DE563428C - Verfahren zum Untersuchen von akustischen Flaechenstrahlern, insbesondere Geigen u. dgl. - Google Patents
Verfahren zum Untersuchen von akustischen Flaechenstrahlern, insbesondere Geigen u. dgl.Info
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- DE563428C DE563428C DES88340D DES0088340D DE563428C DE 563428 C DE563428 C DE 563428C DE S88340 D DES88340 D DE S88340D DE S0088340 D DES0088340 D DE S0088340D DE 563428 C DE563428 C DE 563428C
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01H—MEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
- G01H11/00—Measuring mechanical vibrations or ultrasonic, sonic or infrasonic waves by detecting changes in electric or magnetic properties
- G01H11/06—Measuring mechanical vibrations or ultrasonic, sonic or infrasonic waves by detecting changes in electric or magnetic properties by electric means
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- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Description
- Verfahren zum Untersuchen von akustischen Flächenstrahlern, insbesondere Geigen u. dgl. Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Untersuchen von akustischen Flächenstrahlern, insbesondere Geigen u. dgl. Nach der Erfindung wird die Schwingungsform des Flächenstrahlers bestimmt, und zwar dadurch, daß der Strahler mit einem kondensatorähnlichen Meßgerät von wesentlich kleineren Abmessungen abgetastet urd aus der Gesamtheit der auf diese Weise ermittelten Meßwerte auf die Schwingungsform des Gesamtstrahlers geschlossen wird. Die Erforschung der Schwingungsform ist besonders bei Geigen von Bedeutung, da man aus ihr Schlüsse auf die Güte der Geigen ziehen und auf Grund der Schwingungsform anerkannt guter Geigen Gesichtspunkte für die Konstruktion neuer Geigen gewinnen kann. Auch beim Lautsprecherbau ist es wesentlich, Beschlüsse über die Schwingungsform zu erhalten, um unerwünschte Schwingungen der Membran zu unterdrücken.
- Die Ermittlung der Schwingungsform von Flächenstrahlern durch Messung der Größe der Bewegung einzelner Flächenelemente bzw. der durch diese Messung hervorgerufenen Kapazitätsänderung kann mit Hilfe eines Meßgerätes vorgenommen werden, wie es beispielsweise auf der Zeichnung dargestellt ist.
- Der Flächenstrahler i ist auf der Zeichnung schematisch angedeutet: Das Meßgerät enthält zwei zueinander konzentrische Metallstücke 3 und ¢, die an einen! Isolierkörper 5 befestigt sind, der die Anschlußklemmen 6 und 7 trägt. Die den Anschlußklemmen entgegengesetzt liegenden Flächen der Metallstücke 3 und r1 bilden Kondensatorbeläge, deren gegenseitiger Abstand eindeutig festgelegt ist. Der Abstand zwischen den Körpern 3 und ¢ wird zweckmäßig mit Rücksicht auf eine gute Meßgenauigkeit möglichst gering gewählt. Die Elektroden können auch anders geformt und auch anders, z. B. nichtkonzentrisch, angeordnet sein.
- Beim Messen wird entweder das Meßgerät in einem konstanten Abstand über dem Flächenstrahler bewegt oder der Flächenstrahler wird, wie es der Pfeil z andeutet, z. B. durch Anwendung einer Einstellschraube an dem ortsfest angeordneten M eßgerät vorbeibewegt. Der Flächenstrahler kann gegebenenfalls mit einem leitenden Metallbelag versehen sein.
- Zum Messen und Aufzeichnen der Kapazitätsänderungen kann man fast alle bereits bekannten Schaltungen zum Aufzeichnen von Kapazitätsänderungen benutzen. Besonders eignen sich Schaltungen, wie sie für Kondensatormikrophone vorgeschlagen worden sind, z. B. Schaltungen, bei welchen durch den zu messenden Kondensator die 'Abstimmung zwischen einem Schwingungskreis und einem Hochfrequenzstrom geändert wird. Zur Erhöhung der Empfindlichkeit kann man auch die an dich bekannte Schwebungsmethode ausnutzen.
Claims (3)
- PATENTANSPRÜCHE: I. Verfahren zum Untersuchen 'von akustischen Flächenstrahlein, insbesondere Geigen u. dgl., dadurch gekennzeichnet, daß die Schwingungsform des Flächenstrahlers durch Abtasten- des Strahlers mit einem Meßgerät von wesentlich kleineren Abmessungen ermittelt wird, welches eine oder mehrere Kondensatorbelegungen enthält, zu denen der gegebenenfalls mit einem Metallbelag versehene Flächenstrahler eine weitere Belegung bildet, derart, daß aus der Gesamtheit der einzelnen durch die Bewegung des dem Meßgerät jeweils benachbarten Flächenelements hervorgerufenen Kapazitätsänderungen die Schwingungsform des Gesamtstrahlers bestimmt wird.
- 2. Verfahren nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß die Kapazitätsänderung zwischen dem Flächenstrahler und zwei voneinander isolierten, miteinander fest verbundenen Kondensatorbelegungen ermittelt wird, die mit den beiden Zuleitungen des Meßstromes verbunden sind.
- 3. Meßgerät für das Verfahren nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch zwei konzentrische, voneinander isolierte Metallringe, die an einem die Anschlußklemme tragenden Isolierkörper befestigt sind und deren als Kondensatorbeläge wirkende Flächen in der gleichen Ebene liegen.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DES88340D DE563428C (de) | 1928-11-08 | 1928-11-08 | Verfahren zum Untersuchen von akustischen Flaechenstrahlern, insbesondere Geigen u. dgl. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DES88340D DE563428C (de) | 1928-11-08 | 1928-11-08 | Verfahren zum Untersuchen von akustischen Flaechenstrahlern, insbesondere Geigen u. dgl. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE563428C true DE563428C (de) | 1932-11-04 |
Family
ID=7514391
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DES88340D Expired DE563428C (de) | 1928-11-08 | 1928-11-08 | Verfahren zum Untersuchen von akustischen Flaechenstrahlern, insbesondere Geigen u. dgl. |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE563428C (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0023732A1 (de) * | 1979-07-17 | 1981-02-11 | Willem Christiaan Heerens | Kapazitive Sonde |
-
1928
- 1928-11-08 DE DES88340D patent/DE563428C/de not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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EP0023732A1 (de) * | 1979-07-17 | 1981-02-11 | Willem Christiaan Heerens | Kapazitive Sonde |
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