DE4401782C2 - Verfahren zur Herstellung eines lokal flachen Emitters zwischen den Kontaktfingern einer Solarzelle - Google Patents
Verfahren zur Herstellung eines lokal flachen Emitters zwischen den Kontaktfingern einer SolarzelleInfo
- Publication number
- DE4401782C2 DE4401782C2 DE4401782A DE4401782A DE4401782C2 DE 4401782 C2 DE4401782 C2 DE 4401782C2 DE 4401782 A DE4401782 A DE 4401782A DE 4401782 A DE4401782 A DE 4401782A DE 4401782 C2 DE4401782 C2 DE 4401782C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- solar cell
- etching
- contact
- screen printing
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 29
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 24
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 14
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 claims description 11
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000010923 batch production Methods 0.000 claims description 2
- 238000007639 printing Methods 0.000 claims description 2
- 238000009987 spinning Methods 0.000 claims description 2
- 238000003756 stirring Methods 0.000 claims description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical group [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 claims 1
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 8
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 235000011118 potassium hydroxide Nutrition 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004821 Contact adhesive Substances 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 239000003518 caustics Substances 0.000 description 1
- 230000002328 demineralizing effect Effects 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000012047 saturated solution Substances 0.000 description 1
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0216—Coatings
- H01L31/02161—Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/02167—Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
- H01L31/02168—Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells the coatings being antireflective or having enhancing optical properties for the solar cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/1804—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof comprising only elements of Group IV of the Periodic Table
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/547—Monocrystalline silicon PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Sustainable Development (AREA)
- Sustainable Energy (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung eines lokal flachen Emitters zwischen
den Kontaktfingern einer durch Siebdruck oder Schablonendruck hergestellten Vorderseiten
kontaktierung einer Solarzelle auf monokristalliner Basis vor dem Aufbringen einer gegebe
nenfalls erforderlichen Antireflex-Schicht.
Es ist bekannt, dass der Emitter einer Solarzelle für die Applizierung eines Siebdruckkon
taktes in seinem Schichtwiderstand wesentlich geringer ist als der Emitter einer Solarzelle mit
aufgedampfter Vorderseitenkontaktierung. Eine Solarzelle mit Siebdruck-Vorderseitenkontakt
weist gegenüber derjenigen mit aufgedampftem Vorderseitenkontakt des tieferen Emitters eine
deutlich geringere Blauempfindlichkeit auf, was zu einem reduzierten Wirkungsgrad führt.
Ein Verfahren der eingangs beschriebenen Art ist aus JP 05-226677 A (Zusammenfassung)
bekannt. Nach Aufbringen einer Oberflächenelektrode mittels eines Siebdrucksverfahrens auf
einer Halbleiterschicht einer Solarzelle wird die Halbleiterschicht mittels eines Ätzverfahrens
in einer Dicke von 0,2 bis 0,4 µm entfernt. Die Ätzung kann mittels einer Säure oder einer
Base durchgeführt werden.
Aus Szlufcik et al "Simple integral screenprinting process for selective ermitter polycrystalli
ne solar cells", in Appl. Phys. Lett. 59 (1991), S. 1583-1584, ist ein Herstellungsprocess zur
Verbesserung der Blauempfindlichkeit einer Solarzelle auf Basis eines polykristallinen
Siliziums beschrieben. Als Ätzlösung wird eine Flusssäure-Lösung vorgeschlagen, um
Bereiche zwischen Metallkontakten zurückzuätzen.
Aus DE 16 14 393 A1 ist ein Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung mit einem
oder mehreren aktiven Einheiten, die von einem Halbleiterkörper getragen werden, bekannt.
Zum Rückätzen eines polykristallinen Siliziummaterials wird angegeben, das zu ätzende
Material in kochendem Wasser zu erwärmen und es auf die Temperautr der Ätzlösung
vorzuwärmen, die etwa 115°C beträgt. Als Ätzlösung wird eine gesättigte Lösung von NaOH
in Wasser angegeben, wobei der Gehalt an NaOH wenigstens 25 und vorzugsweise 23%
betragen soll.
Aus US 4,137,123 ist ein Verfahren zur Strukturätzung von Silizium bekannt, wobei ein
anisotropes Ätzmittel mit Bestandteilen von 0,05 bis 10 Gew.-% Silizium, verwendet wird.
Alternativ wird vorgeschlagen, dass ein Ätzmittel auch 0 bis 50 Vol.% Äthylenglykol sowie
0,05 bis 50 Gew.-% Kalium-Hydroxid aufweisen kann.
Weiterhin ist aus Findler et al. "Temporal Evolution of Silicon Surface Roughness During
Anisotropic Etching Process", IEEE, 1992, S. 62-66, bekannt, bei einem anisotropen Ätzver
fahren zur Herstellung einer Rauhheit auf einer Siliziumoberfläche eine Kalilauge im Bereich
von 25 bis 45% bei einer Temperatur von 60°C bis 80°C zu verwenden.
Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zu Grunde, ein einfaches und kostengünstiges Verfahren
zur Erzeugung eines lokal flachen Emitters zwischen den Kontaktfingern einer durch Sieb
druck hergestellten Vorderseitenkontaktierung einer Solarzelle zu schaffen.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß durch folgende Verfahrensschritte gelöst:
- a) die fertig kontaktierte Solarzelle ohne Antireflex-Schicht wird in einem demineralisier tes Wasser enthaltenden beheizbaren Becken vorgewärmt,
- b) in einer bewegten basischen Ätzlösung aus einer 1 bis 10%igen Kalium-Hydroxidlö sung wird bei einer Temperatur im Bereich von 50 bis 85°C die Oberfläche der Emitterschicht zwischen den Kontaktfingern mit Protektionsschicht gleichmäßig abgetragen, so dass unter der gesamten Kontaktfläche des Kontaktes die Emitter schicht erhalten bleibt,
- c) dann wird die überätzte Solarzelle in einem demineralisierendes Wasser enthaltenden Becken gespült und
- d) abschließend wird die Solarzelle getrocknet.
Vorteilhafterweise erhält man bei einer in Abängigkeit vom Solarzellentyp und von den
Ätzparametern durchgeführten optimalen Ätzung eine wesentliche Verbesserung der Blauem
pfindlichkeit der Solarzelle, welche zu einer Erhöhung des Wirkungsgrades der Solarzelle
führt. Dieses wird durch die nachstehend aufgeführten Meßergebnisse von Solarzellen mit und
ohne Rückätzung der Solarzellen in einer schwachen Kalilauge belegt.
Ausgestaltungen des erfindungsgemäßen Verfahrens sind in den Unteransprüchen beschrieben.
In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel einer nach dem erfindungsgemäßen Verfahren
hergestellten Solarzelle dargestellt, und zwar zeigen:
Fig. 1 eine Solarzelle ohne Antireflex-Schicht,
Fig. 2 eine Solarzelle mit einer rückgeätzten Schicht zwischen den Kontaktfingern
der durch Siebdruck hergestellten Vorderseitenkontaktierung und
Fig. 3 eine fertige Solarzelle mit Antireflex-Schicht.
Die Solarzelle 10 gemäß Fig. 1 enthält einen n+-Emitter 1, eine p-Basis 2, einen beispiels
weise durch Siebdruck hergestellten Rückseitenkontakt 3 und einen mehrere Kontaktfinger
aufweisenden Vorderseitenkontakt 4. Weiterhin sind Protektionsschichten 7 und 8 auf dem
Vorderseitenkontakt 4 bzw. Rückseitenkontakt 3 vorgesehen.
Die fertig kontaktierte Solarzelle 10 ohne Antireflex-Schicht aus Fig. 1 wird in einem
demineralisiertes Wasser enthaltenden Bad vorgewärmt. Anschließend wird die Solarzelle 10
in ein Ätzbad in schwacher Kalilauge (Kalium-Hydroxyd) eingebracht, wo bei einer Tempera
tur von etwa 50 bis 80°C für eine von der vorliegenden Ätzzeit von beispielsweise 10 bis 30
Minuten die Vorderseiten der Solarzelle 10 zwischen den Kontaktfingern 4 durch basische
Ätzung geätzt werden. Die geätzten Flächen der Solarzelle 10 sind in den Fig. 2 und 3
jeweils mit 5 bezeichnet. Es ist erforderlich, die schwache Kalilauge zur gleichmäßigen Tempe
raturverteilung im Ätz-Bad ständig in Bewegung zu halten, was beispielsweise durch eine
Laugenpumpe oder durch eine Rührvorrichtung erfolgen kann.
Nach Durchführung des Ätzvorganges wird die Solarzelle 10 getrocknet, vorzugsweise durch
Heißluft oder durch Schleudern in einer Schleudervorrichtung. Zum Abschluß wird auf der
Solarzelle 10 die in Fig. 3 dargestellte Antireflex-Schicht 6 nach bekannten Verfahren
aufgebracht.
Zur Vermeidung eines Verlustes an Haftfestigkeit der Vorderseiten- und Rückseiten-Sieb
druckkontaktierung aufgrund des oben beschriebenen Rückätzprozesses kann vor der Durch
führung dieses Prozesses eine galvanische Abscheidung von Silber auf den Siebdruckkon
takten durchgeführt werden.
Die Protektionsschichten 7 und 8 verbessern vorteilhafterweise die Kontakthaftfestigkeit bei
einer gleichzeitigen Erhöhung des Wirkungsgrades durch einen reduzierten Serienwiderstand.
Fertigungstechnisch ist es von Vorteil, wenn nicht sogar unerläßlich, eine Vielzahl von
Solarzellen gleichzeitig in einem Batchprozeß in der oben beschriebenen Weise zu bearbeiten.
Hierzu werden die Solarzellen 10 in einer Halterung angeordnet, in der die Solarzellen 10 alle
Verfahrensschritte durchlaufen.
Claims (8)
1. Verfahren zur Herstellung eines lokal flachen Emitters zwischen den Kontaktfingern
einer durch Siebdruck oder Schablonendruck hergestellten Vorderseitenkontaktierung
einer Solarzelle auf monokristalliner Basis vor dem Aufbringen einer gegebenenfalls
erforderlichen Antireflex-Schicht, umfassend die folgenden Verfahrensschritte:
- a) die fertig kontaktierte Solarzelle (10) ohne Antireflex-Schicht wird in einem demineralisiertes Wasser enthaltenden beheizbaren Becken vorgewärmt,
- b) in einer bewegten basischen Ätzlösung aus einer 1 bis 10% Kaliumhydroxid- Lösung wird bei einer Temperatur im Bereich von 50 bis 80°C die Ober fläche (5) der Emitterschicht (1) zwischen den Kontaktfingern (4) mit Protek tionsschicht (7) gleichmäßig abgetragen, so daß unter der gesamten Kon taktfläche des Kontaktes (4) die Emitterschicht (1) erhalten bleibt,
- c) die überätzte Solarzelle (10) wird sodann in einem demineralisiertes Wasser enthaltenden Becken gespült, und
- d) die Solarzelle (10) wird abschließend getrocknet.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Ätzlösung mittels einer Laugenpumpe zur homogenen Temperaturverteilung
im Ätzbecken ständig in Bewegung gehalten wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Ätzlösung mittes einer Rührvorrichtung zur homogenen Temperaturverteilung
im Ätzbecken ständig in Bewegung gehalten wird.
4. Verfahren nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Ätzzeit der Solarzelle (10) im Ätzbad etwa 10 bis 30 Minuten beträgt.
5. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Solarzelle (10) mittels Heißluft getrocknet wird.
6. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Solarzelle (10) durch Schleudern auf einer Schleudervorrichtung getrocknet
wird.
7. Verfahren nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß zur Vermeidung eines Verlustes an Haftfestigkeit der Vorderseiten- und der Rück
seiten-Siebdruckkontaktierung (3, 4) vor Durchführung des Rückätzprozesses eine
galvanische Abscheidung von Silber auf den Siebdruckkontakten (3, 4) zur Her
stellung der Silberprotektionsschicht durchgeführt wird.
8. Verfahren nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß zur gleichzeitigen Behandlung von mehreren Solarzellen (10) in einem Batch-
Prozeß die Solarzellen (10) in einer Halterung angeordnet werden, die zusammen mit
den Solarzellen (10) alle Verfahrensschritte durchläuft.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4401782A DE4401782C2 (de) | 1994-01-21 | 1994-01-21 | Verfahren zur Herstellung eines lokal flachen Emitters zwischen den Kontaktfingern einer Solarzelle |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4401782A DE4401782C2 (de) | 1994-01-21 | 1994-01-21 | Verfahren zur Herstellung eines lokal flachen Emitters zwischen den Kontaktfingern einer Solarzelle |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4401782A1 DE4401782A1 (de) | 1995-07-27 |
DE4401782C2 true DE4401782C2 (de) | 2001-08-02 |
Family
ID=6508436
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4401782A Expired - Fee Related DE4401782C2 (de) | 1994-01-21 | 1994-01-21 | Verfahren zur Herstellung eines lokal flachen Emitters zwischen den Kontaktfingern einer Solarzelle |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4401782C2 (de) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0851511A1 (de) * | 1996-12-24 | 1998-07-01 | IMEC vzw | Halbleitereinrichtung mit zwei selektiv diffundierten Bereichen |
US6552414B1 (en) | 1996-12-24 | 2003-04-22 | Imec Vzw | Semiconductor device with selectively diffused regions |
JP4974756B2 (ja) * | 2007-05-09 | 2012-07-11 | 三菱電機株式会社 | 太陽電池素子の製造方法 |
TWI443162B (zh) * | 2008-09-05 | 2014-07-01 | Lg Chemical Ltd | 膠以及使用其製備太陽能電池之方法 |
DE102011050136A1 (de) * | 2010-09-03 | 2012-03-08 | Schott Solar Ag | Verfahren zum nasschemischen Ätzen einer Siliziumschicht |
DE102011050055A1 (de) * | 2010-09-03 | 2012-04-26 | Schott Solar Ag | Verfahren zum nasschemischen Ätzen einer Silziumschicht |
DE102011051040A1 (de) * | 2011-06-14 | 2012-12-20 | Solarworld Innovations Gmbh | Verfahren zum Herstellen einer Solarzelle und Verfahren zum Herstellen einer Metallisierungsstruktur |
DE102013202067A1 (de) * | 2013-02-08 | 2014-08-14 | Asys Automatisierungssysteme Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung einer selektiven Emitterstruktur für eine Solarzelle, Solarzelle |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1614393A1 (de) * | 1966-12-01 | 1970-05-27 | Raytheon Co | Halbleiteranordnung |
US4137123A (en) * | 1975-12-31 | 1979-01-30 | Motorola, Inc. | Texture etching of silicon: method |
US4248675A (en) * | 1980-02-25 | 1981-02-03 | Massachusetts Institute Of Technology | Method of forming electrical contact and antireflection layer on solar cells |
-
1994
- 1994-01-21 DE DE4401782A patent/DE4401782C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1614393A1 (de) * | 1966-12-01 | 1970-05-27 | Raytheon Co | Halbleiteranordnung |
US4137123A (en) * | 1975-12-31 | 1979-01-30 | Motorola, Inc. | Texture etching of silicon: method |
US4248675A (en) * | 1980-02-25 | 1981-02-03 | Massachusetts Institute Of Technology | Method of forming electrical contact and antireflection layer on solar cells |
Non-Patent Citations (8)
Title |
---|
FINDLER, G., et al.: "Temporal Evolution of Silicon Surface Roughness During Anisotropic Etching Process", Konf.: Micro Electro Mechanical Systems '92, Travemünde, 4-7 Feb 1992 * |
IEEE, 1992, S. 62-66 (ISBN: 0-7803-0497-7) * |
In: Appl.Phys.Lett. 59 (1991), S. 1583-1584 * |
JP 05-226677 A (Abstract) * |
New York, USA * |
PETZOLD, H.-C. * |
Proc. of IEEE Micro Electro Mechanical Systems. An Invest- igation of Micro Structures, Sensors, Actuators, Machines, Robots (Cat No. 92 CH3093-2). Editors: Benecke, W. * |
SZLUFCIK, J., et al.: "Simple integral screen printing process for selective emitter poly- crystalline solar cells" * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4401782A1 (de) | 1995-07-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19746706B4 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Solarzelle | |
DE3490007C2 (de) | ||
DE102010035582B4 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Solarzelle mit einer texturierten Frontseite sowie entsprechende Solarzelle | |
DE69811511T2 (de) | Herstellungsverfahren für ein photovoltaisches bauelement | |
DE3872859T2 (de) | Verfahren zur metallisierung eines kieselsaeure-, quartz-, glas- oder saphirsubstrates und so erhaltenes substrat. | |
WO2008107094A2 (de) | Verfahren zur herstellung einer solarzelle sowie damit hergestellte solarzelle | |
DE102014111282A1 (de) | Verfahren zum sauren Ätzen von Silizium-Wafern | |
DE102008056456A1 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Solarzelle mit einer zweistufigen Dotierung | |
DE112009000788T5 (de) | Herstellungsverfahren für Solarzellen, Herstellungsvorrichtung für Solarzellen sowie Solarzelle | |
DE4401782C2 (de) | Verfahren zur Herstellung eines lokal flachen Emitters zwischen den Kontaktfingern einer Solarzelle | |
EP2561557B1 (de) | Verfahren zur herstellung einer solarzelle | |
DE19922547B4 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Silizium-Solarzelle | |
CH639499A5 (de) | Verfahren zur herstellung eines fluessigkristallanzeigeelementes. | |
DE2507102A1 (de) | Matrize zum herstellen von mehrfachkopien | |
DE1489240B1 (de) | Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen | |
EP0236936A3 (de) | Verfahren zur Vermeidung von Kurzschlüssen bei der Herstellung von elektrischen Bauelementen, vorzugsweise von aus amorphen Siliziumschichten bestehenden Solarzellen | |
DE112012004047B4 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Wafers für Solarzellen, Verfahren zur Herstellung einer Solarzelle, sowie Verfahren zur Herstellung eines Solarzellenmoduls | |
DE3016050A1 (de) | Verfahren zur herstellung von fotolackstrukturen fuer integrierte halbleiterschaltungen | |
DE69430286T2 (de) | Verfahren zur Herstellung von photovoltaischen Modulen aus kristallinem Silizium | |
DE2225366B2 (de) | Verfahren zum Entfernen von Vorsprüngen an Epitaxie-Schichten | |
DE112020001854T5 (de) | Halbleiterbauelement und Verfahren zu dessen Herstellung | |
DE2546316C2 (de) | Verfahren zur Behandlung von Körpern mit einem Fluorid enthaltenden Ätzmittel und seine Anwendung bei der Herstellung von Halbleiteranordnungen | |
DE1521509C3 (de) | Verfahren zum Herstellen von Metallstrukturen auf Halbleiteroberflächen | |
DE2735564A1 (de) | Verfahren zur verbesserung des kontrastes zwischen beaufschlagten und nicht beaufschlagten elektroden einer anzeigevorrichtung | |
CH670335A5 (de) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: ANGEWANDTE SOLARENERGIE - ASE GMBH, 63755 ALZENAU, |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |