hintere strukturierte Oberfläche aufweist, welche mehrere
geometrische Strukturen aufweist, von denen einige oder alle drei
reflektierende Flächen
aufweisen, die als Würfeleckenelement
konfiguriert sind.
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Retroreflektierende
Würfeleckenfolien
werden gemeinhin hergestellt, indem zunächst eine Mutterform angefertigt
wird, welche eine strukturierte Oberfläche aufweist, wobei diese strukturierte
Oberfläche
entweder der gewünschten
Würfeleckenelementgeometrie
in der fertigen Folie oder einer negativen (umgekehrten) Kopie davon entspricht,
je nachdem, ob die fertige Folie Würfeleckenpyramiden oder Würfeleckenkavitäten (oder
beides) aufweisen soll. Die Form wird dann durch Verwendung einer
geeigneten Methode, beispielsweise herkömmlicher galvanischer Vernickelung,
nachgebildet, um durch Verfahren wie beispielsweise Prägen, Extrudieren
oder Gießen
und Aushärten
Werkzeuge zum Formen von retroreflektierenden Würfeleckenfolien herzustellen. Das
US-Patent Nr. 5,156,863
(Pricone et al.) bietet eine veranschaulichende Übersicht über ein Verfahren zum Formen
von Werkzeugen, die bei der Herstellung von retroreflektierenden
Würfeleckenfolien verwendet
werden. Zu bekannten Verfahren zum Herstellen der Mutterform zählen Stiftbündelungsmethoden,
Laminatmethoden und Direktbearbeitungsmethoden. Jede dieser Methoden
weist ihre eigenen Vorzüge
und Einschränkungen
auf.
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Bei
Stiftbündelungsmethoden
werden mehrere Stifte, die jeweils eine geometrische Gestalt, beispielsweise
ein würfeleckenelement,
an einem Ende aufweisen, zusammengesetzt, um eine Mutterform zu
bilden. US-Patent Nr. 1,591,572 (Stimson) und 3,926,402 (Heenan)
stellen veranschaulichende Beispiele bereit. Die Stiftbündelung
eröffnet
die Möglichkeit,
eine breite Vielfalt von Würfeleckengeometrien in
einer einzigen Form herzustellen, da jeder Stift einzeln bearbeitet
wird. Allerdings sind derartige Methoden zum Herstellen kleiner
Würfeleckenelemente (z.B.
jene, die eine Würfelhöhe kleiner
als etwa 1 Millimeter aufweisen) auf Grund der großen Anzahl
von Stiften und deren abnehmender Größe, welche exakt bearbeitet
und dann in einem Bündel
angeordnet werden müssen,
um die Form zu bilden, unpraktisch.
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Bei
Laminatmethoden werden mehrere plattenartige Strukturen, die als
Schichten bekannt sind, wobei jede Schicht an einem Ende ausgebildete
geometrische Gebilde aufweist, zusammengesetzt, um eine Mutterform
zu bilden. Laminatmethoden sind im Allgemeinen weniger arbeitsintensiv
als Stiftbündelungsmethoden,
da die Anzahl von Teilen, die getrennt zu bearbeiten sind, für eine Form
und ein Würfeleckenelement
von einer bestimmten Größe erheblich
geringer ist. Allerdings ist die Flexibilität in der Ausgestaltung relativ
zu der mittels Stiftbündelung erreichbaren
geringer. Veranschaulichende Beispiele für Laminatmethoden sind im US-Patent Nr. 4,095,773
(Lindner), in der Internationalen Patentschrift Nr. WO 97/04939
(Mimura et al.) und in der US-Patentanmeldung mit der Seriennummer 08/886,074, „Cube Corner
Sheeting Mold and Method of Making the Same", eingereicht am 2. Juli 1997, zu finden.
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Bei
Direktbearbeitungsmethoden werden mehrere gerillte Seitenflächen in
der Ebene eines ebenen Substrats geformt, um eine Mutterform zu
bilden. Bei einer bestens bekannten Ausführungsform kreuzen einander
drei Sätze
von parallelen Rillen in eingeschlossenen Winkeln von 60 Grad, um
eine Anordnung von Würfeleckenelementen
zu bilden, die jeweils ein gleichseitiges Basisdreieck aufweisen
(siehe US-Patent Nr. 3,712,706 (Stamm)). Bei einer anderen Ausführungsform
kreuzen einander zwei Sätze von
Rillen in einem Winkel, der größer als
60 Grad ist, und ein dritter Satz von Rillen kreuzt jeden der anderen
beiden Sätze
in einem Winkel, der kleiner als 60 Grad ist, um eine Anordnung
von schrägen
zusammenpassenden Würfeleckenelement-Paaren
zu bilden (siehe US-Patent Nr. 4,588,258 (Hoopman)). Direkte Bearbeitungsmethoden
eröffnen
die Möglichkeit, überaus kleine
Würfeleckenelemente
auf eine Weise exakt zu bearbeiten, die durch Verwendung von Stiftbündelungs- oder Laminatmethoden
schwieriger zu bewerkstelligen ist, da letztere Methoden auf Bestandteilen
aufbauen, welche sich relativ zueinander bewegen oder verschieben
können
und welche sich voneinander trennen können, ob nun während der
Anfertigung der Form oder zu anderen Zeitpunkten. Ferner erzeugen
Direktbearbeitungsmethoden großflächige strukturierte
Oberflächen,
die im Allgemeinen eine größere Gleichmäßigkeit
und Genauigkeit als jene aufweisen, welche mittels Stiftbündelungs-
oder Laminatmethoden hergestellt werden, da bei der Direktbearbeitung
eine große
Anzahl einzelner Flächen
typischerweise in einer kontinuierlichen Bewegung des Zerspanungswerkzeugs
geformt wird und diese einzelnen Flächen deren Ausrichtung während des
gesamten Formherstellungsvorgangs beibehalten.
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Allerdings
ist ein erheblicher Nachteil von Direktbearbeitungsmethoden die
reduzierte Konstruktionsflexibilität der Typen von Würfeleckengeometrie, welche
hergestellt werden können.
Beispielsweise beträgt
die maximale theoretische Gesamtlichtrückgabe der Würfeleckenelemente,
die in dem oben genannten Stamm-Patent dargestellt sind, etwa 67%. Seit
der Erteilung jenes Patents wurden Strukturen und Methoden offenbart,
welche die Vielfalt von Würfeleckenkonstruktionen,
die dem Konstrukteur zur Verfügung
stehen, der sich Direktbearbeitung bedient, erheblich erweitern.
Siehe beispielsweise US-Patent Nr. 4,775,219 (Appledorn et al.), 4,895,428
(Nelson et al.), 5,600,484 (Benson et al.), 5,696,627 (Benson et
al.) und 5,734,501 (Smith). Einige der Würfeleckenkonstruktionen, die
in diesen späteren
Entgegenhaltungen offenbart werden, können bei einer bestimmten Betrachtungs-
und Eintrittsgeometrie effektive Aperturwerte aufweisen, die deutlich über 67%
liegen.
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WO95/11471
offenbart einen Würfeleckengegenstand
und eine Methode zum Herstellen dieses Gegenstandes. Der Gegenstand
weist ein Substrat auf, das eine strukturierte Oberfläche aufweist,
welche nachgebildete und bearbeitete Abschnitte aufweisen kann.
Die bearbeiteten Abschnitte und die nachgebildeten Abschnitte sind
voneinander getrennt.
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Allerdings
ist eine gesamte Klasse von Würfeleckenelementen,
die in diesem Dokument als Würfelecken elemente
mit „bevorzugter
Geometrie" oder „PG-Würfeleckenelemente" bezeichnet werden, bislang
außerhalb
der Reichweite der bekannten Direktbearbeitungsmethoden geblieben.
Ein Substrat, welches einen Typ von PG-Würfeleckenelement
einbindet, wird in der Draufsicht aus 1 dargestellt. Die
dort dargestellten Würfeleckenelemente
weisen jeweils drei quadratische Flächen und von oben gesehen einen
sechseckigen Umriss auf. Eines der PG-Würfeleckenelemente ist zu Gunsten
einfacherer Erkennung mittels einer fetten Umrisslinie hervorgehoben.
Das hervorgehobene Würfeleckenelement
ist als PG-Würfeleckenelement
zu erkennen, da es eine nicht von zwei Flächen begrenzte Kante (eine
beliebige der sechs Kanten, die fett hervorgehoben wurden) aufweist,
die relativ zu der Ebene der strukturierten Oberfläche geneigt
ist, und eine derartige Kante verläuft parallel zu benachbarten
nicht von zwei Flächen
begrenzten Kanten benachbarter Würfeleckenelemente
(jede derartige fett hervorgehobene Kante ist nicht nur parallel
zu nicht von zwei Flächen
begrenzten Kanten ihrer sechs benachbarten Würfeleckenelemente, sondern
auch an diese angrenzend).
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In
diesem Dokument werden Verfahren zum Herstellen von geometrischen
Strukturen, beispielsweise von PG-Würfeleckenelementen, offenbart,
die sich Direktbearbeitungsmethoden bedienen. Ebenfalls offenbart
werden Formen, um Gegenstände
gemäß diesen
Verfahren herzustellen, wobei diese Gegenstände dadurch gekennzeichnet
sind, dass sie mindestens eine speziell konfigurierte zusammengesetzte
Fläche
aufweisen.
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KURZDARSTELLUNG
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Gegenstände mit
einer strukturierten Oberfläche,
beispielsweise Formen oder Folien, werden auf einem zusammengesetzten
Substrat geformt, das ein bearbeitetes Substrat und ein nachgebildetes Substrat
aufweist. Bei einer Ausführungsform
ist die strukturierte Oberfläche
ein Würfeleckenelement
an einem zusammengesetzten Substrat. Bei einer anderen Ausführungsform
weist die strukturierte Oberfläche
eine geometrische Struktur auf, die mehrere Flächen aufweist, wobei eine Fläche an dem
bearbeiteten Substrat und eine weitere Fläche an dem nachgebildeten Substrat
angeordnet ist. Die geometrische Struktur kann wahlweise ein Würfeleckenelement oder
ein PG-Würfeleckenelement
sein.
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Bei
noch einer anderen Ausführungsform weisen
mindestens einige der Flächen
eine zusammengesetzte Fläche
auf, wobei ein Abschnitt an dem bearbeiteten Substrat ausgebildet
ist und ein Abschnitt an dem im Wesentlichen nachgebildeten Substrat
ausgebildet ist. Eine Übergangslinie
kann den Abschnitt einer zusammengesetzten Fläche, die an dem bearbeiteten
Substrat angeordnet ist, von dem Abschnitt, der an dem nachgebildeten
Substrat angeordnet ist, trennen. Der Abschnitt der zusammengesetzten
Fläche
an dem bearbeiteten Substrat und der Abschnitt an dem nachgebildeten
Substrat weisen typischerweise Winkelausrichtungen auf, welche sich um
weniger als 10 Bogengrad unterscheiden.
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Eine
andere Ausführungsform
betrifft eine geometrische Struktur, die mehrere Flächen aufweist,
welche an einem zusammengesetzten Substrat angeordnet sind. Das
zusammengesetzte Substrat weist ein bearbeitetes Substrat, das eine
strukturierte Oberfläche
aufweist, und ein im Wesentlichen nachgebildetes Substrat, das lediglich
entlang eines Abschnitts einer Grenzfläche mit dem bearbeiteten Substrat
verbunden ist, auf.
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Bei
einer anderen Ausführungsform
weist das zusammengesetzte Substrat ein im Wesentlichen nachgebildetes
Substrat, das eine strukturierte Oberfläche aufweist, und ein diskontinuierliches
bearbeitetes Substrat, das nur einen Abschnitt der strukturierten
Oberfläche
bedeckt, auf. Das zusammengesetzte Substrat weist auch mindestens
eine geometrische Struktur auf, die mindestens eine Fläche, welche
an der strukturierten Oberfläche
angeordnet ist, und mindestens eine weitere Fläche, die an dem bearbeiteten
Substrat angeordnet ist, aufweist.
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Eine
andere Ausführungsform
betrifft ein zusammengesetztes Substrat, welches ein im Wesentlichen
nachgebildetes Substrat und ein bearbeitetes Substrat aufweist.
Das nachgebildete Substrat weist eine strukturierte Oberfläche auf,
und das bearbeitete Substrat ist in getrennten Stücken an
der strukturierten Oberfläche
angeordnet.
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Eine
andere Ausführungsform
betrifft eine zusammengesetzte Form, die eine strukturierte Oberfläche aufweist,
welche Kavitäten,
die in einem nachgebildeten Substrat ausgebildet sind, und mehrere
Pyramiden, die an die Kavitäten
angrenzen, aufweist, welche mindestens zum Teil in einem bearbeiteten
Substrat des zusammengesetzten Substrats herausgearbeitet sind.
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Würfeleckenelemente
und strukturierte Oberflächen,
die eine Anordnung von derartigen Elementen aufweisen, werden offenbart,
wobei mindestens eine Fläche
des Würfeleckenelements
an einer nicht von zwei Flächen
begrenzten Kante eines derartigen Elements endet, wobei die Fläche zwei
konstituierende Flächen
aufweist, die an entgegengesetzten Seiten einer Übergangslinie angeordnet sind, welche
nicht parallel zu der nicht von zwei Flächen begrenzten Kante verläuft. Das
Würfeleckenelement kann
ein PG-Würfeleckenelement
aufweisen, wobei einige oder alle dieser Elemente zwei konstituierende Flächen aufweisen,
die an entgegengesetzten Seiten einer Übergangslinie angeordnet sind,
welche nicht parallel zu der entsprechenden nicht von zwei Flächen begrenzten
Kante verläuft,
und die Übergangslinie
weist eine Grenzfläche
zwischen zwei benachbarten Schichten eines zusammengesetzten Substrats
auf. In einer Anordnung aus benachbarten Würfeleckenelementen kann jedes
Würfeleckenelement in
der Anordnung mindestens eine Fläche
aufweisen, die wie oben beschrieben konfiguriert ist. Ferner können die
Würfeleckenelemente
dank der verwendeten Direktbearbeitungsmethoden sehr klein gemacht werden
(deutlich unter einer Würfelhöhe von 1
mm).
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Ebenfalls
offenbart wird ein Verfahren zum Herstellen eines Gegenstandes mit
einer strukturierten Oberfläche,
welcher eine geometrische Struktur aufweist, die mehrere Flächen aufweist.
Das Verfahren weist die Schritte des Formens einer Anordnung aus
geometrischen Strukturen in einer ersten Oberfläche eines bearbeiteten Substrats;
des Passivierens von ausgewählten
Orten der ersten Oberfläche des
bearbeiteten Substrats; des Formens eines nachgebildeten Substrats
des bearbeiteten Substrats, um ein zusammengesetztes Substrat zu
bilden; des Formens einer Anordnung aus zweiten geometrischen Strukturen
an einer zweiten Oberfläche,
die der ersten Oberfläche
entgegengesetzt ist, an dem bearbeiteten Substrat; und des Entfernens
von ausgewählten
Abschnitten von der zweiten Oberfläche des bearbeiteten Substrats,
um eine Anordnung aus benachbarten Würfeleckenelementen zu bilden,
auf. Die Würfeleckenelemente
können
PG-Würfeleckenelemente
sein.
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Bei
einer anderen Ausführungsform
weist das Verfahren zur Herstellung eines Gegenstandes mit einer
strukturierten Oberfläche
die Schritte des Formens einer Anordnung aus geometrischen Strukturen
in einer ersten Oberfläche
eines bearbeiteten Substrats; des Passivierens von ausgewählten Orten der
ersten Oberfläche
des bearbeiteten Substrats; des Formens eines nachgebildeten Substrats
des bearbeiteten Substrats, um ein zusammengesetztes Substrat zu
bilden; des Formens einer Anordnung aus zweiten geometrischen Strukturen
an einer zweiten Oberfläche,
die der ersten Oberfläche
entgegengesetzt ist, an dem bearbeiteten Substrat; und des Entfernens
von ausgewählten
Abschnitten von der zweiten Oberfläche des bearbeiteten Substrats,
um eine geometrische Struktur zu bilden, die mehrere Flächen aufweist,
wobei mindestens eine der Flächen
an den bearbeiteten Substrat angeordnet ist und mindestens eine
der Flächen
an dem nachgebildeten Substrat angeordnet ist, auf.
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Bei
einer anderen Ausführungsform
weist das Verfahren zum Herstellen einer geometrischen Struktur
in einem Gegenstand das Bereitstellen eines zusammengesetzten Substrats,
welches eine strukturierte Oberfläche aufweist, die entlang einer
inneren Grenzfläche
zwischen zwei Substraten ausgebildet ist; und das Formen von gerillten
Seitenflächen
in einer freiliegenden Oberfläche
des zusammengesetzten Substrats, um eine geometrische Struktur zu bilden,
wobei die geometrische Struktur einen Abschnitt der inneren Grenzfläche und
einen Abschnitt der gerillten Seitenflächen aufweist, auf.
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KURZE BESCHREIBUNG
DER ZEICHNUNGEN
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1 ist
eine Draufsicht auf eine strukturierte Oberfläche, die einen Typ von PG-Würfeleckenelementanordnung,
welcher im Stand der Technik bekannt ist, aufweist.
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2 ist
eine perspektivische Ansicht einer Baugruppe, die ein bearbeitetes
Substrat aufweist.
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3 ist
eine Schnittansicht des Substrats aus 2.
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4 ist
eine perspektivische Ansicht des Substrats aus 2 nach
einem ersten Bearbeitungsvorgang.
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5 ist
eine vergrößerte perspektivische Ansicht
eines Abschnitts des in 4 dargestellten bearbeiteten
Substrats.
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6 ist
eine Schnittansicht einer Baugruppe, die ein zusammengesetztes Substrat
aufweist.
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6a ist
eine vergrößerte Schnittansicht des
zusammengesetzten Substrats aus 6.
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7 ist
eine perspektivische Ansicht der Baugruppe aus 6,
wobei eine der Bearbeitungsgrundflächen entfernt wurde.
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8 ist
eine perspektivische Ansicht der Baugruppe aus 7,
wobei ein Abschnitt eines Rohteils, welches das bearbeitete Substrat
umgibt, entfernt wurde.
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9 ist
eine Querschnittansicht der Bearbeitung des zusammengesetzten Substrats
aus 7.
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10 ist
eine perspektivische Ansicht des zusammengesetzten Substrats aus 8 nach
dem zweiten Bearbeitungsvorgang.
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11 ist
eine Draufsicht auf 10.
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12–14 sind
Draufsichten auf strukturierte Oberflächen mit schrägen PG-Würfeleckenelementen,
wobei diese Oberflächen
durch Verwendung der Verfahren, die in Verbindung mit 2–11 besprochen
werden, hergestellt werden können.
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15 ist
eine Draufsicht auf ein anderes bearbeitetes Substrat gemäß der vorliegenden
Erfindung.
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16 ist
eine Schnittansicht des Substrats aus 15.
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17 ist
eine Schnittansicht des Substrats aus 15 mit
einer passivierten Oberfläche.
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18 ist
eine Draufsicht auf das Substrat aus 17, wobei
Abschnitte der passivierten Oberfläche entfernt wurden.
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19 ist
eine Schnittansicht des Substrats aus 18.
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20 ist
eine Schnittansicht einer Baugruppe, die ein zusammengesetztes Substrat
aufweist.
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21 ist
eine Draufsicht auf die Bearbeitung des zusammengesetzten Substrats
aus 20.
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22 ist
eine Schnittansicht des Substrats aus 21.
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23 ist
eine Draufsicht auf das zusammengesetzte Substrat aus 21 nach
dem zweiten Bearbeitungsvorgang.
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In
den Zeichnungen wird aus Gründen
der Zweckmäßigkeit
dasselbe Bezugszeichen verwendet, um Elemente zu bezeichnen, welche
identisch sind oder dieselbe oder eine gleichartige Funktion ausführen.
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Ausführliche
Beschreibung der veranschaulichenden Ausführungsformen
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2 und 3 stellen
eine Baugruppe 20 dar, die zum Herstellen einer strukturierten
Oberfläche
(siehe 9–10)
gemäß der vorliegenden Erfindung
von Nutzen ist. Die Baugruppe 20 weist ein Rohteil 22 auf,
das durch eine erste Verbindungsschicht 26 mit einer ersten
Bearbeitungsgrundfläche 24 verbunden
ist. Bei der dargestellten Ausführungsform
ist das Rohteil 22 eine kontinuierliche Struktur, welche
ein Deck 27 und eine Reihe von Bezugskissen 30a, 30b, 30c, 30d, 30e, 30f (die
gemeinsam mit 30 bezeichnet werden) aufweist, welche sich
von der Oberfläche 32 nach
oben wegerstrecken. Bei einer Ausführungsform weist das Deck 27 eine
Höhe 34 auf,
die im Allgemeinen gleich einer Höhe 36 der Bezugskissen 30 ist.
Die Anzahl von Bezugskissen 30 kann je nach Anwendung unterschiedlich
sein. Bei einer anderen Ausführungsform
können
das Deck 27 und die Bezugskissen 30 getrennte
Elemente sein, die mit der ersten Bearbeitungsgrundfläche 24 verbunden
sind, und nicht das in 2 dargestellte kontinuierliche
Rohteil 22.
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Das
Rohteil 22 setzt sich aus einem Material zusammen, welches
geritzt, geschnitten oder auf andere Weise ohne erhebliche Verformung
nach der Bearbeitung und ohne erhebliche Gratbildung bearbeitet
werden kann. Dadurch soll sichergestellt werden, dass die bearbeiteten
Flächen,
oder die Nachbildungen davon in anderen Substraten, als wirksame optische
Reflektoren dienen können.
Das Rohteil 22 kann aus verschiedenen Materialien, beispielsweise aus
Kupfer, Nickel, Aluminium, Acryl oder anderen Polymermaterialien,
gebildet sein. Eine weitere Besprechung geeigneter Substratmaterialien
folgt unten. Bei einer Ausführungsform
ist das Rohteil 22 ein dünnes Blechmaterial, welches
etwa 0,030 Inch dick ist.
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Das
Rohteil 22 ist mittels einer geeigneten Verbindungsschicht 26,
beispielsweise mittels Epoxidharz-, Wachs-, Thermoform- oder Warmhärte-Klebstoffen
und dergleichen, mit einer ersten Bearbeitungsgrundfläche 24 verbunden.
Bei der dargestellten Ausführungsform
ist die erste Bearbeitungsgrundfläche 24 eine etwa 2,54
Zentimeter (1,0 Inch) dicke Metallplatte. Die erste Bearbeitungsgrundfläche 24 trägt das relativ
dünne Rohteil 22 und
sieht Bezugsoberflächen 38 für nachfolgende
Bearbeitungsvorgänge
vor. Wenngleich die kreisförmige
Gestalt der Baugruppe 20 für nachfolgende Elektroplattiervorgänge zweckmäßig ist,
ist die kreisförmige
Gestalt nicht erforderlich.
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4 stellt
den Bearbeitungsvorgang dar, um ein bearbeitetes Substrat 28 im
Deckabschnitt 27 des Rohteils 22 zu formen. Zerspanungswerkzeuge 40a, 40b, 40c (die
gemeinsam mit 40 bezeichnet werden) bewegen sich das Deck 27 (siehe 2) entlang,
um eine strukturierte Oberfläche 50 aus
bearbeitetem Substrat 28 zu formen, ob nun durch Bewegung
der Zerspanungswerkzeuge oder des Substrats oder von beiden, um
Rillenseitenflächen
(siehe 5) zu formen. Das Zerspanungswerkzeug 40a formt
Bezugsrillen 44c, 44f in entsprechenden Bezugskissen 30c, 30f,
das Zerspanungswerkzeug 40b formt Bezugsrillen 44a, 44d in
entsprechenden Bezugskissen 30a, 30d und das Zerspanungswerkzeug 40c formt
Bezugsrillen 44b, 44e in entsprechenden Bezugskissen 30b, 30e.
Eine kreisförmige
Bezugsrille 46a, 46b, 46c, 46d, 46e, 46f,
die konzentrisch zu dem Mittelpunkt des bearbeiteten Substrats 28 verläuft, wird
wahlweise in jedem der entsprechenden Bezugskissen 30 geformt.
Bezugsmarken 43 können wahlweise
an der Kante des modifizierten Rohteils 22' geformt sein, um das Positionieren
des zusammengesetzten Substrats 82 zu unterstützen, um
die in 7 dargestellten spanabhebenden Vorgänge auszuführen.
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Jedes
Werkzeug 40 ist als sogenanntes „Halbwinkel"-Werkzeug dargestellt, welches, während es
durch das Material voranbewegt wird, gerillte Seitenflächen erzeugt,
und nicht ein Paar gegenüberliegender
Rillenseitenflächen,
wenngleich dies nicht notwendig ist. Bei der dargestellten Ausführungsform
ist eine der gerillten Seitenflächen
im Wesentlichen vertikal (siehe 5). Gemäß Direktbearbeitungsvorgängen bewegen
sich Zerspanungswerkzeuge 40 Achsen 42a, 42b, 42c entlang,
die im Wesentlichen parallel zu der x-y-Bezugsebene, welche durch
die Bezugsoberfläche 38 definiert
wird, verlaufen, wodurch sichergestellt wird, dass sich die entsprechenden
Rillenseitenflächen
ebenfalls Achsen entlangerstrecken, die im Wesentlichen parallel
zu der Bezugsebene verlaufen. Bei der dargestellten Ausführungsform
kreuzt jede der Achsen 42a, 42b, 42c zwei
der Bezugskissen 30. Vorzugsweise werden die Achsen 42a, 42b, 42c sorgfältig positioniert und
die Werkzeugausrichtung sorgfältig
gewählt,
so dass die Rillenseitenflächen
eine im Allgemeinen einheitliche Tiefe aufweisen.
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Es
sollte festgehalten werden, dass, wenngleich in 4 drei
Zerspanungswerkzeuge dargestellt sind, ein einziges Zerspanungswerkzeug
verwendet werden könnte.
Das Zerspanungswerkzeug kann aus Diamant oder einem anderen geeignet
harten Material hergestellt sein. Die bearbeiteten Flächen können durch
eine beliebige aus einer Anzahl bekannter Materialabtragmethoden
geformt werden, beispielsweise durch: Fräsen, wobei ein Drehzerspanungswerkzeug,
das sich um seine eigene Achse dreht, geneigt wird und die Oberfläche des
Substrats entlang gezogen wird; „Fly-Cutting", wobei ein Zerspanungswerkzeug,
beispielsweise ein Diamant, am Umfang eines sich rasch drehenden
Rades oder einer ähnlichen
Konstruktion angebracht wird, welches dann die Oberfläche des
Substrats entlang gezogen wird; „Ruling", wobei ein nichtumlaufendes Zerspanungswerkzeug,
beispielsweise ein Diamant, die Oberfläche des Substrats entlang gezogen
wird; und Schleifen, wobei ein umlaufendes Rad mit einer Zerspanungsspitze
oder -kante die Oberfläche
des Substrats entlang gezogen wird. Von diesen sind die bevorzugten
Verfahren Fly-Cutting und Ruling. Es ist während des Bearbeitungsvorgangs
nicht entscheidend, ob das Zerspanungswerkzeug, das Substrat oder
beide relativ zur Umgebung verschoben werden. Vollwinkelzerspanungswerkzeugen
wird, so sie möglich
sind, gegenüber
Halbwinkelwerkzeugen der Vorzug gegeben, da erstere weniger bruchanfällig sind
und höhere
Bearbeitungsgeschwindigkeiten ermöglichen. Schließlich können Zerspanungswerkzeuge,
die einen gekrümmten
Abschnitt oder gekrümmte
Abschnitte aufweisen, bei den offen barten Ausführungsformen verwendet werden,
um nichtflache (gekrümmte)
Oberflächen
oder Flächen
vorzusehen, um gewünschte
optische oder mechanische Effekte zu erzielen.
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5 zeigt
einen vergrößerten Schnitt
der strukturierten Oberfläche 50,
die in das bearbeitete Substrat 28, das in 4 dargestellt
ist, eingearbeitet ist. Die strukturierte Oberfläche 50 weist Flächen 54 auf,
die in Gruppen zu je drei angeordnet sind, welche Würfeleckenpyramiden 56 bilden.
Zwischen Würfeleckenpyramiden 56 an
der strukturierten Oberfläche 50 eingestreut
sind Vorsprünge 58.
Die Vorsprünge 58,
welche dargestellt sind, weisen jeweils drei wechselseitig senkrechte
Seitenflächen 60, drei
im Allgemeinen vertikale Oberflächen 61 und eine
obere Oberfläche 62 auf.
Je nach dem Verfahren, welches verwendet wird, um die strukturierte Oberfläche 50 herzustellen,
können
die im Allgemeinen vertikalen Oberflächen 61 der Vorsprünge 58 in einem
größeren oder
kleineren Maß von
der Vertikalen weg geneigt sein. Bei der dargestellten Ausführungsform
bedecken die Würfeleckenpyramiden 56 etwa
50% des bearbeiteten Substrats, und die Vorsprünge 58 bedecken die
anderen 50% des Substrats.
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Die
strukturierte Oberfläche 50 wird
dann gereinigt und passiviert. Der Passivierungsschritt weist das
Auftragen einer Trennschicht oder das Modifizieren der Oberfläche 50,
um das Trennen eines nachfolgenden nachgebildeten Substrats 70 (siehe 6) zu
gestatten, auf. Bei einer Ausführungsform,
bei welcher das Rohteil 22 aus Metall, beispielsweise aus
Kupfer, hergestellt ist, kann die strukturierte Oberfläche 50 mit
Kaliumdichromat oder anderen passiven Lösungen passiviert werden. Bei
einer Ausführungsform,
bei welcher das Rohteil 22 aus Acryl oder einem anderen
Polymermaterial hergestellt ist, kann aufgedampftes oder chemisch
abgeschiedenes Silber verwendet werden, um die Trenn schicht herzustellen.
Der Passivierungsschritt kann in Abhängigkeit von dem für das bearbeitete
Substrat 28 und das nachgebildete Substrat 70 verwendeten
Material modifiziert werden.
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Um
die selektive Anhaftung des nachgebildeten Substrats 70 an
der strukturierten Oberfläche 50 zu
ermöglichen,
werden die oberen Oberflächen 62 der
Vorsprünge 58 behandelt.
Bei einer Ausführungsform
werden die oberen Oberflächen 62 abgeschliffen.
Das Abschleifen der oberen Oberflächen 62 kann durch
Verwendung eines Planarisierungsprozesses, durch Fly-Cutting oder
durch eine Vielfalt anderer Prozesse bewerkstelligt werden.
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6 und 6a stellen
eine Baugruppe 81 dar, welche sich nach dem Formen eines
nachgebildeten Substrats 70 über dem bearbeiteten Substrat 28 und
den Bezugskissen 30 ergibt. Das nachgebildete Substrat 70 kann
durch Elektroplattieren, Gießen
eines Füllmaterials
und eine Vielfalt anderer Methoden geformt werden. Die Dicke des
nachgebildeten Substrats 70 ist eine Frage der Wahl der
Bauform. Bei der dargestellten Ausführungsform weist das nachgebildete
Substrat 70 eine Dicke von etwa dem Zweifachen der Höhe der gewünschten
Würfeleckenelemente
auf.
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Wie
in 6a am besten dargestellt ist, haftet das nachgebildete
Substrat 70 auf Grund der vorangehenden Schritte der Passivierung
und des Abschleifens an der strukturierten Oberfläche 50 entlang
der oberen Oberfläche 62 der
Vorsprünge 58,
jedoch nicht entlang den passivierten Oberflächen der Pyramiden 56 und
den Seitenflächen 60, 61 der
Vorsprünge 58 an.
Abschnitte des nachgebildeten Substrats 70 ragen in das
bearbeitete Substrat 28 hinein, um ein zusammengesetztes
Substrat 82 (siehe auch 9) zu bilden.
Eine zweite Bearbeitungsgrundfläche 74 ist
mittels einer geeigneten Verbindungsschicht 78 mit der
rückwärtigen Oberfläche 76 des nachgebildeten
Substrats 70 verbunden. Wie die erste Bearbeitungsgrundfläche 24 weist
die zweite Bearbeitungsgrundfläche 74 Bezugsoberflächen 80 auf, um
nachfolgende Bearbeitungsschritte zu unterstützen. Die erste Bearbeitungsgrundfläche 24 und
die Verbindungsschicht 26 werden nicht mehr für den Prozess
benötigt
und von der Baugruppe 20 entfernt.
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7 ist
eine perspektivische Ansicht einer Baugruppe 81, welche
das modifizierte Rohteil 22' (bearbeitetes
Substrat 28 und Bezugskissen 30) aufweist, der
selektiv mit dem nachgebildeten Substrat 70 verbunden ist.
Das nachgebildete Substrat 70 ist durch die Verbindungsschicht 78 mit
der zweiten Bearbeitungsgrundfläche 74 verbunden.
Bei der dargestellten Ausführungsform
ist die rückwärtige Oberfläche 71 des
modifizierten Rohteils 22' im
Wesentlichen flach. Das zusammengesetzte Substrat 82 und die
Bezugskissen 30, die in die Baugruppe 81 eingebettet
sind, sind lediglich für
Zwecke der Veranschaulichung gestrichelt dargestellt.
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Eine
Folge von vier Schnitten wird rund um den Umfang P1, P2, P3, P4
des zusammengesetzten Substrats 82 durchgeführt, was
gestattet, die Abschnitte des modifizierten Rohteils 22', welche das bearbeitete
Substrat 28 umgeben, von der Baugruppe 81 zu entfernen.
Bezugsmarken 43 können
wahlweise verwendet werden, um das zusammengesetzte Substrat 82 zu
lokalisieren. Die Passivierungsschicht erleichtert das Entfernen
dieses Abfallmaterials. Bei einer Ausführungsform, bei welcher das
Rohteil 22 und das nachgebildete Substrat 70 aus
Metall hergestellt sind, ist der Abschnitt des Rohteils 22,
der das bearbeitete Substrat 28 umgibt, eine dünne Schicht,
welche von dem nachgebildeten Substrat 70 abgeschält werden
kann.
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8 ist
eine perspektivische Ansicht einer modifizierten Baugruppe 83,
wobei die Abschnitte des Rohteils 22, welche das zusammengesetzte Substrat 82 umgeben,
entfernt wurden. Die Oberfläche 85 ist
von dem nachgebildeten Substrat 70. Die Oberfläche 90,
welche sich oberhalb der Oberfläche 85 erstreckt,
ist die rückwärtige Oberfläche des
bearbeiteten Substrats 28. Bezugskissen-Nachbildungen 84a, 84b, 84c, 84d, 84e, 84f (gemeinsam
mit 84 bezeichnet) der Bezugskissen 30 definieren
Kavitäten in
der Oberfläche 85.
Die Bezugskissen-Nachbildungen 84a, 84d weisen
entsprechende parallele Rücken 86a, 86d auf,
die Nachbildungen 84b, 84e weisen entsprechende
parallele Rücken 86b, 86e auf, und
die Nachbildungen 84c, 84f weisen entsprechende
parallele Rücken 86c, 86f (gemeinsam
mit 86 bezeichnet) auf. Jede der Bezugskissen-Nachbildungen 84 weist
jeweils einen Rücken 88a, 88b, 88c, 88d, 88e, 88f (gemeinsam
mit 88 bezeichnet) auf, der einen Kreis definiert, welcher
konzentrisch zum Mittelpunkt des zusammengesetzten Substrats 82 verläuft. Bei
der dargestellten Ausführungsform
sind die oberen Enden der Rücken 86, 88 im
Allgemeinen koplanar mit der Oberfläche 85.
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9 ist
eine schematische Darstellung des Bearbeitungsschritts, der an der
rückwärtigen Oberfläche 90 des
bearbeiteten Substrats 28 durchgeführt wird. Bei der dargestellten
Ausführungsform
weist das zusammengesetzte Substrat 82 das bearbeitete Substrat 28 und
das nichtgetrennte nachgebildete Substrat 70 auf. Die Grenzfläche 92 zwischen
der strukturierten Oberfläche 50 und
dem nachgebildeten Substrat 70 ist durch die gestrichelte
Linie gekennzeichnet. Die Verbindung an der Grenzfläche 92 ist
jedoch auf die abgeschliffenen oberen Oberflächen 62 der Vorsprünge 58 beschränkt. Die
Passivierungsschicht verhindert oder minimiert die Anhaftung entlang
dem Rest der Grenzfläche 92,
beispielsweise entlang den Pyramiden 56 oder den Seitenflächen 60, 61 der
Vorsprünge 58.
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Der
in 4 dargestellte Bearbeitungsschritt wird dann an
der rückwärtigen Oberfläche 90 des
bearbeiteten Substrats 28 unter Verwendung der Rücken 86, 88 als Bezugspunkte,
um das Werkzeug 101 zu führen, durchgeführt. Das
Werkzeug 101 kann ein Halbwinkelwerkzeug sein oder auch
nicht. Bei einer Ausführungsform,
bei welcher das bearbeitete Substrat 28 und/oder das nachgebildete
Substrat 70 aus einem transparenten oder halbtransparenten
Material hergestellt sind oder bei welcher die Grenzfläche zwischen
dem bearbeiteten Substrat 28 und dem nachgebildeten Substrat 70 entlang
dem Umfang P1, P2, P3, P4 des zusammengesetzten Substrats 82 gesehen
werden kann, sind die Bezugskissen-Nachbildungen 84 eventuell
nicht erforderlich. Das heißt,
dass die Ausrichtung der Werkzeuge 42a, 42b, 42c ohne
Zuhilfenahme der Bezugskissen-Nachbildungen 84 bewerkstelligt
werden kann. Falls das bearbeitete Substrat 28 aus einem
undurchsichtigen Material wie Metall hergestellt ist, bieten die
Bezugskissen-Nachbildungen 84 (und insbesondere die Rücken 86)
exakte Bezugspunkte, so dass der in 9 dargestellte
Bearbeitungsschritt durchgeführt
werden kann.
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Nachdem
entlang jeder der drei Achsen 42a, 42b, 42c Schnitte
durchgeführt
wurden, fallen Abfallabschnitte 94 des bearbeiteten Substrats 28 weg oder
werden entfernt, was eine Würfeleckenkavität 118 in
dem nachgebildeten Substrat 70 zurücklässt. Bei einigen Ausführungsformen
kann das Werkzeug 101 in das nachgebildete Substrat 70 schneiden,
derart, dass das nachgebildete Substrat einen nachgebildeten oder
geformten Abschnitt und einen bearbeiteten Abschnitt aufweisen kann.
Die distalen Enden oder oberen Oberflächen 62 der getrennten
Stücke oder
Vorsprünge 58 von
dem bearbeiteten Substrat 28 werden mit dem nachgebildeten
Substrat 70 verbunden. Untere oder proximale Abschnitte
der Vorsprünge 58 werden
derart bearbeitet, dass sie Würfeleckenpyramiden 120a bilden.
Die Vorsprünge 58 an
dem bearbeiteten Substrat 28 bleiben in das nachgebildete
Substrat 70 eingebettet. Sobald jeder der Abfallabschnitte 94 des
bearbeiteten Substrats 28 von dem nachgebildeten Substrat 70 entfernt
wurden, bilden die Würfeleckenpyramiden 120a und
die Würfeleckenkavitäten 118 eine
geometrische strukturierte Oberfläche 100 mit einer
Anordnung aus PG-Würfeleckenelementen
(siehe 10).
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10 ist
eine Ansicht einer geometrischen strukturierten Oberfläche 100 an
dem zusammengesetzten Substrat 82, nachdem alle Rillenseitenflächen geformt
wurden. Jede der Würfeleckenkavitäten 118 weist
drei nachgebildete Flächen 116a, 116b, 116c auf,
und jede der Würfeleckenpyramiden 120a weist
drei bearbeitete Flächen 126a, 126b, 126c auf, die
annähernd
gegenseitig senkrecht aufeinander konfiguriert sind. In dem Fall,
bei dem die drei Flächen
einer Würfeleckenpyramide 120a im
Wesentlichen mit benachbarten Flächen 116 von
Kavitäten 118 ausgerichtet
sind und bei dem derartige Kavitäten 118 eine
gemeinsame Ausrichtung aufweisen, bilden die drei Flächen der
Würfeleckenpyramide 120a (bei
getrennter Betrachtung) eine „stumpfe" Würfeleckenpyramide.
Eine derartige Pyramide ist dadurch gekennzeichnet, dass sie genau
drei nicht von zwei Flächen
begrenzte Kanten aufweist, welche ein „Basisdreieck" in der Ebene der
strukturierten Oberfläche
bilden.
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Jede
der drei Flächen 126a–c der Würfeleckenpyramiden 120a wird
bearbeitet, um im Wesentlichen mit der nächstgelegenen Fläche 116 einer
benachbarten Würfeleckenkavität 118 ausgerichtet
zu sein. Folglich weist jede neue Würfeleckenkavität 132 eine
nachgebildete Würfeleckenkavität 118 und eine
bearbeitete Fläche 126 von
jeder ihrer benachbarten geometrischen Strukturen 120a auf.
Die Bezugszahl 132a zeigt mittels einer fetten Umrisslinie eine
derartige Würfeleckenkavität 132.
Eine bestimmte Fläche
von einer der Würfeleckenkavitäten 132 weist
eine Fläche
einer Würfeleckenkavität 118, die
in dem nachgebildeten Substrat 70 geformt ist, und eine
der Flächen 126a, 126b oder 126c,
die in das bearbeitete Substrat 28 eingearbeitet sind, auf. Wie
nachstehend besprochen wird, werden Flächen 116 der Würfeleckenkavität 118 in
das nachgebildete Substrat 70 eingearbeitet. Demnach weist
jede Würfeleckenkavität 132 eine
zusammengesetzte Fläche auf,
die sich aus einem Abschnitt, der im Wesentlichen in dem nachgebildeten
Substrat 70 geformt oder nachgebildet ist, und einem Abschnitt,
der in das bearbeitete Substrat 28 eingearbeitet ist, zusammensetzt,
welche durch eine Übergangslinie 130 getrennt sind.
Die Übergangslinien 130 verlaufen
entlang der Grenze oder Grenzfläche
zwischen dem bearbeiteten Substrat 28 und dem nachgebildeten
Substrat 70.
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Es
ist auch möglich,
neue Würfeleckenpyramiden 134 zu
erkennen, die an der strukturierten Oberfläche ausgebildet sind, welche
in 10 dargestellt ist. Jede Würfeleckenpyramide 134 weist eine
geometrische Struktur 120a auf, welche eine Würfeleckenpyramide
ist, und je eine Fläche
ihrer benachbarten Würfeleckenkavitäten 118.
Jede Fläche von
einer der Pyramiden 134 ist eine zusammengesetzte Fläche, welche
eine Fläche 116 von
einer der Kavitäten 118 in
dem nachgebildeten Substrat 70 und eine bearbeitete Fläche von
der Struktur 120a, die aus dem bearbeiteten Substrat 28 geformt
wurde, aufweist. Die Bezugszahl 134a zeigt mittels einer
fetten Umrisslinie eine derartige Würfeleckenpyramide 134.
Es ist zu beachten, dass die Bezugspunkte 122 die obersten
Enden oder Spitzen der Pyramiden 134 angeben. Sowohl Würfeleckenpyramiden 134 als auch
Würfeleckenkavitäten 132 sind
PG-Würfeleckenelemente,
da beide eine Fläche
aufweisen, welche an einer nicht von zwei Flächen begrenzten Kante des Würfeleckenelements
enden, wobei eine derartige nicht von zwei Flächen begrenzte Kante nicht parallel
zu der Bezugsebene x-y verläuft.
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11 zeigt
eine Draufsicht auf die strukturierte Oberfläche aus 10. Übergangslinien 130 sind
schmäler
als andere Linien gezeichnet, um das Erkennen der PG-Würfeleckenelemente,
d.h. der Würfeleckenkavitäten 132 und
der Würfeleckenpyramiden 134,
zu erleichtern. Die zusammengesetzten Flächen von derartigen PG-Würfeleckenelementen erstrecken
sich über
entgegengesetzte Seiten der Übergangslinien 130,
welche getrennte Stücke
des bearbeiteten Substrats 28 von dem nachgebildeten Substrat 70,
mit welchem sie verbunden sind, trennen. Bei der dargestellten Ausführungsform
liegen alle Übergangslinien 130 in
einer gemeinsamen Ebene, die als Übergangsebene bezeichnet wird,
welche im Fall dieser Ausführungsform
koplanar mit der x-y-Ebene
verläuft.
Die Flächen
der strukturierten Oberfläche,
die in das bearbeitete Substrat 28 eingearbeitet ist, sind
auf einer Seite der Übergangsebene angeordnet,
und die Flächen,
die in das nachgebildete Substrat 70 eingearbeitet sind,
sind auf der anderen Seite angeordnet.
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Der
bearbeitete Würfeleckengegenstand
aus 10–11 kann
selbst als retroreflektiver Gegenstand dienen, sowohl in Bezug auf
Licht, welches von oben einfällt
(auf Grund von Würfeleckenkavitäten 132),
als auch, falls das Substrat mindestens teilweise transparent ist,
in Bezug auf Licht, welches von unten einfällt (auf Grund von Würfeleckenpyramiden 134).
In jedem der beiden Fälle
kann, abhängig
von der Zusammensetzung des Substrats, eine spiegelnd reflektierende
dünne Beschichtung,
beispielsweise Aluminium, Silber oder Gold, auf die strukturierte
Oberfläche
aufgebracht werden, um das Reflexionsvermögen der zusammengesetzten Flächen zu verstärken. In
dem Fall, bei dem Licht von unten einfällt, können reflektierende Beschichtungen
zu Gunsten einer Luftgrenzfläche,
welche totale interne Reflexion ermöglicht, vermieden werden.
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Häufiger wird
jedoch das zusammengesetzte Substrat aus 10–11 als
Form verwendet, mittels welcher retroreflektive Gegenstände für den Endgebrauch,
ob nun direkt oder über
mehrere Generationen von Formen, unter Zuhilfenahme von herkömmlichen
Nachbildungsmethoden hergestellt werden. Jede Form oder jeder andere
Gegenstand, welche aus dem zusammengesetzten Substrat hergestellt
wird, enthält
typischerweise Würfeleckenelemente,
die mindestens eine Fläche
aufweisen, welche an einer nicht von zwei Flächen begrenzten Kante des Würfeleckenelements
endet, wobei die mindestens eine Fläche zwei konstituierende Flächen aufweist,
die an entgegengesetzten Seiten einer Übergangslinie angeordnet sind,
wobei die Übergangslinie
nicht parallel zu einer derartigen nicht von zwei Flächen begrenzten
Kante verläuft.
Wie aus 10–11 hervorgeht,
liegen die Übergangslinien 130 in
der Übergangsebene,
die mit der x-y-Ebene zusammenfällt,
wohingegen nicht von zwei Flächen
begrenzte Kanten, die sowohl für
die PG-Würfeleckenkavität 132 als
auch für
die PG-Würfeleckenpyramide 134 fett
dargestellt sind, relativ zu der x-y-Ebene geneigt sind. Es ist durch Formen
von Rillenseitenflächen
an unterschiedlichen Tiefen im Substrat auch möglich, Oberflächen herzustellen,
bei denen die Übergangslinien
nicht allesamt in derselben Ebene liegen.
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Übergangslinien
können
im Allgemeinen eine breite Vielfalt von Gestalten annehmen, je nach den
Details des verwendeten Zerspanungswerkzeugs und dem Ausmaß, in welchem
beim Vorgang des Formens von Rillenseitenflächen die Bewegung des Zerspanungswerkzeugs
exakt mit anderen Flächen
ausgerichtet ist. Wenngleich bei vielen Anwendungen Übergangslinien
ein zu minimierendes Artefakt darstellen, können sie bei anderen Anwendungen
vorteilhaft eingesetzt werden, um ein gewünschtes optisches Resultat,
beispielsweise einen teilweise transparenten Gegenstand, zu erhalten.
Eine ausführliche
Besprechung verschiedener Übergangslinienkonfigurationen
wird in der gemeinsam abgetretenen US-Patentanmeldung mit der Seriennr. 09/515,120
(Aktenzeichen des Rechtsanwalts: 54222USA1A), die zum selben Datum
mit dem vorliegenden Dokument eingereicht wurde und den Titel Structured
Surface Articles Containing Geometric Structures with Compound Faces
and Methods for Making Same trägt,
dargelegt.
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Eine
breite Vielfalt von strukturierten Oberflächen kann durch Verwendung
des vorliegenden zusammengesetzten Substrats 82 und der
oben beschriebenen Bearbeitungsmethode hergestellt werden. Die PG-Würfeleckenelemente
aus 11 weisen jeweils eine Symmetrieachse auf, die
senkrecht auf die x-y-Bezugsebene der strukturierten Oberfläche ist.
Würfeleckenelemente
weisen typischerweise die höchste
optische Effizienz als Reaktion auf Licht, welches auf das Element
ungefähr
entlang der Symmetrieachse auftrifft, auf. Die Lichtmenge, welche durch
ein Würfeleckenelement
retroreflektiert wird, nimmt im Allgemeinen mit zunehmendem Abweichen des
Einfallwinkels von der Symmetrieachse ab. 12 zeigt
eine Draufsicht auf eine strukturierte Oberfläche 136, welche jener
als 11 ähnelt
und sich die x-y-Ebene entlang erstreckt, abgesehen davon, dass
die PG-Würfeleckenelemente
aus 12 alle schräg
sind, derart, dass deren Symmetrieachsen in Bezug auf die Normale
der strukturierten Oberfläche
geneigt sind. Die Symmetrieachse für jede PG-Würfeleckenkavität 146 in 12 liegt
in einer Ebene, die parallel zu der y-z-Ebene verläuft, und weist
eine vertikale Komponente in der +z-Richtung (aus der Seite hinaus)
und eine Querkomponente in der +y-Richtung auf. Symmetrieachsen
für die PG-Würfeleckenpyramiden 148 aus 12 zeigen
in die entgegengesetzte Richtung, mit Komponenten in die -z- und
die -y-Richtung. Beim Herstellen der Oberfläche 136 wird ein zusammengesetztes
Substrat verwendet, wobei die Vorsprünge von im Allgemeinen dreieckigem
Querschnitt der Gestalt nach gleichschenkelig und nicht wie in 1 gleichseitig sind.
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Vier
verschiedene Typen von Würfeleckenelementen
liegen auf der strukturierten Oberfläche 136 vor: stumpfe Würfeleckenkavitäten, die
im nachgebildeten Substrat 70 geformt sind und von oben gesehen
einen dreieckigen Umriss aufweisen; stumpfe Würfeleckenpyramiden, die Flächen, welche in
getrennte Stücke
des bearbeiteten Substrats 28 eingearbeitet sind, und einen
dreieckigen Umriss aufweisen; PG-Würfeleckenkavitäten, die
zusammengesetzte Flächen
und einen sechseckigen Umriss aufweisen; und PG-Würfeleckenpyramiden,
die ebenfalls zusammengesetzte Flächen und einen sechseckigen
Umriss aufweisen. Eine repräsentative Würfeleckenkavität, die im
nachgebildeten Substrat 70 ausgebildet ist, ist in 12 durch
eine fette Umrisslinie 140 gekennzeichnet, und eine repräsentative Würfeleckenpyramide,
die in das bearbeitete Substrat 28 eingearbeitet ist, ist
durch eine fette Umrisslinie 142 gekennzeichnet. Übergangslinien 144 trennen bearbeitete
von geformten oder nachgebildeten Flächen, und alle derartigen Linien 144 liegen
in einer Übergangsebene,
die parallel zu der x-y-Ebene verläuft. Bei anderen Ausführungsformen
können
die Übergangslinien
parallel zu einer Übergangsebene verlaufen,
jedoch nicht koplanar sein. Ausgewählte Flächen von Kavitäten 140 und
Pyramiden 142 bilden schräge PG-Würfeleckenelemente, insbesondere schräge PG-Würfeleckenkavitäten 146 und
schräge PG-Würfeleckenpyramiden 148.
Bezugspunkte 122 kennzeichnen wie vorhin örtlich begrenzte
Spitzen oder Scheitelpunkte, die oberhalb der x-y-Ebene angeordnet
sind.
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13 zeigt
eine strukturierte Oberfläche 136a ähnlich jener
aus 12, und gleiche Merkmale werden mit derselben
Bezugszahl wie in 12 samt der hinzugefügten Erweiterung „a" bezeichnet. PG-Würfeleckenelemente
aus 13 sind in Bezug auf die Normale der strukturierten
Oberfläche 136a schräg, jedoch
in einer andere Richtung verglichen mit jener der PG-Würfeleckenelemente aus 12. Die
Symmetrieachse für
jede PG-Würfeleckenkavität 146a ist
in einer Ebene angeordnet, welche parallel zu der y-z-Ebene verläuft, und
weist eine vertikale Komponente in der +z-Richtung und eine Querkomponente
in der -y-Richtung auf.
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14 zeigt
eine strukturierte Oberfläche ähnlich jener
aus 12 und 13, und
gleiche Merkmale werden mit derselben Bezugszahl wie in 12 samt
der hinzugefügten
Erweiterung „b" bezeichnet. PG-Würfeleckenelemente
in 14 sind ebenfalls schräg, jedoch ist, anders als bei
den PG-Würfeleckenelementen
aus 12 und 13, der
Schrägheitsgrad
derart, dass der Umriss jedes PG-Würfeleckenelements von oben
gesehen keine Spiegelbild-Symmetrieebene aufweist. Die Würfeleckenkavitäten aus 14 weisen
jeweils eine Symmetrieachse auf, die Komponenten in der +z-, +y- und
-x-Richtung aufweist. Es wird zu erkennen sein, dass die durch die Übergangslinien 144 (12)
gebildeten Dreiecke gleichschenkelige Dreiecke sind, welche jeweils
nur einen eingeschlossenen Winkel kleiner als 60 Grad aufweisen;
dass durch die Linien 144a (13) gebildete
Dreiecke gleichschenkelige Dreiecke sind, welche jeweils nur einen
eingeschlossenen Winkel größer als
60 Grad aufweisen; und dass durch die Linien 144b (14)
gebildete Dreiecke ungleichschenkelige Dreiecke sind. Repräsentative
Werte in Grad für
die eingeschlossenen Winkel von Dreiecken, welche durch Übergangslinien 144a definiert
werden, sind: (70,70, 40); (80, 50, 50); bzw. (70, 60, 50).
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Die
oben besprochenen Ausführungsformen weisen
damit einhergehend eine asymmetrische Eintrittswinkeligkeit auf
(d.h., wenn sie um eine Achse innerhalb der Ebene der Folie gedreht
werden). Ausführungsformen
mit symmetrischer Eintrittswinkeligkeit sind ebenfalls möglich, beispielsweise
die in Zusammenhang mit 15–23 besprochene
Würfeleckenstruktur
mit zusammenpassenden Paaren.
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15 und 16 zeigen
ein anderes bearbeitetes Substrat 200 gemäß der vorliegenden
Erfindung. Das bearbeitete Substrat 200 ist mittels einer ersten
Verbindungs schicht 204 mit einer ersten Bearbeitungsgrundfläche 202 verbunden.
Zwei Sätze
von Rillen 206, 208, die parallel zu der Achse 207a bzw. 207b verlaufen,
werden mittels Werkzeugen 201a, 201b geformt,
um eine bearbeitete Oberfläche 212 zu
definieren. Bei der dargestellten Ausführungsform weist die bearbeitete
Oberfläche 212 Flächen 213 auf,
die in Gruppen zu je vier angeordnet sind, welche vierseitige Pyramiden 210 bilden,
die eine Spitze oder einen Bezugspunkt 215 aufweisen. Die
vierseitigen Pyramiden 210 sind in Reihen 217, 222, 223 angeordnet.
Durch die Rillen 206, 208 werden auch andere geometrische
Strukturen 211 gebildet.
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Wie
aus der Schnittansicht aus 17 hervorgeht,
wird die bearbeitete Oberfläche 212 dann gereinigt
und passiviert. Der Passivierungsschritt weist das Aufbringen einer
Trennschicht oder das Durchführen
einer Oberflächenmodifikation 216 (gemeinsam
als „passivierte
Oberfläche" bezeichnet) an der
bearbeiteten Oberfläche 212 auf,
um das Abtrennen eines nachfolgenden nachgebildeten Substrats 214 (siehe 20)
zu gestatten. Bei einer Ausführungsform
ist die passivierte Oberfläche
nur auf einem Abschnitt der bearbeiteten Oberfläche 212 ausgebildet.
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Wie
in 18 und 19 dargestellt
ist, werden in der bearbeiteten Oberfläche 212 parallel zu
der Achse 207c durch Verwendung des Werkzeugs 201c zusätzliche
Rillen 220a, 220b, 220c (gemeinsam als 220 bezeichnet)
ausgebildet, um Abschnitte von einigen der geometrischen Strukturen 211 zu
entfernen. Die Rillen 220 entfernen auch etwas von der
Oberflächenmodifikation 216,
um selektives Anhaften des nachgebildeten Substrats 214 (siehe 20)
an der bearbeiteten Oberfläche 212 zu
ermöglichen.
Wie am besten in 19 dargestellt ist, liegt die
passivierte Oberfläche 216 entlang
flachen Bereichen 228 oder entlang Seitenwänden 230 nicht
vor, während
die passivierte Oberfläche 216 an Flächen 213 im
Wesentlichen intakt ist.
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20 stellt
eine Baugruppe 232 dar, welche sich nach dem Formen eines
nachgebildeten Substrats 214 über dem bearbeiteten Substrat 200' ergibt. Das
nachgebildete Substrat 214 kann durch Elektroplattieren,
Gießen
eines Füllmaterials
und eine Vielfalt anderer Methoden geformt werden. Infolge des vorangehenden
Passivierungsschritts haftet das nachgebildete Substrat 214 an
den flachen Bereichen 228 und Seitenwänden 230, jedoch nicht
entlang den passivierten Oberflächen 216,
an. Abschnitte 234 des nachgebildeten Substrats 214 ragen
in das bearbeitete Substrat 200' vor und verbinden sich damit entlang
Oberflächen 228, 230,
um ein zusammengesetztes Substrat 236 zu formen. Eine zweite Bearbeitungsgrundfläche 250 wird
durch Verwendung einer geeigneten Verbindungsschicht 254 mit der
rückwärtigen Oberfläche 252 des
nachgebildeten Substrats 214 verbunden. Wie die erste Bearbeitungsgrundfläche 202 weist
die zweite Bearbeitungsgrundfläche 250 Bezugsoberflächen (siehe 3) auf,
um nachfolgende Bearbeitungsschritte zu unterstützen. Die erste Bearbeitungsgrundfläche 202 und die
Verbindungsschicht 204 werden für den Prozess nicht mehr benötigt und
von der Baugruppe 232 entfernt. Die zweite Bearbeitungsgrundfläche 250 trägt das zusammengesetzte
Substrat 236 während
der Bearbeitung der rückwärtigen Oberfläche 260,
was nachstehend besprochen wird.
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21 und 22 stellen
den Bearbeitungsschritt dar, der hinsichtlich der rückwärtigen Oberfläche 260 des
zusammengesetzten Substrats 236 durchgeführt wird.
Rillen 268a, 268b, 268c werden mittels
Werkzeugen 272a, 272b, 272c entlang Achsen 270a, 270b, 270c geformt.
Die Rillen 268a, 268b, 268c können sich
in das nachgebildete Substrat 214 hineinerstrecken. Abfallabschnitte 274 sind auf
Grund der Passivierungsschicht 216 nicht mit dem nachgebildeten
Substrat 214 verbunden. Folglich fallen, nachdem die Rillen 268 entlang
allen drei Achsen 270 hergestellt wurden, die Abfallabschnitte 274 weg
oder werden entfernt und lassen vierseitige Kavitäten 276 in
dem nachgebildeten Substrat 214 zurück.
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Getrennte
Stücke
oder Abschnitte 278, 280 des zusammengesetzten
Substrats 236 werden jedoch entlang Oberflächen 230 mit
dem nachgebildeten Substrat 214 verbunden. Untere oder
proximale Abschnitte der Abschnitte 278, 280 werden
bearbeitet, um dreiseitige Pyramiden 282 zu formen. Die
Abschnitte 278, 280 des bearbeiteten Substrats 200' bleiben in
den Abschnitt aus nachgebildetem Substrat 214 des zusammengesetzten
Substrats 236 eingebettet. Sobald alle Abfallabschnitte 274 des
zusammengesetzten Substrats 236 von dem nachgebildeten
Substrat 214 entfernt wurden und somit jede der vierseitigen
Kavitäten 276 freigelegt
wurde, bilden die dreiseitigen Pyramiden 282 und die vierseitigen
Kavitäten 276 eine
geometrische strukturierte Oberfläche 290, welche eine
Anordnung aus PG-Würfeleckenelementen
(siehe 23) aufweist.
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Bei
einer Ausführungsform,
bei welcher das bearbeitete Substrat 200' und/oder das nachgebildete Substrat 214 aus
einem transparenten oder halbtransparenten Material hergestellt
sind, oder bei welcher die Grenzfläche zwischen dem bearbeiteten Substrat 200' und dem nachgebildeten
Substrat 214 entlang dem Umfang des zusammengesetzten Substrats 236 gesehen
werden kann, sind Bezugskissen, beispielsweise jene, die in Zusammenhang
mit 2–8 dargestellt
sind, eventuell nicht notwendig. Das heißt, dass eine Ausrichtung der
Werkzeuge ohne Zuhilfenahme des Bezugskissens realisiert werden
kann. Fall das bearbeitete Substrat 200' aus einem undurchsichtigen Material,
beispielsweise aus Metall, hergestellt ist, sehen Bezugskissen,
beispielsweise die in 2 dargestellten, exakte Bezugspunkte
vor, so dass der in 21 dargestellte Bearbeitungsschritt
durchgeführt
werden kann.
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23 stellt
die geometrische strukturierte Oberfläche 290 dar, nachdem
alle Rillenseitenflächen
geformt wurden. Diese Geometrie ergibt zwei verschiedene Typen von
PG-Würfeleckenelementen an
der strukturierten Oberfläche.
Die Würfeleckenpyramide 296 weist
eine Fläche
g und zusammengesetzte Flächen
h, h', i, i' auf, die durch Übergangslinien
a bzw. b getrennt sind. Die Würfeleckenpyramide 298 weist
eine Fläche
j und zusammengesetzte Flächen
k, k', l, l' auf, die durch Übergangslinien
c bzw. d getrennt sind. Die Flächen
g und j sind Vielecke mit mehr als drei Seiten. Folglich weisen
in der Draufsicht aus 23 die Würfeleckenpyramiden 296, 298 jeweils
eine rechteckige Gestalt auf, wie durch die jeweiligen gestrichelten
Umrisslinien dargestellt ist, und nicht einen sechseckigen Umriss,
wie er in 10–14 dargestellt
ist. Bei einer Ausführungsform,
bei welcher die Rillen 272c allesamt dieselbe Tiefe aufweisen,
sind die Würfeleckenelemente 296 und 298 entgegengesetzte
Würfeleckenelemente
oder Würfeleckenelemente
mit zusammenpassenden Paaren, welche eine symmetrische Eintrittswinkeligkeit
vorsehen. Je nach dem Seitenverhältnis können die
von oben gesehen rechteckigen Umrisse der Würfeleckenelemente auch einen
quadratischen Umriss aufweisen.
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Würfeleckenelemente
aus 23 können
je nach Bedarf (nach vorne oder nach hinten) schräg oder nicht
schräg
ausgebildet sein. Das Herstellen von Würfeleckenelementen, die in
einem größeren oder
kleineren Maß schräg ausgebildet
sind, wird durch Auslegen der Gestalt der diamantförmigen Vorsprünge und
dann der Ausrichtung der Rillenseitenflächen (g, h, i, j, k, l), derart,
dass sie dem gewünschten
Schrägheitsgrad
entsprechen, realisiert. Wenn eine schräge Ausbildung verwendet wird,
können
derartige zusammenpassende Paare im Einklang mit den im US-Patent
Nr. 4,588,258 (Hoopman), 5,812,315 (Smith et al.) und 5,822,121 (Smith et
al.) besprochenen Grundsätzen
eine erweiterte retroreflektive Winkeligkeit herbeiführen, so
dass ein Gegenstand, welcher die strukturierte Oberfläche aufweist, über einen
erweiterten Bereich von Eintrittswinkeln sichtbar sein wird.
-
Während des
gegenständlichen
Bearbeitungsprozesses trägt
das Zerspanungswerkzeug eine verhältnismäßig große Menge an Material ab, da der
Winkel zwischen der steil geneigten Seitenwand und der nachfolgenden
bearbeiteten Fläche
oft 10 Grad überschreitet,
wobei er typischerweise im Bereich von etwa 10 bis etwa 45 Grad
liegt. Einige der Rillenseitenflächen
können
dann in einem derartigen modifizierten bearbeiteten Substrat durch
Zurücklassen
von mehr Material an den Kavitäten
oder Vorsprüngen
während
eines der beiden oder beiden Bearbeitungsschritten geformt werden,
wodurch die Werkzeugkräfte
reduziert werden, welche nachteilig Verformungen verursachen könnten. Ein
weiterer Vorzug ist ein geringerer Verschleiß des Zerspanungswerkzeugs.
Ein modifiziertes bearbeitetes Substrat kann auch als Vorlage verwendet
werden, anhand welcher zukünftige
Generationen von positiven/negativen Formen hergestellt werden können. Verschiedene
geometrische Konfigurationen für
das modifizierte bearbeitete Substrat werden in der gemeinsam abgetretenen
US-Patentanmeldung mit der Seriennummer 09/515,120 (Aktenzeichen
des Rechtsanwalts: 54222USA1A), die zum selben Datum mit dem vorliegenden
Dokument eingereicht wurde und den Titel Structured Surface Articles
Containing Geometric Structures with Compound Faces and Methods
for Making Same trägt,
offenbart.
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Die
in diesem Dokument offenbarten Würfeleckenelemente
können
individuell ausgestaltet werden, um Licht, welches durch die Gegenstände retroreflektiert
wird, in einem gewünschten
Muster oder Divergenzprofil zu verteilen, wie dies vom US-Patent Nr.
4,775,219 (Appledorn et al.) gelehrt wird. Beispielsweise können zusammengesetzte
Flächen, aus
denen sich die PG-Würfeleckenelemente
zusammensetzen, in einem wiederkehrenden Muster von Ausrichtungen
angeordnet werden, die sich geringfügig, beispielsweise um wenige
Bogenminuten, von der Ausrichtung unterscheiden, welche eine gegenseitige
Orthogonalität
mit den anderen Flächen des
Würfeleckenelements
ergeben würde.
Dies kann durch Bearbeiten von Rillenseitenflächen (sowohl von jenen, die
schließlich
die Flächen
in der fertigen Form unter der Übergangsebene
werden, als auch jene, die Flächen
in der fertigen Form oberhalb der Übergangsebene werden) in Winkeln,
welche sich von jenen, die gegenseitig orthogonale Flächen ergeben
würden,
um ein Maß unterscheiden,
das als „Rillen-Halbwinkelfehler" bekannt ist, realisiert
werden. Typischerweise ist der eingebrachte Rillen-Halbwinkelfehler
kleiner als ±20
Bogenminuten und oftmals kleiner als ±5 Bogenminuten. Eine Reihe
aufeinanderfolgender paralleler Rillenseitenflächen kann ein wiederkehrendes
Muster von Rillen-Halbwinkelfehlern,
beispielsweise abbaabba... oder abcdabcd..., aufweisen, wobei a,
b, c und d eindeutige positive oder negative Werte sind. Bei einer
Ausführungsform kann
das Muster aus Rillen-Halbwinkelfehlern, welche verwendet werden,
um Flächen
in der fertigen Form oberhalb der Übergangsebene zu formen, mit den
Rillen-Halbwinkelfehlern, die verwendet werden, um Flächen in
der fertigen Form unterhalb der Übergangsebene
zu formen, zusammengepasst werden. In diesem Fall sind die Abschnitte
jeder zusammengesetzten Fläche
an dem bearbeiteten Substrat und dem nachgebildeten Substrat im
Wesentlichen winkelig miteinander ausgerichtet. Bei einer anderen Ausführungsform
kann sich das Muster, welches verwendet wird, um einen Satz von
Flächen
zu formen, von dem Muster, das verwendet wird, um den anderen zu
formen, unterscheiden, wohingegen die Flächen unterhalb der Übergangsebene
ein bestimmtes Muster aus Nichtnull-Winkelfehlern einbinden und Flächen oberhalb
der Übergangsebene
im Wesentlichen keine Winkelfehler oder ein anderes Muster aus Nichtnull-Fehlern
einbinden. In diesem letzteren Fall sind die Abschnitte jeder zusammengesetzten
Fläche
an dem bearbeiteten Substrat und dem nachgebildeten Substrat nicht
exakt winkelig miteinander ausgerichtet.
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Vorteilhafterweise
können
derartige Substrate als Muttersubstrat dienen, anhand welchem künftige Generationen
positiver/negativer Formen hergestellt werden können, wobei alle von oben gesehen dieselbe
allgemeine Gestalt von Würfeleckenelement,
jedoch geringfügig
verschiedene Flächenkonfigurationen
aufweisen. Eine derartige Tochterform kann Würfeleckenelemente einbinden,
welche jeweils zusammengesetzte Flächen aufweisen, deren konstituierende
Flächen
ausgerichtet sind, wobei die zusammengesetzten Flächen allesamt
gegenseitig senkrecht auf die verbleibenden Flächen des Winkeleckenelements
sind. Eine andere derartige Tochterform kann Würfeleckenelemente einbinden,
die ebenfalls zusammengesetzte Flächen aufweisen, deren konstituierende
Flächen
ausgerichtet sind, wobei die zusammengesetzten Flächen jedoch
von der Orthogonalität
mit verbleibenden Flächen
des Würfeleckenelements
abweichen können.
Noch eine andere derartige Tochterform kann Würfeleckenelemente einbinden,
die zusammengesetzte Flächen
aufweisen, deren konstituierende Flächen nicht ausgerichtet sind.
Alle derartigen Tochterformen können
anhand einer einzigen Mutterform bei Abtragen einer minimalen Menge
an Material durch Bearbeitung hergestellt werden.
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Die
Arbeitsoberfläche
der Formsubstrate kann jedwede geeigneten physischen Abmessungen aufweisen,
wobei zu den Auswahlkriterien die gewünschte Größe der endgültigen Formoberfläche und
die winkelige und translatorische Präzision der Maschinen, die zum
spanabhebenden Bearbeiten der Rillenoberflächen verwendet werden, gehören. Die
Arbeitsoberfläche
weist eine Mindestquerabmessung auf, die größer als zwei Würfeleckenelemente ist,
wobei jedes Würfeleckenelement
eine Querabmessung und/oder Würfelhöhe aufweist,
die vorzugsweise im Bereich von etwa 25 μm bis etwa 1 mm und insbesondere
im Bereich von etwa 25 μm
bis etwa 0,25 mm liegt. Die Arbeitsoberfläche ist typischerweise ein
Quadrat mit mehreren Inch je Seite, wobei vier Inch (10 cm) der
Standard sind. Kleinere Abmessungen können verwendet werden, um Rillen einfacher
in Passgenauigkeit mit geformten Oberflächen über die gesamte strukturierte
Oberfläche
zu schneiden. Die Substratdicke kann im Bereich von etwa 0,5 bis
etwa 2,5 mm liegen. (Die in diesem Dokument angeführten Abmessungen
werden lediglich zu veranschaulichenden Zwecken bereitgestellt und sind
nicht als einschränkend
zu verstehen.) Ein dünnes
Substrat kann an einer dickeren Basis angebracht werden, um für Steifigkeit
zu sorgen. Mehrere fertige Formen können miteinander, z.B. durch
Verschweißen,
in bekannten Kachelanordnungen kombiniert werden, um eine große gekachelte
Form zu ergeben, welche dann verwendet werden kann, um gekachelte
retroreflektive Produkte zu erzeugen.
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Bei
der Herstellung von retroreflektiven Produkten, beispielsweise von
retroreflektiven Folien, wird die strukturierte Oberfläche des
bearbeiteten Substrats als Mutterform verwendet, welche anhand von
Elektroplattiermethoden oder anderen herkömmlichen Nachbildungstechnologien
nachgebildet werden kann. Die strukturierte Oberfläche kann
im Wesentlichen identische Würfeleckenelemente
aufweisen oder kann Würfeleckenelemente
von unterschiedlicher Größe, Geometrie
oder Ausrichtung aufweisen. Die strukturierte Oberfläche der
Nachbildung, welche bisweilen im Fachjargon als ,Stampfer' bezeichnet wird,
enthält
ein negatives Bild der Würfeleckenelemente.
Diese Nachbildung kann als Form zum Formen eines retroreflektiven
Gegenstandes verwendet werden. Häufiger
jedoch wird eine große Anzahl
geeigneter Nachbildungen Seite an Seite zusammengesetzt, um eine
gekachelte Form zu bilden, die groß genug ist, um beim Formen
von gekachelten retroreflektiven Folien von Nutzen zu sein. Retroflektive
Folien können
dann als einstückiges
Material, z.B. durch Prägen
einer vorgeformten Folie mit einer Anordnung von Würfeleckenelementen,
wie oben beschrieben wurde, oder durch Gießen eines flüssigen Materials
in eine Form, hergestellt werden. Siehe
JP 8-309851 und
US-Patent Nr. 4,601,861 (Pricone). Alternativ dazu können die
retroreflektiven Folien als geschichtetes Produkt durch Gießen der
Würfeleckenelemente
gegen einen vorgeformten Film, wie in der PCT-Anmeldung Nr. WO 95/11464 (Benson, Jr. et
al.) und dem US-Pat. Nr. 3,684,348 (Rowland) gelehrt wird, oder
durch Laminieren eines vorgeformten Films an vorgeformte Würfeleckenelemente
hergestellt werden. Zum Beispiel können derartige Folien mittels
einer Nickelform hergestellt werden, die durch elektrolytische Abscheidung
von Nickel auf eine Mutterform geformt wird. Die durch Elektroplattieren
hergestellte Form kann als Stampfer verwendet werden, um das Muster
der Form auf einen Polycarbonatfilm aufzuprägen, der etwa 500 μm dick ist
und einen Brechungsindex von etwa 1,59 aufweist. Die Form kann in
einer Presse verwendet werden, wobei das Pressen bei einer Temperatur
von etwa 175° bis
etwa 200°C
durchgeführt
wird.
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Die
verschiedenen oben besprochenen Formsubstrate können im Allgemeinen in zwei
Gruppen eingeteilt werden: nachgebildete Substrate, welche mindestens
einen Teil ihrer strukturierten Oberfläche durch Nachbildung von einem
vorhergehenden Substrat erhalten, und Massensubstrate, welche dies
nicht tun. Geeignete Materialien zur Verwendung bei Massenformsubstraten
sind einschlägig versierten
Fachleuten bestens bekannt und umfassen im Allgemeinen jedwedes
Material, das sauber, ohne die Bildung von Graten bearbeitet werden
kann und das nach dem Formen von Rillen seine Maßhaltigkeit behält. Eine
Vielfalt von Materialien, beispielsweise bearbeitbare Kunststoffe
oder Metalle, kann verwendet werden. Acryl ist ein Beispiel für ein Kunststoffmaterial;
Aluminium, Messing, außenstromloser
Nickel und Kupfer sind Beispiele für verwendbare Metalle.
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Geeignete
Materialien zur Verwendung bei nachgebildeten Formsubstraten, die
nicht nachfolgend bearbeitet werden, sind einschlägig versierten Fachleuten
bestens bekannt und umfassen eine Vielfalt von Materialien, beispielsweise
Kunststoffe oder Metalle, welche eine zuverlässige Genauigkeit in Bezug
auf die vorangehende strukturierte Oberfläche aufrechterhalten. Wärmegeprägte oder
gegossene Kunststoffe wie Acryl oder Polycarbonat können verwendet
werden. Metalle wie Elektrolytnickel oder -nickellegierungen sind
ebenfalls geeignet.
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Geeignete
Materialien zur Verwendung bei nachgebildeten Formsubstraten, deren
strukturierte Oberfläche
nachfolgend bearbeitet wird, sind einschlägig versierten Fachleuten ebenfalls
bestens bekannt. Derartige Materialien sollten physikalische Eigenschaften
wie geringe Schrumpfung oder Ausdehnung, geringe Spannung und so
weiter aufweisen, welche sowohl die zuverlässige Genauigkeit in Bezug
auf die vorangehende strukturierte Oberfläche gewährleisten als auch derartige
Materialien zur Bearbeitung mit Diamanten geeignet machen. Ein Kunststoff
wie Acryl (PMMA) oder Polycarbonat kann durch Wärmeprägen nachgebildet und dann in
weiterer Folge mit Diamanten bearbeitet werden. Zu geeigneten harten
oder weichen Metallen gehören
elektrolytisch abgeschiedenes Kupfer, außenstromloser Nickel, Aluminium
oder Zusammensetzungen davon.
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In
Bezug auf retroreflektive Folien, die direkt oder indirekt anhand
derartiger Formen hergestellt werden, sind zweckmäßige Folienmaterialien
vorzugsweise Materialien, die maßhaltig, dauerhaft, witterungsbeständig sind
und problemlos zu der gewünschten
Konfiguration geformt werden können.
Zu Beispielen für geeignete
Materialien zählen
Acrylmaterialien, die im Allgemeinen einen Brechungsindex von etwa
1,5 aufweisen, beispielsweise Plexiglas-Harz von Rohm und Haas;
warmhärtbare Acrylate
und Epoxidharzacrylate, vorzugsweise strahlungsgehärtet, Polycarbonate,
die einen Brechungsindex von etwa 1,6 aufweisen; Polyethylen-basierte
Ionomere (vertrieben unter dem Namen ,SURLYN'); Polyester; und Celluloseacetatbutyrate. Im
Allgemeinen kann jedwedes optisch transmissive Material, welches
formbar ist, typischerweise unter Wärme und Druck, verwendet werden.
Andere geeignete Materialien zum Formen von retroflektiven Folien
sind im US-Pat. Nr. 5,450,235 (Smith et al.) offenbart. Die Folien
können
auch Farbmittel, Farbstoffe, UV-Absorber oder je nach Bedarf andere
Additive aufweisen.
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In
manchen Situationen ist es erstrebenswert, retroreflektive Folien
mit einer Trägerschicht
zu versehen. Eine Trägerschicht
ist besonders für
retroreflektive Folien zweckmäßig, welche
Licht gemäß den Grundsätzen der
totalen internen Reflexion reflektieren. Eine geeignete Trägerschicht
kann aus einem beliebigen transparenten oder undurchsichtigen Material,
einschließlich
gefärbten
Materialien, hergestellt sein, welche mit den offenbarten retroreflektiven Folien
wirksam in Eingriff gebracht werden können. Zu geeigneten Trägermaterialien
gehören
Aluminiumfolien, verzinkter Stahl, Polymermaterialien wie Polymethylmethacrylate,
Polyester, Polyamide, Polyvinylfluoride, Polycarbonate, Polyvinylchloride,
Polyurethane und eine breite Vielfalt von Laminaten, welche aus
diesen und anderen Materialien hergestellt werden.
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Die
Trägerschicht
oder -folie kann in einem Gittermuster oder einer beliebigen anderen
Konfiguration, die für
die reflektierenden Elemente geeignet ist, gesiegelt werden. Das
Siegeln kann durch Verwendung einer Anzahl von Verfahren, zu denen
Ultraschallsiegeln, Klebstoffe gehören, oder durch Heißsiegeln
an getrennten Orten an den Anordnungen von reflektierenden Elementen
(siehe z.B. US-Pat. Nr. 3,924,928) realisiert werden. Siegeln ist erstrebenswert,
um den Eintreten von Verunreinigungen wie Schmutz und/oder Feuchtigkeit
zu verhindern und um den reflektierenden Oberflächen der Würfeleckenelemente benachbart
Leerräume
aufrechtzuerhalten.
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Falls
zusätzliche
Festigkeit oder Zähigkeit
in der Zusammensetzung erforderlich ist, können Trägerfolien aus Polycarbonat,
Polybutyrat oder faserverstärktem
Kunststoff verwendet werden. Je nach dem Flexibilitätsgrad des
resultierenden retroreflektiven Materials kann das Material gerollt
oder in Streifen oder andere geeignete Formen geschnitten werden.
Das retroreflektive Material kann auch mit einem Klebstoff und einer
Trennfolie verstärkt
werden, um es zur Anbringung auf jedwedem Substrat ohne den zusätzlichen
Schritt des Aufbringens eines Klebstoffs oder der Verwendung von
anderen Befestigungsmitteln geeignet zu machen.
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GLOSSAR MIT
AUSGEWÄHLTEN
BEGRIFFEN
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Eine „Anordnung
aus benachbarten Würfeleckenelementen" bezeichnet ein bestimmtes
Würfeleckenelement
gemeinsam mit allen daran angrenzenden, benachbarten Würfeleckenelementen.
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„Zusammengesetzte
Fläche" bezeichnet eine
Fläche,
die sich aus mindestens zwei unterscheidbaren Flächen (die als „konstituierende
Flächen" bezeichnet werden)
zusammensetzt, welche einander benachbart angeordnet sind. Die konstituierenden
Flächen
sind im Wesentlichen miteinander ausgerichtet, können jedoch in verhältnismäßig kleinen
Ausmaßen
(weniger als etwa 10 Bogengrad und vorzugsweise weniger als etwa
1 Bogengrad) translatorisch und/oder rotatorisch in Bezug zueinander versetzt
sein, um gewünschte
optische Effekte zu erzielen, wie in diesem Dokument beschrieben
wird.
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„Zusammengesetztes
Substrat" bezeichnet ein
Substrat, das aus einem bearbeiteten Substrat, welches eine strukturierte
Oberfläche
aufweist, und einem nachgebildeten Substrat (gemeinsam als „Schichten" bezeichnet), welches
entlang mindestens einem Abschnitt der Grenzfläche mit dem bearbeiteten Substrat
verbunden ist, gebildet ist. Eine oder mehrere der Schichten des
zusammengesetzten Substrats können
diskontinuierlich sein.
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„Würfeleckenkavität" bezeichnet eine
Kavität,
die mindestens zum Teil durch drei Flächen begrenzt wird, die als
Würfeleckenelement
angeordnet sind.
-
„Würfeleckenelement" bezeichnet einen Satz
von drei Flächen,
die zusammenwirken, um Licht zu retroreflektieren oder Licht auf
andere Weise zu einem gewünschten
Ort zu lenken. Einige oder alle der drei Flächen können zusammengesetzte Flächen sein. „Würfeleckenelement" bezeichnet auch
einen Satz von drei Flächen,
der selbst Licht nicht retroreflektiert noch Licht auf andere Weise
zu einem gewünschten
Ort lenkt, der jedoch, wenn er in ein geeignetes Substrat kopiert
wird (entweder in einem positiven oder negativen Sinn), einen Satz
von drei Flächen
bildet, der Licht retroreflektiert oder Licht auf andere Weise zu
einem gewünschten
Ort lenkt.
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„Würfeleckenpyramide" bezeichnet eine Masse
aus Material, welche mindestens drei Seitenflächen aufweist, die als Würfeleckenelement
angeordnet sind.
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„Würfelhöhe" bezeichnet in Bezug
auf ein Würfeleckenelement,
das an einem Substrat geformt oder formbar ist, die maximale Trennung
entlang einer Achse, welche senkrecht auf das Substrat verläuft, zwischen
Abschnitten des Würfeleckenelements.
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„Von zwei
Flächen
begrenzte Kante" eines Würfeleckenelements
ist eine Kante von einer der drei Flächen des Würfeleckenelements, welche an eine
der beiden anderen Flächen
desselben Würfeleckenelements
angrenzt. Zu beachten ist, dass jedwede bestimmte Kante an einer
strukturierten Oberfläche
eine von zwei Flächen
begrenzte Kante sein kann oder nicht, je nachdem, welches Würfeleckenelement
betrachtet wird.
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„Direktbearbeitung" bezeichnet das Formen von
einer oder mehrerer Rillenseitenflächen in der Ebene eines Substrats,
typischerweise durch Ziehen eines Zerspanungswerkzeugs entlang einer
Achse im Wesentlichen parallel zu der Ebene des Substrats.
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„Fläche" bezeichnet eine
im Wesentlichen glatte Oberfläche.
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„Geometrische
Struktur" bezeichnet
einen Vorsprung oder eine Kavität
mit mehreren Flächen.
-
„Rille" bezeichnet eine
Kavität,
welche sich entlang einer Rillenachse erstreckt und mindestens zum
Teil durch zwei gegenüberliegende
Rillenseitenflächen
begrenzt ist.
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„Rillenseitenfläche" bezeichnet eine
Oberfläche
oder eine Reihe von Oberflächen,
die in der Lage sind, durch Ziehen eines oder mehrerer Zerspanungswerkzeuge über ein
Substrat in einer im Wesentlichen kontinuierlichen linearen Bewegung
geformt zu werden. Zu einer derartigen Bewegung gehören Fly-Cutting-Methoden,
bei denen das Zerspanungswerkzeug eine Drehbewegung aufweist, während es
sich einen im Wesentlichen linearen Weg vorwärtsbewegt.
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„Nicht
von zwei Flächen
begrenzte Kante" eines
Würfeleckenelements
bezeichnet eine Kante von einer der drei Flächen des Würfeleckenelements, welche keine
von zwei Flächen
begrenzte Kante eines derartigen Würfeleckenelements ist. Zu beachten
ist, dass jedwede bestimmte Kante an einer strukturierten Oberfläche eine
nicht von zwei Flächen
begrenzte Kante sein kann oder nicht, je nachdem, welches Würfeleckenelement
betrachtet wird.
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„PG-Würfeleckenelement" steht für Würfeleckenelement
mit „bevorzugter
Geometrie" und wird im
Zusammenhang mit einer strukturierten Oberfläche von Würfeleckenelementen definiert,
welche sich eine Bezugsebene entlang erstreckt. Für die Zwecke dieser
Anmeldung bezeichnet ein PG-Würfeleckenelement
ein Würfeleckenelement,
welches mindestens eine nicht von zwei Flächen begrenzte Kante aufweist,
die: (1) nicht parallel zu der Bezugsebene verläuft; und (2) im Wesentlichen
parallel zu einer benachbarten nicht von zwei Flächen begrenzten Kante eines
benachbarten Würfeleckenelements
verläuft. Ein
Würfeleckenelement,
dessen drei reflektierende Flächen
allesamt Rechtecke (Quadrate eingeschlossen) sind, ist ein Beispiel
für ein
PG-Würfeleckenelement.
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„Vorsprung" hat eine breite
gewöhnliche
Bedeutung und kann eine Pyramide umfassen.
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„Pyramide" bezeichnet einen
Vorsprung, der drei oder mehr Seitenflächen aufweist, welche an einer
Spitze zusammentreffen, und kann einen Stumpf aufweisen.
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„Bezugsebene" bezeichnet eine
Ebene oder andere Oberfläche,
welche einer Ebene in der Nähe einer
Gruppe aus benachbarten Würfeleckenelementen
oder anderen geometrischen Strukturen in etwa entspricht, wobei
die Würfeleckenelemente oder
geometrischen Strukturen entlang der Ebene angeordnet sind.
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„Retroreflektiv" bedeutet die Eigenschaft
aufzuweisen, dass schräg
einfallendes Licht in eine Richtung reflektiert wird, die antiparallel
zu der Einfallsrichtung verläuft
oder nahezu so, derart, dass ein Betrachter an oder nahe der Lichtquelle
das reflektierte Licht wahrnehmen kann.
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„Strukturiert" bezeichnet bei Verwendung
in Zusammenhang mit einer Oberfläche
eine Oberfläche,
die mehrere getrennte Flächen
aufweist, welche in verschiedenen Ausrichtungen angeordnet sind.
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„Symmetrieachse" bezeichnet bei Verwendung
in Zusammenhang mit einem Würfeleckenelement
den Vektor, der an der Würfeleckenspitze
seinen Ursprung hat und einen gleichen spitzen Winkel mit den drei
Flächen
des Würfeleckenelements
bildet. Sie wird mitunter auch als optische Achse des Würfeleckenelements
bezeichnet.
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„Übergangslinie" bezeichnet eine
Linie oder ein anderes längliches
Merkmal, welches konstituierende Flächen einer zusammengesetzten
Fläche trennt.
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„Abfallstücke" bezeichnet Abschnitte
des zusammengesetzten Substrats, die bei Verwendung der vorliegenden
Herstellungsverfahren wegfallen.
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Alle
Patente und Patentanmeldungen, auf die in diesem Dokument Bezug
genommen wird, werden diesem durch Bezugnahme einverleibt.