DE3615995C2 - - Google Patents
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- G01R1/02—General constructional details
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- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Meßkontak
tieren der Anschlußdrähte von zu testenden gegurteten
elektronischen Bauelementen mit wenigstens einem gegen
die Anschlußdrähte andrückbaren Paar von Kontakten.
Derartige Vorrichtungen sind beispielsweise aus den
Prospekten der Firma SCHOENELEC-PFE GMBH, München über
den Testhandler TA 05 bzw. den Testhandler TA 15 sowie
aus der US-PS 36 29 702 bekannt und werden benutzt, um
sicherzustellen, daß alle an einem Gurt befestigten
elektronischen Bauelemente die geforderten Eigenschaf
ten haben. Aus der DD 58 138 ist eine Kontakteinrich
tung zur Durchführung von Prüfungen an elektrischen
Bausteinen mittels eines Prüfadapters bekannt, die im
wesentlichen aus einem oder mehreren in einer oder
verschiedenen Ebenen angeordneten Kontaktelementen
besteht. Mit Hilfe der bekannten Vorrichtungen werden
die elektronischen Bauelemente mit Einzelkontaktsätzen
durch schrittweises Abspulen und Kontaktieren an ro
tierenden Mechanik-Systemen gemessen. Damit ist jedoch
nur ein getakteter serieller Meßablauf möglich. Die
technisch oft erforderliche Parallel- und/oder Mehr
fach-Messung am gleichen Bauelement, bzw. an einer Rei
he von mehreren Bauelementen ist schwierig oder unmög
lich, bzw. wird unverhältnismäßig teuer und langsam im
Meßablauf sowie unzuverlässig in der Meßkontaktierung.
Ausgehend von diesem Stand der Technik liegt der Er
findung die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung der
eingangs genannten Art zu schaffen, die es gestattet,
gleichzeitig eine Vielzahl von Bauelementen zu kontak
tieren, um dadurch den Meßablauf zu beschleunigen.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß
die Kontakte durch ein Nadelbett mit mehreren paarweise
einander zugeordneten Kontaktstiften gebildet sind, die
im Abstand des Gurtrasters entlang wenigstens einer
Gurtauflageleiste angeordnet sind, auf der der Gurt mit
den über die Kontaktstifte hinausragenden Anschluß
drähten auflegbar ist, und daß eine auf die Gurtauf
lageleiste und die Kontaktstifte aufdrückbare Andrück
leiste vorgesehen ist.
Die Andrückleiste besteht vorzugsweise aus durchsich
tigem Material, so daß eine optische Kontrolle der
Kontaktierung auf einfache Weise möglich ist. Die
Andrückleiste ist vorzugsweise auf der Unterseite eines
durchsichtigen aufklappbaren Deckels angeordnet, der
auf der Oberseite eines Gehäuses befestigt ist, in dem
die Kontaktstifte aufrecht stehend und in Längsrichtung
federnd sowie die quer zur Aufklapprichtung des Deckels
verlaufenden Gurtauflageleisten angeordnet sind.
In dem Gehäuse sind vorteilhafterweise mehrere in
Gurtrichtung gegeneinander verschiebbare Platinen durch
Schrauben festgeklemmt, auf denen jeweils eine Gruppe
von Kontaktstiften mit der zugehörigen Gurtauflage
leiste angeordnet ist. Falls eine Kelvin-Kontaktierung
erfolgen soll, sind in Richtung der Anschlußdrähte
jeweils zwei miteinander fluchtende Kontaktstifte
vorgesehen. Um einen Toleranzausgleich zu schaffen, ist
die Gurtauflageleiste in Andrückrichtung der Andrück
leiste federnd gelagert. Führungsdorne, die über die
Gurtauflageleisten hervorstehen, gestatten eine präzise
Arretierung des die zu testenden Bauelemente tragenden
Gurtes. Um die Sicherheit der Kontaktierung zu erhöhen,
sind die Kontaktstifte mit Kontaktköpfen versehen, auf
denen zahnartige Vorsprünge vorgesehen sind.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus
den Unteransprüchen.
In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel der Er
findung dargestellt. Es zeigen:
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht der erfindungs
gemäßen Vorrichtung bei geöffnetem Deckel,
Fig. 2 eine Seitenansicht auf einen Querschnitt der
Vorrichtung in vergrößerter Darstellung,
Fig. 3 eine Draufsicht auf die erfindungsgemäße
Vorrichtung bei abgenommenem Deckel und
Fig. 4 einen Schnitt entlang der Linie IV-IV in
Fig. 3 in einer Ansicht von vorne.
Die in Fig. 1 in perspektivischer Ansicht dargestellte
Vorrichtung zum Meßkontaktieren der Anschlußdrähte von
zu testenden gegurteten elektronischen Bauelementen
verfügt über ein kastenförmiges Gehäuse 1 mit einer
linken Seitenwand 2, einer rechten Seitenwand 3, einer
Vorderwand 4 und einer Rückwand 5. An der Rückwand 5
ist ein durchsichtiger Deckel 6, beispielsweise aus
Plexiglas, mit Scharnieren 7 (Fig. 2) befestigt.
In der Nähe des zur Vorderwand 4 weisenden Randes sind
auf dem Deckel zwei Handgriffe 8 und eine Verstärkungs
leiste 9 befestigt. Wenn der Deckel 6 zugeklappt ist,
wird er auf der den Scharnieren 7 gegenüberliegenden
Seite mit Hilfe von ein- und ausrastbaren Haltenasen 10
in der geschlossenen Stellung gehalten. Die Haltenasen
10 sind an einer U-förmigen Griffleiste 11 befestigt,
die gegenüber der Vorderwand 4 des Gehäuses 1 ver
schwenkbar ist, um bei Bedarf die Haltenasen 10 zurück
zuziehen, so daß der Deckel 6 freigegeben wird und
durch Hochziehen an den Handgriffen 8 ein Zugang zum
Innern des Gehäuses 1 geschaffen werden kann.
Im Innern des Gehäuses 1 sind mehrere Platinen 14
parallel zur Vorderwand 4 bzw. Rückwand 5 geringfügig
verschiebbar und justierbar befestigt. Auf den Platinen
14 sind in Fig. 1 insgesamt mit 15 bezeichnete Kontakt
stifte in der unten näher erläuterten Weise angeordnet.
Zur Vereinfachung der Zeichnung sind die Kontaktstifte
15 in Fig. 1 lediglich auf der ganz linken Platine 14
gezeichnet, obwohl alle Platinen 14 gleich aufgebaut
und bestückt sind.
Parallel zu den Kontaktstiften 15 erstreckt sich je
weils eine Gurtauflageleiste 16, die gegenüber der
Platine 14 federnd gelagert sind. Weiterhin erkennt man
in Fig. 1 über die Gurtauflageleisten 16 hervorstehende
Führungsdorne 17, die beim Auflegen eines in Fig. 2
gezeigten elektronische Bauelemente 20 enthaltenden
Gurtes 18 auf die Oberseite der Gurtauflageleisten 16
dazu dienen, mit den Führungslöchern im Gurt 18 in
Eingriff gebracht zu werden, um den Gurt 18 in Längs
richtung und Querrichtung unverrückbar festzuhalten.
Aus Vereinfachungsgründen ist der Gurt 18 mit den
elektronischen Bauelementen 20 in Fig. 1 nicht darge
stellt. Das Einlegen des bestückten Gurtes 18 erfolgt
bei geöffnetem Deckel 6 in der Weise, daß die Anschluß
drähte 19 der elektronischen Bauelemente 20 über die
Kontaktstifte 15 zu liegen kommen. Um eine Beschädigung
des Gurtes 18 bei geschlossenem Deckel 6 zu vermeiden,
ist sowohl in der linken Seitenwand 2 als auch in der
rechten Seitenwand 3 jeweils eine dem Gurtverlauf
angepaßte Ausnehmung 21 vorgesehen. Sowohl die Abstände
der Kontaktstifte 15 als auch die Abstände der Füh
rungsdorne 17 entsprechen dem Gurtraster. Durch seit
liches Verschieben der Platinen 14 ist es möglich,
einen Toleranzausgleich in Längsrichtung des Gurtes 18
vorzunehmen. Bei dem in Fig. 1 dargestellten Ausfüh
rungsbeispiel ist jede Platine 14 zum Testen von zehn
jeweils zwei Anschlußdrähte 19 aufweisenden elektroni
schen Bauelementen 20 ausgelegt. Insgesamt sind im
kastenförmigen Gehäuse 1 fünf mit Kontaktstiften 15
bestückte Platinen 14 vorgesehen, so daß bei geschlos
senem Deckel 6 gleichzeitig fünfzig elektronische
Bauelemente 20 nach einem Vorwärtsschritt des Gurtes 18
zuverlässig kontaktiert werden können.
Auf diese Weise sind beliebige gemultiplexte Meß- und
z.B. Ladevorgänge möglich. Selbstverständlich kann der
modulare Aufbau der in Fig. 1 dargestellten Zehner
gruppen auch länger oder kürzer ausgebildet sein. Da
die Kontaktierung der elektronischen Bauelemente 20 von
unten durchgeführt wird, ergibt sich ein leichtes
Einlegen des Gurtes 18. Durch Zurückklappen des Deckels
6 ist ein völlig freier Zugang zur Aufnahme des Gurtes
18 gewährleistet. Nach dem Einlegen des Gurtes 18 ist
eine einwandfreie optische Kontrolle auf hundertprozen
tige Kontaktierung dank der Transparenz des Deckels 6
möglich.
Weitere Einzelheiten des Aufbaus der Vorrichtung er
geben sich aus der in Fig. 2 dargestellten Schnitt
ansicht. Das Gehäuse 1 verfügt über eine Bodenplatte
25, die über Füße 26 abgestützt ist. Oberhalb der
Bodenplatte 25 sind Stützen 27 vorgesehen, auf denen
die Platine 14 mit Hilfe von Schrauben 28 lösbar be
festigt ist. Die Schrauben 28 erstrecken sich dabei
durch Langlöcher in der Platine 14, so daß eine seit
liche Justage mehrerer Platinen 14 innerhalb des Ge
häuses 1 zum Tolereanzausgleich von Längenunterschieden
im Material des Gurtes 18 möglich ist.
Bei dem in Fig. 2 dargestellten Ausführungsbeispiel
erkennt man, daß die Vorderwand 4 und die Rückwand 5
aus besonders starkem Material hergestellt sind. In der
Rückwand 5 ist in regelmäßigen Abständen jeweils ein
Schlitz 29 vorgesehen, durch den ein Bandkabel hin
durchgeführt ist, das außerhalb des Gehäuses 1 mit der
Test- und Meßelektronik verbunden ist. Im Innern des
Gehäuses 1 mündet das in der Zeichnung nicht darge
stellte Flachkabel in einen Stecker 29, der in eine
Fassung 30 eingesteckt ist. Jede der Platinen 14 ist
mit einer solchen Fassung 30 ausgestattet, die über auf
der Platine 14 verlaufende, in der Zeichnung nicht
dargestellte Leiterbahnen mit den Kontaktstiften 15
verbunden ist.
Bei dem in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbei
spiel sind jedem Anschlußdraht 19 zur Durchführung
einer Kelvin-Kontaktierung jeweils ein erster Kontakt
stift 51 und ein zweiter Kontaktstift 52 zugeordnet.
Die Kontaktstifte 51, 52 sind jeweils in mit den Lei
terbahnen auf der Platine 14 verlöteten Hülsen 61, 62
federnd geführt. Wie man in Fig. 2 erkennt, verfügen
die Kontaktstifte über Kontaktierköpfe, deren Durch
messer größer als der Durchmesser des Schaftes der
Kontaktstifte 51, 52 ist. Auf der zu den Anschluß
drähten weisenden Oberseite verfügen die Kontaktier
köpfe über eine Zahnung, um eine sichere Kontaktierung
zu gewährleisten.
Wie man in Fig. 2 erkennt, ist auf der Unterseite des
Deckels 6 im Bereich der Kontaktstifte 51, 52 und der
Gurtauflageleiste 16 eine Andrückleiste 34 mit einer
Ausnehmung 35 für den Führungsdorn 17 vorgesehen. Die
Andrückleiste 34 besteht ebenfalls aus transparentem
Material, um eine Sicht auf die Kontaktstellen an den
Anschlußdrähten 19 der elektronischen Bauelementen 20
zu gestatten. Unterhalb der Gurtauflageleiste 16 be
findet sich eine Basisleiste 36, auf der die Gurtauf
lageleiste 16 vertikal federnd geführt ist.
Man erkennt in Fig. 2 deutlich, wie der Gurt 18 zwi
schen der Andrückleiste 34 einerseits und den Kontakt
stiften 51, 52 sowie der Gurtauflageleiste 16 anderer
seits eingeklemmt ist. Nach dem Zurückziehen der Griff
leiste 11 nach links in Fig. 2 wird der Deckel 6 frei
gegeben und springt unter der Federwirkung der den
Kontaktstiften 51, 52 und der Gurtauflageleiste 16
zugeordneten Federn auf. Mit den Handgriffen 8 kann
dann der Deckel 6 ganz geöffnet werden, um den Gurt 18
aus der Verankerung mit den Führungsdornen 17 zu lösen
und um einen Vorwärtstakt weiterzuverschieben und
erneut mit den Führungsdornen 17 in Eingriff zu brin
gen. Nach dem Schließen des Deckels 6 erfolgt dann eine
neue Kontaktierung und Messung.
In Fig. 3 ist das Innere des Gehäuses 1 in einer Drauf
sicht ohne den durchsichtigen Deckel 6 und ohne die
gegurteten elektronischen Bauelemente 20 dargestellt.
In Fig. 3 erkennt man, wie den Kontaktstiften 51, 52
jeweils paarweise Kontaktstifte 53, 54 zugeordnet sind,
die zusammen mit den Kontaktstiften 51, 52 eine
Kelvin-Kontaktierung eines elektronischen Bauelementes
20 gestatten. Im Gurtrasterabstand sind jeweils weitere
Kontaktstifte 51 bis 54 vorgesehen.
In Fig. 3 erkennt man die Befestigungsschrauben 28 zum
justierbaren Befestigen der Platinen 14. Die Fassungen
30 sind in Fig. 3 ebenfalls schematisch dargestellt.
Außerdem erkennt man Ausnehmungen 37 für die Scharniere
7.
In Fig. 4, die einen Schnitt durch Fig. 3 entlang der
Linie IV-IV zeigt, erkennt man im Detail, wie die
Gurtauflageleiste 16 mit Hilfe von Führungsschrauben 38
und Federn 39 mit der Basisleiste 36 federnd verbunden
ist. Außerdem erkennt man im Detail den Führungsdorn 17
mit der zugeordneten Ausnehmung 35 in der Andrückleiste
34.
Die Federn 39 sind mit ihren Enden jeweils in Sackloch
bohrungen 40 in der Basisleiste 36 und Sacklochboh
rungen 41 in der Gurtauflageleiste 16 eingesetzt.
Zwischen der Basisleiste 36 und der Gurtauflageleiste
16 ist ein Spalt 42 vorgesehen, durch den ein verti
kaler Toleranzausgleich ermöglicht wird.
Die Führungsschrauben 38 weisen Köpfe 43 auf, die in
zugeordneten Bohrungen in der Gurtauflageleiste 16
versenkt sind und die maximale Breite des Spaltes 42
festlegen.
In der rechten Hälfte der Fig. 4 erkennt man jeweils
einem elektronischen Bauelement 20 zugeordnete Kontakt
stifte 52, 54, wobei im Gurtrasterabstand zehn solche
Paare aus Kontaktstiften 52, 54 dargestellt sind.
Wie man in Fig. 4 erkennt, verfügen die Kontaktstifte
52, 54 über gezahnte Kontaktköpfe, die bewirken, daß
ein seitliches Wegrutschen der Anschlußdrähte 19 ver
mieden wird. Obwohl bei dem in der Zeichnung darge
stellten Ausführungsbeispiel für jedes elektronische
Bauelement 20 zur Kelvin-Kontaktierung insgesamt vier
Kontaktstifte 51 bis 54 vorgesehen sind, kann die
Anordnung selbstverständlich auch so getroffen werden,
daß lediglich jeweils ein Kontaktstift für einen An
schlußdraht 19 vorgesehen ist, wenn auf die mit der
Kelvin-Kontaktierung verbundenen Vorteile verzichtet
werden kann.
Claims (10)
1. Vorrichtung zum Meßkontaktieren der Anschlußdrähte
von zu testenden gegurteten elektronischen Bau
elementen mit wenigstens einem gegen die Anschluß
drähte andrückbaren Paar von Kontakten, da
durch gekennzeichnet, daß die Kontakte
durch ein Nadelbett mit mehreren paarweise einan
der zugeordneten Kontaktstiften (15, 51, 52, 53,
54) gebildet sind, die im Abstand des Gurtrasters
entlang wenigstens einer Gurtauflageleiste (16)
angeordnet sind, auf der der Gurt (18) mit den
über die Kontaktstifte (15, 51, 52, 53, 54) hin
ausragenden Anschlußdrähten (19) auflegbar ist,
und daß eine auf die Gurtauflageleiste (16) und
die Kontaktstifte (15, 51, 52, 53, 54) aufdrück
bare Andrückleiste (34) vorgesehen ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Andrückleiste (34)
aus durchsichtigem Material hergestellt ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die Andrückleiste (34)
auf der Unterseite eines durchsichtigen aufklapp
baren Deckels (6) eines Einfuhröffnungen (21) für
den Gurt (18) aufweisenden Gehäuses (1) angeordnet
ist, in dem die Kontaktstifte (15, 51, 52, 53, 54)
aufrecht stehend und in Längsrichtung federnd
sowie die quer zur Aufklapprichtung des Deckels
(6) verlaufenden Gurtauflageleisten (16) angeord
net sind.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch ge
kennzeichnet, daß in dem Gehäuse (1) meh
rere in Gurtrichtung gegeneinander verschiebbare
Platinen (14) vorgesehen sind, auf denen jeweils
eine Gruppe von Kontaktstiften (15, 51, 52, 53,
54) mit der zugehörigen Gurtauflageleiste (16)
angeordnet ist.
5. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß jedem
Anschlußdraht (19) zur Kelvin-Kontaktierung zwei
in Richtung der Anschlußdrähte (19) miteinander
fluchtende Kontaktstifte (51, 52) zugeordnet sind.
6. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die Gurt
auflageleiste (16) in Andrückrichtung der Andruck
leiste (34) federnd gelagert ist.
7. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß über jede
Gurtauflageleiste (16) ein mit der Lochung des
Gurtes in Eingriff bringbarer Führungsdorn (17)
hervorsteht, dem in der Andrückleiste (34) eine
Ausnehmung (35) zugeordnet ist.
8. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die Kon
taktstifte (15, 51 bis 54) mit gezahnten Kontakt
köpfen versehen sind.
9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 8,
dadurch gekennzeichnet, daß der Deckel
(6) mit Scharnieren (7) an der Rückwand (5) des
Gehäuses (1) verschwenkbar befestigt ist und mit
Hilfe wenigstens einer an der Vorderwand (4) des
Gehäuses (1) verschwenkbar angeordneten Haltenase
(10) an der den Scharnieren (7) gegenüberliegenden
Seite festklemmbar ist.
10. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch ge
kennzeichnet, daß mehrere Hebel mit Halte
nasen (10) vorgesehen sind, die über eine Griff
leiste (11) miteinander verbunden sind, und daß
auf dem durchsichtigen Deckel (6) gegenüber der
Andrückleiste (34) versetzt mehrere Handgriffe (8)
angeordnet sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19863615995 DE3615995A1 (de) | 1986-05-13 | 1986-05-13 | Vorrichtung zum messkontaktieren der anschlussdraehte von zu testenden gegurteten elektronischen bauelementen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19863615995 DE3615995A1 (de) | 1986-05-13 | 1986-05-13 | Vorrichtung zum messkontaktieren der anschlussdraehte von zu testenden gegurteten elektronischen bauelementen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3615995A1 DE3615995A1 (de) | 1987-11-19 |
DE3615995C2 true DE3615995C2 (de) | 1988-12-15 |
Family
ID=6300672
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19863615995 Granted DE3615995A1 (de) | 1986-05-13 | 1986-05-13 | Vorrichtung zum messkontaktieren der anschlussdraehte von zu testenden gegurteten elektronischen bauelementen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3615995A1 (de) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3413061A1 (de) * | 2017-06-08 | 2018-12-12 | Rasco GmbH | Schützbuchse und ic-test-handhabungsgerät |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DD58138A (de) * | ||||
US3629702A (en) * | 1970-03-09 | 1971-12-21 | Hazeltine Corp | Automatic tester for a plurality of discrete electrical components supplied in a repetitive predetermined sequence |
-
1986
- 1986-05-13 DE DE19863615995 patent/DE3615995A1/de active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3615995A1 (de) | 1987-11-19 |
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