DE4333359C2 - Monolithisch integrierte Leistungsendstufe - Google Patents
Monolithisch integrierte LeistungsendstufeInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine monolithisch integrierte Lei
stungsendstufe.
Derartige Leistungsendstufen mit integrierter Logik zur Er
fassung einer Laststrom-Schwelle sind verschiedentlich be
kannt und dienen beispielsweise bei elektronischen Zündsteu
ervorrichtungen für Kraftfahrzeuge zur Schließwinkelregelung.
Andere Arten von Stromregelungen für Verbraucher sind eben
falls mit derartigen Leistungsendstufen realisierbar, bei
denen das Erreichen der eingestellten Laststrom-Schwelle
durch Schalten eines Ausgangstransistors angezeigt wird. Da
bei ist es ebenfalls bekannt, diesen Ausgangstransistor in
einer isolierten π-Wanne anzuordnen. Diese Anordnung allein
oder in Verbindung mit einem Anschlußwiderstand gewährleistet
jedoch noch keine sichere Funktion des Ausgangstransistors,
da bei begrenztem Inversstrom -Ic ein maximal möglicher Stör
strom auftreten kann, der die Beibehaltung des gesperrten Zu
standes des Ausgangstransistors nicht mehr gewährleistet.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde,
das maximale Potential der π-Wanne auf eine Flußspannung über
0 Volt (Masse) zu begrenzen und dadurch eine Fehlfunktion bzw.
ein Abschalten im Normalbetrieb zu verhindern.
Die Verschiebe
ströme werden durch kapazitive Kopplung beim Spannungsanstieg
des Hauptkollektors niederohmig nach Masse abgeleitet.
Durch die in den Unteransprüchen aufgeführten Maßnahmen sind
vorteilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen der im Haupt
anspruch angegebenen Leistungsendstufe möglich.
Der Emitter des Ausgangstransistors liegt zweckmäßigerweise
an Masse und sein Kollektor ist mit einem Logikausgang ver
bunden, an dem das Erreichen der Laststrom-Schwelle durch
einen Signalwechsel angezeigt wird.
Zur Sperrung des πn--Überganges der π-Wanne des Ausgangs
transistors im Inversbetrieb des Hauptkollektors des Endstuf
entransistors ist in vorteilhafter Weise ein das Potential
der π-Wanne absenkender zusätzlicher Transistor zwischen diese
π-Wanne und den Hauptkollektor geschaltet. Es besteht nämlich
die Gefahr, daß der Logikausgang seinen gesperrten Zustand
nicht beibehält, wenn beim Betrieb mit induktiver Last (z. B.
Zündspule bzw. Zündübertrager) die Kollektorspannung unter
0 Volt absinkt, so daß ein Inversbetrieb des Endstufentransi
stors vorliegt. Bei diesem Inversbetrieb des Hauptkollektors
fließt Strom über die die Schaltstrecke des Endstufentransi
stors überbrückende Inversdiode und läßt das Potential am
Hauptkollektor auf ca. -1,1 Volt absinken (je nach Invers
strom -Ic). Damit sind die p-n-Übergänge bzw. πn--Übergänge
nicht mehr sicher gesperrt und lösen am Logikausgang eine
Fehlfunktion durch Signalinvertierung aus. Durch das Einfügen
des insbesondere als n-πν-Transistor ausgebildeten zusätzli
chen Transistors kann während dieser Signalinvertierung die
sonst potentialmäßig floatende π-Wanne auf ein Potential von
ca. -0,9 Volt nachgeführt werden, also ein geringfügig
positiveres Potential als der Hauptkollektor. Dadurch wird der p-n-Übergang
(πn--Übergang) der π-Wanne des Ausgangstransistors sicher ge
sperrt und eine Fehlfunktion im Inversbetrieb des Hauptkol
lektors sicher verhindert. Dieser zusätzliche Transistor läßt
sich beim bipolaren Leistungshalbleiterprozeß mit geringem
Flächenbedarf integrieren. Die Funktion ist dabei weitgehend
unabhängig von Parameterschwankungen des Prozesses. Die vor
geschlagene Lösung läßt sich auch ohne weiteres auf mehrere
Logikausgänge übertragen.
Der zusätzliche Transistor ist zweckmäßigerweise in einer se
paraten π-Wanne angeordnet. Dabei ist die Basis dieses zu
sätzlichen Transistors über einen Widerstand mit Masse, der
Kollektor mit der π-Wanne des Ausgangstransistors und der
Emitter mit dem Hauptkollektor verbunden. Der Widerstand kann
dabei insbesondere durch das π-Gebiet des zusätzlichen Tran
sistors gebildet werden.
Eine vorteilhafte Ausbildung des Ausgangstransistors besteht
darin, daß sein Emitter als n+-Gebiet, die Basis als das
n+-Gebiet umgebendes p-Gebiet und der Kollektor als das
p-Gebiet umgebendes ν-Gebiet ausgebildet ist.
Die Diode ist vorzugsweise entsprechend dem Ausgangstransi
stor ausgebildet, wobei das mit dem π-Gebiet verbundene
p-Gebiet die mit dem π-Gebiet verbundene Anode der Diode bil
det.
Zwei Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung
dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher er
läutert. Es zeigen:
Fig. 1 ein Schaltbild einer monolithisch integrierten
Leistungsendstufe gemäß dem ersten Ausfüh
rungsbeispiel,
Fig. 2 ein Schaltbild einer monolithisch integrierten
Leistungsendstufe mit einem zusätzlichen Tran
sistor als zweites Ausführungsbeispiel,
Fig. 3 ein durch parasitäre Transistoren ergänztes
Schaltbild des zweiten Ausführungsbeispiels in
einer Teildarstellung, und
Fig. 4 die Darstellung der Diffusionszonen des in
Fig. 2 dargestellten Ausführungsbeispiels.
Die in Fig. 1 als erstes Ausführungsbeispiel dargestellte
monolithisch integrierte Leistungsendstufe besteht im wesent
lichen aus einem dreistufigen Endstufentransistor 10, dessen
Kollektor mit einem äußeren Kollektoranschluß C, dessen Emit
ter mit einem äußeren Emitteranschluß E und dessen Basis mit
einem äußeren Basisanschluß B der Leistungsendstufe verbunden
ist. Dieser Endstufentransistor kann beispielsweise auch
zweistufig ausgebildet sein. Ein Stromsensor 11, der bei
spielsweise als Sense-Zelle der letzten Transistorstufe des
Endstufentransistors ausgebildet ist, erfaßt den Laststrom
durch den Endstufentransistor und ist mit einer nicht näher
dargestellten Logikschaltung 12 verbunden. Diese enthält im
wesentlichen eine Schwellwertstufe, und die Logikschaltung 12
erzeugt ein ausgangsseitiges Steuersignal für einen Aus
gangstransistor 13, wenn eine eingestellte oder einstellbare
Laststrom-Schwelle durch den Laststrom I überschritten wird.
Zur Erläuterung sei zunächst erwähnt, daß ein π-Gebiet einem
schwach dotierten p-Gebiet und ein ν-Gebiet einem schwach do
tierten n-Gebiet entspricht. Der Ausgangstransistor 13 ist in
einer separaten π-Wanne integriert, wobei der Emitter durch
ein n+-Gebiet, die Basis durch ein dieses n+-Gebiet umgeben
des p-Gebiet und der Kollektor durch ein wiederum dieses
p-Gebiet umgebendes ν-Gebiet gebildet wird, wie dies in Fig.
4 dargestellt ist. Der Kollektor ist mit einem äußeren Logik
ausgang S der Leistungsendstufe verbunden, und der Emitter
liegt am Emitteranschluß E dieser Leistungsendstufe. Weiter
hin ist in diesem separaten π-Gebiet eine Diode 14 inte
griert, deren Kathode mit dem Emitter des Ausgangstransistors
13 verbunden ist, und deren Anode mit dem
π-Gebiet verbunden ist. Gemäß Fig. 4 ist diese Diode 14 ent
sprechend dem Ausgangstransistor 13 aufgebaut, wobei das die
Basis bildende p-Gebiet mit dem den Kollektor bildenden
ν-Gebiet über ein n+-Kontaktgebiet verbunden ist. Weiterhin
besteht eine Verbindung zu einem (oder mehreren)
p-Kontaktgebiet(en) in der π-Wanne, um dort für einen guten
ohmschen Anschluß zu sorgen.
Die Leistungsendstufe besitzt weiterhin eine die Schalt
strecke des Endstufentransistors 10 überbrückende Inversdiode
15. Der Kollektor der ersten Stufe des Endstufentransistors
10 ist mit dem äußeren Kollektoranschluß C oder über einen
Kollektorwiderstand 16 mit einem weiteren äußeren Anschluß K
verbunden. Dieser Anschluß K und der Kollektorwiderstand 16
entfallen selbstverständlich dann, wenn der Kollektor der er
sten Stufe des Endstufentransistors 10 mit dem äußeren Kol
lektoranschluß C verbunden ist. Die beiden alternativen
Schaltungsmöglichkeiten sind durch gestrichelte Linien darge
stellt.
In Fig. 1 ist die Anwendung der Leistungsendstufe zur Steue
rung bzw. Regelung eines Zündübertragers 17 einer im übrigen
nicht näher dargestellten Zündanlage für eine Brennkraftma
schine eingesetzt. Die Primärwicklung dieses Zündübertragers
17 ist zwischen den äußeren Kollektoranschluß C und den posi
tiven Anschluß einer Versorgungsspannungsquelle 18 geschal
tet. Die Sekundärwicklung des Zündübertragers 17 erzeugt in
an sich bekannter, jedoch nicht dargestellter Weise Zündim
pulse für Zündkerzen.
Ist der äußere Anschluß K und der Kollektorwiderstand 16 vor
gesehen und mit dem Kollektor der ersten Stufe des Endstufen
transistors 10 verbunden, so ist dieser äußere Anschluß K zu
sätzlich noch mit dem positiven Anschluß der Versorgungsspan
nungsquelle 18 verbunden.
Unterhalb der Laststrom-Schwelle sollte der Ausgangstransi
stor 13 gesperrt sein. Die Diode 14 begrenzt das maximale Po
tential der π-Wanne auf eine Flußspannung über 0 Volt (Masse)
und verhindert dadurch eine Fehlfunktion im Normalbetrieb.
Sie leitet die Verschiebeströme durch kapazitive Kopplung
beim Spannungsanstieg des Hauptkollektors niederohmig nach
Masse ab.
Mit der dargestellten Anordnung kann beispielsweise eine
Schließwinkelregelung bei einer Zündanlage realisiert werden.
Das in den Fig. 2 bis 4 dargestellte zweite Ausführungs
beispiel entspricht weitgehend dem ersten Ausführungsbei
spiel. Gleiche oder gleich wirkende Bauteile sind mit den
selben Bezugszeichen versehen und nicht nochmals beschrieben.
Zusätzlich ist beim zweiten Ausführungsbeispiel die den Aus
gangstransistor 13 und die Diode 14 enthaltende π-Wanne über
die Kollektor-Emitter-Strecke eines weiteren Transistors 19
mit dem äußeren Kollektoranschluß C verbunden. Die Basis die
ses weiteren Transistors 19 ist über einen Widerstand 20 mit
dem äußeren Emitteranschluß E verbunden.
Gemäß Fig. 4 ist dieser weitere Transistor 19 in einer wei
teren separaten π-Wanne integriert, wobei der Kollektor durch
ein ν-Gebiet, die Basis durch das π-Gebiet und der Emitter
durch das n--Gebiet für die gesamte Leistungsendstufe reali
siert ist. Die ohmsche Verbindung des Kollektors zum π-Gebiet
des Ausgangstransistors 13 erfolgt über n+- bzw.
p-Aufdiffusionen und eine elektrische Verbindung zwischen
diesen. Der Widerstand 20 wird durch die Widerstandstrecke im
π-Gebiet des weiteren Transistors 19 bis zu einer
p-Aufdiffusion realisiert, die mit dem äußeren Emitteran
schluß E verbunden ist.
In Fig. 4 ist zusätzlich noch die letzte Stufe des dreistu
figen Endstufentransistors 10 dargestellt, der ebenfalls in
einer separaten π-Wanne untergebracht ist. Das die Basis bil
dende π-Gebiet ist über eine p-Aufdiffusion mit einem Basis
anschluß 21 verbunden, während das den Emitter bildende
ν-Gebiet über eine n+-Aufdiffusion mit dem äußeren Emitter
anschluß E verbunden ist.
Bei dem bereits in Verbindung mit dem ersten Ausführungsbei
spiel zum Teil beschriebenen Ausgangstransistor 13 ist das
die Basis bildende p-Gebiet mit einem Basisanschluß 22 ver
bunden. Weiterhin ist das den Kollektor bildende ν-Gebiet
über zwei n+-Aufdiffusionen mit einem Kollektoranschluß 23
verbunden.
Die übrigen Bereiche, beispielsweise die Logikschaltung 12
sind in Fig. 4 zur Vereinfachung nicht dargestellt, jedoch
ebenfalls dort monolithisch integriert.
In Fig. 3 ist zur Erläuterung der auftretenden Probleme
nochmals ein Teil der Schaltung gemäß Fig. 2 dargestellt,
wobei der Ausgangstransistor 13 mit den sich bei der Diffu
sion gemäß Fig. 4 bildenden zusätzlichen Transistoren darge
stellt ist. Der für die Schaltung erwünschte Transistor ist
der sich zwischen dem n+-, p- und ν-Gebiet ausbildende Tran
sistor 13' zusätzlich wird jedoch ein weiterer Transistor
13'' zwischen dem p-, dem ν- und dem π-Gebiet gebildet.
Schließlich entsteht noch ein Transistor 13''' zwischen dem
ν-, dem π- und dem n--Gebiet.
Beim Inversbetrieb des Hauptkollektors des Endstufentransi
stors 10 fließt Strom über die leitende Inversdiode 15 und
läßt das Potential am Hauptkollektor C auf ca. -1,1 Volt ab
sinken. Dies hängt vom Inversstrom ab. Dadurch sind die πn- -
Übergänge nicht mehr sicher gesperrt und lösen einen Strom
Ia durch den Transistor 13''' aus. Am Ausgang S wird dadurch
eine Signalinvertierung und damit eine Fehlfunktion ausge
löst. Durch den Transistor 19 kann während eines solchen
Störfalles die sonst potentialmäßig floatende π-Wanne auf ein
Potential von ca. -0,9 Volt nachgeführt werden, d. h. negativer
gemacht werden. Dadurch wird der πn--Übergang der π-Wanne
des Ausgangstransistors 13 sicher gesperrt und eine Fehlfunk
tion des Ausgangstransistors 13 im Inversbetrieb des Hauptkollektors ver
hindert.
Claims (10)
1. Monolithisch integrierte Leistungsendstufe, mit Mitteln
zur Erfassung des Laststromes durch einen Endstufentran
sistor, mit einer einen Ausgangstransistor aufweisenden
Schaltlogik zur Umschaltung des Ausgangstransistors bei
Erreichen einer vorbestimmten Laststrom-Schwelle, wobei
der Ausgangstransistor in einer isolierten π-Wanne inte
griert ist, dadurch gekennzeichnet, daß die π-Wanne des
Ausgangstransistors (13) als separate π-Wanne ausgebil
det ist, welche noch eine den Masseanschluß mit dem
π-Gebiet dieser π-Wanne verbindende Diode (14) enthält.
2. Leistungsendstufe nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß der Emitter des Ausgangstransistors (13) an
Masse und sein Kollektor mit einem Logikausgang (S) ver
bunden ist.
3. Leistungsendstufe nach Anspruch 1 oder 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß zur Sperrung des πn--Überganges der
π-Wanne des Ausgangstransistors (13) im Inversbetrieb
des Hauptkollektors des Endstufentransistors (10) ein
das Potential dieser π-Wanne absenkender zusätzlicher
Transistor (19) zwischen diese π-Wanne und den Hauptkol
lektor (C) geschaltet ist.
4. Leistungsendstufe nach Anspruch 3, dadurch gekennzeich
net, daß der zusätzliche Transistor (19) in einer sepa
raten π-Wanne angeordnet ist.
5. Leistungsendstufe nach Anspruch 3 oder 4, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Basis des zusätzlichen Transistor
(19) über einen Widerstand (20) mit Masse, der Kollektor
mit der π-Wanne des Ausgangstransistors (13) und der
Emitter mit dem Hauptkollektor (C) verbunden ist.
6. Leistungsendstufe nach Anspruch 5, dadurch gekennzeich
net, daß der Widerstand (20) durch das π-Gebiet des zu
sätzlichen Transistors (19) gebildet wird.
7. Leistungsendstufe nach einem der Ansprüche 3 bis 6, da
durch gekennzeichnet, daß der zusätzliche Transistor als
n-πν-Transistor ausgebildet ist.
8. Leistungsendstufe nach einem der vorhergehenden Ansprü
che, dadurch gekennzeichnet, daß der Emitter des Aus
gangstransistors (13) als n+-Gebiet, die Basis als das
n+-Gebiet umgebendes p-Gebiet und der Kollektor als das
p-Gebiet umgebendes ν-Gebiet ausgebildet ist.
9. Leistungsendstufe nach Anspruch 8, dadurch gekennzeich
net, daß die Diode (14) entsprechend dem Ausgangstransi
stor (13) ausgebildet ist, wobei das mit dem ν-Gebiet
verbundene p-Gebiet die mit dem π-Gebiet verbundene
Anode dieser Diode (14) bildet.
10. Leistungsendstufe nach einem der vorhergehenden Ansprü
che, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere Logikausgänge
der Schaltlogik vorgesehen sind.
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4333359A DE4333359C2 (de) | 1993-06-26 | 1993-09-30 | Monolithisch integrierte Leistungsendstufe |
| US08/260,934 US5539301A (en) | 1993-06-26 | 1994-06-16 | Monolithically integrated power output stage |
| ITMI941265A IT1270242B (it) | 1993-06-26 | 1994-06-17 | Stadio finale di potenza integrato monoliticamente |
| FR9407538A FR2707060B1 (de) | 1993-06-26 | 1994-06-20 | |
| JP14355694A JP3762797B2 (ja) | 1993-06-26 | 1994-06-24 | モノリシック集積化電力出力終段回路 |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4321412 | 1993-06-26 | ||
| DE4333359A DE4333359C2 (de) | 1993-06-26 | 1993-09-30 | Monolithisch integrierte Leistungsendstufe |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE4333359A1 DE4333359A1 (de) | 1995-01-05 |
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Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
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Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5539301A (de) |
| JP (1) | JP3762797B2 (de) |
| DE (1) | DE4333359C2 (de) |
| FR (1) | FR2707060B1 (de) |
| IT (1) | IT1270242B (de) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19739273C1 (de) | 1997-09-08 | 1998-10-08 | Bosch Gmbh Robert | Monolithisch integrierte Leistungsendstufe mit Schutz des Ausgangstransistors gegen Fehlfunktion bei Inversbetrieb |
| TWI427783B (zh) * | 2011-10-28 | 2014-02-21 | Ti Shiue Biotech Inc | 應用於分子檢測與鑑別的多接面結構之光二極體及其製造方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5286992A (en) * | 1990-09-28 | 1994-02-15 | Actel Corporation | Low voltage device in a high voltage substrate |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1073551A (en) * | 1964-07-02 | 1967-06-28 | Westinghouse Electric Corp | Integrated circuit comprising a diode and method of making the same |
| NL6916988A (de) * | 1969-11-11 | 1971-05-13 | ||
| IT1215402B (it) * | 1987-03-31 | 1990-02-08 | Sgs Microelettronica Spa | Circuito integrato di pilotaggio di carichi induttivi riferiti a terra. |
| US5157573A (en) * | 1989-05-12 | 1992-10-20 | Western Digital Corporation | ESD protection circuit with segmented buffer transistor |
| IT1250825B (it) * | 1991-07-29 | 1995-04-21 | St Microelectronics Srl | Amplificatore,particolarmente amplificatore integrato. |
| JP2914000B2 (ja) * | 1992-04-28 | 1999-06-28 | 日本電気株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
-
1993
- 1993-09-30 DE DE4333359A patent/DE4333359C2/de not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-06-16 US US08/260,934 patent/US5539301A/en not_active Expired - Fee Related
- 1994-06-17 IT ITMI941265A patent/IT1270242B/it active IP Right Grant
- 1994-06-20 FR FR9407538A patent/FR2707060B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 1994-06-24 JP JP14355694A patent/JP3762797B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5286992A (en) * | 1990-09-28 | 1994-02-15 | Actel Corporation | Low voltage device in a high voltage substrate |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| ITMI941265A0 (it) | 1994-06-17 |
| IT1270242B (it) | 1997-04-29 |
| JPH0738064A (ja) | 1995-02-07 |
| DE4333359A1 (de) | 1995-01-05 |
| US5539301A (en) | 1996-07-23 |
| FR2707060B1 (de) | 1995-12-29 |
| ITMI941265A1 (it) | 1995-12-17 |
| JP3762797B2 (ja) | 2006-04-05 |
| FR2707060A1 (de) | 1994-12-30 |
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