DE4332848A1

DE4332848A1 - Sensor zur Bestimmung von Neigungen, Winkeln oder Waagrechten

Info

Publication number: DE4332848A1
Application number: DE19934332848
Authority: DE
Inventors: Klaus Dr Ing Dr Dobler
Original assignee: Robert Bosch GmbH
Current assignee: Robert Bosch GmbH
Priority date: 1993-09-27
Filing date: 1993-09-27
Publication date: 1994-08-25

Description

Stand der Technik

Die Erfindung geht aus von einem Sensor zur Bestimmung von Nei gungen, Winkeln oder Waagrechten nach der Gattung des Hauptan spruchs. Bei einem bekannten, in der Praxis verwendeten Sensor ist die Meßfläche auf die jeweilige Länge des Sensors begrenzt. Dadurch steht nur eine sehr begrenzte Meßfläche oder Meßstrecke zur Ver fügung.

Vorteile der Erfindung

Der erfindungsgemäße Sensor zur Bestimmung von Neigungen, Winkeln oder Waagrechten mit den kennzeichnenden Merkmalen des Hauptan spruchs hat demgegenüber den Vorteil, daß die Meßfläche erweitert werden kann. Es ist dabei möglich, den Peilstrahl nicht nur zum Messen, sondern auch als Hilfe für Markierungen bzw. zum Anreißen von Meßpunkten zu verwenden. Dadurch werden bisher komplizierte Meß vorgänge stark vereinfacht. Die Strahlungsquelle ist in einfacher Weise in das Gehäuse des Neigungssensors mit zu integrieren oder kann auch mit Hilfe einer zusätzlichen, aber einfachen Halterung am Gehäuse des Neigungssensors befestigt werden.

Bisher verwendete Neigungssensoren sind somit in einfacher Weise nachrüstbar. Ist der Peilstrahl in bezug zur Meßfläche oder auch senkrecht zu dieser im definierten Winkel verstellbar, so können auch Differenzwinkel zu einer beliebigen Auflagenrichtung angepeilt werden.

Durch die in den Unteransprüchen aufgeführten Maßnahmen sind vor teilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen der im Hauptanspruch angegebenen Merkmale möglich.

Zeichnung

Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert. Es zeigt

Fig. 1 in schematischer Darstellung einen Neigungssensor mit Peil strahl zur Markierung von entfernten Punkten in einem Raum,

Fig. 2 eine Abwandlung zur Markierung eines Punktes unter einem vorgege benen Winkel und

Fig. 3 eine schematische Darstellung eines Nei gungssensors mit einer angebauten Strahlungsquelle.

Beschreibung der Ausführungsbeispiele

In der Fig. 1 ist mit 10 das Gehäuse eines Sensors zur Bestimmung von Neigungen, Winkeln oder Waagrechten bezeichnet, der mit seiner Meßfläche 11 auf einem Meßobjekt 12 aufliegt und dessen Neigung im Raum erfaßt. Unter der Meßfläche 11 ist eine plane Wand des Gehäuses 10 des Sensors zu verstehen. In bekannter Weise weist der Sensor mechanische, hydraulische und/oder elektronische Komponenten auf, die zur Bestimmung der Lage der Meßfläche 11 im Raum dienen. Wie in der Fig. 1 dargestellt, kann es aber notwendig sein, nicht nur die Oberfläche des Meßobjekts 12, auf dem der Sensor aufliegt, zu messen, sondern auch entfernt vom Meßobjekt 12 einen in derselben Ebene wie die Meßfläche liegenden Meßpunkt 15 festlegen zu können. Hierbei kann es sich zum Beispiel um einen an der Wand 16 eines Raums 17 anzubringenden Markierungs- oder Anreißpunkt 15 handeln. Hierzu ist im Gehäuse 10 des Sensors eine Strahlungsquelle 20 ange ordnet, die in den Fig. 1 und 2 nicht erkennbar ist, sondern in der Fig. 3 als separates Gehäuse mit Hilfe einer Halterung 22 am Gehäuse 10 des Sensors befestigt ist. Von der Strahlungsquelle 20 wird ein Peilstrahl 25 ausgestrahlt, der auf die Wand 16 im Punkt 15 auftrifft. Dieser Punkt 15 liegt in derselben Ebene wie die Meß fläche 11 bzw. die Oberfläche des Meßobjekts 12, da der Peilstrahl 25 in der Meßfläche 11 verlaufend angeordnet ist.

Ist die Strahlungsquelle 20 definiert beweglich im Gehäuse 10 des Sensors angeordnet, so kann auch von zum Beispiel der oben erwähnten ersten Markierung 15 in derselben Ebene unter einem gewünschten Winkel eine zweite Markierung 27 an einer beliebigen Wand des Raums 17 angebracht werden. Der dazugehörige Peilstrahl 28 ist in der Fig. 1 gestrichelt eingezeichnet.

Der Peilstrahl kann auch senkrecht zur Auflageebene verstellbar sein, so daß auch Markierungen in dieser Richtung unter definiertem Winkel möglich sind.

Statt einer Meßfläche 11 kann der Sensor auch eine Meßkante auf weisen. In diesem Fall verläuft der Peilstrahl bündig mit dieser Meßkante.

Eine weitere Anwendung des Sensors mit Peilstrahl ist in der Fig. 2 dargestellt. Der Peilstrahl 25 befindet sich zwar auch in der Ebene der Meßfläche 11, aber es wird ein Winkel α zwischen der Meß fläche 11 und der Oberfläche eines Meßobjekts bzw. einer Bodenfläche bestimmt. Somit kann mit Hilfe des Peilstrahls 25 ein Ausgangspunkt 30 zu einem Markierungspunkt 15 hin verlängert werden. Während in Fig. 2 der Neigungssensor bewegt wird und die Strahlungsquelle und somit der Peilstrahl 25 fest mit der Meßfläche verbunden ist, ist es auch denkbar, die Strahlungsquelle und somit den Peilstrahl 25 be weglich zur Meßfläche 11 des Sensors zu bewegen. Dadurch können de finierte Winkel zur Meßfläche 11 als Bezugsfläche eingestellt oder umgekehrt entsprechende Winkel bestimmt werden. Als Strahlungs quellen ist es möglich Lichtquellen unterschiedlicher Art zu ver wenden. Für eine exakte Messung ist es aber notwendig, daß der Peil strahl 25 stark gebündelt ist, was bevorzugt durch die Anwendung eines Laserstrahls erreicht wird. Andere Lichtquellen benötigen eine zusätzliche Einrichtung zur Fokusierung des Lichtstrahles.

In der Fig. 3 ist, wie oben bereits erwähnt, das Gehäuse 21 der Strahlungsquelle 20 an dem Gehäuse 10 des Neigungssensors zusätzlich bzw. separat mit Hilfe einer Halterung 22 befestigt. Dadurch kann die Strahlungsquelle 20 als Zubehör für bereits verwendete Neigungs sensoren Verwendung finden oder zu einem späteren Zeitpunkt bei Be darf nachgerüstet werden. Die Verwendung und die Funktion der Strahlungsquelle 20 ist wie oben bereits beschrieben. Ferner ist man bei den Neigungssensoren nicht auf das oben beschriebene Prinzip be grenzt, sondern es sind alle anderen Meßprinzipien einsetzbar.

Claims

1. Sensor zur Bestimmung von Neigungen, Winkeln oder Waagrechten mit Hilfe einer als Referenz dienenden Meßkante oder Meßfläche (11), da durch gekennzeichnet, daß zur Erfassung eines außerhalb der Meß fläche (11) oder der Meßkante des Sensors liegenden Meßpunkts (15) eine einen Peilstrahl (25) erzeugende Strahlungsquelle (20) vor handen ist und dieser Peilstrahl (25) bündig und/oder parallel zur Meßkante oder zur Meßfläche (11) verläuft.

2. Sensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Peil strahl (25) ein gebündelter, fokusierter Strahl ist.

3. Sensor nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Peilstrahl (25) in der Ebene der Meßfläche (11) beweglich ist und definiert verstellt werden kann.

4. Sensor nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlungsquelle (20) in einem separaten Gehäuse am Gehäuse (10) des Sensors angeordnet ist.

5. Sensor nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß das separate Gehäuse (20) mit Hilfe einer Halterung (21) am Sen sor befestigt ist.

6. Sensor nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Peilstrahl (25) senkrecht zur Ebene der Meßfläche (11) be weglich ist und definiert verstellt werden kann.

7. Sensor nach einem der Anspruche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die von der Strahlungsquelle (20) ausgesandte Strahlung im sichtbaren Bereich liegt.