DE4333304C1 - Adapter zum Prüfen von Leiterplatten - Google Patents
Adapter zum Prüfen von LeiterplattenInfo
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- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R11/00—Individual connecting elements providing two or more spaced connecting locations for conductive members which are, or may be, thereby interconnected, e.g. end pieces for wires or cables supported by the wire or cable and having means for facilitating electrical connection to some other wire, terminal, or conductive member, blocks of binding posts
- H01R11/11—End pieces or tapping pieces for wires, supported by the wire and for facilitating electrical connection to some other wire, terminal or conductive member
- H01R11/18—End pieces terminating in a probe
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06705—Apparatus for holding or moving single probes
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen Adapter
zum Prüfen von Leiterplatten. Mit Hilfe
von Kontaktstiften wird zwischen Prüfpunkten der Lei
terplatte und einem Meß- oder Anzeigegerät eine elek
trische Verbindung hergestellt.
Zum Prüfen elektronischer Leiterplatten sind Geräte mit
einer Vielzahl fester Prüfpunkte bekannt. Ein solches
Gerät mit festen Prüfpunkten beschreibt die
DE 33 43 274 C2, dessen Prüf- oder Meßkopf ei
nen starren Träger aufweist. Der Träger besitzt eine
Vielzahl von Löchern, in die in bestimmten Positionen
Kontaktstifte eingesteckt sind. Über ein flexibles Ka
bel ist der Träger mit einer Prüf- oder Meßvorrichtung
verbunden. Wie auch bei anderen Prüfgeräten mit festen
Prüfpunkten, beispielsweise nach der
DE-OS 23 64 786, sind der Positionierung der
Prüfköpfe wegen der ein für allemal festgelegten Ver
teilung der Löcher bauliche Grenzen gesetzt, weil sich
Kontaktstifte naturgemäß nur dort positionieren lassen,
wo sich ein Loch für dessen Durchtritt befindet. Ein
schnelles Anpassen der Prüfköpfe an Prüflinge mit un
terschiedlicher Verteilung der Prüfpunkte ist nicht
möglich. Zudem ist ein Austausch verschlissener Bau
teile zeitaufwendig und der Zugang zum Prüfling durch
die Ausmaße des Prüfkopfs schwierig.
Die GB 1 316 108 beschreibt zudem
einen Adapter zum Prüfen von Leiterplatten mit einem
Kontaktträger, einem Prüflingsträger und im Kon
taktträger verschiebbar angeordneten Kontaktstiften.
Diese Kontaktstifte sind jedoch lediglich quer zur Lei
terplatte beweglich angeordnet und lassen sich so mit
tels Druckluft oder einer Feder zum Kontaktieren der
Leiterplatte axial verschieben. Somit können die Kon
taktstifte die Leiterplatte jeweils nur dort kontaktie
ren, wo seitens des Adapters ein Kontaktstift ein für
allemal angeordnet ist. Die Kontaktstifte sind im Kon
taktstiftträger in bestimmter, nicht veränderlicher
Verteilung angeordnet. Der entscheidende Nachteil des
bekannten Adapters besteht demgemäß darin, daß die Ver
teilung der Kontaktstifte im Kontaktträger stets der
Verteilung der Prüfpunkte auf der Leiterplatte entspre
chen muß und umgekehrt.
Ein weiterer Nachteil des bekannten Adapters ergibt
sich daraus, daß die Leiterplatte mit Hilfe ortsfester
Haltestifte auf dem Prüflingsträger fixiert ist. Demge
mäß lassen sich mit diesem Adapter weder Leiterplatten
unterschiedlicher Größe noch beliebiger Verteilung der
Prüfpunkte prüfen; denn die ortsfesten Haltestifte ver
langen entsprechend angeordnete komplementäre Stecköff
nungen in der Leiterplatte.
Der Erfindung liegt daher das Problem zugrunde, einen
Adapter zu schaffen, der neben anderen Vorteilen nicht
nur die Nachteile des vorerwähnten Standes der Technik
vermeidet, sondern darüber hinaus auch ein variables
Positionieren der Kontaktstifte sowie vorzugsweise ei
nen schnellen Prüflingwechsel ohne besondere Qualifi
zierung seitens des Personals ermöglicht.
Die Lösung dieses Problems besteht in einem Adapter mit
den im Anspruch 1 angegebenen Merkmalen.
Der Kontaktstiftträger besteht vorzugsweise aus einem
beispielsweise in einem Klemmhalter angeordneten Posi
tionierstab und einer Hülse zur Aufnahme eines Kontakt
stifts. Durch Lösen des Klemmhalters, der vorzugsweise aus
einer Klemmscheibe, einem Haltestück und einer Schrau
be besteht, läßt sich der Kontaktstiftträger durch Längsver
schieben und/oder Verschwenken stufenlos auf einen be
liebigen Prüfpunkt einstellen.
Ein stufenweises Verstellen ist möglich, wenn der Kon
taktträger als Lochplatte ausgebildet ist und so ein
Umsetzen des Klemmhalters nach dem Maß des Lochabstan
des erlaubt. Um eine höhere Packungsdichte zu errei
chen, können die Positionierstäbe in unterschiedlicher
Höhe angeordnet sein.
Der Kontaktträger kann aus einer Platte mit einer Öff
nung bestehen, die von einer auf Abstandhaltern ange
ordneten durchsichtigen Abdeckplatte überdeckt ist.
Durch diese Abdeckplatte ist die Beobachtung eines un
terhalb der Plattenöffnung befindlichen Prüflings sowie
der Kontaktstifte möglich.
Der Prüfling befindet sich vorzugsweise auf einem Prüf
lingträger aus einer Aufnahmeplatte mit Gewindelöchern
und lösbaren Festanschlägen sowie verstellbaren Halte
stücken zum Festspannen des Prüflings. Dabei können die
verstellbaren Haltestücke aus einer Lasche mit einem
Langloch zur Aufnahme einer Schraube und einer Haltescheibe
bestehen. Als Verdrehsicherung eignet sich eine
Lasche mit einem Langloch zur Aufnahme einer Schraube und
einem Sicherungsstift, der in eine entsprechende Ausneh
mung des Prüflings eingreift.
Da die Aufnahmeplatte eine Vielzahl von Gewindelöchern
besitzt, ist ein entsprechend vielfältiges Positionieren
der Festanschläge und Laschen für die Haltestücke ent
sprechend den Abmessungen und der Kontur des jeweiligen
Prüflings möglich.
Die Verstellbarkeit der Kontaktstiftträger in Verbindung
mit der Möglichkeit, unterschiedlich bemessene und kontu
rierte Prüflinge mit unterschiedlicher Verteilung der
Prüfpunkte einzuspannen, gewährleisten ein außerordent
lich breites Prüfprogramm, ohne daß von Prüfling zu Prüf
ling jeweils aufwendige Vorbereitungsarbeiten erforder
lich sind. Vielmehr läßt sich der Adapter durch bloßes
Lösen von Schrauben und/oder Umstecken der Schrauben mit
den zugehörigen Klemmhaltern und/oder Haltestücken und
Laschen für einen anders beschaffenen Prüfling einrich
ten.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand eines in der Zeich
nung dargestellten Ausführungsbeispiels des näheren er
läutert. In der Zeichnung zeigen:
Fig. 1: eine Seitenansicht des erfindungsgemäßen Adapters
und
Fig. 2: eine Draufsicht des Adapters der Fig. 1.
Auf einer mit Gewindelöchern versehenen Kontaktträger
platte 1 sind Kontaktstiftträger 2 mittels Klemmhaltern 3
lösbar befestigt. Die Kontaktstiftträger 2 bestehen aus
einem Positionierstab 4 und einer Hülse 5, die einen Fe
derkontaktstift 6 enthält. Die Klemmhalter 3 ermöglichen
ein Positionieren der Kontaktstiftträger 2 auf der Kon
taktträgerplatte 1 durch Umsetzen und durch axiales Ver
schieben des Positionierstabes 4 in dem Klemmhalter 3 so
wie durch Schwenken. Der Klemmhalter besteht aus einer
Schraube 7, die in einer der nicht dargestellten Gewin
delöcher eingreift, und einer Klemmscheibe 8 mit Verbin
dung zur Adapterschnittstelle, mit der der Kontaktstift
träger in einem Haltestück 9 festgelegt wird. Des weite
ren erlaubt die Hülse 5 ein schnelles und problemloses
Austauschen des Federkontaktstifts 6. Über einer Öffnung
10 in der Kontaktträgerplatte 1, die ein Verlagern der
Hülse 5 erlaubt, erstreckt sich eine auf Abstandhaltern
11 gelagerte, beispielsweise aus Acrylglas bestehende
durchsichtige Abdeckplatte 12.
Ein Prüfling 13 ist auf einer gelochten Prüflingaufnah
meplatte 14 mittels Festanschlägen 15 und stufenlos ver
stellbaren Anschlägen 16 sowie einer Verdrehsicherung 17
arretiert. Die Festanschläge 15 bestehen aus Anschlag
scheiben 18 und Schrauben 19 zum Einschrauben in eines
der nicht dargestellten Gewindelöcher der Prüflingaufnah
meplatte 14. Die verstellbaren Anschläge 16 bestehen aus
Laschen 20 mit einem Langloch 21, durch das eine, in ein
Gewindeloch der Prüflingaufnahmeplatte 14 eingeschraubte
Schraube 22 greift; und einer Anschlag-Kontur 23. In ähn
licher Weise ist auch die Verdrehsicherung 17 als Lasche
20 mit einem Langloch 21 und einer Schraube 22 ausgebil
det. Der Prüfling ist so insgesamt von Festanschlägen 15
und verstellbaren Anschlägen 16 umgeben und zwischen die
sen gelagert. Je nach den Abmessungen des Prüflings wer
den die Anschläge 15, 16 und die Verdrehsicherung 17 po
sitioniert. Dies ist mit Hilfe eines Schraubendrehers und
der über die Aufnahmeplatte 14 verteilten Gewindelöchern
für die Halteschrauben 22 mit großer Variationsbreite
möglich.
Der erfindungsgemäße Adapter erlaubt ein Prüfen un
terschiedlich großer und hoher sowie verschieden kontu
rierter Prüflinge, insbesondere Leiterplatten, mit sehr
unterschiedlicher Verteilung der Prüf- bzw. Kontaktpunkte,
die sich durch Umsetzen der Klemmhalter und/oder Ver
schieben und/oder Verschwenken der Kontaktträger mühelos
erreichen lassen.
Claims (9)
1. Adapter zum Prüfen von Leiterplatten
(13), mit
- - einem Kontaktträger (1)
- - einem Prüflingsträger (14)
- - mindestens einem auf dem Kontaktträger angeord neten, parallel zur Leiterplatte verstellbaren Kontaktstiftträger (2) sowie
- - auf dem Prüflingsträger angeordneten Anschlägen (15, 16) zum Einspannen der Leiterplatte.
2. Adapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
Kontaktstiftträger (2) in unterschiedlicher Höhe an
geordnet sind.
3. Adapter nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeich
net, daß die Kontaktstiftträger (2) aus einem Posi
tionierstab (4) und einer Hülse (5) bestehen.
4. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Kontaktstiftträger (2) in einem
Klemmhalter (3) angeordnet ist.
5. Adapter nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
der Klemmhalter (3) aus einer Klemmscheibe (8) mit
der Verbindung zur Adapterschnittstelle, einem Halte
stück (9) und einer Schraube (7) besteht.
6. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch ge
kennzeichnet, daß eine Öffnung (10) in einer Kontakt
trägerplatte (1) mit einer auf Abstandhaltern (11)
angeordneten durchsichtigen Abdeckplatte (12) über
deckt ist.
7. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Prüflingträger aus einer mit
Gewindelöchern versehenen Aufnahmeplatte (14) mit
lösbaren Festanschlägen (15) und verstellbaren An
schlägen (16) besteht.
8. Adapter nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
die verstellbaren Anschläge (16) aus einer Lasche
(20) mit einem Langloch (21) zur Aufnahme einer
Schraube (22) und einer Haltescheibe (23) bestehen.
9. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 8, gekenn
zeichnet durch eine aus einer Lasche (20) mit einem
Langloch (21) zur Aufnahme einer Schraube (22) und
einem Sicherungsstift (24) bestehende Verdrehsiche
rung.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19934333304 DE4333304C1 (de) | 1993-09-30 | 1993-09-30 | Adapter zum Prüfen von Leiterplatten |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19934333304 DE4333304C1 (de) | 1993-09-30 | 1993-09-30 | Adapter zum Prüfen von Leiterplatten |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4333304C1 true DE4333304C1 (de) | 1995-07-20 |
Family
ID=6499051
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19934333304 Expired - Fee Related DE4333304C1 (de) | 1993-09-30 | 1993-09-30 | Adapter zum Prüfen von Leiterplatten |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4333304C1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE202014105674U1 (de) * | 2014-11-25 | 2016-02-26 | MR Electronics Ltd. Niederlassung Deutschland | Kontaktiervorrichtung für Platinen |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1316108A (en) * | 1969-08-27 | 1973-05-09 | British Aircraft Corp Ltd | Apparatus for testing printed circuit boards |
DE2364786A1 (de) * | 1972-12-26 | 1974-06-27 | Ibm | Elektromechanische tastsonde mit parallelen kontaktnadeln |
DE3343274C2 (de) * | 1983-11-30 | 1988-09-15 | Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg, De |
-
1993
- 1993-09-30 DE DE19934333304 patent/DE4333304C1/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1316108A (en) * | 1969-08-27 | 1973-05-09 | British Aircraft Corp Ltd | Apparatus for testing printed circuit boards |
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DE202014105674U1 (de) * | 2014-11-25 | 2016-02-26 | MR Electronics Ltd. Niederlassung Deutschland | Kontaktiervorrichtung für Platinen |
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Legal Events
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8100 | Publication of the examined application without publication of unexamined application | ||
D1 | Grant (no unexamined application published) patent law 81 | ||
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