DE3615995C2 - - Google Patents

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DE3615995C2
DE3615995C2 DE19863615995 DE3615995A DE3615995C2 DE 3615995 C2 DE3615995 C2 DE 3615995C2 DE 19863615995 DE19863615995 DE 19863615995 DE 3615995 A DE3615995 A DE 3615995A DE 3615995 C2 DE3615995 C2 DE 3615995C2
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DE19863615995
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Klaus 7835 Teningen De Flessa
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ITF ROBOTIC GMBH, 79224 UMKIRCH, DE
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Itronic Fuchs 7809 Denzlingen De GmbH
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support

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Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Meßkontak­ tieren der Anschlußdrähte von zu testenden gegurteten elektronischen Bauelementen mit wenigstens einem gegen die Anschlußdrähte andrückbaren Paar von Kontakten.
Derartige Vorrichtungen sind beispielsweise aus den Prospekten der Firma SCHOENELEC-PFE GMBH, München über den Testhandler TA 05 bzw. den Testhandler TA 15 sowie aus der US-PS 36 29 702 bekannt und werden benutzt, um sicherzustellen, daß alle an einem Gurt befestigten elektronischen Bauelemente die geforderten Eigenschaf­ ten haben. Aus der DD 58 138 ist eine Kontakteinrich­ tung zur Durchführung von Prüfungen an elektrischen Bausteinen mittels eines Prüfadapters bekannt, die im wesentlichen aus einem oder mehreren in einer oder verschiedenen Ebenen angeordneten Kontaktelementen besteht. Mit Hilfe der bekannten Vorrichtungen werden die elektronischen Bauelemente mit Einzelkontaktsätzen durch schrittweises Abspulen und Kontaktieren an ro­ tierenden Mechanik-Systemen gemessen. Damit ist jedoch nur ein getakteter serieller Meßablauf möglich. Die technisch oft erforderliche Parallel- und/oder Mehr­ fach-Messung am gleichen Bauelement, bzw. an einer Rei­ he von mehreren Bauelementen ist schwierig oder unmög­ lich, bzw. wird unverhältnismäßig teuer und langsam im Meßablauf sowie unzuverlässig in der Meßkontaktierung.
Ausgehend von diesem Stand der Technik liegt der Er­ findung die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung der eingangs genannten Art zu schaffen, die es gestattet, gleichzeitig eine Vielzahl von Bauelementen zu kontak­ tieren, um dadurch den Meßablauf zu beschleunigen.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Kontakte durch ein Nadelbett mit mehreren paarweise einander zugeordneten Kontaktstiften gebildet sind, die im Abstand des Gurtrasters entlang wenigstens einer Gurtauflageleiste angeordnet sind, auf der der Gurt mit den über die Kontaktstifte hinausragenden Anschluß­ drähten auflegbar ist, und daß eine auf die Gurtauf­ lageleiste und die Kontaktstifte aufdrückbare Andrück­ leiste vorgesehen ist.
Die Andrückleiste besteht vorzugsweise aus durchsich­ tigem Material, so daß eine optische Kontrolle der Kontaktierung auf einfache Weise möglich ist. Die Andrückleiste ist vorzugsweise auf der Unterseite eines durchsichtigen aufklappbaren Deckels angeordnet, der auf der Oberseite eines Gehäuses befestigt ist, in dem die Kontaktstifte aufrecht stehend und in Längsrichtung federnd sowie die quer zur Aufklapprichtung des Deckels verlaufenden Gurtauflageleisten angeordnet sind.
In dem Gehäuse sind vorteilhafterweise mehrere in Gurtrichtung gegeneinander verschiebbare Platinen durch Schrauben festgeklemmt, auf denen jeweils eine Gruppe von Kontaktstiften mit der zugehörigen Gurtauflage­ leiste angeordnet ist. Falls eine Kelvin-Kontaktierung erfolgen soll, sind in Richtung der Anschlußdrähte jeweils zwei miteinander fluchtende Kontaktstifte vorgesehen. Um einen Toleranzausgleich zu schaffen, ist die Gurtauflageleiste in Andrückrichtung der Andrück­ leiste federnd gelagert. Führungsdorne, die über die Gurtauflageleisten hervorstehen, gestatten eine präzise Arretierung des die zu testenden Bauelemente tragenden Gurtes. Um die Sicherheit der Kontaktierung zu erhöhen, sind die Kontaktstifte mit Kontaktköpfen versehen, auf denen zahnartige Vorsprünge vorgesehen sind.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel der Er­ findung dargestellt. Es zeigen:
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht der erfindungs­ gemäßen Vorrichtung bei geöffnetem Deckel,
Fig. 2 eine Seitenansicht auf einen Querschnitt der Vorrichtung in vergrößerter Darstellung,
Fig. 3 eine Draufsicht auf die erfindungsgemäße Vorrichtung bei abgenommenem Deckel und
Fig. 4 einen Schnitt entlang der Linie IV-IV in Fig. 3 in einer Ansicht von vorne.
Die in Fig. 1 in perspektivischer Ansicht dargestellte Vorrichtung zum Meßkontaktieren der Anschlußdrähte von zu testenden gegurteten elektronischen Bauelementen verfügt über ein kastenförmiges Gehäuse 1 mit einer linken Seitenwand 2, einer rechten Seitenwand 3, einer Vorderwand 4 und einer Rückwand 5. An der Rückwand 5 ist ein durchsichtiger Deckel 6, beispielsweise aus Plexiglas, mit Scharnieren 7 (Fig. 2) befestigt.
In der Nähe des zur Vorderwand 4 weisenden Randes sind auf dem Deckel zwei Handgriffe 8 und eine Verstärkungs­ leiste 9 befestigt. Wenn der Deckel 6 zugeklappt ist, wird er auf der den Scharnieren 7 gegenüberliegenden Seite mit Hilfe von ein- und ausrastbaren Haltenasen 10 in der geschlossenen Stellung gehalten. Die Haltenasen 10 sind an einer U-förmigen Griffleiste 11 befestigt, die gegenüber der Vorderwand 4 des Gehäuses 1 ver­ schwenkbar ist, um bei Bedarf die Haltenasen 10 zurück­ zuziehen, so daß der Deckel 6 freigegeben wird und durch Hochziehen an den Handgriffen 8 ein Zugang zum Innern des Gehäuses 1 geschaffen werden kann.
Im Innern des Gehäuses 1 sind mehrere Platinen 14 parallel zur Vorderwand 4 bzw. Rückwand 5 geringfügig verschiebbar und justierbar befestigt. Auf den Platinen 14 sind in Fig. 1 insgesamt mit 15 bezeichnete Kontakt­ stifte in der unten näher erläuterten Weise angeordnet. Zur Vereinfachung der Zeichnung sind die Kontaktstifte 15 in Fig. 1 lediglich auf der ganz linken Platine 14 gezeichnet, obwohl alle Platinen 14 gleich aufgebaut und bestückt sind.
Parallel zu den Kontaktstiften 15 erstreckt sich je­ weils eine Gurtauflageleiste 16, die gegenüber der Platine 14 federnd gelagert sind. Weiterhin erkennt man in Fig. 1 über die Gurtauflageleisten 16 hervorstehende Führungsdorne 17, die beim Auflegen eines in Fig. 2 gezeigten elektronische Bauelemente 20 enthaltenden Gurtes 18 auf die Oberseite der Gurtauflageleisten 16 dazu dienen, mit den Führungslöchern im Gurt 18 in Eingriff gebracht zu werden, um den Gurt 18 in Längs­ richtung und Querrichtung unverrückbar festzuhalten. Aus Vereinfachungsgründen ist der Gurt 18 mit den elektronischen Bauelementen 20 in Fig. 1 nicht darge­ stellt. Das Einlegen des bestückten Gurtes 18 erfolgt bei geöffnetem Deckel 6 in der Weise, daß die Anschluß­ drähte 19 der elektronischen Bauelemente 20 über die Kontaktstifte 15 zu liegen kommen. Um eine Beschädigung des Gurtes 18 bei geschlossenem Deckel 6 zu vermeiden, ist sowohl in der linken Seitenwand 2 als auch in der rechten Seitenwand 3 jeweils eine dem Gurtverlauf angepaßte Ausnehmung 21 vorgesehen. Sowohl die Abstände der Kontaktstifte 15 als auch die Abstände der Füh­ rungsdorne 17 entsprechen dem Gurtraster. Durch seit­ liches Verschieben der Platinen 14 ist es möglich, einen Toleranzausgleich in Längsrichtung des Gurtes 18 vorzunehmen. Bei dem in Fig. 1 dargestellten Ausfüh­ rungsbeispiel ist jede Platine 14 zum Testen von zehn jeweils zwei Anschlußdrähte 19 aufweisenden elektroni­ schen Bauelementen 20 ausgelegt. Insgesamt sind im kastenförmigen Gehäuse 1 fünf mit Kontaktstiften 15 bestückte Platinen 14 vorgesehen, so daß bei geschlos­ senem Deckel 6 gleichzeitig fünfzig elektronische Bauelemente 20 nach einem Vorwärtsschritt des Gurtes 18 zuverlässig kontaktiert werden können.
Auf diese Weise sind beliebige gemultiplexte Meß- und z.B. Ladevorgänge möglich. Selbstverständlich kann der modulare Aufbau der in Fig. 1 dargestellten Zehner­ gruppen auch länger oder kürzer ausgebildet sein. Da die Kontaktierung der elektronischen Bauelemente 20 von unten durchgeführt wird, ergibt sich ein leichtes Einlegen des Gurtes 18. Durch Zurückklappen des Deckels 6 ist ein völlig freier Zugang zur Aufnahme des Gurtes 18 gewährleistet. Nach dem Einlegen des Gurtes 18 ist eine einwandfreie optische Kontrolle auf hundertprozen­ tige Kontaktierung dank der Transparenz des Deckels 6 möglich.
Weitere Einzelheiten des Aufbaus der Vorrichtung er­ geben sich aus der in Fig. 2 dargestellten Schnitt­ ansicht. Das Gehäuse 1 verfügt über eine Bodenplatte 25, die über Füße 26 abgestützt ist. Oberhalb der Bodenplatte 25 sind Stützen 27 vorgesehen, auf denen die Platine 14 mit Hilfe von Schrauben 28 lösbar be­ festigt ist. Die Schrauben 28 erstrecken sich dabei durch Langlöcher in der Platine 14, so daß eine seit­ liche Justage mehrerer Platinen 14 innerhalb des Ge­ häuses 1 zum Tolereanzausgleich von Längenunterschieden im Material des Gurtes 18 möglich ist.
Bei dem in Fig. 2 dargestellten Ausführungsbeispiel erkennt man, daß die Vorderwand 4 und die Rückwand 5 aus besonders starkem Material hergestellt sind. In der Rückwand 5 ist in regelmäßigen Abständen jeweils ein Schlitz 29 vorgesehen, durch den ein Bandkabel hin­ durchgeführt ist, das außerhalb des Gehäuses 1 mit der Test- und Meßelektronik verbunden ist. Im Innern des Gehäuses 1 mündet das in der Zeichnung nicht darge­ stellte Flachkabel in einen Stecker 29, der in eine Fassung 30 eingesteckt ist. Jede der Platinen 14 ist mit einer solchen Fassung 30 ausgestattet, die über auf der Platine 14 verlaufende, in der Zeichnung nicht dargestellte Leiterbahnen mit den Kontaktstiften 15 verbunden ist.
Bei dem in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbei­ spiel sind jedem Anschlußdraht 19 zur Durchführung einer Kelvin-Kontaktierung jeweils ein erster Kontakt­ stift 51 und ein zweiter Kontaktstift 52 zugeordnet. Die Kontaktstifte 51, 52 sind jeweils in mit den Lei­ terbahnen auf der Platine 14 verlöteten Hülsen 61, 62 federnd geführt. Wie man in Fig. 2 erkennt, verfügen die Kontaktstifte über Kontaktierköpfe, deren Durch­ messer größer als der Durchmesser des Schaftes der Kontaktstifte 51, 52 ist. Auf der zu den Anschluß­ drähten weisenden Oberseite verfügen die Kontaktier­ köpfe über eine Zahnung, um eine sichere Kontaktierung zu gewährleisten.
Wie man in Fig. 2 erkennt, ist auf der Unterseite des Deckels 6 im Bereich der Kontaktstifte 51, 52 und der Gurtauflageleiste 16 eine Andrückleiste 34 mit einer Ausnehmung 35 für den Führungsdorn 17 vorgesehen. Die Andrückleiste 34 besteht ebenfalls aus transparentem Material, um eine Sicht auf die Kontaktstellen an den Anschlußdrähten 19 der elektronischen Bauelementen 20 zu gestatten. Unterhalb der Gurtauflageleiste 16 be­ findet sich eine Basisleiste 36, auf der die Gurtauf­ lageleiste 16 vertikal federnd geführt ist.
Man erkennt in Fig. 2 deutlich, wie der Gurt 18 zwi­ schen der Andrückleiste 34 einerseits und den Kontakt­ stiften 51, 52 sowie der Gurtauflageleiste 16 anderer­ seits eingeklemmt ist. Nach dem Zurückziehen der Griff­ leiste 11 nach links in Fig. 2 wird der Deckel 6 frei­ gegeben und springt unter der Federwirkung der den Kontaktstiften 51, 52 und der Gurtauflageleiste 16 zugeordneten Federn auf. Mit den Handgriffen 8 kann dann der Deckel 6 ganz geöffnet werden, um den Gurt 18 aus der Verankerung mit den Führungsdornen 17 zu lösen und um einen Vorwärtstakt weiterzuverschieben und erneut mit den Führungsdornen 17 in Eingriff zu brin­ gen. Nach dem Schließen des Deckels 6 erfolgt dann eine neue Kontaktierung und Messung.
In Fig. 3 ist das Innere des Gehäuses 1 in einer Drauf­ sicht ohne den durchsichtigen Deckel 6 und ohne die gegurteten elektronischen Bauelemente 20 dargestellt. In Fig. 3 erkennt man, wie den Kontaktstiften 51, 52 jeweils paarweise Kontaktstifte 53, 54 zugeordnet sind, die zusammen mit den Kontaktstiften 51, 52 eine Kelvin-Kontaktierung eines elektronischen Bauelementes 20 gestatten. Im Gurtrasterabstand sind jeweils weitere Kontaktstifte 51 bis 54 vorgesehen.
In Fig. 3 erkennt man die Befestigungsschrauben 28 zum justierbaren Befestigen der Platinen 14. Die Fassungen 30 sind in Fig. 3 ebenfalls schematisch dargestellt. Außerdem erkennt man Ausnehmungen 37 für die Scharniere 7.
In Fig. 4, die einen Schnitt durch Fig. 3 entlang der Linie IV-IV zeigt, erkennt man im Detail, wie die Gurtauflageleiste 16 mit Hilfe von Führungsschrauben 38 und Federn 39 mit der Basisleiste 36 federnd verbunden ist. Außerdem erkennt man im Detail den Führungsdorn 17 mit der zugeordneten Ausnehmung 35 in der Andrückleiste 34.
Die Federn 39 sind mit ihren Enden jeweils in Sackloch­ bohrungen 40 in der Basisleiste 36 und Sacklochboh­ rungen 41 in der Gurtauflageleiste 16 eingesetzt. Zwischen der Basisleiste 36 und der Gurtauflageleiste 16 ist ein Spalt 42 vorgesehen, durch den ein verti­ kaler Toleranzausgleich ermöglicht wird.
Die Führungsschrauben 38 weisen Köpfe 43 auf, die in zugeordneten Bohrungen in der Gurtauflageleiste 16 versenkt sind und die maximale Breite des Spaltes 42 festlegen.
In der rechten Hälfte der Fig. 4 erkennt man jeweils einem elektronischen Bauelement 20 zugeordnete Kontakt­ stifte 52, 54, wobei im Gurtrasterabstand zehn solche Paare aus Kontaktstiften 52, 54 dargestellt sind.
Wie man in Fig. 4 erkennt, verfügen die Kontaktstifte 52, 54 über gezahnte Kontaktköpfe, die bewirken, daß ein seitliches Wegrutschen der Anschlußdrähte 19 ver­ mieden wird. Obwohl bei dem in der Zeichnung darge­ stellten Ausführungsbeispiel für jedes elektronische Bauelement 20 zur Kelvin-Kontaktierung insgesamt vier Kontaktstifte 51 bis 54 vorgesehen sind, kann die Anordnung selbstverständlich auch so getroffen werden, daß lediglich jeweils ein Kontaktstift für einen An­ schlußdraht 19 vorgesehen ist, wenn auf die mit der Kelvin-Kontaktierung verbundenen Vorteile verzichtet werden kann.

Claims (10)

1. Vorrichtung zum Meßkontaktieren der Anschlußdrähte von zu testenden gegurteten elektronischen Bau­ elementen mit wenigstens einem gegen die Anschluß­ drähte andrückbaren Paar von Kontakten, da­ durch gekennzeichnet, daß die Kontakte durch ein Nadelbett mit mehreren paarweise einan­ der zugeordneten Kontaktstiften (15, 51, 52, 53, 54) gebildet sind, die im Abstand des Gurtrasters entlang wenigstens einer Gurtauflageleiste (16) angeordnet sind, auf der der Gurt (18) mit den über die Kontaktstifte (15, 51, 52, 53, 54) hin­ ausragenden Anschlußdrähten (19) auflegbar ist, und daß eine auf die Gurtauflageleiste (16) und die Kontaktstifte (15, 51, 52, 53, 54) aufdrück­ bare Andrückleiste (34) vorgesehen ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Andrückleiste (34) aus durchsichtigem Material hergestellt ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Andrückleiste (34) auf der Unterseite eines durchsichtigen aufklapp­ baren Deckels (6) eines Einfuhröffnungen (21) für den Gurt (18) aufweisenden Gehäuses (1) angeordnet ist, in dem die Kontaktstifte (15, 51, 52, 53, 54) aufrecht stehend und in Längsrichtung federnd sowie die quer zur Aufklapprichtung des Deckels (6) verlaufenden Gurtauflageleisten (16) angeord­ net sind.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch ge­ kennzeichnet, daß in dem Gehäuse (1) meh­ rere in Gurtrichtung gegeneinander verschiebbare Platinen (14) vorgesehen sind, auf denen jeweils eine Gruppe von Kontaktstiften (15, 51, 52, 53, 54) mit der zugehörigen Gurtauflageleiste (16) angeordnet ist.
5. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß jedem Anschlußdraht (19) zur Kelvin-Kontaktierung zwei in Richtung der Anschlußdrähte (19) miteinander fluchtende Kontaktstifte (51, 52) zugeordnet sind.
6. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Gurt­ auflageleiste (16) in Andrückrichtung der Andruck­ leiste (34) federnd gelagert ist.
7. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß über jede Gurtauflageleiste (16) ein mit der Lochung des Gurtes in Eingriff bringbarer Führungsdorn (17) hervorsteht, dem in der Andrückleiste (34) eine Ausnehmung (35) zugeordnet ist.
8. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Kon­ taktstifte (15, 51 bis 54) mit gezahnten Kontakt­ köpfen versehen sind.
9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Deckel (6) mit Scharnieren (7) an der Rückwand (5) des Gehäuses (1) verschwenkbar befestigt ist und mit Hilfe wenigstens einer an der Vorderwand (4) des Gehäuses (1) verschwenkbar angeordneten Haltenase (10) an der den Scharnieren (7) gegenüberliegenden Seite festklemmbar ist.
10. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch ge­ kennzeichnet, daß mehrere Hebel mit Halte­ nasen (10) vorgesehen sind, die über eine Griff­ leiste (11) miteinander verbunden sind, und daß auf dem durchsichtigen Deckel (6) gegenüber der Andrückleiste (34) versetzt mehrere Handgriffe (8) angeordnet sind.
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