DE4243144A1 - Objektiv für ein FT-Raman-Mikroskop - Google Patents
Objektiv für ein FT-Raman-MikroskopInfo
- Publication number
- DE4243144A1 DE4243144A1 DE4243144A DE4243144A DE4243144A1 DE 4243144 A1 DE4243144 A1 DE 4243144A1 DE 4243144 A DE4243144 A DE 4243144A DE 4243144 A DE4243144 A DE 4243144A DE 4243144 A1 DE4243144 A1 DE 4243144A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- mirror
- optical axis
- laser radiation
- lens
- raman
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 title claims description 47
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 47
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 46
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 13
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 3
- 241001249696 Senna alexandrina Species 0.000 claims description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 39
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 9
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 7
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 7
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 4
- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 238000004566 IR spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000003841 Raman measurement Methods 0.000 description 1
- 238000001237 Raman spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000012497 inhomogeneous sample Substances 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000001307 laser spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000002095 near-infrared Raman spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B19/00—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
- G02B19/0004—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed
- G02B19/0019—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed having reflective surfaces only (e.g. louvre systems, systems with multiple planar reflectors)
- G02B19/0023—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed having reflective surfaces only (e.g. louvre systems, systems with multiple planar reflectors) at least one surface having optical power
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B19/00—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
- G02B19/0033—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use
- G02B19/0047—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use for use with a light source
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B19/00—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
- G02B19/0033—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use
- G02B19/009—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use for use with infrared radiation
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
Description
Die Erfindung betrifft ein Raman-Mikroskop, insbesondere für
ein Fouriertransform (FT)-Spektrometer, mit einem Objektiv zur
vergrößernden Abbildung eines punktförmigen Bereichs auf einer
Oberfläche einer Meßprobe, mit Mitteln zum Einstrahlen von
Laserstrahlung auf den punktförmigen Bereich und mit Mitteln
zur Detektion der emittierten Raman-Strahlung.
Ein solches Raman-Mikroskop ist beispielsweise bekannt aus dem
Konferenzbeitrag "Holographic Optical Components for Laser
Spectroscopy Applications" von Harry Owen, verteilt auf der
Konferenz "Holographics International ′92", 26-29. Juli 1992,
London, England.
Die Raman-Streuung ist ein sehr schwacher Prozeß, bei dem ein
Photon in Wechselwirkung mit einem Molekül tritt und dabei
inelastisch gestreut wird. Das Photon verliert oder gewinnt
bei diesem Prozeß also Energie, die sich in einer Frequenz
verschiebung des gestreuten Photons ausdrückt. Diese Frequenz
verschiebung entspricht Rotations-, Vibrations- oder elektro
nischen Zustandsübergängen des Moleküls, an dem das Photon
gestreut wird. Für Vibrations-Übergänge liegt die Streuwahr
scheinlichkeit ungefähr bei 10-7. Demgegenüber ist der als
Rayleigh-Streuung bekannte elastische Streuprozeß, bei dem
während der Wechselwirkung zwischen Photon und Molekül kein
Energietransfer stattfindet, erheblich stärker. Die Raman-
Spektroskopie ist zu einer sehr empfindlichen und aussagekräf
tigen Methode zur Bestimmung von chemischen und molekularen
Strukturen in Flüssigkeiten, Festkörpern und an Oberflächen
entwickelt worden. Sie liefert komplementäre Aussagen zu der
üblichen Infrarot (IR)-Spektroskopie, da bei Raman-Prozessen
molekulare Übergänge möglich sind, die bei den Prozessen der
IR-Spektroskopie verboten sind.
In den letzten Jahren wurden verstärkt auch Nahinfrarot (NIR)-
Laser, wie beispielsweise Neodym-YAG-Laser für die Raman-
Spektroskopie, insbesondere in Fouriertransform (FT)-Spektro
metern verwendet. Ein solches FT-IR-Spektrometer ist beispiels
weise in der Firmenschrift "IFS 66" der Firma Bruker Analytische
Meßtechnik GmbH beschrieben. Das bei den klassischen Raman-
Experimenten äußerst störende Fluoreszenzlicht im sichtbaren
Bereich kann durch die Verwendung von NIR-Lasern zur Anregung
von Raman-Prozessen im wesentlichen vermieden werden.
Für die Untersuchung von sehr kleinen oder inhomogenen Proben
mit Hilfe der Raman-Spektroskopie werden im Raman-Spektrometer
Mikroskope mit entsprechenden Objektiven zur vergrößernden
Abbildung eines punktförmigen Bereichs auf der Oberfläche der
Meßprobe verwendet. Ein solches üblicherweise aus optischen
Linsen aufgebautes Mikroskop-Objektiv ist in beiden oben zitier
ten Druckschriften beschrieben. Ein derartiges kommerziell
erhältliches, für den sichtbaren Wellenlängenbereich optimiertes
Glasobjektiv, das für den Einschuß von fokussiertem Laserlicht
auf die Probenoberfläche und zur Aufnahme des emittierten Raman-
Spektrums eingesetzt wird, hat jedoch den Nachteil einer chroma
tischen Aberration, die zu einer Verzerrung der aufgenommenen
Spektren führt. Daher sind diese Glasobjektive nur in einem
sehr eingeschränkten optischen Bereich einsetzbar.
Gegen die chromatische Aberration in einem bestimmten Wellen
längenbereich werden herkömmliche Glasobjektive durch Beschich
tung entspiegelt. Diese Entspiegelung wirkt aber nur im sicht
baren Wellenlängenbereich, während das Objektiv im NIR-Bereich
zu Abbildungsfehlern führt. Zwar wäre auch eine Entspiegelung
und Korrektur der bekannten Glasobjektive für den IR-Bereich
prinzipiell möglich. Derartige Objektive wären jedoch in der
Herstellung sehr aufwendig, und die Korrekturwirkung würde
auch nur für einen kleinen Ausschnitt aus dem IR-Wellenlängen
bereich wirksam werden. Daher sind entspiegelte IR-Glasobjektive
im normalen Handel kaum erhältlich und sehr teuer.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, ein Raman-
Mikroskop der oben beschriebenen Art vorzustellen, das auf
einfache Weise aus kommerziell leicht erhältlichen optischen
Bauteilen aufgebaut ist und keine chromatische Aberration auf
weist.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß die
Laserstrahlung im Infrarot (IR)-, vorzugsweise im Nahinfrarot
(NIR)-Bereich liegt, und daß das Objektiv ein Cassegrain-Spie
gelobjektiv mit einem rotationssymmetrisch zu einer optischen
Achse angeordneten Konvexspiegel und einem ebenfalls zur opti
schen Achse des Objektivs rotationssymmetrischen Konkavspiegel
ist, wobei der auf der optischen Achse liegende Brennpunkt des
Konkavspiegels mit dem punktförmigen Bereich auf der Oberfläche
der Meßprobe übereinstimmt. Das verwendete Cassegrain-Spiegel
objektiv, das beispielsweise aus der Druckschrift DE-OS 33 03
140 an sich bekannt ist, ist achromatisch und führt daher zu
keinen Verzerrungen im NIR-Raman-Spektrum. Obwohl die erfin
dungsgemäße Problemlösung im nachhinein verblüffend einfach
erscheinen mag, ist bisher kein Raman-Mikroskop bekannt gewor
den, bei dem ein Cassegrain-Objektiv eingesetzt wurde.
Bei einer Ausführungsform der Erfindung sind die Mittel zum
Einstrahlen der Laserstrahlung so ausgebildet, daß die Laser
strahlung zunächst auf die spiegelnde Fläche des Konvexspiegels
trifft, wobei der wesentliche Teil der Laserstrahlung mit Ab
stand von der optischen Achse des Cassegrain-Spiegelobjektivs
eingestrahlt wird. Durch die Anordnung der Mittel zum Einstrah
len der Laserstrahlung auf der probenabgewandten Seite des
Cassegrain-Spiegelobjektivs entstehen keine Platzprobleme hin
sichtlich der Positionierung des oder der Einkoppelspiegel.
Aufgrund der Einstrahlung zumindest eines wesentlichen Teils
des Laserlichts mit seitlichem Versatz von der optischen Achse
des Objektivs wird kaum oder gar kein Laserlicht in den zu
einem Detektor führenden Strahlengang des aus dem Objektiv
austretenden Raman-Streulichts eingekoppelt.
Eine bevorzugte Möglichkeit der Einkopplung besteht darin, daß
die Laserstrahlung über einen halbdurchlässigen Planspiegel,
der auf der optischen Achse mit Abstand vom Cassegrain-Spiegel
objektiv auf der der Meßprobe entgegengesetzten Seite unter
einem Winkel zur optischen Achse angeordnet ist, auf den Kon
vexspiegel gelenkt wird, wobei die Laserstrahlung derart diver
gierend aufgeweitet ist, daß sie als symmetrisch zur optischen
Achse kegelförmiger Strahl auf den Konvexspiegel auftrifft,
und wobei der Kegelwinkel so gewählt ist, daß die Laserstrahlung
nach Durchlaufen des Cassegrain-Spiegelobjektivs auf den punkt
förmigen Bereich fokussiert wird.
Dadurch wird das Cassegrain-Spiegelobjektiv von der einfallenden
Laserstrahlung voll ausgeleuchtet und die letztere optimal zur
Raman-Anregung auf der Probenoberfläche ausgenutzt.
Bei einer bevorzugten Weiterbildung dieser Ausführungsform ist
der halbdurchlässige Planspiegel für Ramanstrahlung in einem
beobachteten Wellenlängenbereich transmittierend und für die
eingestrahlte NIR-Laserstrahlung reflektierend. Auf diese Weise
kann die eingekoppelte Laserstrahlung vollständig und ohne
Verluste für die Raman-Messung nutzbar gemacht werden.
Bei einer anderen Ausführungsform wird die Einkopplung dadurch
bewirkt, daß die Laserstrahlung als Parallelbündel mit geringem
Strahldurchmesser über einen vollständig reflektierenden Plan
spiegel, der mit seitlichem Versatz zur optischen Achse und
auf der proben-abgewandten Seite des Cassegrain-Spiegelobjektivs
angeordnet ist, unter einem solchen Winkel bezüglich der opti
schen Achse auf den Konvexspiegel gelenkt wird, daß das Paral
lelbündel nach Durchlaufen des Cassegrain-Spiegelobjektivs auf
den punktförmigen Bereich auftrifft. Auch in dieser Anordnung
wird eine Reflektion des eingekoppelten Laserlichts in Richtung
auf die Detektoranordnung des Spektrometers verhindert, wobei
allerdings ein Teil der aus dem Cassegrain-Spiegelobjektiv
austretenden Raman-Strahlung durch den vollständig reflektieren
den Planspiegel ebenfalls ausgeblendet bleibt. Das eingekoppelte
Laserlicht, bei dem es sich um einen im Querschnitt sehr dünnen,
hoch intensiven Strahl handeln kann, läuft bei dieser Ausfüh
rungsform am günstigsten auf der Mantelfläche des Kegels, der
normalerweise beim Betrieb des Cassegrain-Spiegelobjektivs mit
sichtbarem Licht mit einem bestimmten Aufweitungswinkel einge
strahlt wird, um den Konvex-Spiegel möglichst vollständig aus
zuleuchten, und der vom Spiegelobjektiv auf einen punktförmigen
Bereich auf der Probenoberfläche fokussiert wird.
Bei einer besonders bevorzugten Ausführungsform wird die Ein
koppelung der Laserstrahlung dadurch bewirkt, daß die Mittel
zum Einstrahlen der Laserstrahlung ein auf der optischen Achse
zwischen der Probe und dem Cassegrain-Spiegelobjektiv angeord
netes reflektierendes Element umfassen, mit dessen Hilfe ein im
wesentlichen quer zur optischen Achse eingestrahlter, paral
lelgebündelter Laserstrahl längs der optischen Achse auf den
punktförmigen Bereich auf der Oberfläche der Meßprobe gelenkt
werden kann. Bei dieser geometrisch äußerst einfachen Anordnung
entstehen keine Verluste der auf die Probe einfallenden Laser
strahlung aufgrund von Streuung oder Absorption im Objektiv.
Darüberhinaus ist auch kein Strahlteiler im Strahlengang des
Raman-Mikroskops erforderlich, der normalerweise zu zusätzlichen
Verlusten des gestreuten Ramanlichts führen würde.
Bei einer besonders vorteilhaften Weiterbildung dieser Ausfüh
rungsform weist das reflektierende Element eine geringere räum
liche Ausdehnung quer zur optischen Achse auf, als der Konvex
spiegel des Cassegrain-Spiegelobjektivs. Damit liegt das Reflek
torelement im Schatten des Konvex-Spiegels, so daß die Licht
ausbeute des von der Probe austretenden Raman-Lichts durch das
Reflektorelement nicht geschwächt wird.
Um eine höhere Strahlungsdichte des eingestrahlten Laserlichts
auf der Probenoberfläche zu erzielen, wirkt das reflektierende
Element bei einer vorteilhaften Ausführungsform fokussierend,
insbesondere fokussiert es die einfallende Laserstrahlung auf
den punktförmigen Bereich auf der Oberfläche der Meßprobe. Auf
diese Weise wird vor allem eine bessere Ortsauflösung des FTIR-
Raman-Spektrometers erzielt.
Das fokussierende Reflektorelement kann einen unter einem Winkel
zur optischen Achse angeordneten Planspiegel sowie eine im
Strahlengang der Laserstrahlung, vorzugsweise in Strahlrichtung
vor dem Planspiegel angeordnete fokussierende Linse umfassen.
Bevorzugt ist demgegenüber jedoch eine Ausführungsform, bei
der das reflektierende Element ein vorzugsweise unter 45° zur
optischen Achse angeordneter Parabolspiegel ist. Der Einschuß
des Laserstrahls erfolgt dann unter 90° zur optischen Achse.
Bei dieser vorteilhaften Lösung wird lediglich ein optisches
Element für Strahlumlenkung und Fokussierung des einfallenden
Laserstrahls benötigt, so daß die Verluste besonders klein
gehalten werden.
Die Erfindung wird im folgenden anhand der in der Zeichnung
dargestellten Ausführungsbeispiele näher beschrieben und er
läutert. Die der Beschreibung und der Zeichnung zu entnehmenden
Merkmale können bei anderen Ausführungsformen der Erfindung
einzeln, für sich oder zu mehreren in beliebigen Kombinationen
Anwendung finden.
Es zeigen:
Fig. 1a ein schematisches Diagramm des Strahlengangs in
einem Raman-Mikroskop mit einem Glasobjektiv
nach dem Stand der Technik;
Fig. 1b ein Schema des Strahlengangs durch ein Casse
grain-Spiegelobjektiv;
Fig. 2 den schematischen Strahlengang durch ein erfin
dungsgemäßes Raman-Mikroskop mit Einkopplung
des Laserlichts von oben, wobei der Laserstrahl
- a) stark gebündelt und mit seitlichen Versatz von der optischen Achse bzw.
- b) stark aufgeweitet auf den optimalen Ein
fallskegel
in das Cassegrain-Spiegelobjektiv eingekoppelt wird;
Fig. 3 den schematischen Strahlengang durch ein erfin
dungsgemäßes Raman-Mikroskop mit Laserstrahlein
kopplung zwischen dem Cassegrain-Spiegelobjektiv
und der Probe, wobei der Laserstrahl
- a) stark gebündelt ist und über einen Plan spiegel auf die Probe gelenkt wird,
- b) zunächst aufgeweitet ist, auf eine fokus sierende Linse trifft und mit einem Plan spiegel auf die Probe fokussiert wird, bzw.
- c) zunächst aufgeweitet ist und mit einem Parabolspiegel abgelenkt und auf die Probe fokussiert wird.
Bei dem in Fig. 1a dargestellten Strahlengang durch ein her
kömmliches Raman-Mikroskop wird aus einem Laser 10 ein Laser
strahl 20 über einen halbdurchlässigen oder dichroitischen
Spiegel 6 durch ein Glasobjektiv 30 auf eine Probe 2 gelenkt.
Die von der Probenoberfläche durch das Glasobjektiv 30 zurück
gestreute Raman- (und Rayleigh-) Strahlung durchläuft das Glas
objektiv 30 nunmehr in umgekehrter Richtung, wird von dem halb
durchlässigen Spiegel 6 durchgelassen und nach Durchlaufen von
anderen, in der Zeichnung nicht dargestellten Teilen des
Spektrometers in einem Detektor 40 nachgewiesen.
Fig. 1b zeigt schematisch den Strahlengang durch ein Cassegrain-
Spiegelobjektiv mit einem zur optischen Achse 5 rotationssym
metrischen Konvexspiegel 3, durch den ein in das Objektiv ein
fallendes, zunächst divergendes Strahlenbüschel 21 auf einen
ebenfalls zur optischen Achse 5 rotationssymmetrischen Konkav
spiegel 4 abgelenkt und von dort als einfallendes Strahlen
büschel 22 auf einen punktförmigen Bereich 1 der Meßprobe 2,
die auf einer Unterlage 12 angebracht ist, fokussiert wird.
Das von dem punktförmigen Bereich 1 reflektierte Streulicht
kann auf dem umgekehrten Weg das Cassegrain-Spiegelobjektiv 3,
4 wieder verlassen und zu in der Zeichnung nicht dargestellten
anderen Spektrometerteilen und letztlich zu einem ebenfalls
nicht dargestellten Detektor geführt werden. Eine solche im
Stand der Technik für die Verwendung in IR-Spektrometern an
sich bekannte Vorrichtung wurde bislang nie zur Untersuchung
von Raman-Strahlung eingesetzt.
Bei der in Fig. 2 a) gezeigten Ausführungsform des erfindungs
gemäßen Raman-Mikroskops wird der Laserstrahl 20 aus einem
Infrarot (IR)-, vorzugsweise einem Nahinfrarot (NIR)-Laser 11
über einen auf der probenabgewandten Seite des Cassegrain-Spie
gelobjektivs 3, 4 mit seitlichem Versatz zur optischen Achse 5
angeordneten Planspiegel 7 durch das Cassegrain-Objektiv 3, 4
auf den punktförmigen Bereich 1 auf der Oberfläche der Meß
probe 2 gelenkt. Der aus dem IR-Laser 11 austretende Laserstrahl
20 ist bei diesem Ausführungsbeispiel parallel gebündelt und
weist einen lediglich geringen Strahldurchmesser auf. Der mög
lichst vollständig reflektierende Planspiegel 7 ist so ange
ordnet, daß der Laserstrahl 20 auf eine Mantellinie 23 des
optimalen Einfallskegels in das Cassegrain-Spiegelobjektiv 3,
4 abgelenkt wird, aus dem er dann auf dem Teilpfad 24 austritt
und im punktförmigen Bereich 1 auf die Probenoberfläche trifft.
Das von der Meßprobe 2 reflektierte Raman-Licht wandert dann
auf dem Teilpfad 25 in das Cassegrain-Spiegelobjektiv 3, 4 und
verläßt dieses auf einem Teilpfad 26 in Richtung auf die einen
Detektor enthaltenden, in der Zeichnung nicht dargestellten
Spektrometerteile.
Dem Vorteil dieser Ausführungsform, daß relativ stark gebündelte
Laserstrahlung auf den punktförmigen Bereich 1 der Meßprobe 2
gerichtet wird, steht der Nachteil gegenüber, daß bei einem
geringen axialen Versatz der Meßprobe 2 parallel zur optischen
Achse 5 ein völlig anderer Bereich auf der Probenoberfläche
getroffen wird.
Dieser Nachteil besteht nicht bei dem in Fig. 2 b) gezeigten
Ausführungsbeispiel, in welchem aus dem IR-Laser ein bereits
aufgeweiteter, divergierender Laserstrahl 20 auf einen halb
durchlässigen Planspiegel 6 gerichtet wird, der ein Strahlen
büschel 21 symmetrisch zur optischen Achse 5 in das Cassegrain-
Spiegelobjektiv 3, 4 einkoppelt. Der Divergenzwinkel des Laser
strahls 20 und damit des Strahlenbüschels 21 sollte dabei so
gewählt werden, daß das Strahlenbüschel 21 mit dem optimalen
Einfallskegel des Cassegrain-Spiegelobjektivs 3, 4 überein
stimmt, so daß der Konvexspiegel 3 optimal ausgeleuchtet wird.
Das aus dem Objektiv austretende Strahlenbüschel 22 wird dann
wie bei der in Fig. 1b gezeigten Anordnung auf den punktförmigen
Bereich 1 der Meßprobe 2 fokussiert. Das reflektierte bzw.
gestreute Raman-Licht nimmt den umgekehrten Strahlenweg durch
das Cassegrain-Objektiv 3, 4 zurück auf den halbdurchlässigen
Spiegel 6, welcher für die eingestrahlte Laserstrahlung re
flektierend, für die zu beobachtende Raman-Strahlung hingegen
transparent ist.
Bei einem kleinen axialen Versatz der Meßprobe 2 parallel zur
optischen Achse 5 wird die Oberfläche der Meßprobe 2 immer noch
um den punktförmigen Bereich 1 herum bestrahlt, wobei dann
allerdings ein ausgedehnterer Brennfleck entsteht, der bei
exakter Justage der Meßprobe 2 dem Brennpunkt 1 entspricht.
Bei den in den Fig. 3a) bis 3c) gezeigten Ausführungs
beispielen erfolgt die Einkoppelung der IR-Laserstrahlung je
weils über ein zwischen der Meßprobe 2 und dem Cassegrain-Spie
gelobjektiv 3, 4 angeordnetes Reflektorelement.
In Fig. 3a) ist eine einfache Anordnung mit einem Planspiegel
8 auf der optischen Achse zwischen dem Konvexspiegel 3 und der
Meßprobe 2 dargestellt. Der parallel gebündelte Laserstrahl 20
aus dem IR-Laser 11 trifft im gezeigten Beispiel von der Seite
auf den um ca. 45° gegen die optische Achse 5 gekippten Plan
spiegel 8 auf und wird von diesem längs der optischen Achse 5
auf den punktförmigen Bereich 1 auf der Oberfläche der Meßprobe
2 abgelenkt. Die von der Meßprobe 2 emittierte Raman-Strahlung
wird in einem Hohlkegelbereich 22′ von dem Cassegrain-Spiegel
objektiv 3, 4 aufgefangen und in einem Kegelbereich 21′ kon
vergierend in die weiteren, in der Zeichnung nicht dargestellten
Teile des Raman-Spektrometers weitergeleitet. Dadurch kann
einerseits ein relativ stark gebündelter Laserstrahl 20 mit
hoher Intensitätsdichte auf den punktförmigen Bereich 1 auf
gebracht werden, wobei andererseits aber, im Gegensatz zu der
in Fig. 2a) gezeigten Ausführungsform keine teilweise Aus
blendung des vom Spiegelobjektiv aufgefangenen und konvergierend
weitergereichten Raman-Streulichts erfolgt.
Bei den in Fig. 3b) und 3c) gezeigten Ausführungsbeispielen
wird die aus dem IR-Laser 11 austretende Laserstrahlung 20
nicht nur umgelenkt, sondern auch fokussiert. In Fig. 3b) ist
eine Anordnung gezeigt, bei der aus dem IR-Laser 11 ein relativ
stark aufgeweitetes Parallelbündel 20 austritt, das über eine
fokussierende Linse 9 und einen wie bei der Ausführungsform in
Fig. 3a) angeordneten Planspiegel 8 auf den punktförmigen
Bereich 1 der Meßprobe 20 fokussiert wird. Ein derart aufge
weiteter, parallel gebündelter Laserstrahl 20 hat gegenüber
einen Laserstrahl mit engem Querschnitt den Vorteil, daß er
relativ große Strecken ohne nennenswerte Divergenz geführt
werden kann. Demgegenüber fällt der Nachteil einer Absorption
eines gewissen Anteils des Laserlichts in der Linse 9 kaum ins
Gewicht.
In Fig. 3c) schließlich ist ein besonders bevorzugtes Aus
führungsbeispiel dargestellt, bei dem das reflektierende Element
zwischen dem Cassegrain-Spiegelobjektiv 3, 4 und der Meßprobe
2 den einfallenden, parallel aufgeweiteten Laserstrahl 20 nicht
nur umlenkt, sondern auch gleichzeitig auf den punktförmigen
Bereich 1 der Meßprobe 2 fokussiert. Dies wird durch einen
vorzugsweise unter 45° zur optischen Achse 5 angeordneten Para
bolspiegel 13 erreicht.
Besonders vorteilhaft ist es, wenn der Planspiegel 8 bzw. der
Parabolspiegel 13 eine geringere räumliche Ausdehnung quer zur
optischen Achse 5 aufweisen als der Konvexspiegel 3 des Casse
grain-Spiegelobjektivs 3, 4. In diesem Fall befindet sich näm
lich das reflektierende Element 8, 13 jeweils im Schatten des
Konvexspiegels 3, so daß das von der Oberfläche der Meßprobe 2
in den Hohlkegel 22′ emittierte Raman-Licht durch das reflek
tierende Element 8, 13 nicht abgeschwächt wird.
Claims (10)
1. Raman-Mikroskop, insbesondere für ein Fouriertransform
(FT) -Spektrometer, mit einem Objektiv zur vergrößernden
Abbildung eines punktförmigen Bereichs auf einer Oberfläche
einer Meßprobe, mit Mitteln zum Einstrahlen von Laser
strahlung auf den punktförmigen Bereich und mit Mitteln
zur Detektion der emittierten Raman-Strahlung,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Laserstrahlung im Infrarot (IR)-, vorzugsweise im
Nahinfrarot (NIR) -Bereich liegt, und daß das Objektiv ein
Cassegrain-Spiegelobjektiv mit einem rotationssymmetrisch
zu einer optischen Achse (5) angeordneten Konvexspiegel
(3) und einem ebenfalls zur optischen Achse (5) des Ob
jektivs rotationssymmetrischen Konkavspiegel (4) ist,
wobei der auf der optischen Achse (5) liegende Brennpunkt
des Konkavspiegels (4) mit dem punktförmigen Bereich (1)
auf der Oberfläche der Meßprobe (2) übereinstimmt.
2. Raman-Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Mittel zum Einstrahlen der Laserstrahlung so aus
gebildet sind, daß die Laserstrahlung zunächst auf die
spiegelnde Fläche des Konvexspiegels (3) trifft, wobei der
wesentliche Teil der Laserstrahlung mit Abstand von der
optischen Achse (5) des Cassegrain-Spiegelobjektivs (3,
4) eingestrahlt wird.
3. Raman-Mikroskop nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Laserstrahlung über einen halbdurchlässigen Plan
spiegel (6), der auf der optischen Achse (5) mit Abstand
vom Cassegrain-Spiegelobjektiv (3, 4) auf der der Meßprobe
(2) entgegengesetzten Seite unter einem Winkel zur op
tischen Achse (5) angeordnet ist, auf den Konvexspiegel
(3) gelenkt wird, wobei die Laserstrahlung derart diver
gierend aufgeweitet ist, daß sie als symmetrisch zur op
tischen Achse (5) kegelförmiges Strahlenbüschel (21) auf
den Konvexspiegel (3) auftrifft, und wobei der Kegelwinkel
so gewählt ist, daß die Laserstrahlung nach Durchlaufen
des Cassegrain-Spiegelobjektivs (3, 4) auf den punktför
migen Bereich (1) fokussiert wird.
4. Raman-Mikroskop nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß der halbdurchlässige Planspiegel (6) für Ramanstrahlung
in einem beobachteten Wellenlängenbereich transmittierend
und für die eingestrahlte IR-Laserstrahlung reflektierend
ist.
5. Raman-Mikroskop nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Laserstrahlung als Parallelbündel mit geringem
Strahldurchmesser über einen vollständig reflektierenden
Planspiegel (7), der mit seitlichem Versatz zur optischen
Achse (5) und auf der proben-abgewandten Seite des Casse
grain-Spiegelobjektivs (3, 4) angeordnet ist, unter einem
solchen Winkel bezüglich der optischen Achse (5) auf den
Konvexspiegel (3) gelenkt wird, daß das Parallelbündel
nach Durchlaufen des Cassegrain-Spiegelobjektivs (3, 4)
auf dem punktförmigen Bereich (1) auftrifft.
6. Raman-Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Mittel zum Einstrahlen der Laserstrahlung ein auf
der optischen Achse (5) zwischen der Meßprobe (2) und dem
Cassegrain-Spiegelobjektiv (3, 4) angeordnetes reflektie
rendes Element (8 bzw. 13) umfassen, mit dessen Hilfe ein
im wesentlichen quer zur optischen Achse (5) eingestrahl
ter, parallelgebündelter Laserstrahl längs der optischen
Achse (5) auf den punktförmigen Bereich (1) auf der Ober
fläche der Meßprobe (2) gelenkt werden kann.
7. Raman-Mikroskop nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß das reflektierende Element (8 bzw. 13) eine geringere
räumliche Ausdehnung quer zur optischen Achse (5) als der
Konvexspiegel (3) des Cassegrain-Spiegelobjektivs (3, 4)
aufweist.
8. Raman-Mikroskop nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekenn
zeichnet, daß das reflektierende Element (8, 9 bzw. 13)
fokussierend wirkt, insbesondere die einfallende Laser
strahlung auf den punktförmigen Bereich (1) auf der Ober
fläche der Meßprobe (2) fokussiert.
9. Raman-Mikroskop nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß das reflektierende Element einen unter einem Winkel
zur optischen Achse (5) angeordneten Planspiegel (8) sowie
eine im Strahlengang der Laserstrahlung, vorzugsweise in
Strahlrichtung vor dem Planspiegel (8) angeordnete fokus
sierende Linse (9) umfaßt.
10. Raman-Mikroskop nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß das reflektierende Element ein vorzugsweise unter 45°
zur optischen Achse (5) angeordneter Parabolspiegel (13)
ist.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4243144A DE4243144B4 (de) | 1992-12-19 | 1992-12-19 | Objektiv für ein FT-Raman-Mikroskop |
US08/165,254 US5493443A (en) | 1992-12-19 | 1993-12-10 | Lens for a FT-raman microscope |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4243144A DE4243144B4 (de) | 1992-12-19 | 1992-12-19 | Objektiv für ein FT-Raman-Mikroskop |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4243144A1 true DE4243144A1 (de) | 1994-06-23 |
DE4243144B4 DE4243144B4 (de) | 2008-08-21 |
Family
ID=6475877
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4243144A Expired - Fee Related DE4243144B4 (de) | 1992-12-19 | 1992-12-19 | Objektiv für ein FT-Raman-Mikroskop |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5493443A (de) |
DE (1) | DE4243144B4 (de) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999003008A1 (de) * | 1997-07-09 | 1999-01-21 | Evotec Biosystems Ag | Vorrichtung zur optischen erfassung von proben |
DE19842153C2 (de) * | 1998-09-15 | 2003-07-31 | Leica Microsystems | Fluoreszenzmikroskop |
DE10004191B4 (de) * | 1999-02-05 | 2004-11-25 | Axon Instruments, Inc., Foster City | Fluoreszenz-Scanmikroskop |
US6987609B2 (en) | 2001-09-05 | 2006-01-17 | Europaisches Laboratorium Fur Mole Kularbiologie (Embl) | Microscope |
EP1896829A4 (de) * | 2005-06-30 | 2010-10-20 | Kla Tencor Tech Corp | Strahlenlieferungssystem für laserdunkelfeldbeleuchtung in einem katadioptrischen optiksystem |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6734962B2 (en) * | 2000-10-13 | 2004-05-11 | Chemimage Corporation | Near infrared chemical imaging microscope |
GB9930156D0 (en) * | 1999-12-22 | 2000-02-09 | Secr Defence | Optical system interface |
US20030083903A1 (en) * | 2001-10-30 | 2003-05-01 | Myers Gene E. | Method and apparatus for contemporaneous billing and documenting with rendered services |
US7327457B2 (en) * | 2003-12-19 | 2008-02-05 | N&K Technology, Inc. | Apparatus and method for optical characterization of a sample over a broadband of wavelengths while minimizing polarization changes |
US7248364B2 (en) * | 2003-12-19 | 2007-07-24 | N&K Technology, Inc. | Apparatus and method for optical characterization of a sample over a broadband of wavelengths with a small spot size |
US7218822B2 (en) | 2004-09-03 | 2007-05-15 | Chemimage Corporation | Method and apparatus for fiberscope |
US7283241B2 (en) * | 2005-01-31 | 2007-10-16 | Chemimage Corp. | Method and apparatus for a microscope image selector |
CA2586476C (en) * | 2005-01-31 | 2009-06-30 | Chemimage Corporation | Apparatus and method for chemical imaging of a biological sample |
US7060955B1 (en) | 2005-01-31 | 2006-06-13 | Chemimage Corporation | Apparatus and method for defining illumination parameters of a sample |
US20060170916A1 (en) * | 2005-01-31 | 2006-08-03 | Voigt Thomas C | Method and apparatus for variable-field illumination |
US20060221335A1 (en) * | 2005-04-04 | 2006-10-05 | Bangalore Arjun S | Method and apparatus for interactive hyperspectral image subtraction |
US7956991B2 (en) | 2005-04-04 | 2011-06-07 | Chemimage Corporation | Method and apparatus for interactive hyperspectral image subtraction |
US7990532B2 (en) | 2007-01-16 | 2011-08-02 | Chemimage Corporation | Method and apparatus for multimodal detection |
FR2955663B1 (fr) * | 2010-01-22 | 2014-09-12 | Ct Nat De La Rech C N R S | Methode pour la detection d'un signal optique non lineaire resonant et dispositif pour la mise en oeuvre de ladite methode |
WO2014044228A1 (zh) * | 2012-09-24 | 2014-03-27 | Hu Jianming | 表面增强拉曼基底、制备方法、拉曼光谱仪及检测方法和微调装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2661658A (en) * | 1948-07-19 | 1953-12-08 | Ass Elect Ind | Optical system for increasing the working distances of microscope objectives |
DE1302346B (de) * | 1971-01-21 | |||
DE1598667A1 (de) * | 1965-03-06 | 1971-06-24 | Hitachi Ltd | Vorrichtung zur Messung des Raman-Effektes von Proben kleinster Groesse |
EP0116321A2 (de) * | 1983-01-31 | 1984-08-22 | Bruker Analytische Messtechnik GmbH | Infrarot-Spektrometer |
DE4021955A1 (de) * | 1989-07-11 | 1991-02-07 | Tosoh Corp | Laserbetriebene erfassungsvorrichtung |
DE4005878C2 (de) * | 1990-02-24 | 1993-04-08 | Bruker Analytische Messtechnik Gmbh, 7512 Rheinstetten, De |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US599715A (en) * | 1898-03-01 | Melvin w | ||
US4580819A (en) * | 1983-01-24 | 1986-04-08 | Alois Crepinsek | Security chain stored interior of lock housing |
US4810077A (en) * | 1986-02-13 | 1989-03-07 | Spectra-Tech, Inc. | Grazing angle microscope |
US4758088A (en) * | 1987-05-01 | 1988-07-19 | Laser Precision Corporation | Microscope accessory which facilitates radiation transmission measurements in the reflectance mode |
-
1992
- 1992-12-19 DE DE4243144A patent/DE4243144B4/de not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-12-10 US US08/165,254 patent/US5493443A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1302346B (de) * | 1971-01-21 | |||
US2661658A (en) * | 1948-07-19 | 1953-12-08 | Ass Elect Ind | Optical system for increasing the working distances of microscope objectives |
DE1598667A1 (de) * | 1965-03-06 | 1971-06-24 | Hitachi Ltd | Vorrichtung zur Messung des Raman-Effektes von Proben kleinster Groesse |
EP0116321A2 (de) * | 1983-01-31 | 1984-08-22 | Bruker Analytische Messtechnik GmbH | Infrarot-Spektrometer |
DE4021955A1 (de) * | 1989-07-11 | 1991-02-07 | Tosoh Corp | Laserbetriebene erfassungsvorrichtung |
DE4005878C2 (de) * | 1990-02-24 | 1993-04-08 | Bruker Analytische Messtechnik Gmbh, 7512 Rheinstetten, De |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999003008A1 (de) * | 1997-07-09 | 1999-01-21 | Evotec Biosystems Ag | Vorrichtung zur optischen erfassung von proben |
DE19842153C2 (de) * | 1998-09-15 | 2003-07-31 | Leica Microsystems | Fluoreszenzmikroskop |
DE10004191B4 (de) * | 1999-02-05 | 2004-11-25 | Axon Instruments, Inc., Foster City | Fluoreszenz-Scanmikroskop |
US6987609B2 (en) | 2001-09-05 | 2006-01-17 | Europaisches Laboratorium Fur Mole Kularbiologie (Embl) | Microscope |
EP1896829A4 (de) * | 2005-06-30 | 2010-10-20 | Kla Tencor Tech Corp | Strahlenlieferungssystem für laserdunkelfeldbeleuchtung in einem katadioptrischen optiksystem |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4243144B4 (de) | 2008-08-21 |
US5493443A (en) | 1996-02-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4243144B4 (de) | Objektiv für ein FT-Raman-Mikroskop | |
EP0734518B1 (de) | Vorrichtung zum photothermischen prüfen einer oberfläche | |
DE10004191B4 (de) | Fluoreszenz-Scanmikroskop | |
DE112016007086T5 (de) | Scanning-typ-laser-induziertes spektralanalyse- und -detektionssystem | |
DE19653413A1 (de) | Rastermikroskop, bei dem eine Probe in mehreren Probenpunkten gleichzeitig optisch angeregt wird | |
DE2727265A1 (de) | Optische mikroskop-laser-mikrosonde fuer raman-spektroskopie | |
EP2567222A2 (de) | Vorrichtung zur berührungslosen und zerstörungsfreien prüfung von oberflächen | |
DE2323593C3 (de) | Laser-Doppler-Anemometer | |
DE3502059A1 (de) | Laserspektralfluorometer | |
EP0815476B1 (de) | Optisches system mit grossen messbereichen | |
DE1598667A1 (de) | Vorrichtung zur Messung des Raman-Effektes von Proben kleinster Groesse | |
DE1964509A1 (de) | Spektrophotometer | |
DE2136634A1 (de) | Optische Anordnung fur ein Gerat zum Analysieren einer Probe durch Atomspek troskopie | |
EP0327499B1 (de) | Messkopf | |
DE2656417C2 (de) | Fluoreszenz-Spektrophotometer | |
DE102004038321B4 (de) | Lichtfalle | |
DE102012214019B3 (de) | Messsystem zur Bestimmung von Reflexionscharakteristiken von Solarspiegelmaterialien und Verfahren zur Qualitätsbestimmung einer Spiegelmaterialprobe | |
DE2051328B2 (de) | Vorrichtung zur wellenlaengenselektion bei breitbandig emittierenden lasern | |
WO2022200202A1 (de) | Vorrichtung, einrichtung und verfahren zur bestrahlung einer insbesondere biologischen probe mit einem holografisch-optischen bauelement | |
DE4324681A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum optischen Anregen eines Energiezustandes einer Probe in einem Probenpunkt mit hoher Ortsauflösung | |
DE2023739A1 (de) | ||
DE102004034354B3 (de) | Ultrakompaktes Raman-Spektrometer | |
DE102006037470A1 (de) | Plankonvexe Substratlinse | |
EP3752816B1 (de) | Vorrichtung für eine lichtspektroskopische analyse | |
EP1049952B1 (de) | Anordnung zur optischen abtastung eines objekts |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: BRUKER ANALYTIK GMBH, 76287 RHEINSTETTEN, DE |
|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: BRUKER OPTICS, INC., BILLERICA, MASS., US |
|
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: KOHLER SCHMID + PARTNER, 70565 STUTTGART |
|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |
Effective date: 20110701 |