DE496567C - Verfahren zur qualitativen und quantitativen Analyse von Stoffen durch Strahlung - Google Patents

Verfahren zur qualitativen und quantitativen Analyse von Stoffen durch Strahlung

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DE496567C DEM94937D DEM0094937D DE496567C DE 496567 C DE496567 C DE 496567C DE M94937 D DEM94937 D DE M94937D DE M0094937 D DEM0094937 D DE M0094937D DE 496567 C DE496567 C DE 496567C
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    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • GPHYSICS
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Description

  • Verfahren zur qualitativen und quantitativen Analyse von Stoffen durch Strahlung Die Erfindung betrifft .eine weitere Ausgestaltttng und Verfeinerung des -'erfrahrens zur qualitativen und quantitativen Stoffanalyse durch Strahlung nach .der Patentschrift 3(7 70c). Der diesem Verfahren zugrunde liegende Effekt hängt in seiner Größe von der C>berfläche des in der Ionisationskammer zu untersuchenden Probestückes ab. Die Erfin-{1ung gebt nun darauf aus, die Oberfläche des zu untersuchenden Stoffes zu vergrößern. Zu diesem Zweck wird das Probestück nicht in kompakter Form benutzt, sondern in seiner Gesamtmasse vielfach unterteilt. Diese Unterteilung kann auf v erschieidene Weise erfolgen, beispielsweise dadurch, daß das zu unter--hende Stück die Form eines Netzes oder , -ur Siebes erhält. Je nach der Maschenweite des etzes o.rler durch spiralzcliii.drische Anordnung des Siebes kann man eine außerordentliche Oberflächenvergrößerung erzielen. Ein anderer Weg ist der, daß der zu untersuchende Stoff in fein gepulverter Form auf ein Netz oder Sieb aufgebracht wird. Das Pulver kann man auch auf irgendeine geeignetv Unterlage, z. B. einen gegebenenfalls eingerollten Papierstreifen o. dgl., auftragen. Es ist. bekannt, in eine Ionisationskammer Stotte mit großer Oberfläche einzubringen, um :dadurch die Möglichkeit zu haben, durch die photoelektrische Steigerung der Ionisationswirkung die schwachen Strahlen zii registrieren: die Stoffe werden hierbei ebenfalls, z. B. in fein verteilter Form, auf ein Papierband aufgebracht. Jedoch hat die vorliegende Erfindung mit @d.iesem Verfahren nichts zu tun. Bei der vorliegenden Erfindung wird zur Steigerung des Effektes kein neuer Stoff in der Ionisationskanmer eingebracht, sondern zweckgemäß -die Anordnung des zu untersuchenden Stoffes so getroffen, daß durch id.iedabei erzielte Vergrößerung seiner Oberfläche das für den Erfolg der Analyse maßgebende Verhältnis der Ionisation durch die charakteristische Elektronenemission zur Ionisation durch die Primärstrahlung stark vergrößert wird.
  • Durch .die Erfindung wird nicht nur der Effekt um ein Vielfaches vergrößert, weil,die durch die Röntgenstrahlen ausgelöste charakteristische Elektronenemission entsprechend der vergrößerten Oberfläche ides Stoffes zunimmt und die Messung mit einem einfacheren (unempfindlicheren) Instrument ermÖglicht, sondern es wird auch die Analyse der Stoffe, .die von vornherein nicht in Form großer Stücke vorhanden sind, wesentlich erleichtert. Die Ausgestaltung der Ionisationskammer und .der übrigen Apparatur vereinfacht sich -dementsprechend.

Claims (3)

  1. PATENTANSPRÜCHE: r. Verfahren zur qualitativen und quantitativen Analyse von Stoffen durch Strahlung mit Hilfe der _durch die Strahlung ausgelösten charalcteristischen Elektronenemission, dadurch gekennzeichnet, daß der zu untersuchende Stoff in der Ionisationskammer in einer solchen Form angeordnet wird, daß das Verhältnis der Ionisation durch die charakteristische Elektronenemission zur Luftionisation durch Primärstrahlung stark gegenüber einem Körper in kompakter Form vergrößert ist. -
  2. 2. Verfahren nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, @daß eine Ionisationskaminer verwendet wird, in der das Verhältnis der Ionisation :durch die charakteristische Elektronenemission zur Luftionisation durch die an sich bekannte Oberflächenvergräßerung des in der Kammer eingebrachten, von .der Strahlung getroffenen Stoffes stark vergrößert ist.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch i, -dadurch gekennzeichnet, daß der zu untersuchende Stoff in Form eines Netzes oder Siebes verwendet wird. q.. Verfahren nach Anspruch i, @dadurch gekennzeichnet, daß der zu untersuchende Stoff in fein gepulverter Form auf ein Netz, Sieb oder eine andere Unterlage (z. B. Papierstreifen) aufgebracht wird.
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